Разработка и исследование новых способов и систем управления при диагностике состава и структурных особенностей материалов в атомно-эмиссионном анализе тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 05.13.07, кандидат технических наук Руденко, Евгений Григорьевич

• Руденко, Евгений Григорьевич
• кандидат технических наук
• 2000

Оглавление диссертации кандидат технических наук Руденко, Евгений Григорьевич

ВВЕДЕНИЕ

ЛАВА 1. МЕТОДЫ И СРЕДСТВА ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОЛИЧЕСТВЕННОГО СОСТАВА

МАТЕРИАЛОВ.

§1.1 Принципы построения систем преобразования измеряемых параметров в количественное содержание элементов

1.1.1 Природа спектрального излучения.

1.1.2 Зависимость интенсивности излучения от процентного содержания элементов.

1.1.3 Способы количественной оценки интенсивности излучения спектральных линий.

§1.2 Методы практического определения содержания элементов.

1.2.1 Фотографический метод исследования.

1.2.2 Фотоэлектрический метод исследования

§1.3 Способы расчета погрешностей в спектральном анализе

1.3.1 Оценка погрешностей при фотографическом методе

1.3.2 Оценка погрешностей при фотоэлектрическом методе

§1.4 Основные принципы построения автоматизированных систем.

1.4.1 Способы автоматизации фотографического анализа

1.4.2 Анализ автоматизированных устройств фотоэлектрического анализа

§1.5 ВЫВОДЫ.

ПЛАВА 2. РАЗРАБОТКА И ОПТИМИЗАЦИЯ ПРОГРАММНОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ И

СИСТЕМ УПРАВЛЕНИЯ ПРИ КОЛИЧЕСТВЕННОМ И СТРУКТУРНОМ АНАЛИЗЕ МЕТОДОМ КОНТРОЛЬНОГО ЭТАЛОНА ДЛЯ ВСЕГО ДИАПАЗОНА

§2.1 Принципы построения изолированных систем в спектральном анализе.

§2.2 Метод определения количественного содержания элементов.

§2.3 Сущность фазовых измерений.

2.3.1 Постановка задачи.v.

2.3.2 Уравнения для фазового смещения.

2.3.3 Принцип построения изолированных систем, отображающих структурные особенности материалов.

§2.4 Методика определения структурных особенностей материалов относительно стандартных образцов.

2.4.1 Порядок определения структурных свойств на примере

§2.5 Оценка степени гомологичности аналитических пар

2.5.1 Метод оценки гомологичности по фазовым соотношениям

§2.8 Разработка методики определения погрешностей при количественном и структурном анализе.

§2.7 Экспериментальная проверка

§2.8 ВЫВОДЫ.

ГЛАВА 3. РАЗРАБОТКА И ИССЛЕДОВАНИЕ НОВЫХ МЕТОДОВ МНОГОПАРАМЕТРО-ВОГО АНАЛИЗА НА ОСНОВЕ ФИЗИЧЕСКОГО МОДЕЛИРОВАНИЯ КОЛИЧЕСТВЕННОГО СОДЕРЖАНИЯ ЭЛЕМЕНТОВ

§3.1 Постановка задачи исследования.

§3.2 Разработка средств математического обеспечения

§3.3 Структурная схема и алгоритм анализа.

3.3.1 Алгоритм программы расчета.

3.3.2 Примеры расчета количественного содержания элементов

§3.4 Экспериментальная проверка

§3.5 Исследование физико-механических свойств материалов

§3.6 ВЫВОДЫ.

ГЛАВА 4. РАЗРАБОТКА И ВНЕДРЕНИЕ АВТОМАТИЗИРОВАННЫХ СИСТЕМ УПРАВЛЕНИЯ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО АНАЛИЗА ,,„„„„„„„,„

§4.1 Общая характеристика ИВК.

4.1.1 Аппаратные средства ИВК.

§4.2 Методическое обеспечение ИВК.

4.2.1 Выбор типа аппроксимирующих функций.

4.2.2 Метод "трех" эталонов.

4.2.3 Метод контрольного образца.

§4.3 Описание программного обеспечения.

4.3.1 Состав программного обеспечения.

4.3.2 Структура системы управления базой данных.

§4.4 Порядок работы на измерительном комплексе

4.4.1 Порядок работы программы обработки данных анализа

4.4.2 Программа градуировки и корректирования .----.

4.4.3 Выбор режима работы системы управления базой данных

4.4.4 Структура тестовой программы.

§4.5 ВЫВОДЫ.

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Разработка и исследование новых способов и систем управления при диагностике состава и структурных особенностей материалов в атомно-эмиссионном анализе»

Проблема повышения качества продукции на современном этапе зависит не только от совершенствования технологических процессов, их автоматизации и управления, но также и от используемых методов анализа и контроля качества. Основной задачей данных методов является разработка средств измерения параметров, характеризующих определенные физико-химические и физика-механические свойства исследуемого объекта, последующее определение этих свойств и их сопоставление с допустимыми значениями, установленными в соответствующих стандартах и систем управления процессами контроля,

Важными характеристиками методов анализа и контроля являются их чувствительность к контролируемому параметру, эффективность и надежность регистрации этого параметра и возможность создания автоматизированных измерительных устройств, способствующих повышению качества проводимых исследований.

Все сказанное в полной мере относится и к средствам анализа количественного состава и физико-химических свойств материалов и изделий. К ним относятся и атомно-эмиссионные спектральные методы исследования.

Наибольшее практическое применение методы спектрального анализа нашли при исследовании количественного состава материалов. На их основе разработаны и внедрены высокопроизводительные автоматизированные измерительно-вычислительные системы с использованием современных персональных компьютеров [1-53. В связи с этим большой объем работ проведен в направлении автоматизации различных этапов проведения анализов [6-113, совершенствования источников излучения [12-153, создания средств измерения и регистрации излучения [16-203, стабилизации по объему низкотемпературной плазмы [21-283 и ряд других работ.

В направлении совершенствования методического обеспечения раз-аботаны модели, отображающие зависимость измеряемых параметров пектрального излучения от количественного содержания элементов, реди них можно выделить такие, как построение моделей на основе оп-имальных и адекватных регрессионных градуировочных характеристик 29-30], статистические методы повышения точности выполняемых изме-ений [31-32], оптимизация количества используемых образцов С33-34] ряд других исследований.

Указанные работы преследуют решение следующих основных задач: овышение качества, эффективности и быстродействия количественных нализов путем внедрения высокопроизводительных систем , сочетающих себе простоту в эксплуатации и высокую культуру обслуживания.

Исходным во всех случаях является использование комплектов тандартных образцов (СО), причем с увеличением числа СО точность пределения контролируемого параметра увеличивается. Такой традици-нный подход к решению задач практического спектрального анализа су-ественно ограничивает область его применения, обусловленный обяза-ельным использованием СО. Сужаются функциональные возможности высо-опроизводительного метода только количественными анализами.

Основной целью данной работы является дальнейшее совершенство-ание и оптимизация существующих атомно-эмиссионных методов коли-ественного анализа. Разработке на этой основе соответствующего ме-одического обеспечения, алгоритмов и программ для персональных омпьютеров, позволяющих обеспечивать количественный анализ материа-ов без применения каких-либо стандартных образцов, управлять провесами контроля для достижения заданной точности и вместе с тем сущеотвлять контроль структурных особенностей исследуемых проб от-осительно контрольных образцов-эталонов.

Для достижения поставленных целей решались следующие задачи:

1. Разработка способов расширения диапазонов использования одного стандартного образца для диагностики количественного состава исследуемых материалов во всем интервале спектрального анализа и создание на этой основе соответствующего методического обеспечения.

2.Создание методик, алгоритмов и компьютерных программ, позволяющих управлять процессом контроля при фотографическом и фотоэлектрическом методах спектрального анализа, устанавливающих взаимосвязь измеряемых почернений спектральных линий и напряжений по каналам квантометров с изменением структурными свойств исследуемых материалов.

3.Разработка методов определения погрешностей при структурном и количественном анализах в процессе их выполнения.

4. Формирование методологии оптимизации систем управления аналитического контроля для выполнения количественных анализов без использования стандартных образцов.

5. Разработка методического обеспечения с целью обеспечения практической реализации созданных компьютерных программ для количественных анализов неизвестных материалов, изделий, жидких и газообразных сред.

Весь комплекс исследований проводится на стадии обработки результатов измерений анализа.

Научные полотвтя, выносимые на защиту:

1.Предложена математическая модель и на ее основе методики, алгоритмы, программное обеспечение и системы управления процессами контроля без применения стандартных образцов.

2.Способы создания изолированных систем в спектральном анализе с целью решения взаимосвязанных задач контроля количественного состава и структурных особенностей исследуемых материалов.

3.Впервые выявлен и оценен информационный параметр, отражающий

8. изменение структурных особенностей материалов. Это позволило предложить новый подход к созданию систем управления процессами контроля в атомно-эмиссионном спектральном анализе.

4. На базе разработанных в работе теоретических положений, методик, алгоритмов создан и внедрен на базе ШХ>8 автоматизированный информационно-вычислитель ный комплекс

Заключение диссертации по теме «Автоматизация технологических процессов и производств (в том числе по отраслям)», Руденко, Евгений Григорьевич

Основные результаты теоретических и экспериментальных исследований, приведенных в диссертационной работе, можно сформулировать следующим образом:

1. Существующие в настоящее время методы и средства диагностики материалов атомно-эмиссионном методом: спектрального анализа требуют дальнейшего развития и совершенствования в направлении уменьшения числа используемых стандартных образцов, расширения функциональных возможностей путем разработки новых способов количественного и структурного анализов.

2. Впервые показано, что контроль структурных особенностей материала методом одного стандартного образца анализе может осуществляться при соблюдении условий теплообмена с окружающей средой. При этом, мерой изменения структурных свойств является величина энергетического взаимодействия низкотемпературной плазмы с внешней средой.

3. Разработан метод измерения фазовых смещений для определения изменения структурных свойств материала пробы относительно стандартного образца.

4. Определена методика, алгоритм и программное обеспечение рас-1етов фазовых смещений для количественной оценки физико-механического состояния материалов проб.

5. Рекомендован практический способ количественной оценки гомо-гогичности контролируемой аналитической пары в процессе выполнения секущих анализов на основе расчетов средних значений фазовых сдвигов з гомологичной системе проба-стандартный образец. Предложена методика расчета относительной погрешности данной составляющей.

6. Разработана методика оценки отдельных составляющих общей югрешности при определении структурных свойств и количественного юстава исследуемых объектов.

7.На основе использования многопараметровых функций разработан принципиально новый метод определения количественного содержания элементов без использования стандартных образцов в текущих экспресс-анализах различных материалов, включая жидкие и газообразные среды. Его: реализация стала возможной благодаря разработанному методу определения количественных интервалов содержания элементов на основе критериев сходимости по изменениям численных значений разности почернений на концах интервалов.

8.Установлена корреляционная зависимость между твердостью сталей и процентным содержанием элементов, что позволило расширить область применения спектрального анализа для определения твердости металлов и их сплавов.

9.Разработан и внедрен измерительно-вычислительный комплекс фотоэлектрического анализа, включающий в себя отечественную измерительную установку МЮ-8 и персональный компьютер IBM PC, позволяющей в автоматическом режиме осуществлять количественный анализ двумя независимыми способами: методом "трех" эталонов и методом контрольного эталона во всем диапазоне исследований.

10.Разработанные методы количественного анализа расширяют область применения атомно-эмиссионных способов для контроля любых' материалов и сред, повышают быстродействие, качество и экономическую эффективность анализов.

11.Результаты диссертационной работы в виде программного обеспечения внедрены на Омских предприятиях ПО им. Баранова и АО "Омс-кагрегат" и ряде других городов России.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

Список литературы диссертационного исследования кандидат технических наук Руденко, Евгений Григорьевич, 2000 год

1.3айдель А.Н., Шрейдер Е.Я. Вакуумная спектроскопия и ее применение. -М. : Наука, 1976, 342 с.

2. Недлер В.В. и др. Современное состояние промышленного спектрального анализа в металлургии и геологии СССР. //Заводская лаборатория, 1962 N2, с. 32-36.

3. З.Огнев В.Р., Петров Л.Л. . Спектральный анализ элементов примесей в горных породах. -М. : Наука, 1972, 342 с.

4. Белькин В.В.,Недлер В.В. Проблемы и перспективы спектрального анализа. //Заводская лаборатория, "1984, N10, с. 1.

5. Немец В.М., Петрова А.А., Соловьев А.А. Состояние и перспективы развития оптического спектрального метода анализа неорганических газов. (Обзор). //Заводская лаборатория, 1984, N2.

6. ДженкинсГ., Ватт Л. Спектральный анализ и его приложения. -М. :1. Мир, 1971, 291 о.

7. А.с. СССР 1017982, кл. МКИ G 01 N21/65. Способ определения концентрации нефтепродуктов в сточных водах. /Ощепков С.Л. и др. //Открытия и изобретения, 1982, N18.

8. А.с. СССР 1092391, кл. МКИ G 01 N21/67. Способ эмиссионного.спектрального анализа порошковых материалов. /Огнев В.Р., Шевченко В.П., Огнева Э.Я. //Открытия и изобретения, 1982, N18.

9. Недлер В.В., Велянин В.Б. Современное состояние и перспективы развития спектрального анализа. / В кн. Новые методы спектрального анализа. Новосибирск: Наука, 1983, с. 6-11.

10. Ю.Зайдель А.Н. Техника и практика спектроскопии. -М. : Наука, 1976, 392 с.1.. Нагибина И. М., Прокофьев В. К. Спектральные приборы и техника.спектроскопии. Изд. 2-е. -Л. : Машиностроение, "1967, 324 с.

11. Изд-во Казанского университета, 1961, 179 с. айдель А.Н., Островская Г.В., Островский Ю.И. Техника и практикаспектроскопии. -М.: Наука, 1976, 392 с. токов И.В. Оптические спектральные приборы. Учебное пособие для

12. ВУЗов.-М.: Машиностроение, 1984, 240 с. ^временные методы химико-аналитического контроля в машиностроении. -М. : МДНТП, 1981, 157 с. ?андартные образцы для спектрального анализа сталей и сплавов. Справочное пособие. -М.: ВИАМ, 1984, 85 с.

13. Стандартные образцы для химического и спектрального анализа материалов черной металлургии.//Заводская лаборатория,1987, N4, с. 86-88.

14. Шаевич А.Б., Шубина C.ß. Промышленные методы спектрального анализа. -М.: Металлургия, 1965, 224 с.28.3айдель А.Н., Калитевский Н.И., Липис Л.С., Чайка М.П. Эмиссионный спектральный анализ атомных материалов. -М.: Физматгиз, 1960.

15. Райхбаум Я.Д. Физические основы спектрального анализа. -М.: Наука, 1980, 158 с.

16. Русаков А.К. Основы количественного спектрального анализа руд и минералов. -М.: Недра, 1978.

17. Королев Н.В., Рюхин В.В., Горбунов С.А. Эмиссионный спектральный анализ. -Л.: Машиностроение, 1971, 214 с.

18. Терек Т. и др. Эмиссионный спектральный анализ. -М.: Мир, 1982.

19. Орлов А.Г. Методы расчета в количественном спектральном анализе.-Л.: Недра, 1977, 108 с.

20. Самадов К.И. Исследование возможности повышения чувствительности эмиссионного спектрального анализа при фотографической регистрации спектров. :Автореф. канд. дис., Минск, 1965.

21. Зб.Шепилова Д.П. 0 построении характеристических кривых фотопластинок по спектральным линиям железа. //Заводская лаборатория, 1983, N9, с. 45-46.

22. Карих Ф.Г., Лякишева В.И. Сопоставление возможностей экспрессивных фотографических методов спектрального анализа сплавов. //Заводская лаборатория, 1985, N3, с. 84-85.

23. Бураков B.C., Янковский A.A. Практическое руководство по спектральному анализу. Минск: Изд-во Акад. наук БССР, 1960, 232 с.

24. Мандельштам С.Л. Введение в спектральный анализ. -М.,Л.: 0ГИЗ,1946.

25. Орлова С.А. и др. Состояние и перспективы развития отечественных оптических квантометров. //Заводская лаборатория, 1982, N2, с.40-42.

26. Арнаутов Н.В.,Киреев А.Д. Квантометрический анализ металлов и сплавов. Новосибирск: Наука, 1986, 124 с.

27. Орлова С.А., Подмошенская C.B.,.Трилесник И.И. Фотоэлектрическая система с ЭВМ для эмиссионного спектрального анализа. //Материалы семинара по спектральному анализу. -Л. : ЛДНТП, 1985, с. 18-22.

28. Волощинин А.П., Голяс Ю.Е. Персональные ЭВМ в заводской лаборатории (возможности и перспективы). //Заводская лаборатория, 1988, N5, с. 95-99.

29. ГОСТ 16363-70. Спектральный анализ. Методы оценки точности измерений. Изд-во стандартов, 1970.

30. Тойберт Т. Оценка точности результатов измерений. -М.: Энергоато-миздат,1988, 88 с.

31. Метрологическое обеспечение контроля состава материалов.: Справочник / Ю.Д. Плинера. -М.: Металлургия, 1982, 168 с.

32. Терек Т., Мика И., Гегеуш 3. Эмиссионный спектральный анализ. Пер.с англ. -М.: Мир, 1982, Т.2, 159 с.

33. Автоматизированная система эмиссионного спектрального анализа. /Иванова Т.И. //Реферативный журнал "Автоматикаа", 1988, N5, с. 3- 27, реф. 5А458.

34. Карманов Н.С., Перелыгин С.Ф., Казанцева Т.И. Автоматизированная система обработки фотографических спектров. Тез. докл. на 111 региональной конференции "Аналитика Сибири-90", Иркутск, 1990, с. 278.

35. Taylor В.L., Birks F.Т.//Analyst. 1972, V. 97,. N1158, P. 681-690.

36. Йорданов Ю.Х., Ееличев С,М., Цапов: й.В., Злажев Р.К. Автоматизированная система обработки спектрограмм при спектральном анализе. //Заводская лаборатория, 1987, N8, с. 30-32.

37. Лифляндчик В.И., Романова В.Д., Старцев Г.П., Трилесник И.И. //

38. Оптикомеханическая промышленность. 1978, N11, с.55-70.

39. Crosse Р.,Harbecke В., Heinz В. et. al. //Applied Physics A. -1986, V. 39, p. 257.

40. Тарасова Е.Г. и др. Модернизация фотоэлектрической установки металлургического производства. //Заводская лаборатория, 1986, N6, с. 87-89.

41. Кох К.Х., Вюнш X. //Черные металлы. 1982, N10, с. 3-7.

42. Квантометр Polyyac Е600. //Рекламный проспект фирмы Rank Precion Industries (Англия), 1969.

43. Ким A.A., Катакова Б.А. Из опыта освоения спектрометра "Поливак E97G". //Заводская лаборатория, 1987, N12, с. 85-87.

44. Кадышман Т.А., Сакалис О.М. Спектральный анализ сталей с использованием автоматизированной системы "Поливак Е-970". //Заводская лаборатория, 1986, N11, с. 86-88.

45. Меркурьев A.B., Емельянов А.И., Мандрыгин В.В. /Приборы и системы управления. 1983, N11, с. 13-15.

46. Морозов H.A., Мельников В.И., Никольский А.П. Автоматизированные системы оптического спектрального анализа металлов и сплавов. //Заводская лаборатория, N6, 1986, с. 20.

47. Салмов В.Н., Цой E.B., Коваль K.K. Об алгоритме построения граду-ировочных графиков в автоматизированных системах обработки результатов спектрального анализа. //Заводская лаборатория, N6, 1986, с.27.

48. Морозов H.A., Игнатова Н.И., Мельников В.И.//Заводская лаборато-. рия, 1985, Т.51, N4, с.20.

49. Морозов H.A., Игнатова Н.И. //Журнал ' прикладной спектроскопии, 1986, Т.44, вып. 2, с. 336.

50. Морозов H.A. Совершенствование методов атомно-эмиссионного спектрального анализа металлов и сплавов с помощью ЭВМ. //Заводская лаборатория, N8, "1991, с. 22.

51. Кусельман И.И., Малыхина Л.А. Алгоритм использования спектральной информации при аттестации стандартных образцов состава сплавов. // Заводская лаборатория, 1989, N2, о. 34-35.

52. Салмов В.Н., Косенко А.И., Усов В.А., Джураев В.Б. Система автоматизированной обработки результатов спектрального анализа проб металлов. //Заводская лаборатория, 1985, N2, с. 22-24.

53. Козлов Л.П., Шеверда Б.А. Оптимизация параметров градуированных функций для квантометров фирмы ARL. //Заводская лаборатория, 1988, N2, с. 40.

54. Диагностика состава материалов рентгенодифракционными и спектральными методами. /М.С. Нахмансон,В.Г. Фекличев, -Л.: Машиностроение, 1990, 357 с.

55. ГОСТ 7727-81. Спектральный анализ. Метод трех эталонов.Изд-во стандартов, 1981.

56. Иванов A.A., Мосичев В.И., Шушканов В.М. Пакет прикладных программ для автоматических расчетовв атомно-эмиссионном спектральном анализе. -Л.: Общество "Знание", ЛДНТП, 1990, 32 с.

57. Жуковский Ю.М. Автоматизированная обработка результатов атомно-эмиссионного спектрального анализа. //Заводская лаборатория, N9, 1988, с. 47-48.

58. Демидович Б.П., Марон И.А. Основы вычислительной математики. -М. : Наука, 1966, 664 с.

59. Гельфанд И.И., Цейтман М.С. ДАН СССР, 137, N2/295, с. 161.э.Никитенко Б.Ф., Казаков Н.С., Кузнецов В.Ш-Пути повышения достоверности и точности анализа эмиссионной спектроскопии. -М. : ЦНИИИ и ТЭИ, 1989, 53 с.

60. З.Прохоренко Е.Ф., Сычева C.B., Моисеева В.В. Оценка воспроизводимости спектрального анализа проволоки различного диаметра в зависимости от способа подготовки проб. //Заводская лаборатория, 1989, N1 с. 103-104.

61. Устройство спектрального анализа: положительное решение о выдаче патента РФ N4855490/25 от 20.05.91 /А.И. Одинец, Е.Ф. Никитен-ко, В.П. Кузнецов, A.A. Кузнецов.

62. Грибов A.A. Математические методы и ЭВМ в химии. М. : Наука, 1989, 354 с.

63. Налимов В.В. Применение математической статистики при анализе вещества. -М. : Наука, 1960.

64. Селезнев Ю.В., Кузнецов В.П., Корнев К.П., Никитенко Б.Ф. Метод определения процентного содержания элементов при фотографическом спектральном анализе. //Изв. вузов СССР, Приборостроение, 1991, N2, с. 67-70.

65. Способ определения массовых долей элементов в материалах и сплавах. /Н.С. Казаков, Е.Ф. Никитенко, В.П. Кузнецов, A.A. Кузнецов. //Передовой производственный опыт, 1991, N1.

66. Патент 1828696, Россия, МКИ(З), GDI N 21/67. Способ определения содержания массовых долей элементов в материалах- и сплавах. /Б.Ф. Никитенко, А.И. Одинец, Н.С. Казаков, В.П. Кузнецов, A.A. Кузнецов. Билл., N5, 1995.

67. Зб.Закускин C.B. Математическое обеспечение автоматизированных систем аналитического контроля. /Дисс. . кандидата техн. наук. .-М.: 1986

68. Вакив Н.М., Саенко O.A., Слепченко Н.И. Спектральное определение титана в лигатуре алюминий-титан с применением стандартных образцов предприятия. //Заводская лаборатория, 1989, N4, с. 103-104.

69. Кузнецов A.A. Разработка и исследование способов диагностики материалов в атомно-эмиссионном экспресс-анализе. /Дисс. кандидата техн. наук. Омск, 1995.

70. Малышев В.И., Введение в экспериментальную спектроскопию. -М. .-Наука 1979, 420 с.

71. Буравлев Ю.М. Фотоэлектрические методы спектрального анализа металлов и сплавов. -М. : Металлургия, 1984, 225 с.

72. Ротман А.Е. Методы спектрального анализа. -Л.: Машиностроение, 1975, 330 с.i2.Никольский A.n., Замараев В.П., Бердичевский Г.В. Автоматизированный экспресс-контроль состава материалов в черной металлургии. -М.: Металлургия, 1985, 104 С.

73. З.Верховский В.И. и др. Автоматизация аналитического контроля в металлургии. //Заводская лаборатория, 1982, N2, с. 37-40.

74. Величко Ю.И., Забродин А.Н. Теоретический выбор формы уравнениясвязи при РСА пульповых продуктов цветной металлургии. /В сб.: Автоматизация горно-обогатительных процессов цветной металлургии. -М. ВШ1КИ, "Цветметавтоматика", 1981, с. 40-47.

75. Дуймакаев Ш.И. и др. Использование рассеянного первичного излучения при РСА методом теоретических поправок. //Заводская лаборатория, 1984, 50, N11, с. 20-23.

76. Калинин Б.Д., Карамышев Н.Й., Плотников Р.Н., Вершинин A.C. Учетизменения эффективной длины волны в рентгеноспектральном анализе способом теоретических поправок. //Заводская лаборатория, 1985.

77. Э. Симаков В.А., Сорокин И.В. Использование метода фундаментальных параметров при РСА. //Заводская лаборатория, 1984, Т.50, N4, с.24.

78. DO.Mantler M.LAMA 111-a computer program for quantitative XRFA of bulk specimens and thin film layers. //Advances in X-ray analysis, 1984, V. 27, p. 433-440.

79. Л.Першин H.B., Голубев A.A., Мосичев В.И. О возможностях повышенияточности метода фундаментальных параметров. //Заводская лаборатория, 1991, N11, с. 51-55.

80. Величко Ю.И., Павлинский Г.В., Ревенко А.Г. Программа расчета интенсивностей аналитических линий рентгеновского спектра флуоресценции. //Заводская лаборатория, 1977, 43, N4, с. 433-436.

81. Афонин В.П., Гуничева Т.Н., Пискунова Л.Ф. Рентгено-флуоресцентный силикатный анализ. -Новосибирск: Наука, "1984.

82. Тамм И.Е. Основы теории электричества. -М.: Гос. изд-во технико-теоретической литературы, 1955, 620 с.

83. Об.Зайдель А.Н. Погрешности измерения физических величин. -Л.: Наука, 1985, 431 с.

84. Об.Никитенко Б.Ф., Казаков Н.С., Кузнецов A.A. Повышение эффективности атомно-эмиссионного экспресс анализа. //Передовой производственный опыт, 1991, N1.

85. Казаков Н.О., Никитенко Б.Ф., Кузнецов В.П., Кузнецов A.A. Способ определения массовой доли химических элементов в материалах и сплавах. //Передовой производственный опыт, 1991, N4.

86. Никитенко Б.Ф., Казаков Н.С., Кузнецов A.A. Разработка и использование автоматизированных измерительных систем в спектральном анализе. -М.: НТЦ "Информтехника", 1990, 80 с.

87. Пякилля И.В., Вешкурцев Ю.М. Метод подбора оптимальных интервалов количественного содержания элементов в спектральном анализе. //Дефектоскопия, У0 РАН, N , 1998, с.

88. Ш.Вест Ч. Голографическая интерферометрия. -М.: МИР, 1982, 504 с.

89. А.с. COOP 1826359, кл. В 23 Q 15/00 //G Ol W 3 /58. Способ определения износа инструмента./Пякилля И.В., Скворцов В.М. 1992.113.А.с. СССР

90. Поливанов K.M. Ферромагнетики, -М.-Л.: ГЭИ, 1957, 419 с.

91. Автоматизация фотографического спектрального анализа. /Никитенко Б.Ф., Казаков Н.С., Кузнецов A.A. //Тезисы докладов на 3-ей Региональной конференции "Аналитика Сибири-90", Иркутск, 1990.

92. Гарбуни М. Физика оптических явлений. -М.: Энергия, 1967, 374 с.

93. Born М. Z. Physik, 1926, 37, 863.

94. Born М. Z. Physik, 1926, 36, 803.

95. Пякилля И.В., Никитенко Б.Ф., Кузнецов А.А.Принцип построения систем автоматического корректирования в атомно-эмиссионном анализе.

96. Вешкурцев Ю.М., Пякилля И.В., Казаков Н.С. Алгоритм количественного спектрального с автоматической коррекцией стандартных образцов. //Дефектоскопия, УО РАН, N , 1998, с.

97. Березин Н.П. Методы вычислений. -М.: Наука, 1966, т.1, 632 с.

98. Шипов Г.И. Теория физического вакуума, -М.: изд-во НТ-ЦЕНТР, 1993, 362 с.

99. Ефремов А.П. Кручение пространства-времени. -М.: препринт,N6, изд-во "НТЦ ВЕНТ",1991, 75 с.171