Контроль качества транспортного электрического оборудования с силовыми полупроводниковыми приборами тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 05.09.03, кандидат технических наук Аль-Джанайде Хадер Махмуд

• Аль-Джанайде Хадер Махмуд
• кандидат технических наук
• 1999

Оглавление диссертации кандидат технических наук Аль-Джанайде Хадер Махмуд

Содержание

стр.

Введение

Анализ современного состояния проблемы контроля качества транспортного электрического оборудования с СПП.

1.1 Основные факторы, определяющие количественные показатели надежности СПП

1.2. Анализ существующих методов и средств контроля качества СПП в условиях эксплуатации

2. Постановка задач теории точности применительно к контролю качества транспортного оборудования.

2.1. Общие сведения из теории точности

2.2. Модификация вероятностного метода расчета точности

с учетом условий эксплуатации

Выводы

3. Построение моделей исходных зависимостей групповых соединений СПП

3.1. Исходные предпосылки

3.2. Построение математической модели зависимостей температур полупроводниковых структур от электрических и тепловых параметров СПП

3.2.1. Построение зависимостей токов ветвей от электрических параметров ПВАХ СПП

3.2.2. Построение зависимостей потерь мощности в структурах приборов от электрических параметров ПВАХ СПП

3.2.3. Построение зависимостей температур полупроводниковых структур от электрических и тепловых параметров СПП

3.3. Построение математической модели распределения обратных

напряжений

Выводы

4. Исследование групповых соединений СПП и разработка методов контроля качества приборов.

4.1. Исходные предпосылки

4.2. Исследование групповых соединений методом максимума -

-минимума

4.3. Исследование групповых соединений СПП вероятностными методами

4.3.1. Исследование групповых соединений классическим вероят-

ностным методом

4.3.2. Исследование групповых соединений СПП модифицирован-

ными вероятностными методами

4.4. Численные эксперименты по математическим

моделям СПП

4.5. Разработка практических рекомендаций по контролю качества

СПП без демонтажа групповых соединений

4.5.1. Выбор методов контроля качества СПП в выпрямительных

агрегатах

4.5.2. Аппаратура для контроля качества СПП в условиях эксплуа-

тации

4.5.3. Применение методики прогнозирования остаточного ресур-

са СПП

Выводы

Заключение

Литература

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Контроль качества транспортного электрического оборудования с силовыми полупроводниковыми приборами»

ВВЕДЕНИЕ

Реализация заданных показателей качества магистрального и муниципального транспорта неразрывно связана с высокими требованиями к показателям качества электрического оборудования в устройствах электроснабжения и подвижного состава, что можно обеспечить только при соответствующем контроле. К настоящему времени имеется большое количество разработок в этом направлении, однако многие вопросы не получили окончательного разрешения и требуют дополнительного рассмотрения.

Так, в последние годы бурно развивается теория управления качеством продукции, которая во многих аспектах переплетается с развивающейся теорией точности. В связи с этим представляется актуальным использовать результаты этих достижений применительно к управлению качеством электрического оборудования железнодорожного транспорта, например, применительно к контролю качества в условиях эксплуатации. В связи с тем, что электрическое оборудование исключительно многообразно, первоначально можно рассмотреть только отдельные фрагменты этой проблемы.

В настоящее время на электрическом транспорте широко применяют полупроводниковые преобразователи электроэнергии, укомплектованные силовыми полупроводниковыми приборами (СПП).

Применение СПП позволяет реализовывать энергосберегающие технологии эксплуатации транспортных систем.

Цель диссертационной работы заключается в применении теории точности при контроле качества транспортного электрического оборудования с СПП. Для решения поставленной цели в работе решаются следующие задачи: получение исходных зависимостей для групповых соединений СПП, связывающие выходные характеристики с входными параметрами;

разработка методов анализа и синтеза точности групповых соединений

СПП;

- разработка практических рекомендаций по контролю качества СПП без

демонтажа приборов.

Научная новизна состоит в следующем:

1. Разработаны математические модели исходных зависимостей для групповых соединений СПП, связывающие входные характеристики (температура полупроводниковой структуры, напряжение) с входными параметрами (электрические и тепловые параметры СПП).

2. Применительно к методу максимума-минимума и вероятностному получены количественные соотношения, связывающие допуски и поля рассеяния выходных характеристик и входных параметров применительно к групповым соединениям СПП.

3. Разработаны модифицированные вероятностные методы расчета точности групповых соединений СПП, учитывающие возможность изменения параметров приборов в условиях эксплуатации.

4. Разработана методика контроля качества СПП без демонтажа приборов.

Практическая ценность работы состоит в возможности осуществлять контроль качества групповых соединений СПП без демонтажа приборов.

Результаты работы были использованы при создании диагностических приборов ПЭИТС-1 и КППВА-1, разработанных на кафедре «Теоретические основы электротехники» ПГУПСа по заданию ГОРЭЛЕКТРОТРАНСА и Петербургского метрополитена.

Апробация работы и публикации. Основные результаты работы докладывались на 56, 57 и 58 научно-технических конференциях с участием студентов, молодых специалистов и ученых в 1996, 1997, 1998 гг. в ПГУПС, а

также на кафедре «Теоретические основы электротехники» ПГУПС. По диссертации опубликовано 3 печатных работы.

Структура и объем работы.

Диссертация изложена на 9 7 страницах машинописного текста, иллюстрируется 2 5 рисунками и -4 таблицами и состоит из введения, четырех глав, заключения и списка литературы из $0 наименований.

/

1. АНАЛИЗ СОВРЕМЕННОГО СОСТОЯНИЯ ПРОБЛЕМЫ

КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ТРАНСПОРТНОГО ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО

ОБОРУДОВАНИЯ СПП.

1.1 Основные факторы, определяющие основные количественные

показатели надежности СПП.

Под качеством понимается степень совершенства изделия, оцениваемая соответствием требований потребителя и возможностями производства.

Номенклатура показателей качества регламентирована ГОСТ 4.137-85 и включает в себя:

- показатели назначения;

- показатели надежности;

-показатели экономного использования материалов и электроэнергии;

- показатели технологичности;

- показатели стандартизации и унификации;

- патентно-правовые показатели;

- показатели эффективности продукции.

Пользователей СПП интересуют прежде всего первые две группы показателей качества, а именно, показатели назначения и показатели надежности.

Показатели назначения подразделяются на классификационные показатели и показатели функциональной и технической эффективности.

Терминология применительно к показателям назначения СПП, применяемых в мощных преобразователях, соответствует ГОСТ 25529-82 и ГОСТ 20332-84. Методы измерений и испытаний СПП представлены в ГОСТ 27002-83.

Показатели надежности СПП, как невосстанавливаемых объектов, приведены в ГОСТ 4.137-85 и соответствуют ГОСТ 27002-83.

С целью обеспечения заданных показателей назначения СПП, определяющих работоспособность и основные технико-экономические показатели преобразователей электроэнергии, необходимо выполнять контроль качества СПП

на всех этапах "жизненного цикла": при проектировании, производстве и эксплуатации.

Контроль качества СПП — это контроль количественных и (или) качественных характеристик приборов.

Остановимся теперь на основных факторах, влияющих на количественные показатели надежности СПП и тяговых преобразователей.

Согласно многочисленным теоретическим и экспериментальным исследованиям [5-21, 29-32, 36, 37, 43, 47, 52-57, 65-68, 74-78, 80-88] основными факторами, определяющими количественные показатели надежности, являются средняя температура полупроводниковой структуры (ППС), максимальная температура, перепады температуры, градиенты температуры, обратное напряжение, градиенты потенциала, а также некоторые другие факторы, на которых мы остановимся несколько ниже.

Применительно к зависимости показателей надежности от средней температуры ППС СПП общеупотребительной в отечественной и зарубежной практике является модель надежности, называемая законом Аррениуса

Х(т)-ехр(-Еа/кТ), ал)

гдеЛ(Т)- интенсивность отказов (ПО);

Т - температура структуры; К -постоянная, К = 8,625-10Г5э^/К;

Еа - постоянная, которую по аналогии с зависимостью скорости химических реакций от температуры, называют энергией активации.

Передаточной функцией между превышением температуры структуры СПП и потерями мощности является тепловое сопротивление. Если это превышение температуры перехода рассматривается относительно корпуса прибора, то

передаточной функцией является внутреннее установившееся тепловое сопротивление Kthjc-

Если речь идет о превышении температуры перехода относительно окружающей среды, то передаточной функцией является тепловое сопротивление переход-окружающая среда Rth|ct»

у СПП с двухсторонним теплоотводом-тепловые сопротивления со стороны катодного вывода и тепловое сопротивление относительно анодного вывода.

Согласно теоретическим моделям надежности зависимость интенсивности отказов электронных приборов от напряжения имеет вид

л(Т,и) - Л(т)-ехр(у(с + d/кТ)), а.г)

где С, d - константы.

Эта зависимость представляет собой модель Эйринга, причем, как частный случай. Часто используется более простая модель в виде степенной зависимости ИО от напряжения

Л(Т,¥) =A(THU/1U^

где Ц^ - постоянная величина *

1/ЛГ1 = nun (l/a>RM , Vrrm],

где - повторяющееся импульсное напряжение в закрытом состоянии; t/f>ftM- повторяющееся импульсное обратное напряжение.

При описании интенсивности отказов степенной зависимостью показатель степени является переменной величиной, причем:

Г

Г-

<

1,2-2,0 при 0fi<(lf/\fm)< \0,

0,7-1,3 при 0,25"<(l|/irRM)<0,8; (1.3) ОД - 0,8 при О,1 <(1//ITRM)< 0,25.

Помимо температурного режима, режима по напряжению, на количественные показатели надежности СПП влияют также и другие факторы, в частности, механические, и прежде всего такие, как вибрация и удары, приводящие к появлению микротрещин, изменению усилия прижатия, а, следовательно, к ухудшению качества сопряжения конструктивных элементов СПП прижимной конструкции и т.д.

Однако,на наш взгляд,влияние механических факторов может быть косвенно учтено через изменение электрических и тепловых параметров СПП.

1.2 Анализ существующих методов и средств контроля качества

СПП в условиях эксплуатации.

К настоящему времени разработано множество средств контроля качества СПП в условиях эксплуатации [7, 11, 13, 15, 44, 45, 50 ]. Однако, как показывает опыт работы?эти средства, как правило, требуют демонтажа групповых соединений СПП.

Среди средств контроля качества СПП в условиях эксплуатации имеются такие средства, которые позволяют контролировать качество СПП без демонтажа групповых соединений [ 50 ].

Так на кафедре "Электроснабжение электрических железных дорог" ПГУПС разработан прибор ИТС-2М для измерения тепловых сопротивлений СПП.

К недостатку прибора следует отнести необходимость пересчета результата измерения на величину теплового сопротивления с помощью таблицы.

Кроме того, в этом приборе используется термочувствительная зависимость прямого сопротивления диода от температуры. На наш взгляд, более предпочтительным является классический термочувствительный параметр -

прямое падение напряжения на СПП при протекании стабилизированного измерительного тока малой величины.

Следующий прибор экспресс-контроля качества диодов ПЭККД-3, разработанный в ВЭИ, практически тоже контролирует тепловой режим

СПП и отбраковывает потенциально ненадежные приборы по величине температуры в функции предельно среднего прямого тока. К недостаткам прибора следует отнести опять-таки необходимость иметь таблицы пересчета. Кроме того, перед началом работы необходимо осуществлять регулировку вследствие того, что по принципу действия прибор ПЭКПД-3 аналоговый.

В настоящее время для контроля СПП по величине обратного тока эксплуатируется прибор УЗОТД [ 50 ].

Однако этот прибор, во-первых, выполняет испытание на постоянном напряжении, в отличие от стандартного режима на синусоидальном сигнале, а во-вторых — он несовершенен и громоздок. Кроме того, прибор не позволяет выполнять разогрев СПП при испытаниях.

Итак, существующие средства контроля качества СПП в условиях эксплуатации без демонтажа групповых соединений СПП требуют соответствующей доработки.

Научно-обоснованные требования к контролю качества СПП без демонтажа групповых соединений можно сформулировать только после анализа групповых соединений приборов, которые целесообразнее всего выполнить с использованием теории точности [ 35,41 ].

В настоящее время накоплен значительный опыт в вопросах повышения качества продукции [ 1, 26, 27, 38-40,48, 58, 63, 64, 69, 71, 75, 77, 79, 83, 89 ] . Так одним из мощных подходов в этом направлении является использование индексов воспроизводимости процессов.

И

Центральным из этих индексов является коэффициент качества

Интервал установленного поля допуска

Сх=-.

Диапазон рассеяния изделий по параметру

Величина этого индекса рассматривается в зависимости от типов процессов.

Возникает вопрос, а нельзя ли использовать так или иначе индексы воспроизводимости процессов при контроле качества электрического оборудования с СИИ в условиях эксплуатации.

Кроме того, использование ИВП совместно с теорией точности^ по всей видимости^ так или иначе затронет вопрос о возможности учета изменения параметров СПИ в условиях эксплуатации.

Помимо этого при контроле качества СПП достаточно актуальную задачу представляет вопрос о прогнозировании технического состояния прибора. В этом отношении весьма интересными представляются исследования по возможности прогнозирования остаточного ресурса СПП.

2. ПОСТАНОВКА ЗАДАЧ ТЕОРИИ ТОЧНОСТИ ПРИМЕНИТЕЛЬНО К КОНТРОЛЮ КАЧЕСТВА ТРАНСПОРТНОГО ОБОРУДОВАНИЯ

2.1. Общие сведения из теории точности.

Теория точности - наука, занимающаяся анализом и синтезом точности систем [55].

Выходными характеристиками называются показатели систем и их элементов, которые определяются их назначением и обеспечивают необходимый уровень работоспособности, надежности, долговечности, устойчивости и других требуемых свойств.

Входными параметрами называются параметры, оказывающие существенное воздействие на выходные характеристики.

Анализ точности включает в себя определение базовых величин точности выходных характеристик по базовым величинам точности входных параметров.

Синтез точности обеспечивает нахождение базовых величин, определяющих точность входных параметров по базовым величинам точности выходных характеристик.

Исходными зависимостями называются соотношения^ связывающие выходные характеристики и. с входными параметрами ЭС-Ь.

Эти зависимости могут быть заданы аналитически, графически, в виде таблиц и алгоритмов.

В случае линейных (линеаризованных) зависимостей

п

(2.1)

где О и. х- -чувствительности.

При линеаризованных зависимостях

" ИНН • (2-2)

о'

Применительно к отклонениям выходных характеристик

АХС = ХС-Х10, (2.5)

где и X¿0 - номинальные, средние значения или математические ожидания выходных характеристик и входных параметров.

В ряде случаев исходные зависимости (2.1) или зависимости для отклонений (2.3) записываются в относительных единицах. Например, зависимость для отклонений

п

щ в г 5 лхс.

с

где

- относительная чувствительность.

К базовым величинам точности относятся: верхние предельные значения (^ах, );

нижние предельные значения ( Щю^^сгт-пУ?

/4

верхние предельные отклонения (А Л^ ),

Д8Хс= (2.9)

Нижние предельные отклонения (Лн(^.,

ГДе (2-Ю)

= (2.11)

Допуски (Ти- ,ТХЬ)

ИЛИ

тугмгмг (2лз)

Тх6 = Х£тах-^т(;п ^ (2.14)

ИЛИ

i х1 = д6хг:-анхх. (2.15)

Поля рассеяния (60^., .

Необходимо отметить, что допуск - это понятие дозволенности. Поле рассеяния выходной характеристики или входного параметра формируется фактическими предельными значениями или предельными отклонениями. Действует очевидное правило СО <т.

Существует множество методов расчета точности систем. Наиболее полное рассмотрение метода максимума-минимума, вероятностного, метода Монте-Карло и других выполнено в работах

Для практических задач расчета точности систем наиболее широкое применение получили метод максимума-минимума и вероятностный.

характеристиках.

Вероятностный метод, в общем, требует наличия статистической информации. Однако этим методом можно оперировать на уровне числовых характеристик, что очень удобно даже при отсутствии информации о законах распределения.

Приведем количественные соотношения, связывающие поля рассеяния и допуски, по методу максимума-минимума и по вероятностному методу. Все записи приведем в абсолютных единицах, поскольку в относительных единицах они идентичны.

По методу максимума-минимума

Метод максимума-минимума применяется, когда отсутствует статистическая информация о входных параметрах и выходных

(2.16)

п

(2.17)

По вероятностному методу

и 7

г

(2.18)

я»

+ 'ь

2 (2.19)

+

где^^ - коэффициент корреляции между входными параметрами X; и Х^ ; К^., - коэффициенты относительного рассеяния.

Причем

Кц , (2-2о>

Кх6 = ^ , (2.21)

с Ид*

ТХ^ = Ь^рХ- (2.23)

С» '

где (Э^. , - соответственно среднеквадратические отклонения ^ ) Х^;

"Ь = 2 ~ 6 при нормальном законе распределения.

Информация о полях рассеяния и допусках позволяет получать информацию о предельных значениях и предельных отклонениях.

Запишем выражения для этих значения применительно к допускам.

(7

При совпадении номинального значения, среднего значения или математического ожидания с серединой поля допуска

= ь+? • (224)

Хл^ I ТоСс Ста, = Х Со , (2.25)

/у _ «VI _ I ЗС^

~ °Чо 2. > (2-27)

ТУг

= г > (2-28)

IX,

г

л«и

л

г

Тх/.

ДНХ1 £

(2.29)

(2.30)

(2.31)

При несовпадении среднего значения с серединой поля допуска справедливы следующие соотношения: при положительной асимметрии

Ц ,0 = - Т^ , (2.32)

Х_ ЗС1гг)4х ОС-¿теп _ / '"Р'у

¿о ~ ь

при отрицательной асимметрии

м ^ +оС;Т1/.

2 * Ъ 1

(2.33)

(2.34)

^ X сптах + X стоп , / 1 | '^ /-» тг\

^¿о =-2--1 1 '

где и - коэффициенты относительной «^симметрии.

Точностным расчетам, как правило, предшествуют расчеты систем в номинальных режимах.

Затем необходимо производить расчет чувствительности для последующего получения исходных зависимостей.

Существует множество методов расчета чувствительностей

[ /£5,2*1, 33,4; Н, 51,61].

Применительно к системам с силовой полупроводниковой техникой, на наш взгляд, удобными являются два метода: метод, основанный на построении схемы в приращениях, и метод присоединенной схемы.

19

Основная информация об этих методах, заимствованная из работы приведена в таблицах 2.1 и 2.2.

Достаточность этой информации обусловлена широким использованием в последние годы методов дискретных резистивных схем при реализации неявных методов конечных разностей и метода конечных элементов при расчете установившихся и переходных процессов в системах [£4].

2.2. Модификация вероятностного метода расчета точности с учетом условий эксплуатации.

При решении проблемы управления качеством систем и их элементов используют индексы воспроизводимости процессов, из которых центральным является коэффициент качества

(\ = (2.36)

СОХ К ;

В работе [ ( ] рекомендуются следующие значения Сх: для процессов существующих/новых - 1,33/1,50;

для критических параметров процессов существующих/новых 1,50/1,67.

Совершенно очевидно, что применительно к транспортным системам подходит вторая категория процессов.

Определим поле рассеяния параметра X из (2.36)

и)Х=Съ ТХ. (2.37)

Подставляя (2.37) в правую часть (2.16) и с учетом Сл)<Т, заменяя в левой части (2,16) 00 на I , получим

Построение схемы в приращениях

Тип элемента

Исходная схема

Схема в приращениях

Сопротивление

и

ш

л

R

Аи

©

АГц

Щ

Проводимость (О

А'Ц

*-СИ>

С]

Источник тока, управляемый напряжением (ИТУН)

о

т«

Пфф и

Источник напряжения, управляемый напряжением (ИНУН)

И;

о

Пи

V , /ЫкЩ

,дик

Источник тока, управляемый током (ИТУТ)

—о

1цк

% 0—1

-о

Заключение диссертации по теме «Электротехнические комплексы и системы», Аль-Джанайде Хадер Махмуд

Результаты работы заключаются в следующем:

1.Разработаны математические модели исходных зависимостей групповых соединений СПП, связывающие выходные характеристики (температуры полупроводниковых структур и обратные напряжения) с входными параметрами (электрические и тепловые параметры СПП). Чувствительности рассчитаны с помощью построения вспомогательных схем: схемы в приращениях и присоединенной схемы.

2.Получены количественные соотношения,связывающие допуски и поля рассеяния выходных характеристик и входных параметров применительно к групповым соединениям СПП.

3 .Разработаны модифицированные вероятностные методы расчета точности групповых соединений, учитывающие возможность изменения параметров приборов в условиях эксплуатации. Численный эксперимент, выполненный с использованием пакета ММаЬ, показал, что максимальное расхождение с разработанными аналитическими моделями не превышает 8%.

4.Разработаны методики контроля качества СПП без демонтажа групповых соединений приборов в условиях эксплуатации.

5.Установлена возможность прогнозирования остаточного ресурса СПП на основе математической модели старения физического критерия в виде дифференциального уравнения, в качестве которого для СПП принято внутреннее установившееся тепловое сопротивление.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ.

Список литературы диссертационного исследования кандидат технических наук Аль-Джанайде Хадер Махмуд, 1999 год

Литература

1.Адлер Ю.П., Шпер В.Л. Индексы воспроизводимости процессов. //Вестник машиностроения. 1994. № 7. С. 39-44.

2.Аль-Джанайде Х.М. Математическое обеспечение контроля качества якорей электрических машин // Тезисы докладов 56 научно-технической конференции с участием молодых специалистов и ученых. - СПб.: ПГУПС, 1996, с. 128.

3.Аль-Джанайде Х.М. Введение индексов воспроизводимости процессов в системы электрического транспорта // Тезисы докладов 57 научно-технической конференции с участием молодых специалистов и ученых. -СПб.: ПГУПС, 1997, с. 168.

4.Аль-Джанайде Х.М. Анализ теплового состояния силовых полупроводниковых приборов // Тезисы докладов 58 научно-технической конференции с участием молодых специалистов и ученых. - СПб.: ПГУПС, 1998, с. 177-178.

5.Бар дин В.М. Надежность силовых полупроводниковых приборов. -М.: Энергия, 1978. - 96 с.

6.Базовский И. Надежность. Теория и практика: Пер. с англ. под ред. Б.Р.Левина. -М.: Мир, 1965. - 376 с.

7.Беляков В.А. Синтез термоэквивалентных схем замещения силовых кремниевых вентилей и разработка электрических методов измерения их параметров. Дис. канд. техн. наук. - Л.: ЛИИЖТ, 1973. - 152 с.

8.Блихер А. Физика тиристоров: Пер. с англ. / Под ред. И.В.Грехова. -Л.: Энергоиздат, Ленинградское отделение, 1981. - 264 с.

9.Ведерников В.В., Горюнов А.Н., Чернышев A.M. Причины, механизмы отказов и надежность полупроводниковых. - М.: Знание, 1977, вып. 2. - 46 с.

Ю.Веревкин В.В. Исследование процесса включения силовых тиристоров, разработка аппаратуры и неразрушающих методов контроля их работы в

режимах с высокими скоростями нарастания анодного тока. Дис. канд. техн. наук. -М.: МЭИ, 1984. -211 с.

11.Волненков Д.Г., Ковбаса Б.А., Лиокумович B.C., Шитиков С.С. Обслуживание выпрямителей тяговых подстанций с устройствами функциональной и тестовой диагностики. //Сб. научных трудов. /УрЭМИИТ, 1987. № 78. -с. 67-88.

12.Воротинский В.А., Дадерко Н.К. Ускоренные испытания полупроводниковых приборов и интегральных схем на надежность. Обзор. - Зарубежная радиоэлектроника, 1978. № 7, с. 50-56.

13.Гамаюнов A.B. Методы и средства контроля качества силовых полупроводниковых приборов для мощных преобразователей электроэнергии: Дис. докт. техн. наук //Институт электродинамики АН Украины.-Киев, 1989. -407с.

14.ГерлахВ. Тиристоры: Пер. с нем. -М.: Энергоатомиздат, 1985. -328с.

15.Голубев П.Н. Исследование методов измерения тепловых сопротивлений силовых ключей полупроводниковых преобразователей /Дис. канд. техн. наук. /ЛИТМО. Л.: 1981. - 253 с.

16.Григорьев A.M., Синегуб Г.А., Шпер В.Л. Основнык направления исследования и повышения надежности силовых полупроводниковых приборов: Обзорная информация. - М., 1985. - Информэлектро. - Серия 05. Полупроводниковые приборы и преобразователи на их основе, вып. 1. - 53 с.

17.Гусев В.П., Фомин A.B., Кунявский Г.М. Расчет электрических допусков радиоэлектронной аппаратуры /Под ред В.П.Гусева и А.В.Фомина. М.: Сов. радио, 1963. - 367 с.

18.Дроневич В.М. Количественная оценка воздействия эксплуатационных факторов нагрузки на интенсивность отказов полупроводниковых приборов. - Электронная техника. Сер. 8, 1977, вып. 1 (55), с. 8-21.

19.Дроневич В.М., Лидский Э.А. Основные этапы прогнозирования надежности изделий электронной техники. Электронная промышленность, 1982, № 2, с. 4-7.

20.Диоды штыревые серии ДЛ /Информэлектро. - 05.04.10-79. - 11 с.

21.Диоды штыревых типов Д141-100, Д151-125, Д151-160, Д161-200, Д161-320Д171-400 /Информэлектро. - 05.10.07-82. - 23 с.

22.Иванов В.А., Чемоданов В.П. Математические основы теории автоматического регулирования. -М.: Высшая школа, 1971. 807 с.

23 .Исаев И.П. Допуски на характеристики электрических локомотивов. -М.: Трансжелдориздат. 1958. - 370 с.

24.Калниболотский Ю.М., Казаджан H.H., Нестер В.В. Расчет чувствительности электронных схем. Киев: Техника, 1982. - 176 с.

25.Киреев Е.В. Оценка безотказности выпрямительных установок подвижного состава по результатам ускоренных испытаний головных образцов. Дис. канд. тенх. наук /МИИТ. М.: 1983. - 145 с.

26.Кейн В.Э. Воспроизводимость процесса // Курс на качество. 1992. №2. с. 87-114.

27.Кумэ X. Статистические методы повышения качества /Пер с англ. М.: Финансы и статистика. 1990.

28.Кривошеин A.B. Точность параметров и настройка аналоговых радиоэлектронных цепей. -М.: Сов. радио, 1983. - 135 с.

29.Лабунцов В.А., Тугов Н.М. Динамические режимы эксплуатации мощных тиристоров. -М.: Энергия, 1977. - 192.

30.Лаптева Т.И. Методы расчета надежности тиристоров импульсных систем регулирования напряжения электроподвижного состава городского транспорта. - Электричество, 1974, № 12, с. 49-54.

31.Маджарова Т.Б. Надежность больших интегральных схем. - Зарубежная радиоэлектроника, 1978, № 1, с. 143-147.

32.Меламедов И.М. Физические основы надежности. - Л.: Энергия, 1970, с. 152.

33.Михайлов A.B. Эксплуатационные допуски и надежность в радиоэлектронной аппаратуре. - М.: Сов радио. 1970. - 215 с.

9Z

34.Ыадежность технических систем: Справочник /Ю.К.Беляев, В.А.Богатырев, В.В.Болотин и др.; Под ред. И.А.Ушакова. - М.: Радио и связь, 1985, -608 е., ил.

35.Основы теории точности машин и приборов /В.П.Булатов, И.Г.Фридлендер, Ф.И.Демин и др. Под обшей ред. В.П.Булатова и И.Г.Фридлендера. - СПб.: Политехника, 1994. - 233.

36.Пек, Зирдт. Надежность полупроводниковых приборов на фирме Bell Sistem. - ТИИЭР, 1974, т. 62. № 2, с. 65-104.

37.Портной С.Е., Тепман И.А., Сурин A.B. вопросы эксплуатационной надежности силовых полупроводниковых приборов и ускоренной оценки ее. -Электронная техника, Сер. 8., 1975 , вып. 9 (39), с. 53-60.

38.Показатели воспроизводимости и работоспособности процесса проект стандарта ИСО // Курс на качество. 1992. № 2. с. 166-184.

39.Промышленная автоматизация фирмы Литтон. ЛЭМБ-станко-строение. Метод приемо-сдаточных испытаний // Курс на качество. 1992. № 2. с. 115-165.

40.Рабинович П.М. Статистические методы исследования производственных резервов промышленного предприятия (элементы технологической статистики) М.: Госстатиздат. 1963.

41.Расчет точности машин и приборов /В.П.Булатов, И.Г.Фридлендер, А.П.Баталов и др. Под обшей ред. В.П.Булатова и И.Г.Фридлендера. - СПб.: Политехника, 1993. - 495 с. ил.

42.Рыбаков Л.М., Калявин В.В. Диагностирование систем электроснаб-женияю . Монографияю Йошкар-Ола. Марийское книжное издательство, 1994. -196 с.

43 .Селиванов М.Н., Фридман А.Э., Кудряшова Ж.Ф. Качество измерений. - Л.: Лениздат, 1987. - 295., ил.

44.Семенов Г.М., Кавазашвили Ф.Д., Ручкина Л.Г. Особенности отказов силовых полупроводниковых приборов в преобразователях электроснабжения

<33

метрополитенов. //Материалы докл. н.т.семин. "Шумы и деградационные процессы в полупроводниковых приборах": метрология, диагностика, технология. 1991, Москва, 1-3 декабря, 1992. -М.: 1993. С. 147-149.

45.Семенов Г.М., Кавазашвили Ф.Д., Ручкина Л.Г. Повышение эксплуатационной надежности силовых полупроводниковых приборов в преобразовательных агрегатах электротранспорта. //Материалы докл. н.т.семин. "Шумы и деградационные процессы в полупроводниковых приборах": метрология, диагностика, технология. 1991, Москва, 1-3 декабря, 1992. -М.: 1993. С. 150-155.

46.Сигорский В.П., Петренко А.И. Алгоритмы анализа электронных схем. М.: Сов. радио, 1976. -608 с.

47.Синенуб Г.А. Исследование процесса включения силовых тиристоров и методов отбраковки потенциально ненадежных приборов. Дис. канд. техн. наук. -М.: ВЭИ, 1981. -158 с.

48.Спат М. Оперативные методы Тагути // Курс на качество. 1992. № 2. с. 202-206.

49.Степаненко И.П. Основы теории транзисторов и транзисторных схем. - М.: Энергия, 1977. - 672 с.

50.Технологическая инструкция по эксплуатации и ремонту кремниевых выпрямителей на СТП //Петербургский метрополитен, служба энергоснабжения, СПб., 1996. - 123 с.

51.Тимович Р., Вукобратович М. Общая теория чувствительности. - М.: Сов радио, 1972.-239 с.

52.Тимонин В.И. Математические методы в теории ускоренных испытаний. . - Зарубежная радиоэлектроника, 1980. № 1, с. 51-57.

53.Тиристоры (технический справочник) /Пер. с англ. под ред. В.А.Лабунцова, С.Г.Обухова, А.В.Свиридова. - М.: Энергия, 1971, 560 с.

54.Тиристоры оптронные типы Т02-Ю, Т02-40 /Информэлектро. -05.13.02.-83.- 19 с.

55.Тиристоры триодные симметричные серии ТС /Информэлектро. -05.12.02-82.-19 с.

56.Управляемые полупроводниковые вентили: Пер. с англ. / Джентри Ф., Гутцвиллер Ф., Голоньяк H., Фон Застров Э. Под ред. В.М.Тучкевича. М.: Мир. 1967.-456 с.

57.Физические основы надежности интегральных схем / Под ред. З.Г.Миллера. - М.: Сов. Радио, 1976, с. 320.

58.Фриддендер И.Г., Жученко Э.И. Управляющий контроль качества продукции на рабочих местах: Справочник. JL: Машиностроение. 1988. 118 с.

59.Чебовский О.Г., Моисеев Л.Г. Испытание силовых полупроводниковых приборов. М.: Энергоиздат, 1981. - 200 с.

бО.Чебовский О.Г. и др. Силовые полупроводниковые приборы: Справочник / О.Г.Чебовский, Л.Г.Моисеев, Р.П.Недошивин, 2-е изд. перераб. и доп. - М.: Энергоатомиздат, 1985. 400 с.

61.Чуа Леон О., Пен-Мин Лин. Машинный анализ электронных схем. М.: Энергия, 1980. - 638 с.

62.Шпер В.Л. /Методы экспериментального определения и расчета показателей надежности силовых полупроводниковых приборов. Дис. канд. техн. наук // Всесоюзный электротехнический институт им В.И.Ленина. - М., 1984. -261 с.

63.Шпер В.Л. О номограмме для расчета индекса Срт // Курс на качество. 1992. № 2. с. 207-210.

64.Adler Yu.P., Shper V.L. Some remarks on capability indices // Proc 9-th Int. Conf. ISQA, 1992. p. 921-926.

65.Blanks H.S. The temperature dépendance of component failure rate. - Mi-croelectron and Relaib., 1980, № 20. - p. 297-307.

66.Blanks H.S. Electronics reliability: a state of thiart survey. - Microelectron and Relaib., 1980, № 20. - p. 219-245.

67 .Blunt P. Reliable thyristors and triacs in T0-220 plastic packages. - Electric compon. And applic., 1979. Vol. 2, № 1. - p. 53-63.

68.Bora J.S., Babar A.H. Simplicatione of base failure rate models. - Microe-lectron and Relaib., 1980, № 20. - p. 535.

69.Chan L.K., Cheng S.W., Spiring F.A. A New measure of process capability: Cpm //Journal of Quality Technology. 1988. № 20. p. 162-175.

70.Chik R.F., Karstaedt W.H. Reliability the application of high power semiconductors. - IEEE Ind. Appl. Soc. 13-th Annu. Meet. Conf. Rec., N.Y., 1978. -p.1050-1055.

71.Chou Y.M., Owen D.B., Borrego S.A. Lover Confidence Lamits on Process Capability Indices. // Journal of Quality Technology. 1990. vol. 22. № 3. p. 223-229.

72.Cjmstock W.R., Locker R.E. High current diode and SCR reliability consideration. - IEEE Power Electr. Spec. Conf. Rec., 1975. - p. 224-233.

73.Dan Epsteir. Application and use of acceleration factors in microelectronics testing. - Sol. St. Technol., 1982,vol. 25, № 11. -h. 116-122.

74.Eachus J. Failure analysis in brief. - Semicond. Jnternat., 1982, vol. 5, №1.-103-112.

75 Johnson N.L., Kotz S., Pearn W.L. A Unified Treatment of Process Capability Indices. I. Univariat / Submitted to Journal of Quality Techology. 1992.

76.Herr E.A., Pol. A., Fox A. Reliability evaluation on and Prediction for discrete semiconductors. - IEEE Trans. Reliab., 1980., vol. 29, № 3. - p. 208-216.

77.Holmes D. A quality portfolio management chart // Quality. 1986. Vol/ 25. № 12. p. 67.

78.keda Sh., Tsuda Sh., Waki G. The current pulse ratings of theristors. -IEEE Trans. Electr. Dev., 1970, vol.

79.Kane V.E. Process capability indices // Qual. Technol. 1986. Vol 18, № 11. - p. 41-52; Corrigenda. № 12. p. 265.

г

80.Locher R.E. Large diameter rectifier diodes and thyristor in servise reliability. - IEEE Conf. Rec. 9-th Annu. Ind Appl. Soc. Meet. - N.Y., - p. 463-465.

81.Lommer N.D.., Fencht D.L., Yeckel R.W. Reability and thermal impedance. - Studes in soft soldered power transistors. IEEE Trans. Electron. Dev., 1976, vol. 23, №8,-p. 843-850.

82.Marmann A. Reliability of silicon power transistor. - Microelectron and Relaib., 1976, vol. 15, № 1,-p. 69-74.

83.Montgomery D.C. Introduction to statistical Quality Control. N.Y.: John Wiley & Sons. 1985.

84.Moeller A On the term "activation energy" in accelerated lifetime of plastic encapsulated semiconductor components. - Microelectron and Relaib., 1980, № 5. -p. 651-654.

85.Piccone D.E., Somes I Accelerated life teste for determining the life expectancy of a thyristor due to di/dt failure. - IEEE Conf. Rec. 7-th. Ind. Appl. Soc. Meet, 1972,-p. 469-476.

86.SCR Manual sixth edition (General Electric). N. Y. - 731 p.

87.Singpurwalla N.D. Accelerated life testing a servey of developments. -Relaib. Testing and Relaib. Evabiation. Proc. NATO Conf. - 1972. - p. VII-D-1-VIL-D-15.

88.Somos I.L. Current condition for meaning fuel di/dt test. - Доклады ВЭЖ. Секция 5A. Доклад № 5. - M., 1977. 8 с.

89.Sullivan L.P. Targeting Variability - A New Approach to Quality Progress. 1984. July. p. 15-21.

90.Sullivan L.P. Letters // Quality Progress. 1985. April, p. 7-8.