Динамическая теория диффузного рассеяния излучений в кристаллах с дефектами кулоновского типа тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 01.04.07, кандидат физико-математических наук Олиховский, Степан Иосифович

  • Олиховский, Степан Иосифович
  • кандидат физико-математических науккандидат физико-математических наук
  • 1984, Киев
  • Специальность ВАК РФ01.04.07
  • Количество страниц 147
Олиховский, Степан Иосифович. Динамическая теория диффузного рассеяния излучений в кристаллах с дефектами кулоновского типа: дис. кандидат физико-математических наук: 01.04.07 - Физика конденсированного состояния. Киев. 1984. 147 с.

Оглавление диссертации кандидат физико-математических наук Олиховский, Степан Иосифович

ВВЕДЕНИЕ.

ГЛАВА I. ДШАШКЕСШ ТЕОРШ ДЙМШЮГО РАССЕЯНШ

ИЗЯУЧЕНШ В НЕВДЕАЛЪНЫХ КРИСТАЛЛАХ (ОБЗОР).

1.1. Общие замечания.

1.2. Тепловое диффузное рассеяние.

1.3. Диффузное рассеяние на статических искажениях . 19 1.4 Метод трехкристальной рентгеновской дифрактометрии.

1.5. !&ртины Кикучи.

1.6. Выводы.

ГЛАВА 2. ОБЩЕТЕОРЕТИЧЕСКИЕ ВОПРОСЫ ОПВДЕЛЕНШ АМПЛИТУДЫ И ЖТЕНСИШОСТИ ДШАМИЧЕСЮГО ДШУЗНО

ГО РАССЕЯНШ ЭЛЕКТРОНОВ И РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ В КРИСТАЛЛАХ С ДЕФЕКТАМИ.

2.1. Основные уравнения и амплитуда рассеяния.

2.2. Одноволновой случай дифракции: диффузный фон в одноволновом направлении.

2.2.1. Вычисление амплитуды диффузного рассеяния в различных представлениях.

2.2.2. Эквивалентность метода плоских волн и метода волновых мод

2.2.3. Сравнение с кинематической теорией.

2. 3. Одноволновой случай дифракции: диффузный фон в двухволновом направлении (линии Кикучи).

2.3Л. Вычисление амплитуды диффузного рассеяния . 57 2.3.2. Интенсивность линий и полос Кикучи при рассеянии в неупорядоченных твердых растворах . 64 2. 4. Выводы

131АВА 3. ИНТЕНСИВНОСТЬ ДШФУШОГО РАССЕЯНШ В ДВУХ

ВОЛНОВОМ СЛУЧАЕ ДШРАКЦИИ ПО БРЭГГУ.

3.1. Амплитуда диффузного рассеяния и потенциал кристалла, содержащего дефекты кулоновского типа

3.2. Поле упругих смещении дефекта кулоновского типа в ограниченном кристалле

3.3. Интенсивность диЩгзного рассеяния с учетом и без учета "сил зеркального изображения".

3.4. Профили интенсивности, изодиЗ&фузные линии и их связь с характеристиками дефектов.

3.5. Выводы.

ГЛАВА 4. ИНТЕНСИВНОСТЬ ДШФУШОГО РАССЕЯНШ В ДВУХ

ВОЛНОВОМ СЛУЧАЕ ДШРАКЦИИ ПО ЛАУЭ.

4.1. Вычисление интенсивности диффузного рассеяния

4.2. Зависимость профилей интенсивности ди|)фузного рассеяния от толщины кристалла и характеристик дефектов.

4.2.1. Случаи тонкого и толстого кристаллов. Эффект аномального прохождения диффузно рассеянных лучей

4.2.2. Вклады процессов внутриветвевого и мекветвевого рассеяний в профили интенсивности.

4.3. Изодлффузные линии и их характерные особенности, связанные с динамическими эффектами и характеристиками дефектов. III

4.3.1. Изоди|)фузше линии в плоскости, перпендикулярной к сильному брэгговскому лучу. III

4.3.2. ИзодЕффузные линии в плоскости рассеяния.

4. 4. Интенсивность ди!Фузного рассеяния в неупорядоченных твердых растворах.

4,5. Выводы.^.

Рекомендованный список диссертаций по специальности «Физика конденсированного состояния», 01.04.07 шифр ВАК

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Динамическая теория диффузного рассеяния излучений в кристаллах с дефектами кулоновского типа»

Актуальность темы. Неразрушакяцие методы исследования структуры реальных твердых тел представляют собой важную область физики твердого тела и играют все более весомую роль в современной технике. Особое место среди таких методов занимает рассеяние излучений (рентгеновских лучей, электронов, нейтронов), длина волны которых сравнима с межатомными расстояниями кристаллических структур. Наблюдаемые дифракционные и интерференционные картины в этом случае позволяют получать ценную информацию как о макроскопических характеристиках реальных кристаллов, так и о тонких деталях их атомного строения. При этом наиболее полную информацию о характеристиках дефектов кристаллов несет диффузное рассеяние.

Характер распределения интенсивности диффузного рассеяния, вид изодиффузных поверхностей, т.е. поверхностей равной интенсивности в пространстве обратной решетки, существенно зависит от типа дефектов, их положения в кристаллической решетке, закона упругого взаимодействия дефектов с атомами кристалла. Вследствие этого оказывается возможным проводить анализ типа дефектов и определять их характеристики по данным о диффузном рассеянии излучений. Теоретической базой для интерпретации наблюдаемых картин диффузного рассеяния и установления их связи с характеристиками дефектов служит кинематическая теория дифракции излучений в неидеальных кристаллах.

Кинематический подход справедлив в тех случаях, когда можно пренебречь многократным рассеянием и интерференционным взаимодействием волн, т.е. при исследовании достаточно несовершенных кристаллов, а также монокристаллов, толщина которых намного меньше длины экстинкции. Для исследования же почти совершенных монокристаллов произвольной толщины необходима динамическая теория диффузного рассеяния. Основы такой теории для монокристаллов с макроскопически однородно распределенными дефектами произвольного типа в настоящее время созданы. Получены общие выражения для интенсивностей диффузных волн и установлены в общем виде связи между распределением диффузного фона в условиях динамической дифракции и характеристиками дефектов.

Однако, для практической реализации возможностей динамической теории диффузного рассеяния в интерпретации экспериментальных результатов необходимы детальные аналитические выражения для интенсивности диффузного рассеяния в каждом конкретном случае дефектов. Наиболее важное место среди них в монокристаллических материалах для новой техники занимают дефекты кулоновского типа (точечные дефекты и их группы - включения, зародыши новой фазы, дислокационные петли малого радиуса) . Этим и обусловлена актуальность темы данной диссертационной работы.

Целью работы является развитие динамической теории диффузного рассеяния излучений в монокристаллах с дефектами кулоновского типа для случаев дифракции по Брэггу и по Лауэ.

Научная новизна. Разработана динамическая теория диффузного рассеяния излучений в случаях дифракции по Лауэ ( на просвет) и по Брэггу (на отражение).

Впервые в рамках динамической теории построены изодиф-фузные линии. Установлена и подробно исследована возможность их качественного и количественного отличия от соответствующих изолиний кинематической теории. Показана необходимость динамического рассмотрения при исследовании монокристаллов.

-7В рамках динамической теории проанализирована зависимость характерных особенностей изодиффузных линий, профилей интенсивности и линий Кикучи от параметров динамической дифракции и характеристик дефектов кулоновского типа в монокристаллах.

Практическая ценность. Полученные результаты положены в основу создания новых количественных методов исследования характеристик монокристаллов с дефектами кулоновского типа на базе рентгеновской дифрактометрии.

Основные положения, выносимые на защиту:

1. Разработанная в диссертации динамическая теория диффузного рассеяния излучений монокристаллами с хаотически распределенными дефектами кулоновского типа и построенные на ее основе изодиффузные линии устанавливают закономерности распределения интенсивности диффузного фона в существенно динамической области обратного пространства.

2. Распределение интенсивности диффузного рассеяния монокристаллами с хаотически распределенными дефектами кулоновского типа не только в непосредственной окрестности узлов обратной решетки, айв области на порядок и более превышающей ширину брэгговского пика, существенным образом качественно и количественно отличается от распределения, полученного в кинематической теории, и установленные динамические особенности этого распределения содержат дополнительную зависимость от характеристик дефектов.

3. В монокристаллах с хаотически распределенными дефектами кулоновского типа имеет место явление аномального прохождения диффузно рассеянного излучения, механизм возникновения которого более сложный по сравнению с известным эффектом Бормана для брэгговских лучей, а установленная в работе количественная зависимость описывающих его параметров от характеристик дефектов имеет качественно иной вид.

Апробация работы. Материалы диссертации были доложены на:

1. У Семинаре по дифракционным методам исследования искаженных структур (Иркутск,1981),

2. У1 Семинаре по дифракционным методам исследования искаженных структур (Ленинград,1982),

3. II Всесоюзном совещании по методам и аппаратуре для исследований когерентного взаимодействия излучения с веществом (Ереван, 1982),

4. I Республиканском семинаре по изучению радиационных и технологических дефектов в полупроводниковых кристаллах дифракционными методами (Киев, 1982),

5. X Бакурианской школе по радиационной физике металлов и сплавов (Бакуриани, 1983).

Основное содержание диссертации опубликовано в следующих работах;

1. Молодкин В.Б., Олиховский С.И., Осиновский М.Е. Динамическая теория диффузного рассеяния рентгеновских лучей и электронов в твердых растворах /Тезисы докладов У Семинара по дифракционным методам исследования искаженных структур. -Иркутск, 1981, с. 42-43.

2. Молодкин В.Б., Олиховский С.И;, Осиновский М.Е. Динамические эффекты при диффузном рассеянии излучений в кристаллах с хаотически распределенными дефектами. - Киев, 1981, -46 с. - (Препринт / АН УССР, Ин-т металлофизики; 13.81)

3. Молодкин В.Б., Олиховский С.И., Осиновский М.Е. Динамические эффекты дифракции рентгеновских лучей в кристаллах с хаотически распределенными дефектами кулоновского типа / Тезисы докладов II Всесоюзного совещания по методам и аппаратуре для исследований когерентного взаимодействия излучения с веществом. - М., 1982, с. 35 - 36.

4. Молодкин В.Б., Олиховский С.И., Осиновский М.Е. Влияние сил зеркального изображения на когерентные динамические эффекты диффузного рассеяния / Тезисы докладов II Всесоюзного совещания по методам и аппаратуре для исследований когерентного взаимодействия излучения с веществом. -М., 1982, с.37 - 38.

5. Молодкин В.Б., Олиховский С.И., Осиновский М.Е. Динамическая теория диффузного рассеяния рентгеновских лучей и электронов в кристаллах, содержащих дефекты кулнновского типа. - Металлофизика, 1983, 5, № I, с. 3 - 15.

6. Молодкин В.Б., Олиховский С.И., Осиновский М.Е. Динамическая теория диффузного рассеяния излучений в кристаллах с дефектами кулоновского типа (лауэ-дифракция). - Металлофизика, 5, № 5, с. 3 - II.

7. Молодкин В.Б., Олиховский С.И., Осиновский М.Е. О применении диффузного рассеяния рентгеновских лучей для исследования структурного совершенства монокристаллов. - Металлофизика, 1983, 5 , № б, с. 112 - 114.

Структура и объем диссертации. Диссертация состоит из введения, четырех глав, заключения и списка цитируемой литературы. Работа изложена на 147 страницах машинописного текста, включающего 22 рисунка и список цитируемой литературы из 118 наименований.

Похожие диссертационные работы по специальности «Физика конденсированного состояния», 01.04.07 шифр ВАК

Заключение диссертации по теме «Физика конденсированного состояния», Олиховский, Степан Иосифович

4.5. Выводы

Получены выражения для амплитуды и интенсивности диффузного рассеяния на кристаллах с хаотически распределенными дефектами кулоновского типа в двухволновсм случае дифракции по Лауэ.

Найденные выражения для интенсивности диффузного рассеяния в о!фестности нулевого и й-го узлов обратной решетки состоят из слагаемых, обусловленных процессами внутри- и межветвевого рассеяний, и интенрференционных слагаемых.

Выполнен сравнительный анализ вкладов процессов межветвевого и внутриветвевого рассеяния в профили суммарной интенсивности диффузного рассеяния в упруго изотропном кристалле и показано принципиальное отличие этих вкладов от рассмотренных Такаги в случае теплового диффузного рассеяния.

При точном брэгговском направлении падающего луча вклад процессов межветвевого рассеяния дает два максимума, разделенных провалом в узле обратной решетки. Вклад процессов внутриве^твевого рассеяния дает один максимум в узле обратной решетки.

В случае тонкого кристалла доминирует вклад процессов межветвевого рассеяния и суммарный профиль интенсивности может оказаться двухгорбым. В случае толстого кристалла преобладает вклад процессов внутриветвевого рассеяния и суммарный профиль имеет одинарный максимум в узле обратной решетки.

Показано резкое возрастание с толщиной отношения интенсивности диффузного рассеяния к ее кинематическому пределу в щ широком интервале отклонения диффузно рассеянного луча от точного брэгговского направления в случае лауэ-дифракции. Предсказан и количественно описан эффект аномального прохождения диффузно рассеянных лучей в толстых поглощающих кристаллах с дефектами кулоновского типа. Установлена связь параметров эффекта с характеристиками дефектов кристалла.

Построены изодиффузные линии в плоскости рассеяния. Наиболее характерной чертой изодиффузных линий в плоскости рассеяния является то, что они вытянуты вдоль прямых, которые соответствуют выполнению условия Брэгга соответственно для падающего и диффузно рассеянного лучей. Для дасталлов малой и промежуточной толщин изолинии состоят из двух лепестков, между которыми через узел обратной решетки проходит линия пониженной интенсивности. Изолинии етущаются к двум максимумам, расположенным по разные стороны от узла обратной решетки вдоль вектора дифракции. При болших толщинах кристалла изолинии еще сильнее деформируются по сравнению с кинематическими, которые в рассмотренном случае упруго изотропного континуума имеют вид соприкасающихся окружностей, и сгущаются к одному максимуму, находящемуся в узле обратной решетки.

Проведено рассмотрение интенсивности динамического диффузного рассеяния в монокристаллах бинарных твердых растворов. Полученные формулы дозволяют вычислять, по аналогии с кинематической теорией, параметры корреляции и энергии упорядочения твердого раствора методом обратного фурье-преобразования экспериментально измеренной и перенормированной с учетом динамических эффектов интенсивности диффузного рассеяния.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

1. Разработана динамическая теория диффузного рассеяния излучений в монокристаллах с хаотически распределенными дефектами кулоновского типа. Получены аналитические выражения для интенсивности диффузного рассеяния в случаях дифракции по Лауэ и по Брэггу.

2. Впервые в рамках динамической теории построены изолинии интенсивности диффузного рассеяния.

Установлена и подробно исследована возможность существенных качественных и количественных отличий динамических изодиффузных линий и профилей интенсивности диффузного рассеяния от соответствующих изолиний и профилей кинематической теории. Эти отличия проявляются в окрестности узлов обратной решетки, превышающей на порядок и более ширину брэгговского пика. Тем самым показана принципиальная необходимость динамического рассмотрения при исследовании диффузного рассеяния в почти совершенных монокристаллах с дефектами кулоновского типа.

3. Проанализированы изодиффузные линии, построенные как в плоскости рассеяния, так и в плоскости, перпендикулярной к сильному брэгговскому лучу.

Динамические изодиффузные линии в плоскости рассеяния сильно вытянуты вдоль тех направлений в пространстве обратной решетки, которые соответствуют точному выполнению условия Брэгга для падающего или диффузно рассеянного лучей.

Форма изодиффузных линий в плоскости, перпендикулярной к сильному брэгговскому лучу, существенно зависит от величины и знака отклонения падающего луча от условия Брэгга и в случае брэгг-дифракции дополнительно характеризуется обусловленной экстинкцией полосой пониженной интенсивности, ширина которой прямо пропорциональна статическому фактору Дебая-Валлера.

4. Дано количественное описание экстинкционного провала в профиле интенсивности диффузного рассеяния, экспериментально обнаруженного ранее Дедерихсом и др. для монокристалла меди с радиационными дефектами.

5. Исследовано влияние."сил зеркального изображения" дефектов кулоновского типа на интенсивность диффузного рассеяния. Показано, что учет сил зеркального изображения в случае брэгг-дифракции на порядок усиливает интенсивность диффузного рассеяния в динамической области, а в случае лауэ-дифракции к заметным изменениям интенсивности не приводит.

6. Для случая лауэ-дифракции выполнен сравнительный анализ вкладов процессов межветвевого и внутриветвевого рассеяния в профили суммарной интенсивности диффузного рассеяния в упруго изотропном кристалле и показано принципиальное отличие этих вкладов от расмотренных Такаги в случае теплового диффузного рассеяния.

При точном брэгговском направлении падающего луча вклад процессов межветвевого рассеяния дает два максимума, рахделенных провалом в узле обратной решетки. Вклад процессов внутриветвевого рассеяния дает один максимум в узле обратной решетки.

В случае тонкого кристалла доминирует вклад процессов межветвевого рассеяния и суммарный профиль интенсивности может оказаться двухгорбым. В случае толстого кристалла преобладает вклад процессов внутриветвевого рассеяния и суммарный профиль имеет одинарный максимум в узле обратной решетки.

7. Показано резкое возрастание с толщиной отношения интенсивности диффузного рассеяния к ее кинематическоу пределу в широком интервале отклонения диффузно рассеянного луча от точного брэгговского направления в случае лауэ-дифрак-ции. Предсказан и количественно описан эффект аномального прохождения диффузно рассеянных лучей в толстых поглощающих кристаллах с дефектами кулоновского типа. Установлена связь параметров эффекта с характеристиками дефектов кристалла.

8. Исследована толщинная зависимость кикучи-линий, образующихся на упругом диффузном фоне.

Проведено сравнение кикучи-линий, формирующихся процессами упругого и неупругого диффузного рассеяния. Показана возможность обращения контраста реально наблюдаемых кикучи-линий по мере приближения к узлу обратной решетки при постоянной толщине кристалла из-за преобладания вклада упругого рассеяния на статических искажениях, создаваемых дефектами кулоновского типа, над вкладом неупругого рассеяния.

9. Проведено рассмотрение интенсивности динамического диффузного рассеяния в монокристаллах бинарных твердых растворов. Полученные формулы позволяют вычислить, по аналогии с кинематической теорией, параметры корреляции и энергии упорядочения твердого раствора методом обратного фурье-преобразования экспериментально измеренной и перенормированной с учетом динамических эффектов интенсивности диффузного рассеяния.

Список литературы диссертационного исследования кандидат физико-математических наук Олиховский, Степан Иосифович, 1984 год

1. Джеймс Р.,Оптические принципы .дифракции рентгеновских лу-. чей . -М.: Изд-во иностр. лит., 1950. ^572 с.

2. ГиньеА. Рентгенография кристаллов. М.: Физматгиз, I96X.-. 604 с.

3. Кривоглаз М.А. Теория рассеяния рентгеновских.лучей и тепловых нейтронов реальными кристаллами. М.: Наука,1967. 336, с.

4. Иверонова В.И.,.Ревкевич Г.П. Теория рассевяния рентгенов, ских лучей. М.: Изд-во МГУ, 1978. - 277 с.

5. Каули Дж. Физика дифракции. М.: Мир, 1979. - 431 с.

6. Кривоглаз М.А. Дифракция рентгеновских лучей и нейтронов в неидеальных кристаллах. Киев: Наук, думка, 1983.408 с.

7. Пинскер З.Г. Дифракция электронов. М.-Л.: Изд-во АН СССР, 1949. - 404 с.

8. Электронная микроскопия тонких-кристаллов / П.Хирш, А.Хо-ви, Р.Николсон и др. М.: Мир, 1968. - 576 с.

9. Bethe Н. Theorie der Beugung von Elektronen an Kristallen.-Ann. cL. Phys.) 1928 , 82, N I, S.55-129.

10. Zachariasen W.H. Theory of X-ray diffraction in crystals.-New lorki Wiley, 1945. 255 p.

11. Laue M. Rontgenstrahlinterferenzen. Leipzig: Akad. Verl., 1948. - 410 S.

12. Sears V.P. Dynamical theory of neutron diffraction. -Can. J. Phys., I97Ö, ¿6, N 10, p.1261-1277.

13. X-ray diffraction / L.V.Azaroff, R.Kaplow, N.Kato, R.J.Weiss, A.J.C.Wilson, R.A.Young. New York: Mc Graw-Hill, 1974* - 652 p.

14. Dynamische Interferenztheorie. Grundlagen und Anwendungen bei Röntgenstrahlung, Elektronen und Neutronen / Samml. von Beitr., herausg. von O.Brümmer, H.Stephanik. Leipzig; Akad. Verl.,-1976.-.- 376 S. . .

15. Пинскер 3.Г.Рентгеновская кристаллооптика. М.: Наука,1982. 392 с. . . .19. йрямфе методы исследования, дефектов в.кристаллах,/.Сб. статей под ред. А.М.Елистратова. М.: Мир, 1965. 352 с. .

16. Инденбом В.Л., Чуховский Ф.Н. Проблемы-изображения в рентгеновской оптике. УФН, 1972, 107 , вып.2, с.229'265»" . , . . . Г 7 "Г,.■.:. . . .

17. Инденбом В.Л., Каганер В.М. Дифракционная нейтронная оптика. Металлофизика, 1979, I, № I, с.17-332.

18. Инденбом В.Л., Чамров В.А. Однолучевая электронная микроскопия. Кристаллография, 1980, 25, № 3, с.465-472.

19. Каганер В.М. Формирование изображений в лучевой и дифракционной оптике рентгеновских блоховских волн: Автореф. дис. . канд. физ.-мат. наук. М, 1984. - 16 с.

20. Ohtsuki Y.H. temperature dependence of X-ray absorption by crystals. II. Direct phonon absorption. J. Phys. Soc. Japan, 1965, 20, N 3, p.374-380.

21. Hall C.R., Hirsch P.B. Effect of thermal diffuse scattering on propagation of high energy electrons through crystals. Proc. Hoy. Soc., 1965, 286. Ж 1405, p.I58-I77.

22. Ohtsuki Y.H. Effects of lattice vibration on dynamical diffraction of electrons and X-rays. J. Phys. Soc. Japan, 1966, ¿1, N II, p.2300-2306.

23. Чуховский Ф.Н. К динамической дифракции быстрых электронов в идеальном колеблющемся кристалле. Кристаллография, 1968, 13, вып.6, с.960-968.

24. Молодкин В.Б., Тихонова Е.А. Влияние диффузного рассеяния на эффект Бормана. ФММ, 1967, 24, вып.З, с. 385 -394.

25. Молодкин В.Б., Тихонова Е.А. Влияние упорядочения на эффект Бормана. ФММ, 1968, вып.6, с.987-995.

26. Dederichs P.H. Dynamical scattering theory for crystals with point defects* Phys. status solidi, 1967,1. N I, p.377-386.

27. Dederichs P.H. Effect of defect clustering on anomalous X-ray transmission. Phys. Hev. B, 1970, I, S 4,1. P.I3O6-I3I7.

28. Dederichs P.H. Dynamical diffraction theory by optical potential methods. Solid State Phys., 1972, Д2»p.135-236.4.1. Batterman B.W. Дп effect dynamical diffraction in fluorescent X-ray scattering. -Appl.Phys.Lett.,1962,1,p.68-69.

29. Batterman B.W. Effect of dynamical diffraction in X-ray fluorescence scattering. -Phys. Eev. A, 1964, 155. N 3, p.759-764.

30. Annaka S,, Kikuta S., Kohra K. Intensity anomaly of X-ray Compton and thermal scattering accompanying the Bragg reflections from perfect Si and Ge crystals. -J. Phys. Soc. Japan, I966, 21, U 8, р.ВД9-1564.

31. Annaka S. Intensity anomaly of fluorescent X-ray emission accompanying the Laue case reflection from a perfect crystal. J. Phys. Soc. Japan, 1967, 22, N 2,p.372-577.

32. Miyake S., Hayakawa K., Miida R. Variation of emission yield of X-rays from crystals with diffraction conditions of exiting electrons. Acta Crystallogr. A, 1968, 24,1. I, p.182-191.

33. Annaka S. Direction dependence of the intensity anomaly of the X-ray thermal scattering accompanying the Bragg case reflection. J. Phys. Soc. Japan, 1968, N 6, p.1332-1337.

34. Batterman B.W. Detection of foreign atoms by their X-ray fluorescence scattering. Phys. Rev. Lett., 1969» 2g,

35. Golovchenko J.А., Вatterman B.W., Brown W.L. Observation of internal X-ray wave fields daring Bragg diffraction with an application to impurity lattice location.

36. Phys. Rev. B, 1974, 10, p.4259-4245.

37. Kikuta S.K., Takahashi T., Tuzi I. Variation of the Yield of electron emission from a silicon single crystal with the diffraction condition of exiting X-rays. Phys. Lett. A, 1975, 50, p.455-454.

38. Шгисадо P. Use of dynamical diffraction effects on. X-ray to determine the polarity of GaP single crystals. Phys. Kev. B, 1976, 12, p.2524-2551.

39. Афанасьев A.M., Кон В.Г. Внешний фотоэффект при дифракции рентгеновских лучей в кристаллах с нарушенным поверхностным слоем. ЖЭТФ, 1978, 74, вып.1, с.300-313.

40. Исследование тонких кристаллических слоев полупроводниковых материалов / А.М.Афанасьев, Б.Г.Захаров, P.M.Имамов и др. Электрон, пром-сть, 1980, вып.П/12, с. 4755.

41. Kohn V.G., Kovalch.uk M.V. On the theory of external photo effect accompanying X-ray diffraction in an ideal crystal with disturbed surface layer. Phys. status solid! A,1981, 64, N I, p.359-366.

42. Takagi S. On the temperature diffuse scattering of electrons. I. Derivation of general formulae. J. Phys. Soc. Japan, 1958, il, N 2, p.278-286.

43. Eakagi S. On the temperature diffuse scattering of electrons. II. Applications to practical problems. J. Phys. Soc. Japan, 1958, I^, И 3, p.287-296.

44. Тихонова E.A. Основные уравнения динамической теории рассеяния рентгеновских лучей для несовершенных кристаллов. ФТТ, 1967, 9, вып.2, с.516-525.

45. O'Connor D.A. The dynamical theory of the interaction of X-rays and neutrons with phonons. Proc. Phys. Soc., 1967, SL* N 574-, p.917-927.

46. Основные уравнения динамической теории рассеяния в кристаллах с дислокациями / И.М.Дубровский, В.Б.Молодкин, Л.В.Тихонов, Е.А.Тихонова. ФММ, 1969, 27, вып.1, с.2126.-. . .

47. Молодкин В.Б. Классификация дефектов кристалла по их влиянию на дифракцию излучений.в радках динамической теории рассеяния. .- Киев, 1976.- 44 с. (Препринт /

48. АН. УССР. Ин-т металлофизики; 76.4).

49. Щолодкин В.Б. Динамическая теория диффузного рассеяния кристаллами .с.хаотически.распределенными дефектами. -Металлофизика, 1981, 3, № 4, с.27-38.

50. Olekhnovich. N.M., Olekhnovich A.I. Dynamic effects of diffuse X-ray scattering near Bragg reflections. Phys. status solidi A, 1981, 62, N 2, p.-427-433.

51. Pujimoto F., Kainuma Y. Inelastic scattering of fast electrons by thin crystals. J. Pbys. Soc. Japan, 1963, 18, N 12, p.1792-1804.73* Ishida K. Inelastic scattering of fast electrons by crystals. J. Phys. Soc. Japan, 1970, 28, К 2, p.430-437.

52. Ishida K. Inelastic scattering of fast electrons by crystals. II. Che excess and defect Kikuchi bands. J. Phys. Soc. Japan, 1971» ¿0, Я 5i p. 1439-1448,

53. Dederichs P.H. The theory of diffuse X-ray scattering and its application to study of point defects and their clusters. J. Phys. Ft Metal Phys., 1973, N 2,p.471-496. . .

54. Кривоглаз M.A. Применение рассеяния рентгеновских лучей и тепловых нейтронов для исследования несовершенств в кристаллах., В.кн.: Металлы, электроны, решетка.

55. Киев: Наук.думка, 1975, с.355-386. . .

56. Рябошапка. К.П. Кинематическая теория, рассеяния рентгеновских лучей в твердых телах, содержащих различные дислокационные структуры:, Автореф. дис. . докт. физ.мат. наук. -.Киев, .1981. 28 с. . .

57. Мартыненко О.В. Теория рассеяния рентгеновских.лучей кристаллами, содержащими дислокационные структуры с, корреляцией: Автореф. дис. . канд. физ.-мат. наук. -Киев, 1981. 16 с.

58. Ehrhart P., CCrinkaus Н., Larson B.C. Diffuse scattering from dislocation loops. Phys. Rev. B, 1982, p.834-848.

59. Miyake S., Kohra K., Takagi M. The nature of the specular reflection of the electrons from a crystal surface. ■ Acta Crystallogr., 1954-, 2, N 5, p.393-401.

60. Eisenberger P., Alexandropoulos N.G., Platzman P.M.-xay Brillouin scattering. Plays. Bev. betters, 1972, 28, N 25» p.1519-1522.

61. Q5e Bez P«t Humphreys C.J., Whelan M»J. The distribution of intensity in electroh diffraction patterns due to phonon scattering. Phil. Mag. , 1977» 15» H 1, p.81-96.

62. Kashiwase y., Kainuma y., Minoura M. Observation of a diffraction pattern caused by thermal diffuse scattering of X-rays. J. Phys. Soc. Japan, 1981, ¿0, N 9, p.2793-2794.

63. Siems A. Quantitative Untersuchungen an Kikuchi-Struktu-ren. II. Termisch diffuse Streuung. Phys. status soli-di A, 1978, ¿6, U 2, p.697~709.

64. Барабаш Р.И., Кривоглаз М.А. 0 рентгенографическом исследовании дефектов кулоновского типа в слабо искаженных кубических кристаллах. Металлофизика, 1979, № I, с. 33 - 51.

65. Барабаш Р.И., Кривоглаз М.А. 1^еории рассеяния рентгеновских лучей и тепловых нейтронов сильно искаженными кристаллами, содержащими дислокационные петли. Металлофизика, 1982, 4, № 3, с. 3-10.

66. Барабаш Р.И., Кривоглаз М.А. К теории рассеяния рентгеновских лучей стареющими сплавами. Металлофизика, 1983, 5, № I, с. 100 - 108.91. barson B.C., Schmatz W. Huang diffuse scattering from dislocation loops and cobalt precipitates in copper.

67. Phys. Eev. B, 1974, 10, К 6, p.2307-2314.

68. Ii&a A., Kohra K. Separate measurements of dynamical and kinematical X-ray diffraction from silicon crystals with a triple crystal diffractometer. -Phys. status solidi A, 1979, ¿1, И 2, p.533-542.

69. Iida A. Applications of X-ray triple crystal diffracto-metry to studies on the diffusion-induced defects in silicon crystals. Phys. status solidi A, 1979»1. U 2, p.701-706.

70. Трехкристальная рентгеновская дифрактометрия в исследовании тонких нарушенных слоев / Афанасьев A.M., Ко-вальчук М.В., Лобанович Э.Ф. и др. Кристаллография,1981, 26, вып.I, с. 28 35.

71. Fingerland A. Das Dreikristalldiffraktometer eine Einleitung zur Theorie. - Ins Dynamische Interferenztheorie. Leipzig: Akad. Verl., 1976, S.162-164.

72. Godwod K.J. Dreikristallrontgenspéktrometer. Iiiï Dynamische Interferenztheorie. Leipzig:'Akad. Verl., 1976,1. S.165-180.

73. Кривоглаз M.А. Влияние геометрических искажений на распределение интенсивности фона на рентгенограмме или нейтронограмме. ЗМ, 1959, 8, вып.4, с. 514-530.

74. Александров П.А., Афанасьев A.M., Мелконян М.К. Феория рассеяния рентгеновских лучей кристаллом с дефектами поверхности. Кристаллография, 1981, 26, вып.6,с. 1275 1281.

75. Мелконян М.К. Рентгенодифракционные методы исследования тонких поверхностных слоев : Автореф. дис. . канд. физ.-мат. наук. Аштарак, 1983, - 16 с.

76. ЮЗ. Thomas J.E., Baldwin Т.О., Dederichs Р.Н. Diffuse X-ray scattering in fast-neutron-irradiated copper crystals.-Phys. Rev. Б, 1971, 1» N 4, p.1167~1173.

77. Молодкин В.Б. Классификация дефектов кристалла по их влиянию на дифракцию излучений в рамках динамической теории рассеяния. I. Когерентное рассеяние. Металлофизика, 1980, 2, № I, с. 3-24.

78. Meyer-EJimsen G., Siems A. Contribution of plasmon and quasi-elastic scattering to the Kikuchi structures of Si. Measurement and comparison with the dynamical theory. Phys. status solidi B, 1974, 6£, S 2, p.577-586.

79. Siems A. Quantitative Untersuchungen an Kikuehi-Struk-turen. I. Energieanalyse von Intensitätsprofilen. -Phys. status solidi A, 1978, jj^, H 2,p.621-628.

80. Молодкин В.Б., Олиховский С.И., Осиновский М.Е. Динамические эффекты при диффузном рассеянии излучений в кристаллах с хаотически распределенными дефектами. -Киев, 1981. Препринт / АН УССР, Ин-т металлофизики

81. Klimanek Р. Grundlagen der dynamischen Theorie der Elektronenbeugung und ihre Beziehungen zur Theorie der Böntgenstrahlinterferenzen. Ins Dynamische Interferenztheorie. beipzig:Akad.Verl.,1976, S.281-291.

82. HO. Барышевский В.Г. Ядерная оптика поляризованных сред. -Минск: Наука и техника, 1976.

83. Гольдбергер М., Ватсон К. Теория столкновений. Мир, 1967. - 824 с.

84. Ахиезер А.И., Берестецкий В.Б. Квантовая электродинамика. М.: Наука, 1969. - 624 с.

85. Молодкин В.Б., Олиховский С.И., Осиновский М.Е. Динамическая теория диффузного рассеяния рентгеновских лучей и электронов в кристаллах, содержащих дефекты кулоновского типа. Металлофизика, 1983, 5, № I, с. 3-15.

86. Ландау Л.Д., Лнриц Е.М. Теория упругости. М. : Гос. изд-во физ.ниат. лит., 1954

87. Молодкин В.Б., Олиховский С.И., Осиновский М.Е. Динамическая теория диффузного рассеяния излучений в кристаллах с дефектами кулоновского типа (лауэ-дифракция). -Металлофизика, 5, № 5, с. 3 II.

88. Молодкин В.Б., Олиховский С.И., Осиновский М.Е. О применении диффузного рассеяния рентгеновских лучей для исследования структурного совершенства монокристаллов. -Металлофизика, 1983, 5, .№ 6, с. 112 114.

Обратите внимание, представленные выше научные тексты размещены для ознакомления и получены посредством распознавания оригинальных текстов диссертаций (OCR). В связи с чем, в них могут содержаться ошибки, связанные с несовершенством алгоритмов распознавания. В PDF файлах диссертаций и авторефератов, которые мы доставляем, подобных ошибок нет.