Динамические эффекты в диффузном рассеянии тепловых нейтронов на малодислокационных кристаллах германия тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 01.04.22, кандидат физико-математических наук Эйдлин, Андрей Олегович

• Эйдлин, Андрей Олегович
• кандидат физико-математических наук
• 1996

Оглавление диссертации кандидат физико-математических наук Эйдлин, Андрей Олегович

Введение

1. Кинематическая и динамическая теории рассеяния

1.1. Элементы кинематической теории рассеяния на кристаллах

с дефектами

1.2. Основные положения и некоторые результаты динамической теории дифракции на идеальных кристаллах

1.3. Некоторые результаты по исследованию рассеяния на слабо искаженных кристаллах

2. Экспериментальная база - универсальный нейтронный диф-рактометр

2.1. Описание установки

2.2. Аттестация прибора

3. Методические работы, выполненные при подготовке экспериментов

3.1. Изготовление и аттестация высокоэффективных германиевых монохроматоров

3.2. Метод контроля макроскопических деформаций монокристаллов

4. Исследование диффузного рассеяния на малодислокационных кристаллах Се

4.1. Изучение диффузного рассеяния методом брэгговской секционной топографии

4.2. Исследование формы инструментальной линии трехкрис-тального нейтронного спектрометра

4.3. Наблюдение аномальных динамических распределений интенсивности диффузного рассеяния в импульсном пространстве

Выводы и результаты, выносимые на защиту

Литература

- г -

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Динамические эффекты в диффузном рассеянии тепловых нейтронов на малодислокационных кристаллах германия»

Введение.

Методы, основанные на дифракции излучения, в частности, нейтронного, относятся к числу неразрушающих и наиболее распространенных и эффективных при изучении структуры кристаллов, а также различных искажений кристаллической решетки, вызванных наличием дефектов. Известно, что дефекты структуры приводят к изменению интенсивности брэгговского (когерентного) рассеяния. Помимо когерентной компоненты в рассеянном излучении присутствует и некогерентная (диффузная) составляющая, зависящая от типа, концентрации и ориентации дефектов. Методики, связанные с изучением диффузного рассеяния (ДР) рентгеновских лучей и электронов, широко используются для изучения микродефектов в кристаллах: точечных дефектов (атомы замещения, внедрения, вакансии), протяженных дефектов (дислокации, дислокационные петли), трехмерных дефектов (кластеры, включения второй фазы) и др. Существенно в меньшей мере развиты методы, основанные на анализе ДР тепловых нейтронов.

В настоящее время можно считать созданной (в основном усилиями Кривоглаза и Дедерихса) кинематическую теорию рассеяния. Эта теория применима к кристаллам, для которых их характерный размер или размер блоков мозаики много меньше длины экстинкции, а также к сильно нарушенным кристаллам, в которых размеры областей когерентного рассеяния малы по сравнению с длиной экстинкции. В рамках кинематической теории пренебрегается оттоком части энергии первичного пучка в когерентный дифрагированный пучок и в диффузную компоненту рассеяния. Кроме того, не учитывается эффект дифракции диффузного излучения в кристалле.

В связи с практическими задачами исследования достаточно толстых почти совершенных полупроводниковых монокристаллов, яв-

ляющихся элементной базой многих современных отраслей промышленности, возникла необходимость развития динамической теории рассеяния, учитывающей выше перечисленные явления. В этой, находящейся в стадии становления, теории применяются подходы, развитые в динамической теории дифракции на кристаллах с идеальной "замороженной" решеткой, а также результаты кинематической теории, связанные, например, с расчетами полей смещений атомов, методами усреднения по конфигурации дефектов и т. д. При падении излучения вблизи от угла Брэгга для не очень сильно искаженного кристалла в результате интерференции вторичных волн, рассеянных различными ядрами, результирующая амплитуда рассеянной волны может стать сравнимой с амплитудой падающей. При этом становятся существенными многократное рассеяние излучения, интерференция падающей волны с дифрагированной и волнами, рассеянными диффузным образом, постепенная перекачка интенсивности проходящей волны в дифрагированную и диффузную волны. В результате в кристалле образуется единое самосогласованное волновое поле, в котором различные парциальные волны играют равноправную роль, и только геометрия эксперимента позволяет выделить рассеянное излучение. Перечисленные выше явления приводят с одной стороны к модификации известных динамических эффектов для когерентной составляющей отраженного пучка, а с другой - к появлению различных динамических (когерентных) явлений в ДР.

В настоящее время динамическая дифракция на искаженных кристаллах еще недостаточно изучена экспериментально, что обусловлено рядом методических трудностей, связанных, например, с корректным выделением диффузной составляющей на фоне мощного когерентного излучения. При этом подавляющее большинство исследований выполнено с использованием рентгеновского излучения. Акту-

альносшь работ состоит в том, что, во-первых, экспериментальные результаты исследований динамической дифракции, в частности, динамических эффектов в ДР, необходимы для дальнейшего развития теории, которая, как упоминалось выше, находится в стадии разработки. Во-вторых, такие исследования имеют существенное прикладное значение при изучении дефектов в кристаллах, т.к., например, при изучении ДР динамические эффекты могут приводить не только к количественным, но и к качественным изменениям картины рассеяния по сравнению со случаем кинематического рассеяния.

В связи с этим цель работы состояла в поиске и исследовании динамических эффектов в ДР тепловых нейтронов на слабо искаженных малодислокационных кристаллах.

Научная новизна. Предложено использовать метод брэгговской секционной топографии при исследовании ДР на кристаллах с дефектами. Достоинством метода является возможность пространственного разделения динамической (когерентной) и диффузной (некогерентной) составляющих рассеянного излучения. Предложенная методика позволяет проводить прямые измерения таких интегральных характеристик кристаллов с дефектами, как показатель степени статического фактора Дебая-Валлера и линейный коэффициент ослабления первичного излучения, связанного с диффузным рассеянием.

Проведено исследование ДР нейтронов на малодислокационных кристаллах Се методами трехкристального нейтронного спектрометра и брэгговской секционной топографии. Наблюдались динамические эффекты в диффузном рассеянии нейтронов: экстинкция и интерференционное поглощение диффузного рассеяния. Впервые наблюдались интерференционные полосы в пространственном распределении интенсивности диффузного рассеяния. Предложена модель, объясняющая возможный механизм наблюдаемой интерференции.

Практическая значимость работ. Как показано в работе, благодаря проведенной аттестации способа изготовления монохрома-торов тепловых нейтронов, появилась возможность изготовления высокоэффективных монохроматоров с контролируемым значением угловой ширины кривой отражения.

Использованный в работе способ контроля деформаций монокристаллов может быть полезен при исследовании макроскопических деформаций толстых монокристаллов, для которых оказываются неприменимыми рентгеновские методы.

Разработанный способ исследования ДР на кристаллах с дефектами, основанный на пространственном разделении когерентной и диффузной компонент дифрагированного излучения, открывает новые возможности при исследовании нарушений структуры кристаллов. В частности, с его помощью можно изучать распределение дефектов по объему кристаллов и определять значение статического фактора Де-бая-Валлера для различных областей образца.

Основные положения, выносимые на защиту.

1. Проведен статистический анализ работы универсального нейтронного дифрактометра. Аттестация прибора показала, что с его помощью можно проводить надежные воспроизводимые измерения с помощью методик, требующих создания многокристальных спектрометрических схем с использованием почти совершенных кристаллов.

2. Проведена аттестация способа изготовления высокоэффективных германиевых монохроматоров.

3. Предложено использовать метод брэгговской секционной топографии при исследовании диффузного рассеяния на кристаллах с дефектами. Эта методика позволяет проводить прямые измерения таких интегральных характеристик кристаллов с дефектами, как показатель степени статического фактора Дебая-Валлера и линейный ко-

- б -

зффициент ослабления первичного излучения за счет диффузного рассеяния.

4. Наблюдались динамические (когерентные) явления в диффузном рассеянии нейтронов на малодислокационных кристаллах германия: эффект экстинкции диффузного рассеяния на средней решетке, интерференционное поглощение диффузного рассеяния и динамические аномалии в импульсном распределении интенсивности диффузного рассеяния, в частности, связанные с эффектом экстинкции. Впервые наблюдался такой интересный эффект, как интерференционные полосы в пространственном распределении интенсивности диффузного рассеяния. Предложена модель, объясняющая возникновение интерференционных полос.

Апробация. Основные результаты диссертации докладывались на Совещаниях по использованию нейтронов в физике твердого тела (Юрмала-1985, Екатеринбург-Заречный-1993, Гатчина-1995), на XV Всесоюзном совещании по использованию исследовательских ядерных реакторов (Обнинск-1988), на Уральской Школе по использованию рассеяния нейтронов в физике конденсированного состояния (Свердловск-Заречный- 1989), на Международной конференции по нейтронной физике (Киев-1987).

Публикации. Основное содержание диссертации изложено в 9 печатных работах, список которых приведен в конце автореферата.

Объем работ. Диссертация состоит из введения, четырех глав, заключения и списка литературы. Работа изложена на 132 страницах машинописного текста, включая 29 рисунков, 71 наименование литературы.

1. Кинематическая и динамическая теории рассеяния. 1.1. Элементы кинематической теории рассеяния на кристаллах с дефектами.

При написании этого параграфа в основном использовались подходы и результаты, изложенные в монографии [1] и в работах [2-31.

Для упрощения рассмотрим случай кристалла с одним атомом в элементарной ячейки. При отсутствии поглощения ядерное взаимодействие нейтронов с искаженным кристаллом описывается в форме известного так называемого псевдопотенциала Ферми

2КЪ2Ъ N - -

у(И)=- Еаон*<-1ц). (1)

т 1=\

Здесь ш - масса нейтрона, 1 - номер ядра, когерентная длина рассеяния которого обозначена как Ь, N - число ядер в кристалле, ^

- вектор, характеризующий правильное положение ядра в средней однородно деформированной по сравнению с идеальной решетке, а

- смещение ядра из этого положения. В соответствии с теорией возмущений в первом борновском приближении дифференциальное сечение упругого рассеяния излучения кристаллом можно записать как:

»2

ш

6(0)-

4П2}!4

У(Юехр(10гМг

СН^-кп, (2)

где к0 и к3 - соответственно волновые вектора падающей и рассеянной волн, а интегрирование ведется по всему объему кристалла. При подстановке (1) в (2) получаем:

б(2)=Ь2<

N N 2

Е Е ехрШШ^+иц -щ )> ¿=1 0=1

>. (3)

В (3) знак <...> означает усреднение по всем возможным микроскопическим конфигурациям дефектов. При больших расстояниях между ядрами 1 и о их положения в решетке не коррелируют друг с другом, поэтому усреднение по 1 и о может быть произведено отдельно. Тогда при выполнении условия 2=2, где 3 - вектор обратной решетки, получаем для брэгговских рефлексов следующее выражение:

6В(С1)=1Г < £ ехрШШ^+иц )}> 1=1

Это выражение можно привести к следующему виду [13

(2л;)3

(4)

бв (0) =ехр(-2Ьл)Ь N - 5 8 (СИЗ). (5)

V, С

где Ус - объем кристалла, а ехр(-2Ьд) - статический фактор Де-бая-Валлера. Таким образом, по сравнению со случаем идеального кристалла наличие дефектов приводит с одной стороны к смещению брэгговских рефлексов, а с другой - к их ослаблению на фактор Дебая-Валлера, обусловленный флуктуациями статических смещений ц,:. Статический фактор Дебая-Валлера определяется аналогично тепловому:

ехр(-Ьд)=<ехр(15и1 )>. (6)

В случае дефектов с инверсной симметрией полей смещений —>

Заключение диссертации по теме «Сверхпроводимость», Эйдлин, Андрей Олегович

Выводы и результаты, выносимые на защиту.

1. Проведен статистический анализ работы универсального нейтронного дифрактометра. Установлено, что система регистрации дифрактометра не приводит к систематическим ошибкам и достаточно хорошо компенсирует колебания интенсивности нейтронного потока, а система термостабилизации и противовибрационная защита обеспечивают высокую стабильность углового положения кристаллов. Определена дисперсия шага механизма прецизионных угловых перемещений. Проведенная аттестация дифрактометра показала, что с его помощью можно проводить надежные воспроизводимые измерения с использованием методик, требующих создания многокристальных спектрометрических схем с использованием почти совершенных кристаллов.

2. Проведена аттестация способа изготовления высокоэффективных германиевых монохроматоров. Построен градуировочный график зависимости угловой полуширины кривой отражения кристалла от величины давления, приложенного к образцу в ходе прессования. Определены пиковая отражающая способность и оптимальная толщина изготовленных монохроматоров.

3. Предложено использовать метод брэгговской секционной топографии при исследовании диффузного рассеяния на кристаллах с дефектами. Достоинством метода является возможность пространственного разделения динамической (когерентной) и диффузной (некогерентной) составляющих рассеянного излучения. Предложенная методика позволяет проводить прямые измерения таких интегральных характеристик кристаллов с дефектами, как показатель степени статического фактора Дебая-Валлера и линейный коэффициент ослабления первичного излучения за счет диффузного рассеяния.

4. Проведено исследование формы, инструментальной линии трехкристального нейтронного спектрометра. Установлено, что при расчетах инструментальной линии нейтронного трехкристального спектрометра необходимо учитывать конечные размеры применяемых кристаллов. Наблюдалось увеличение высоты дополнительного пика при совпадении его формы с расчетной, что обусловлено диффузным рассеянием нейтронов (по всей видимости - тепловым) на монохро-маторе.

5. Наблюдались динамические (когерентные) явления в диффузном рассеянии нейтронов на малодислокационных кристаллах германия: эффект экстинкции диффузного рассеяния на средней решетке, интерференционное поглощение диффузного рассеяния и динамические аномалии в импульсном распределении интенсивности диффузного рассеяния, в частности, связанные с эффектом экстинкции. Впервые наблюдался такой интересный эффект, как интерференционные полосы в пространственном распределении интенсивности диффузного рассеяния. Предложена модель, объясняющая возникновение интерференционных полос.

В заключение автор считает своим приятным долгом поблагодарить своих научных руководителей чл.-корр. РАН, проф. Ю.Г.Абова и доцента Н.О.Елютина за постоянное внимание и помощь в работе, а также своих коллег по экспериментальной группе, без участия которых не могла состояться выполненная работа: н.с. С.К.Матвеева, Ф.Г.Кулиджанова, инженеров Д.С.Денисова и Ю.И.Смирнова, а также мастера каф.ИЗЭ А.А.Никифорова.

Заключение.

В результате проведенной работы установлено, что при расчетах инструментальной линии нейтронного трехкристального спектрометра необходимо учитывать конечные размеры применяемых кристаллов. При учете этого фактора экспериментальное распределение хорошо совпадает с расчетным. Это указывает на высокое совершенство применяемых кристаллов и хорошее качество их обработки [67]. Наблюдаемое увеличение высоты дополнительного пика при совпадении его формы с расчетной обусловлено диффузным рассеянием нейтронов (по всей видимости - тепловым) на монохроматоре.

4.3. Наблюдение аномальных динамических распределений интенсивности диффузного рассеяния в импульсном пространстве.

Как показано в разделе 4.1, с помощью методов брэгговской секционной топографии и двухкристального спектрометра наблюдались динамические эффекты в ДР на малодислокационных кристаллах Ge: интерференционное поглощение и экстинкция ДР на "средней решетке", а также такой интересный эффект, как интерференционные полосы в пространственном распределении интенсивности диффузного рассеяния. Последнему распределению должна соответствовать интерференционная картина в зависимости интенсивности ДР от вектора передачи импульса. Целью настоящей работы [71] являлось обнаружение динамических (когерентных) особенностей в импульсном распределении интенсивности ДР вблизи от узла обратной решетки.

Измерения проводились методом трехкристального спектрометра (ТКС) [19-21,54], позволяющим измерять зависимость интенсивности ДР от проекции q на плоскость дифракции. Схема экспериментов приведена на рис. 27а. Использовались те же, что и в 4.1 образцы Ge с плотностью дислокаций ~900 см"2, применялось симметричное отражение (1,1,1) по Брэггу. Длина волны нейтронов X составляла 1.67 А. Измеряемые с помощью ТКС распределения представляют из себя сумму инструментальной кривой прибора и зависимости интенсивности ДР Id 11 (qx, qy), где

2K qx,qv) =- [(pcos9g, (2й-ф)sin8B], (125) X а, ф - соответственно угловые смещения образца и анализатора относительно угла Брэгга 8В, их знаки приняты положительными при вращении кристаллов по часовой стрелке, направления осей коордиа Р а. ко X ц ' б.

Рис.27. К трехкристальному спектрометру: а) схема эксперимента, М - кристаллы-монохроматоры, 0 - образец, Д - детектор, принимается, что знаки угловых смещений образца (сО и анализатора (ф) положительны при вращении кристаллов по часовой стрелке: б) импульсная диаграмма диффузного рассеяния, к0 и к3 -волновые векторы падающего и рассеянного излучения, й - вектор обратной решетки. нат для векторов 5 выбраны, как указано на рис.276 [54]. При фиксированной установке образца и вращении анализатора инструментальная кривая состоит из двух пиков: главного - с максимумом при ф=2о(, дополнительного - при ф=й. Мощный дополнительный пик частично маскирует ДР, что не позволило в более ранней работе [58] наблюдать динамические эффекты в угловом распределении интенсивности ДР.

В настоящей работе для подавления дополнительного пика применялось двухкратное отражение нейтронного пучка от двух совершенных кристаллов-монохроматоров. Аналогичный прием, основанный на применении кристалла-монохроматора с пропилом применяется в рентгеновской технике [19-21]. За счет двухкратного отражения в значительной мере подавляются "хвосты" углового распределения интенсивности пучка, падающего на образец, что приводит к подавлению дополнительного пика. Это видно из результатов, приведенных на рис.28а, где в измеренном распределении присутствуют только диффузный и главный пики.

На рис.28 представлены угловые распределения интенсивности, измеренные с помощью ТКС при фиксированной установке образца и вращении анализатора. Как видно из (125), в этом случае измеряемая кривая представляет из себя сечение поверхности 1<11 г (Чх»Чу) плоскостью, перпендикулярной плоскости дифракции и составляющей угол 8В с вектором обратной решетки При о(>0 (согласно (125) -в области >0), измеряемое распределение ^1(,цу) имеет обычный вид, т.е. представлено диффузным пиком, уширенным по сравнению с когерентным главным пиком (рис.28а). При оКО распределение интенсивности ДР имеет явно выраженный осцилляционный характер (рис.286). При этом форма диффузного пика существенно

I, имп./мин.

-20 -10 0 10 20 30 40 а.

I, имп./мин.

-40 -30 -20 -10 0 10 20

6.

Рис.28. Угловые распределения, измеренные при фиксированной установке образца и вращении анализатора: а) й=14.4"; б) о(=-14. 4". зависит от величины |й|. Однако общим для всех этих распределений является наличие провала при ф*

При измерениях также применялась техника так называемого (9-28)-сканирования, когда для двух соседних измеряемых точек I (otj, ф1 ) и Кй1 + 1,ф1 + 1 ) выполняется условие: ф1 + 1-ф^ =2(tti + 1). В этом случае согласно (125) измеряемая кривая представляет из себя сечение поверхности Idif(qx,qy) плоскостью перпендикулярной плоскости дифракции и параллельной вектору обратной решетки G (остается постоянной проекция qy =2rtsin8B (2с(-монохроматора инструментальная линия ТКС состоит из двух пиков с максимумами при й=0 (образец параллелен монохроматору) и й=ф (образец параллелен анализатору). При условии применения двухкратного отражения от монохроматоров второй из этих пиков подавляется. На рис.29 приведено угловое распределение, измеренное при qy=-8.4х10"5 А"1. Как и в случае кривой, изображенной на рис.286, в зависимости Idif(qx,qy) присутствуют осцилляции в области (qx<0, qy<0). При этом в распределении присутствует экс

I , имп./мин.

-6 -4 -2 0 2 4

Рис.29. Пример распределения интенсивности диффузного рассеяния в пространстве импульсов, измеренного при (9-29)- сканировании; 2о(-Ф=-18\ 4х 10"5 А"1.

- А ° 1 тинкционный провал при ом> (на рис.29 - при Чх«-3. 5Х10 А ).

Методом рентгеновского ТКС были проведены измерения, аналогичные описанным, при использовании излучения СиК и рефлекса

0(4

3,3,3). Однако, из-за сильного поглощения рентгеновских квантов в йе интенсивность ДР оказалась слишком малой для проведения анализа ее углового распределения.

В совокупности с результатами, полученными в [553, можно утверждать, что наблюдаемые аномалии в импульсном распределении ДР соответствуют осцилляционной зависимости интенсивности ДР, наблюдаемой в прямом пространстве, а оба эти эффекта вероятно обусловлены явлением интерференции диффузных волн, описанным в 4.1.

Список литературы диссертационного исследования кандидат физико-математических наук Эйдлин, Андрей Олегович, 1996 год

Литература.

1. Кривоглаз М.А. Дифракция рентгеновских лучей и нейтронов в неидеальных кристаллах. Киев: Наукова Думка, 1983, 407с.

2. Dederichs P.Н. The theory of diffuse x-ray scattering and its application to the study of point defects and their clusters. J.Phys.F: Metal Phys., 1973, v. 3, pp. 471-496.

3. Dederichs P.H. Diffuse Scattering from Defect Clusters near Bragg Reflections. Phys.Rev.B, 1971, v.4, N4, pp. 1041-1050.

4. Rauch H., Petrascheck D. Dynamical Neutron Diffraction (in Topics in Current Physics), Springer Verlag, Berlin - Heidelberg - New York, 1979, pp.303-351.

5. Пинскер 3.Г. Рентгеновская кристаллооптика. М: Наука, 1982, 390 с.

6. Afanasev A.M., Kagan Yu., Chukhovskii F.N. Dynamical Treatment of the Thermal Diffuse Scattering of X-rays. Phys.Stat.Sol., 1968, v.28, pp.287-294.

7. Dederichs P.H. Effect of Defect Clustering on Anomalous X-Ray Transmission. Phys.Rev.B, 1970, v.l, N4, pp.1306-1317.

8. Елистратов A.M., Ефимов O.H. Влияние нарушений периодичности на эффект аномального прохождения рентгеновских лучей. ФТТ, 1962, т. 4, вып. 9, с. 2397-2410.

9. Ефимов О.Н., Елистратов A.M. Влияние примесей на аномальное прохождение рентгеновских лучей в германии. ФТТ, 1963, т. 5, вып. 7, с. 1869-1879.

10. Efiraov O.N. Contribution of Thermal Vibrations to the Anomalous Transmission of X-Rays. Phys. Stat. Sol., 1967, v. 22, pp.297-308.

11. Takagi S. Dynamical theory of diffraction applicable to

crystals with any kind of small distortions. Acta Cryst., 1962, v.15, N12, pp.1311-1312.

12. Afanas'ev A.M., Kohn V.G. Dynamical Theory of X-ray Diffraction in Crystals with Defects. Acta Cryst., 1971, V.A27, N5, pp.421-430.

13. Kato N. Statistical Dynamical Theory of Crystal Diffraction. I. General Solution. Acta Cryst., 1980, A36, N5, pp.763-769.

14. Kato N. Statistical Dynamical Theory of Crystal Diffraction. I. Intensity Distribution and Integrated Intensity in the Laue cases. Acta Cryst., 1980, A36, N5, pp.770-778.

15. Молодкин В. Б. Динамическая теория диффузного рассеяния кристаллами с хаотически распределенными дефектами. Металлофизика, 1981, т. 3, N4, с. 27-38.

16. Молодкин В.Б., Олиховский С.И., Осиновский М.Е. Динамическая теория диффузного рассеяния рентгеновских лучей и электронов в кристаллах, содержащих дефекты кулоновского типа. Металлофизика, 1983, т. 5, N1, с. 3-15.

17. Молодкин В.В., Олиховский С.И., Осиновский М.Е. Динамическая теория диффузного рассеяния излучений в кристаллах с дефектами кулоновского типа (Лауэ-дифракция). Металлофизика, 1983, т. 5, N5, с. 3-11.

18. Thomas J.E., Baldwin Т.О., Dederichs Р.Н. Diffuse X-Ray Scattering in Fast-Neutron-Irradiated Copper. Phys.Rev.B, 1971, v.3, N4, pp.1167-1173.

19. Ратников В.В., Сорокин Л.M. Экспериментальное наблюдение динамических эффектов при диффузном рассеянии рентгеновских лучей. ФТТ, 1984, т.26, N11, с.3445-3447.

20. Кютт Р. Н., Ратников В. В. Наблюдение динамических эффектов при лауэ-дифракции рентгеновских лучей. Металлофизика, 1985, т. 7, N1, с. 36-41.

21. Ратников В.В., КовьевЭ.К., Сорокин Л. М. Распределение диффузного рассеяния вблизи брэгговских отражений и его особенности при дифракции рентгеновских лучей монокристаллами Се с примесью Аб. ФТТ, 1984, т. 26, N7, с. 2155-2158.

22. В. Б.Молодкин и др. Интегральная интенсивность Лауэ-дифракции рентгеновских лучей в монокристаллах с макроскопически однородно распределенными дефектами кулоновского типа. Металлофизика, 1984, т. 6, т. 3, N3, с. 105-108.

23. Бушуев В.А. Влияние многократного диффузного рассеяния на Лауэ-дифракцию рентгеновских лучей в кристаллах с хаотически распределенными микродефектами. Кристаллография, 1994, т.39, N6, с.983-990.

24. Бушуев В. А. Влияние диффузного рассеяния на угловые зависимости выхода вторичных процессов, возбуждаемых стоячей рентгеновской волной в кристаллах с дефектами структуры. Кристаллография, 1994, т. 39, N5, с. 803-810.

25. Нозик Ю.3., Озеров Р.П., Хенниг К. Структурная нейтронография. М: Атомидат, 1979, т.1, 343 с.

26. Абов Ю.Г., Елютин Н. 0., Денисов Д. С., Матвеев С.К., Эйдлин А.0. Универсальный нейтронный дифрактометр с двухкрис-тальным монохроматором. ПТЭ, 1994, Мб, с.67-79.

27. А.П.Крюков и др. Устройство для размещения приборов в горизонтальном канале реактора ИРТ. ПТЭ, 1991, N3, с. 27-29.

28. Кулиджанов Ф.Г., Елютин Н.0., Низовой С. Н. Использование блока сдвоенного монохроматора тепловых нейтронов для работы

с совершенными кристаллами. В сборнике "Методы экспериментальной ядерной физики в исследованиях процессов и продуктов деления". М: Энергоатомиздат, 1983, с.128-135.

29. Абов Ю.Г., Кулиджанов Ф.Г., Елютин Н.0., Низовой С.Н. Спектрометр с высоким угловым разрешением и двойной монохромати-зацией нейтронного пучка. ПТЭ, 1984, N1, с.52-57.

30. Наумов И.В., Петушков С.А., Елютин Н.0., Кулиджанов Ф.Г. Механизм прецизионных угловых перемещений. ПТЭ, 1984, N4, с. 245.

31. Наумов И. В., Землянов М. Г., Красников Ю.М. Котировочные столики с дистанционным управлением. ПТЭ, 1969, Мб, с.200-202.

32. Кулиджанов Ф. Г., Эйдлин А.0., Елютин Н.0., Матвеев С.К., Денисов Д.С. Шибер тепловых нейтронов с устройством формирования поперечного сечения пучка. ПТЭ, 1992, N1, с.223-224.

33. Эйдлин Ф.0., Смирнов Ю.И., Елютин Н.0., Кулиджанов Ф.Г. Термостабилизация нейтронного спектрометра на совершенных кристаллах. ПТЭ, 1988, N3, с. 48-50.

34. Кулиджанов Ф.Г., Засадыч Ю. Б., Низовой С. Н., Елютин Н.О. Высокоэффективный тракт регистрации тепловых нейтронов. ПТЭ, 1986, N2, с.68-71.

35. Наумов И.В., Баев В.А., Землянов М.Г., Румянцев А.Ю. Мониторная камера деления. ПТЭ, 1972, N1, с.250-252.

36. Neutron Beam Facilities Available for Users LLL. Grenoble, Cedex, France, 1981.

37. Красников А.В., Денисов Д.С., Елютин Н.0., Матвеев С. К., Эйдлин Н.0. Статистический анализ погрешностей при измерениях на двухкристальном нейтронном спектрометре. ПТЭ, 1991, N2, с.82-85.

38. Марков В.Т., Фетисов Г.В. Статистический метод выявления кратковременной нестабильности рентгеновских дифрактометров. Кристаллография, 1986, т. 31, N5, с. 851-858.

39. Алгоритмы и программы восстановления зависимостей. Под ред. В.Н. Вапнина. М: Наука, 1984.

40. Вологин В.Г., Теплоухов С.Г., Эйдлин А.0., Денисов Д.С., Елютин Н.0., Матвеев С. К. Высокоэффективные германиевые монохроматоры тепловых нейтронов. ПТЭ, 1994, N2, с.12-17.

41. Меньшиков А. 3., Богданов С. Г., ПлишкинЮ. М., Дякин В. В., Лебедева H.Н. Рассеяние тепловых нейтронов на монокристаллах. Отражательная способность и вторичная экстинкция. - В кн.: Нейтронография металлов, сплавов и соединений. ИФМ УЦ АН СССР, Свердловск, 1977, 35, с. 89-107.

42. Л.И. Миркин. Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов. М.: Физматгиз, 1961, 864с.

43. Забидаров Е.И., Кожух М.Л., Трунов В.А., Вахрушев С.Б., Окунева H.М., Белогурова И.Н. Монохроматоры тепловых нейтронов на основе монокристаллов Ge. Препринт ЛИЯФ, 1979, N458, 20с.

44. Абов Ю.Г., Эйдлин А.О., Денисов Д. С., Елютин Н.О., Матвеев С.К., Воронов Ю.А., Попов В.Д. Метод контроля деформаций монокристаллов с помощью двухкристального нейтронного спектрометра. ЖТФ, 1995, т. 65, в. 5, с. 140-148.

45. Першенков В.С., Попов В.Д.,Шальнов А.В. Поверхностные радиационные эффекты в ИМС. М. : Энергоатомиздат, 1988, 256 с.

46. Носков А.Г., Стенин С.И., Труханов Е.М. Измерение кривизны монокристаллов на двухкристальном спектрометре с использованием Kol- и Кр-пучков. ПТЭ, 1982, N2, с. 181-183.

47. Носков А.Г., Труханов Е.М. Повышение чувствительности

метода измерения кривизны монокристаллов на рентгеновском спектрометре. ПТЭ, 1985, N5, с. 173-176.

48. Завьялова А.Л., Ломов А.А., Маргушев 3.Ч. Трехкристаль-ная рентгеновская дифрактометрия в исследовании изогнутых монокристаллов. Кристаллография, 1991, том 36, вып. 1, с. 20-24.

49. Patel J.R. X-ray Diffuse Scattering from Silicon Containing Oxygen Clusters. J. Appl. Cryst., 1975, 8, p.186-191.

50. Eichhorn F., Kosmowski M., Schopf H.-G., Schulze G.E.R. Experimental and Theoretical Investigations of Dynamical Neutron Diffraction by Using Crystals with a Low Dislocation Density. Phys. Stat. Sol. (a), 1971, 4, p.445-457.

51. Гаврилюк Ю. H., Гринштейн П.М., Ладочкин A. A., Мильвидс-кий M.Г., Фомин В.Г. Природа изгиба монокристаллических пластин кремния при односторонней механической обработке. Кристаллография, 1993, том 38, вып. 5, с. 157-162.

52. Воронков С.Н., Пискунов Д.И., Чуховский Ф.Н., Максимов С.К. Экспериментальное исследование методом наклона особенностей динамического рассеяния при лауэвском отражении рентгеновских лучей от монокристаллов с микродефектами. ЖЭТФ, 1987, т.92, N3, с.1099-1108.

53. Молодкин В. Б., Даценко Л.И., Хрупа В.И., Осиновский М.Е., Кисловский Е.Н., Кладько В.П., Осадчая Н.В. К вопросу о рентгенодифрактометрических исследованиях хаотически распределенных дислокаций в монокристаллах. Металлофизика, 1983, т.5, N6, с. 7-15.

54. Larson B.C., Schmatz W. Huang Diffuse Scattering from Dislocation Loops and Cobalt Precipitates in Copper. Phys. Rev., 1974, B10, N6, p.2307-2314.

55. Абов Ю.Г., Эйдлин А. 0., Денисов Д. С., Елютин Н.О., Матвеев С. К. Динамические эффекты в диффузном рассеянии нейтронов на малодислокационном германии. 1ЭТФ, 1993, т.104, вып.6, с.4072-4080.

56. Эйдлин А.0., Матвеев С. К., Елютин Н. 0., Кулиджанов Ф.Г. А.с.СССР N1312460. Открытия. Изобретения, 1987, N19, с.75.

57. Эйдлин А.0., Матвеев С.К., Елютин Н.О. Пространственное распределение интенсивности нейтронного пучка, отраженного по Брэггу. М., препринт МИФИ, 1988, N022-88, 22 с.

58. Кулиджанов Ф.Г., Эйдлин А.0., Елютин Н. 0. Наблюдение диффузного рассеяния нейтронов на кристаллах Ge методом (1,-1,1) спектрометра. Письма в ЖТФ, 1986, т.12, N16, с.1003-1008.

59. Zeilinger A., Shull C.G., Arthur J., Horn M.A. Bragg-case neutron interferometry. Phys. Rev. A, 28, N1, p.487-489.

60. Хрупа В. И., Энтин И.Р. Выделение диффузной компоненты рассеяния рентгеновских лучей, основанное на анализе пространственной структуры отраженного пучка. Металлофизика, 1991, т.13, N3, с. 117-125.

61. Николаев В.В., Хрупа В.И. Влияние дефектов на пространственное распределение интенсивности рефлекса при брэгговской дифракции тормозного излучения. Металлофизика, 1992, т.14, N5, с. 72-76.

62. ХиртДж. , Лоте И. Теория дислокаций. М.: Атомиздат, 1972, 599 с.

63. Петрашень П.В., Чуховский Ф.Н., Шульпина И.Л., Кютт Р.Н. Новый тип интерференционных полос на брэгговских секционных топограммах. ФТТ, 1987, т.29, N5, с.1608-1611.

64. Chukhovskii F.N., Petrashen P.V. Topography of Bent Crystals. Acta Crystal1., 1988, A44, pp.8-14.

65. В.Б.Молодкин и др. К вопросу о рентгенодифрактометри-ческих исследованиях хаотически распределенных дислокаций в монокристаллах. Металлофизика, 1983, т. 5, N6, с. 7-15.

66. Eisenberger Р., Alexandropoulos N.G., Platzman P.M. X-Ray Brillouin Scattering. Phys. Rew. Lett., 1972, v.28, N23, pp. 1519-1522.

67. Афанасьев A.M., Александров П.А., Имамов P.M. Рентгеновская структурная диагностика в исследовании приповерхностных слоев монокристаллов. М: Наука, 1986, 96с.

68. АбовЮ.Г., Денисов Д.С., Елютин Н.О., Матвеев С.К., Эйдлин А.0. Исследование формы инструментальной линии трехкристального нейтронного спектрометра. Кристаллография, 1996, т.41, N1, с.170-173.

69. Podurets К.М., Shilstein S.Sh., Eichhorn F., Soroko Z.N. Study of structure and surface of silicon by means of neutron optical methods with high angular resolution. Physica В 174, 1991, pp.415-417.

70. Казимиров А.Ю., Ковальчук M.В., Кон В.Г. Усиление псевдопика в спектрах трехкристальной рентгеновской дифрактометрии за счет теплового диффузного рассеяния. Кристаллография, 1987, т. 32, вып. 6, с. 1360-1364.

71. Абов Ю.Г., Эйдлин А. 0., Денисов Д. С., Елютин Н.О., Матвеев С. К., Наблюдение динамических эффектов в диффузном рассеянии нейтронов методом трехкристального спектрометра. Письма в ЖЭТФ, 1996, т. 63, N4, с. 237-240.