Контроль технологических параметров композитов устройствами на основе диэлектрических волноводов тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 05.11.13, кандидат технических наук Ахметшина, Людмила Георгиевна

• Ахметшина, Людмила Георгиевна
• кандидат технических наук
• 1984

Оглавление диссертации кандидат технических наук Ахметшина, Людмила Георгиевна

Введение.стр.

1. Анализ современного состояния контроля технологических II параметров изделий из ПКМ.

1.1 Сравнительный анализ эффективности методов контроля технологических параметров материалов.II

1.2 Анализ технических средств радиоволнового контроля

1.3 Постановка задачи исследования.

2. Теоретические основы взаимодействия электромагнитных волн, возбуждаемых в диэлектрическом волноводе с контролируемой средой.

2.1 Методы расчета . фазовой постоянной в направляющих диэлектрических структурах.

2.2 Фазовый коэффициент распространения волн в диэлектрическом волноводе и диэлектрическая проницаемость объекта.

3 Амплитуда электромагнитных волн в диэлектрическом волноводе как характеристика технологических параметров объектов.

2.4 Влияние технологических параметров на частотные свойства датчиков.

Взводы.

3. Оптимизация параметров датчиков на основе ДВ и их адаптация к условиям работы.

3.1 Критерии качества датчиков и условия оптимизации

3.2 Оптимизация математического описания моделей датчиков

3.3 Точность оценок контролируемых параметров

3.4 Основные характеристики метода визуализации электромагнитных полей СВЧ диапазона с помощью термотропных жидких кристаллов.

3.5 Визуализация электромагнитных полей в открытых направляющих системах

Шводы.

4. Экспериментальное исследование волноводных датчиков

4.1 Экспериментальное определение основных характеристик волноводных датчиков . Юб

4.2 Диэлектрический волновод как датчик для оценки состояния связующего

4.3 Использование поляризации электромагнитных волн диэлектрического волновода

4.4 Экспериментальное исследование датчиков с частотно-зависимыми свойствами.

5. Практическое применение волноводных датчиков и устройств на их основе для неразрушающего контроля технологических параметров ПКМ.

5.1 Техническая реализация устройства для контроля диэлектрической проницаемости

5.2 Дополнительные возможности использования полученных результатов.

5.2.1 Прогнозирование разрушения объекта по данным многопа-раметрового контроля

5.2.2 Контроль технологических параметров ПКМ по результатам визуализации электромагнитного поля . 17Й*

Шводы.

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Контроль технологических параметров композитов устройствами на основе диэлектрических волноводов»

Актуальность проблемы. Решениями ХХУ1 съезда КПСС повышение качества и надежности промышленной продукции отнесено к числу наиболее важных задач. Значительная роль в ее решении должна быть отведена физическим неразрушающим методам контроля (НМК). В соответствии с межвузовской комплексной целевой программой по развитию методов неразрушающего контроля, на кафедре ЭВМ Днепропетровского госуниверситета проводятся плановые научно исследовательские работы по развитию и внедрению методов и и приборов неразрушающего контроля материалов, используемых в ряде областей новой техники.

Одно из наиболее перспективных направлений в разработке методов и средств неразрушающего контроля связано с микроволновым диапазоном. Шзванное потребностями производства широкое внедрение композиционных материалов ( классифицируемых во многих случаях как случайно-неоднородные и плохо приспособленных, в силу их физических свойств и технологических особенностей, для контроля такими методами как ультразвуковой, тепловой, рентгеновский), значительно повысило роль НМК радиоволнового диапазона,Большая часть этих методов основана на использовании прошедших через объект контроля или отраженных от него, т. е. взаимодействующих с объектом и, следовательно, несущих информацию о его свойствах электромагнитных волн,распространяющихся в свободном пространстве. Однако, следует отметить, что имеющееся практическое применение НМК радиоволнового диапазона ограничено малой "управляемостью". Получаемые характеристики являются интегральными по ;всему объему исследуемого объекта. Поэтому возникают значительные трудности при необходимости ограничения области контроля только, например, приповерхностными слоями, что важно как для целей дефектометрии, так и для определения диэлектрических свойств первого слоя в задаче послойной толщинометрии, например, двухслойных объектов, или при отстройке от влияния толщины стенок изделия при контроле электрофизических параметров в однослойных конструкциях.

Определенные перспективы в повышении " управляемости " радиоволновых методов в настоящее время связывают с разработкой и внедрением в технику неразрушающего контроля датчиков, использующих поверхностные электромагнитные волны /9/, однако, как показывает анализ опубликованных работ, этот вопрос исследован недостаточно.

Цель работы формулируется следующим образом: теоретически и экспериментально исследовать информационные возможности применения датчиков на основе диэлектрических волноводов для контроля технологических параметров полимерных композиционных материалов ( ПКМ ), разработать методику их применения и возможные варианты конструкций СВЧ приборов на их основе.

Научная новизна работы заключается в следующем:- теоретически обоснована возможность применения датчиков на основе диэлектрических волноводов для неразрушающего контроля параметров ПКМ, исследованы их информационные возможности;- теоретически и экспериментально установлены основные характеристики предлагаемых для НМК измерительных элементов и параметры контролируемых материалов ( чувствительность, разре-щая способность, величина краевого эффекта, характерные размеры контролируемой зоны, эффективная глубина контроля), связь измеряемая величина - параметры устройства системы контроля, установлена эффективность его применения при описании вход -выход волноводных и резонансных систем, применяемых для НМК; определена точность оценок контролируемых параметров по полученньш функциональным связям;- теоретически и экспериментально обоснована возможность визуализации распределения электромагнитного поля в устройствах, использующих поверхностные волны с помощью жидкокристаллических термоиндикаторов; оценены их основные характеристики, степень влияния на характеристики волноводного тракта, определены методы расчета полей в индикаторах, рассмотрены схемы и сферы их применения.

Практическая ценность работы определяется:

Заключение диссертации по теме «Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий», Ахметшина, Людмила Георгиевна

Взводы.

I. Разработан и создан прибор для контроля диэлектрической проницаемости верхнего слоя двухслойного объекта с параметрами: -радиус кривизны - 1500 мм, -толщина контролируемого слоя - 30-1,5 мм, -диапазон изменения диэлектрической проницаемости - 3,4 - 3,9 на частоте 9,6 ГГц. В качестве датчика использован прямоугольный диэлектрический волновод, выполненный из керамики с диэлектрической проницаемостью 5. Длина рабочего участка 15 см, размеры поперечного сечения 8x16 мм. Преимуществом данного прибора является исключение влияния параметров нодложки и толщины контролируемого слоя на результаты измерений.

Параметры прибора:

-габариты - 520x220x300

- вес - 7,5 кГ

- эффективная глубина контроля - 25 мм

- систематическая погрешность - 0,5 %

- суммарная погрешность - 0,12

- относительная ошибка -6%

- минимальная цена деления - 0,014 £г .

Датчик является сменным. Замена его обеспечивает контроль изделий с другими параметрами,

2. Решена задача повышения точности определения прогнозируемой величины разрушающего давления диэлектрической мембраны из ГОШ на основе данных неразрушающего контроля, за счет использования в качестве датчика неразрушающего контроля диэлектрического резонатора и применения МГУА для получения функциональной связи разрушающего давления и данных, полученных неразрушающими методами контроля. Достигнуто увеличение точности прогноза по сравнению с применяющейся ранее методикой в среднем в 1,8 раза. Получена дискриминантная функция, позволяющая определять место разрушения мембраны.

3. Рассмотрены дополнительные возможности контроля технологических параметров материалов и изделий с использованием разработанной методики визуализации полей в открытых направляющих системах. Эффективность методики подтверждена на примере определения объемного содержания связующего, нарушений сплошности диэлектрических свойств объекта, анизотропии материалов с диагональным тензором диэлектрической проницаемости. Полученные результаты дают оперативную и наглядную информацию и обеспечивают оценку параметров с точностью 5-10 %, достаточную для использования в технологическом процессе.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

1. Теоретический анализ и экспериментальная проверка показали возможность использования датчиков на основе диэлектрических волноводов и резонаторов для неразрушающего контроля технологических параметров материалов и изделий ( вязкости, анизотропии, диэлектрической проницаемости, неоднородностей и т.п.).

П. Рассмотренные датчики за счет специфических особенностей распространяющихся в них волн, сохраняя преимущества радиоволновых методов контроля дают возможность отстроиться от влияния подложки в двухслойных средах или толщины контролируемого слоя, за счет изменения эффективной глубины контроля. Показано, что диапазон изменения ее достаточно широк ^ несколько миллиметров -десятки сантиметров и регулируется параметрами датчика: диэлектрическими характеристиками, геометрическими размерами и частотой используемых электромагнитных колебаний.

Ш. Полученные основные характеристики измерительных элементов: допустимая толщина и параметры контролируемого объекта, разрешающая способность, величина краевого эффекта, характерные размеры контролируемой зоны, позволяют сделать вывод о возможности широкого использования датчиков в технике неразрушающего контроля.

IV. Теоретически рассмотренные и подтвержденные экспериментально принципы построения и схемы устройств неразрушающего контроля на основе диэлектрических волноводов и резонаторов дают возможность использовать все характеристики электромагнитного поля: фазу, амплитуду, частоту, поляризацию.

V. Полученные функциональные связи технологические параметры контроля - регистрируемая величина с применением метода группового учета аргументов позволяют оптимизировать параметры датчиков, адаптировать их к условиям работы, они могут быть использованы при разработке автоматизированных систем неразрушающего контроля, включающих вычислительные средства малой мощности ("Искра"-Х256,"Электроника"-60).

VI. Рассмотренная методика использования метода группового учета агрументов с небольшими изменениями может быть применена и для других задач неразрушающего контроля, ввиду ориентации данного метода на получение оптимальных соотношений вход-выход систем при малом объеме исходных данных и большом количестве параметров системы.

VII. Изученная теоретически и экспериментально возможность визуализации электромагнитного поля и методика его проведения для рассматриваемых датчиков с помощью жидкокристаллических индикаторов упрощает настройку устройств контроля, повышает информативность метода и наглядность получаемых результатов.

УШ. Проведенные оценки основных параметров применяемых для визуализации электромагнитного поля индикаторов и степени их влияния на характеристики поверхностных волн свидетельствуют о том, что такая методика позволяет определить некоторые технологические параметры непосредственно по оптическому изображению распределения поля и с этой точки зрения она представляет самостоятельный интерес.

IX. Экспериментальная и промышленная проверка показала, что разработанный на основе результатов исследования прибор для контроля диэлектрических свойств сохраняя в себе достоинства приборов неразрушающего контроля радиоволнового диапазона, позволяет отстроиться от влияния диэлектрических свойств подложки и неравномерности толщины первого слоя двухслойного объекта и с приемлемой для практических целей точностью произвести оценку изменения диэлектрической проницаемости верхнего слоя.

X. Дальнейшее исследование поверхностных волн в качестве зондирующих сигналов устройств неразрушающего контроля может проводиться по следующим направлениям:

1) использование систем поверхностных волн, обеспечивающих контроль по трем независимым координатам, изучение связанной с этим возможности получения гарантированной реакции устройств на неоднородности любой ориентации;

2) использование многомодового состава электромагнитных волн, распространяющихся в датчиках и изучение возможностей в этой связи информативности неразрушающего контроля;

3) миниатюризация датчиков и перевод схем приборов, использующих их на интегральную технологию.

Список литературы диссертационного исследования кандидат технических наук Ахметшина, Людмила Георгиевна, 1984 год

1. Клюев В.В., Зуев В.П. Создание средств неразрушаюшего контроля и диагностики в НИИ интероскопии.Дефектоскопия, 1984, Н?4, с.65-74.

2. Латишенко В.А. Зависимость частоты колебаний, динамического модуля упругости и логарифмического декремента затухания бетонных образцов от водонасыщения,- В кн: Исследования по бетону и железобетону.-М.,1957. с.105-111.

3. Латишенко В.А. Определение нарастания прочности бетонов при твердении без разрушения образцов. В кн: Исследования по бетону и железобетону.-М.,1957. с.97-104.

4. Латишенко В.А. Диагностика жесткости и прочности материалов. -Рига, 1968. 320 с.

5. Крылов H.A., Калашников В.А., Полищук А.И. Радиотехнические методы контроля качества железобетона. Л.-М., 1966.- 290 с.

6. Потапов А.И. Контроль качества и прогнозирование надежности конструкций из композиционных материалов. Л.:Машиност^у роение, 1980. -260 с.

7. Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий. Справочник./Под ред. В.В.Клюева.-М.:Машиностроение, 1976. т. 1,2.

8. Методы и средства диагностики несущей способности изделий из композитов./Под ред. В.Ф.Зинченко, В.А.Латишенко, И.Г. Матиса и др. -Рига:3инатне, 1983. 272 с.

9. IX Всесоюзная Научно-техническая конференция"Неразру-шающие методы и средства контроля" 26-28 мая. Тез. докл. --Минск, 1981. Секц. Д, 194 с.

10. Поляков В.Е., Потапов А.И., Зборовский А.К. Ультразвуковой контроль качества конструкций. -Л.: Судостроение, 1978,- 200 с.

11. Потапов А.И., Поляков В.Е. Эхо-импульсная низкочастотная дефектоскопия изделий из стеклопластиков.-ДЦНТП, 1972.-40 с.

12. Б^мянцев C.B. Добромыслов В.А. Радиационная интероско-пия. -М.гАтомиздат, 1972. -352 с.

13. Потапов А.й., Игнатов В.М., Александров Ю.Б. и др. Технологический неразрушающий контроль пластмасс. -Л.: Машиностроение. 1979. 288 с.

14. Викторов В.А., Лункин Б.В., Совлуков B.C. Высокочастотный метод измерения неэлектрических величин. -M.î Наука, 1978. 280 с.

15. Брандт A.A. Исследование диэлектриков на сверхвысоких частотах. M., 1963. - 403 с.

16. Хиппель А.П. Диэлектрики и волны. -М.:Госэнергоиздат, i960. 460 с.

17. Бычкова A.A., Матвеев В.й., Павельев В.А. Волноводный метод измерения диэлектрических свойств материалов. Труды НИИИН, 1971. Вып. 5, с. 90-94.

18. Рудаков В.Н. Исследование внутренней макроструктуры диэлектриков с помощью микроволн. Докторская диссертация. ЛЭТИ, 1974. 251 с.

19. Дубицкий Л.Г. Радиотехнические методы контроля изделий. -М.: Машгиз, 1963. 351 с.

20. Матвеев В.А. О контроле огнеупорной кладки на действующих стекловаренных печах. Стекло и керамика, 1970. №5, с 15-19.

21. Радио- и акустическая голография./Под ред. Г.Е.Корбу-кова, С.В.Кулакова. -Л.:Наука,1976. -144 с.

22. Бахрах Л.Д., Курочкин А.П. Голография в микроволновой технике. -М.:Сов.Радио, 1979. 273 с.

23. IX Всесоюзная научно-техническая конференция "Неразру-шающие методы и средства контроля'.' 2ф-28 мая. Тез. докл. Минск, 198I. Секция Е, -247 с.

24. Кузнецов В.М. Амплитудно-фазовый радиоинтроскоп для контроля неметаллических изделий по отраженному сигналу.-Труды НИЙИН, 1971. Шп. 5, с. 81-89.

25. Кузнецов В.М., Павельев В.А. Экспериментальное исследование влияния локальных дефектов на сигнал СВЧ. Применение радиоинтероскопии в промышленности. -ЦНИИТЭ приборостроения, 1967. с. 68-72.

26. Воробьев Е.А., Михайлов В.Ф., Харитонов А.А. СШ диэлектрики в условиях высоких температур. -М.:Сов. Радио, 1977. 207 с.

27. Рудаков В.Н., Лебедев А.И. Современное состояние радиополяризационного метода исследования напряжений. Изв. ЩЗов, Физика,1966. PI, с. 63-67.

28. Берштейн Р.С., Слоущ В.Г. Автоматический прибор для не-разрушающего контроля качества огнеупоров без разрушения. Огнеупоры, 1970. № 12, с. 13-17.

29. Рудаков В.Н., Лебедев А.И. Современное состояние радиополяризационного метода исследования напряжений. Изв. ВУЗов. Физика, 1966. № 1, с. 63-67.

30. Потапов А.И., Савицкий Г.М. Прочность и деформативность стеклопластиков. -Л.: Стройиздат, 1973. 140 с.

31. Введение в интегральную оптику./Под ред. М. Барноски. -М.: Мир, 1977.

32. Интегральная оптика./Под ред. Т.Тамира. -М.: Мир, 1978,319 с.

33. Tien Р.К. Light waves in thin films and integrated optics. Appl. Opt., 1971. Ho. * 10, pp. 2395-2413.

34. Conwell E.M. Modes in optical waveguide formed by diffusion. Appl. Phys. Lett., 1973. No. 23, pp. 328-329.

35. Божевольский С.И.,Е>урицкий К.С.,Золотов Е.М. и др. Исследование интерференционного модулятора на основе многомодовогоканального волновода в LiH&03 .-Квантовая электроника, 1981,т.8, PII, с.2486-2492.

36. Сычугов В.А., Тищенко А.В. Исследование диффузных полос-ковых волноводов в стекле.-Квантовая электроника., 1981. т.8, Р4, с. 779-784.

37. Standly R.D. Ramaswamy V. Ub-diffused Li Та O3 optical waveguidetplanar and embedded strip guides. Appl. Rhys. Lett.,1974, v. 25, Ho.12, pp.711-713.

38. Gieshiro M., Ohtaka M., Matsuhara M., Kumagai IT. Model analysis of strip loaded diffused optical waveguides by a variational method.- IEEE.J. Quant. Electron., 1978, v.14, Ho. 4,pp. 259-263.

39. Taylor H.P. Dispersion characteristics of diffused channel waveguides. IEEE. J. Quant. Electron., 1976, v.12,Uo.l2,pp.748-752.

40. Marcatili E.A.,, Dielectric rectangular waveguide and directional coupler for integrated optics. Bell Syst. techn., 1969, 48, Eo.7, pp.2071-2101.

41. Hocker G.B. Strip -loaded diffused optical waveguides.-IEEE. J. Quant. Electron., 1976, v.12, No.4, pp.232-236.

42. Jamamoto J., Kamiya Т., Janai H. Propogation characteristics of a partially metal- clad optical guide: Metal- clad optical strip -line. Appl. Opt., 1975,ITo.12, pp. 1011-1019.

43. Itoh T. Inverted Strip Dielectric Wavsrguide for Millimeter -Wave Integrated Circuite.- IEEE. Trans. Microwave Theory

44. Tech., 1976, v.MTT-24,ifo:11, pp.821-827.

45. Jeh С., Ha K., Dong S.B., Brown W.P. Singlemode optical waveguides.- Appl. Optics., v.18,No.10, 1979, pp.1490-1504.

46. Веселов Г.И., Воронина Т.Г. К расчету открытого диэлектрического волновода прямоугольного сечения. Изв.ВУЗов, Радиофизика, 1971. т.14, № 12, с.1891-1901.

47. Сотский А.В., Столяров Ю.Д. О методах расчета гребенчатых оптических волноводов. Ж. прикладной спектроскопии, 1980. т.33, № 3, с. 567-569.

48. Гончаренко A.M., Сотский А.Б. К теории трехмерных оптических волноводов. Докл. АН БССР, 1979. т.23, № 9, с.787-790.

49. Горобец А.П., Дергочин JI.H. Дисперсионные характеристики оптического полоскового дифференциального волновода.-Радио-техника и электроника, 1981. т. 26,S?6, с.1307-1309.

50. Карпенко В.А., Столяров Ю.Д., Холомеев А.Ф. Теоретические и экспериментальные исследования прямоугольного диэлектрического волновода.-Радиотехника и электроника, 1980. т. 25, IPI, с. 51-57.

51. Гоелл Дж. Прямоугольные диэлектрические волноводы, В кн.: Введение в интегральную оптику. -М.:Мир,1977. с.60-81.

52. Hocker G.B., Burns W.K. Mode dispersion in diffused channal waveguides by the effective index method.- Appl. Opt., 1977, v.16,1To«1 , pp.113-118.

53. Knox R.M. Dielectric Waveguide Microwave Integrated Circuits An Overview ( Invited Paper ). IEEE. Trans. Microwave Theory Tech., 1976, v.MTT-24,No.11, pp. 806-814,

54. Pucel R.A. Design Consideration for Monolitic Microwave Circuts IEEE Trans on Microwave Theory Techn., 1981, v. MTT-29,1. Ho. 6, pp.513-534.-19860. Chen D.R., Decker D.R. MMIC's The Next Generation on

55. Microwave Components.- Microwave J., 1980,v.23, 5, pp.67-78.

56. Маркузе Д. Оптические волноводы.-М.:Мир,1974.-216 с.

57. Взятышев В.Ф. Диэлектрические волноводы.-М.:Сов.Радио, 1970, 216 с.

58. Унгер Х.-Г. Планарные и волоконные оптические волново-ды.-М.:Мир, 1980,- 656 с.

59. Канунников В.П. Перестраиваемые СВЧ устройства на основе диэлектрических волноводов. Кандидатская диссертация.--Днепропетровск? ДГУ, 1977 . 125с.

60. Itoh Т. Application of grating in a dielectric waveguide for leaky wave antennae and bandregect filters. IEEE Trans. Microwave Theory Tech. Dec. 1977, v.MTT-25, pp.1134-1138.

61. Ильченко M.E., Кудинов E.B. Ферритовые и диэлектрические резонаторы СВЧ.- Киев:КРУ, 1973. -175 с.

62. Взятышев В.Ф., Калиничев В.И. Анализ открытых резонансных систем СВЧ и оптического диапазонов. -Изв. ВУЗов.Радиоэлектроника, 1983. т. 26, №5, с.475-482.

63. Konishi J., Hoshino N., Utsumi I. Resonant Frequency of dielectric resonator. IEEE Trans, on Microwave Theory and Tech. 1976, v.MTT-24,Nq.2, pp.112-114.

64. Shimoda J , Tomimuro H., Onuki K. A proposal of Hew

65. Dielectric Resonator Construction for MIC's. IEEE Trans, on Microwave Theory and Thech., 1983, v.MTT-31, pp. 527-532.

66. Взятышев В.Ф., Калиничев В.И. Собственные и вынужденные колебания открытых резонансных систем на базе дисковых диэлектрических резонаторов.-Изв. ВУЗов, Радиофизика,1983. т.24, №4,с.2-9.

67. Добромыслов B.C., Взятышев В.Ф. Диэлектрические резонаторы с волнами " шепчущей галереи".Моск. энергетического института, 1973, вып. 161, с. 78-84.

68. Безбородов Ю.М., Гассанов Л.Г., Нарытнин Т.Н. и др. & Диэлектрические резонаторы в микроэлектронике СВЧ. -Обзоры по электронной технике.Электроника СВЧ, 1981,вып 4. с. 82-85.

69. Нефедов Е.И. Электродинамика периодических структур. -М.:Наука, 1977. 208 с.

70. Matthaei G.L., Harris С.Е., Kim Y .H. et ail. Simple dielectric waveguide band-pass filter. Electron. Leet, 1982, v.18, sep, 2, pp.798-799.

71. A.C. 792361 (СССР). Фазовращатель./В.В.Мериакри , A.B. Мельников, Б.А.Мурмужев, В,В.Саламатин. Опубл. в Б.й.,1980, БР4.

72. Ивахненко А.Г. Долгосрочное прогнозирование и управление сложными системами.-Киев:Техн1ка, 1975. -192 с.

73. Ивахненко А.Г., Зайченко Ю.П.»Дмитров В.П. Принятие решений на основе самоорганизации. -М.: Сов. Радио,1976.-157 с.

74. Алексейчик JI.B., Бородуленко И.И., Гаворкян В.М. и др. Состояние и перспективы применения миниатюрных диэлектрических резонаторов.-Обзоры по электронной технике.Электроника СВЧ,1977.вып. 7. с.40-50.

75. Нарытник Т.Н., Войтенко А.Г., Ротенберг Б.А. и др. Исследование термостабильных диэлектриков для высокодобротных СВЧ диэлектрических резонаторов.-Обзоры по электронной технике. Электроника СВЧ, 1978,№ 10, с. 102-106.

76. Матис И.Г. Электроемкостные преобразователи для неразрушающего контроля.-Рига:3инатне,1977. -253 с.

77. Желудев С.А. Электрические кристаллы.-М.,1979.-200 с.

78. Долгов В.М., Ахметшина Л.Г., Короткая В.Г. Метод группового учета аргументов в задачах неразрушающего контроля.В сб.: Приборы и методы автоматизации экспериментальных исследований. -Днепропетровск:ДГУ,1981. с.155-161.

79. Химмельблау Д. Прикладное нелинейное программирование. -М.:Мир, 1975. -532 с.

80. Хартман К., Лецкий Э., Шефер В. и др. Планирование эксперимента в исследовании технологических процессов.-М.:Мир,1977. -552 с.

81. Долгов В.М., Ахметшина Л.Г. Случайные ошибки при определении параметров слоистых диэлектрических структур волноводами методами. В сб.: Приборы и методы автоматизации экспериментальных исследований.-Днепропетровск :ДГУ,1984. с.95.99.

82. Власов Б.И., Котосонов Н.В., Пьяных Ю.М. О пространственном разрешении теплового способа записи и визуализации электромагнитного поля в пленочных структурах.-Изв.ВУЗов.Радиофизика, 1979. т. XXII, Р 4, с. 480-487.

83. Sethores I.C., Gulaya S. Visual observation of rf mag-natic fields using cholesteric liquid crystals.- J. Appl. Opt, 1970, v.9tUo.12,pp. 2560-2562.

84. Augustine C.P. Microwave holograms using liquid crystal display.- Proc. IEEE, 1969, v.57,Uo. 3>PP« 28-32.

85. Фергасон. Применение жидких кристаллов в испытаниях без разрушения образца. -Зарубежная радиоэлектроника, 1969. № 10, с.106-122.95. де Жен П. Физика жидких кристаллов.-М.:Мир, 1977.-400с.

86. Капустин А.П. Электрооптические и акустические свойства жидких кристаллов. -М.: Наука, 1973. 232 с.

87. Барташевский Е.Л., Долгов В.М., Красовский В.А.-Изв. ВУЗов. Радиофизика, 1974. т.ХУШ, № 5, с.374-378.

88. Барташевский E.JI., Долгов В.М., Палий Н.Е. В сб:: Электродинамика и физика СВЧ.-Днепропетровск:ДГУ,1973. с.144 -153.

89. Долгов В.М. ,Лихолетова Л.Г. О неразрушаюшем контроле анизотропных образцов. -Дефектоскопия, 1979. №3, с. 88-92.

90. Долгов В.М., Лихолетова Л.Г. Визуализация распределения электромагнитного поля в открытых направляющих системах. -Дефектоскопия, 1979. №2, с.9-13.

91. Долгов В.М.»Короткая В.Г., Лихолетова Л.Г. Жидкие кристаллы в направляющих системах на основе прямоугольных диэлектрических волноводов. П Всесоюзный симпозиум по миллиметровым и субмиллиметровым волнам.-Харьков,1978. т. 2, с. 219-220.

92. Jacobs Н., ITovick G., Locascio М.С., Chrepta М.Н.

93. Measurement of Guide Wavelength in Rectangular Dielectric Waveguide. IEEE Trans, on Microwave Theory and Tech., f976,v. МТТ-24, No 11, pp. 815-820.

94. Simundich T.M. Characterizing distributed parameter systems by pattern recognition.- Proc. 3id Innt. Conf. Pattern recognition: Coronado, Calif, 1976, pp.22-25.

95. Долгов B.M., Короткая В.Г., Флоров A.K. Программное обеспечение метода структурной идентификации одномерных параболических систем. В сб.: Методы и приборы автоматизации экспериментальных исследованийт-Днепропетровск; ДГУ,1980. с. 3-9.

96. Долгов В.М.»Короткая В.Г., Лихолетова Л.Г. Контроль профиля диэлектрической проницаемости в полимерных материалах. Материалы конф.Неразрушающие методы контроля изделий из полимерных материалов. -М., 1980. с. 20-22.

97. Голография.Методы и аппаратура./Под ред. В.М.Гинзбург, Б.М.Степанова. -М.:Сов.Радио, 1974. 376 с.

98. Росато Д.В., Грове К.С. Намотка стеклонитью. -М.: Машиностроение, 1969, -310 с.

99. Фелсен Л., Маркувиц Н. Излучение и рассеяние волн.-М.: Мир, 1978. т.2,-555 с.

100. Гроп Д. Методы идентификации систем. -М.:Мир,1979. -302 с.

101. НО. Альтман Дж. Устройства СВЧ. -М.:Мир, I968.-487 с.

102. Лихолетова Л.Г. Регулярный диэлектрический волновод как датчик дефектоскопа. IX Всес. н.-техн. конф."Неразрушаюшие методы и средства контроля.-Минск,1981. секц.Д, с.24-27.

103. Долгов В.М., Лихолетова Л.Г. Неразрушающий контроль материалов с использованием диэлектрических волноводов переменной толщины. IX Всес. н.-техн. конф."Неразрушающие физические методы и средства контроля". Тез. докл. -Минск, 1981, секц. Д, с. 27-29.

104. Бутковский А.Г. Характеристики систем с распределенными параметрами. -М.: Наука, 1979. -224 с.

105. Ту '<:Дж., Гонсалес Р. Принципы распознавания образов. -М.: Мир, 1978. 411 с.

106. Дубицкий Л.Г., Кеткович A.A., Матвеев В.И., Слоущ В.Г. Оптическая и СВЧ дефектоскопия. -М.: Машиностроение, 1981, 52 с.

107. Объем Годовой эконо- Долевое

108. Наименование внедренных Новизна и достигнутая мический эффект участиевнедре- по годам внед- предприяп/п. мероприятий эффективность рения (тыс. руб., тия и ДГУния прописью) <%)1 2 3 4 5 6

109. Методика прогнозирования несущей способности изделий по результатам многопарамет-рового контроля, использующая электромагнитные волны,канализируе мые открытой направляющей системо

110. Пакет прикладный программ для идентификации статической нелинейной системы.1. А.

111. Методика позволяет оценить зна чение давления разрушения и сни£ зить в два раза процент перебраковки готовых изделийтридцать ■восемь 1 тысяч ¡ит 22 руб100 % ДГУ1. ПРИМЕЧАНИЕ:

112. Передачу результатов данной НИР другим предприятиям осуществлять с участием ДГУ.-3. При расширении внедрения результатов НИР в документах о внедрении отражать долевое участие ДГУ в установленном %.

113. ПРЕДСЕДАТЕЛЬ КОМИССИИ ЧЛЕНЫ КОМИССИИ

114. Санин Ф.П. ) ^рУОъУу/ (Над олинный В. Г.1. Долгов В.М. )т

115. СОГЛАСОВАНО' НАЧАЛЬНИК НИСа ДГУ.

116. ЗАВ. ОТДЕЛОМ ЭФФЕКТИВНОСТИ И ВНЕДРЕНИЯ1979 г. Типография ДГУ. Заказ № 974—2000

117. Разработанное и созданное автором устройство позволяет оперативно получить сведения о качестве материалов,используемых в изделиях, разрабатываемых нашим предприятием.1. WiAmwÇ

118. Начальник отделения v ^ ДИМИТРИЕНКО И.П.

119. Начальник отделаРАПОПОРТ Д.А. Начальник лаборатории ^^Cyv^ ШУМАЕВ C.B.