Измерительно-вычислительная система контроля качества магнитных изделий с помощью электронно-оптических муаровых эффектов тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 05.11.16, кандидат технических наук Печагин, Евгений Александрович

• Печагин, Евгений Александрович
• кандидат технических наук
• 2002

Оглавление диссертации кандидат технических наук Печагин, Евгений Александрович

ВВЕДЕНИЕ

1. ПРИБОРЫ И МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ МАГНИТНЫХ ПОЛЕЙ 7 1Л. Методика контроля качества магнитных систем на производстве

1.2. Магнитометрические преобразователи

1.3. Электромагнитное моделирование

1.4. Использование силового взаимодействия магнитного поля с движущимся электрическими зарядами 19 Выводы

2. ПРИМЕНЕНИЕ МЕТОДА МУАРОВЫХ ИЗОБРАЖЕНИЙ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ МАГНИТНЫХ ПОЛЕЙ СРЕДСТВАМИ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ

2.1. Основы получения муарового узора

2.2. Методика проведения экспериментов

2.3. Получение картины магнитного поля прямого проводника с током

2.4. Обработка опытных результатов 36 Выводы

3. ИССЛЕДОВАНИЕ НЕОДНОРОДНЫХ МАГНИТНЫХ ПОЛЕЙ

3.1. Обработка опытных результатов по двухвитковой катушке с током

3.2. Применение муаровой методики при контроле качества магнитных систем на производстве

3.3. Сопоставление математической модели с результатами эксперимента 65 Выводы

4. ИЗМЕРИТЕЛЬНО-ВЫЧИСЛИТЕЛЬНАЯ СИСТЕМА КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА МАГНИТНЫХ СИСТЕМ

4.1. Структура измерительно-вычислительной системы контроля качества магнитных систем

4.2. Аппаратные средства

4.3. Программное обеспечение 85 Выводы

5. МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБОСНОВАНИЕ ИСПОЛЬЗОВАНИЯ ИЗМЕРИТЕЛЬНО-ВЫЧИСЛИТЕЛЬНОЙ СИСТЕМЫ

КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА МАГНИТНЫХ СИСТЕМ

5.1. Исследование влияния электрической составляющей электромагнитного поля рассеяния головки при получении муара

5.2. Предварительная обработка экспериментальных данных по магнитным головкам

5.3. Оценка погрешности средства измерения

5.4. Исследование вероятности брака контроля при использовании измерительно-вычислительной системы 111 Выводы 115 ЗАКЛЮЧЕНИЕ 116 БИБЛИОГРАФИЧЕСКИЙ СПИСОК 117 Приложение 1 124 Приложение 2 130 Приложение

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Измерительно-вычислительная система контроля качества магнитных изделий с помощью электронно-оптических муаровых эффектов»

Актуальность работы. Практически все современные электроэнергетические и электромеханические аппараты, значительное число устройств автоматики, измерительной и вычислительной техники построены на основе использования электромагнитных явлений и на применении магнитных материалов. Поэтому измерение параметров магнитных полей, а также исследование магнитных свойств материалов занимают значительное место в технике.

Производственный контроль магнитных изделий представляет собой многопараметрический, трудоёмкий процесс, зависящий от личных качеств оператора. При расчете и моделировании неоднородных магнитных полей малой протяженности часто не поддаются учету геометрические и физические особенности границ раздела. Например, при производственном контроле соответствия магнитных полей рассеяния серийно выпускаемых электротехнических изделий запроектированным стандартам не поддаются учету особенности, вызванные различной физико-химической предысторией систем, создающих эти поля. Это термообработка магнитопровода, способ обработки зазора полюсного наконечника, состояние материала и полировки рабочей поверхности составных ферритных изделий, которые существенно влияют на топологию магнитного поля рассеяния. Многочисленность подобных трудноучитываемых при моделировании полной картины магнитных полей факторов требует прямых методов исследования магнитных и электрических полей рассеяния малой протяженности. К данным методам можно отнести оптические, оптические теневые, электронно-оптические методы.

Использование средств электронной микроскопии в совокупности с цифровой фототехникой, сопряжённой с персональным компьютером (ПК), открывает широкие возможности по созданию измерительно-вычислительных систем (ИБС) для промышленности с целью автоматизации и повышения оперативности процесса разбраковки готовой продукции. Применение в ИБС методики электронно-оптических муаровых картин позволяет визуализировать магнитные поля рассеяния контролируемых изделий. Создание ИВС, основанной на использовании критериев, характеризующих муаровые картины от полей рассеяния магнитных головок, открывает возможность разработки более надёжного и менее трудоёмкого метода контроля, что является важной и актуальной задачей. Актуальность работы также подтверждается возможностью создания на базе муаровой методики наблюдения магнитных полей принципиально новых программно-управляемых систем при автоматизации процесса контроля качества магнитных изделий на производстве.

Предмет исследования: Методы контроля магнитных изделий на производстве. Разработка ИВС контроля качества магнитных головок на базе электронно-оптической муаровой методики.

Цель работы. Разработка ИВС и метода контроля качества магнитных головок с помощью электронно-оптических муаровых эффектов.

Идея работы заключается в применении ИВС, позволяющей по критериям, характеризующим электронно-оптические муаровые картины от исследуемых неоднородных магнитных полей рассеяния в малых объёмах, предложить более надёжный и оперативный метод контроля качества магнитных изделий в масштабах производства.

Методы исследования. В диссертационной работе использованы методы получения муаровых картин от электрических и магнитных полей средствами электронной микроскопии, математического моделирования, схемотехники и метрологии.

Научная новизна: выполнены экспериментальные исследования, позволяющие с помощью электронно-оптических муаровых эффектов наблюдать топологию однородных и неоднородных магнитных полей рассеяния; предложена математическая модель, позволяющая описать электронно-оптические муаровые изображения от поля рассеяния годного и бракованного блоков магнитных головок; разработана методика обработки муаровых картин от поля рассеяния магнитной головки в процессе машинного моделирования при подсчете пикселей; изучено влияние электрической составляющей электромагнитного поля головки при получении электронно-оптических муаровых картин; предложен метод контроля магнитных головок по коэффициентам симметрии и площади темных частей муарового изображения; предложена структура и программное обеспечение измерительно-вычислительной системы контроля качества магнитных изделий с помощью электронно-оптических муаровых эффектов.

Практическая ценность работы заключается в том, что разработана ИБС контроля качества магнитных изделий, основанная на визуализации магнитных полей рассеяния в малых объемах посредством электронно-оптических муаровых картин. Предложен метод контроля качества магнитных головок по коэффициентам симметрии и площади темных частей муарового изображения, получаемых в процессе машинного моделирования при подсчете пикселей.

Для ИБС, реализующей предложенный метод разбраковки, разработаны: алгоритмы функционирования, аппаратное и программное обеспечение, метрологические средства с учетом вероятности брака контроля.

Реализация работы. Основные результаты работы нашли применение при создании ИБС контроля качества магнитных изделий с помощью электронно-оптических муаровых эффектов, прошедшей испытания в акционерном обществе открытого типа "Тамбовэлектроприбор" (г. Тамбов).

Апробация. Основные положения диссертации докладывались на Международной конференции "Прогрессивная технология и вопросы экологии в гальванотехнике и производстве печатных плат" (Пенза, 1998), IV научной конференции ТГТУ (Тамбов, 1999), II Международной конференции "Микромеханизмы пластичности, разрушения и сопутствующих явлений" (Тамбов, 2000). 6

Публикации. Основные результаты диссертации опубликованы в 7 печатных работах.

Структура и объем работы. Диссертационная работа состоит из введения, пяти глав, заключения, библиографического списка из 89 наименований, приложений. Общий объем работы составляет 135 страницы. Основная часть диссертации изложена на 123 страницах машинописного текста. Работа содержит 40 рисунков.

Заключение диссертации по теме «Информационно-измерительные и управляющие системы (по отраслям)», Печагин, Евгений Александрович

Выводы получены электронно-оптические муаровые картины поля плоского конденсатора, анализ которых показал, что электрическая составляющая электромагнитного поля исследуемых магнитных головок не оказывает влия-, ние на его муаровые изображения; выявлены регулируемые меры, оценки качества магнитных головок в виде диапазона площадей темных частей и коэффициентов симметрии муарового изображения; предложена инженерная методика определения бракованных изделий по силовой характеристике поля, площади темных частей муарового изображения, являющейся дифференциальной мерой оценки брака и коэффициентам симметрии муарового изображения, являющихся интегральными мерами оценки брака, в совокупности с критериями полученными по площадям темных частей муарового изображения; установлено, что предложенный метод является решением задачи контроля качества изделий, т.к. экспериментально подтвержденная точность измерения удовлетворяет поставленным требованиям контроля.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

В диссертационной работе решена актуальная задача, по разработке измерительно-вычислительной системы контроля качества магнитных изделий с помощью электронно-оптических муаровых эффектов. Основные результаты теоретических и экспериментальных исследований : получены электронно-оптические муаровые картины от магнитных полей прямого проводника и двухвитковой катушки с рассмотрением физических моделей экспериментов, в процессе чего разработаны алгоритмы поиска информативного параметра в виде смещения теневого изображения сетки на муаровом узоре, являющегося топологической мерой оценки исследуемых полей; на основе распределения магнитного поля соленоида проведено математическое моделирование, позволяющее описать электронно-оптические муаровые изображения от поля рассеяния магнитных головок; разработана методика обработки муаровых картин от поля рассеяния магнитных головок в процессе машинного моделирования при подсчете пикселей с целью определения площади темных частей и коэффициентов симметрии для оценки исследуемых электромагнитных полей; получены электронно-оптические муаровые картины от поля плоского конденсатора, анализ которых показал, что электрическая составляющая электромагнитного поля исследуемых магнитных головок не оказывает влияния на его муаровые изображения; на основе предложенных критериев качества в виде площади темных частей и коэффициентов симметрии муаровых картин разработан метод контроля магнитных головок, удовлетворяющий производственным требованиям; предложена структура и программное обеспечение измерительно-вычислительной системы контроля качества магнитных изделий, реализующей методику электронно-оптического муара.

Список литературы диссертационного исследования кандидат технических наук Печагин, Евгений Александрович, 2002 год

1. Пирогов Л.И. Магнитные сердечники в автоматике и вычислительной технике / Л.И. Пирогов, Ю.М. Шамаев.-М.: Энергия, 1967.-296 с.

2. Розенблант М.А. Магнитные элементы автоматики и вычислительной техники / М.А. Розенблант.-М.: Наука, 1974.-768 с.

3. Герасимов В.Г. Методы и приборы электромагнитного контроля промышленных изделий / В.Г. Герасимов, В.В. Клюев, В.Е. Шатерников.-М.: Энергоатомиздат, 1983.-272 с.

4. Червинский М.М. Проблемы магнитных измерений и магнитоизмери-тельной аппаратуры / М.М. Червинский // Материалы Всесоюз. науч. -техн. совещ.-Л., 1977.-С. 124-128.

5. Афанасьев Ю.В. Средства измерения параметров магнитного поля / Ю.В. Афанасьев, Н.В. Студенцов, В.Н. Хорев.-Л.: Энергия, 1979.-320 с.

6. Ландау Л.Д. Теория поля / Л.Д. Ландау, Е.М. Лифшиц.-М.: Наука, 1967.453 с.

7. Тозони О.В. Математические модели для расчета электрических и магнитных полей / О.В. Тозони.-Киев: Наукова думка, 1964.-378 с.

8. Сочнев А.Я. Расчет напряженности поля прямым методом / А.Я. Соч-нев.- Л.: Энергоатомиздат, 1984.-539 с.

9. Стрэтон Д.А. Теория электромагнетизма / Д.А. Стрэтон.-М.: ОГИЗ, 1948.-539 с.

10. Фейнман Р. Фейнмановские лекции по физике / Р. Фейнман, Р. Лейтон, М. Сэндс.-М.: Мир, 1969.-Т.5.-330 с.

11. Панин В.В. Измерение импульсных магнитных и электрических полей / В.В. Панин, Б.М. Степанов.-М.: Энергоатомиздат, 1987.-120 с.

12. А.с. №318894 СССР, МКИ G01 №33/06. Устройство для измерения напряженности магнитного поля.

13. А.с. №1818602 RU, МКИ G02 №1/29. Устройство для определения пространственного распределения магнитного поля.

14. Fowler С.A. Magnetic domains in thin films by the Faraday effect / C.A. Fowler, E.M. Fryer // Phys. Rev.-1956.-V. 104, N2.-P. 548-552.

15. Теснек Ю.М. Магнитные измерения: Обзор зарубежных и отечественных изобретений / Ю.М. Теснек.-М.: ЦНИИПИ, 1964.-380 с.

16. ГОСТ 16263-70. Государственная система обеспечения единства измерений. Метрология. Термины и определения.-Введ. с 01.01.71.-Переизд. дек. 1990 г.-М.: Изд-во стандартов, 1990.-54 с.

17. Чечурина Е.Н. Приборы для измерения магнитных величин / Е.Н. Чечу-рина.-М.: Энергия, 1969.-168 с.

18. Панин В.В. Практическая магнитометрия / В.В. Панин, Б.М. Степанов.-М.: Машиностроение, 1978.-256 с.

19. Сергеев В.Г. Магнитоизмерительные приборы и установки / В.Г. Сергеев, А.Я. Шихин.-М.: Энергоатомиздат, 1982.-152 с.

20. Афанасьев Ю.В. Магнитометрические преобразователи, приборы и установки / Ю.В. Афанасьев, Н.В. Студенцов, А.П. Щелкин.-JI.: Энергия, 1972.-264 с.

21. Вопросы изучения измерения нестационарных магнитных полей / Под ред. Б.М. Степанова.-М.: ВНИИОФИ, 1980.-287 с.

22. Листвин А.В. Микрорезонаторный датчик магнитного поля / А.В. Лист-вин, В.Т. Потапов. // Письма в ЖТФ.-1993.-Т.19, №17.-С. 26-28.

23. Балтес Г.П. Интегральные полупроводниковые датчики магнитного поля / Г.П. Балтес, Р.С. Потапович. // ТИИЭИР.-1986.-Т.74, №8.-С. 60-66.

24. Габидулин Э.М. Кодирование в радиоэлектронике / Э.М. Габидулин, В.Б. Афанасьев.-М.: Радио и связь, 1986.-176 с.

25. Аленин С.В. Анализ метрологических характеристик индукционных электрометрических преобразователей / С.В. Аленин, В.В. Панин, В.В. Паршин.-М.: Энергоатомиздат, 1983.-429 с.

26. Гордиенко В.И. Индуктивные излучатели и приемники вихревого электрического поля / В.И. Гордиенко, Н.И. Калашников, К.Д. Надточий.-Киев: Наукова думка, 1972.-386 с.

27. Вонсовский С.В. Магнетизм / С.В. Вонсовский.-М.: Наука, 1971.-630 с.

28. Мизюк JI.Я. Входные преобразователи для измерения напряженности низкочастотных магнитных полей / Л.Я. Мизюк.-Киев: Наукова думка, 1964.-173 с.

29. Вассерман М.И. Новые приборы для измерения магнитной индукции, основанные на эффекте Холла / М.И. Вассерман, А.П. Щелкин. // Труды метрологических институтов СССР / ВНИИМ им. Менделеева.-Л., 1974.-Вып. 152.-С. 61-65.

30. Васенин А.В. Измерение слабых, медленно изменяющихся магнитных полей с использованием датчика Холла / А.В. Васенин. // Электроизмерительная техника.-М., 1978.-Вып. 1.-С. 37-41.

31. Кобус А. Датчики Холла и магниторезисторы / А. Кобус, Я. Тушинский.-М.: Советское радио, 1971.-76 с.

32. Вайсс Г. Физика гальваномагнитных полупроводниковых приборов и их применение / Г. Вайсс.-М.: Энергия, 1974.-384 с.

33. Кучис Е.В. Методы исследования эффекта Холла / Е.В. Кучис.-М.: Советское радио, 1974.-91 с.

34. Электроизмерительная техника в научных исследованиях / Под. ред. А.Б. Филлипова.-М.: Атомиздат, 1978.-348 с.

35. Петрушенко И.А. Миниатюрные преобразователи Холла для определения топографии магнитного поля / И.А. Петрушенко, А.П. Щелкин. // Автометрия.-1969.-№6.-С. 8-11.

36. Экдрго Э. Ядерный магнитный резонанс: Пер. с англ. / Э. Экдрго.-М.: Изд-во иностранной литературы, 1957.-317 с.

37. Афанасьев Ю.В. Вопросы проектирования феррозондовых магнитометров / Ю.В. Афанасьев, И.Г. Гольдреер, С.Ш. Долгинов. // Геофизическое приборостроение: Сб. тр.-М., 1960.-Вып. 6.-С. 53-58.

38. Долгинов С.Ш. Малогабаритный магнитометр для измерения очень слабых магнитных полей / С.Ш. Долгинов, Л.Н. Шуров. // Тр. ин-та физики металлов АН СССР.-Свердловск, 1959,-Вып. 21.-С. 44-49.

39. Электрические измерения / Под ред. А.В. Фремке.-Л.: Энергия, 1980. 392 с.

40. Ландсберг Г.С. Оптика / Г.С. Ландсберг.-М.: Гостехиздат, 1957.-236 с.

41. Фотоника / Под. ред. М.Баланси.-М.: Мир, 1978.-470 с.

42. Rowe R.G. Magnetostriction compass / R.G. Rowe // Electronics.-1954.-V. 18, №7.-P. 114-119.

43. Perls T.A. Magnetostriction magnetometr / T.A. Perls // Phys. Rev.-1952.-V.87, №1.-P. 68-71.

44. Стрэттон Д.А. Теория электромагнетизма: Пер. с англ. / Д.А. Стрэттон.-М.: Огиз, 1954.-539 с.

45. Вичес А.И. Моделирование канала магнитной записи на ЭВМ / А.И. Ви-чес, А.И. Горон, В.А. Смирнов.-М.: Радио и связь, 1984.-183 с.

46. Рязанов Г.А. Опыты моделирования при изучении электромагнитного поля / Г.А. Рязанов.- М.: Наука, 1966.-290 с.

47. Рязанов Г.А. Электрическое моделирование с применением вихревых полей / Г.А. Рязанов.-М.: Наука, 1969.-337 с.

48. Электронная микроскопия/ Под ред. А.А. Лебедева.-М.: Наука, 1954.640 с.

49. Арцимович Л.А. Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях / Л.А. Арцимович, С.Ю. Лукьянов.-М.: Наука, 1972.-220 с.

50. Лейзеганг З.А. Электронная микроскопия / З.А. Лейзеганг.-М.: Изд-во иностр. лит., 1960.-537 с.

51. Зуева Н.Г. Применение магнетрона для измерения напряженности магнитного поля / Н.Г. Зуева // Труды ВНИИМ.-М., 1938.-С. 34-39.

52. Peter М. A New method for the measurement of inhomogeneous magnetic fields / M. Peter, D. Weizierl // Review of Scient. Instrum.-1950.-№5.-P. 6371.

53. Whitham K. Measurement of the Geomagnetic Elements / K. Whitham // Coontribution from Dominion Observatory (Ottawa).-1960.-V.3, №30.-P. 3437.

54. Marton L. Elektron-Optical Shadow Method of Magnetic Field Mapping / L. Marton, J. Arol Simpson, S.H. Lachenbruch // J. Research NBS.-1954.-V.52,2.-P. 97-99.

55. Вуд P. Физическая оптика / P. Вуд.-М.: ОНТИ, 1936.-382 с.

56. Максутов Д.Д. Теневые методы исследования оптических систем / Д.Д. Максутов.-М.: ГТТИ, 1934.-276 с.

57. Снивак Г.В. Визуализация магнитного звукозаписывающего поля при помощи электронного зеркала / Г.В. Снивак, Р.Д. Иванов, О.П. Павлю-ченко // Изв. АН СССР. Сер. Физ.-1963. Т.27, №9.-С. 1210-1212.

58. Малахов JI.H. Электронно-оптический метод исследования микрополей / Л.Н. Малахов, Ю.В. Воробьев // Докл. АН СССР.-1959.-Т. 152, №2,-С. 315.

59. Верцнер В.Н. Применение теневого электронно-оптического метода к исследованию р-п переходов / В.Н. Верцнер, Ю.В. Воробьев, Л.Н. Малахов // Физика твердого тела: Сб. тр.-М; Л., 1959.-№2.-С. 109-112.

60. Дюрелли А. Анализ деформаций с использованием муара / А. Дюрелли, В. Паркс.-М.: Мир, 1974.-356 с.

61. Tollenaar D. Moire-Interferentieverschienselen bie rasterdruk / D. Tollenaar; Amsterdam Institut vor Grafische Technik.- Amsterdam, 1945.-142 p.

62. Kaczer J. The Determination of Strains by Mechanical Interference / J. Kac-zer, F. Kroupa// Czechoslovak J. Phys.-1952.-V.l, №80.-P. 73-81.

63. Weller R. Displacement Measurement by Mechanical Interferometry / R. Weller, B.M. Shepard//Proc. SESA.-1948.-V.6, №1.-P. 21-24.

64. Teocaris P. Moire Fringes / P. Teocaris // Appl. Mech. Surveys. Spartan.-1966.-V.15, №33.-P. 613-617.

65. Ронки В. Испытание оптических систем / В. Ронки.-М.: Гостехиздат, 1933.-357 с.

66. Шубников А.В. Антисимметрия / А.В. Шубников // VII Международ, конгр.: Сб. докл. АН СССР.-М., 1966.-С. 147.

67. Амелинкс С. Методы прямого наблюдения дислокации / С. Амелинкс.-М.: Мир, 1968.-347 с.

68. О контрасте картины магнитных микрополей, наблюдаемых в растровом электронном микроскопе / Г.В. Спивак, Г.В. Сапарин, Н.Н. Седов, Л.Ф.

69. Комолова // Изв. АН СССР. Сер. Физ.-1968.-Т.32, №6.-С. 962-965.

70. Магниное поле в трещине, обтекаемой током / Ю.И. Головин, В.М. Иванов, В.П. Иванов, В.М. Финкель // Дефектоскопия.-1982.-№3.-С. 43-45.

71. Кельман В.М. Электронная оптика / В.М. Кельман, С.Я. Явор.-M.-JI.: Изд-во АН СССР, 1963.-362 с.

72. Гусев В.Н., Красюк Б.А. Наблюдение магнитных полей по теневым электронно-оптическим муаровым картинам / В.Н. Гусев, Б.А. Красюк // Физика и химия обработки материалов.-1969.-№5.-С. 40-46.

73. Измерение магнитных полей рассеяния с помощью электронно-оптического муара / Е.А. Печагин, В.Ф. Калинин, В.М. Иванов, В.П. Иванов // Труды ТГТУ.-Тамбов, 1998,-Вып. 2.-С. 206-211.

74. Измерение магнитных полей рассеяния сложных конфигураций с помощью электронно оптического муара / В.Ф. Калинин, В.М. Иванов, В.П. Иванов, Е.А. Печагин // Вестник ТГТУ.-1999.-Т. 5, вып.З.-С. 416-421.

75. Контроль качества элементов радиотехнических устройств с помощью изучения конфигурации и протяженности электромагнитных полей /

76. B.Ф. Калинин, В.П. Иванов, В.М. Иванов, Е.А. Печагин // IV науч. конф.: Сб. тез. докл.-Тамбов, 1999.-С. 144.

77. Электронно-оптический метод анализа работоспособности магнитных систем / В.М. Иванов, В.П. Иванов, В.Ф. Калинин, Е.А. Печагин // Вестник ТГУ. Сер. Естественные и технические науки.-2000.-Т.5.-Вып. 2-3.

78. C. 330-333.-(Материалы II Международ, конф.).

79. Монтгомери Д. Получение сильных магнитных полей с помощью соленоидов / Д. Монтгомери.-М.: Мир, 1971.-359 с.

80. Янке Е. Таблицы функций / Е. Янке, Ф. Эмде.-М.: Мир, 1951.-512 с.

81. Гитлиц М.В. Магнитная запись сигналов / М.В. Гитлиц.-М.: Радио и связь, 1990.-232 с.

82. Siakkou М. Physik Der Informationspeicher / М. Siakkou; Academi-Verlag Berlin.- Berlin, 1972.-217 s.

83. Математическое моделирование магнитных полей рассеяния при исследовании средствами электронной микроскопии / А.В. Баранов, Е.А. Печатан, В.Ф. Калинин, В.М. Иванов // Труды ТГТУ.-Тамбов; 2001.-Вып. 9.-С. 69-73.

84. Архангельский А.Я. Программирование в Delphi 5.0 / А.Я. Архангель-ский.-М.: ЗАО "Изд-во Бином", 2000.-1072 с.

85. Осипов Б.В. Математические методы и ЭВМ в стандартизации и управлении качеством / Б.В. Осипов, Е.А. Мировская.-М.: Изд-во стандартов, 1990.-168 с.

86. Андреев Н.И. Корреляционная теория статически оптимальных систем / Н.И. Андреев.-М.: Наука, 1966.-459 с.

87. Айвазян С.А. Прикладная статистика и основы эконометрики / С.А. Айвазян, B.C. Михитарян.-М.: Юнити, 1998.-1023 с.

88. Измерение стационарного электрического поля методом электронно-оптического муара / В.П. Иванов, В.М. Иванов, Е.А. Печагин, Ю.В. Сер-кутан, А.В. Тимошин // Вестник ТГТУ.-1999.-Т. 2, вып. 2.-С. 271-276.

89. Львовский Е.Н. Статистические методы построения эмпирических формул / Е.Н. Львовский.-М.: Высш. шк., 1982.-224 с.

90. Зайдель А.Н. Элементарные оценки ошибок измерений / А.Н.Зайдель,-М.: Наука, 1968.-96 с.

91. Buttonl: TButton; {Image обрабатываемый графический объект}

92. Button2: TButton; {OpenPictureDialog выбор графического файла}

93. Button3: TButton; {Panel надпись в виде панели}1.age 1: TImage; {GroupBox рамка}

94. OpenPictureDialog 1: TOpenPictureDialog;

95. Private declarations } public

96. OpenPictureDialogl.Execute THEN {если выбрана функция открытияграфического файла}1. BEGIN

97. Obl3,Obl4,PO,Pl,P2 : Longint; {кол-во пикселей в 4 частях изображения,поправочные коэффициенты}beginзапретить на время обработки графического файла возможность нажатия кнопок} Button 1.Enabled := False;

98. Button2.Enabled := False; Button3.Enabled := False;

99. ValueExpert := 'бракованная'; {начальная экспертная оценка} IF FileName <> " THEN BEGIN {если файл загружен, будем его обрабатывать}

100. WriteLN (Protocol,'Обработан графический файл ',FileName); {запись в протокол}

101. BlackPixels := 0; {обнулить начальное количество черных пикселей}обнулить начальные значения кол-ва черных пикселей в каждой из 4 частей обрабатываемого графического изображения}оы 1 = 01. Obi 2 = 01. Obi ~3 = 01. Obi 4 = 0

102. Р0 := 0; {обнулить кол-во черных пикселей в верхней 1/6 части изображения}

103. Накопить кол-во черных пикселей в каждой из 4 частей изображения}1. i > Y THEN Obll := Obll + 1 ELSE Obl2 := Obl2 + 1 END ELSE BEGIN Y := 317-j+316;1. i > Y THEN Obl4 := Obl4 + 1 ELSE Obl3 := Obl3 + 1 END1. END1. END; {конец цикла}

104. Gauge 1.Progress := (i-16) DIV 3 {отобразить индикатор прогресса обработки}1. END; {конец цикла}

105. Gauge 1.Visible := False; {выключить индикатор прогресса}определить и вывести % черных пикселей к общему кол-ву пикселей изображения} К1 :=BlackPixels/1800;

106. Panel3.Caption := FloatToStrF(Kl,f£Fixed,3,2)+' %'; {запись в файл протокола}

107. WriteLN (Protocol,'Соотношение черных пикселей к общему числу пикселей объекта: ',Panel3.Caption);определить и вывести коэффициенты симметрии частей изображения} WriteLN (Protocol,'Коэффициенты симметрии'); {запись в файл протокола} {определить:}

108. К2 := (1 (MAX (Obl2,Obl3) - MIN (Obl2,Obl3))/(Obl2 + Obl3 - PI -PI)) * 100;

109. K3 := (1 (MAX (Obll,Obl4) - MIN (Obll,Obl4))/(Obll + Obl4 - P2 -P2)) * 100; {вывести:}

110. Panel4.Caption := FloatToStrF(K2, ffFixed,3,2)+' %';

111. Panel5.Caption := FloatToStrF(K3, ffFixed,3,2)+' %'; {запись в файл протокола}

112. WriteLN (Protocol,1 -средних частей изображения: ',Panel4.Caption); WriteLN (Protocol,' -крайних частей изображения: ',Panel5.Caption);

113. Определение экспертной оценки}1. (Kl > 78) AND (К2 > 80) AND (К3 > 80) THEN ValueExpert := 'годная';

114. CloseFile (Protocol); Application.Terminate; end;procedure TMainFrame.FormCreate(Sender: TObject); begin

115. AssignFile (Protocol,'Protocol.txt'); ReWrite (Protocol);

116. WriteLN (Protocol,'ФАЙЛ ПРОТОКОЛА');

117. WriteLN (Protocol,'Создан: ',DateToStr(Date),' в ',TimeToStr(Time)); WriteLN (Protocol,"); end;end.5,0 A,nJS

118. Утверждаю Гл. инженер Лившиц Б.И1. АКТ ВНЕДРЕНИЯ