Рентгеновская микроскопия на основе кристаллов с переменным периодом решетки тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 01.04.07, кандидат физико-математических наук Коновко, Андрей Андреевич

• Коновко, Андрей Андреевич
• кандидат физико-математических наук
• 2006

Оглавление диссертации кандидат физико-математических наук Коновко, Андрей Андреевич

Введение.

ГЛАВА I

СОВРЕМЕННОЕ СОСТОЯНИЕ РЕНТГЕНОВСКОЙ МИКРОСКОПИИ

§ 1 Современные методы рентгеновской микроскопии.

§ 2 Ядерные процессы в лазерной плазме.

ГЛАВА II

РЕНТГЕНОВСКАЯ МИКРОСКОПИЯ НА ОСНОВЕ АСИММЕТРИЧНОГО БРЭГГОВСКОГО ОТРАЖЕНИЯ.

§ 1 Принцип рентгеновского микроскопа с использованием асимметричного отражения.

§ 2 Асимметричная дифракция пространственно ограниченных пучков.

§ 3 Поиск оптимальной схемы эксперимента.

§ 4 Расчет параметров кристаллов для экспериментальной установки

ГЛАВА III ФОКУСИРОВКА РЕНТГЕНОВСКИХ ПУЧКОВ'

§ 1 Искажение профиля пучка вследствие дифракции в свободном пространстве.

§ 2 Модель дифракции на кристалле с переменным периодом решетки

§ 3 Аналитические выражения и приближенные формулы.

§ 4 Фокусировка ограниченных пучков в крайне асимметричной схеме дифракции.

ГЛАВА IV

СПЕКТР ТОРМОЗНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ ФЕМТОСЕКУНДНОЙ

ЛАЗЕРНОЙ ПЛАЗМЫ

§ 1 Постановка задачи.

§ 2 Эффективность возбуждения ядер.

§ 3 Спектр интенсивности тормозного излучения.

§ 4 Статистическая модель возбуждения ядер тормозным излучением фемтосекундной лазерной плазмы.

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Рентгеновская микроскопия на основе кристаллов с переменным периодом решетки»

Актуальность проблемы

Рентгеновская микроскопия применяется для исследования внутренней структуры оптически непрозрачных объектов и объектов, размеры которых меньше длины волн оптического диапазона. В биологии и дефектоскопии часто возникают задачи исследования объектов субмикронного масштаба. Поэтому схемы рентгеновской микроскопии для решения подобных задач должны обеспечивать субмикронное разрешение по объекту, а также достаточное увеличение изображения.

Настоящая работа посвящена развитию теории методов рентгеновской микроскопии с субмикронным разрешением, основанной на использовании монокристалла в качестве оптического элемента. Основное внимание уделяется оптической схеме рентгеновского микроскопа с использованием асимметричного и крайне асимметричного брэгговского отражения от кристалла.

Существенным препятствием на пути создания рентгеновского микроскопа с субмикронным разрешением является дифракция на пути объект-кристалл. Проведенные исследования показывают, что в кристалле с определенным профилем деформации возможна фокусировка рентгеновского излучения, а, следовательно, компенсация дифракционного расплывания.

Необходимой частью установки, осуществляющей рентгеновскую микроскопию, является источник рентгеновского излучения. В качестве такового можно использовать, например, синхротрон или рентгеновскую трубку. Кроме того, одним из перспективных источников рентгеновского излучения является плазма, создаваемая при взаимодействии лазерного импульса с твердотельной мишенью.

Выбор того или иного источника зависит от целого ряда факторов. Син-хротронное излучение обладает уникальными характеристиками, что снимает целый ряд ограничений. Однако, в настоящей работе мы будем уделять основное внимание рентгеновским трубкам и тормозному излучению горячих электронов лазерной плазмы. Мы проанализируем возможность создания рентгеновского микроскопа на основе кристаллов с переменным периодом решетки в диапазоне жесткого рентгеновского излучения.

Плазма, образованная при взаимодействии фемтосекундного лазерного импульса с твердотельной мишенью, может обеспечить короткий, но яркий импульс рентгеновского излучения, что позволит изучать различные быстрые процессы в биологических объектах и технологических процессах. В настоящей работе проводятся расчеты спектра тормозного рентгеновского излучения лазерной плазмы. Одновременно проводятся исследования возможности возбуждения ядер в фемтосекундной лазерной плазме и осуществляются расчеты эффективности возбуждения ядер тормозным излучением горячих электронов. Мы показываем, что результаты теоретических расчетов согласуются с экспериментальными данными.

Цели и задачи диссертационной работы

1. Теоретический анализ возможности разработки схем рентгеновской микроскопии с субмикронным разрешением, основанных на использовании асимметричного брэгговского отражения от кристаллов с переменным периодом решетки.

2. Разработка электродинамической модели тормозного рентгеновского излучения нестационарной лазерной плазмы и анализ эффективности возбуждения ядер в фемтосекундной лазерной плазме тормозным рентгеновским излучением.

3. Создание программного комплекса для численного моделирования работы рентгеновского микроскопа, основанного на использовании асимметричного брэгговского отражения от кристаллов с переменным периодом решетки.

4. Разработка моделей и программного обеспечения для расчета спектра тормозного излучения фемтосекундной лазерной плазмы. Проведение комплекса расчетов эффективности возбуждения ядер в лазерной плазме в зависимости от параметров облучающего лазерного импульса и характеристик мишени.

Научная новизна

1. Показано, что схемы рентгеновской микроскопии, основанные на использовании асимметричной и крайне асимметричной брэгговской дифракции, позволяют достичь субмикронного разрешения по объекту, если скомпенсировать влияние дифракции в свободном пространстве на пути от объекта до кристалла.

2. Показано, что применение кристаллов с переменным периодом решетки позволяет достичь компенсации дифракционного расплывания, тем самым давая возможность совместить в одном кристалле увеличительный и фокусирующий рентгенооптические элементы.

3. Показано, что модель спектра тормозного излучения фемтосекундной лазерной плазмы позволяет адекватно описать результаты экспериментов по облучению мишени из тантала фемтосекундными лазерными импульсами.

Защищаемые положения

1. Зависимость дифракционной длины пространственно ограниченного рентгеновского пучка, дифрагированного на кристалле в асимметричной схеме дифракции Брэгга, от параметра асимметрии /3 определяется выражением: где а — ширина пучка, а к — волновое число рентгеновского излучения.

2. Кристаллы Се(111) с экспоненциальным профилем деформации решетки позволяют скомпенсировать дифракционное расплывание рентгеновского пучка и, будучи примененными в асимметричной схеме дифракции, могут быть использованы для увеличения в 30 раз с разрешением по объекту не ниже 0.15 мкм при длине волны А = 1.541 А.

3. Основной вклад в возбуждение ядер в фемтосекундной приповерхностной лазерной плазме вносят процессы радиационного возбуждения тормозным рентгеновским излучением горячих электронов. До тех пор, пока средняя длительность электрон-ионного соударения меньше времени свободного пробега электрона (интенсивность облучающего импульса порядка 1015Вт/см2) возбуждение ядер происходит когерентно (пропорционально квадрату интенсивности); дальнейшее повышение интенсивности лазерного излучения приводит к росту числа горячих электронов и частоты электрон-ионных соударений, что приводит сначала к спаду числа возбужденных ядер (поскольку перекрывающиеся импульсы тормозного излучения некогерентны); а затем — к традиционной линейной зависимости числа возбужденных ядер от интенсивности лазерного излучения.

Практическая значимость работы определяется тем, что проведенный комплекс исследований дает возможность оптимизации схемы построения экспериментальных установок для рентгеновской микроскопии и томографии, а также возможность оптимизации параметров лазерных импульсов и характеристик мишени при проведении экспериментов по возбуждению ядер в фемтосекундной лазерной плазме.

Структура и объем работы

Диссертация состоит из введения, трех глав, заключения и списка цитируемой литературы. Полный объем работы: 124 страницы, включая 45 рисунков. Библиография содержит 110 наименований, в том числе, 5 авторских публикаций.

Заключение диссертации по теме «Физика конденсированного состояния», Коновко, Андрей Андреевич

Основные результаты, полученные в диссертационной работе, могут быть сформулированы следующим образом.

1. Теоретически обоснована возможность создания рентгеновского микроскопа на основе кристалла в асимметричной схеме дифракции Брэгга с разрешением не менее 0.15 мкм по объекту при коэффициенте асимметрии /5 = 30.

2. Показано, что зависимость дифракционной длины пространственно ограниченного рентгеновского пучка, дифрагированного на кристалле в асимметричной схеме Брэгга, от параметра асимметрии (3 определяется выражением:

О? /*ъ ТТТ/Р' где а — ширина пучка, а к — волновое число рентгеновского излучения.

3. Теоретически обоснована возможность создания фокусирующих систем на базе кристаллов с переменным периодом решетки в асимметричной схеме дифракции.

4. Показано, что кристаллы Се(111) с экспоненциальным профилем деформации решетки позволяют скомпенсировать дифракционное расплыва-ние рентгеновского пучка и, будучи примененными в асимметричной схеме дифракции, могут быть использованы для увеличения в 30 раз с разрешением по объекту не ниже 0.15 мкм при длине волны А = 1.541А.

5. Показано, что при нерелятивистских интенсивностях облучающих лазерных импульсов возбуждение ядер происходит когерентно (пропорционально квадрату интенсивности) до тех пор, пока столкновителыюе время электрона меньше времени свободного пробега; затем рост интенсивности вызывает спад числа возбужденных ядер, который сменяется линейным ростом, пропорциональным интенсивности.

В заключение автор выражает искреннюю признательность своему научному руководителю профессору A.B. Андрееву предложившему актуальную и интересную тематику, оказавшему неоценимую помощь в проведении исследований. Также автор выражает благодарность Ю.В. Пономареву за помощь в изучении основ поставленной задачи, В.Е. Асадчикову за полезные и содержательные дискуссии при обсуждении практических аспектов задачи. Кроме того, автор признателен A.C. Трушину за обсуждение некоторых математических аспектов исследовавшихся проблем. Автор благодарен всем сотрудникам лаборатории за дружеское и отзывчивое отношение, способствовавшее выполнению настоящей работы. Особую признательность автор выражает своей жене, оказывавшей понимание и моральную поддержку в особо трудные этапы.

Заключение

Список литературы диссертационного исследования кандидат физико-математических наук Коновко, Андрей Андреевич, 2006 год

1. J. Susini, F. Polack, editor X-Ray Microscopy. 7th International Conference on X-Ray Microscopy- (2003).

2. Rose A. Television pickup tubes and the problem of vision, in Advances in Electronics.- V. 1 Boca Raton:CRC Press, academic press, new york edition 1948, pp. 131-166.

3. Glaeser R. M. Limitations to significant information in biological electron microscopy as a result of radiation damage // Journal of Ultrastructure Research, V.36, pp.466-482, (1971).

4. D. Sayre, R. Feder, D. M. Kim, Spiller E. Potential operating region for ultrasoft x-ray microscopy of biological specimens // Science, V.196, pp.1339-1340, (1977).

5. D. Sayre, R. Feder, D. M. Kim, Spiller E. Transmission microscopy of unmodifed biological materials: Comparative radiation dosages with electrons and ultrasoft x-ray photons // Ultramicroscopy, V.2, pp.337-341, (1977).

6. R. A. London, M. D. Rosen, Trebes J. E. Wavelength choice for soft x-ray laser holography of biological samples // Applied Optics, V.28, pp.33973404, (1989).

7. Morrison G. R. X-ray Instrumentation in Medicine and Biology, Plasma Physics, Astrophysics, and Synchrotron Radiation V. 1140 chapter Some aspects of quantitative x-ray microscopy, pages 41-49, Bellingham, Washington 1989.

8. Golz P. X-ray Microscopy III chapter Calculations on radiation dosages of biological materials in phase contrast and amplitude contrast x-ray microscopy, pages 313-315 Springer-Verlag, Berlin 1992.

9. R. A. London, J. E. Trebes, Jacobsen C. Soft X-ray Microscopy V. 1741 chapter Role of x-ray induced damage in biological microimaging., pages 333340 Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE) Bellingham, Washington, 1992.

10. C. Jacobsen, R. Medenwaldt, Williams S. X-ray Microscopy and Spectromicroscopy chapter A comparison between electron and x-ray microscopy: theoretical considerations Springer-Verlag Berlin, 1997.

11. Kirz Janos, Jacobsen Chris Soft x-ray microscopes and their biological applications // Q. Rev. Biophys, V.28, pp.33-130, (1995).

12. Колпаков А. В. Динамическая дифракция рентгеновских лучей.- Издательство Московского университета, 1989.

13. Shinohara К., Ito A. Radiation damage in soft x-ray microscopy of live mammalian cells //J. Microscopy, V.161, pp.463-472, (1991).

14. Schneider G. Rontgenmikroskopie mit Synchrotronstrahlung an warigen biologischen Systemen|experimentelle und theoretische Untersuchungen PhD thesis Universität Gottingen 1992.

15. Okada S. Radiation Biochemistry V. 1 chapter Cells Academic Press New York 1970.

16. T. W. Ford, G. F. Foster, Stead A. D. Soft X-ray Microscopy V. 1741 chapter Effects of soft x-ray irradiation on cell ultrastructure, pages 325-332 Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE) Bellingham,Washington 1992.

17. Gilbert J. R., Pine J. Soft X-ray Microscopy V. 1741 chapter Imaging and etching: soft x-ray microscopy on whole wet cells, pages 402-408 Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE) Bellingham, Washington 1992.

18. P. M. Bennett, C. J. Buckley, Burge R. E. The effect of soft x-radiation on myofibrils // Journal of Microscopy, V.172, pp.109-119, (1993).

19. G. F. Foster, C. J. Buckley, Burge R. E. Structural radiation damage to mammalian myofibrils In Aristov V. V., Erko A. I., editors, Proceedings of the 4th International Conference, pp. 246-255 Chernogolovka, Russia September 1994.

20. S. Williams, C. Jacobsen, J. Kirz, S. Lindaas, J. van't Hof, Lamm S. S. Measurements of wet metaphase chromosomes in the scanning transmission x-ray microscope // Journal of Microscopy, V.170, pp. 155-165, (1993).

21. Berger M. J., Seltzer S. M. Tables of energy-losses and ranges of electrons and positrons Technical Report 1133 Committee on Nuclear Science, National Research Council, National Academy of Sciences Washington, D.C. 1964.

22. Schneider G., Niemann B. Cryo x-ray microscopy: first images of specimens at low temperatures // X-ray Science, V.2, pp.8-9, (1994).

23. Reimer L. Transmission electron microscopy: physics of image formation and microanalysis- V. 36 of Springer Series in Optical Sciences Berlin:Springer-Verlag, 3 edition 1993.

24. Schneider Gerd X-ray microscopy: methods and perspectives // Anal Bioanal Chem, V.376, pp.558-561, (2003).

25. Michette A. G. Optical Systems for Soft X Rays.- New York:Plenum, 1986.

26. Schmahl G. Vacuum Ultraviolet Radiation Physics chapter Holographic structures for applications in the vacuum ultraviolet and soft x-ray region, pages 667-681 Pergamon/Vieweg, London, 1974.

27. Attwood D. X-ray optics, microscopy and lithography in berkeley In Aristov V. V., Erko A. I., editors, X-ray Microscopy IV pages 20-34, 1994.

28. Charalambous P., Firsov. A. Optimization of the process parameters for the fabrication of high resolution diffraction optical elements In Aristov V. V., Erko A. I., editors, X-ray Microscopy IV pages 510-517, 1994.

29. C. David, J. Thieme, P. Guttmann, D. Rudolph, G. Schmahl Electron beam generated phase zone plates with 30 nm zonewidth for high resolution x-ray microscopy // Journal of Optics, V.23(6), pp.255-258, (1992).

30. Maser J., Schmahl G. Coupled wave description of the diffraction by zone plates with high aspect ratios // Optics Communications, V.89, pp.355362, (1992).

31. В. В. Аристов, JI. Г. Шабелышков, С. M. Кузнецов, M. В. Григорьев Рентгеновская оптика преломления: планарные киноформные профили В Рентгеновская оптика 99, материалы рабочего совещания, Нижний Новгород стр. 179-184, Нижний Новгород, март 1999.

32. Аристов В.В., Ерко А.И. Рентгеновская оптика- Москва, Наука, 1991.

33. Aristov V.V., Snigirev A. A., Yunkin V. A., Ishikava Т., Kikutu S. // Phys. Res., A, V.308, рр.413-417, (1991). Nucl. Instrum. Meth.

34. И. А. Щелоков, А. С. Кандаков, Д. В. Иржак, М. Брюнель, Р. Тукулу Второе поколение френелевских зонных пластинок скользящего падения В Рентгеновская оптика 99, материалы рабочего совещания стр. 156165, Нижний Новгород, март 1999.

35. Witt P. Preparation and thinning of sputtered sliced zone plates. In X-Ray Microscopy IV Proc. Of the 4-th Int. Conf pages 500-503 Chernogolovka, Russia 1993.

36. Kirkpatrick P., Baez A. V. Formation of optical images by x-rays // Journal of the Optical Society of America, V.38, pp.766-774, (1948).

37. Wolter H. Spiegelsysteme streifenden einfalls als abbildende optiken fur rontgenstrahlen // Ann. Phys., V.10, №286 pp.94-114, (1952).

38. C. Bergemann, H. Keymeulen, Veen J.F. Focusing x-ray beams to nanometer dimensions // Physical Review Letters, V.91, №20 pp.204801, (November 2003).

39. A. Jarre, C. Ollinger, J. Seeger, R. Tucoulou, T. Salditt Two-dimensional hard x-ray beam compression by combined focusing and waveguide optics // Physical Review Letters, V.94, pp.074801, (2005).

40. J. Voss, C. Kunz, A. Moewes, G. Roy, H. Sievers, I. Storjohann, H. Wongel A scanning soft x-ray microscope with an ellipsoidal focusing mirror // Journal of X-ray Science and Technology, V.3, pp.85-108, (1992).

41. J. Voss, C. Kunz, A. Moewes, M. Pretorius, A. Ranck, H. Sievers, V.Wedemeier, M. Wochnowski, H. Zhang Soft x-ray microscopy athasylab/desy In Aristov V. V., Erko A. I., editors, X-ray Microscopy IV pp. 103-122,1994.

42. Aoki S. Recent developments in x-ray microscopy at the photon factory In Aristov V. V., Erko A. I., editors, X-ray Microscopy IV pp. 35-40, 1994.

43. E.-L. Kenneth, A. Stein, C. Kao, D.M. Tennant, F. Klemens, A. Taylor, C. Jacobsen P.L. Gammel, H. Huggies, S. Ustin, G. Bogart, L. Ocola Singleelement elliptical hard x-rays micro-optics // Optics Express, V.ll, №8-pp.919-926, (2003).

44. Панесса-Уоррен Рентгеновская оптика и микроскопия chapter Биологические применения контактрой рентгеновской микроскопии, стр. 359-374 Москва, Мир 1987.

45. Polack F., Lowenthal S. Photoelectron microscope for x-ray microscopy and microanalysis // Review of Scientific Instruments, V.52, pp.207-212, (1981).

46. R. L. Davies, J. K. Pye Development in contact x-ray microscopy in biological research // Journal of Microscopy, V.138, pp.293-300, (1985).

47. G. D. Guttmann, M. S. Mendonca, J. S. Wain Imagining living cho-scl cells by soft x-ray contact microscopy In X-ray Microscopy III Proc. Of 3-rd Int. Conf. pp. 451-454 London Septeber 1990.

48. О. П. Братов, И. П. Жижин, Н. И. Комяк, В. Г. Лютцау Аппаратура и методы рентгеновского анализа Гл. Рентгеновский теневоймикроскоп МИР-1. Аппаратура и методы рентгеновского анализа, стр. 3-13, № 4. 1969.

49. Т. Н. Lin, G. Wang, Cheng Р. С. X-ray Microscopy III V. 67 of Springer Series in Optical Sciences chapter A multiple cone-beam projection algorithm for x-ray microtomography, pp. 296-300 Springer-Verlag Berlin 1992.

50. Zolfaghari A., Trebbia P. 3d reconstruction in conical geometry from data obtained with an x-ray microtomograph In Aristov V. V., Erko A. I., editors, X-ray Microscopy IV pp. 438-449 1994.

51. Yu. I. Dudchik, F. F. Komarov, Y. Kohmura, M. Awaji, Y. Suzuki, T. Ishikava Glass capillary x-ray lens fabrication technique and ray tracing calculations // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A, V.421, pp.361-364, (1999).

52. Schroer C.G., Lengeler B. Focusing hard x rays to nanometer dimensions by adiabatically focusing lenses // Physical Review Letters, V.94, pp.054802, (February 2005).

53. V.V. Aristov, S.M. Kuznetsov, Shabelnikov, V.A. Yunkin, M. Hoifmann, E. Voges X-ray focusing by planar parabolic refractive lenses made of silicon // Optics Communications, V.177, pp.33-38, (April 2000).

54. Y. Kagoshima, J. Matsui et. al. Focusing properties of tantalum phase zone plate and its application to hard x-ray microscope In X-ray Microsccopy. Proceedings of the Sixth International Conference pages 41-44 Melville, New York August 2000.

55. А. В. Андреев, Б. В. Мчедлишвили, Ю. В. Пономарев, А. А. Постнов, Р. А. Сенин, Т. В. Цыганова Рентгеновская микроскопия с использованием асимметричного отражения от монокристалла // Письма в ЖЭТФ, V.73, т.- стр.205-209, (2001).

56. Пинскер 3. Г. Рентгеновская кристаллооптика.- Москва, Наука, 1982.

57. Kohra К. In Proceedings of Sixth International Conference jn X-Ray Optics and Microanalysis pp. 35-45, 1972.

58. K. Sakamoto, T. Hirano, Usami K. // J. Appl. Phys, V.127, №27, (1988).

59. U. Bonse, F. Busch, R. Pahl, J. Kinney, Q. Johnson, R. Saroyan, M. Nichols X-ray tomographic microscopy of fiber-reinforced materials //J. Materials Science, V.26, pp.4076-4085, (1991).

60. Nagata // Res. Nondestruct. Eval., V.4, pp.55, (1992).

61. W. J. Boettinger, H. E. Burdette, M. Kuriyama X-ray magnifier // Rev. Sci. Inst., V.50, pp.20-30, (1979).

62. Korytar D. Three-dimensional multiple x-ray diffraction In Plenum , editor, Proceedings of the International Conference on Advanced Methods in X-Ray and Neutron Structure Analysis of Materials pages 379-381 New-York 1989.

63. Kuriyama M. Hard x-ray microscope with submicrometer spatial resolution // J. Res. Natl. Inst. Stand. Technol, V.95, pp.559-574, (1990).

64. Spal R.D. Submicrometer resolutionhard x-ray holography with the asymmetric bragg diffraction microscope // Physical Review Letters, V.86, №14.- pp.3044-3047, (April 2001).

65. А. Мишетт Оптика мягкого рентгеновского излучения.- Москва, Мир, 1989.

66. Шмаль Г., Рудольф Д., editor Рентгеновская оптика и микроскопия-Москва, Мир, 1987

67. Андреев А. В. Фокусировка пучков при отражении от кристаллов и многослойных периодических структур с переменным периодом // Письма в ЖЭТФ, V.74, т.- стр.8-11, (2001).

68. Андреев А.В., Буше Д., Масселин П., Ожередов И.А., Шкуринов А.П. Компрессия фемтосекундных световых импульсов в тонком одномерном фотонном кристалле // Письма в ЖЭТФ, V.71, стр.539-543, (2000).

69. D. Giulietti, L.A. Gizzi X-ray emission from laser-produced plasmas //La rivista del Nuovo Cimento, V.21, №10, (1998). serie 4.

70. K. W. D. Ledingham, R. P. Singhal Applications for nuclear phenomena generated by ultra-intense lasers // SCIENCE, V.300, pp.1107-1111, (2003).

71. H.M. Hertz, H. Stollberg, J. de Groot, O. Hemberg, A. Holmberg, S. Rehbein, P. Jansson, F. Eriksson, J. Birch Table-top x-ray microscopy: sources, optics and applications. In X-Ray Microscopy. 7th International Conference on X-Ray Microscopy 2003.

72. J de Groot, O. Hemberg, H.M. Hertz Improved liquid-jet laser-plasma source for x-ray microscopy. In X-Ray Microscopy. 7th International Conference on X-Ray Microscopy 2003.

73. S.V. Bulanov, V.S. Khoroshkov, A.V. Kuznetsov, F. Pegoraro Oncological hadrontherapy with laser ion accelerators // Physics Letters A, V.299, pp.240-247, (2002).

74. H. Schwoerer, R. Sauerbrey, J. Galy, J. Magill, V. Rondinella, R. Schenkel, Butz T. Fission of actinides using a tabletop laser // Europhysics Letters, V.61, m- pp.47-52, (2002).

75. F. Floux, L G. Denoeud, G. Piar, D. Parisot, J. L. Bobin, F. Delobeau, Fauquignon C. Nuclear fusion reactions in solid-deuterium laser-produced plasma // Physics Review A, V.l, pp.821-824, (1970).

76. J. Zweiback, R. A. Smith, J. H. Hartley, R. Howell, C. A. Steinke, G. Hays, K. B. Wharton, J. K. Crane, Ditmire T. Characterization of fusion burn timein exploding deuterium cluster plasmas // Physics Review Letters, V.85, pp.3640-3643, (2000).

77. Gibbon P. Efficient production of fast electrons from femtosecond laser interaction with solid targets // Physical Review Letters, V.73, №5.-pp.664-667, (1994).

78. J. D. Kmetec III, J. J. Macklin, В. E. Lemoff, G. S. Brown, Harris S. E. Mev x-ray generation with a femtosecond laser // Physical Review Letters, V.68, №10.- pp.1527-1530, (1992).

79. M. Schnurer, P. V. Nickles, Th. Schlegel, Sandner W. Hard x-ray emission from intense short pulse laser plasmas // Physics of Plasmas, V.2, №8.-pp.3106-3110, (1992).

80. J. D. Hares, M. H. Key, Lunney J. G. Measurement of fast-electron energy spectra and preheating in laser-irradiated targets // Physical Review Letters, V.42, №18.- pp.1216-1219, (1979).

81. Izawa Y., Yamanaka С Production of 235U by nuclear excitation by electron transition // Physics Letters, V.88 B, №1-2.- pp.59-61, (1979).

82. Арутюнян P.B., Доршаков C.A., Кольцов B.B., Малюта С.А., Поляков Г.А., Римский-Корсаков А.А., Семак В.В., Ткаля Е.В Вероятность образования изомерных ядер U235 в приповерхностной лазерной плазме.-Москва, ЦНИИатоминформ, 1989,- Препринт ИАЭ-4829/2 р.

83. Арутюнян Р.В., Стрижов В.Ф., Ткаля А.В Взаимодействие интенсивного лазерного излучения с веществом: возбуждение атомных ядер в горячей лазерной плазме, распад изомерных ядер в интенсивном внешнем поле.-ЦНИИатоминформ, 1989.

84. G. Claverie, J. F. Chemin, F. Gobet, F. Hannachi, M. R. Harston, G. Malka, J. N. Scheurer, P. Morel, Méot V. Search for nuclear excitation by electronic transition in 235U // Physical Review C, V.70, pp.044303, (2004).

85. Гречухии Д.П. Солдатов A.A. Возбуждение изомерного уровня 73 эВ, 1/2+ ядра U-235 электронным ударом.- ИАЭ, 1978,- Препринт ИАЭ-2976 р.

86. Андреев A.B., Савельев A.B. К возможности возбуждения ядерных переходов в высокотемпературной фемтосекундной плазме.- Издательство Московского университета, 1997,- Препринт физ. ф-та МГУ №1 р.

87. Гречухин Д.П., Солдатов A.A. Возбуждение изомерного уровня U235 (73 эВ, 1/2+) квантами и электронами.- , 1976,- Препринт ИАЭ-2706 Р

88. A.B. Андреев, В.М. Гордиенко, A.M. Дыхне, П.М.Михеев, A.B. Савельев, Е.В. Ткаля, P.A. Чалых, О.В. Чутко Возбуждение низколежащих ядерных уровней в нерелятивистской плотной лазерной плазме // Квантовая электроника, Т.26, №1- стр.55-59, (1999).

89. A.B. Андреев, A.A. Коновко Рентгеновская микроскопия с использованием крайне асиммметричного отражения от кристалла // Вестник МГУ, Серия 3 физика, астрономия, №5, стр.49-52, (2002).

90. Колпаков A.B., Прудников И.Р. Дифракция рентгеновских лучей в сверхрешетках.- Издательство Московского университета, 1992.

91. Самарский А., А. Николаев Е.С. Методы решения сеточных уравнений.-Москва, Наука, 1987.

92. A.B. Андреев, A.A. Коновко Фокусировка рентгеновского излучения с помощью деформированных кристаллов // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования., №1, стр.28-32, (2003).

93. A.B. Андреев, A.A. Коновко Дисперсионные свойства кричсталла с переменным периодом решетки. // Поверхность. Рентгеновские синхротронные и нейтронные исследования, №1, стр.12-16, (2005).

94. A.V. Andreev, A.A. Konovko Specific features of nucleus excitation by x-ray pulsed emission of femtosecond laser plasma In ICONO-LAT 2005 TechnicalDigests, IThV6, p. 70, 2005.