Разработка и исследование автоматизированных методов спектрального экспресс-анализа на основе виртуальных эталонов тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 05.13.01, кандидат технических наук Малиновский, Сергей Константинович

• Малиновский, Сергей Константинович
• кандидат технических наук
• 2006

Оглавление диссертации кандидат технических наук Малиновский, Сергей Константинович

Введение.

Глава 1. Методы обработки измерительной информации в спектральном анализе.

1.1 Сущность атомно-эмиссионного спектрального анализа.

1.1.1 Интенсивность спектрального излучения и ее зависимость от содержания элементов.

1.1.2 Методы определения относительной интенсивности излучения.

1.2 Способы практического определения количественного состава элементов.

1.2.1 Фотографический метод регистрации излучения.

1.2.2 Фотоэлектрический метод регистрации излучения.

1.2.3 Аналитический метод определения концентрации с использованием одного стандартного образца.

1.3 Определение погрешностей в спектральном анализе.

1.3.1 Фотографический метод исследований.

1.3.2 Фотоэлектрический метод исследований.

1.4 Методы совершенствования количественных анализов.

1.4.1 Фотографические методы анализа.

1.4.2 Фотоэлектрические методы анализа.

1.5 Выводы.

Глава 2. Особенности аналитических систем анализа с виртуальными эталонами и условия их создания.

2.1 Перспективы применения виртуальных эталонов.

2.2 Исследование особенностей предлагаемых методов.

2.2.1 Метод изолированного контрольного эталона.

2.2.2 Сущность метода расчетного эталона.

2.3 Условия создания систем анализа с расчетными параметрами эталонов.

2.3.1 Разработка метода многопараметровых функциональных зависимостей.

2.4 Основные требования к методическому и программному обеспечению.

2.5 Выводы.

Глава

3. Разработка и исследование методик расчетов оптимальных параметров виртуальных эталонов для исследуемых образцов.

3.1 Постановка задачи.

3.1.1 Исходные уравнения модели.

3.2 Принцип автоматического корректирования и определение параметров элементов виртуального эталона.

3.3 Структурная схема и алгоритм анализа.

3.3.1 Построение структурной схемы и методика выполнения анализов.

3.3.2 Вывод основного уравнения эталона для ветвей.

3.3.3 Пример построения градуировочной функции для элемента стандартного образца.

3.3.4 Алгоритм анализов и пример расчета массовых долей элементов.

3.3.5 Пример определения массовой доли элемента.

3.4 Экспериментальная проверка.

3.5 Выводы.

Глава 4. Разработка способов дальнейшего повышения эффективности анализов с использованием стандартных образцов и виртуальных эталонов.

4.1 Постановка задачи.

4.2 Сущность метода стандартного образца (контрольного эталона).

4.3 Разработка метода внутреннего стандарта (виртуального эталона).

4.3.1 Пример практического расчета параметров виртуального эталона.

4.4 Экспериментальная проверка предложенного способа.

4.5 Определение марок неизвестных материалов.

4.5.1 Выбор способа обработки информации.

4.5.2 Алгоритм и программное обеспечение.

4.6 Разработка принципов практического использования систем входного контроля на основе виртуальных эталонов.

4.6.1 Метод последовательных приближений.

4.6.2 Метод одного виртуального эталона.

4.7 Выводы.

Глава 5. Разработка, исследование и оптимизация методик и программного обеспечения для виртуального эталона.

5.1 Определение состава контролируемых объектов.

5.1.1 Метод расчетной матрицы.

5.1.2 Оценка приближенного результата анализа.

5.1.3 Корректирование полученного результата.

5.1.4 Пример определения конечных результатов.

5.2 Методика определения задающего параметра.

5.3 Разработка методического обеспечения.

5.3.1 Конечный результат анализа.

5.3.2 Пример определения конечных результатов.

5.4 Градуирование систем обработки результатов измерений.

5.5 Программный порядок проведения анализов.

5.6 Дальнейшее повышение точности с использованием двух стандартных образцов.

5.6.1 Построение алгоритма для фотоэлектрического анализа.

5.7 Выводы.

Глава 6. Разработка комплексного фотоэлектрического анализатора на основе фотодиодных линеек.

6.1 Традиционный способ использования линеек.

6.2 Общие принципы работы рассматриваемого анализатора.

6.2.1 Введение.

6.2.2 Конструкция.

6.2.3 Многофазный тактовый генератор.

6.2.4 Блок управления.

6.2.5 Функционирование устройства.

6.2.6 Программное обеспечение.

6.3 Физические основы работы фотодиодных преобразователей.

6.3.1 Особенности анализатора.

6.3.2 Порядок проведения анализов.

6.4 Определение параметров виртуальных эталонов на стадии градуирования системы.

6.4.1 Сущность предлагаемого способа градуирования.

6.4.2 Порядок определения коэффициентов К;.

6.5 Программное обеспечение для градуирования.

6.5.1 Структура и состав базы данных.

6.5.2 Формирование групп материалов.

6.5.3 Стирание групп материалов.

6.5.4 Создание анализируемых марок сплавов.

6.5.5 Стирание анализируемых марок сплавов.

6.5.6 Режим поиска.

6.6 Экспериментальная проверка.

6.7 Выводы.

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Разработка и исследование автоматизированных методов спектрального экспресс-анализа на основе виртуальных эталонов»

Эффективность внедрения методов количественного анализа и контроля качества материалов и изделий определяется их надежностью, простотой и экономической целесообразностью использования. При этом, основным требованием, предъявляемым к создаваемым устройствам и системам, является достаточно высокий уровень предлагаемых разработок. В частности, это означает, что внедряемые системы должны обладать прогнозируемой точностью определения контролируемых параметров в широком диапазоне их изменения. Сам процесс анализов при этом должен быть максимально автоматизирован.

Существующие на мировом рынке высокие требования к качеству продукции в дальнейшем будут только возрастать. Отсюда следует важность проведения работ по дальнейшему совершенствованию методов анализа и контроля качества исходных материалов и готовых изделий во всех отраслях промышленного производства. В этом направлении актуальным является дальнейшее развитие методов, направленных на повышение эффективности использования информационно-поисковых систем в области распознавания образов контролируемых объектов.

Особое место среди других методов количественного анализа состава и свойств различных объектов исследования занимает атомно-эмиссионный спектральный анализ. Это обусловлено высокой чувствительностью и быстродействием метода, его простотой в обслуживании и возможностью выполнения контроля непосредственно в процессе изготовления материалов и изделий в едином технологическом цикле промышленного производства.

Обладая перечисленными особенностями, метод находит широкое применение не только в различных отраслях промышленности, но и в таких областях знаний, как геология, астрономия, медицина и т.д.

Определенные достижения в атомно-эмиссионном методе анализа, как одного из направлений диагностики материалов, должны способствовать решению вопросов экологических проблем с точки зрения оперативного и качественного определения количественного состава окружающей атмосферы и сточных вод, а также исследованию объектов космического пространства. Все возрастающее значение приобретают вопросы повышения эффективности входного контроля состава материалов и их физических свойств.

Успешное решение этих задач определяется наличием следующих факторов:

1 .Совершенствованием способов обработки информации на входе измерительно-информационной системы с целью более эффективного выделения сигнала, несущего информацию об интересующих параметрах объекта.

2.Повышением эффективности обработки сигнала на выходе измерительного преобразователя за счет внедрения вычислительных средств на основе моделирования процессов преобразования спектрального излучения в контролируемые параметры.

3.Разработкой принципиально новых методик анализа, способствующих расширению области применения атомно-эмиссионных методов.

4.Разработкой высокопроизводительных автоматизированных систем на основе программных средств для персональных компьютеров.

Указанные направления работ взаимосвязаны между собой и развитие одного из них в той или иной мере способствует качественному обновлению и совершенствованию остальных. Так, разработка и создание качественно новых и прогрессивных методик способствует совершенствованию математического обеспечения, что в свою очередь, приводит к изменениям схемных решений преобразования входных сигналов, созданию новых автоматизированных устройств, отслеживающих данные преобразован. Все это вместе взятое приводит к созданию принципиально нового измерительно-вычислительного комплекса, решающего поставленную задачу.

То есть любая задача количественного анализа является многоцелевой и требует комплексного подхода к ее решению.

Развитие первого направления связано с модернизацией используемых источников излучения [6,76,77] и стабилизацией плазмы по объему [20,32,78]. Второе направление предусматривает разработку новых методов преобразования на стадии обработки результатов измерений [9,47,79]. В третьем направлении решаются задачи методического и математического обеспечения выполняемых измерений и анализов [80-84]. Пятое направление связано с разработкой различных автоматизированных систем количественного анализа [41,48,85].

Четвертое направление работ связано с разработкой принципиально новых подходов к решению задач спектрального анализа на основе создания моделей и методик, позволяющих повысить эффективность и качество выполняемых исследований не только в традиционных областях использования спектральных методов аналитического контроля.

Определенные успехи достигнуты в направлении построения моделей, отображающих зависимость измеряемых параметров спектрального излучения от количественного содержания элементов. Среди них можно выделить такие направления, как построение моделей на основе оптимальных и адекватных регрессионных градуировочных характеристик [61,65], использование статистических методов для повышения точности выполняемых исследований [62,86], оптимизация количества используемых стандартных образцов [25,87] и ряд других исследований.

Целью данной диссертационной работы является:

1. Разработка методов и средств распознавания образов контролируемых объектов путем использования эталонов с расчетными параметрами - виртуальных эталонов.

2. Создание принципиально новых способов входного экспресс контроля на основе определения процентных содержаний элементов в неизвестных материалах и средах.

3. Разработка методик и алгоритмов повышения точности и достоверности получаемых результатов в системах аналитического контроля на основе виртуальных эталонов.

4. Расширение сферы практического использования за счет создания методик формирования параметров виртуальных эталонов на начальных стадиях математической обработки исходных данных исследуемой пробы.

Разработанные алгоритмы, программное обеспечение и устройства должны обеспечивать высокую экономическую эффективность от практического внедрения используемых способов спектрального анализа.

Для достижения поставленной цели необходимо:

- провести анализ существующих атомно-эмиссионных методов, определить их возможность, способы реализации и область использования;

- определить исходную модель , отражающую зависимость количественного содержания элементов от интенсивности излучения спектральных линий;

- исследовать основные признаки энергетического соответствия элементов исследуемых проб и стандартных образцов;

- провести исследования с целью определения вида многопараметровых зависимостей , отражающих общие закономерности изменения измеряемых параметров и процентного содержания элементов в исследуемых объектах независимо от их типа и определяемого элемента;

- определить структурные схемы и алгоритмы количественных анализов для всех элементов и проб, позволяющие определять основные параметры элементов расчетных стандартных образцов (виртуальных эталонов) индивидуально для каждого элемента контролируемой пробы;

- разработать измерительно-вычислительное устройство на базе проведенных исследований, позволяющий проводить производственный экспресс-анализ путем использования стандартного образца и виртуального эталона во всем диапазоне анализов.

Научные положения, выносимые на защиту:

1. Разработка методов использования многопараметровых зависимостей, отражающих общие закономерности изменения интенсивности спектрального излучения от количественного содержания элементов для любых проб и элементов в аналитических системах "безэталонного" анализа.

2. Разработка нового способа автоматического корректирования параметров эталонов, позволяющего расчетным путем в автоматическом режиме определять параметры виртуальных эталонов по исходным данным параметров спектральных излучений элементов исследуемых проб.

3. Разработка методик и алгоритмов для принципиально новых структурных схем количественных анализов на основе систем распознавания образов контролируемых объектов.

4. Разработка алгоритма и программного обеспечения для автоматизированного экспресс-анализа любых материалов и сред.

Заключение диссертации по теме «Системный анализ, управление и обработка информации (по отраслям)», Малиновский, Сергей Константинович

Основные результаты теоретических и экспериментальных исследований, приведенных в работе, можно сформулировать следующим образом:

Дальнейшее совершенствование методов спектрального анализа, направленное на повышение качества контроля материалов и готовых изделий, требует создания новых экономически эффективных средств практического экспресс анализа на основе внедрения автоматизированных систем, которые обеспечивали бы 100 % контроль на заданную точность и достоверность получаемых результатов при минимальном использовании стандартных образцов и виртуальных эталонов.

Одним из необходимых условий, способствующих повышению качества проводимых анализов, является требование учета взаимодействия внешней среды и анализируемой системы на стадии математической обработки результатов измерений.

Следствием выполнения этих условий явилась разработка следующих основных принципов:

- энергетической совместимости отдельных элементов материала пробы и контрольного эталона,

- энергетической совместимости в целом материала исследуемой пробы и реального (виртуального) контрольного эталона.

Первый принцип положен в основу вычисления процентных содержаний отдельных элементов и расчета параметров виртуальных эталонов, второй - в основу определения марок неизвестных материалов.

Исходя из изложенного, в работе получены следующие основные результаты:

1. Разработан и предложен способ автоматического корректирования параметров расчетного (виртуального) контрольного эталона, отражающего физико-механические свойства исследуемой пробы. Способ положен в основу создания новых методик "безэталонного" выполнения количественных экспресс анализов материалов и сред.

2. Предложен принципиально новый способ промышленного экспресс анализа содержания элементов в материалах, жидких и газообразных средах без использования стандартных образцов.

3. Разработана структурная схема количественного анализа методом минимального расчетного контрольного эталона, предусматривающая разделение всего диапазона спектрального анализа на а отдельные узлы и ветви, характеризуемые линейной зависимостью интенсивности спектрального излучения 10 и процентного содержания элементов С, в пределах которой А10/АС=соп$1.

4. Определена методика построения градуировочных уравнений ветвей структурной схемы "безэталонного" анализа, позволяющая вычислять искомые значения процентного содержания элементов по измеренным входным параметрам спектрального излучения.

5. Разработаны алгоритмы и программные средства для количественных спектральных анализов с использованием виртуальных эталонов.

6. Предложены алгоритм и программное обеспечение для персональных компьютеров, позволяющие определять количественное содержание элементов неизвестных образцов.

7. Разработаны принципы построения схем входного контроля на основе использовании как одного виртуального эталона, так и системы реального и виртуального эталонов.

8. Предложены методика, алгоритмы и программное обеспечение, положенные в основу построения автоматизированных систем количественного анализа материалов, жидких и газообразных сред, включая окружающую среду.

9. Предложена методика и разработана программа расчета текущих погрешностей результатов анализов при использовании виртуальных эталонов.

10. Разработано промышленное автоматизированное устройство, позволяющее осуществлять контроль количественного состава элементов двумя независимыми способами:

- путем использования градуировочных графиков для виртуальных эталонов;

- аналитическим определением содержания элементов с помощью стандартного образца и виртуального эталона.

Измерительно-вычислительное устройство комплексного анализа внедрено на промышленном предприятии г. Омска.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

Список литературы диссертационного исследования кандидат технических наук Малиновский, Сергей Константинович, 2006 год

1. Зайдель А.Н., Шрейдер Е.Я. Вакуумная спектроскопия и ее применение. -М.: Наука, 1976, 342 с.

2. Недлер В.В. и др. Современное состояние промышленного спектрального анализа в металлургии и геологии СССР. //Заводская лаборатория, 1962 N2, с. 32-36.

3. Огнев В.Р., Петров JI.JI. Спектральный анализ элементов примесей в горных породах. -М: Наука, 1972, 342 с.

4. Белькин В.Б. Недлер В.В. Проблемы и перспективы спектрального анализа. //Заводская лаборатория, 1984, N10, с. 18-23.

5. Немец В.М., Петрова A.A., Соловьев A.A. Состояние и перспективы развития оптического спектрального метода анализа неорганических газов. (Обзор). //Заводская лаборатория, 1984, N2.

6. ДженкинсГ., Ватт JI. Спектральный анализ и его приложения. -М: Мир, 1971,291 с.

7. A.c. СССР 1017982, кл. МКИ G 01 N21/65. Способ определения концентрации нефтепродуктов в сточных водах. /Ощепков C.JI. и др. //Открытия и изобретения, 1982, N18.

8. A.c. СССР 1092391, кл. МКИ G 01 N21/67. Способ эмиссионного спектрального анализа порошковых материалов. /Огнев В.Р., Шевченко В.П., Огнева Э.Я. //Открытия и изобретения, 1982, N18.

9. Недлер В.В., Белянин В.Б. Современное состояние и перспективы развития спектрального анализа. / В кн. Новые методы спектрального анализа. Новосибирск: Наука, 1983, с. 6 11.

10. Зайдель А.Н. Техника и практика спектроскопии. -М.: Наука, 1976, 392 с.

11. Нагибина И.М., Прокофьев В.К. Спектральные приборы и техника спектроскопии. Изд. 2-е. -JL: Машиностроение, 1967, 324 с.

12. Прокофьев В.К. Фотографические методы количественного спектрального анализа металлов и сплавов. -М.: Гостехиздат, 1961.

13. Поль Р.В. Оптика и атомная физика. -М.: 1966, 552 с.

14. Жмуркин Ю.А. Спектрально-эмиссионный метод определения водорода в металлах с фотоэлектрической регистрацией спектра. -JL: ЛДНТП 1971, с. 16.

15. Прокофьев В.К. Фотоэлектрические методы количественного спектрального анализа металлов и сплавов. -М.: Гостехиздат, 1951.

16. Нагибина И.М., Михайловский Ю. Е. Фотографические и фотоэлектр-ческие спектральные приборы и техника эмиссионного спектрального анализа. -JL: Машиностроение, 1981, 247 с.

17. Зайдель А.Н., Островская Г.В., Островский Ю.И. Техника и практика спектроскопии. -М.: Наука, 1972, 375 с.

18. Зайдель А.Н. Основы спектрального аналализа.-М.: Наука, 1965,322 с.

19. Таблицы спектральных линий. /Зайдель А.Н. и др. -М: Наука, 1969, 782 с.

20. Бабушкин A.A., Бажулин П.А., Королев Ф.А., Левшин Л.В., Прокофьев В.К., Стриганов А.Р. Методы спектрального анализа. -М.: Изд-во МГУ 1962.

21. Фишман И.С.Методы количественного спектрального анализа. Казань, Изд-во Казанского университета, 1961,179 с.

22. Зайдель А.Н., Островская Г.В., Островский Ю.И. Техника и практика спектроскопии. -М.: Наука, 1976, 392 с.

23. Скоков И.В. Оптические спектральные приборы. Учебное пособие для ВУЗов.-М.: Машиностроение, 1984,240 с.

24. Современные методы химико-аналитического контроля в машиностроении. -М.: МДНТП, 1981, 157 с.

25. Стандартные образцы для спектрального анализа сталей и сплавов. Справочное пособие. -М.: ВИАМ, 1984, 85 с.

26. Стандартные образцы для химического и спектрального анализа материалов черной металлургии.//Заводская лаборатория, 1987, N4, с. 86 88.

27. Шаевич А.Б., Шубина C.B. Промышленные методы спектрального анализа. -М.: Металлургия, 1965,224 с.

28. Зайдель А.Н., Калитевский Н.И., Липис Л.С., Чайка М.П. Эмиссионный спектральный анализ атомных материалов. -М.: Физматгиз, 1960.

29. Райхбаум Я.Д. Физические основы спектрального анализа. -М.: Наука, 1980,158 с.

30. Русаков А.К. Основы количественного спектрального анализа руд и минералов. -М.: Недра, 1978.

31. Королев Н.В., Рюхин В.В., Горбунов С.А. Эмиссионный спектральный анализ. -Л.: Машиностроение, 1971, 214 с.

32. Терек Т. и др. Эмиссионный спектральный анализ. -М.: Мир, 1982.

33. Орлов А.Г. Методы расчета в количественном спектральном анализе. -Л.: Недра, 1977, 108 с.

34. Самадов К.И. Исследование возможности повышения чувствительности эмиссионного спектрального анализа при фотографической регистрации спектров. :Автореф. канд. дис., Минск, 1965.

35. Шепилова Д.П. О постр оении характеристических кривых фотопластинок по спектральным линиям железа. //Заводская лаборатория, 1983, N 9, с. 45 -46.

36. Карих Ф.Г., Лякишева В.И. Сопоставление возможностей экспрессивных фотографических методов спектрального анализа сплавов. //Заводская лаборатория, 1985, N3, с. 84 85.

37. Бураков B.C., Янковский A.A. Практическое руководство по спектральному анализу. Минск: Изд-во Акад. наук БССР, 1960, 232 с.

38. Мандельштам C.JI. Введение в спектральный анализ. -M.,JI.: ОГИЗ,1946.

39. Орлова С.А. и др. Состояние и перспективы развития отечественных оптических квантометров. //Заводская лаборатория, 1982, N2, с.40-42.

40. Арнаутов Н.В., Киреев А.Д. Квантометрический анализ металлов и сплавов. Новосибирск: Наука, 1986, 124 с.

41. Орлова С.А., Подмошенская C.B., Трилесник И.И. Фотоэлектрическая система с ЭВМ для эмиссионного спектрального анализа. //Материалы семинара по спектральному анализу. -J1.: ЛДНТП, 1985, с. 18 22.

42. Волощинин А.П., Голяс Ю.Е. Персональные ЭВМ в заводской лаборатории (возможности и перспективы). //Заводская лаборатория, 1988, N 5, с. 95-99.

43. ГОСТ 16363-70. Спектральный анализ. Методы оценки точности измерений. Изд-во стандартов, 1970.

44. Тойберт Т. Оценка точности результатов измерений. -М.: Энергоатомиз-дат,1988, 88 с.

45. Метрологическое обеспечение контроля состава м материалов.: Справочник/Ю.Д. Плинера. -М.: Металлургия, 1982, 168 с.

46. Терек Т., Мика И., Гегеуш Э. Эмиссионный спектральный анализ. Пер.с англ. -М.: Мир, 1982, Т.2, 159 с.

47. Автоматизированная система эмиссионного спектрального анализа. /Иванова Т.И. //Реферативный журнал "Автоматикаа", 1988, N5, с. 3 27, реф. 5А 458.

48. Карманов Н.С., Перелыгин С.Ф., Казанцева Т.И. Автоматизированная система обработки фотографических спектров. Тез. докл. на 111 региональной конференции "Аналитика Сибири-90", Иркутск, 1990, с. 278.

49. Антонов Г.В. //Уральская конференция "Применение математических методов и ЭВМ при обработке информации на геологоразведочных работах". : Тез. докл., Свердловск, 1982, с. 16 17.

50. Беляшов Д.Н., Емельянова И.В. Определение положения спектральных линий при автоматизированной расшифровке спектрограмм. //Журнал прикладной спектроскопии,'Т.52, N2, 1990, с. 183 187.

51. Taylor B.L., Birks F.T.//Analyst. 1972, V. 97, N1158, P. 681 690.

52. Йорданов Ю.Х., Беличев С 4. ОМ., Цапов И.В., Злажев Р.К. Автоматизированная система обработки спектрограмм при спектральном анализе. //Заводская лаборатория, 1987, N8, с. 30 32.

53. Лифляндчик В.И., Романова В.Д., Старцев Г.П., Трилесник И.И. // Оп-тикомеханическая промышленность. 1978, N11, с.65 70.

54. Crosse Р.,Harbecke В., Heinz В. et. al. //Applied Physics A.-1986, V. 39, p. 257.

55. Тарасова Е.Г. и др. Модернизация фотоэлектрической установки металлургического производства.//Заводская лаборатория, 1986,N6, с.87 89.

56. Кох К.Х., Вюнш X. //Черные металлы. 1982, N10, с. 3 7.

57. Квантометр Polyyac Е600. //Рекламный проспект фирмы Rank Precion Industries (Англия), 1969.

58. Ким A.A., Катакова Б.А. Из опыта освоения спектрометра "Поливак Е970". //Заводская лаборатория, 1987, N12, с. 85 87.

59. Кадышман Т.А., Сакалис О.М. Спектральный анализ сталей с использованием автоматизированной системы "Поливак Е-970". //Заводская лаборатория, 1986, N11, с. 86 88.

60. Меркурьев A.B., Емельянов А.И., Мандрыгин В.В. /Приборы и системы управления. 1983, N11, с. 13 -15.

61. Морозов H.A., Игнатова Н.И., Мельников В.И.//Заводская лаборатория, 1985, Т.51, N4, с.20.

62. Морозов H.A., Игнатова Н.И. //Журнал прикладной спектроскопии, 1986, Т.44, вып. 2, с. 336.

63. Морозов H.A. Совершенствование методов атомно-эмиссионного спектрального анализа металлов и сплавов с помощью ЭВМ. //Заводская лаборатория, N8, 1991, с. 22.

64. Кусельман И.И., Малыхина JI.A. Алгоритм использования спектральной информации при аттестации стандартных образцов состава сплавов. // Заводская лаборатория, 1989, N2, с. 34 35.

65. Салмов В.Н., Косенко ob В.А., Джураев В.Б. Система автоматизированной обработки результатов спектрального анализа проб металлов. //Заводская лаборатория, 1985, N2, с. 22 24.

66. Козлов Л.П., Шеверда Б.А. Оптимизация параметров градуировочных функций для квантометров фирмы ARL. //Заводская лаборатория, 1988, N 2, с. 40.

67. Диагностика состава материалов рентгенодифракционными и спектральными методами. /М.С. Нахмансон,В.Г. Фекличев, -Л.: Машиностроение, 1990,357 с.

68. ГОСТ 7727-81. Спектральный анализ. Метод трех эталонов.Изд-во стандартов, 1981.

69. Иванов A.A., Мосичев В.И., Шушканов В.М. Пакет прикладных программ для автоматических расчетов атомно-эмиссионном спектральном анализе. -Л.: Общество "Знание", ЛДНТП, 1990, 32 с.

70. Жуковский Ю.М. Автоматизированная обработка результатов атомно-эмиссионного спектрального анализа. //Заводская лаборатория, N 9, 1988, с. 47 48.

71. Демидович Б.П., Марон И.А. Основы вычислительной математики. -М.: Наука, 1966, 664 с.

72. Гельфанд И.И., Цейтман М.С. ДАН СССР, 137, N2/295, с. 161.

73. Никитенко Б.Ф., Казаков Н.С., Кузнецов В.П. Пути повышения достоверности и точности анализа эмиссионной спектроскопии. -М.: ЦНИИИ и ТЭИ, 1989, 53 с.

74. Прохоренко Е.Ф., Сычева С.В., Моисеева В.В. Оценка воспроизводимости спектрального анализа проволоки различного диаметра в зависимости от способа подготовки проб. //Заводская лаборатория, 1989, N1 с. 103 104.

75. Применение спектральнго анализа в народном хозяйстве и научных исследованиях. /Янковский. Минск, 1967.

76. Устройство спектрального анализа: положительное решение о выдаче патента РФ N4855490/25 от 20.05.91 /А.И. Одинец, Б.Ф. Никитенко, В. Кузнецов, A.A. Кузнецов.

77. Грибов A.A. Математические методы и ЭВМ в химии. М.: Наука, 1989,354 с.

78. Налимов В.В. Применение математической статистики при анализе вещества. -М.: Наука, 1960.

79. Селезнев Ю.В., Кузнецов В.П., Корнев К.П., Никитенко Б.Ф. Метод определения процентного содержания элементов при фотографическом спектральном анализе. //Изв. вузов СССР, Приборостроение, 199. 67 70.

80. Способ определения массовых долей элементов в материалах и сплавах. /Н.С. Казаков, Б.Ф. Никитенко, В.П. Кузнецов, A.A. Кузнецов. //Передовой производственный опыт, 1991, N1.

81. Патент 1828696, Россия, МКИ(З), G01 N 21/67. Способ определения содержания массовых долей элементов в материалах и сплавах. /Б.Ф. Никитенко, А. И. Одинец, Н.С. Казаков, В.П. Кузнецов, A.A. Кузнецов. Билл., N5, 1995.

82. Закускин C.B. Математическое обеспечение автоматизированныхсистем аналитического контроля. /Дисс. кандидата техн. наук. -М.: 1986

83. Вакив Н.М., Саенко O.A., Слепченко Н.И. Спектральное определение титана в лигатуре алюминий-титан с применением стандартных образцов предприятия. //Заводская лаборатория, 1989, N4, с. 103 104.

84. Кузнецов A.A. Разработка и исследование способов диагностики материалов в атомно-эмиссионном экспресс-анализе. /Дисс. кандидата техн. наук. Омск, 1995.

85. Малышев В.И., Введение в экспериментальную спектроскопию. -М.: Наука 1979, 420 с.

86. Буравлев Ю.М. Фотоэлектрические методы спектрального анализа металлов и сплавов. -М.: Металлургия, 1984, 225 с.

87. Ротман А.Е. Методы спектрального анализа. -JL: Машиностроение,1975,330 с.

88. Никольский А.П., Замараев В.П., Бердичевский Г.В. Автоматизированный экспресс-контроль состава материалов в черной металлургии. -М.: Металлургия, 1985,104 с.

89. Верховский В.И. и др. Автоматизация аналитического контроля в металлургии. //Заводская лаборатория, 1982, N2, с. 37 40.

90. Юроцкая М.И., Ковалева Т.М. Спектрографический метод определения химического состава алюминиевых сплавов. //Заводская лаборатория, 1985, N И, с.93.

91. Блохин М.А. Феноменологические уравнения связи в рентгеноспек-тральном анализе. //Заводская лаборатория, 1973, 39, N9, с. 1081.

92. Величко Ю.И., Забродин А.Н. Теоретический выбор формы уравнения связи при PC А пульповых продуктов цветной металлургии. /В сб.: Автоматизация горно-обогатительных процессов цветной металлургии.-М. ВНИКИ, "Цветметавтоматика", 1981, с. 40 47.

93. Дуймакаев Ш.И. и др. Использование рассеянного первичного излучения при РСА методом теоретических поправок. //Заводская лаборатория, 1984, 50, N11, с. 20-23.

94. Калинин Б.Д., Карамышев Н.И., Плотников Р.Н., Вершинин A.C. Учет изменения эффективной длины волны в рентгеноспектральном анализе способом теоретических поправок. //Заводская лаборатория, 1985.

95. Симаков В.А., Сорокин И.В. Использование метода фундаментальных параметров при РСА. //Заводская лаборатория, 1984, Т.50, N4, с.24.

96. Mantler M.LAMA III-a computer program for quantitative XRFA of bulk specimens and thin film layers. //Advances in X-ray analysis, 1984, v. 27, p. 433-440.

97. Першин H.B., Голубев A.A., Мосичев В.И. О возможностях повышения точности метода фундаментальных параметров. //Заводская лаборатория, 1991, N 11, с. 51 55.

98. Величко Ю.И., Павлинский Г.В., Ревенко А.Г. Программа расчета ин-тенсивностей аналитических линий рентгеновского спектра флуоресценции. //Заводская лаборатория, 1977, 43, N4, с. 433 -436.

99. Афонин В.П., Гуничева Т.Н., Пискунова Л.Ф. Рентгено-флуоресцентный силикатный анализ. -Новосибирск: Наука, 1984.

100. Тамм И.Е. Основы теории электричества. -М.: Гос. изд-во технико-теоретической литературы, 1956, 620 с.

101. Зайдель А.Н. Погрешности измерения физических величин. -Л.: Наука, 1985,431 с.

102. Никитенко Б.Ф., Казаков Н.С., Кузнецов A.A. Повышение эффективности атомно-эмиссионного экспресс анализа. //Передовой производственный опыт, 1991, N1.

103. Казаков Н.С., Никитенко Б.Ф., Кузнецов В.П., Кузнецов A.A. Способ определения массовой доли химических элементов в материалах и сплавах. //Передовой производственный опыт, 1991, N4.

104. Никитенко Б.Ф., Казаков Н.С., Кузнецов A.A. Разработка и использование автоматизированных измерительных систем в спектральном анализе. -М.: НТЦ "Информтехника", 1990, 80 с.

105. Пякилля И.В., Вешкурцев Ю.М. Метод подбора оптимальных интервалов количественного содержания элементов в спектральном анализе. // Дефектоскопия, У О РАН, N , 1998, с.

106. Вест Ч. Голографическая интерферометрия. -М.: МИР, 1982, 504 с.

107. A.c. СССР 1826359, кл. В 23 Q 15/00 //G 01 W 3 /58. Способ определения износа инструмента./Пякилля И.В., Скворцов В.М. 1992.

108. Поливанов K.M. Ферромагнетики. -M.-JL: ГЭИ, 1957, 419 с.

109. Автоматизация фотографического спектрального анализа. /Никитенко Б.Ф., Казаков Н.С., Кузнецов A.A. //Тезисы докладов на 3-ей Региональной конференции "Аналитика Сибири-90", Иркутск, 1990.

110. Гарбуни М. Физика оптических явлений. -М.: Энергия, 1967, 374 с.

111. Born М. Z. Physik, 1926,37, 863.

112. BornM. Z. Physik, 1926,36, 803.

113. Пякилля И.В., Никитенко Б.Ф., Кузнецов А.А.Принцип построения систем автоматического корректирования в атомно-эмиссионном анализе.

114. Вешкурцев Ю.М., Пякилля И.В., Казаков Н.С. Алгоритм количественного спектрального с автоматической коррекцией стандартных образцов. //Дефектоскопия, УО РАН, N , 1998, с.

115. Никитенко Б.Ф., Казаков Н.С. Информационно-измерительные системы в атомно-эмиссионном спектральном анализе, ч.1, (Автоматизированный метод контрольного эталона для всего диапазона анализа), -Дефектоскопия, N 10, 1998, с. 64 88.

116. Никитенко Б.Ф., Казаков Н.С. Информационно-измерительные системы в атомно-эмиссионном спектральном анализе, ч.2, (Автоматизированный метод контрольного эталона для всего диапазона анализа), -Дефектоскопия, N11, 1998, с. 58 78.

117. Никитенко Б.Ф., Казаков Н.С. Информационно-измерительные системы в атомно-эмиссионном спектральном анализе, часть 3. //Дефектоскопия, N12, 1998, с. 28 57.

118. Пытьев Ю. П. Методы анализа и интерпретации эксперимента, — М.: Изд-воМГУ. 1990.

119. Пытьев Ю. П. Возможность. Элементы теории и применения. — М.: Изд-во Эдиториал УРСС, 2000.

120. Янтш П. /Заводская лаборатория, 1996, т. 62, № 10, с. 63 -65.

121. Янтш П. /Заводская лаборатория, 1998, т. 64, № 3, с. 73 80.

122. Коваленко М.Н., Зажогин А.П. и др. Применение атомно-эмиссионного спектрометра «ЭМАС-200Д» в многоэлементном анализе металлов и сплавов. /Заводская лаборатория. Диагностика материалов, 1999, т. 65, № 4, с. 24 26.

123. Ротман А.Е., Воробейчик В.М. Справочная книга по эмиссионному спектральному анализу, М.: Машиностроение, 1982, - 450 с.