Микроструктура аморфных металлических сплавов и ее динамика в процессах релаксации и кристаллизации тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 01.04.07, доктор физико-математических наук Плотников, Владимир Сергеевич

  • Плотников, Владимир Сергеевич
  • доктор физико-математических наукдоктор физико-математических наук
  • 2004, Владивосток
  • Специальность ВАК РФ01.04.07
  • Количество страниц 354
Плотников, Владимир Сергеевич. Микроструктура аморфных металлических сплавов и ее динамика в процессах релаксации и кристаллизации: дис. доктор физико-математических наук: 01.04.07 - Физика конденсированного состояния. Владивосток. 2004. 354 с.

Оглавление диссертации доктор физико-математических наук Плотников, Владимир Сергеевич

ВВЕДЕНИЕ.

ГЛАВА 1. Методы электронной и оптической микроскопии в исследованиях микроструктуры АМС.

1.1. Структура аморфных металлических сплавов и задачи электронно-оптических исследований (обзор литературы).

1.1.1. Локальная структура АМС.

1.1.2. Субструктурные неоднородности. Столбчатое, сеточное строение АМС.

1.1.3. Типы реакций кристаллизации в аморфных сплавах.

1.1.4. Электронно-микроскопические исследования структуры аморфных материалов.

1.2. Математическое описание процессов формирования изображений в электронной и оптической микроскопии.

1.3. Особенности ВРЭМ исследований АМС.

1.4. Методики электронно-микроскопических исследований микроструктуры АМС.

1.4.1. Методика светлопольной электронной микроскопии.

1.4.2. Методика темнопольной электронной микроскопии.

1.4.3. Методика малоуглового рассеяния электронов.

ГЛАВА 2. Комплекс программно-аппаратных вычислительных и моделирующих средств для обработки информации в электронной и оптической микроскопии аморфных сплавов.

2.1. Архитектура комплекса, аппаратные средства.

2.2. Программное обеспечение комплекса: архитектура и функции

2.3. Предварительная обработка и улучшение изображений.

2.4. Спектральный анализ микроскопических изображений.

2.4.1. Цифровой метод вычисления периодограмм.

2.4.2. Оптико-цифровой спектральный анализ.

2.4.3. Анализ спектров изображений.

2.4.4. Программная реализация процедуры аппроксимации спектральных плотностей электронно-оптических изображений.

2.5. Фильтрация электронно-оптических изображений.

2.5.1. Пространственная фильтрация изображений.

2.5. 2. Пространственно-частотная фильтрация изображений.

2.6. Система морфологического анализа микроскопических изображений.

Основные результаты главы.

ГЛАВА 3. Исследование структуры и ее упорядочений в аморфных сплавах методами высокоразрешающей электронной микроскопии.

3.1. Препарирование образцов для ВРЭМ исследований аморфных сплавов.

3.2. Нанокристаллы и упорядоченные области в структуре аморфных сплавов состава FeNiSiB.

3.3. Структурная релаксация и кристаллизация аморфных сплавов FeNiSiB при "in situ" нагреве в электронном микроскопе.

3.4. Расшифровка структуры локальных областей упорядочения аморфных сплавов FeNiSiB.

3.5. Моделирование структуры аморфного железа, никеля и сплавов Fe80B2o, Fe75B25.

3.6. Моделирование ВРЭМ изображений структуры аморфных сплавов.

Основные результаты главы.

ГЛАВА 4. Исследование длинноволновых неоднородностей в аморфных сплавах и их корреляционно-спектральных характеристик в процессах структурной релаксации и кристаллизации.

4.1. Стохастическая микроструктура и "сетка" в АМС.

4.2. Электронно-микроскопические исследования "сетки" на примере изучения динамики сеточного строения в процессе отжига аморфных Co-Ni-P пленок.

4.3. Исследование динамики "сеточных" структур в процессах структурной релаксации АМС методом случайных секущих.

4.3.1. Метод случайных секущих.

4.3.2. Программная реализация метода секущих.

4.3.3. Исследования динамики сеточных структур в аморфном сплаве Со - Р при изменении концентрации металлоида.

4.3.4. Исследования динамики сеточных структур в аморфных сплавах при облучении образцов у -квантами и термовоздействии

4.4. Длинноволновые субструктурные неоднородности в АМС.

4.5. Корреляционно-спектральные модели неоднородностей в

4.5.1. Однородные случайные поля.

4.5.2. Аналитические выражения для спеюральных плотностей и корреляционных функций.

4.6. Процедура идентификации корреляционно-спектральных характеристик неоднородностей в АМС и ее программная реализация

4.7. Идентификация спектральных плотностей и корреляционных функций длинноволновых неоднородностей в АМС.

Основные результаты главы.

ГЛАВА 5. Исследование крупномасштабных неоднородностей на поверхности АМС. Базы данных по микроструктуре АМС.

5.1. Электронно-микроскопические исследования неоднородностей на поверхности АМС.

5.1.1. Электронно-микроскопические исследования неоднородностей на поверхности аморфных пленок.

5.1.2. Электронно-микроскопические исследования неоднородностей на поверхности быстрозакаленных АМС.

5.2. Оптические исследования микрорельефа быстрозакаленных

5.2.1. Методы наблюдения технологического микрорельефа быстрозакаленных сплавов с использованием оптической микроскопии.

5.2.2. Оптические исследования технологического микрорельефа быстрозакаленных АМС.

5.3. Формирование естественного микрорельефа поверхности быстрозакаленных аморфных лент.

5. 4. Проектирование и ведение пользовательских баз данных по элеюронно-оптическим изображениям АМС.

Основные результаты главы.

ГЛАВА 6. Моделирование микроскопических изображений аморфных сплавов.

6.1. Моделирование изображений нанокристаллов в структуре

6.1.1. Моделирование функций пропускания атомных монослоев.

6.1. 2. "Толстые" образцы. "Слоевой метод".

6.2. Моделирование изображений атомных кластеров и длинноволновых неоднородностей в структуре АМС.

6.2.1. Моделирование функций пропускания объектов в виде случайных полей с заданной спектральной плотностью.

6.2.2. Моделирование изображений атомных кластеров в АМС.

6.2.3. Моделирование изображений "сеточных" структур в АМС.

6.3. Моделирование изображений субструктурных длинноволновых неоднородностей в АМС.

6.4. Моделирование неоднородностей оптического диапазона в

6.5. Моделирование оптических систем электронных и оптических микроскопов.

6.5.1. Алгоритм расчета элементарного оптического каскада.

6.5.2. Алгоритм и результаты моделирования на ЭВМ многокаскадной оптической системы.

6.5.3. Коррекция частотной характеристики оптической системы в методе дефокусировки.

Основные результаты главы.

Рекомендованный список диссертаций по специальности «Физика конденсированного состояния», 01.04.07 шифр ВАК

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Микроструктура аморфных металлических сплавов и ее динамика в процессах релаксации и кристаллизации»

Актуальность темы. Аморфные металлические сплавы (АМС) - новый класс металлических материалов, обладающих уникальным сочетанием магнитных, электрофизических, механических и коррозионных свойств. В последние годы АМС находят все более широкое применение в авиакосмической технике, электронной и электротехнической промышленности, где они используются как магнитомягкие материалы в сердечниках трансформаторов и высокочувствительных датчиках, как припои, катализаторы, коррозионностойкие конструкционные материалы.

Исследования АМС активно ведутся в нашей стране и за рубежом и носят принципиально комплексный характер. В практическом аспекте усилия исследователей направлены на разработку новых сплавов с заданными служебными свойствами, обеспечение стабильности этих свойств и совершенствование технологий приготовления сплавов. Решение этих вопросов осложняется неразработанностью до настоящего времени многих фундаментальных вопросов аморфного состояния, в том числе и в металлических системах. Существующие в настоящее время теоретические модели аморфной структуры могут быть названы по аналогии с идеальным кристаллом моделями идеальной аморфной среды. В этих моделях атомная структура аморфных сред определяется как состояние с отсутствием корреляций между атомами на больших расстояниях при сохранении их на нескольких координационных сферах. При усреднении по достаточно большим объемам аморфная среда должна выглядеть совершенно однородной.

Важное место в изучении АМС занимают методы, основанные на прямом наблюдении их структуры электронно-оптическими приборами. Именно электронно-оптическими исследованиями последних лет установлено, что реальная структура АМС существенно отличается от идеальной картины. На электронно-оптических снимках аморфных сплавов, опубликованных в работах Захарова Н.Д., Аронина А.С., Варна А., Имура Т., Хофмана X. и др., визуализированы неоднородности с характерными размерами от нескольких ангстрем до нескольких миллиметров. Основными причинами возникновения длинных корреляций в АМС являются экстремальные условия получения аморфного состояния и внешние воздействия - термообработка, радиационное облучение и др.

Среди актуальных в ближайшие годы проблем в области фундаментальных исследований АМС (Глезер А.М., 2001 г.) выделим следующие: проведение исследований атомной структуры АМС в зависимости от условий их получения и режимов последующей обработки; сопоставление структуры и физико-химических свойств АМС, полученных различными методами; детальный анализ структурных состояний, реализующихся при переходе из аморфного состояния в кристаллическое, и их влияния на физико-механические свойства АМС.

Решение этих проблем невозможно без проведения электронно-оптических исследований реальной структуры всей иерархии неоднородностей в АМС (атомных кластеров, длинноволновых неоднородностей, технологического микрорельефа). Такие исследования предполагают дальнейшее накопление и систематизацию электронно-оптических данных по структуре различных групп материалов, количественную параметризацию различных типов структурных неоднородностей с целью поиска и детализации взаимосвязи между разнообразными свойствами АМС и особенностями их структуры. В условиях значительного и все нарастающего объема таких данных проведение электронно-оптических исследований невозможно без применения новейших средств анализа и моделирования изображений, учитывающих специфику как самих неоднородностей в АМС, так и задач их исследования.

Обработка изображений в электронно-оптических исследованиях применяется с начала 60-х годов. Большой вклад в развитие различных систем обработки микроскопических изображений внесли Клуг А. и Бергер Д. (оптическая обработка), Розен-фельд А. и Прэтг У. (цифровая обработка), Богданов К.М. и Яновский Б.П. (оптико-структурный машинный анализ). В последнее десятилетие многократно увеличилась вычислительная эффективность доступных широкому кругу исследователей персональных компьютеров. При этом, однако, распространенной практикой стало использование в научных исследованиях универсальных систем обработки изображений, возможности которых при решении конкретных научных задач следует признать весьма ограниченными, поскольку в них не учитывается специфика исследуемого класса изображений и специфика научной задачи. А такая специфика для микроскопических изображений АМС объективно существует. Как правило, электронно-оптические изображения АМС имеют слабый контраст и на них сложно выделить какие-либо объекты, так как между неоднородностями отсутствуют резкие границы. Во многих случаях микроструктуры в АМС имеют вытянутый (свилеобразный) характер. Некоторые технологии получения сплавов, например, быстрая закалка из расплава, приводят к анизотропии в распределении неоднородностей, которая проявляется на соответствующих электронно-оптических изображениях. Для анализа таких изображений актуальной является разработка методов, позволяющих количественно описывать упорядочения и анизотропию в структуре, оценивать и идентифицировать спектральные плотности исследуемых по изображениям микроструктур, оценивать мор-фометрические характеристики объектов микроструктуры и их взаимное расположение, исследовать динамические изменения корреляционно-спектральных и морфо-метрических характеристик неоднородностей при фазовых переходах и внешних воздействиях, моделировать электронно-оптические системы наблюдения и получаемые с их помощью изображения типичных микроструктур в АМС.

Целью диссертационной работы является исследование реальной микро-' структуры аморфных металлических сплавов (атомных кластеров, аморфной матрицы, длинноволновых неоднородностей, технологического микрорельефа) и ее динамики в процессах релаксации и кристаллизации методами электронной и оптической микроскопии с применением программно-аппаратных средств обработки, анализа и моделирования изображений.

Для достижения поставленной цели необходимо было решить следующие задачи.

1. Разработать методы количественной параметризации, идентификации корреляционно-спектральных характеристик и оценивания морфометрических характеристик неоднородностей в АМС по электронно-оптическим изображениям. Реализовать разработанные методы в виде комплекса программно-аппаратных вычислительных средств для обработки и анализа изображений, ведения пользовательских баз данных в электронной и оптической микроскопии аморфных сплавов.

2. Исследовать на примере быстрозакаленных аморфных сплавов на основе железа микроструктуру АМС (упорядочения, анизотропию, спектральные и морфомет-рические характеристики) на уровне атомных кластеров. Исследовать методами высокоразрешающей электронной микроскопии (ВРЭМ) динамику микроструктуры в данных сплавах при термовоздействии.

3. Исследовать особенности строения и определить морфометрические характеристики длинноволновых неоднородностей (стохастической структуры, "сеток", складок) в аморфных сплавах. Исследовать динамические изменения в структуре АМС в процессах релаксации и кристаллизации сплавов при внешних воздействиях (термическом и радиационном). Определить аналитический вид и параметры спектральных плотностей полей неоднородностей в АМС различного состава, полученных с использованием разных технологий и подвергшихся различным внешним воздействиям.

4. Определить морфометрические характеристики крупномасштабных неоднородностей АМС на поверхности аморфных пленок и быстрозакаленных лент. Визуализировать и классифицировать крупномасштабные дефекты на контактной и свободной поверхности быстрозакаленных лент. Исследовать особенности формирования естественного микрорельефа аморфных лент.

5. Разработать методы моделирования электронно-оптических изображений типичных микроструктур в АМС, исследовать природу их контраста в зависимости от флуктуации плотности и статистических особенностей неоднородностей в АМС, оценить искажения, возникающие в изображающих системах микроскопов. Смоделировать микроскопические изображения атомных кластеров и аморфной матрицы, стохастической и сеточной структуры в АМС; установить вид, определить параметры спектральных плотностей неоднородностей при моделировании в АМС микроструктур различных типов.

Научная новизна работы:

1. В аморфных сплавах на основе железа методами ВРЭМ визуализированы атомные кластеры с различным типом упорядочений в структуре: анизотропным -"решеточным", и практически изотропным - "цепочечным". Установлено, что эти упорядоченные области имеют структуру близкую к микрокристаллам соединения Fe3B. Характерные размеры этих образований 1-3 нм.

Кристаллизация этих сплавов при нагреве осуществляется через зарождение и рост либо микрокристаллов у — Fe, либо микрокристаллов Fe^B (в зависимости от концентрации металлоидов в сплаве). При нагреве образцов до 200°С наблюдается рост микрокристаллов, а в интервале температур 250 - 300°С происходит фазовый переход у — Fe —> о. — Fe.

2. Визуализированы и классифицированы по корреляционно-спектральным и морфометрическим характеристикам различные типы длинноволновых неоднородностей в АМС: стохастические структуры (размеры неоднородностей 1-5 нм), "сетки" (размер ячеек 5-100 нм), образования на поверхности типа складок (длина более 100 нм, высота около 10 нм).

3. Впервые на примере АМС состава Со-Р и Co-Ni-P, полученных электрохимическим и химическим осаждением, показано, что внешние воздействия (термообработка, радиационное облучение), а также изменение концентрации металлоида в химическом составе сплавов находят свое отражение в изменении параметров "сеточных" микроструктур, характерных для этой группы сплавов.

4. Впервые осуществлена идентификация корреляционно-спектральных характеристик неоднородностей в АМС по электронно-микроскопическим изображениям. Установлено, что микроструктура АМС характеризуется целой иерархией корреляционных радиусов, лежащих в диапазоне от 0.2 нм до 100 нм и зависящих от состава и технологии приготовления сплава. При термическом и радиационном воздействии на образцы АМС и при фазовых переходах от аморфного состояния к кристаллическому, и, наоборот, от кристаллического к аморфному, происходят изменения в характере микроструктуры, сопровождающиеся модификацией вида спектральных плотностей и изменениями корреляционных радиусов полей неоднородностей в аморфных сплавах.

5. Исследован естественный микрорельеф аморфных лент, получаемых быстрой закалкой из расплава. Выявлено подобие в струкгурообразовании естественного микрорельефа для разных пространственных масштабов неоднородностей, наблюдаемых методами электронной и оптической микроскопии. Методами оптической микроскопии визуализирована "оптическая" стохастическая структура с характерными размерами от 0,1 до 1 мкм и крупномасштабные концентрационные неоднородности типа "сетки" с характерными размерами 1-3 мкм, которым "соответствует" стохастическая структура и "сетки", наблюдаемые в этих лентах методами электронной микроскопии.

6. Впервые смоделированы ВРЭМ изображения "решеточных" и "цепочечных" кластеров, а также электронно-микроскопические изображения длинноволновых микроструктур в АМС, в частности, изображения "сеточных" структур. Установлен вид, определены параметры спектральных плотностей и получены оценки дисперсии флуктуаций электронного потенциала в слоях при моделировании изображений микроструктур различных типов.

Научная и практическая значимость работы. Экспериментально определены корреляционно-спектральные и морфометрические характеристики всей иерархии неоднородностей в реальных аморфных сплавах. На основе экспериментальных данных впервые предложены и идентифицированы корреляционно-спектральные модели полей неоднородностей, справедливость которых подтверждена результатами моделирования всех характерных типов микроструктур в аморфных сплавах. Выполненные в диссертации электронно-оптические исследования микроструктуры АМС и ее динамики в процессах релаксации и кристаллизации позволяют детализировать взаимосвязи между физическим состоянием аморфных сплавов и особенностями их структуры, что важно для построения последовательной теории реальных аморфных сплавов и выбора технологий получения сплавов с заданными служебными свойствами.

На базе оптических и электронных микроскопов, голографических установок, оптических элементов для когерентной оптики, лазеров, персональных компьютеров и современных сетевых технологий разработан комплекс программно-аппаратных средств для анализа микроструктуры АМС. Комплекс позволяет компенсировать аберрации оптических систем микроскопов, устранять шумы, смазывание и размытие изображений, осуществлять поиск нужного фрагмента на зашумленных изображениях, подчеркивать границы неоднородностей и слабо выраженные регулярные компоненты, удалять низкочастотные тренды освещенности, визуализировать неоднородности заданного диапазона размеров, оценивать спектральные и морфометрические характеристики структуры аморфных сплавов по микроскопическим изображениям.

Выполненные в диссертации исследования включались в основные направления научно-исследовательских работ ДВГУ в 1980-2001 гг. Исследования поддерживались РФФИ (проект 96-07-89195 "Разработка баз данных по структуре и свойствам АММ" (1996 - 1998 гг.)); Институтом "Открытое общество" (грант № IEA70Gu "Фурье-оптика в глобальной сети Интернет" (1999 г.)); ФЦП "Интеграция" (проекты № А0025, Ко А0026 и № Ф0012).

Основные защищаемые положения:

1. В исходном состоянии в микроструктуре аморфных сплавов Fe77NiiSi9Bi3 и Fe67Ni6SinBi6 сплавов существуют области локального атомного порядка в виде "решеток" и "цепочек" со структурой близкой к микрокристаллам соединения Fe3B. Размер таких образований 1-3 нм. На ранних стадиях кристаллизации при нагреве аморфного сплава FeyyNiiSigB^ наблюдается "ячеистая" структура, где в центре каждой из "ячеек" формируется микрокристаллит у — Fe, а в интервале температур 250

300°С наблюдается фазовый переход y-Fe-^a-Fe. Кристаллизация сплава

Fe67Ni6SiiiBi6 осуществляется через зарождение и рост микрокристаллов Fe3B.

2. На электронно-оптических снимках АМС визуализируются длинноволновые неоднородности различных типов и пространственных масштабов: стохастические структуры (размеры неоднородностей 1-5 нм), "сетки" (размер ячеек 5-100 нм), образования на поверхности типа складок (длина более 100 нм, высота около 10 нм).

3. Внешние воздействия (термообработка, радиационное облучение), а также изменение концентрации металлоида в химическом составе сплавов состава Со-Р и Co-Ni-P, полученных электрохимическим и химическим осаждением находят свое отражение в изменении параметров "сеточных" микроструктур, характерных для этой группы сплавов.

4. Микроструктура аморфных сплавов состава Fe-Ni-Si-B, Fe-B, Со-Р, Co-Ni-P и др. характеризуется целой иерархией корреляционных радиусов, лежащих в диапазоне от 0.2 нм до 100 нм и зависящих от состава и технологии приготовления сплава. При радиационном облучении и термовоздействии происходят изменения в микроструктуре, которые в свою очередь приводят к модификации соответствующих спектральных плотностей и корреляционных функций, причем их модификация, как правило, сопровождается ростом доли спектральной плотности квазигармонического типа при увеличении степени воздействия.

5. Подобие в структурообразовании естественного микрорельефа аморфных лент, получаемых быстрой закалкой из расплава, для разных пространственных масштабов неоднородностей, наблюдаемых методами электронной и оптической микроскопии. Стохастической структуре и "сеткам", наблюдаемым в этих лентах методами электронной микроскопии, "соответствует" "оптическая" стохастическая структура с характерными размерами от 0,1 до 1 мкм и крупномасштабные концентрационные неоднородности типа "сетки" с характерными размерами 1-3 мкм, которые визуализируются методами оптической микроскопии.

6. Метод моделирования ВРЭМ изображений "решеточных" и "цепочечных" кластеров, электронно-микроскопических изображений длинноволновых микроструктур в АМС, в частности, изображений "сеточных" структур, основанный на слоевом подходе и моделировании распределения неоднородностей электронного потенциала в слоях однородным случайным полем с задаваемой спектральной плотностью. Аналитический вид, параметры спектральных плотностей и оценки дисперсии флуктуаций электронного потенциала в слоях при моделировании микроструктур различных типов.

Апробация результатов работы. Основные результаты диссертационной работы докладывались: на Всесоюзных семинарах по аморфному магнетизму (Красноярск, 1978 г., 1980 г.,1989 г.; Самарканд, 1983 г.); на Всесоюзных конференциях по физике магнитных явлений (Пермь, 1981 г.; Пермь 1990 г.); на Всесоюзных школах-семинарах "Новые магнитные материалы для микроэлектроники" (Ашхабад, 1980 г.; Донецк, 1982 г.); на Всесоюзных конференциях и симпозиумах по электронной микроскопии (Сумы, 1982 г.; Москва 1983 г., 1984 г., 1986 г., 1988г.); на Всесоюзных научных конференциях "Проблемы исследования структуры аморфных металлических сплавов" (Москва 1984 г., 1988 г.); на II Всесоюзной конференции по физике и технологии тонких пленок (г. Ивано-Франковск, 1984 г.); на Всесоюзной научной конференции "Состояние и перспективы развития микроэлектронной техники" (Минск, 1985 г.); на Всесоюзных семинарах "Материалы с аморфной и микрокристаллической структурой" (Москва, 1985 г., 1988 г.); на VI Всесоюзной конференции "Проблемы научных исследований в области изучения и освоения мирового океана" (г. Владивосток, 1983 г.); на XIII Всесоюзной конференции по электронной микроскопии (г. Москва, 1987 г.), на VI Всесоюзном симпозиуме РЭМ-89 (г. Звенигород, 1989 г.), на XIV Всесоюзной конференции по электронной микроскопии (г. Суздаль, 1990 г.), на

1-ой Всесоюзной конференции "Кластерные материалы" (г. Ижевск, 1991 г.), на V Всесоюзной конференции "Аморфные прецизионные сплавы: технология, свойства, применение" (г. Ростов-Великий, 1991г.); на Международной научно-технической конференции "Новые технологии получения слоистых и порошковых материалов" (г. Сочи, 1993 г.); на Всероссийской конференции "Проблемы современных материалов и технологий производства наукоемкой продукции" (г. Пермь, 1993 г.); на Всеросс. научно-метод. конф. "Компьютерные технологии в высшем образовании" (С.Петербург, 1994 г.); International conference of distance education in Russia (Moscow, 1996); на 36-ой - 42-ой Всероссийских межвузовских научно-технических конференциях (г. Владивосток, 1993 - 1999 г.г.); на Российских конференции по электронной микроскопии (Москва, 1998 г., 2000 г., 2002 г.); на VI-ой Всероссийской научно-технической конференции "Повышение эффективности методов и средств обработки информации" (г. Тамбов, 2000 г.); на VII-ой Всероссийской конференции "Аморфные прецизионные сплавы" (г. Москва, 2000 г.).

Публикации и личный вклад автора. По теме диссертации опубликовано 120 работ, в том числе две монографии. Основные результаты диссертации опубликованы в работах [6,7,27-83,90-96,112,113,131-141,144-149,154-156,164-169,171,174,176-178,180-192,249-252,301,336,337]. Все новые научные результаты, вынесенные автором на защиту, получены самостоятельно.

Структура и объем работы. Диссертационная работа состоит из введения, шести глав, заключения и списка литературы, включающего 340 наименований. Работа содержит 354 страницы текста и 147 рисунков.

Похожие диссертационные работы по специальности «Физика конденсированного состояния», 01.04.07 шифр ВАК

Заключение диссертации по теме «Физика конденсированного состояния», Плотников, Владимир Сергеевич

Основные результаты работы и выводы

1. При ВРЭМ исследованиях микроструктуры быстрозакаленных аморфных сплавов состава Fe^NiiSigB^ и Fe67Ni6SinBi6 визуализированы атомные кластеры с различным типом упорядочений в структуре: анизотропным - "решеточным", и практически изотропным - "цепочечным". Методами спектрального и морфометри-ческого анализа определен средний период таких упорядочений 0.3 нм) и эффективный размер отдельного элемента кластера 0.2 нм). Установлено, что интервал пространственных корреляций для "решеточных" кластеров примерно в полтора раза превышает интервал корреляции "цепочечных" кластеров и составляет около 1.2 нм. Эти упорядоченные области имеют структуру близкую к микрокристаллам соединения Fe3 В. По всей видимости, упорядоченные структуры данного типа находятся в расплаве и замораживаются при закалке. Характерные размеры этих образований 1-3 нм.

2. На ранних стадиях кристаллизации аморфного сплава Fe^NiiSigBn визуализируется "ячеистая" структура, где в центре каждой из "ячеек" при нагреве формируется микрокристаллит y-Fe. Эта структура обычно представляет собой псевдопериодическое колебание плотности материала вблизи его среднего значения с максимумами в местах расположения кристаллитов. Центрами кристаллизации y — Fe являются атомные комплексы размером в несколько межатомных расстояний с локальной координацией атомов, соответствующей y — Fe. При отжиге образцов сплавов состава Fe/yN^SigBn в течение нескольких часов при температуре не менее 150°С на электронно-микроскопических снимках формируется крупномасштабная "сеточная" структура (размер ячеек "сетки" 4-10 нм). Спектральный анализ изображений "сеточных" структур, в целом, подтверждает квазипериодический характер "сеток". При нагреве образцов до 200°С наблюдается рост микрокристаллов, а в интервале температур 250 -300°С происходит фазовый переход y-Fe->a-Fe.

3. Кристаллизация сплава Fe67Ni6SinB16 осуществляется через зарождение и рост микрокристаллов Fe3B, причем микрокристаллы y — Fe ни в одном из экспериментов обнаружены не были. Отличия в структуре при кристаллизации сплавов Fe77Ni1Si9Bi3 и Fe67Ni6SinBi6 связаны с различным химическим составом сплавов (сплав Fe67Ni6SinBi6 имеет большую концентрацию металлоидов). Достаточно высокая концентрация бора в сплаве Fe67Ni6SinBi6 приводит к росту числа кристаллов Fe3 В даже при небольшом нагреве.

4. Визуализированы и классифицированы по корреляционно-спектральным и морфометрическим характеристикам различные типы длинноволновых неоднородностей в АМС: стохастические структуры (размеры неоднородностей 1-5 нм), "сетки" (размер ячеек 5-100 нм), образования на поверхности типа складок (длина более 100 нм, высота около 10 нм).

5. Впервые на примере АМС состава Со-Р и Co-Ni-P, полученных электрохимическим и химическим осаждением, показано, что внешние воздействия (термообработка, радиационное облучение), а также изменение концентрации металлоида в химическом составе сплавов находят свое отражение в изменении параметров "сеточных" микроструктур, характерных для этой группы сплавов.

6. Впервые осуществлена идентификация корреляционно-спектральных характеристик неоднородностей в АМС по элеюронно-микроскопическим изображениям. Установлено, что микроструктура АМС характеризуется целой иерархией корреляционных радиусов, лежащих в диапазоне от 0.2 нм до 100 нм и зависящих от состава и технологии приготовления сплава. При радиационном облучении и термовоздействии на образцы АМС происходят изменения в микроструктуре, которые в свою очередь приводят к модификации соответствующих спектральных плотностей и корреляционных функций, причем их модификация, как правило, сопровождается ростом доли спектральной плотности квазигармонического типа при увеличении степени воздействия.

7. Исследован естественный микрорельеф аморфных лент, получаемых быстрой закалкой из расплава. Разработаны методы наблюдения технологических неоднородностей и неоднородностей свободной поверхности в АМС средствами оптической микроскопии. Выявлено подобие в структурообразовании естественного микрорельефа для разных пространственных масштабов неоднородностей, наблюдаемых методами электронной и оптической микроскопии. Методами оптической микроскопии визуализирована "оптическая" стохастическая структура с характерными размерами ОД - 1 мкм и крупномасштабные концентрационные неоднородности типа "сетки" с характерными размерами 1 - 3 мкм, которым "соответствует" стохастическая структура и "сетки", наблюдаемые методами электронной микроскопии.

8. Разработан метод моделирования изображений атомных кластеров и длинноволновых неоднородностей в структуре АМС, основанный на слоевом подходе и моделировании распределения неоднородностей электронного потенциала в слоях однородным случайным полем с задаваемой спектральной плотностью. Впервые смоделированы ВРЭМ изображения "решеточных" и "цепочечных" кластеров, а также электронно-микроскопические изображения длинноволновых микроструктур в

АМС, в частности, изображения "сеточных" структур. Установлен вид, определены параметры спектральных плотностей и получены оценки дисперсии флуктуаций электронного потенциала в слоях при моделировании изображений микроструктур различных типов.

9. На основе спектрального и структурно-морфологического анализа микроскопических изображений разработаны методы идентификации корреляционно-спектральных характеристик стохастической структуры сплавов, численной параметризации микроструктуры и ее анизотропии, оценивания морфометрических характеристик и взаимного расположения элементов структуры, анализа и контроля технологического микрорельефа контактной и свободной поверхностей АМС.

10. Разработан метод моделирования произвольных многокомпонентных оптических систем в микроскопии и когерентной оптике. С использованием данного метода исследован ряд методик визуализации фазового контраста, традиционно применяемых в электронно-оптических исследованиях АМС, разработана оптическая система лазерного микроскопа, позволяющая существенно расширить область прямо-угольности частотной характеристики микроскопа при работе в режиме дефокусировки.

11. На базе электронных и оптических микроскопов, голографических установок, персональных компьютеров, современных сетевых технологий и разработанных в диссертации методов анализа и моделирования изображений создан комплекс программно-аппаратных средств для анализа микроструктуры АМС по электронно-оптическим изображениям.

Выполненные в диссертации исследования включались в основные направления научно-исследовательских работ ДВГУ в 1980-2001 г.г. Исследования поддерживались РФФИ (проект 96-07-89195 "Разработка баз данных по структуре и свойствам АММ" (1996 - 1998 г.г.)); Институтом "Открытое общество" (грант № IEA70Gu "Фурье-оптика в глобальной сети Интернет" (1999 г.)); ФЦП "Интеграция" (проекты № А 0025, № А 0026 и № Ф0012).

Список литературы диссертационного исследования доктор физико-математических наук Плотников, Владимир Сергеевич, 2004 год

1. Александров К.С., Игнатченко В.А. Аморфные магнетики // Вестник АН СССР. 1983. №7.- С.56-63.

2. Абросимова Г.Е., Аронин А.С. и др. Структура массивных аморфных сплавов на основе циркония после механических испытаний при повышенных температурах // XVIII Росс. конф. по ЭМ: тез. докл. Черноголовка 5 июня 8 июля 2000 г. - С.148.

3. Абросимова Г.Е., Аронин А.С., Асадчиков В.Е., Серебряков А.В. Эволюция структуры аморфных сплавов Fe-B и Co-Fe-Si-B при нагреве ниже температуры кристаллизации//ФММ. 1986. т. 62, вып.З. С.496-502.

4. Абросимова Г.Е., Аронин А.С., Воропаева JI.B. Структурные изменения при нагреве аморфных сплавов Fe-B-P// Металлофизика.-1989. т.11, N3. С.102-105

5. Абросимова Г.Е., Аронин А.С., Зверькова И.И., Гуров А.Ф., Кирьянов Ю.В. Образование, структура и микротвердость нанокристаллических сплавов Ni-Mo-B // ФТТ. 1998. т. 40, №1.- С.10-16.

6. Антонова JI.M., Матохин А.В., Должиков С.В., Плотников B.C. Юдин В.В. Патерсоновский синтез в оптическом диапазоне электронограмм поликристаллических пленок. // Металлофизика, 1984. т.б, №3. С.64-67.

7. Аронин А.С., Абросимова Г.Е., Кирьянов Ю.В., Молоканов В.В. Структура нанокристаллических сплавов //XVIII Росс.конф. по ЭМ: Тез.докл. Черноголовка 5 июня 8 июля 2000г. С. 150.

8. Бакут П.А., Колмогоров Г.С., Ворновицкий Н.Э. Сегментация изображений: методы пороговой обработки // Зарубежная радиоэлектроника. 1987. № 10.- С. 6-24.

9. Бандривский С.А., Давин Г.Д. Сегментация изображений с использованием фрактальных характеристик // Оптический журнал. 1997. №2. С. 53-56.

10. Барабаненков Ю.Н., Кравцов Ю.А., Рытов С.М., Татарский В.И. Состояние теории распространения волн в случайно-неоднородной среде // Успехи физ. наук. 1970. Т.102, №1. С.3-42.

11. Белащенко Д.К. Структура жидких и аморфных металлов.- М./ Металлургия. 1985. -192 с.

12. Беленький А.Я. Модель некристаллической атомной структуры //ДАН СССР.1985. Т.281, № 6. С.1352-1355.

13. Бернштейн M.JL, Богданов К.М., Платова С.Н. и др Разработка и экспериментальная проверка методики количественного анализа растровых изображений изломов стали // Металловедение и термическая обработка металлов, 1976. № 8. С.50-54.

14. Берт П.Дж. Интеллектуальное восприятие в пирамидальной зрительной машине // ТИИЭР. 1988. Т.76, № 8. С.175-186.

15. Бетехтин В.И., Глезер A.M., Кадомцев А.Г., Кипяткова А.Ю. Избыточный свободный объем и механические свойства аморфных сплавов // ФТТ, 1998, т.40, №1, С.85-89.

16. Богачев И. Н., Вайнштейн А. А., Волков С. Д. Введение в статистическое металловедение. М.: Металлургия, 1972. 216 с.

17. Богданов К. М. Метод количественного анализа морфологических структур на основе их статистических характеристик // В кн.: Рабочее совещание по проблемам автоматического анализа микроскопических объектов. Тезисы докл., Пущино: АН СССР, 1966. -С. 4-5.

18. Богданов К. М., Козлов Ю. Г., Пантелеев Б. П., Яновский К. А. Система «Протва-2М» для оптико-структурного машинного анализа микрообъектов и их изображении // Труды ВНИИ биотехника, вып. 1. М.: ОНТИТЭИ микробиопром, 1972.-С. 68-75.

19. Вайнштейн Б.К. Электронная микроскопия атомного разрешения //УФН. 1987. Т.152, Вып.1.- С.75-131.

20. Василенко Г.И., Белинский А.Н. и др. Оптическая и цифровая обработка изображений в системах дистанционного зондирования. В кн.: Оптическая и цифровая обработка изображений. JL: Наука, 1988. С. 19-29.

21. Василенко Г.И., Тараторин A.M. Восстановление изображений. М.: Радио и связь, 1986. 304 с.

22. Герольд У., Кестер У Влияние замещения металла или металлоида в аморфных сплавах железо-бор на из кристаллизацию -В.кн.: Быстрозакаленные металлы. М.:Металлургия. 1983. С.147-154.

23. Глезер A.M., Молотилов Б.В. Структура аморфных сплавов// УФН.-1987.-т.152.Вып. 4. -С.573-611.

24. Глезер A.M. Аморфные и нанокристаллические структуры: сходства, различия, взаимные переходы // Рос. Хим. Ж., 2002. t.XLVT, №5 С.57-63.

25. Гончукова Н.О., Мазурин О.В., Качалов В.М. Исследование структурной релаксации в металлическом стекле Pd78i5Cu6Sii5i5 методом сканирующей калориметрии // Металлофизика 1985. т.7, №1. С. 67-71

26. Грудин Б.Н., Кулешов E.JL, Плотников B.C., Должиков С.В. и др. Программно-аппаратный комплекс обработки и анализа РЭМ-информации. // Тезисы докладов VIII симпозиума РЭМ-93, Черноголовка, 1993. С.ЗО.

27. Грудин Б.Н., Мерщанский A.M., Плотников B.C., Должиков С.В. Лазерный оптический микроскоп для контроля свободной поверхности быстрозакаленных сплавов. // Тезисы докладов VIII симпозиума РЭМ-93, Черноголовка, 1993. С.134.

28. Грудин Б.Н., Плотников B.C., Фищенко В.К., Система пространственно-частотной фильтрации электронно-микроскопических изображений //Тез. докл. 38-ой

29. Всероссийской межвузовской научно-технической конференции. Владивосток: Изд-во ТОВВМУ, 1995. С.125-127.

30. Грудин Б.Н., Фищенко В.К., Кулешов Е.Л., Плотников B.C. Фазово-контрастный визуализатор плотностных неоднородностей морской воды. Патент № 2046321. 1995.

31. Грудин Б.Н., Должиков С.В., Плотников B.C., Фищенко В.К. Морфологический и статистический анализ изображений. Учебное пособие. Владивосток: Изд-во Дальневосточного университета, 1995. 60 с.

32. Грудин Б.Н., Должиков С.В., Фищенко В.К., Плотников B.C. Комплекс аппаратно-программных средств для обработки изображений на персональных ЭВМ. Учебное пособие. Издательство ДВГУ, 1995.- 42 с.

33. Грудин Б.Н., Плотников B.C., Фищенко В.К. Структура комплекса баз данных материала-исследователя //Тез. докл. 39-ой Всероссийской межвузовской научно-технической конференции. Владивосток: Изд-во ТОВВМУ, 1996.- С. 25-27.

34. Грудин Б.Н., Плотников B.C., Фищенко В.К. Исследование анизотропии структурных неоднородностей в аморфных металлических сплавах. Препринт № 396. Владивосток: Изд-во Дальневосточного университета, 1996. -16 с.

35. Грудин Б.Н., Плотников B.C., Фищенко В.К. Аппаратно-программный комплекс для обработки изображений в оптической и электронной микроскопии аморфных металлических сплавов. Препринт №4-96. Владивосток: Изд-во Дальневосточного университета, 1996. -24 с.

36. Грудин Б.Н., Плотников B.C., Фищенко В.К. Моделирование на ЭВМ фазово-контрастных методик наблюдения микроструктуры в оптической и электронной микроскопии. Препринт №2-96. Владивосток: Изд-во Дальневосточного университета, 1996.- 20 с.

37. Грудин Б.Н., Должиков С.В., Плотников B.C., Фищенко В.К. Согласованная фильтрация в цифровых и оптических системах обработки изображений. Учебное пособие. Владивосток: Изд-во Дальневосточного университета, 1996.- 53 с.

38. Грудин Б.Н., Должиков С.В., Плотников B.C., Фищенко В.К. Устранение эффектов размытия изображений в системах фильтрации на основе преобразования Фурье. Учебное пособие. Владивосток: Изд-во Дальневосточного университета, 1996.-51 с.

39. Грудин Б.Н., Плотников B.C., Фищенко В.К. Моделирование на ЭВМ электронно-микроскопических изображений. Препринт №1-97. Владивосток: Изд-во Дальневосточного университета, 1997.- 37 с.

40. Грудин Б.Н., Плотников B.C., Фищенко В.К. Применение оптических методов в исследованиях термохалинной микроструктуры морской воды. Препринт №3-97. Владивосток: Изд-во Дальневосточного университета, 1997. 22 с.

41. Грудин Б.Н., Плотников B.C., Фищенко В.К. Корреляционные функции и спектральные плотности квазиоднородных изотропных полей. Препринт № 2-97. Владивосток: Изд-во Дальневосточного университета, 1997.- 26 с.

42. Грудин Б.Н., Плотников B.C., Фищенко В.К. Моделирование на ЭВМ элементов фурье-оптики // Тез. докл. 41-ой Всероссийской межвузовской научно-технич. конференции. Владивосток: Изд-во ТОВВМУ, 1998.- С. 66-68.

43. Грудин Б.Н., Плотников B.C., Фищенко В.К. Моделирование на ЭВМ многокаскадной когерентной оптической системы // Тез. докл. 41 -ой Всероссийской межвузовской научно-технической конференции. Владивосток: Изд-во ТОВВМУ, 1998.-С. 63-65.

44. Грудин Б.Н., Плотников B.C., Фищенко В.К. Корреляционные функции квазиоднородных случайных полей. // Тез. докл. 39-ой Всероссийской межвузовской научно-технической конференции. Владивосток: Изд-во ТОВВМУ. 1998.- С. 49-51.

45. Грудин Б.Н., Должиков С.В., Плотников B.C., Фищенко В.К. Компьютерное моделирование элементов и систем фурье-оптики. Ч. 1,2. Учебное пособие. Владивосток: Изд-во Дальневосточного университета, 1998. 82 с.

46. Грудин Б.Н., Плотников B.C.,.Фищенко В.К Программные средства для обработки электронно-оптических изображений // Тез. докл. 42 -ой Всероссийскоймежвузовской научно-технической конференции. Владивосток: Изд-во ТОВВМУ,1999.- С. 59-61.

47. Грудин Б.Н., Плотников B.C., Фищенко В.К. Исследование неупорядочных сред по электронно-оптическим изображениям. Владивосток: Издательство Дальневосточного университета, 1999. 359 с.

48. Грудин Б.Н., Должников С.В., Плотников B.C., Фищенко В.К. Компьютерный практикум по Фурье оптике // Сб. научных трудов Харьковского государственного политехнического университета. Выпуск 7. Харьков, 1999. - С. 357-360.

49. Грудин Б.Н., Плотников B.C., Пустовалов Е.В., Фищенко В.К. Моделирование и параметризация изображений аморфной структуры, полученных методом высокоразрешающей электронной микроскопии // Известия АН. Серия физическая. 1999. Т. 63, №7. С.1301-1305.

50. Грудин Б.Н., Плотников B.C., Фищенко В.К. Аппаратно-программные средства для обработки микроскопических изображений // Тезисы докл. 18-ой Российской конференции по электронной микроскопии. М.: Изд-во ИПТМ РАН,2000.-С. 106.

51. Грудин Б.Н., Плотников B.C., Покрашенко А.А, Фищенко В.К. Структурно-морфологический анализ микроскопических изображений // Тезисы докл. 18-ой Российской конференции по электронной микроскопии. М.: Изд-во ИПТМ РАН, 2000.-С. 107.

52. Грудин Б.Н., Плотников B.C., Покрашенко А.А., Фищенко В.К. Структурно-морфологический анализ неоднородностей в металлических материалах по электронно-микроскопическим изображениям // Физика металлов и металловедение. 2000. Т. 90, № 6. С. 58-63.

53. Грудин Б.Н., Плотников B.C., Фищенко В.К., Кисленок Е.Г. Спектральный анализ электронно-оптических изображений. Препринт № 1ф-2001. Владивосток: Изд-во Дальневосточного университета, 2001.- 56 с.

54. Грудин Б.Н., Плотников B.C., Покрашенко А.С., Фищенко В.К. Система морфологического анализа микроскопических изображений // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2001.Т.67, № 5. С. 32-37.

55. Грудин Б.Н., Плотников B.C., Фищенко В.К., Покрашенко А.А. Морфологический анализ электронно-оптических изображений. Препринт № 2ф-2001. Владивосток: Изд-во Дальневосточного университета, 2001. 52 с.

56. Грудин Б.Н., Плотников B.C., Фищенко В.К. Моделирование на ЭВМ многокомпонентной когерентной оптической системы // Известия вузов. Приборостроение. 2001.Т. 44, № 3. С.34-39.

57. Грудин Б.Н., Плотников B.C., Фищенко В.К., Лученков В.Б. Фильтрация электронно-оптических изображений. Препринт № Зф-2001. Владивосток: Изд-во Дальневосточного университета, 2001.- 56 с.

58. Грудин Б.Н., Клещева Н.А., Плотников B.C., Фищенко В.К. Лабораторно-компьютерный практикум по Фурье-оптике //Физическое образование в вузах. 2001. Т. 7, № 1. С. 107-116.

59. Грудин Б.Н., Плотников B.C., Фищенко В.К., Лученков В.Б. Моделирование электронно-оптических изображений. Владивосток, 2001. 46 с. (Препринт ДВГУ: 04ф-2001).

60. Грудин Б.Н., Плотников B.C., Фищенко В.К. Моделирование и анализ изображений в электронной и оптической микроскопии. Владивосток: Дальнаука, 2001.-221 с.

61. Грудин Б.Н., Должиков С.В., Плотников B.C., Фищенко В.К. Моделирование микроскопических изображений // Тез. докл. 19 Российской конференции по электронной микроскопии. Черноголовка. 2002. С. 80.

62. Грудин Б.Н., Должиков С.В., Плотников B.C. Построение трехмерных моделей моноатомных структур// Тез. докл. 19 Российской конференции по электронной микроскопии. Черноголовка. 2002. С. 81.

63. Грудин Б.Н., Должиков С.В., Плотников B.C., Фищенко В.К. Исследование структуры по электронно-микроскопическим изображения м// Тез. докл. 19 Российской конференции по электронной микроскопии. Черноголовка. 2002. С. 148.

64. Гудмен Дж. Введение в Фурье-оптику. М.: Мир, 1970. -362 с.

65. Гудмен Дж. Возможности когерентных оптических систем обработки информации // ТИИЭР.1977. Т. 65, № 1. С.37-49.

66. Гуревич С.Б., Очин Е.Ф. Состояние и перспективы развития систем обработки изображений. В кн.: Оптическая и цифровая обработка изображений. JL: Наука, 1988.-С.5-19.

67. Даджен Д., Мерсеро P.M. Цифровая обработка многомерных сигналов: Пер с англ./ Под ред. ЛЛЯрославского. М.: Мир, 1987. -356 с.

68. Дженкинс Г., Ватгс Д. Спектральный анализ и его приложения. М.: Мир, 1971,Т.1-2. -608 с.

69. Диксмер Дж., Садок Дж.Ф. Структурные модели. В кн.: Металлические стекла. М.:Металлургия, 1984. - С.39-48.

70. Должиков С.В., Плотников B.C., Чеканова JI.A. Динамика структуры сплавов Со-Р при изменении концентрации металлоида. // Тезисы докладов V Всесоюзной конференции «Аморфные прецизионные сплавы: Технология, свойства, применение». Москва. 1991. С. 53-54.

71. Должиков С.В., Золотарев С.Н., Плотников B.C. Процессы структурной релаксации при термовоздействии на аморфные сплавы Со-Р // Поверхность. 1992. № 7. С.109-113.

72. Должиков С.В., Плотников B.C. Динамика структуры сплавов при изменении концентрации металлоида // ФТТ. 1992. Т. 34, № 1. С. 55-59.

73. Должиков С.В., Плотников B.C., Золотарев С.Н., Грабчиков С.С. Статистический анализ релаксации структуры аморфных сплавов Co-Ni-P при воздействии гамма-квантов // ФММ. 1992. № 5. С. 40-46.

74. Должиков С.В., Плотников B.C., Пустовалов Е.В. Моделирование трехмерной микроструктуры аморфных металлов. // Тезисы докладов XVIII Российской конференции по электронной микроскопии. Черноголовка. 2000. С. 108.

75. Дубинин С.Ф., Пархоменко В.Д., Теплоухов С.Г., Гощицкий Б.Н. Аморфизация твердых тел быстрыми нейтронами //ФТТ 1998, т .40, N.9. С.1585-1588.

76. Займан Дж. Модели беспорядка. Теоретическая физика однородно неупорядоченных систем: Пер. с англ.- М.: Мир. 1982. 592 с.

77. Зверев В.А. Радиооптика. М.: Сов.радио. 1975.- 302 с.

78. Золотухин И.В. Физические свойства аморфных металлических материалов. М.: Металлургия, 1986. 176 с.

79. Иваницкий Г.Р., Куницкий А.С. Исследование микроструктуры объектов методами когерентной оптики. М.: Энергия. 1981. 168 с.

80. Игнатченко В.А., Исхаков. Р.С. Типы корреляционных функций неоднородных сред и возможность их экспериментальной идентификации // ФММ, 1990. № 9. С.5-18.

81. Игнатченко В.А., Исхаков Р.С. Стохастические свойства неоднородностей аморфных магнетиков // Магнитные свойства кристаллических и аморфных сред. Новосибирск: Наука, 1989.- С.128-147.

82. Игнатченко В.А., Исхаков Р.С. Спиновые волны в случайно-неоднородной анизотропной среде. //ЖЭТФ. 1977. Т. 72, № 3. С.1005-1017.

83. Игнатченко В.А., Исхаков Р.С. Спиновые волны в аморфных и мелкодисперсных ферромагнетиках с учетом диполь-дипольного взаимоднйствия // ЖЭТФ. 1978. Т. 74, № 4. С. 1386-1393.

84. Игнатченко В.А., Исхаков Р.С Дисперсионное соотношение и спиновая спектроскопия аморфных магнетиков // ЖЭТФ. 1978. Т. 75, №10. С.1438-1443.

85. Игнатченко В.А., Исхаков Р.С. Стохастическая магнитная структура и спиновые волны в аморфных ферромагнетиках. Изд. АН СССР, сер. физ. 1980. Т. 44, №7.-С. 1434-1437.

86. Каули Дж. Основы формирования изображений. // Сб. статей: Основы аналитической электронной микроскопии. М.: Металлургия, 1990.- С.36-70.

87. Каули Дж. Физика дифракции. М.: Мир,1979. 431с.

88. Кестер У., Герольд У. Кристаллизация металлических стекол.-В кн. Металлические стекла. Вып 1. Ионная структура, электронный перенос и кристаллизация (под ред. Гюнтеродта Г. и Бека Г.). М.: Мир.-1983. - С. 325-371.

89. Ковтуненко B.C., Колинько С.А., Дубровская Г.Н. Особенности электронного рассеяния в аморфных пленках Ge-Sb // XVIII Росс.конф. по ЭМ: Тез.докл. Черноголовка 5 июня 8 июля 2000 г.- С.51.

90. Крайнова Г.С., Плотников B.C., Грудин Б.Н., Чухрий Н.И. Микромагнитная структура аморфных пленок ПМ-РЗМ, ПМ-М. // Тез. докл. 29-ой Всероссийской межвузовской научно-технической конференции. Владивосток: Изд-во ТОВВМУ, 1986.- С.49 -50.

91. Крайнова Г.С., Плотников B.C. и др. Лоренцева мирокскопия в исследовании микромагнитной структуры аморфных пленок ПМ-РЗМ, ПМ-М. // Тезисы докладов XIV Всесоюзной конференции по электронной микроскопии, Москва, 1990, с. 161-162.

92. Лендэрис Г.Г., Стенли Г.Л. Метод дискретизации дифракционных картин для автоматического распознавания образов // ТИИЭР. 1970.Т.58, № 2. С.22-40.

93. Либерман Х.Х. Приготовление образцов: различные методы и описание способов закалки из расплава. В кн.: Аморфные металлические сплавы. М.: Металлургия. 1987.- С.38-52.

94. Люборский Ф.Е. Аморфные металлические сплавы. В кн.: Аморфные металлические сплавы. М.:Металлургия, 1987.-С.9-16.

95. Люборский Ф.Е. Магнитные свойства, важные для применений в технике. В кн.: Аморфные металлические сплавы. М.:Металлургия, 1987. - С. 356-374.

96. Марагос П., Шафер Р.У. Морфологические системы для многомерной обработки сигналов // ТИИЭР. 1990. Т.78, № 4. С.109-132.

97. Марпл С.Л. Цифровой спектральный анализ и его приложения. М.: Мир. 1990.-584 с.

98. Мартин Дж., Доэрти Р. Стабильность микроструктуры металлических систем. М.: Атомиздат. 1978. 280 с.

99. Маслов В.В. Кинетика и механизм кристаллизации аморфного сплава Fe85Bi5 в присутствии растворимых примесей // Металлофизика и новейшие технологии. 1999. Т. 19, № 2. С. 17-26.

100. Мессмер Р.П. Теория локальной электронной структуры аморфных металлов. В кн.: Аморфные металлические сплавы. М.: Металлургия, 1987. С. 106117.

101. Металлические стекла. М.: Металлургия, 1984. 264 с.

102. Металлические стекла. Вып.2: Атомная структура и динамика, электронная структура, магнитные свойства (под ред. Гюнтеродта Г. и Бека Г.). М.: Мир. 1986.-456 с.

103. Металлические стекла. Ионная структура, электронный перенос и кристаллизация, (под ред.: Гюнтеродта Г., Бека Г. Пер. с англ. М.:Мир. ).1983. 376 с.

104. Мирошниченко Н.С. Закалка из жидкого состояния. М.: Металлургия,1982.- 168 с.

105. Новиков И.И., Климов К.М., Сафронова P.M., Тимофеев В.Н. Электронно-микроскопическое исследование аморфных сплавов после электростимулированной прокатки.- В кн. Аморфные металлические материалы.-М. Наука. 1984. -С. 128-143.

106. Оптико-структурный машинный анализ изображений. Под ред. К.А. Яновского. М.: Машиностроение, 1984. 277с.

107. Практические методы в электронной микроскопии. Ленинград: Машиностроение. 1980. - 342 с.

108. Практическая растровая электронная микроскопия // Под ред. Гоулдстейна Дж., Яковица Х.М. М.: Мир. 1978. 656 с.

109. Плотников B.C., Юдина Л.А., Должиков С.В. и др. Топологическая кинетика складок в процессе распада аморфного состояния на пленках ПМ-М, ПМ-РЗ. // Материалы III Всесоюзного семинара по аморфному магнетизму, Самарканд,1983.-С.127.

110. Плотников В.С, Макогина Е.И., Юдина Л.А., Юдин В.В. Возможные механизмы анизотропии аморфных пленок. // Межвузовский сборник «Рост и структура нитевидных кристаллов и тонких пленок», 1984. Воронеж. С.51-54.

111. Плотников B.C., Чухрий Н.И., Юдин В.В. Топологический механизм старения аморфных пленок и фольг. // Материалы семинара: «Материалы с аморфной и микрокристаллической структурой». Москва. 1985. С. 10-11.

112. Плотников B.C. Особенности сеточного строения аморфных пленок. // Тем. сб. Физические процессы в тонких пленках, Владивосток: Изд-во Дальневосточного университета. 1986. С.64-75.

113. Плотников B.C., Грудин Б.Н., Кисленок Е.Г. Моделирование икроскопических изображений аморфных сплавов // Физика металлов и металловедение. 2004. Т. 97, №4.-С. 331-338.

114. Плотников B.C., Должиков С.В., Грудин Б.Н. Анализ анизотропии крупномасштабных неоднородностей при изменении концентрации металлоида в сплавах Со-Р // Физика металлов и металловедение. 1993. Т.75, Вып.1. С.131-135.

115. Плотников B.C., Фищенко В.К., Должиков С.В., Грудин Б.Н., Пустовалов Е.В. Комплекс автоматизированных средств электронной и оптической микроскопии в исследовании металлических материалов с аморфной структурой // Вестник ДВО РАН. №2. 1995.-С. 86-95.

116. Порай-Кошиц Е.А. Диффузное рассеяние рентгеновских лучей под малыми углами // УФН. 1949. т.39. Вып.4. -С.573-611

117. Прэтт У. Цифровая обработка изображений. В двух книгах. М.: Мир, 1982.-790с.

118. Пустовалов Е.В., Захаров Н.Д., Плотников B.C. Процессы структурной релаксации и начальная стадия кристаллизации аморфных сплавов на основе Fe // Latvian Journal of physics and technical scienas. 1991. № 5. p.86-91.

119. Пустовалов E.B., Захаров Н.Д., Грудин Б.Н., Плотников B.C., Структурная релаксация аморфных металлических сплавов при нагреве // 37-ая Всероссийская межвузовская научно-техническая конференция. Владивосток: Изд-во ТОВВМУ, 1993.- С. 167-210.

120. Пустовалов Е.В., Грудин Б.Н., Фищенко В.К., Плотников B.C. Моделирование и параметризация ВРЭМ-изображений аморфной структуры // Тез. докл. 17 Российской конференции по электронной микроскопии. Черноголовка. 1998. С.18-19.

121. Пустовалов Е.В., Захаров Н.Д., Плотников B.C., Должиков С.В. Структура термообработанных в сильном магнитном поле аморфных сплавов на основе железа.

122. Тезисы докладов XVIII Российской конференции по электронной микроскопии, Черноголовка, 2000, с.181.

123. Пустовалов Е.В., Захаров Н.Д., Плотников B.C., Nanosructures and chemical inhomogeneities in amorphous metallic alloys. //Тезисы докладов XVIII Российской конференции по электронной микроскопии, Черноголовка, 2000, с. 199.

124. Розенфельд А. Распознавание и обработка изображений. М.: Мир, 1972.230 с.

125. Рудаков П. И., Сафонов В. И. Обработка сигналов и изображений. MATLAB 5.x. М.: ДИАЛОГ-МИФИ, 2000.- 416 с.

126. Рытов С.М., Кравцов Ю.А., Татарский В .И. Введение в статическую радиофизику, Ч. 2. М.: Наука, 1978.- 463 с.

127. Салтыков С.А. Стереометрическая металлография. М.: Металлургия, 1970.376 с.

128. Сафронова Л.А., Овчаров В.П., Плотников B.C. и др. Формирование микрорельефа на поверхности быстрозакаленных лент. // Сб. трудов научно-практической конференции стран-членов СЭВ «Аморфные и микрокристаллические материалы», Москва, 1989. -С.21-23.

129. Сафронова Л.А., Смирнов В.В., Плотников B.C., Шмакова Е.Э., Василенко Ю.В. К вопросу о формировании естественного микрорельефа аморфной ленты Fe-Ni-Si-B // ФММ. 1990. С. 107-113.

130. Сафронова Л.А., Плотников B.C., Василенко Ю.В. Способ исследования микроструктуры образца. Авторское свидетельство № 4639518, 1990.

131. Свергун Д.И., Фейгин Л.А. Рентгеновское и нейтронное малоугловое рассеяние.- М./ Наука.-1986. -280 с.

132. Скаков Ю.А., Крапошин B.C. Затвердевание в условиях сверхбыстрого охлаждения и фазывае превращения //Итоги науки и техники ВИНИТИ АН СССР. Металловедение и термическая обработка металлов.-1980. т. 13. С.3-78.

133. Скотт М. Термическая стабильность и кристаллизация металлических стекол. В кн.: Быстрозакаленные металлы. М.:Металлургия, 1983, С.106-117.

134. Сороко Л.М. Гильберт-оптика. М.: Сов. радио, 1981. 158 с.

135. Сороко Л.М. Основы голографии и когерентной оптики. М.: Сов. радио, 1974.-453 с.

136. Спенс Дж. Экспериментальная электронная микроскопия высокогоразрешения. М.:Наука,1986. 320 с.

137. Старк Г. Теория и измерение оптических фурье-спектров. В кн.: Применение методов фурье-оптики. М.: Радио и связь, 1988. - С. 14 - 49.

138. Скрипов В.П., Коверда В.П. Спонтанная кристаллизация переохлажденных жидкостей. Зарождение кристаллов в жидкостях и аморфных твердых телах. М.: Наука. 1984. с. 141-156.

139. Тимакова Г.П., Грудинин С.В., Бочкарев В.Ф., Осуховский В.Э., Плотников B.C. и др. Микроструктура аморфных Fe80-Gd20 пленок // В сб.: Физика магнитных пленок. Вып. №13. Иркутск. 1979. -С.31-34.

140. Тимакова Г.П., Плотников B.C., Дитина 3.3. и др. Роль поровой и кластерной компонент в замедлении старения ультрадисперсных и аморфных сред // Материалы II Всесоюзного семинара по аморфному магнетизму. 1980 Красноярск. -С.24-25.

141. Томас Г., Горинд М. Дж. Просвечивающая электронная микроскопия материалов. М.:Наука. 1983. 318 с.

142. Ульман Д.Р., Хоппер Р.У. Релаксация в стеклах. В кн.: Металлические стекла. М.:Металлургия. 1984.- С.106-128.

143. Хандрих К., Кобе С. Аморфные ферро- и ферримагнетики. М.:Мир. 1982.294с.

144. Хеймендаль М., Мауснер Г. Электронно-микроскопическое исследование кинетики кристаллизации в сплаве РезгМзбСгнР^Вб METGLAS 2826А. В. кн.: Быстрозакаленные металлы. М.:Металлургия. 1983. - С. 222-226.

145. Хирш П., Хови А., Николсон Р., Пэшли Д., Уэлан М. Электронная микроскопия тонких кристаллов. М.: Мир. 1968. - 574 с.

146. Шимель Г. Методика электронной микроскопии. М.: Мир. 1972.300 с.

147. Эгами Т. Атомный ближний порядок в аморфных металлических сплавах. В кн.: Аморфные металлические сплавы. М.: Металлургия. 1987. С. 92-106.

148. Юдин В.В., Тимакова Г.П., Плотников B.C. и др. Обобщенный спектральный анализ в ультрадисперсных и аморфных средах // В сб.: Материалы VII Всесоюзной школы-семинара «Новые магнитные материалы для микроэлектроники». Ашхабад. 1980.- С.194-195.

149. Юдин В.В., Чухрий Н.И., Плотников B.C. Морфологическая динамика и топологический механизм распада аморфного состояния РЗ-ПМ, ПМ-М. // Материалы II Всесоюзной конференции по физике и технологии тонких пленок, Ивано-Франковск. 1984. С.250.

150. Юдина Л.А., Плотников B.C. и др. Особенности старения ультрадисперсных и аморфных сред // В сб.: Магнитные свойства кристаллических и аморфных материалов. 1983. Иркутск. С.3-4.

151. Юдин В.В., Алексеев А.Г., Верховская Т.А., Плотников B.C. и др. Исследование изменений структуры высокодисперсных пленок методом лазерной дифрактометрии. // Поверхность. Физика, химия, механика. 1984. №8. С.97-103.

152. Юдин В.В., Чухрий Н.И., Коварский Н.Я., Плотников B.C., Фищенко В.К. Структурно-морфологическая динамика планарных сред в процессах деструкции, аморфизации // Сб. тез. IV Всесоюзного семинара по аморфному магнетизму. Красноярск. 1986.- С.45.

153. Юдин В.В., Алексеев А.Г., Верховская Т.А., Плотников B.C., Матохин А.В., Юдина Л.А. Исследование изменений структуры высокодисперсных пленок методом лазерной дифрактометрии // Поверхность. Физика, химия, механика. 1984. № 8.-С. 97-103.

154. Юдин В.В., Матохин А.В., Плотников B.C., Должиков С.В., Юдина Л.А. Динамика анизотропии структурных суперсеток в пленках Со-Р, Co-Ni-P при распаде аморфного состояния // Поверхность. Физика, химия, механика, 1985, т. 12. С.54-60.

155. Юдин В.В. Стохастическая магнитная структура пленок с микропоровой системой. М.: Наука, 1987.-214 с.

156. Яновский К.А. Оптические информационно-измерительные системы для промышленной микроскопии. // М., ОНТИТЭИ микробиопром, 1978. 62 с.

157. Adams D.J., Matheson A.J. Computation od dense random packing of hard spheres // J.Chem.Phys., 1972, v.56, N5. P.1989-1994.

158. Agam G., Dinstein I. Regulated morphological operations // Pattern Recognition 1999. v.32. P. 947-971.

159. Al-Haj M., Barry J., Olofinjana A. Nanocrystallization of FegvsZ^BssAlj amorphous alloy // J.of Mat.Sci.Lett. 1997. v. 16. P. 451-452.

160. Ascenico J.A., Gutierrez-Wing C., Espinosa M.E., Marin M., Tehuacanero A., Zorrilla C., Jose-Yacaman M. Structure determination of small paticles by HREM imaging: theory and experiment// Surf.Sci. 1998. v.396. P. 349-368.

161. Asoka-Kumar P., Hartley J., Howell R., Sterne P. A., Nieh T.G. Chemical ordering around open-volume regions in bulk metallic glass Zr52 5Ti5Al1oCu17 9Nii4 6 // Applied Physics Letters 2000. v.77(13). P. 1973-1975.

162. Azez K.A., Ray A.K. Phonon dispersion in metallic glasses// J.of Mat.Sci.:Materials in electronics 1997. N 8. P.7-8

163. Bai H.Y., Luo J.L., Chen Z.J., Wang W.H. Low temperature specific heat of bulk glassy and crystalline Zr4iTii4Cui2 5NiioBe22 5 alloys // Applied Physics Letters 2001. v.78(18). P. 2697-2699.

164. Barna А., Ваша P.B., Radnoczi G., Sugawara H., Thomas P. Computer simulation of he post-nucleation growth of thin amorphous germanium films // Thin Solid Films, 1978. v. 48. N. 2. P. 163-174.

165. Barna A., Nagy J., Radnoczi Gy., Thomas P., Toth L. Investigation of the structure of amorphous thin films prepared by different methods // Amorphous semicon. '76 Proc.Int.Conf. Balaton-fiired/ Budapests. 1977. P. 449-454.

166. Barker J.A., Hoare M.R, Finney J.L. Relaxation of the Bernal model// Nture 1975. v.257. N 5522. P. 120-122.

167. Barquin L.F., Gorria P., Barandiaran J.M., Sal J.C.G., Carvajal J.R. In situ study of the crystallization process and magnetism in some FeNbSiBCu amorphous alloys // Physica В 1997. v.234-236. P. 418-420.

168. Bennet C.H. Serially deposited amorphous aggregates of hard spheres // J.Appl.Phys. 1972. v. 43. N.6. P. 2727-2734.

169. Bernal J.D. //Nature. 1959. v.183. P. 141.

170. Betancourt I., Jimenez M., Aburto S., Marquina V., Gomez R., Marquina M.L., Ridaura R., Miki M., Valenzuela R. Nanocrystallization studies in Co-rich amorphous alloy // J.of Magn. and Magn.Mat. 1995. v. 140-144. P. 459-460.

171. Billinge S.J.L., Egami T. Short-range atomic structure of Nd2-xCexCu04-y determined by real-space refinement of neutron-powder-diffraction data // Phys. Rev. B. 1993. V.47. P. 14386.

172. Bursill L.A., Mallinson L.G., Elliott S.R., Thomas J.M. Computer simulation and interpretation of electron microscopic images of amorphous structures//.!.Phys.Chem.1981. v. 85. N. 20. P.3004-3006.

173. Cargill G.S. Ill Structure of metallic aaloy glasses// Solid state phys. Adv.pes. and Appl.- New York, San-Francisco, London. 1975. v. 30. P.227-320.

174. Cesari C., Charai A. and Nihoul C. Can nano-crystallites of germanium be structure-imaged // Ultramicroscopy 1985. v. 18. P. 291-296.

175. Chen C.H. Direct observations of columnar structure in glassy GeSe2 // J.of Non-Cryst.Sol. 1981. v. 44. N. 2-3. P. 391-395.

176. Chen Tu., Charlan G.B., Yamashita T. A comparison of the uniaxial anisotropy in sputtered Co-Re and Co-Cr perpendicular recording media // J.Appl.Phys. 1983. v. 54. -P.5103-5 111.

177. Ching W.Y., Xu Y.-N. Electronic structure and Fe moment distribution in a-Fel-xBx glass by first-principles calculations // Journal of Applied Physics 1991. v. 70(10). P. 6305-6307.

178. Chiriac H., Lupu N. Bulk amorphous (Fe, Co, Ni)7o(Zr, Nb, М)юВ2о (M=Ti, Та or Mo) soft magnetic alloys // J. of Magn. and Mag. Materials 2000. v. 215-216. P. 394-396.

179. Coco G., Enro S., Antonione C., Lucci A., Marino F. A SAXS study of the crystallization behavior of the Pd72B28 glassy alloy // J.Non-Cryst.Sol. 1984. v. 68. N2-3. -P. 237-244.

180. Cowley J.M. and David J.Smith The present and future of high-resolution electron microscopy// Acta Cryst. 1987. A43. P. 737-751.

181. Csach K„ Filippov Yu.A., Khonik V.A., Kulbaka V.A., Ocelik V. Non-isotermal strain recovery as a result of irreverdible structural relaxation of metallic glasses // Phil.Mag.A, 2001. v.81. N.8. P. 1901-1915.

182. David G., Roth S., Eckert J., Schultz L. Effect of annealing in hydrogen on composition, structure and magnetic properties of rapidly quenched Fe-Co-S-TM-B ribbons• // J. of Magn. and Mag. Materials 2000,v. 215-216, P. 434-436.

183. Davies H.A. Metallic glass formation In: Amorphous Metallic Alloys, London. 1983. -P.8-25.

184. Donovan Т., Heinemann К. High-resonance electron spectroscope observation of voids in amorphous Ge // Phys.Ref.Lett. 1971. v. 277. N. 26. P.1794.

185. Donten M. Bulk and surface composition, amorphous structure, and thermocrystallization of electrodeposited alloys of tungsten with iron, nickel, and cobalt // J. Solid State Electrochem. 1999. v. 3. P. 87-96.

186. Egami T. Atomic mechanism of bulk metallic glass formation // J.of Non-Cryst.Sol. 2003. v. 317. P. 30-33.

187. Egami T. Determining medium range order be powder diffraction // J. Phys. Chem. Solids 1995. v.56. N 10. P. 1407-1413.

188. Egami T. Structural relaxation and magnetism in amorphous alloys // J. of Magn. and Mag. Mat. 1983. v. 31-34. P.1571-1574.

189. Egami T. The atomic structure of aluminum based metallic glasses and universal criterion for glass formation // J.of Non-Cryst.Sol. 1996. v. 205-207. P.575-585.

190. Egami Т., Jagielinski T. Kinetics of the reversible relaxation phenomena in metallic glasses// Proc.Fifth Int.Conf.RQM, Elsevier Sci.Publ. 1985. v.l. P. 667-670.

191. Egami Т., Srolovitz D. Local structural fluctuations in amorphous and liquid metals: a simple theory of the glass transition // J. Phys. F: Met. Phys. 1982. v.12. P.2141-2163.

192. Elliott S.R. Medium-range structural order in covalent amorphous solids // Nature 1991. v.354. P.445-452.

193. Faller R., Juan J. P. Density of states of a binary Lennarcl-Jones glass // The Journal of Chemical Physics 2003. v. 119(8). P. 4405-4408.

194. Fan G.J., Quan M.X., Hu Z.Q. Induced magnetic anisotropy in Fe80B20 metallic glass by mechanical milling//Appl.phys.lett. 1996. v.68, N8. P. 1159-1161.

195. Fan G.J., Quan M.X., Hu Z.Q. Mechanically induced structural relacsation in an amorphous metallic Fe80B20 alloy //Appl.phys.lett. 1996. v.68, N3,. P.319-321.

196. Fan G.Y. and Cowley J.M. Assessing the information content of HRTEM images // Ultramicroscopy 1988. v.24. P. 49-60.

197. Fan G.Y. and Cowley J.M. Auto-correlation analysis of high resolution electron micrographs of near-amorphous thin films // Ultramicroscopy 1985. v. 17. P.345-356.

198. Fan G.Y. and Cowley J.M. Structure determination by angle correlation technics// Ultramicroscopy 1987. v.21. P.125-140.

199. Finney J.L. Amorphous polymorphism: Structural variability and characterization in amorphous systems // Diffraction studies on non-crystalline substances, 1981.- P.439-490.

200. Finney J.L. Modeling the atomic structure. // Amorphous metallic alloys. Ed.Luborsky F.E. London. 1983.- P.42-57.

201. Finney J.L. Modeling the structure of amorphous metals and alloys// Nature 1977. v.266. N. 5600. P.309-314.

202. Finney J.L. Random packing and structure of simple liquids. I. The geometry of random close packing. II. The molecular geometry of simple liquids // Proc.Roy.Soc. London, 1970, v. A319. N1539. P. 479-507.

203. Freeman L.A., Howie A., Mistry A.B. Comparision of holowcone and axial bright field electron microscope imaging techniques // J.of Micr. 1980, v.61. P. 3-18.

204. Gaskell P.H. High resolution imaging of amorphous materials// Electron Beam Imag. Non-Cryst. Mater.:Proc. One-Day Meet. Electron. Microsc. and Anal. Group Inst. Phys., London. 3 Febr.,.1988. P.47-58.

205. Gaskell P.H. Medium range order and random networks // J.of Non-Cryst.Sol. 2001. v. 293-295.- P. 146-152.

206. Gaskell P.H. Structure and properties of glass how far do we need to go? // J.of Non-Cryst. Sol. 1997. v. 222. - P.l-12.

207. Gaskell P.H., Smith D.J., Catto C.J.D., Cleaver J.R.A. Direct observation of the structure of a metallic alloy glass// Nature 1979. v.281. N. 5731. P.465-467.

208. Gavrin A., Unguris J. SEMPA imaging of domain dynamics in amorphous metals // J.ofMagn. and Magn.Mat. 2000. v.213. P.95-100.

209. Geyer U., Holsen U., Thiyagarajan P. Surface roughening and columnar growth of thin amorphous CuTi films // Applied Physics Letters 1997. v. 70(13). P.1691-1693.

210. Grudin В., Plotnicov V., Fischenko V. Laboratory simulator for investigation sea water mixing // IV Int. Conf. on Opticalmethods in biomedical and environmental Sciences. Tokio. Japan. 1994. P.341-344.

211. Grudin В., Plotnikov V., Fiscenko V.Investigation of thermohaliote microstructure by modeling ion the laboratory // International Symposium "North Pasific". Vladivostok, 1994. P. 18-19.

212. Grudin B. N., Plotnikov V. S., Fiscenko V. K. Modeling of processes offormation of the images in optical-electronic systems // Proceedings SPIE. 2001. Vol. 4513.-P. 117-126.

213. Gleiter H. // Nanostruct.Mater. 1995, v.6. P.3.

214. Gleiter H. Nanostructured materials: basic concepts and microstructure // Acta Mater. 2000. v. 48.- P. 1-29.

215. Gorria P., Prida V.M., Tejedor M., Hernando В., Sanches M.L. Correlation between structure, Magnetic properties and MI effect during the nanocrystallisation process of FINEMET type alloys // Physica В 2001. v.299. P.2 15-224.

216. Hayes T.M. Interatomic correlation in amorphous metals // Struct.Non-Cryst.Mater., 1982, Proc.2-nd Int.Conf., Cambridge, 12-15 July. 1982. London, New York, 1982.- P.3-17.

217. Herd S.R. and Chaudhari P. On the question of microcrystallites in some amorphous materials. An electron microscope investigation// Phys.Stat.Sol.(a) 1974. v.26. -P.627-642.

218. Hirotsu Y. and Akada R. High-resolution electron microscopic observation of microcrystalline domains in an amorphous Fe84B16 alloy // Japanese J. of Appl. Phys.1984, v.23, No.7. P. L479-L481.

219. Hirotsu Y., Anazawa K. and Nagakura S. Structure of sputter- deposited amorphous Pd-Si alloy studied by high resolution electron microscopy// Proc.of the Xllth Int.Cong. of Electron Microscopy 1990.- P. 126-127.

220. Hoffman H., Owen A.J., Schropf F. Electron microscopy of evaporated and sputtered Gd/Co and Ho/Co films // Phys.Stat.Sol., 1979, v.52a. N1. P. 161-174.

221. Hono K. Atom probe microanalysis and nanoscale microstructures in metallic glasses // Acta Mater. 1999, V.47, N11.- P. 3127-3145.

222. Howie A., Krivanek O.L., Rudee M.L. Interpretation of electron micrographs and diffraction patterns of amorphous material / /Phil.Mag. 1973.v.27, N.l. P. 235-255.

223. Hrach R., Novotny D., Novak S., Pavlik J. Morphological analysis of continuous metal films // Vacuum, 2000. v. 57. P.259-265.

224. Ichikawa T. The assembly of hard spheres as a structure model of amorphous iron// Phys.Stat.Sol. 1975, v.29a, N1. P. 293-302.

225. Ichinose H. and Ishida Y. High resolution observation of amorphous materials //Proc. 10th Cong.of Electron Microscopy Aug. 17-24 1982. v.2. P. 77-78.

226. Inoue A. Stabilization of metallic supercooled liquid and bulk amorphous alloys // Acta Mater. 2000. v.48. P.279-306.

227. Inoue A., Wang X.M. Bulk amorphous FC20 (Fe-C-Si) alloys with small amounts of b and their crystallized structure and mechanical properties // Acta Mater. 2000. v.48. P. 1383-1395.

228. Ishida Y., Ichinose H. High resolution elecrtron microscopy of amorphous alloys //J.Electron Microsc. 1985. v.34. N4. P.266-276.

229. Ishida Y., Nade M., Yamanaka S. Influence of 02 and N2 addition on the perpendicular magnetic anisotropy of Gd-Co films //J.Appl.Phys. 1982. v.53. P.2344-2346.

230. Jones G.R., Jackson M., O'Grady K. Determination of size distribution in thin films //J.ofMagn. and Magn.Mat. 1999, v.193. P. 75-78.

231. Jurado R.M., Gonzalez J.A., Riveiro J.M. Magnetic properties of ColOO-xPx alloys // J. of Magn. and Mag. Materials 1999. v.196-197. P. 246-247.

232. Kanaya K., Takamiya K., Shino M. and Shinohara C. A digital processing method for structural analysis of atom clusters from high resolution electron micrographs// Micron and Microscopica Acta 1983. v,14,No.2. P.119-134.

233. Kim С. K., Kyung H., Yoon C.S. Non-equilibrium crystallization diagram for the Co75.26 xFe4.74(BSi)20+x amorphous metal alloys // J. of Mat. Sci. 2001. v.36.-P.4611 -4616.

234. Kobayashi S., Takeuchi S. Molecular dinamics study of structural relaxation of an amorphous alloy// Proc.Fourth Int.Conf.RQM, Japan Inst.Metals, Sendai, 1982. v. 2. -P.505-509.

235. Kopcewicz M., Grabias A., Kopcewicz B. Short-range order in amorphous FeZrB(Cu) alloys investigated by the RF-Mossbauer technique // J. of Magn. and Mag. Materials 1998, v.177-181. P. 73-75.

236. Kopcewicz M., Idzikowski В., Kalinowska J. Mossbauer study of the magnetism and structure of amorphous and nanocrystalline Fe81-xNixZr7B12 (x = 10-40) alloys // J. of Appl.Phys. 2003, v.94(l). P. 638-649.

237. Koster U. Micromechanisms of crystallization in metallic glasses // Z.Metall. 1984. v. 75, N9. P.691-697.

238. Kravets V.G., Petford-Long A.K., Portier X., Poperenko L.V., Kolesnik M. The optical and magneto-optical properties and magnetoresistance of amorphous CoFeNiSiB alloys // J.ofMagn. and Magn.Mat. 2000, v.217. P. 129-138.

239. Lachowicz H.K., Zuberek R., Kuzminski M., Slawska-Waniewska A. Magnetic hardening in gradually devitrified Co-based glassy alloys // J. of Magn. and Mag. Materials 1999, v.196-197,P. 151-153

240. Lamparter P., Steeb S., Kroeger D.M., Spooner S.Neutron and X-ray small-angle scattering with Fe-based metallic glasses / / Mat. Sci. and Eng. 1988. v. 97. P.227-230.

241. Leamy H.J., Dirks A.G. The microstructure of amorphous rare-earth-transition metal thin films // J.Phys.D: Appl.Phys. 1977. v.lO.,N.8. L95-L98.

242. Leamy H.J., Gilmer G.H., Dirks A.G. The microstructure of vapor deposited thin films // Curr.Top.Mater.Sci. v.6. P.309-334.

243. Lee S.R., Miller A.E. Crystallization behavior of evaporated Gd-Fe films // J.Appl.Phys. 1984,v.55, N10. P.3465-3470.

244. Lewis L.H., Nilsen В., Friessnegg Т., Ghosh V.J., Kramer M.J., McCallum R.W., Dennis K. Nanostructural aspects, free volume and phase constitution of rapidly solidified Nd-Fe-B // J.of Non-Cryst.Sol. 2003, v.315. P. 256-270.

245. Li Y., Ding, J. Ng S.C., Wang X.Z. Unusual magnetization anisotropy in amorphous Nd-Fe-Al ribbons// J of Magn. and Mag. Materials 1998, v. 187. P. L273-L277.

246. Lloyd J.R., Nakahara S. Formation and growth of voids and/or gas bubbles in thin films // Thin Solid Films, 1982, v.93, N.3-4. P.281-286.

247. Louzguine D.V., Inoue A. Formation of nanoquasicrystalline phase in Zr-Cu-Ti-Ni metallic glass //Appl.phys.lett. 2001, v.78, N13. P.1841-1843.

248. Louzguine D.V., Ко M.S., Inoue A. Nanoquasicrystalline phase produced by devitrification of Hf-Pd-Ni-Al metallic glass // Appl.phys.lett. 2000, v.76, N23. P.3424-3426.

249. Lu K., Wang J.T. Crystal growth during crystallization of amorphous alloys // J.of Cryst.Growth 1989, v.94. P. 448-454.

250. Marin P., Hernando A. Application of amorphous and nanocrystalline magnetic materials // J.of Magn. and Magn.Mat., 2000, v.215-216. P.729-734.

251. Marquina V., Gomez R., Jimenez J., Ridaura R., Marquina M.L., Escamilla R., Miki M. Tehmperature evolution of the internal magnetic hypefine field of Metgals: amorphous and crystallized phases // J.of Magn. and Magn.Mat. 2000, v.221. P.327-337.

252. Martin J.D., Goettler S.J., Fosse N., Iton L. Designing intermediate-range order in amorphous materials // Nature 2002, v.419. P.381-384.

253. Nakhodkin N.G., Bardamid A.F., Novoselskaya A.I. Effects of the angle of deposition on short range order in amorphous germanium // Thin Solid Films, 1984, v. 112, N.3. P. 267-277.

254. Nakhodkin N.G., Shaldervan A.I.// Thin Solid Films, 1972, v. 10. P. 109 (51)

255. Ohkoshi Masatoshi, Kusuda Tetsro Magnetic domain structures in Co-Cr films studied by Lorentz microscopy //Jap.Appl.Phys. 1983, Pt.2, v.22, N3. P. 130-132.

256. Ohnuma M., Hono К., Yanai Т., Fukunaga H., Yoshizawa Y. Direct evidence for structural origin of stress-induced magnetic anisotropy in Fe-Si-B-Nb-Cunanocrystalline alloys // Appl. Phys. Lett. 2003, v.83 (14). P. 2859-2861.

257. Okamoto K. Columnar grain structure of iron films evaporated at oblique incidence // J.Sci.Hirosima Univ., 1976, v.A40, N.2. P. 251-284.

258. Okamoto Т., Fukushima Y. EXAFS study of electrodeposited Ni-P binary alloys//J.ofNon-Cryst.Solids. 1984. v. 61&62. P.379-384.

259. Pakula Т., Cervinka L. Modeling of medium-range order in glasses // J.of Non-Cryst.Sol. 1998, v.232-234. P. 619-626.

260. Proffen Th., Petkov V., Billinge S.J.L., Vogt T. Chemical short range order obtained from the atomic pair distribution function // Z. Kristallogr. 2002, v.217. P. 47-50.

261. Pustovalov E.V., Zakharov N.D., Plotnikov V.S. Local atomic ordering inamorphous Fe-based alloys// Phys.stat.sol.(a)1993. v.135. P. K1-K4.

262. Revesz A., Donnadieu P., Simon J.P., Guiot P., Ochin P. Nanocystallization in Zr57Ti5Cu20A110Ni8 bulk metallic glass // Phil.Mag.Lett. 2001, v.81, N11. P. 767-775.

263. Pustovalov E.V., Zakharov N.D., Plotnikov V.S. Local atomic ordering in amorphous metllic alloys// Proc. of the 10th European Congr. on Kirctron Microscopy. Granada (Spain) 7-11 Sept. 1992. P. 350-351.

264. Roy A.G., Laughlin D.E. Seed-layer effect on the microstructure and magnetic properties of Co/Pd multilayers // J. of Appl.Phys. 2001, v. 89(11). P. 7531-7533.

265. Rudee M.L. and Howie A. The structure of amorphous Si and Ge//Phil.Mag. 1972, v.25, N.4. P.1001-1007.

266. Rudee M.L. The observation of odered domains in amorphous Ge by dark-field electron microscopy // Phys.stat.sol.(b) 1971,v.46. P.K1.

267. Rzepski J., Quivy A., Calvayrac Y., Bigot J., Chevalier J.P. Retained ?-Fe in nominality amorphous ferrous soft magnetic glasses// J.of Non-Cryst.Solids, 1984, v.63. P. 419-423.

268. Sadoc J.F., Diximier J., Guinier A. Theoretical calculation of dense random packing of equal and non-equal sized hard spheres// J.of Non-Cryst.Sol. 1973, v. 12, N.l. -P*46-60.

269. Saida J., Matsushita M., Zhang Т., Inoue A., Chen M.W., Sakurai T. Precepitation of icosahedral phase from a supercooled liquid region in

270. Zr65Cu7.5A17.5Nil0Agl0 metallic glass // Appl.phys.lett. 1999, v.75, N22. P.3497-3499.

271. Sedova M.V., Dyachkov A.L., Furmanova T.A., Perov N.S. Pos-processing and processing treatment and their affect on structure and properties Finemet films //J.of Non-Cryst.Sol. 2001, v.287. P. 104-109.

272. Shen Y.G., Mai Y.W. Structural studies of amorphous and crystallized tungsten nitride thin films by EFED, XRD and ТЕМ // Appl. Surface Sci. 2000, v. 167. P. 59-68.

273. Shieh P.C. and Howe J.M. Investigation of the atomic structure of crystal/amorphous interfaces in Pd80Si20 alloy by HRTEM and image simulations// Proc.of the Xllth Int.Cong. for Electron Microscopy 1990. P.l 14-115.

274. Skorvanek I., Duhaj P., Grossinger R. Low-temperature magnetic behaviour in amorphous and nanocrystalline Fe-Nb-B alloys // J. of Magn. and Mag. Mat. 2000. v.215-216.-P. 431-433.

275. Smith D.J.,Saxton .0.,Cleaver J.R.A., Catto C.J.D. The observation of amorphous material at high voltage and high resolution// J.of Micr. 1980, v.61. P. 19-28.

276. Solyom A., Petrovic P., Marko P., Kovac J., Konczos G. Study of Fe-Zr-U-B and Fe-Zr-U-Cu-B nanocrystalline alloys // J. of Magn. and Mag. Materials 2000, v.215-216.-P. 482-483.

277. Sorescu M. Magnetic properties of metallic glasses using the laser-Mossbauer method // J. of Magn. and Mag. Materials 2000, v.218. P. 211-220.

278. Sonnberger R., Bestgen H., Dietz G // Microstructure of amorphous Co-P and Ni-P investigated with and SAXS. //Z. Physic B. 1984. v.56, №4. P.289-295.

279. Stobbs W.M.,Smith D.J. Observation on the structure of amorphous arsenic by high resolution electron microscopy // J.of Micr.-1980, v.61. P.29-37.

280. Sun X., Cabral-Prieto A., Yacaman M.J., Reyes-Gasga J., Hernandez-Reyes R., Morales A., Sun W. Nanocrystallization behavior and magnetic properties of amorphous Fe78Si9B13 ribbons // Physica B, 2000, v.291. P. 173-179.

281. Suran G., Naili M., Nieboda H., Machizaud F., Acher O., Pain D. Magnetic and structural properties of Co-rich CoFeZr amorphous thin films // J.of Magn. and Magn.Mat. 1999(6ыло 1992), v. 192. P. 443-457.

282. Suzuki T. Magnetic properties and microstructure in Ho-Co alloy thin films fabricated by sputtered technique // J.of Magn. and Magn.Mat. , 1983, v.35. N.l-3. P .232-234.

283. Takahashi Y., Hayashi K., Matsubara E., Shima Т., Takanashi K., Mori Т., Tanaka M. A new technique for study of local atomic environment in artificially grown magnetic thin film // Scripta Materialia 2003, v.48. P. 975-979.

284. TakenoY., Iwana Y. Structure and magnetic properties of iron films deposited at oblique incidence // J.of Magn. and Magn.Mat., 1983, v.35., N.l-3. P. 294-295.

285. Tarumi R., Takashima K., Higo Y. Crystallographic features of oriented nanocrystals induced by focused-ion-beam irradiation of an amorphous alloy // J. of Appl.Phys. 2003, v. 94(9). -P. 6108-6115.

286. Varga R., Vojtanik P. Temperature dependence of the magnetic properties of amorphous Fe80-xCrxSi6B14 (x = 0-14) alloys // J. of Magn. and Mag. Materials 1999, v.196-197.-P. 230-232.

287. Wade R.H., Silox J. Columnar structure of thin films // Electron Microscopy, 1966, Tokyo, Maruzen Co., 1966. P.619-620.

288. Wade R.H., Silox J. Small angle electron scattering from vacuum condensed metallic films. I. Theory. II. Experiment results // Phys. Status Sol., 1967, v.19, N.l. -P.57-76.

289. Walter J.L., Legrand J.G., Luborsky F.E. Small angle X-ray scattering from the amorphous alloy Fe40Ni40P14B6//Mat.Sci.and Eng. 1977, v.29. P.161-167.

290. Wanderka N., Macht M.-P., Seidel M., Mechler S., Stahl K., Jiang J.Z. Formation of quasicrystalls in Zr46.8Ti8.2Cu7.5Nil0Be27.5 bulk glass // Appl.phys.lett. 2000, v.77, N 24. P. 3935-3937.

291. Wang D.N., Hovmoller S., Kihlborg L., Sunberg M. Structure determination and correction for distortions in HREM by crystallographic image proccessing// Ultramicroscopy 1988, v.25. P.303-316.

292. Wang L., Ding J., Li Y., Feng Y.P., Wang X.Z., Phuc N.X., Dan N.H. A magnetic and Mossbauer study of melt-spun Nd60Fe30A110 // J. of Magn. and Mag. Materials 2001, v.224. P. 143-152.

293. Wang W.-H., Bai H.Y. Role of small atoms in the formation and properties of Zr-Ti-Cu-Ni-Be bulk amorphous alloys // Journal of Applied Physics 1998, v. 84(11). -P. 5961-5968.

294. Xu Y.B., Greig D., Seddon E.A., Matthew J.A.D. Element specific spin-resolved densities of states in amorphous Fe75B25 probed with a synchrotron radiation source // Journal of Applied Physics 2000, v. 87(9). P. 7136-7138.

295. Yang J., Cai Q., Dong S., Li H., Deng J.-F. Morphology characteristic of surface crystallization on amorphous Ni88P12 film//Appl.Surf.Sci. 1999, v.147. P. 33-38.

296. Zhao X.B. Measurement and calculation of three-dimensional grain sizes and size distribution functions // Microsc.Microanal. 1998, v.4/ Р.420-427/

297. Zimmermann Т., Zweck J., Hoffmann H. Quantification of Lorentz microscopy images of Co/Cu multilayer systems // J. of Magn. and Mag. Materials 1995, v. 148. -P. 239-240.

298. Zou W., Wadley H.N.G., Zhou X.W., Johnson R.A., Brownell D. Surfactant-mediated grouth of gaint magnetoresistance multilayers // Phys.Rev.B 2001, v.64. -P.174418 (10).

Обратите внимание, представленные выше научные тексты размещены для ознакомления и получены посредством распознавания оригинальных текстов диссертаций (OCR). В связи с чем, в них могут содержаться ошибки, связанные с несовершенством алгоритмов распознавания. В PDF файлах диссертаций и авторефератов, которые мы доставляем, подобных ошибок нет.