Дополнение теории спектрального анализа материалов элементами оценки физико-механических свойств и использования виртуальных эталонов тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 05.11.13, доктор технических наук Кузнецов, Андрей Альбертович

• Кузнецов, Андрей Альбертович
• доктор технических наук
• 2007

Оглавление диссертации доктор технических наук Кузнецов, Андрей Альбертович

ВВЕДЕНИЕ

СПИСОК ИСПОЛЬЗОВАННЫХ СОКРАЩЕНИЙ.

1. АНАЛИЗ НАПРАВЛЕНИЙ ДИАГНОСТИРОВАНИЯ МАТЕРИАЛОВ СРЕДСТВАМИ АТОМНО-ЭМИССИОННОЙ СПЕКТРОСКОПИИ.

1.1. Сферы применения метода атомно-эмиссионной спектроскопии в обеспечении качества материалов и изделий.

1.1.1. Применение приборов атомно-эмиссионной спектроскопии для контроля материалов авиационного и транспортного машиностроения.

1.1.2. Использование спектрального анализа для контроля эксплуатационных свойств транспортных систем

1.1.3. Использование спектрального анализа в геологии, медицине, криминалистике.

1.2. Способы регистрации спектрального излучения.

1.2.1. Базовые способы регистрации спектров и обработки данных спектрометрирования.

1.2.2. Оптические схемы атомно-эмиссионных спектрометров

1.2.3. Методы обработки дискретной спектрометрической информации.

1.3. Анализ методического обеспечения автоматизированных систем спектрального анализа.

1.3.1. Графические методы определения количественного состава

1.3.2. Регрессионные методы определения количественного состава.

1.3.3. Методики на основе физического моделирования.

1.4. Исследование физико-механических свойств материалов методами спектрального анализа.

1.5. Постановка задач исследования в диссертационной работе.

2. ТЕОРЕТИЧЕСКИЕ И ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ ФУНДАМЕНТАЛЬНЫХ МОДЕЛЕЙ СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА.

2.1. Физические основы построения модели.

2.2. Метод контрольного эталона.

2.3. Метод внутреннего стандарта.

2.4. Алгоритм расчета методом внутреннего стандарта.

2.5. Проверка математической модели для различных приемников регистрации спектров.

2.5.1. Экспериментальная проверка МВС для сканирующих систем с фотографической регистрацией спектра

2.5.2. Экспериментальная проверка алгоритма для приборов с фотоэлектрической регистрацией спектра.

2.6. Выводы.

3. НАУЧНЫЕ И МЕТОДОЛОГИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРНЫХ ОСОБЕННОСТЕЙ МАТЕРИАЛОВ СРЕДСТВАМИ АЭС.

3.1. Оценка влияния структурных параметров на измеряемые сигналы регистрируемого спектра.

3.2. Теоретические основы создания изолированных систем контроля.

3.3. Принцип разделения количественного состава и физико-механических свойств.

3.4. Исследование математической модели оценки структурных особенностей материалов.

3.5. Выводы.

4. ИССЛЕДОВАНИЕ БЕЗЭТАЛОННЫХ СИСТЕМ

СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА.

4.1. Исследование теории возможностей для создания виртуальных эталонов применительно к спектральному анализу.

4.2. Исследование влияющих факторов для построения модели с использованием виртуальных эталонов.

4.3. Исследование корреляционных методов анализа.

4.4. Исследование итерационных многопараметровых методов с виртуальными эталонами.

4.5. Экспериментальное подтверждение метода последовательных приближений для различных диапазонов измерения

4.6. Выводы.

5. СОЗДАНИЕ САМООРГАНИЗУЮЩИХСЯ СИСТЕМ ВХОДНОГО КОНТРОЛЯ.

5.1. Разработка критериев энергетического соответствия в системах входного контроля.

5.2. Исследование автоматизированной системы входного контроля.

5.3. Оценка достоверности поисковых систем.

5.4. Выводы.

6. РАЗРАБОТКА И ИССЛЕДОВАНИЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНО-ВЫЧИСЛИТЕЛЬНОГО КОМПЛЕКСА С ФОТОГРАФИЧЕСКИМ СКАНИРОВАНИЕМ СПЕКТРОВ.

6.1. Назначение измерительно-вычислительного комплекса

6.2. Особенности организации аппаратной части ИВК.

6.3. Состав и работа программного обеспечения

6.4. Определение положения спектральных линий.

6.5. Выводы.

7. ИССЛЕДОВАНИЕ ИВК НА ОСНОВЕ МНОГОЭЛЕМЕНТНЫХ ТВЕРДОТЕЛЬНЫХ ДЕТЕКТОРОВ.

7.1. Исследование приборов с зарядовой связью для регистрации сигналов в спектральном анализе материалов.

7.2. Назначение и особенности организации аппаратной части ИВК с фотоэлектрической матричной регистрацией спектров.

7.3. Состав и работа программного обеспечения.

7.4. Способ идентификации и измерения параметров спектральных линий.

7.5. Выводы.

8. ИССЛЕДОВАНИЕ МЕТРОЛОГИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК АВТОМАТИЗИРОВАННЫХ СИСТЕМ КОНТРОЛЯ.

8.1. Погрешности методик и инструментальных средств.

8.2. Исследование погрешностей, вносимых в конечный результат, учитывая принятые допущения математической модели.

8.3. Аттестация испытательного оборудования и лабораторий.

8.4. Непрерывный контроль точности результатов измерений.

8.5. Выводы.

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Дополнение теории спектрального анализа материалов элементами оценки физико-механических свойств и использования виртуальных эталонов»

Актуальность темы. В различных отраслях промышленности, транспора, энергетики, добывающего комплекса в настоящее время усиливаются на-равления повышения качества производства и конечной продукта. Управление ачеством осуществляется на всех уровнях, начиная от проектирования и разра-отки, заканчивая контролем изготовления и готовой продукции.

В федеральной целевой программе «Модернизация транспортной системы оссии на 2002 — 2010 годы», утвержденной Постановлением Правительства оссийской Федерации №848 от 05.12.2001 г. (ред. 31.05.2006 №338), особое ме-го уделяется программе комплексной безопасности транспортных систем, соз-анию перспективных технических средств и технологий.

С целью сохранения ведущего положения России в области новых материа-эв, Министерство образования и науки РФ разработало федеральную целевую рограмму «Развитие инфраструктуры наноиндустрии в РФ на 2007 - 2010 г.», в зторой намечено создание приборно-инструментальной базы мирового уровня, азработка металлов и сплавов со специальными свойствами.

Важное место в данных направлениях отводится физико-химическим ме-эдам контроля качества. Такие системы контроля перекрывают широкий тектр задач на предприятиях различной направленности от металлургии и ма-иностроения до нефтехимии, геологии и медицины.

Стремление к дальнейшему повышению качества выпускаемой продукции, жводит к необходимости постоянного совершенствования существующих мето-)в контроля и, в частности, методов контроля количественного состава материа-)в средствами атомно-эмиссионного спектрального анализа (АЭСА).

Обладая высокой чувствительностью и универсальностью, приборы АЭСА эстоянно совершенствуются, находя новое свое применение. Известны работы зссийских и зарубежных ученых, в которых исследуются источники спектрально излучения, применение стандартных образцов различного уровня точности и гапазона количественного состава, способы регистрации и обработки сигналов ¡мерительной информации. Особое внимание отводится автоматизации средств штроля, созданию автоматизированных систем управления производством.

С появлением в аналитической практике автоматических сканирующих икрофотометров (МФМ) и многоканальных фотоэлектрических систем с бло-ами регистрации на основе твердотельных детекторов изображения (ТДИ), раз-итие АЭСА связывается с расширением их функционального назначения, пучшением метрологических характеристик результатов при автоматизации и эмпьютеризации методик выполнения анализов.

Решением проблем контроля занимались представители различных науч-ых направлений: Г. И. Альперович, Л. В. Арнаутов, В. В. Бродский, Ю. М. Бу-авлев, Л. А. Грибов, А. Г. Жиглинский, А. Н. Зайдель, X. И. Зильберштейн, . Н. Иоффе, Ю. X. Йорданов, Л. П. Козлов, Е. С. Куделя, И. И. Кусельман, . И. Малышев, Н. А. Морозов, В. Н. Музгин, В. В. Налимов, В. В. Недлер, . Р. Огнев, В. К. Прокофьев, А. А. Пупышев, Т. Терек, А. К. Русанов, В. Н. алмов, И. Р. Шелпакова, И. Г. Юделевич и др.

Вместе с тем, до настоящего времени основным инструментом при обра-этке данных остаются градуировочные графики, построенные по комплектам зрогостоящих стандартных образцов (СО). Известно большое количество ра-эт, связанное с совершенствованием математического аппарата обработки эм-ярических данных. Основной проблемой этого направления является невоз-ожность полного обеспечения анализов комплектами СО, особенно для случая штроля неизвестных материалов. К другой проблеме относится повышение >чности и достоверности при обеспечении эквивалентных условий испытания, ж несоответствии технологии изготовления СО и контролируемых материа-)в, когда возникают дополнительные погрешности измерений.

Поэтому нельзя считать полностью исчерпанной проблему, состоящую из ща нерешенных задач, относящихся к контролю материалов средствами ЭСА, в первую очередь совершенствования метода и расширения его функ-тональных возможностей на этапе обработки первичной информации.

Целью данной работы является расширение функционального назначе-1Я атомно-эмиссионного спектрального анализа, создание комплексных мето->в диагностирования количественного состава и оценки физико-механических юйств материалов, применение виртуальных эталонов, позволяющих повыть точность и достоверность контроля.

Реализация поставленной цели определяется решением следующих задач.

1. Создание физических моделей на этапе получения первичной инфор-ации для различных способов регистрации в спектральном анализе, устанав-ивающих взаимосвязь измеряемых параметров с выходной величиной -роцентным содержанием элементов контролируемых объектов.

2. Расширение традиционного использования методов АЭС А не только ля определения количественного состава, но и комплексной оценки внутрен-его состояния, включая физико-механические свойства и структурные пара-етры материалов.

3. Разработка методов контроля средствами АЭС А с использованием ин-ормационного представления стандартных образцов с последующим перехо-эм к «безэталонным» системам спектрального анализа.

4. Разработка методологических основ и информационного представле-ия задач входного контроля неизвестных материалов.

Объект исследования - промышленные автоматизированные системы 1алитического контроля качества продукции на базе методов атомно-¿иссионного спектрального анализа.

Предмет исследования - методическое обеспечение автоматизировании: систем аналитического контроля, определение способов обработки, опти-ального и достаточного набора первичных параметров для достижения по-гавленной цели и решения поставленных задач.

Методы исследования - теоретико-экспериментальные, базирующиеся 1 прикладной и вычислительной математике, теории вероятностей, на класси-?ской молекулярной физике и термодинамике, а также физическом моделиро-шии на реальных объектах с заданными свойствами для подтверждения адек-1тности разработанных моделей.

Научная новизна обусловлена тем, что впервые был получен ряд теоре-шеских и экспериментальных результатов:

1. Предложена физическая модель обработки данных для приборов с фо-»графической и фотоэлектрической регистрацией спектров в виде системы равнений, на основе энергетических представлений, связывающая параметры злучения и поглощения в низкотемпературной плазме с количественным со-ержанием элементов примесей в материалах и сплавах (Патент России 8286966, МКИ ООШ21/67. Способ определения массовых долей элементов в атериалах и сплавах).

2. Предложены энергетические критерии для определения соответствия ус-эвий проведения эксперимента для исследуемой пробы и стандартного образца, получены аналитические выражения для приведения исходных данных спек-эального анализа к эквивалентным (Патент России 2035718, МКИ ООШ21/67. пособ определения массовых долей элементов в материалах и сплавах).

3. Предложены критерии существования равновесных (РИС), неравно-5сных (НИС) и замкнутых (ЗС) относительных систем для аналитической па-ы <исследуемая проба - стандартный образец>, позволившие осуществить азделение количественного состава и «структурных» составляющих.

4. Разработаны итерационные адаптивные алгоритмы расчета количест-шного состава с использованием виртуальных эталонов (ВЭ), представляю-;их информационное представление реальных стандартных образцов, на осно-? предложенной энергетической модели.

5. Предложены алгоритмы и структура информационного обеспечения содного контроля неизвестных материалов, на основе ВЭ в условиях отсутст-1я реальных стандартных образцов.

6. Разработаны новые методы идентификации анализируемых линий в хледуемом спектре на основе применения вейвлет преобразования и проце-ф сравнения измеренных и эталонных спектров для автоматизированных сис-!М АЭСА (Пат. 2291406 Россия, МПК 001 N21/00, в01 13/30. Способ измере-т параметров спектральных линий при спектральном анализе).

7. Представлены алгоритмы оценки точности разработанных автоматизи->ванных устройств (Патент России 2029257, МКИ ООШ21/67. Устройство для [ектрального анализа), на базе предложенных энергетических моделей, с ценкой достоверности результатов контроля, а также непрерывного контроля рецизионности лабораторий в условиях непрерывного производства.

Практическая значимость и внедрение результатов. Разработанные гюсобы определения количественного состава, физико-механических свойств сследуемых объектов в виде программного обеспечения используются в авто-атизированных системах контроля:

- разработан и внедрен автоматизированный комплекс типа ФОТОС-5М пя обработки результатов анализов материалов и сплавов на основе промыш-знного микрофотометра с фотографической регистрацией спектров ФГУП •МО им. П. И. Баранова г. Омск;

- разработано и внедрено программное обеспечение на основе использо-ания виртуальных эталонов, что позволило сократить количество реальных гандартных образцов, участвующих в непрерывном производственном кон-золе на ФГУП ОМО им. П. И. Баранова г. Омск;

- Разработан и внедрен программно-аппаратный комплекс на базе модер-изированной установки для фотоэлектрического анализа типа МФС-8М, по-юляющий сократить время выполняемых анализов ОАО «АК «Омскагрегат»;

- Разработан и внедрен программно-аппаратный комплекс на базе модер-язированной установки для фотоэлектрического анализа типа ИСП-30, позво-1ющий сократить время выполняемых анализов на ОАО «Омское машино-гроитеьлное конструкторское бюро» г. Омск.

- Результаты работы в виде программного обеспечения используются в 1ебном процессе и научно-исследовательской работе студентов Омского госу-фственного университета путей сообщения (акт использования и свидетель-:во регистрации в ОФАП представлены в Приложении к диссертации).

Апробация работы. Основные положения и результаты диссертацион-эй работы докладывались, обсуждались и получили одобрение на 18 конфе-шциях и семинарах различных рангов, в том числе: III региональной конфе-;нции «Аналитика Сибири - 90» (Иркутск, 1990); III Всесоюзной научно-¡хнической конференции «Автоматизированные системы испытаний объектов

-д. транспорта» (Омск, 1991); 15-й Российской научно-технической конфе-енции «Неразрушающий контроль и диагностика» (Москва, 1999); III между-ародной научно-технической конференции «Динамика систем механизмов и ашин» (Омск, 1999); V международной научно-технической конференции Актуальные проблемы электронного приборостроения АПЭП-2000» (Новоси-ирск, 2000); III международной научно-технической конференции «Компью-грное моделирование 2002» (Санкт-Петербург, 2002); 10 научно-рактического семинара «Аналитика 2002» (Санкт-Петербург, 2002); II Между-ародного технологического конгресса «Военная техника, вооружения и техно-эгии двойного применения в XXI веке» (Омск, 2003); XVI Уральская конфе-знция по спектроскопии (Екатеринбург, 2003); V международной научной энференции «Электромеханика, электротехнологии и электроматериаловеде-ие ICEEE-2003» (Партенит, 2003); 6 Всероссийской научно-технической кон-еренции «Современные проблемы радиоэлектроники» (Красноярск, 2004); 1еждународной конференции «Энергосберегающие технологии и окружающая эеда» (Иркутск, 2004); Международной научной конференции «Актуальные роблемы развития транспорта России: стратегические, региональные, техни-иские» (Ростов-на-Дону, 2004); European Conference on Plasma Spectrochemistry Winter 2005» (Budapest, Hungary, 2005); Всероссийской научно-технической энференции с международным участием «Ресурсосберегающие технологии на елезнодорожном транспорте» (Красноярск, 2005); Международный симпози-«Применение анализаторов МАЭС» (Новосибирск, 2005); IV международ-эго симпозиума «Фракталы и прикладная синергетика» (Москва, 2005); меж/народной научно-практической конференции «Теория, методы и средства шерений, контроля и диагностики» (Новочеркасск, 2006).

Публикации. Результаты диссертации опубликованы в 60 работах. В том юле монографий - 2, статей - 24 (из перечня ВАК - 12), материалов и тезисов жладов - 30, патентов на изобретения - 4.

Структура и объем работы. Диссертация состоит из введения, восьми [ав, заключения, приложения и списка использованных источников из 275 на-*1енований. Общий объем составляет 333 страницы машинописного текста том числе основного - 287), 86 рисунков и 53 таблиц.

Заключение диссертации по теме «Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий», Кузнецов, Андрей Альбертович

8.4. Выводы

1. Исследованы метрологические характеристики разработанных устройств и методик, положенных в основу программного обеспечения АСАК.

2. Аттестация метрологических характеристик выполнена в соответствии с требованиями существующих ГОСТов. Порядок и пример оформления протокола аттестации представлен в настоящей главе диссертационной работы. В результате проведенных испытаний выявлено, что предельные аттестуемые параметры не превысили аналогичных нормируемых параметров.

3. Из составляющих погрешностей, приписываемых ИВК и ИИС аналитического контроля, детально исследована методическая погрешность физической модели. Методическая погрешность не превысила полную погрешность анализа, при проведении испытаний стандартных образцов с заданным количественным составом.

284

4. С вводом в России новых стандартов серии ГОСТ Р ИСО 5725, на основе требований международной системы стандартизации, были уточнены некоторые понятия и определения по отношению к точности и прецизионности выполняемых измерений. Предложены методы непрерывного контроля точности АСАК в процессе производства, как одного из новых требований рассматриваемого документа.

5. Представленный перечень метрологического обеспечения является необходимым и достаточным для рассматриваемого вида средств измерения и контроля при их промышленном применении. Кроме того, приведенные данные соответствуют последним Российским и международным требованиям в направлении обеспечения единства измерений.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

В результате выполненного комплекса теоретических и экспериментальных исследований разработаны основные принципы формирования математической модели обработки данных в атомно-эмиссионном спектральном анализе на основе физического представления источника информации -низкотемпературной плазмы, на этой основе предложены автоматизированные системы АЭСА, решающие задачи комплексного исследования качества материалов и промышленных изделий.

1. Разработаны теоретические основы построения фундаментальных моделей обработки спектрометрической информации на основе представления ин-тенсивностей излучения спектральных линий в виде энергетических параметров. Доказаны преимущества физико-математических моделей при обработке данных спектрометрической информации, по сравнению с существующими методами твердого графика, заключающиеся в уменьшении погрешностей, обусловленных «структурными» различиями стандартных образцов и исследуемой пробы.

2. Разработаны методики контрольного эталона и внутреннего стандарта, позволяющие работать в полном диапазоне определяемых концентраций промышленного спектрального анализа с применением одного реального стандартного образца и серии уточняющих расчетных эталонов.

3. Составлены алгоритмы программного обеспечения для автоматизированных систем аналитического контроля с фотографической и фотоэлектрической регистрации спектров по определению количественного состава материалов, в основе которых лежит физическая модель с энергетическими параметрами. Адекватность модели подтверждена при испытании образцов с известным количественным составом.

4. Расширена область традиционного применения приборов спектрального анализа. Наряду с традиционным определением химсостава, на основе физико-математических моделей, разработаны комплексные методы исследований в цепи состав-структура-свойства материалов и изделий. Разработаны алгоритмы оценки физико-механических свойств и структурных параметров для предложенных автоматизированных систем.

5. Определены относительные равновесные и изолированные системы для разделения количественного состава, и физико-механических свойств материалов. Предложена математическая модель и графическая интерпретация равновесных и изолированных систем в зависимости от измеряемых параметров спектрального излучения.

6. На основе фундаментальных законов термодинамики определены теоретические параметры, влияющие на интенсивность спектрального излучения при изменении структурных и физико-механических свойств материалов с одинаковым химсоставом. Определены параметры для практического использования при контроле физико-механических свойств материалов.

7. Предложены способы построения безэталонных систем обработки информации для нелинейных функциональных зависимостей на основе применения физической модели определения концентраций анализируемых элементов и промежуточных расчетных внутренних стандартов (виртуальных эталонов).

8. Определены критерии точности нахождения искомых параметров в нелинейных системах на основе применения физической модели вычисления концентраций анализируемых элементов и промежуточных расчетных внутренних стандартов (виртуальных эталонов).

9. Предложены критерии повышения достоверности определения концентраций примесей неизвестных материалов в условиях отсутствия стандартных образцов. Разработан энергетический критерий соответствия неизвестных проб реальным эталонам с уточнением их параметров, путем вычисления промежуточных виртуальных эталонов.

287

10. Разработан алгоритм, положенный в основу программного обеспечения автоматизированных систем входного контроля количественного состава неизвестных материалов на основе использования виртуальных эталонов. Предложены способы организации информационного обеспечения АСАК входного контроля.

11. Внедрены автоматизированные измерительные системы для проведения промышленного спектрального анализа с программным обеспечением на основе разработанных методик на ряде предприятий, в том числе ОАО «АК «Омскагрегат»; ФГУП ОМО им. П. И. Баранова; ОАО «Омское машиностроительное консрукторское бюро»; ОАО «Первоуральский новотрубный завод»; ООО «НТК «Криогенная техника», г. Омск; ОАО НЛП «Славна» г. Заречный.

12. Исследованы метрологические характеристики приборов и методического обеспечения спектрального анализа с использованием физико-математических моделей обработки спектрометрической информации на основе требований современных нормативных документов серии ГОСТ Р ИСО. Подготовлены акты ввода в эксплуатацию сложного испытательного оборудования.

Список литературы диссертационного исследования доктор технических наук Кузнецов, Андрей Альбертович, 2007 год

1. Осока И. В. Государственный реестр средств измерения // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. №10. Т. 71.2005. С. 65-71.

2. ПР 50.2011-94 «Порядок ведения государственного реестра средств измерения». М.: Издательство стандартов. 1995.

3. С. В. Boss, К. J. Fredeen Concepts, Instrumentation and Techniques in inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometry. Perkin Elmer Instruments, 1997. 116 p.

4. ГОСТ 27809-95. Чугун и сталь. Методы спектрографического анализа. М.: Издательство стандартов. 1995.

5. ГОСТ 18895-97 Сталь. Метод фотоэлектрического спектрального анализа. М.: Издательство стандартов. 1997.

6. ГОСТ 27611-88 Чугун. Метод фотоэлектрического спектрального анализа. М.: Издательство стандартов. 1988.

7. Кузнецов А. А., Овчаренко С. М. Спектральный анализа как метод диагностирования /, А. А. Кузнецов // Локомотив. 2006. №12. С. 34 35.

8. Клюка В. П., Гусев Г. Ф., Кузнецов А. А. Экспресс-метод определения технического состояния букс вагонов и локомотивов. Сб. науч.статей "Новые технологии железнодорожному транспорту" / Омский гос. унт путей сообщения. Омск, 2000.

9. Васильева И. Е. Дуговой атомно-эмиссионный анализ твердых образцов задача искусственного интеллекта // Аналитика и контроль №5, Т. 6,2002

10. Высокая информативность прямого атомно-эмиссионного спектрального анализа при применении МАЭС / С. Б. Заякина, Г. Н. Аношин, Л. М. Левченко, В. Н. Митькин, А. Н. Путьмаков // Аналитика и контроль. 2004. Т8. №3. с. 236-247

11. Хитров В. Г. Результаты межлабораторной оценки качества определений микроэлементов в горных породах / В. Г. Хитров, Р. В. Кортман. М.: ВИЭМС, 1974. 48 с.

12. Хитров В. Г. Надежность анализа горных пород (факты, проблемы, решения) / В. Г. Хитров, Г. Е. Белоусов, Н. А. Божевольнова. М.: Наука, 1985.302 с.

13. Vasilyeva I. Е. Calibration model of simultaneous multielement atomicemission analysis using analytical line groups of each determined element / I. E. Vasilyeva, E. V. Shabanova // Fresenius J. Anal. Chem. 1998. V. 361. №3. P.280-282.

14. Емельянова И. В. Алгоритмическое и программное обеспечение задач приближенно-количественного атомно-эмиссионного анализа: Автореф. дис. . канд. техн. наук. Иркутск, 1990. 24 с.

15. Черноиванова Т. М., Бессонов В. В. Применение МАЭС в экспертизе следов продуктов выстрела / VI международный симпозиум «Применение анализаторов МАЭС в промышленности», Новосибирск, Академгородок, 2005, С. 63-66.

16. Пчелинцев А. М. Экспертное исследование свинцовых сплавов методом количественного безэталонного эмиссионного спектральногоанализа / A. M. Пчелинцев, В. А. Корнеев. Методическое пособие для экспертов. М.: ВНИСЭ. 1983. 21 с.

17. Корнеев В. А. Криминалистическое исследование золото-серебряно-медных сплавов с помощью безэталонного микроспектрального анализа / В. А. Корнеев, А. М. Пчелинцев, Е. А. Ивченко / в сб. Экспертная техника №93. М.: ВНИСЭ. 1986 С.48-57.

18. Дробышев А. И. Применение МАЭС для атомно-эмиссионного определения свинца в крови / V междун. симпозиум «Применение анализаторов МАЭС в промышленности», Новосибирск, Академгородок, 2004, С. 38^40.

19. Б. И. Заксас, А. Б. Корякин, В. А. Лабусов, В. И. Попов, Н. П. Рязанцева, И. Р. Шелпакова Многоканальный анализатор атомно-эмиссионных спектров / Заводская лаборатория. №9, 1994. С. 20-22.

20. Бикматов Р. Р., Гришин М. П., Курбанов Ш. М., Маркелов В. П., Святославская Т. А., Святославский Н. Л. Многоканальная прецизионная система фотометрирования для ввода фотоизображений в ЭВМ. // Автометрия, №1, 1996.

21. Неразрушающий контроль. В 5 кн., Кн. 4 Контроль излучениями / Б. Н. Епифанцев, Е. А. Гусев, В. И. Матвеев, Ф. Р. Соснин; Под ред. В. В. Сухорукова. М.: Высш. шк., 1992. 321 с.

22. Taylor Р., Schuster Р. / Spectrochim. Acta. 1986. V41B. P. 81-103.

23. Sullivan J. J., Quimby В. / Analyt. Chem. 1990. V62. P. 1034-1043.

24. Картер Д. Spectro Ciros новое слово в методе оптической эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой / Аналитика и контроль. 2003. Т.7. №2, С. 112-119.

25. Лившиц А. М. Разаработка спектральной аппаратуры на базе приборов с зарядовой связью // Оптика и спектроскопия. 1994. Т.76, №2. С. 363-368.

26. Лабусов В. А., Попов В. И., Бехтерев А. В., Путьмаков А. Н., Пак А. С. Многоэлементные твердотельные детекторы излучения большого размерадля атомно-эмиссионного спектрального анализа / Аналитика и контроль №2, Т.9, 2005. С.104-109.

27. Пейсахсон И. В. Оптика спектральных приборов. Ленинград. Машиностроение, 1970. 270 с.

28. Шелпакова И. Р., Гаранин В. Г., Лабусов В. А. Многоэлементные твердотельные детекторы и их использование в атомно-эмиссионном анализе. / Заводская лаборатория. 1999. №10. С. 3-16.

29. Cho J. H.,Gemperline P. J., Walker D. / Appl. Spectrosc. 1995. V. 49. №12. P.1841-1845.

30. Sadler D. A., Littlejohn D. / J. Anal. Atom. Spectrom. 1995. V. 10. №3. P.253-257.

31. Sadler D. A., Littlejohn D., Riley R., Perkins С. V. / Appl. Spectrosc. 1996. V. 50. №4. P.504-510.

32. V. G. Garanin, I. R. Shelpakova Spectrum shift fitting technique for atomic emission spectrometry / Spectrochimica Acta Part В 56 (2001) P.351-362.

33. Райхбаум Я. Д. Физические основы спектрального анализа. М.: Наука. 1980. 158 с.

34. Русанов А. К. Основы количественного спектрального анализа руд и минералов. М.: Недра. 1978. 400 с.

35. Нагибина И. М., Михайловский Ю. К. Фотографические и фотоэлектрические спектральные приборы и техника спектроскопии. Л. Машиностроение. 1981. 246 с.

36. Шараф М. А., Иллмен Д. Л., Ковальски Б. Р. Хемометрика / Пер с англ. Л.: Химия. 1989. 272 с.

37. Faber К., Kovalski В. R. / Journal of Chemometrics. 1997. №11. P. 181-238.

38. Айвазян С. А., Енюхов И. С., Мешалкин Л. Д. Прикладная статистика. Основы моделирования и первичная обработка данных. М.: Финансы и статистика. 1983. 471 с.

39. Айвазян С. А., Енюхов И. С., Мешалкин Л. Д. Прикладная статистика. Исследование зависимостей. М.: Финансы и статистика. 1985. 487 с.

40. Айвазян С. А., Енюхов И. С., Мешалкин Л. Д. Прикладная статистика. Классификация и снижение размерностей. М.: Финансы и статистика. 1989. 607 с.

41. Горбань А. Н., Россиев Д. А. Нейронные сети на персональном компьютере. Новосибирск. Наука. 1996. 276 с.

42. Васильева И. Е., Кузнецов А. М., Васильев И. Л., Шабанова Е. В. / Журнал аналитической химии. 1997. Т.52. №12. С. 1238-1248.

43. Гаранин В. Г. Аналитические возможности многоканального анализатора эмиссионных спектров (МАЭС): дисс. канд. хим. наук. -Новосибирск. 2000. 120с.

44. Емельянова И. В. Алгоритмическое и программное обеспечение задач приближенно-количественного атомно-эмиссионного спектрального анализа.: дисс. канд. техн. наук. Алма-Ата, 1990. 208 с.

45. Болыпов М. А. Некоторые современные методы элементного спектрального анализа и тенденции их развития (обзор) // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. №9. Т.70. 2004. С. 3-13.

46. Морозов И. А., Мельников В. И. , Никольский А. П. Автоматизированные системы оптического спектрального анализа металлов и сплавов. / Заводская лаборатория. №6, 1986, С. 20.

47. Салмов В. Н., Цой Е. Б., Коваль К. К. Об алгоритме построения градуировочных графиков в автоматизированных системах обработки результатов спектрального анализа. / Заводская лаборатория. №6, 1986, С. 27-29.

48. Морозов Н. А., Игнатова Н. И. , Мельников В. И / Заводская лаборатория. 1985, Т 51, № 4, С. 20.

49. Морозов Н. А., Игнатова Н. И. / Журнал прикладной спектроскопии, 1986, Т44, вып. 2, С. 336.

50. Морозов Н. А. Совершенствование методов атомно-эмиссионного спектрального анализа металлов и сплавов с помощью ЭВМ. / Заводская лаборатория. № 8, 1991, С. 22.

51. Петров JI. J1. Закономерности распределения результатов в аналитических интервалах методик выполнения измерений при количественных методах элементного анализа / Заводская лаборатория 2001, №12, С.49

52. Кусельман И. И., Малыхина JI. А. Алгоритм использования спектральной информации при аттестации стандартных образцов состава сплавов / Заводская лаборатория, 1983, №2, С. 34-35.

53. Салмов В. Н., Косенко А. И., Усов В. А., Джураев В. Б. Система автоматизированной обработки результатов спектрального анализа проб металлов // Заводская лаборатория, 1986, №2, С. 22-24.

54. Коваленко М. Н., Чекан В. А., Маркова JI. В., Коледа В. В., Турутин А. Ф. Разработка методики анализа алюминия с использованием атомно-эмиссионного спектрометра "Эмас-200Д" // Заводская лаборатория. Диагностика материалов, 2000, №1, с.22

55. Козлов JI. П., Шеверда В. А. Оптимизация параметров градуировочных функций для квантометров фирмы ARL. // Заводская лаборатория. 1988, №2, С. 40.

56. Борбат А. М., Слабеняк В. И. Количественный эмиссионный спектральный анализ без сопровождающих эталонов. // Журнал прикладной спектроскопии. 1984, Т. 40, №5, С. 718-720/

57. Диагностика состава материалов рентгено дифракционными и спектральными методами. / М. С. Нахмансон, В. Г. Фекличев. JL: Машиностроение, 1990. 357 с.

58. Vasilyeva I. Е., Shabanova Е. V. / Fresenius Journal of Analytical Chemistry. 1998.V.361. №3.P.280-282.

59. Morales J. A., van Veen E. H., de Los-Vollebregt M. Т. C. / Spectrochimica acta.1998. V.53 B. №5. P.683-697.

60. E. В. Шабанова, И. E. Васильева, И. JI. Васильев, А. И. Непомнящих. Модели градуировки и оценка их применимости в многоэлементном атомно-эмиссионном анализе твердых образцов. / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. №2. 2005 С. 9-15.

61. Буравлев Ю. М. Влияние структуры на результаты спектрального анализа сплавов. М.: Металлургиздат, 1963, 152 с.

62. Никольский А. П. , Замараев В. П. Бердичевский Г. В. Автоматизированный экспресс-контроль состава материалов в черной металлургии. М.: Металлургия, 1985. 104 с.

63. Верховский Б. И. и др. Автоматизация аналитического контроля в металлургии // Заводская лаборатория, 1982, №2, С. 37-40.

64. Еханин М. В., Кабанова О. В. Применение математического планирования эксперимента при моделировании процессов цветной металлургии. М.: ЦНИИ Цветмет, экономики и информации, 1984, вып. 4.48 с.

65. Альперович Г. И., Анапамян С. А. Пакет программ "АСАК" для УВК М-6000. // В кн.: Автоматизация горнообогатителъных и металлургических производств. М.: НПО "Союзцветметавтоматика", 1983. С. 147-153.

66. Кабанова О. В., Слободчикова Р. И. Нетрадиционный метод поиска параметров нелинейных моделей. //Заводская лаборатория. 1978, 44, №3, С. 334-338.

67. Карих Ф. Г., Лякишева В. И. Сопоставление возможностей экспрессных фотографических методов анализа сплавов // Заводская лаборатория, 1985, №3, С. 84-85.

68. Блохин М. А. и др. Феноменологические уравнения связи в рентгеноспектральном анализе. // Заводская лаборатория, 1973. 39, № 9 С. 1081.

69. Величко Ю. И., Забродин А. Н. Теоретический выбор формы уравнения связи при РСА пульповых продуктов цветной металлургии. / В сборн.: Автоматизация горнообогатительных процессов цветной металлургии. М., ВНИКИ "Цветметавтоматика", 1981 С. 40-47.

70. Дуймакаев Ш. И. Использование рассеянного, первичного излучения при РСА методом теоретических поправок. // Заводская лаборатория 1984, №11, С. 20-23.

71. Калинин Б. Д., Карамышев Н. И., Плотников Р. Н., Вершинин А. С. Учет изменения эффективной длины волны в рентгеноспектральном анализе способом теоретических поправок. // Заводская лаборатория, 1986.

72. Симаков В. А., Сорокин И. В. Использование метода фундаментальных параметров при РСА. // Заводская лаборатория 1984, Т50, №4, С. 24.

73. Mantler M.LAMA Ш-а computer programm for quantitative XRFA of bulk specimens and thin films layers. //Advances 513, 1984, V. 27, p. 433-440.

74. Першин H. В., Голубев А. А., Мосичев В. И. О возможностях повышения точности метода фундаментальных параметров. // Заводская лаборатория. 1991, № 11, С. 51-55.

75. Величко Ю. И., Павлинский Г. В., Ревенко А. Г. Программа расчета интенсивноетей аналитических линий рентгеновского спектра флуоресценции. // Заводская лаборатория 1977, 43, №4, С. 433-436.

76. Афонин В. П. , Гуничева Т. Н. , Пискунова JI. Ф. Рентгенофлу-оресцентный силикатный анализ. Новосибирск: Наука, 1984.

77. Automated multicomponent analysis with corrections for inferences and mattrix effects / J. H. Kalivas, B. R. Kowalski // Analytical chemistry, 1983, №55, p. 532-535.

78. Пат. 2035718 Россия, МКИ G01N21/67. Бюллетень. Способ определения массовых долей элементов в материалах и сплавах / Никитенко Б. Ф., Одинец А. П., Казаков Н. С., Кузнецов В. П., Кузнецов А. А. 1995. Бюллетень №14.

79. Никитенко Б. Ф., Казаков Н. С., Кузнецов А. А. Разработка и использование автоматизированных измерительных систем в спектральном анализе. М., НТЦ "Информтехника", 1990. 80 с.

80. Кузнецов А. А. Разработка и исследование способов диагностики материалов в атомно-эмиссионном экспресс-анализе: Дисс. канд. техн. наук. Омск, 1995. 193 с.

81. Кабанова О. В., Слободчикова Р. И. Нетрадиционный метод поиска параметров нелинейных моделей. // Заводская лаборатория. 1978, №3, С. 334-338.

82. Еханин М. В. , Кабанова О. В. и др. Применение математического планирования эксперимента при моделировании процессов цветной металлургии. М.: ЦНИИ цветмет экономики и информации, 1984, вып. 4. 48 с.

83. Блохин М. А. и др. Феноменологические уравнения связи в рентгеноспектральном анализе. // Заводская лаборатория. 1973. № 9. С. 1081.

84. Величко Ю. И., Забродин А. Н. Теоретический выбор формы уравнения связи при РСА пульповых продуктов цветной металлургии: В сб. "Автоматизация горнообогатительных процессов цветной металлургии." М., ВНИКИ "Цветметавтоматика", 1981 с. 40-47.

85. Дуймакаев Ш. И, и др. Использование рассеянного, первичного излучения при РСА методом теоретических поправок. // Заводская лаборатория 1984. №11. С. 20-23.

86. Калинин Б. Д., Карамышев Н. И. , Плотников Р. Н., Вершинин А. С. Учет изменения эффективной длины волны в рентгеноспектральном анализе способом теоретических поправок. // Заводская лаборатория. 1986. №3.

87. Симаков В. А., Сорокин И. В. Использование метода фундаментальных параметров при РСА. // Заводская лаборатория 1984. №4. С. 24.

88. Першин Н. В., Голубев А. А., Мосичев В. И. О возможностях повышения точности метода фундаментальных параметров. // Заводская лаборатория. 1991. № 11. С. 51-55.

89. Величко Ю. И., Павлинский Г. В., Ревенко А. Г. Программа расчета интенсивностей аналитических линий рентгеновского спектра флуоресценции. // Заводская лаборатория 1977. №4. С. 433-436.

90. Афонин В. П., Гуничева Т. Н., Пискунова Л. Ф. Рентгено-флуоресцентный силикатный анализ. Новосибирск: Наука. 1984.

91. Никитенко Б.Ф., Казаков Н.С. Информационно-измерительные системы в атомно-эмиссионном спектральном анализе, ч.1, (Автоматизированный метод контрольного эталона для всего диапазона анализа) // Дефектоскопия, № 10, 1998, с. 64-88.

92. Никитенко Б.Ф., Казаков Н.С. Информационно-измерительные системы в атомно-эмиссионном спектральном анализе, ч.2, (Автоматизированный метод контрольного эталона для всего диапазона анализа) // Дефектоскопия, № 11, 1998, с. 58-78.

93. Пат. 18286966 Россия, МКИ ООШ21/67. Способ определения массовых долей элементов в материалах и сплавах / Никитенко Б. Ф. Казаков Н. С. Одинец А. И. Кузнецов В. П., Кузнецов А. А. // Бюллетень. 1994. №4.

94. Пат. 2029257 Россия, МКИ ООШ21/67. Устройство для спектрального анализа / Одинец А. И., Никитенко Б. Ф., Кузнецов В. П., Кузнецов А. А. // Бюллетень. 1995. №5.

95. Пат. 2035718 Россия, МКИ G01N21/67. Способ определения массовых долей элементов в материалах и сплавах / Никитенко Б. Ф., Одинец А. И., Казаков Н. С., Кузнецов В. П., Кузнецов А. А. // Бюллетень. 1995. №14.

96. Кузнецов А. А. Разработка и исследование способов диагностики материалов в атомно-эмиссионном экспресс-анализе: Дис. канд. техн. наук. Омск. 1995. 198 с.

97. Ломоносова А. С., Фалькова О. Б. Спектральный анализ. М.: Металлургиздат, 1958. 360 с.

98. Арнаутов Л В., Киреев А. Д. Квантометрический анализ металлов и сплавов. Новосибирск: Наука, 1990. 164 с.

99. Малышев В. И. Введение в экспериментальную спектроскопию. М.: Наука, 1979. 420 с.

100. Буравлев Ю. М. Фотоэлектрические методы спектрального анализа металлов и сплавов. М.: Металлургия, 1984. 225 с.

101. Ротман А. Е. Методы спектрального анализа. Л: Машиностроение, 1975. 330 с.

102. Тамм И. Е. Основы теории электричества. М.: Гос. изд-во технико-теоретической литературы, 1956. 620 с.

103. Дрейзин В. Э. О статистическом подходе к решению многометрических задач неразрушающего контроля. // Дефектоскопия 1984. №3. С. 5-14.

104. Кузнецов А. П. Адаптивный метод статистической обработки информации при многопараметроном магнитном неразрушающем контроле: Дис. канд. техн. наук. Свердловск, 1989.

105. Кузнецов А. А., Шишкин Д. С. Совершенствование методического обеспечения автоматизированных систем спектрального анализа // Вестник Высшей школы. Технические науки. №4. 2006. с. 84-90.

106. Barker F. // Engineering, XII, 1939, Р.604

107. Runiger R. // Iernkontorets Annaler, 1945, v. 129, № 1, p. 1

108. Мишарин Г. И., Сухенко К. А. // Заводская лаборатория, 1950, №16, С. 1256

109. Terek Т., Chesti S. // Ann. Univer. schent. Budapest. Sec. ehem., 1960, №2, s. 363.

110. Алпатов M. С. // Заводская лаборатория, 1950, №1, C.40

111. Грикит И. А. // Заводская лаборатория, 1950, №16, С. 1256

112. Kennedy W. // Appl. Spectroscopy, 1955, v.9, №1, P.22

113. Несанелис A. // Материалы X Всесоюзного совещания по спектроскопии. Изд-во Львовского госуниверситета, 1958, С.406.

114. Стриганов А. Р. // Заводская лаборатория, 1933, №6, С.31.

115. Berta R., Polisca A. Spectrochimica Acta, 1952, №5, Р.87.

116. Шаевич А. Б. // Материалы Первого Уральского совещания по спектроскопии. Металлургиздат, 1958, С. 12.

117. Буравлев Ю. М., Неуймина Г. П., Устинова В. И. // Материалы Второго Уральского совещания по спектроскопии. Металлургиздат, 1959, С.56.

118. Буравлев Ю. М. // Материалы Третьего Уральского совещания по спектроскопии. Свердловск, Металлургиздат, 1962, С.39.

119. Hurst Т., Riley R. // Journal of the Iron and Steel Institute, 1946, №2, P. 154.

120. Грикит И. А. Исследование влияния технологии отливки, деформации и термической обработки на результаты спектрального анализанекоторых алюминиевых, медных, никелевых сплавов, сталей и чугунов. Дисс. канд. техн. наук. М.: 1958.

121. Richardson О. W. // Pil. Mag. V.43. 162(1922).

122. Добрецов JI. Н., Гомоюнова М. В. Эмиссионная электроника. М. Наука. 1966. 564 с.

123. Корольков В. А., Ибрагимов X. И. Адгезия расплавов и пайка материалов. Киев. Наукова думка, вып. 23. 1976. с. 75-78.

124. Малов Ю. И., Онищенко JT. В., Корольков В. А. // Электрохимия. 1976. №11. с. 1740-1742.

125. Малов Ю. И., Онищенко JI. В., Корольков В. А. // Электрохимия. 1980. №3. с. 421-423.

126. Ибрагимов X. И., Корольков В. А. Работа выхода электрона в физико-химических исследованиях расплавов и твердых фаз на металлической основе. М.: Металлургия. 1995. 272 с.

127. Онищенко Л. В., Малов Ю. И. // ФММ. 1982. Т.54. с. 94-96.

128. Лазарев В. Б., Малов Ю. И., Марков А. А. Смачиваемость и поверхностные свойства расплавов и твердых тел. Киев. Наукова думка. 1972. с.26.

129. Малов Ю. И., Марков А. А., Миронкова Л. И. Работа выхода электрона сплавов галлия со свинцом, индием и висмутом. / Тез. докл. VII Всесоюзн. конф. по материаловедению. Грозный. 1976. с. 12-13.

130. Корольков В. А., Малов Ю. И., Марков А. А. // ФММ. 1975. Т.40. с. 1312-1314.

131. Корольков В. А., Малов Ю. И., Марков А. А. // Сб. науч. трудов «Физическая химия границ раздела контактирующих фаз». Киев. Наукова думка. 1976. с.28-32.

132. Култашев О. К., Макаров А. П. // ФММ. №5. 1970. С.924-928.

133. Бацанов С. С. Электроотрицательность элементов и химическая связь. СО АН СССР. Новосибирск. 1962. С.23-62.

134. Малов Ю. И., Корольков В. А., Марков А. А. // Электрохимия. АН СССР. №10. 1978. С. 1537-1540.

135. Гиббс Дж. В. Термодинамика. Статистическая механика. М. Наука. 1982. 584 с.

136. Крэнкелл А., Уонг К. Поверхность Ферми. М.: Наука. 1978. 350 с.

137. Арсеньев П. П., Коледов JI. А. Металлические расплавы и их свойства. М. Металлургия. 1976. 375 с.

138. Русанов А. И. Фазовые равновесия и поверхностные явления. Д.: Химия. 1967. 389 с.

139. Одинец А. П., Кузнецов А. А., Шишкин Д. С. Разработка новых способов определения структурных особенностей материалов спектральными методами анализа // Омский научный вестник №1. 2005. С. 100 104.

140. Кузнецов А. А., Седельников В. В. О возможности исследования структурных свойств материалов спектральными методами анализа // Металлургия машиностроения. №1, 2006. С. 42-47

141. Никитенко Б. Ф., Казаков Н. С., Кузнецов А. А. Разработка и использование автоматизированных измерительных систем в спектральном анализе. М., НТЦ "Информтехника", 1990. 80 с.

142. Кузнецов A.A., Шишкин Д. С. Расширение информативности и функционального назначения спектральных методов контроля // Вестник Ростовского государственного университета путей сообщения. № 4 2005. С. 128-133.

143. Кузнецов A.A. Комплексные методы диагностирования промышленных изделий и узлов подвижного состава средствами атомно-эмиссионной спектроскопии. М.: Спутник + 2005. 198 с.

144. Пытьев Ю. П. Математические методы интерпретации эксперимента. М.: Изд-во МГУ, 1990. 352 с.

145. Пытьев Ю. П. Возможность. Элементы теории и применения. М.: Эдиториал УРСС, 2000.

146. Ермишин С. М. Возможности создания виртуальных эталонов // Измерительная техника. 2002. №10.С. 10-13.

147. Ермишин С.М., Шабанов П.Г. Виртуальные эталоны новый класс виртуальных приборов // Автоматизация в промышленности, №10, 2004. С. 26-30.

148. Нагибина И. М., Михайловский Ю. К. Фотографические и фотоэлектрические спектральные приборы и техника эмиссионной спектроскопии. Л.: Машиностроение, 1981. 413 с.

149. Жиглинский А. Г. Исследование оптимальных условий наблюдения корреляционных связей в спектре искрового разряда // Журнал прикладной спектроскопии 1977, т. 26. С. 809 814.

150. Жиглинский А. Г. Оптимальные условия наблюдения корреляционных связей в спектре искрового разряда // Журнал прикладной спектроскопии 1978, т. 28. С. 381 387.

151. Петров А. А., Пушкарева Е. А. Корреляционный спектральный анализ веществ. С.-Петербург. Химия. 1993. 343 с.

152. Заякина С. Б. К вопросу об определении эффективных температур в двухструйном дуговом плазмотроне. // Журнал аналитической химии. 2006. №3. С. 37 40.

153. Алтынцев М. П., Вешкурцев Ю. М., Кузнецов А. А. Новые методы автоматизированного спектрального анализа: Тезисы докл. 15-й Российской н.-т. конф. "Неразрушающий контроль и диагностика" / Росс, общ. неразр. конт. М., 1999.

154. Алтынцев М. П., Сабуров В. П. Кузнецов А. А. Способы создания систем безэталонного анализа материалов и сплавов. Омский научный вестник №4 / Омский гос. техн. ун-т. Омск, 1998. С. 67-69.

155. Кузнецов A.A. Регрессионная модель низкотемпературной плазмы в эмиссионном спектральном анализе: Тез. докл. междунар. конф. "Электромеханика, электротехнологии и электроматериаловедение" МКЭЭЭ-2003 / Партенит, 2003. С. 123-124.

156. Kuznetsov A. A. Possibility of the virtual standards application in atomic-emission spectral analysis: Proceed to European Conference on Plasma Spectrochemistry Winter 2005, Budapest, Hungary, 2005, p. 253-254.

157. Кузнецов A.A., Пимшин Д. А., Шишкин Д. С. О возможности спектральных методов контроля деталей подвижного состава без сопровождающих эталонов // Вестник Ростовского государственного университета путей сообщения. № 1 2005. С. 41-46.

158. Борбат A.M., Слабеняк В. И. Количественный спектральный анализ без сопровождающих эталонов // Журнал прикладной спектроскопии. 1984. Т.40. №11. С. 718-722.

159. Морозов Н. А. Методы оптического спектрального анализа алюминиевых сплавов с применением ЭВМ.- Заводская лаборатория, 1986, №9. С.21 -28.

160. Никитенко Б. Ф., Одинец А. И., Казаков Н. С., Кузнецов А. А. Способ определения содержания массовых долей элементов в материалах и сплавах Патент РФ 1828696. М Кл. G 01 N 21/67, 1990.

161. Кузнецов А. А., Шишкин Д. С. Расширение информативности и функционального назначения спектральных методов контроля // Вестник Ростовского государственного университета путей сообщения. № 4,2005. С. 128-133.

162. Поль Р. В. Оптика и атомная физика. М., 1966. - 552 с.

163. Born М. Z. Physik, 1926, 37, 863.

164. Райхбаум Я. Д. Физические основы спектрального анализа. М.: Наука, 1980, 158 с.

165. Никитенко Б. Ф. Казаков Н. С., Кузнецов В. П., Кузнецов А. А. Способ определения массовой доли химических элементов в материалах и сплавах. // Передовой производственный опыт, №5, 1991.

166. Тамм И. Е. Основы теории электричества. М.: Гос. изд-во технико-теоретической литературы, 1956, 620 с.

167. Кузнецов А. А. Электрические измерения и способы обработки результатов наблюдения: Учебное пособие /B.C. Казачков, А. А. Кузнецов, С. И. Петров, В. Т. Черемисин. Омский гос. ун-т путей сообщения. Омск, 2002. 130 с.

168. Кузнецов А. А., Шишкин Д. С. Расширение технических возможностей входного контроля материалов // Вестник Высшей школы. Технические науки. №4. 2006. с. 90-95.

169. Никитенко Б. Ф., Казаков Н. С., Кузнецов В. П., Кузнецов А. А. Автоматизация фотографического спектрального анализа: Тезисы докл. III per. конф. «Аналитика Сибири 90» / Ин-т геохимии им. Виноградова СО АН СССР. Иркутск, 1990.

170. Жуковский Ю. М. и др. Автоматизированная обработка результатов эмиссионного спектрального анализа // Заводская лаборатория. 1988. №9. С. 47-48.

171. Карманов Н. С., Перелыгин С. Ф., Казанцева Т. И. Автоматизированная система обработки фотографических спектров: Тез. докл. III региональной конференции "Аналитика сибири-90" / Иркутск, 1990. с. 278.

172. Йорданов Ю. X., Беличев С. М., Цапов И. В., Злажев Р. К. Автоматизированная система обработки спектрограмм при спектральном анализе // Заводская лаборатория. 1987. № 8. С. 30-32.

173. Taylor B.L., Birks F. // Analyst. 1972. V. 97, №1158, P. 681-690.

174. Никольский А. П., Замараев В. П., Бердичевский Г. В. Автоматизированный экспресс-контроль состава материалов в черной металлургии. М.: Металлургия, 1985. 104 с.

175. Салмов В. Н. Система автоматизированной обработки результатов спектрального анализа проб металлов / В. Н. Салмов , А. И. Косенко , В. А. Усов, В. Б. Джураев // Заводская лаборатория. 1986. - №2. - С. 22-24.

176. Новиков Ю. В. Разработка устройств сопряжения для персонального компьютера типа IBM PC. М.: ЭКОМ. 2000. 224 с.

177. Ульман Дж. Базы данных на Паскале. М.: Машиностроение. 1990. 368 с.

178. Кузнецов А. А. Метод распознавания образов спектральных линий с использованием идентификационных шкал: Тезисы докл. 3-ей междунар. н.-техн. конф. "Компьютерное моделирование 2002" / С.-Петербургский гос. техн. ун-т. С.-Петербург. - 2002.

179. Шишкин Д.С., Кузнецов А. А. Применение сканирующих устройств при фотографической регистрации спектров // Вестник Высшей школы. Технические науки. №4. 2006. С. 73-78.

180. Львовский Е. Н. Статистические методы построения эмпирических формул. М.: Высшая школа, 1988. 239 с.

181. Гутников B.C. Фильтрация измерительных сигналов. Ленинград, 1990. 240 с.

182. Новицкий П. В., Зограф И. А. Оценка погрешностей результатов измерений. Л.: Энергоатомиздат. 1985. 248 с.

183. Михеев B.C. Точностный расчет при проектировании измерительных приборов.//Измерительная техника. №12, 2000

184. Зажирко В. Н., Кузнецов А. А., Овчаренко С. Н. Способ идентификации и измерения параметров спектральных линий вавтоматизированных системах контроля // Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика. № 5, 2006. С. 39 45.

185. Кондратов С. В., Жадобин А. М., Мусихин В. JL, Власов В. И. Многоканальные фотоэлектрические системы SKCCD : Тезисы докл. XVI Уральской конф. по спектроскопии / Уральский гос. техн. ун-т. Екатеринбург, 2003. С. 221 222.

186. V. G. Garanin, I. R. Shelpakova Spectrum shift fitting technique for atomic emission spectrometry / Spectrochimica Acta Part В 56 (2001) 351-362

187. Кузнецов А. А., Алтынцев M. П., Руденко A. E. Фотоэлектрический матричный анализатор спектра МАС-ДЛ: Тезисы докл. XVI Уральской конф. по спектроскопии / Уральский гос. техн. ун-т. Екатеринбург, 2003. С. 161 162.

188. Шишкин Д. С., Кузнецов А. А., Пимшин Д. А. Совершенствование информационного обеспечения автоматизированных систем атомно-эмиссионной спектроскопии // Вестник Высшей школы. Технические науки. №4. 2006. С. 79-84.

189. Брытов И. А., Плотников Р. И., Речинский А. А. Идентификация материалов по рентгеновским спектрам // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. №7. Т.71. 2005. С. 11-16.

190. Добеши И. Десять лекций по вейвлетам: Пер. с англ. Е. В. Мищенко. Под ред. А. П. Петухова. М.: РХД, 2001

191. S. Mallat. A theory for multiresolution signal decomposition: the wavelet representation. IEEE Pattern // Anal. And Machine Intell. 1989. Vol. 11, №7, P. 674 -693.

192. Shumaker L., Webb G. Recent Advances in Wavelet Analysis. New York.: Academic Press, 1993.

193. Дьяконов В. П. Вейвлеты. От теории к практике. М.: COJIOH-P, 2002. 448 с.

194. Gilbert Strang & Truong Nguyen. Wavelets and Filter Banks. Wellesley: Cambridge Press, 1996.

195. Бендат Дж., Пирсол А. Прикладной анализ случайных данных. М.: Мир, 1989.

196. Бендат Дж., Пирсол А. Приложения корреляционного и спектрального анализа . М.: Мир, 1982.

197. Бендат Дж., Пирсол А. Измерение и анализ случайных процессов. М.: Мир, 1974.

198. Дженкинс Г., Ватте Д. Спектральный анализ и его приложения. М.: Мир, вып. 1, 1971, вып.2, 1972.

199. Марпл-мл С.Л. Цифровой спектральный анализ и его приложения. М.: Мир, 1990.

200. Гречихин В. А., Евтихиева О. А., Есин М. В., Ринкевичюс Б. С. Применение вейвлет-анализа моделей сигналов в лазерной доплеровской анемометрии // Автометрия, №5, 2000. С. 51-54.

201. Гужов В. И., Турунтаев Д. А. Применение вейвлет-преобра-зования для расшифровки спекл-интерферограмм // Автометрия, №5, 2000. С. 116-120.

202. Зайдель А. Н. Погрешности измерения физических величин. Л.: Наука, 1986.431 с.

203. Новицкий П. В., Зограф И. А. Оценка погрешностей результатов измерений. Л.: Энергоатомиэдат, 1985, 314 с.

204. ГОСТ Р ИСО/МЭК 17025-2000. Общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лабораторий.

205. МИ 2335-95. Внутренний контроль качества результатов химического анализа.

206. ГОСТ 18242-72. Качество продукции. Статистический приемочный контроль по альтернативному признаку. Одноступенчатые и двухступенчатые корректируемые планы контроля.

207. Shewhart W.A. (Deming W.E., ed.). Statistical method for the view point of quality control. Pennsylvania: Lancaster Press, 1939.

208. Levey S., Jennings E.R. // Am.J.Clin.Pathol. 1950. V. 20. P. 1059-1066.

209. Буйташ П., Кузьмин H.M., Лейстнер Л. Обеспечение качества результатов химического анализа. М.: Наука. 1993. с. 42.

210. Westgard J.O., Groth Т., Aronsson Т. et al. // Clin.Chem. 1977. V. 23. P. 1857-1867.

211. Westgard J.O., Groth T. // Clin.Chem. 1981. V. 27. P. 1536-1545.

212. Дворкин В.И. Метрология и обеспечение качества химического анализа. М.: Химия. 2001 г. 263 с.

213. Мердок Дж. Контрольные карты. М.: ФиС, 1986. 150 с.

214. Дворкин В. И. Внутри лабораторный контроль точности результатов измерений по стандартам ГОСТ Р ИСО 5725-1 и ГОСТ Р ИСО 5725-6-2002 // Партнеры и конкуренты, 2003 г., № 1. С. 26-39

215. ГОСТ Р ИСО 5725-1-2002. Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Часть 1. Основные положения и определения.

216. ГОСТ Р ИСО 5725-2-2002 Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Часть 2. Основной метод определения повторяемости и воспроизводимости стандартного метода измерений.

217. ГОСТ Р ИСО 5725-3-2002 Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Часть 3. Промежуточные показатели прецизионности стандартного метода измерений.

218. ГОСТ Р ИСО 5725-4-2002 Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Часть 4. Основные методы определения правильности стандартного метода измерений.

219. ГОСТ Р ИСО 5725-5-2002 Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Часть 5. Альтернативные методы определения прецизионности стандартного метода измерений

220. ГОСТ Р ИСО 5725-6-2002 Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Часть 6. Использование значений точности на практике.

221. Голубев Э. А. Стандарт 5725 изложение и комментарии // Заводская лаборатория. Диагностика материалов, 2003, №№ 6-10.

222. Панева В. И., Дюмаева И. В. Внедрение лабораторно-информационной системы путь к повышению достоверности аналитических измерений // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2004, №2, С. 58-66.

223. Нежиховский Г. Р. Опыт метрологической экспертизы методик количественного химического анализа // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 1999, №12, С. 50.

224. Абраменко Ю. М., Здориков Н. Н., Карпов О. В., Успенский С. Д. Метрологическая экспертиза методик количественного химического анализа. Опыт проведения и проблемы // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 1999, №12, С. 51-55.

225. Р 50.2.003-2000. Рекомендации по метрологии. ГСИ. Внутренний контроль качества результатов измерений. Пакет программ С2Соп1;го1. ИПК Издательство стандартов, 2000.

226. ГОСТ 8.315-97. ГСИ. Стандартные образцы состава и свойств веществ и материалов. Основные положения.

227. Буйташ П., Кузьмин Н. М., Лейстнер Л. Обеспечение качества результатов химического анализа. М.: Наука. 1993. С. 42.

228. Семенко Н. Г. Нормативная база по созданию и применению стандартных образцов // Измерительная техника, №7, 2003. С. 63-65.

229. ГОСТ 8.532-2002. ГСИ. Стандартные образцы состава веществ и материалов. Межлабораторная метрологическая аттестация. Содержание и порядок проведения работ.

230. Пономарева О. Б., Шпаков С. В. Межлабораторные сравни-тельные испытания форма проверки технической компетентности лабораторий // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2005, №4, С. 56-61.

231. Калмановский В. И. Проблемы аттестации методик количественного химического анализа // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2004, №12, С.59-62.

232. Нуцков В. Ю., Дюмаева И. В. Лабораторно-информационные системы. Критерии выбора. // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2004, №10 С.55-59.

233. Смагунова А. Н., Белых Л. И., Коржова Е. Н., Козлов В. А. Алгоритмы получения оценок систематической составляющей погрешности результатов анализа проб // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2003, №4, С. 56.

234. Васильева И. Е., Шабанова Е. В., Васильев И. Л. Оптимизационные задачи при выборе методических условий анализа вещества // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2001, №5, С. 60-64.

235. Онищенко А. М., Онищенко А. Ю. Анализ погрешностей приборов контроля состава и свойств веществ // Автометрия. №2, 2001 С. 112-114.

236. Булатицкий К. К. Особенности метрологических характеристик методик количественного химического анализа как методик выполнения косвенных измерений // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2001, №6, С. 59.

237. Елтышев В. П., Тетюрев А. С. Метрологическое обеспечение испытательного оборудования аналитических лабораторий с использованием прямых и косвенных методов оценки нормируемых точностных характеристик // Аналитика и контроль. 2005, №3. С. 280-284.

238. Тришкина М. В. Методы контроля качества результатов испытаний продукции, применяемые в ОАО «Уралэлектромедь» // Сб. трудов XVII Уральской конференции по спектроскопии. Екатеринбург. 2005. С. 173-175.

239. РД 153-34.0-11.117-2001 «Основные положения. Информационно измерительные системы. Метрологическое обеспечение».

240. Маркова Е. В., Грановский Ю. В. Метрологические особенности количественного химического анализа // Заводская лаборатория, 1999, №12, С. 48-49.

241. Калмановский В. И. Единство измерений и количественный химический анализ / Заводская лаборатория, 1999, №12, С. 49-52.

242. Бегунов А. А., Пацовский А. П. Особенности разработки и метрологической аттестации аналитических методик / Заводская лаборатория, 1999, №12, С. 52-53.

243. Одинец А. И., Кузнецов A.A., Малиновский С. К. Разработка способов дальнейшего повышения точности спектрального анализа с помощью виртуальных эталонов // Омский научный вестник. №4. 2006. С.

244. УТВЕРЖДАЮ Генеральный директор,, х ОАО н.1. С. А. Морев " ' ' 2004 г.1. АКТвнедрения результатов докторской диссертации Кузнецова Андрея Альбертовича в центральной заводской лаборатории ОАО "Омскагрегат".

245. Научно-техническая комиссия в составе:

246. Алтынцева М. П., главного инженера, д. т. н. председателя комиссии, Боровкова В. С., главного металлурга - члена комиссии, Соловьева Е. В., нач. спектр, лаб. - члена комиссии,

247. Использование приемников излучения нового поколения позволяет применять высокопроизводительные системы обработки данных и расширять функциональные возможности устройств.

248. В, С. Боровков Е.В.Соловьев А. А. Кузнецов1. МО1. УТВЕРЖДАЮ< ,,. // 2004 г.- А К Твнедрения результатов докторской диссертации Кузнецова Андрея Альбертовича в центральной заводской лаборатории ФГУП ОМО им. П. И. Баранова.

249. Научно-техническая комиссия в составе

250. ФГУП ОМО им. 11.И. Баранова

251. АПТ1 расположен на микрофотометре и состоит из электрической и механической частей. Он предназначен для перемещения предметного столика микрофотометра (МФ) в продольном направлении спектров в автоматическом режиме.

252. Преобразование импульсов перемещения в цифровой код осуществляется трехканальным программируемым таймером. .

253. АЦП- преобразует аналоговые сигналы в десятиразрядный двоичный код. Сигналы подаются на вход АЦП с выхода аналогового коммутатора (АК), выполненного на мультиплексоре. К входам мультиплексора подключены устройства ИВК.

254. Новизной разработанного комплекса являются:

255. Автоматизированный ввод информации о почернениях спектральных линий позволяет исключить промежуточные формы отчетности (журналы, таблицы данных фотометрирования), заполняемые вручную.

256. Осуществлена автоматизированная проверка правильности функционирования основных блоков комплекса.

257. Председатель комиссииВ. И. Антонов2004 г.

258. Ф. Б. Тиллес И. А. Орлова А. А. Кузнецов

259. УТВЕРЖДАЮ " Первый проректор, проректор по учебной работе Омского государственного университета путей сообщения

260. Ь'д / ^ А ^ А- И. Вол один * / ' «г/?» ильогйь/ 2006 г.1. А К Т

261. Использования в учебном процессе материалов докторской диссертации «КОМПЛЕКСНЫЕ МЕТОДЫ ДИАГНОСТИРОВАНИЯ МАТЕРИАЛОВ И ПРОМЫШЛЕННЫХ ИЗДЕЛИЙ

262. СРЕДСТВАМИ АТОМНО-ЭМИССИОННОЙ СПЕКТРОСКОПИИ» к. т. н., доцента Кузнецова Андрея Альбертовича

263. Программное обеспечение, используемое в учебном процессе, зарегистрировано в Отраслевом фонде алгоритмов и программ (Свидетельство №5169 от 29.09.2005, Приложение на 1 л.).

264. Проректор по научной работе, заведующий кафедрой

265. Теоретическая электротехника» ' ■ Черемисин

266. Начальник учебно-методического управления1. А-ю-Тэттэря Я'йГ

267. ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ •^г !. \:ч ,'¡¡1 шеь'л: ччюр ^шлцноь'пы'; нтс ннфосм хциОьных т> хио;кнън

268. О ! РМ ЛНВОЙ ФОНД АЛГОРИТМОВ И ПРОГРАММ1. Ъя Л1. И С 'И, г«г л.