Научно-методологические основы комплексного спектрального анализа тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 05.13.01, доктор технических наук Шишкин, Дмитрий Сергеевич

• Шишкин, Дмитрий Сергеевич
• доктор технических наук
• 2007

Оглавление диссертации доктор технических наук Шишкин, Дмитрий Сергеевич

Введение

Глав*

Суадносгь спектрального анализа, ею проблемы, область при we

1.1 Назначение метода. сп> цели и задачи.

1.12 Принципы определения содержания элементов.

12 Методики практического применения.

1.4 О проб.гесмях влияния сфухтуриыя особенностей. ml Общие допросы влияния структуры материала

1,42 Влияние структуры, обусивиимечой технологией irn-отошкння

1.4.3 Влияние структуры, обусловливаемой зерммческиии обработками

1.4.4 способы уменьшении влияния структурных изменений.

ISA Сокршсисгвоваиие фотоэлектрических систем

1.6 Выводы .,,,,,.,,.

Глявя

Исследование и аналог» способов обработки информационных пи

2-1 Ннслрясчыс способы обработки информации.

11.1 Присино-рсгистрнруюшис системы спектральные приборов

2.2 Фотофафические способы нолнчестаскиого ашка.

2 2 1 Основные лариктернстихи фотофафической пластинки.

2 2.2 Методы ПШремм олюсителыюй интенсивности . 52,

2.23 Разработка шлоыятизиромнмоН системы обработки спектрограмм

2-3 Фотоэлектрические способы количественного аиали зо

2.4 Визуальные способы количествешвдгп анализа.

2.5Л Г [редмрительиая обработка изображения.

2-5.2 Преобразование матрицы нюбраження в вектор.

2.5J Выделение спектральных линий.

25.4 2.6 2.

2.74 2.7.2 2.7J 2.7.

Определение и исключение фока

Иссвдрииа особенностей передачи ниешшишх

Исследование цифровых методой обработки видеоинформации

Представление )гаображснил конечным объемом данных.

Практическая реализация Фурье-преобразования.

Представление изображения, изменяющегося во времени Квантование, нмпульсно-кодовая модуляция

Винш.

3.6 3.6.1 36.

3.7 3.7.

Глава

Разработка и исследование способов физического мо;и:лпромни* дяк количественного аняшпя.

Цело» ироводимых исследований.

Разработка моделей многопараметрового анализа.

Способы формирования систем обработки данных

Сущность метода последовательных приближении

Алгоритм метода последовательны* приближений.

Примеры расчетов процентного содержания элемента.

Расчет концентрации при фотографическом анализе.

Расчет концентрации при фотомкктрическом анализе на основе диодных линеек.

Экспериментальная проверка анализа химсостава сплава алюминия ЛК5М .

Исследовании чногонарвмегроиыд моделей обработки информаини „---------—,,„., „ .„.„.„.„„.„.„г

Особенности мнотопарамстровых методов анализа.

Разработка способа оценок достоверности результатов с учетом требований ГОСТ..

Вывалы.

Разработка устройств автоматизированного количественного ана

Л1ги и их методическое обеспечение

Цель исследований.

Классификация существующиж устройств.

Разработка алгоритмов н программ ддя аналитического экспресс расчета результатов аначиза

Алгоритм аналитического расчета

Требования к разрабатываемым спеииалилгронаниым анализа!о

4.7.2 4.73 4.7.4 4.75 4.7.

Матричный анализатор Спектра МАС-ФП М сто дли определения концентрации элементов Модифицированный МАС-ФП с jmownani частоты

Модифицированный MAC ФП с им дольной коррекцией.

Принцип работы анализатора.

Установка исходного состояния анализатора

Запись информации .,.,,.,.,„,„„.

Поиск аналитических линий.—

Спмспюнк максимумов ликнй элемента пробы н эталона

Вычисление концентрации жмот» . ■ -.

Фототлег гричеекмй анализатор с иыевмэионной камерон

Фогогыкжтрнческнй анализатор на приборах с зарядовой снятии*

5,1 5

5.4 5,4,1 5-4.2 5-4.

Глава

Разработка методик к алгоритмов дли входного экспресс контроля материалов

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Научно-методологические основы комплексного спектрального анализа»

Постановка тшчн.

Основные принципы входною контроля

Разработка специальных методик входного контроля.

Метод двух стандартных обрюиов .

Метод вяелсяоютеяышх приближений дал виртуальных эталонов

Метод аналогий мо мкргетнческнм характеристикам.

Алгоритм построения систем входного контроля .

Структурная схема входного фотоэлектрического контроля ,

Матричный анализатор тина МАС-ДЛ.

Фотоэлектрический анализатор для входного контроля.

Выводы .„.,.*.».

6.2.1 6.2 2 6.3

Глава 6

Методологические основы построения систем контроля с tpyrtypиых особенностей материалов .

Особенности изолированных систем обработки данных

Принципы преобразования реальных систем в тонированные.

Методика построения общих уравнений для фазового смешения .

Принципы построения неравновесных систем .

Преобразования параметров ■ yc-юппях теплообмена с внешней средой 218

6.4 Разработка методики разделения количественного состава и структурных свойств материалов .—. 224

6.4.1 Общие принципы диагностики структурных свойств Maiepiia-ioe 233

6.4.2 Сфуюурш СХСМО контроля ЧСХВИНЧССКИХ свойств 236

6.5 239

Глава 7

Разработка! мстолп к, алгоритмов и Программных средств КОИфОЛЯ состава, структурны* особейitociей и механических свойств мате-

240

7.1 Актуальность проблемы совершенствования информационного обеспечения систем аналитического имтрпи. 240

7,2 Цели и задачи исслеломинн. 241

7.3 Формирование алгоритма аналнти фшико-мехаиическнх свойств . 246

7.3.1 'Этап и1исрений входных парамеерон пробы и эталона . 246

132 Этапы обработки результатов тмерсилй ланны.к пробы и ггадона 2-19

7Л Пример расчета фнэико-мехаштчеекнх параметров по кремнию 253

7.3 Исследования фитико-мсмшчссюк характеристик материалов 265

7-5.1 Исследования образцов литейного алюминия Ак5М. 266

73.2 Ягслсдоиния образиоаолошгяной броюы tX'H 10-2-3. . 272

73,3 Исследования образддав легированной стали 38 NMIOA 274

7.6 Общие принципы построения схем комплексного лнална. 276

7.7 Выводы. . . 278

Заключение 279

Список литературы 282 Л

2 Разработанные матричные анализаторы контроля 298

3 Экспериме>ггальная данные контроля структурных свойств шио-

302

4 Ра1рвб<гпн1иые спешшлтмронтше устройства комплексно!®

5 Акты внедрений it испытаний специализированных устройств . 348

ВВЕДЕНИЕ

Современные тенденции развития производства заключаются о том. что формирующийся рынок петляет нроииюдктедев жжх отраслей промышленности прилагать усилил к исключению причин появления ИШЧССТКЮНЙ продукции путвм снижения естественного разбросо критически важных для потребите.')* IююоатедеЯ качества ироду кцин. Следствием этого является внедрение отечественными прелприятннми международных стандартов различных серий, ра1работка концепции национал иной политики России в области качество продукции it услуг. Одним и i направлен нй работ по обеспечению цплнного качества продукции н снижению затрат ип производство, ямиеге* развитие и об-iKHi.'ieitiie функциональных систем автоматизированного контроля качества При этом, важнейшими для промышленного производства остаются вопросы диагностики физико-химически* и фйпико-механическнх споЛст в выпускаемой продукции

Стремление к дальнейшему повышению качества, создание новы* материалов с использованием современных инновационных технологий приводит к необходимости постоянного совсршсиствования существуюишя методой контроля качества материалов и готовых ивделнй н, в частности, повышения эффективности использования н расширения области практического применения ко-лнчссткшюго анализа химического состава контролируемы* объектов

Автоматизация ишссноююго анализа в настоящее время основана на построении регрессионны* 1радуиро»очных характеристик с последующей обра, боткой лонных ни персональных компьютерах Их особенностью является не* обходнмость периодического использования комплектов государственных стандартных обрамюв (ГСО) с последующей корректировкой получаемых результатов с помощью фадуироночных графиков. либо встлей регрессионных уравнений, содержащих экспериментальные данные излучений элементов в отдельных стандартных образцах (СО) нсполыуемык комплектов ГСО.

В настоящее время 1гаиболынес развитие получили фотоэлектрические методы спектрального анализа При таком способе контроля производите* прямое 6 преобразование измеряемого информационного тршетр» (нмиулкя напряжении) п Процентное содержание явив». Это обусловливает 6ojkc высокую эффективность автоматизации промышленного контроля и возможность контроля непосредственно в процессе про)пволстиа готовой продукции Поэтому в работе более подробно рассмотрены вопросы обработки информации при автоматизированном фотоэлектрическом контроле материалов

Определенное внимание в роботе уделено совершенствованию фотографических и визуальных способов атомно-эмнсснониош анилина. Их практическое использование обуславливается высокой надежностью н сравнительной простотой методов, а также имеющейся «юцифнкой некоторых отраслей, таких, как металлургия, геология, медицина, экология н т.д. где часто необходимо иметь компактные документы <в виде экспонированных ппезюк или фотон.'ыь стинок). дякищрс наиболее полное (гредетипление о фшико-химическик свойствах объектов во всем спектре исследования.

Здесь следует отметить, что основным недостатком фотографического анализа яаляетсл необходимость последующей химической обработки фатопри-сминков. Токая обработка данных измерений является одной из самих тру доемких этапов анализа и сопровождается появлением субъективных погрешностей, Однако, с развитием и совсри»енство»а»пкм элементной базы н в целом возможностей 'ЭВМ. автоматизированные устройства фотографического аиалн-*а находят все большее практическое применение

Особен и ост ио средств атомно- эмиссионного лимита является понятность их использования только дли определений процентных содержаний элементов металлов и сплавов. При этом, одной из основных, не решенных до настоящего времени проблем, остается разделение неразрывно стайных между собой количественных и струиуркых составляющих в спектре выходных сигналов Учесть это влияние в виде возникающих помех на этапах определения Нснрсш-иоетеВ структурных состаатязоидих в измеряемых сипюдах не представляется возможным. Как покачано в перовой главе диссертации, предлагаемые для этих целей способы слияния специальных государственных стандартных образцов предприятий, а также проведение статистических методов обработок данных для определенных win рок материалов не могут в полной мере решить поставленные залачи

Нерешенными остаются также задачи втомно-змнсснонного аналитического контроля любых материалов, включая жидкие и газообразные среды Данная проблема неразрывно связана с решением вопроса организации 100% входного контроля и определения марок неизвестных материалов Трудность решения зтих проблем также обуславливается необходимостью обязательного использования комплектов ГСО

Очевидно, что перечисленные проблемы снижают экономическую и технологическую целесообразность эффективного использования автоматизированных ультрафиолетовых спсктрснрлфов в решении большого круга важных технологических и научно-исследовательских вопросов. Об этом говорит, в частности. использование ультрафиолетовых спектрографов а космических спутниках для исследований других планет,

Целки эаддчн вшшигмшц Целью диссертационной работы является теоретическая и методическая разработка комплексного атомно-эмиссноннопо спектрального анализа химического состава, структурных и фюисо-механических свойств любых материалов и сред за счет совершенствования этапов математической обработки измерительной информации на основе нелинейной физической модели низкотемпературной плазмы

Дня достижения постаплетюй 1вли в работе решаются следующиезадачи - формирование методологии оптнмагицни систем аналитического контроля ддя выполнения комплексных количественных анализов состава и фичико-мехпннчеемгх свойств объектов на основе определения проммгтнш содержаний отдельных компонентов с минимальным использованием стандартных обращав предприятия; разработка физических основ разделения КОЛПЧественHOfi и структурное! составляющих. основанные на характере изменения интенсивности излучения шнпмсав пар контролируемых элементов и зависимости от энергетического состояния компонентов проб и коитролытого эталона:

- разработка методов it средств распознавании образов контролируемы n объектов путем нсполь-ииинни эталонов с расчетными параметрами - виртуальных эталонов,

- создание принципиально новых способов входного экспресс sot про л я на основе определения процентных содержаний элементов в неизвестных материалах передах

- разработка методик и алгоритмов повышения точности и достоверно' сти получаемых результатов U системах аналитического контроля на основе виртуальных эталонов;

- расширение сферы практического использования за счет создания методик формирования параметров виртуальных эталонов на начальных стадиях математической обработки исходных данных исследуемой пробы

Разработанные алгоритмы, программное обеспечение н устройства должны обеспечивать высокую экономическую эффективность от практического внедрения используемых способов спектрального анализа.

Обьскт иесдсдаиции - автоматизированные измерительно-вычислительные комплексы, как составные части автоматизированного технологического процесса контроля химсостава и структурных особенностей материалов и изделий Методы исследования Исследования, выполненные в работе, базируются на следующих методах. создания математических моделей, военрои ивддяших определенные физические состояния термодинамических систем:

- изучения методов математического моделирования на основе тензорных методов построения моделей:

- исследования численных методов анализа дли решения алгебраических уравнений; f изучении нелинейных термодинамических систем, состояние коюрых определяется процессами поступает вещества с поверхности материалов о облако ratonoro разряда.

Информационной базой являются теоретико-экспериментальные лонные, обработанные ил основе применения математического шнирата прикладной статистики, методов электрических г магнитных измерений, вычислительной математики, а также методов молеку лярной физики и термодинамики

Цаучная нрнищл работы заключается в следующем'

I. Разработан и приложен новый способ создания равновесных и неравновесных изолированных систем математической обработки данных при аналитическом контроле фшикенмеханических свойств материалов с использованием одного стандартного обрати п диапиюне спезггралыюго анализа

Z. Разработаны критерии существовании гомологичных нар в виде элемента пробы й контрольного эталона, необходимые дай определения количественного состава компонентов в пробе иеивиеимо от содержания этого элемергтп п стпн-дарпюм образце

3 Разработаны алгоритмы определения структурных н механических характеристик материалов и готовых изделий но изменению энергетических состояний отдельных компонентов материалов и в целом исследуемой пробы и контрольного обрата

4 Разработаны методики раздельно!о контроля количественных составляющих содержания элементов и структурных споПств материала

Разработанные методики и алгоритмы. позволяют реализовать контроль марок неизвестных материмо* и их структурных особенностей

5. Разработаны методики и алгоритмы входного экспресс анализа и определения марок неизвестных материалов на ос коме использования стандартных обртцов И виртуальных эталонов.

Таким образом, тсдреттаесии. значимость результатов работы состой в том, что они вносят определенный вклад а развитие теоретических к методических основ комплексного спектрального анвлип любых материалов и сред.

10

Практическая значимость работы заключаете* в том, что полученные и ней результаты ЛОвМЛЮТ на Сазе существующего оборудования промышленных спектральных лаборатории разработать реальные автомаппировакные измерительно-вычислительные устройства комплексною анализа на основе унифицированных алгоритмов и программ обработки ретудывтш измерений

APiyfii"!"* Работы н 1кнользованис се pCTy%mog

Основные результаты работы докладывались и обсуждались на следующих научно- практических конференциях и симпозиумах

- Международная научно-ПрШИЧКШ конференция «Новые методологии проектирования нзлелнн микроэлектроники п. Владимир, декабрь 2СКН,

Всероссийская иаучно-техническая конференция с международным участием "Ресурсосберегающие текнолоти на железнодорожном транспорте", Красноярск, май. 2005;

- 3-иЛ международный технологический кошреее «Военная техника. вооружения и технологии двойного применения ■», Омск, нюнь, 2005 Г

- IV международный симпозиум ифрактшты и прикладная синергетика». Институт металлурги и »атер)ра.ювсдсння им А, А. Байком РАН, Москва, ноябрь 2005;

- Международная научно-практическая конференция "Теория, методы и средства измерений, контроля и диагностики", секция "Оптические н ентто-электрнческие методы и средства измерений и ыипроля физических величин и параметров материалов" па базе Южно-Российского государственного технического университета. 2006.

Результаты работы апробированы в процессе производственных испытаний созданных автоматизированных устройств фотографического и фотоэлектрического контроля структурных особенностей и входного контроля материалов н готовых изделия

Пу&ШЯШШ- По теме диссертации опубликовано 20 печатных работ.

Заключение диссертации по теме «Системный анализ, управление и обработка информации (по отраслям)», Шишкин, Дмитрий Сергеевич

ТЛ Выводы t. Разработан и предложен алгоритм и программное обеспечение колнчест-венного анализа изменений структурных особенностей металлов на различной основе в зависимое™ от изменений и1гтенси»ностей спектрального излучения исследуемых проб и контрольных эталонов (стандартных образцов)

2. Разработан к предложен алгоритм н программное обеспечение колткст-венного анализа изменения отдельных параметров физзтко-мехаиического состояния металлов на различной основе В зависимости от изменении ннтенсив-ностсй спектрального излучения исследуемых проб и контрольных эталонов (стандартных образцов)

1 Разработана структурная схема комплексного анали за химического состава, структурных особензюстей и физико-механических свойств различных металлов и сплавов

Устройство комплексного автоматизированного анализа материалов и готовых изделий промышленного производства внедрено на предприятии г. Омска.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

В работе рассмотрен авторский подход к созданию методов «г средств промышленного комплексного автоматизированного атомно-эмиссионного спектрального анализа за снег совершенствования обработки результатов измерении на octMK многоиарлчетротго системного анализа нелинейной модели низкотемпературной плазмы.

Это позволяет не только COOOPOCHCTIOMI >• традиционный способ определения химического состава металлов н их сплавов в направлении поникаю точности н достоверности получаемых результатов, МО н создавать приншши-аггьно новые способы входного контроле, а так же контроля структурных особенностей и фтико-мехяничсскнх свойств материалов и готовых нмелнй иа любых стадиях промышленного производства

Особенностью рассматриваемых комплексных методов контроля является возможности мслолмюпания любого стандартного отечественного и зару6сж1ю ■ го оборудования. имеющегося в промышленных спектральных лабораториях.

Текущие экспресс иналнлы проводятся на основе структурных схем. преду сматрнааюших раздельный контроль химического состава и структурных особенностей материалов. При этом. входной контроль и определение марок контролируемых изделий проводите* по отдельным программам а соответствии с предлагаемыми схемами анализа.

Все виды количественною анидны предусматривают обязательные расчеты полученных инструментальных и методических погрешностей, а также доето-верностей результатов анализа.

Предлагаемые исследования проооджея в режиме экспресс анализов с применен кем одного контрольною эталона (стандартного обрати) во всем диапазоне проводимых измерений н с помощью не используемых до настоящего времени виртуальных эталонов.

В процессе реадиэадин постаалеикых задач комплексного экспресс анализа были получены следующие промежуточные результаты

I Разработан и предложен новый способ количественной енкнкн лостонер-ностн результатов спектрального анализа, основанный на вероятности попадания измеренного Hiriepflajf* концентраций к интервал, предусмотренный государственными стандартами на ировслеинс спек трального анализа.

2. Разработан алгоритм и программное обеспечение количественного аналн та состава элементов методом контрольною эталона. учитывающие процессы поступления вещества в облака газового разряда устраняющие влияние структурных особенностей материалов.

3. Разработаны и предложены специализированные анализаторы фотоэлектрического анализа. осуществляющие в автоматизированном режиме поиск, регистрацию и расчет процентных содержаний элементов с последующим определением достоверности результатов и текущих методических и систематических погрешностей.

4. Разработаны и предложены анализаторы с умножением частоты и с визуальной коррекцией, обеспечивающие повышенную точность получаемых результатов с учетом получаемых погрешностей

Все анализаторы прошли производственные испытания на предприятиях г. Омска.

5. Разработана методика автоматизированного поиска спектральных линий в диалоговом режиме работы оператора с компьютером для систем входного контроля

6. Предложен метол определения энергетического соответствия эталона (стандартного образна и виртуального эталона) и исследуемой пробы, лежащий в основе создания новых для атомио-эмиеснонного анализа систем входного контроля,

7 Разработаны и предложены структурные схемы и алгоритмы входного экспресс контроля н определения парок неизвестных интервалов на основе использования стандартных образцов и виртуальных эталонов,

Устройства входного экспресс контроля прошли производственные испытания и внедрены на предприятиях г. Омска

8. Разработана и предложена структурная схема контроле изменения механически* свойств материалов на основе спектральных методов количественного анализа,

9, Разработан и предложен алгоритм и программное обеспечение количественною анализа изменений отдельных параметров физико-механического состояния металлов ив различной основе в зависимости от изменений нитей сна ностей спсктралыгосо излучения исследуемых проб и контрольных эталонов (стандартных образцов)

Ю- Разработана структурная схема комплексного анализа химического состава. структурных особенностей и фнзнко-механттсских свойств различных металловн сплавов

Устройство комплексное о автоматизированного анализа материалов и готовых изделий промышленного ирозпволства внедрено на предприятии г. Омска.

Список литературы диссертационного исследования доктор технических наук Шишкин, Дмитрий Сергеевич, 2007 год

1. АБАКУМОВ В. Г Фотоэлектрические сканирующие устройства преобра-товання информации. Киев Высш. школа, 1979. -133 с.

2. АРНАУТОВ Н. В Квантометрнческнй анализ металлов и сплавов / Н. В Арнаутов, А. Д. Кнрссв Новосибирск; Наука. 19Й6 - 124 с

3. АРХАРОВ 13. И. Кристаллография закалки стали М ; Метадлургиздат. 1954. - 236 с,

4. БЕЛЬКИН В. Б. Проблемы и перспективы спектрального анализа / В. В. Сельхин В., В. В. Недлер И Заводская лаборатория 19R4. - XslO. - с. 77-80.

5. БЕЛЫНСКИЙ С. В. Исследовшме литой и кованой стали Маштзгэ, 1952-375 с

6. БЕЛЯШОВ ДН, Определен»» положения спектральных линий при вито-матизнроваиной расшифровке спектрограмм / Д Н-Беляиюв, И. В. Емельянова // Жури прикладной спектроскопии. т. 52, Jft 2, - 1990, - с, 36-40,

7. БЕЛЬКОВИЧ Я- П. Опыт спектрального анализа сплавов на медной основе ■ Суднромпо, 1955. 226 с.

8. БЕЦДАТ Дж. Прикладной анализслучайных данных/Дж. Бсндат, А. Пир-еол .М.: Мир, 1989 - 96 с,

9. БИКМАТОВ Р. Р. Многоканальная прецизионная система фотомстриро-вання для ввода фотоизображений в ЭВМ, / Р. Р. Бнкматов, М. П. Гришин, Ш М. Курбанов, В. П. Маркслов, Т, А Сваггославская, Н- Л. Саятославскнй I Автометрия Jfel, 1996 - с, 104-107

10. БЛОХИ! I М. А. Феноменологические уравнения связи в рештеноспек* тральной анализе//Заводская лаборатория -J6 9, 1973. с, 122-124.

11. I БОЛХОВИТИНОВ Н Ф. Металловедение и термическая обработка М.: Машпга,!958. -411 с.

12. БУНИН К П. Структура чугуна / К. П. Бунин К., Г. И Иваниов. Я Н. Мааиночха М.: Машгнз, 1952, - 196 с.

13. БУНИН К. П. Чугун с шаровидным графитом / К. П. Бунин, Ю. Н. Таран, А. В. Чсрновол М., Нэд-во АН СССР - 1955 - 176 с.

14. БУРАВ ЛЕВ Ю. М Влияние структуры на результаты спектрального анализа сплавов М; Метоллургизлит, 1963 - 151 с.16, БУРАВЛЕН Ю. М. Фотоэлектрические методы спектрального анализа металлов и сплавов М.: Металлургия. 1984 - 225 с.

15. ГАРБУНИ М. Физика оптических явлений. М Энергия. 1967- - 374 с

16. ГРИКИТ И А, Процессы поступления материала электродов в зону разряда при спектральном анализе металлов и сплавов: Автореф. доктор, днее -Одесса, 1984 39 е.

17. ДЖЕПКИИС Г. Спектральный анализ и его приложения / Г Дженкннс, Л. Ватт М Мир. 1971,-291 с

18. ДОЛЖАНСКИЙ Ю. М. Об олиом подходе к обобщенному предстинле-нию множества азанов эксперимента иа симплексе И Заводская лаборатория Диагностика материалов А7.2002. - с. 58

19. ДРОЕЫШЕВ А. И. Основы атомного спектрального анализа М.: Эдн-ториал УРСС. 2002. - 284 с.

20. ДУЙМАКАЕВ 111. И. Использование рассеянного первичного излучения при РСА методом теоретических поправок // Заводская лаборатория. На II, 1984. ~с, 134-137.

21. ДРЁИЗИИ В. 3- О статистическом подходе к решению многопвраметро-вых метрических задач неразрушвющего контроля // Дефектоскопия. 1984 №3.

22. ДОБЕШИ И. Десять лекций по вейвлетам Пер, с англ, Е В Мищенко Под ред А, П. Петухова М, РХД. 2001. 87 с

23. ДЬЯКОНОВ В. П. Вейвлеты. От теории к практике, М. СОЛОН-Р, -2002. -448 с

24. ЕРМАКОВ С М Математическая теория оптимальною эксперимента IС М Ермаков, А. А. ЗКиглявскнй М. Наука /987. с. 320.

25. ЗАЙДЕЛЬ а. Н Текинка и практика спектроскопии, М : Неука, 1976. -392 с.

26. ЗАЙДЕЛЬ А Н Эмиссионный спектральный ПНЮ атомных материалов ! А, Н Зайдель, Н, И. Колитевскнй. Л. С Лионе, М- П. Чайка М Физмат-гит, i960. - 235 с.

27. ЗАЙДЕЛЬ АН. Вакуумная спектроскопия н се применение ! А. Н. Зай-дель, Е. Я. трейдер М.; Наука. 1976. - 342 с.3.4. ЗАЙДЕЛЬ А. Н. Основы спектрального анализа-- М.: Наука, 1965.-322 с.

28. КАДЫШМАН Т А Спектральный анализ сталей с использованием авто-малтзнрованной системы "Поливах E-97Q"! Т. А. Кадышман, О. М. Сакалнс U Заводская лаборатория. ЛЬ I 1,19S6, • с. 97-101

29. КАРТЕР Джон. Комплексный подход к контролю химического состава сырья и готовой продукции металлургическою производства / Джон Картер, Е. Г: Третьякова Н Specwo Analytical Instruments №5,1999 -е, 67-72.

30. КИМ А-А- Из опыта освоения спектрометра "Поливак Е970" I А. А. Ким, Б. А. Катаковл И Заводская лаборатория. №12,1987. - е. 77-80.

31. КОВАЛЕНКО М. И. Применение а томи о-эмиссионного спектрометра "ЭМАС-200Д" в многоэлсмстгтном анализе металлов н сплавов / М. Н. Коваленко, А. П. Зажогин и др, it Заводская лаборатория. т. 65, №4,1999, -с.24-26.

32. КОНТОРОВИЧ М. Е- Термическая обработка стали н чугуна М,: Ме-таллургиздат, 1950. - 234 с.

33. КУТЖО А. Д Метод повышения точности зпмерсиий, основанный на распознавании УФ-спектров / Измерительная техника. • №4, 2003, с. 105-108.

34. ЛОМОНОСОВА А. С. Спектральный анализ / А, С- Ломоносова, О- В. Фалькова М-: Металлургиздат. I9S8- - 360 с.

35. ЛИ111АНСКНЙ ГЛ. Разработка и исследование установки для визуального спектрального анализа: Автореф. канд. дисс. -Минск, 1967.

36. ЛЬВОВСКИЙ Е. Н Статистические методы построения змпирических формул. М.: Высш школа, 1988. - 87 с.

37. МАЛЫ НИ И В, М Введение в экспериментальную спектроскопию -М Наука, 1979.-420 с.

38. МАЛЫШЕВ В, М Измерительно-управляющая система на бак микроэвм i! Измерительная техника -J6II, 1985 -с, 37-40,

39. S3 МАЛЫШЕВ В. М. Гибкие измерительные системы / В, М- Малышев, А. И Механизмов 1.1 Измерительная техника. 1986. - № 12, с. 35-39.

40. МАНДЕЛЬШТАМ С, Л. Введение в спектральный анализ. М., Л. ОГИЗ, 1946 - 147 с.

41. МЕРКУРЬЕВ А, В, Приборы н системы управления / А- В Меркурьев, А. И. Емельянов, В. В, Млнлрыгин №11 1983, - с. 67-71,

42. МИХЕЕВ B.C. Точностный расчет при проектировании («мерительных приборов- И Измерительна* техника. №12,2000 ■ с, 96-100.

43. МОРОЗОВ Н-А. Автоматинтреваиные системы оптического спектрального анализа металлов и сплавов / И. А- Морозов, В. И. Мельников. А. П. Никольский II Заводская лаборатория. И* 6,1986. - с. И1-114.

44. МОРОЗОВ НА- Совершенство ваз сне методов атомно-эмиссионного спектрального анализа металлов и сплавов с помощью ЭВМ И Заводская лаборатория, NiS, 1991, - с. 23-26.

45. НАГИБИНА И- М. Фотографн'мскне н фотоэлектрические спектральные приборы и техника эмиссионного спектрального анализа / И. М. (Нагибина, Ю. Е. Михайловский J1.: Машиностроение, 19В1. -247 с.

46. НАЛИМОВ В В, Применение математической статистики при анализе вещества. -М.: Наука, I960,332 с,

47. НАХМАНСОН М, С. Диагностика состава материалов реютенодифрак-пионными Н спектральными методами / М. С. Няхкаиеон, В. Г. Фехлнчев Л. Машиностроение, 1990. - 357 е.

48. НЕДЛЕР ВВ. Современное состояние и перспективы развития спектрального анализа / В. В. Недлер, В. Б Беляннн / Новые методы спектрального анализа Новосибирск; Наука, 1983. • 176 с,

49. НИКИТЕНКО Б. Ф, Пум повышения достоверности и точности аналтги эмиссионной спектроскопии! Б, Ф. Ннжитенко, Н С. Козаков, В. П Кузнецов -М ЦНИИИ и ТЭИ. 1989- ■ 53 с.

50. НИКИТЕНКО Б- Ф Автоматизация фотографического спектралмюго анализа / Б. Ф. Никитенко, Н. С- Казаков, А- А. Кузнецов // Аналитика Сибири-90: Тез докл. 3 регион, конф Иркутск, 1990. - с. 73-75.

51. НИКИТЕНКО Б.Ф. Информационно-измерительные системы в атомно-эмисс ионном спектральном анализе, 4.1, (Автоматизированный метод контрольного эталона для всего диапазона анализа) / Б. Ф. Ннкнтснко, Н. С, Казаков // Дефектоскопия. № 10,1998. с, 64-88.

52. НИКОЛЬСКИЙ A ll Автоматизированный экспресс-контроль состава материалов в черной металлургии > А- П. Никольский, В. П Зомараев, Г. В. Берднчевский М: Металлургия, 1985. - 104 с.

53. ОГНЕВ HP Способ эмиссионного спектрального анализа порошковых материалов / В- Р. Огнев, В. П. Шевченко, Э. Я. Огнева И Ах СССР 1092391. кд. МКИ О 01 N21/67, №18, 19S2

54. ОГНЕВ В. Р. Спектральный анализ элементов примесей в горных породах I В. Р. Огнев, Л. Л. Петров М г Наука, 1972. - 342 с.

55. ОДИНЕЦ А, И, Методы количественных анализов с двумя стандартными образцами предприятия / А. И. Одниец. Н. С. Казаков, Е. Г. Руденко it Омский научный вести и к, Омск, вып 11.2000. с. 69-71

56. ОНИЩЕНКО А. М. Анализ погрешностей приборов контроля состава и свойств веществ / А. М. Онншенко, А. Ю. Онишенно Н Автометрия, ЛИ, 2001 -с- 112-114.

57. ОРЛОВА C-A- Фотоэлектрическая система с ЭВМ для эмиссионного спектрального анализа ! С. А. Орлова, С, В Иодмошенская. И. И. Трилсснпк И Материалы семинара по спектральному анализу Л .; ЛДНТО, 1985 - с- 34-36.

58. ОРЛОВА С А. Состояние и перспективы размгтил отечественных оптических кынтометроп! С. А. Орлова, С. В- Подмошенская и др. И Заводская лаборатория. ■ №2.1982. с- 57-40.

59. ОРЛОВ А И. Математические методы исследования и диагностика материалов (обобщающая статья)) Заводская лаборатория. Диагностика материалов.- №3,2003.-с. 93-95.

60. ОЩЕПКОВ С Л. Способ определения концентрации нефтепродуктов к сточных водах / С. Л, Ощетю* и др. // Ах. СССР 1017982, кл МКИ G 01 N21/65, №18,- 1982.

61. ПЕРШИМ И, В- О возможностях повышения точности метола фундаментальных параметров f FL В. Першин, А. А. Голубе», В. И Мосичеа // Заводская лаборатория.-№11, 1991.-с. 38-40

62. ПЕТРОВ Л. Л. Закономерности распределения результатов в аналитических нзгтервалах методик выполнения измерений при количественных методах элементного анализа I/ Заводская лаборатория Диапюстика материалов №12, 2001 - с.49-54,

63. ПОЛИВАНОВ К. М. Фсрромал»егнки М; Л.: ГЭИ, 1957. - 419 с,

64. ПОЛЬ Р,В, Оптика и атомная физика. М„1966. - 552 с,

65. ПРОХОРЕНКО Е, Ф. Оценка воспроизводимости спектрального внализа проволоки различного диаметра в зависимости от способа «юдгоговки проб I 1: Ф, Прохоренко, С- В. Сычева, В. В. Моисеева Ц Заводская лаборатория. №1. 1989. • с. 63-64.

66. ПРОХОРОВ В. А, Диагностика свойств материалов с использованием СУБД У В. А. Прохоров. А, В, Федоров И Заводская лаборатория, №б, 199S. -с.62-65.

67. ПРОКОФЬЕВ В. К. Фотографические методы количественного спектрального анализа металлов и сплавов. М.: Гостехиздат, 1961 ■ 243 с.

68. ПРОКОФЬЕВ В.К. Фотоэлектрические методы количественного спектрального аналзла металлов и сплавов, М Гостехнздат, 1951. - 318 с.

69. ПУПЫШЕВ А. А. АтОмно-ЭыИссМонныЙ спектральный анапзп с нндук-тнвяоевязанной плазмой н тле»п|им разрядом по Гриму / А. А. Пупышев, Д. А-Даннлова Изд-во УГГУ, Екатеринбург. 2002.270 с.

70. ПЫТЬЕВ Ю, П. Методы математического моделирования измерительно-вычислительных систем -М.: Фн-зматлит, 2004 = 400 с,

71. РАЙХБЛУМ Я Д Физические основы спектрального анализа. М.: Наука. 1980.- 158 с.

72. РОТМАН А. Е Методы спектрального анализа Л. Машиностроение. 1975- 330 с.

73. РУСАКОВ А.К. Основы количественного спектрального анализа руд и минералов М.: Недра, 1978. - 234 с.

74. САДОВСКИЙ В. Д. Превращения при нагреве стали / В. Д Садовский, К. А Малышев, Б. Г. Сазонов М.: Металдургиздат. 1954. - 18В с.

75. САМСОНОВ Г. В. Твердые соединения тугоплавких металлов / Г, В. Самсонов, Я. С Умаискнй М.: Металдургиздат, 1957.274 е.

76. САЛМОВ В. Н. Об алгоритме построении градунровочных графиков в автоматизированных системах обработки результатов спектрального анвлзгза / В. Н. Салмов, Е. В, Цой, К, К. Коваль И Заводская лаборпторнл- Jfr 6,1986, - с. 48-52,

77. САЛМОВ В Н. Система автоматизированной обработки результатов спектрального анализа проб металлов / В. Н. Салмов. А. И. Косенко, В. А. Усов, В. Б. Джураев Н Заводская лаборатория. №2.1985. - с. 83-85.

78. СЕЛЕЗНЕВ Ю.В, Метод определения процентного содержания элементов при фотографическом спектральном анализе f Ю. В, Селезнев» В Г1 Кузне-нов, К. IL Корпев, Б, Ф, Никнтенко Н Изтк вузов СССР, Приборостроение, .Nt 2,1991,-с. 38-41.

79. СИМАКОВ В,А Использование метода фундаментальных параметров при РСАI В, А. Симаков, И. В. Сорокин Н Заводская лаборатория т 50, К? 4, 1984,-с, 59-62

80. СКОКОВ И В. Оптические спектральные приборы: Учеб пособие для Вузов. — М- Машиностроение. 1984. 240 с.

81. СПРАВОЧНИК ^Металловедение и термическая обработка» Мл Мс-таллургиздат, 1956, - 388 с.

82. ТАММ И Е, Основы теории электричества -М : Гос изд-во техи,-теорет, лит., 1956. -620 с.

83. ТАРАСОВА ЕГ. Модернизация фотоэлектрической установки металлургического производства // Заводская лаборатория. -St6, 1986 -с. 113-116,

84. УМАНСКИЙ Я, С Физические основы металловедения / Я. С. Уман-ский. Б. Н. Фннкельцпейтт, М. Е. Блантер М.: Металлургаздат, 1949. - 336 с

85. ФИШМАН И С, Методы количественного спектрального анализа. Казань: Иэд-во Казанского университета. 1961 -179 с.

86. ФОЛКЕНЕЕРРИ Л. Применение операционных усилителей н линейных ИС. М.: Мир, 1985. - 572 с.

87. ХОЦ М. С Компьютерные методы в качественном спектральном анализе многокомпонентных смесей / Заводская лаборатория. • № б, Е990 ■ с. 3! '38

88. ШИШКИН Д-С. Миогопараметровые модели обработки информации в спектральном анализе / «Новые методологии проектирования изделий микроэлектроники». Материалы Международной научно-практической конферетгини. Владимир: 2004, - с, 124-133

89. ШИШКИН Д.С, О возможности спектральных методов контроля деталей подвижного состава без сопровождающих эталонов I А, А Кужцп, Д А, Пимшин, Д С- Шишкин // Вестник Ростовского госулд pet венного университета путей сообщения. № 1 2005. • с- 41-46.

90. ШИШКИН Д.С. Разработка новых способов определения структурных особенностей материалов спектральными методами анализа i А. И. Олннец, А. А Кузнецов, Д С, Шишкин Н Омский научный вестник 2005. с. 100 - 104.

91. ШИШКИН ДС. Расширение информативности н функционального назначения спектральных методов контроля / А- А- Кузнецов, ДС, Шишкин ft Вестник Ростовского государственного университета путей сообщения. Ns 4, 2005.-е. 128*133.

92. ШИШКИН Д С Автоматизированный измерительный комплекс для обработки данных спектрального анализа с фотографической регистрацией. > А-А. Кузнецов, Д. А Пиышин, Д С. 111ншк1ш Н Ннформ листок № 06-2005, Омский центр науч. тех. инф. Омск, 2005. 4 с.

93. ШИШКИН Д.С Принципы построения снстсм комплексного анализа / Д. С. Шишкин, А. И, Одннец Н Омский научный вестник Омск ОмГТУ, Jfe6 (42). 2006. - с, 134-137.

94. ШИШКИН Д С, Совершенствование информационного обеспечения автоматизированных систем отомно-эмиссионной спектроскопии 1 Д. С,

95. Шишкин, А- Л, Кузнецов, Д, А. ПШШИМ Н Изв. вузов. Ссв-Кавх. рспюн Технические науки. Спецвыпуск Математическое моделирован нсн и компьютерные технологию 2006. ■ с. 63-68

96. ШИШ КИМ Д.С, Расширение технических возможностей входного контроля материалов I А. А, Кузнецов, Д С- Шишкин /I Изв. вузов Сев,-Кавк. ре-пюи Технические науки, Спецвыпуск. Математическое моделировании и компьютерные технологию 2006. - с. 57-59.

97. ШИШКИН Д.С. Возможности комплексного анализа материалов средствами спектрального анализа / А, А. Кузнецов, Д С, Шишкин // Наука и техника транспорте -М,: №4,2006, с, 27-34,

98. ШЕПИЛОВА Д, П О построении характеристических кривых фотопластинок по спектральным линиям железа tt Заводская лаборатория St 9. 1983 -с. 4-7.126 BORNM г //Pkyttk. -1926127. BORN М Z /У Phyttк. 1926

99. BUNCH Р.С. Metier R.Y Noite power spectrum anafyaiг of a teaming microdensitometer//Applied optics 1988- Vol 27. N16,

100. CHAMBERLAIN J. The principles of interferometric tjiectroscopi -Chichctter, New York; Brisbane, Tnronto Awtley-lnter-science publication. №79

101. CROSSE P. Harheckc В, HeimB. el alJ/Apphed Physics A -1986. -V39

102. CANAS A. Interactive contrast enhancement using an electronic hardware system it Journal Physics E 1984. - Vol.

103. XKKERIA. Harvitt M //Appl Opt -1969 V 7.

104. GUJ1ERT Strang Л Truong Ngtnvn Wavelets on,! Filter Bank., Wellexley Cambridge Press. 1996

105. FOGG AG. Manolt D,R Thorium Bunx D //Analyst 1970, - У 95. N 1135.

106. MANTLER M LAMA tli-a computer program for quantitative XRFA of bulk specimens and thin film layers ft Advances in X-ray anafy sis 1 984. -V 27

107. L SHUMAKER. G Webb, editor. Recent Advance* in Weeekt Analysis ,Veiv Гог-t Academic Press 1993

108. TAYLOR ВL. Btrka F T //Analyst 1972, V 97, N /Ш

109. MOTAIMN. Hanvitt M., Sloane NJ Л //Appl Opt ,-1975 V. 14, P 2678

110. VERGES J. // Spectrochm Acta. Ser. В 1969. V 24. 109. NamkAa T. /1 Josa -1959. -MS.

111. ZIMMER 1С. ГОДОК Г Ann Untv. заем budapest Sec сhim, M 2. I960 j. 289.1. ПРИ Л О Ж Е Н И Я