Активная визуализационная поляриметрия в видимом диапазоне длин волн тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 05.11.07, кандидат технических наук Матвеев, Николай Вадимович

• Матвеев, Николай Вадимович
• кандидат технических наук
• 2013

Оглавление диссертации кандидат технических наук Матвеев, Николай Вадимович

Содержание

Содержание

Основные труды

Список сокращений

Введение

Глава I Обзор современного состояния визуализационной поляриметрии

1.1 Основные физические понятия

1.2 Типы поляриметров

1.2.1 Одномерные поляриметры

1.2.2 Двумерные поляриметры

1.2.3 Трехмерные поляриметры

1.2.4 Поляриметр на полном векторе Стокса

1.2.5 Активные визуализационные поляриметры

1.2.5.1 Матрицы Мюллера и другие активные системы визуализации

1.2.5.2 Лидары

1.2.5.3 Спектрополяриметрические визуализаторы

1.3 Математический базис методов измерения

1.3.1 Метод обработки матриц

1.3.2 Метод Фурье преобразований

1.3.3 Канальная спектрополяриметрия

1.4 Архитектура интегрированных поляриметров

1.4.1 Группа временных поляриметров

1.4.2 Группа амплитудных поляриметров

1.4.3 Группа апертурных поляриметров

1.5 Спектральный диапазон, феноменология

1.6 Определение физических параметров объекта на основе

поляриметрических данных

Выводы по главе

Глава II Моделирование поляриметрической двулучевой функции отражательной способности

2.1 Двулучевая функция отражательной способности

2.2 Поляриметрическая двулучевая функция отражательной способности

2.3 пДФОС для микрофасеточной модели

2.4 Степень поляризации для рассеяния в плоскости

2.5 пДФОС для активного поляриметра

Выводы по главе

Глава III Исследование границ применимости модели

3.1. Свойства образцов

3.2 Описание экспериментальной установки

3.3. Исследование изменения состояния поляризации при взаимодействии с

образцами

3.4 Сравнение экспериментальных данных с моделью

Выводы по главе

Глава IV Контроль качества ахроматических фазовых пластинок

4.1 Ахроматические фазовые пластинки

4.2 Проверка работоспособности метода

4.3 Исследование ахроматических фазовых пластинок

Выводы по главе

Заключение

Список литературы

Приложения

Основные труды

1. Алексеев С. А., Матвеев Н. В. «Способ измерения поляризационной чувствительности приемника оптического излучения», Изв. ВУЗов. Приборостроение 2013. т. 56, №5 с. 14-18

2. Алексеев С. А., Матвеев Н. В. Патент №2010113682 приоритет от 07.04.2010 «Способ измерения поляризационной чувствительности приемника оптического излучения (варианты)»

3. Алексеев С. А., Матвеев Н. В., Попов И. В. «Определение параметров функции плотности микрофасеток в пДФОС» Сборник тезисов докладов конгресса молодых ученых, Выпуск 3 - СПб: НИУ ИТМО, 2013.-с. 426-427

4. Матвеев Н. В., Попов И. В. «Контроль качества ахроматических фазовых пластинок» Сборник тезисов докладов конгресса молодых ученых, Выпуск 2, - СПб: НИУ ИТМО, 2012. - с

5. Матвеев Н. В. «Моделирование процесса изменения поляриметрических параметров зондирующего излучения в активных поляриметрических системах» Сборник тезисов докладов конференции молодых ученых, Выпуск 2. СПб: СПбГУ ИТМО, 2011. - с

Список сокращений

Обозначение Название Единицы измерения

А/ площадь ячейки м2

СБОР степень круговой поляризации -

с скорость света м/с

ЭОР степень поляризации -

Е освещенность Вт/м2

Р поляризационная функция отражательной способности (матрица) ср"1

/ двулучевая функция отражательной способности ср-1

в функция затенения -

1ЛЭОР степень линейной поляризации -

Іл- яркость поверхности Вт/м2

ІМ матрица Мюллера -

Шу компоненты матрицы Мюллера -

п показатель преломления -

Пе аномальный показатель преломления -

П0 нормальный показатель преломления -

р(0н) функция плотности микрофасеток -

Яв отражательная способность 8-компоненты -

Яр отражательная способность р-компоненты -

г* в-поляризованный френелевский коэффициент отражения -

гр р-поляризованный френелевский коэффициент отражения -

Вектор Стокса -

р локальный угол падения на ячейку 0 или рад

У эллиптичность ° или рад

8 разность фаз -

01 зенитный угол падения ° или рад

угол между нормалью к микрофасетке и нормалью к поверхности ° или рад

ег зенитный угол отражения ° или рад

X длина волны -

Ф; азимутальный угол падения ° или рад

фг азимутальный угол отражения ° или рад

¥ азимут поляризации ° или рад

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Активная визуализационная поляриметрия в видимом диапазоне длин волн»

Введение

За последние тридцать лет визуализационная поляриметрия стала мощным инструментом для решения задач дистанционного зондирования. Техники дистанционного зондирования позволяют получать информацию об объекте без физического контакта с ним, благодаря этому они нашли свое применение в различных областях, таких как прогнозирование погоды, безопасность шахт, медицина, безопасность и военное дело, исследование поверхности океана и атмосферы. Поляриметрические методы позволяют дать не только качественную, но и количественную оценку состояния объекта. Спектральные данные несут информацию о материалах, составляющих объект, форме поверхности, поляризационные данные - о ее шероховатости и форме поверхности, материале, из которого изготовлен объект. Применение поляриметрических техник предпочтительней для случаев низкоконтрастных объектов, что позволяет улучшить методики решения задач поиска и классификации объектов, распознавания и сегментирования изображений. На рис. 1.1 показан пример возможностей поляризационного контрастирования.

Визуализационная поляриметрия является специальным направлением поляриметрии, заключающимся в создании карты состояния поляризации исследуемой сцены.

Рис. 1.1

Изображения двух машин на природном фоне в тени. Верхнее - снимок в видимом диапазоне, нижнее левое - длинноволновое ИК, нижнее правое -поляриметрическое длинноволновое ИК. Интересующие исследователя объекты видны только на третьем изображении [19].

Одним из направлений исследований в области визуализационной поляриметрии является моделирование изменения состояния поляризации излучения при взаимодействии его с поверхностью объекта. Такие модели используются в генерации синтетических изображений (Synthetic image generation (SIG)), программные продукты, использующие данный метод, позволяют исследовать процессы, происходящие при дистанционном зондировании, разрабатывать и оптимизировать алгоритмы распознавания объектов, проектировать оптико-электронные приборы.

Существует широкий ряд работ, посвященных моделированию процессов взаимодействия неполяризованного излучения с поверхностью исследуемого объекта, модели для активных поляриметрических систем с заданным состоянием поляризации рассмотрены лишь обзорно. Как будет показано в Главе I, активные поляриметрические системы играют важную роль в поляриметрических исследования. В связи с этим представляется целесообразным разработка моделей для взаимодействия излучения, поляризованного известным образом, с поверхностями реальных объектов, рассмотрение границ их применимости.

Структура работы построена следующим образом: - в первой главе дается обзор существующих поляриметрических систем и методов извлечения информации о физических параметрах объектов из поляриметрических данных, обосновывается необходимость исследования моделей для взаимодействия излучения, поляризованного известным образом, с поверхностями реальных объектов, выбираются схемы и методы обработки данных для экспериментальной проверки теоретических положений данной работы;

во второй главе рассматривается структура общей поляриметрической модели, производится построение модели для активных поляриметров, рассматриваются возможности применения моделей для целей классификации материалов;

в третьей главе производится экспериментальная проверка предложенной модели, определяются границы ее применимости;

в четвертой главе производится исследование качества ахроматических фазовых пластинок, которые являются важной частью поляриметрических систем на полном векторе Стокса.

Заключение диссертации по теме «Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы», Матвеев, Николай Вадимович

Выводы по главе

В четвертой главе описан спектральный телевизионный поляриметр, позволяющий получать топограммы распределения фазового сдвига, вносимого исследуемым объектом.

С помощью разработанного устройства проведена оценка качества ахроматических фазовых пластинок в четверть длины волны. В результате чего установлено, что образцы АФП-1 и АФП-2 имеют неудовлетворительное качество и фактически не являются четверть волновыми ахроматическими фазовыми пластинками. Образец АФП-3 имеет равномерное распределение величины фазового сдвига близкое к 90°, со снижением величины фазового сдвига к краям пластинки. Для этого образца по усредненным значениям для центральной области были построены спектральная зависимость величины фазового сдвига и зависимость фазового сдвига от угла падения излучения. Характер полученных зависимостей соответствует типичному виду зависимостей для ахроматических фазовых пластинок, рассчитанных другими методами.

Заключение

Произведена комплексная оценка пДФОС. Получены аналитические зависимости параметров вектора Стокса отраженной волны от параметров Стокса падающей волны на основе пДФОС, позволяющие получить информацию о материале и качестве поверхности исследуемой поверхности.

Наличие предполагаемого отличия в зависимости ДОП от угла отражения при разных составах вектора Стокса падающего излучения позволяют при идентификации материала объекта отказаться от измерения ДОП при разных углах отражения, проводя измерения при разных составах вектора Стокса падающего излучения, что сократит трудоемкость при проведении поляриметрических исследованиях удаленных объектов и повысит быстродействие системы.

Осуществлена проверка работоспособности модели поляриметрической двулучевой функции отражательной способности применительно к задачам активной поляриметрии.

Модель дает результаты, совпадающие с экспериментальными данными, при углах падения и отражения в диапазоне от 0° до 30° для Яа порядка 0.5 мкм, при увеличении шероховатости в пять раз угловой диапазон, в котором модель работает, сужается в три раза и составляет от 0° до 10°.

В третьей главе описан спектральный телевизионный поляриметр, позволяющий получать топограммы распределения фазового сдвига, вносимого исследуемым объектом. С помощью разработанного устройства проведена оценка качества ахроматических фазовых пластинок в четверть длины волны.

Список литературы диссертационного исследования кандидат технических наук Матвеев, Николай Вадимович, 2013 год

Список литературы

1. A review of emission polarization. Sandus, О. 1634-1642, Appl. Opt., 1965 г., Т. 4.

2. Johnson, J. L. Infrared Polarization Signature Feasibility Tests. U.S. Army Mobility Equipment Research and Development Center, 1974. TR-EO-74-1 and ADC00113.

3. Chin-Bing, S. A. Infrared Polarization Signature Analysis, Defense Technical Information Center, 1976. ADC008418.

4. G. F. J. Garlick, G. A. Steigmann, and W. E. Lamb. Differential optical polarization detectors. U.S. patent 3,992,571 U.S., 16 November 1976 r. patent.

5. Polarization imagery. Walraven, R. 164-167, in Optical Polarimetry Proc. SPIE, 1977 г., Т. 112.

6. Polarization imagery. Walraven, R. 14-18, Opt. Eng, 1981 г., Т. 12.

7. Polarization imaging. Solomon, J. E. 1537-1544, Appl. Opt, 1981 г., Т. 20.

8. Polarization and scattering characteristics in the atmospheres of Earth, Venus, and Jupiter. Coffeen, D. L. 1051-1064, J. Opt. Soc. Am., 1979 г., Т. 69.

9. Polarized views of the Earth from orbital altitude. K. L. Coulson, V. S. Whitehead, and C. Campbell. 35-41, Proc. SPIE, 1986 г., Т. 637, 35-4.

10. Video polarimetry: a new imaging technique in atmospheric science. T. Prosch, D. Hennings, and E. Raschke. 1360-1363, Appl. Opt., 1983 г., Т. 22.

11. Astronomical polarimeter with 2D detector arrays. Povel, J. O. Stenflo and H. 3893-3898, Appl. Opt., 1985 г., Т. 24.

12. Imaging polarimeters for optical metrology. Chipman, J. L. Pezzaniti and R. A. 280-294, Proc. SPIE, 1990 г., Т. 1317.

13. Mueller matrix imaging polarimetry. Chipman, J. L. Pezzaniti and R. A. 15581568, Opt. Eng., 1995 г., Т. 34.

14. Горшков M. Эллипсометрия. М : Сов. Радио, 1974. 200 с.

15. Target detection using an AOTF hyperspectral imager. L. J. Cheng, J. C. Mahoney, and G. Reyes. 251-259, Proc. SPIE, 1994 r., T. 2237.

16. Target detection in optically scattering media by polarization difference imaging. J. S. Tyo, M. P. Rowe, E. N. Pugh, andN. Engheta. 1855-1870, Appl. Opt., 1996 r., T. 35.

17. Object delineation within turbid media by backscattering of phase modulated light. Strange, M. P. Silverman and W. 7-11, Opt. Commun., 1997 r., T. 144.

18. Optical polarization imaging. Alfano, S. G. Demos and R. R. 150-155, Appl. Opt., 1997 r, T. 36.

19. Polarization imaging through scattering media. Pezzaniti, D. B. Chenault and J. L. 124-133, Proc. SPIE, 2000 r., T. 4133.

20. Polarization discrimination for active imaging in scattering media. P. C. Y. Chang, J. G. Walker, K. I. Hopcraft, B. Ablitt, and E.Jakeman. 1-6, Opt. Commun, 1999 r., T. 159.

21. Backscattering target detection in a turbid medium by polarization discrimination. G. D. Lewis, D. L. Jordan, and P. J. Roberts. 3937-3944, Appl. Opt., 1999 r., T. 38.

22. Improvement of underwater visibility by reduction of backscatter with a circular polarization technique. Pernicka, G. D. Gilbert and J. C. A-III-l-A-III-10, Proc. SPIE, 1966 r., T. 7.

23. Laser range-gated underwater imaging including polarization discrimination. Cummings, B. A. Swartz and J. D. 42-56, : Proc. SPIE , 1991 r., T. 1537.

24. Polarization diversity active imaging. Chipman, R. A. 68-73, Proc. SPIE , 1997 r., T. 3170.

25. Photopolarimetric measurement of the Mueller matrix by Fourier analysis of a single detected signal. Azzam, R. M. A. 148-150, Opt. Lett., 1978 r., T. 2.

26. Polarization diversity active imaging. P. Clemenceau, S. Breugnot, and L. Collot. 284-291, Proc. SPIE , 1998 r., T. 3380.

27. Multispectral polarization active imager in the visible band. L. Le Hors, P. Hartemann, and S. Breugnot. 380-389, SPIE, 2000 r., T. 4035.

28. Clemenceau, S. Breugnot and P. 2681-2688, Opt. Eng., 2000 r., T. 39.

29. Invariant polarimetric contrast parameters of coherent light. Goudail, P. Refregier and F. 1223-1233, J. Opt. Soc. Am., 2002 r., T. A 19.

30. Estimation of the degree of polarization in active coherent imagery by using the natural representation. P. Refregier, F. Goudail, and N. Roux. 2292-2300,

J. Opt. Soc. Am., 2004 r., T. A 21.

31. Development and calibration of an automated Mueller matrix polarization imaging system. J. S. Baba, J.-R. Chung, A. H. DeLaughter, B. D. Cameron. 341349, J. Biomed. Opt., 2002 r., T. 7.

32. High-speed imaging polarimeter. Chipman, J. Wolfe and R. A. 24-32, Proc. SPIE, 2003 r., T. 5158.

33. Interferometric imaging polarimeter. M. Mujat, E. Baleine, and A. Dogariu. 2244-2249, J. Opt. Soc. Am., 2004 r., T. A 21.

34. Ice clouds and Asian dust studied with lidar measurements of particle extinction-to-backscatter ratio, particle depolarization, and water-vapor mixing ratio over Tsukuba. T. Sakai, T. Nagai, M. Nakazato, Y. Mano, and T. Matsumura. 7103-7116, Appl. Opt., 2003 r., T. 42.

35. An annual cycle of Arctic cloud characteristics observed by radar and lidar at SHEBA," J. Geophys. Res. 107,. J. M. Intrieri, M. D. Shupe, T. Uttal, and B. J. McCarty. SHE5-1-SHE5-15, J. Geophys. Res, 2002 r., T. 107.

36. The polarization lidar technique for cloud research: a review and current assessment. Sassen, K. 1848-1866, Bull. Am. Meteorol. Soc. , 1991 r., T. 72.

37. Lidar sensing of aerosols and clouds in the troposphere and stratosphere. J. A. Reagan, M. P. McCormick, and J. D. Spinhime. 433-448, Proc. IEEE, 1989 r., T. 77.

38. Remote sensing of the Earth's surface with an airborne polarized laser. J. E. Kalshoven, Jr. and P. W. Dabney. 438—446, IEEE Trans. Geosci. Remote Sens., 1993 г., Т. 31.

39. Design and performance of a multiwavelength airborne polarimetric lidar for vegetation remote sensing. Narayanan, S. Tan and R. M. 2360-2368, Appl. Opt., 2004 г., Т. 43.

40. Airborne lidar for fisheries applications. J. H. Chumside, J. J. Wilson, and V. V. Tatarskii. 406-414, Opt. Eng. , 2001 г., Т. 40.

41. Поляризация лазерного излучения в пыли и облаке в центральноазиатском районе. Чен Б. Б., Свердлик JI. Г. Вестник КРСУ, т, 3, №5, - 2003. с. 90-96.

42. ISOPHOT:far-infrared imaging, polarimetry, and spectrophotometry on Infrared Space Observatory. D. Lemke, F. Garzon, H. Gemuend, U. Groezinger, I. Heinrichsen, U. Klaas, W. Kraetschmer, E. Kreysa, P. Luetzow-Wentzky, J. Schubert, M. Wells, and J. Wolf. 28-33, Proc. SPIE , 1993 г., Т. 2019.

43. Hyperspectral imaging polarimeter design and calibration. Duggin, R. S. Loe and M. J. 195-205, Proc. SPIE, 2002 г., Т. 4481.

44. An acousto-optic tunable filter based active, long-wave IR spectrapolarimetric imager. Prasad, N. S. 104-112, Proc. SPIE, 2004 г., Т. 5268.

45. Variable retardance, Fourier transform imaging spectropolarimeters for visible spectrum remote sensing. Turner, J. S. Tyo and T. S. 1450-1458, Appl. Opt. , 2001 г., Т. 40.

46. Hyperspectral imaging polarimeter in the infrared. Peterson, G. L. Jensen and J. Q. 42-51, Proc. SPIE, 1998 г., Т. 3437.

47. Realization of quantitative-grade fieldable snapshot imaging spectropolarimeter. S. H. Jones, F. J. Iannarilli, and P. L. Kebabian. 6559-6573, Opt. Express , 2004 г., Т. 12.

48. Snapshot LWIR hyperspectral polarimetric imager for ocean surface sensing. F. J. Iannarilli, J. A. Shaw, S. H. Jones, and H. E. Scott. 270-283, Proc. SPIE, 2000 r., T. 4133.

49. Snapshot imaging spectropolarimeter. D. Sabatke, A. Locke, E. L. Dereniak, M. Descour, J. Garcia, T. Hamilton, and R. W. McMillan. 1048-1053, Opt. Eng., 2002 r., T. 41.

50. Polarimetry. Chipman, R. A. Chap. 22, McGraw-Hill: Handbook of Optics, 1995 r., T. Vol. 2.

51. Goldstein, D. Polarized Light. Dekker, 2003.

52. Spectroscopic polarimetry with a channeled . Kato, K. Oka and T. 1475-1477, Opt. Lett., 1999 r., T. 24.

53. Interpretation of Mueller matrices based on the polar decomposition. Chipman, S.-Y. Lu and R. A. 1106-1113, J. Opt. Soc. Am. A , 1996 r., T. 13.

54. Design of optimal polarimeters: maximization of signal-to-noise ratio and minimization of systematic errors. Tyo, J. S. 619-630, Appl. Opt. , 2002 r., T. 41.

55. Mueller matrix ellipsometry with imperfect compensators. Hauge, P. S. 15191528, J. Opt. Soc. Am., 1978 r., T. A 68.

56. A simple Fourier photopolarimeter with rotating polarizer and analyzer for measuring Jones and Mueller matrices. Azzam, R. M. A. 137-140, Opt. Commun., 1978 r., T. 25.

57. A rotating-compensator Fourier ellipsometer. Dill, P. S. Hauge and F. H. 431437, Opt. Commun., 1975 r., T. 14.

58. Scanning ellipsometer by rotating polarizer and analyzer. Lynch, L. Y. Chen and D. W. 5221-5228, Appl. Opt., 1987 r., T. 26.

59. Photometric ellipsometer for measuring partially polarized light. Aspnes, D. E. 1274-1278, J. Opt. Soc. Am. , 1975 r., T. A 65.

60. Dynamic photometric imaging polarizer-sample analyzer polarimeter. S. Y. Brezhna, I. V. Berezhnyy, and M. Takashi. 666-707, J. Opt. Soc. Am. , 2001 r., T. A 18.

61. Detecting a surface swimmer using long wave infrared imaging polarimetry. J. S. Harchanko, D. B. Chenault, C. F. Farlow, and K.Spradley. Proc. SPIE, 2005 r., T. 5780.

62. An error analysis of a Mueller matrix polarimeter. Chipman, D. H. Goldstein and R. A. 693-700, J. Opt. Soc. Am., 1990 r., T. A 7,.

63. Mueller matrix polarimeter algorithms. D. B. Chenault, J. L. Pezzaniti, and R. A. Chipman. 231-246, Proc. SPIE , 1992 r., T. 1746.

64. Infrared birefringence spectra for cadmium sulfide and cadmium selenide. Chipman, D. B. Chenault and R. A. 4223-4227, Appl. Opt., 1993 r., T. 32.

65. Variable retardance, Fourier transform imaging spectropolarimeters for visible spectrum remote sensing. Turner, J. S. Tyo and T. S. 1450-1458, Appl. Opt. , 2001 r., T. 40.

66. Spectroscopic polarimetry with a channeled spectrum . Kato, K. Oka and T. 1475-1477 , Opt. Lett., 1999 r., T. 24.

67. "Methods and applications of snapshot spectropolarimetry. N. Hagan, A. Locke, D. Sabatke, E. Dereniak, and D. Sass. 167-174 , Proc SPIE , 2004 r., T. 5432.

68. Compact complete imaging polarimeter using birefringent wedge prisms. Kaneko, K. Oka and T. 1510-1519, Opt. Express, 2003 r., T. 11.

69. Principles and techniques of polarimetric mapping. Hallock, J. Halaijan and H. pp. 523-540, ERIM, 1972 r., T. Vol. 1.

70. Arrangement of four photodetectors for measuring the state of polarization of light. Azzam, R. M. A. 309-311, Opt. Lett., 1985 r., T. 10.

71. Stokes parameter imaging of scattering surfaces. J. D. Barter, P. H. Y. Lee, and H. R. Thompson. 314-320, Proc. SPIE, 1997 r., T. 3121.

72. Imaging polarimeter development and application. C. A. Farlow, D. B. Chenault, K. D. Spradley, M. G. Gulley, M. W. Jones, and C. M. Persons. 118— 125, Proc. SPIE , 2001 r., T. 4819.

73. A division of aperture MWIR imaging polarimeter. Chenault, J. L. Pezzaniti and D. B. Proc. SPIE, 2005 г., Т. 5888.

74. Polarized surface scaterring expressed in terms of bidirectional reflectance distribution matix. Alexander, D. S. Flynn and. pp 1646-1650, Opt. Eng., June 1995 г., Т. vol. 34(6).

75. Polarimetric brdf in the microfacet model: Theory and measurements. Germer, R. G. Priest and T. A. Proceedings of the 2000 Meeting of the Military Symposia Specialty Group on Passive Sensors.

76. Polarimetric microfacet scattering theory with applications to absorptive and reflective surfaces. Meier, R. G. Priest and S. R. pp.988-993, Opt. Eng., May 2002 г., Т. vol. 41(5).

77. Theory of off-specular reflection from roughened surfaces. Sparrow, К. E. Torrance and E. M. pp. 1105-1114, J. Opt. Soc. Am., Sept. 1967 г., Т. vol. 57(9).

78. Modeling polarimetric imaging using dirsig. Meyers, J. P. Rochester, NY : Ph.D dissertation, Rochester Institute of Technology, 2002 r.

79. Bidirectional reflectance model validation and utilization. J. R. Maxwell, J. Beard, S. Weiner, D. Ladd, and S. Ladd. Technical report AFAL-TR-73-303, Environmental Research Institute of Michigan (ERIM), Oct. 1973 r.

80. Development of a combined bidirectional reflectance and directional emittance model for polarization modeling. Iannarilli(Jr.), J. A. Conant and F. J. pp. 206215, Proc. SPIE, Jan. 2002 г., Т. vol. 4481.

81. Infrared reflectance properties of aircraft. Robertson, B. P. Sanford and D. C. Proc. IRIS, 1985 г., Т. vol. 4481.

82. Polarimetric remote sensing in the visible to near infrared. Shell, J. R. Rochester, NY : Ph.D. dissertation, Rochester Institute of Technology, Nov. 2005 r.

83. A polarization-based material classification from specular reflection. Wolff, L. B. pp. 1059-1071, Proc. IEEE, Nov. 1990. г., Т. vol. 12.

84. Recovery of surface orientation from diffuse polarization. Hancock, G. A. Atkinson and E. R. pp. 1653-1664, Proc. British Machine Vision Conference, June 2006 г., Т. vol. 15.

85. Polarization imaging applied to 3d reconstruction of specular metallic surfaces. O. Morel, F. Meriaudeau, C. Stolz, and P. Gorria. pp. 178-186, Proc. SPIE, Feb. 2005 г., Т. vol. 5679.

86. Active lighting applied to three-dimensional reconstruction of specular metallic surfaces by polarization imaging. O. Morel, C. Stolz, F. Meriaudeau, and P. Gorria. pp. 4062^068, Appl. Opt., Jan. 2006 г., Т. vol. 45(2).

87. Results of a new polarization simulation. M. P. Fetrow, D. L.Wellems, S. H. Sposato, K. P. Bishop, T. R. Caudill, M. L.Davis, and E. R. Simrell. pp. 149-162, Proc. SPIE, Jan 2002 г., Т. vol. 4481.

88. Passive three-dimensional imaging using polarimetric diversity. Sadjadi, F. A. pp. 229-231, Opt. Lett., Oct. 2007 г., Т. vol. 32(3).

89. Photometric method for determining surface orientation from multiple images. Woodham, R. J. pp. 139-144, Opt. Eng., Jan. 1980 г., Т. vol. 19(5).

90. Three-dimensional shape from color photometric stereo. Shapiro, P. H. Christensen and L. G. pp. 213-227, Int'l J. Computer Vision,, 1994 г., Т. vol. 13(2).

91. Methods for non-linear least squares problems. K. Madsen, H. Nielsen, and O. Tingleff. Technical University of Denmark, 2004 r.

92. Ахроматический нуль-интерферометр для звездной коронографии. В., Тавров А. вып. 3, с. 83-92., Журнал технической физики, 2010 г., Т. том 80.

93. Свойства многокомпонентных ахроматических и суперахроматических волновых пластинок нулевого порядка. . Самойлов А. В., Климов А. С. 80-84, Оптический журнал, 2009 г., Т. 76, №5, .

94. Способ измерения поляризационной чувствительности приемника оптического излучения (варианты), Алексеев С. А., Матвеев Н. В. Патент №2010113682 приоритет от 07.04.2010

95. Exploiting passive polarimetric imagery for remote sensing applications. Vimal T. Ph. D. diss. New Mexico State University, Las Cruces New Mexico, May 2008

96. Эллипсометрия и поляризованный свет, Аззам Р., Башара Н., пер. с англ., М., 1981

97. Microfacet Scattering Model for Pulse Polarization Ranging, Dr. John Stryjewski CSC-ISTEF 09/1/2009