Воздействие электростатического разряда на функционирование цифровых элементов печатных плат электронных средств тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 05.13.05, кандидат технических наук Гизатуллин, Зиннур Марселевич

• Гизатуллин, Зиннур Марселевич
• кандидат технических наук
• 2004

Оглавление диссертации кандидат технических наук Гизатуллин, Зиннур Марселевич

Введение

ГЛАВА 1. Электромагнитная совместимость цифровых элементов печатных плат электронных средств.

1.1. Задачи электромагнитной совместимости в печатных платах

1.2. Статическое электричество и его опасные факторы.

1.3. Постановка задачи.

Выводы по главе 1.

ГЛАВА 2. Методы анализа и моделирование воздействия электростатического разряда на цифровые элементы печатных плат электронных средств.

2. 1. Методы и системы анализа электромагнитной совместимости печатных плат при воздействии электростатического разряда.

2.2. Классификация механизмов и разработка моделей воздействия электростатического разряда на цифровые элементы печатных плат.

2.3. Результаты моделирования воздействия электростатического разряда на цифровые элементы печатных плат.

Выводы по главе 2.

ГЛАВА 3. Моделирование воздействия электростатического разряда на цифровые элементы печатных плат электронных средств на основе теории поля

3.1. Методы и системы анализа электромагнитной совместимости печатных плат при воздействии электростатического разряда.

3.2. Метод моментов для моделирования воздействия электростатического разряда на цифровые элементы печатных плат.

3.3. Результаты моделирования воздействия электростатического разряда на цифровые элементы печатных плат.

3.4. Методика анализа воздействия электростатического разряда на функционирование цифровых элементов печатных плат

Выводы по главе 3.

ГЛАВА 4. Экспериментальные исследования воздействия электростатического разряда

4.1. Цель и сложность эксперимента.

4.2. Схема эксперимента.

4.3. Результаты эксперимента.

Выводы по главе 4.

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Воздействие электростатического разряда на функционирование цифровых элементов печатных плат электронных средств»

По мере расширения применения разнообразных электронных средств (ЭС), возрастания их мощности и быстродействия, и при увеличении интенсивности и разновидностей окружающих электрических, магнитных и электромагнитных полей обостряется проблема электромагнитной совместимости (ЭМС). На начальном этапе развития ЭС при относительно низком быстродействии элементной базы и относительно невысокой сложности, проблемы электронного конструирования не стояли так остро и само конструирование изделия сводилось в основном к обеспечению технологичности и механической прочности. На сегодняшний день, проблема обеспечения ЭМС ЭС становятся важнейшей задачей конструирования ЭС [10, 25, 88, 99].

Актуальность этих задач на современном этапе развития ЭС обусловлена следующими основными причинами:

- повышением быстродействия полупроводниковых приборов и электронных схем;

- снижением амплитуд рабочих сигналов цифровых элементов, с одной стороны, и повышением уровня внешних помех - с другой;

- возрастанием влияния межсоединений и компоновки узлов на помехоустойчивость и быстродействие ЭС;

- трудоемкостью и большими материальными и временными затратами, связанными с поиском и устранением причин низкой помехоустойчивости ЭС.

При конструктивной реализация любого ЭС неизбежно вносятся дополнительные паразитные параметры емкостного, индуктивного и резистивного характера, которые могут в недопустимых пределах ухудшить ее быстродействие и помехоустойчивость в реальной конструкции, а в некоторых случаях привести к полной потере работоспособности схемы. Особенно велико влияние конструкции и монтажа на работу сверхскоростных схем и средств. Поэтому конструирование ЭС в наносекундном и субнаносекундном диапазонах (сверхскоростные интегральные схемы, базовые матричные кристаллы, многослойные печатные платы (МПП), проводные и кабельные линии связи, корпуса стоек и шкафов, схемное и защитное заземление, цепи электропитания) - это прежде всего электронное конструирование, основным критерием качества которого является системное быстродействие и ЭМС [3,8, 44, 58].

ЭС широко применяются в народном хозяйстве, но их экономический эффект существенно снижается из-за проблем с обеспечением ЭМС при воздействии электростатического разряда (ЭСР) и электромагнитных помех на этапах производства и эксплуатации [53, 55]. До 80 % отказов ЭС классифицируемых как превышение режима в производстве, и 50 % в эксплуатации бывает обусловлено электрическими перенапряжениями, в том числе и ЭСР. Однако могут появляться не только немедленные отказы, которые ведут к сокращению сроков замены поврежденного элемента, но и скрытые повреждения, связанные с гораздо большими расходами, которые влекут за собой нежелательные ложные функциональные проявления у потребителя. Статическое электричество склонно собираться в самых неожиданных местах, в самые неожиданные моменты времени. Оно невидимо, не имеет запаха и цвета. Однако, порой, достаточно одного ЭСР, чтобы вывести из строя сложнейший электронный прибор или уничтожить базу данных крупной организации. Экономические потери при этом могут исчисляться сотнями и даже миллионами долларов. Вот почему так важно иметь на предприятии экспертов в области ЭМС, и в частности по электростатике. По данным печати электронная промышленность США ежегодно теряет от 10 % до 18 % продукции в результате повреждения ЭСР. Ежегодно затраты на ремонт аппаратуры и дополнительное обслуживание в результате отказов поврежденных ЭСР составляют около 10 млрд. долларов [48]. По - видимому, потери на самом деле еще больше, т.к. не всегда можно точно установить, что причиной повреждения является ЭСР или другие внешние или внутренние факторы.

На устойчивость к воздействию ЭСР должны обратить внимание все разработчики, использующие новейшие достижения технологии интегральных схем и многослойных печатных плат, а также добивающиеся высокой надежности своих изделий и успеха на международном электронном рынке. Из материалов международных симпозиумов по ЭМС последних лет видно, что данным вопросом активно занимаются специалисты из США [117, 137, 138], Китая [124, 139, 140, 141, 145], Швейцария [133, 134, 142, 143], Японии [130, 131], Германии [110, 122, 123] и Италии [115, 118, 119].

В решение задач связанных с воздействием ЭСР также внесли большой вклад российские ученые и специалисты: Кириллов В. Ю., в области разработки методов и средств исследований и испытаний воздействия ЭСР на бортовые системы космических аппаратов [41, 42, 43], Кечиев Л. Н. в области анализа электромагнитных помех при ЭСР и методов защиты от его воздействия [48], Файзулаев Б. Н, Логачев В. В, Усанов А. П., в области экспериментальных исследований воздействия ЭСР на ЭС [51, 83, 84, 85], Горлов М. И., Андреев А. В., в области исследований непосредственного воздействия ЭСР на интегральные схемы [2, 23], Каверзнев В. А., Трошева Г. Д., в области исследований методов и средств защиты полупроводниковых изделий от воздействия ЭСР [24, 32] и Потапов Г. П. в области электризации летательных аппаратов [66, 67]. Среди зарубежных авторов необходимо отметить работы Джоввета Ч. [26], Бокслейтера В. [111], Хабигера Э. [88]. и Шваба А. [99], в которых даны описания некоторых механизмов воздействия и упрощенные, аналитические подходы для решения задач связанных с воздействием ЭСР. Как видим, для большинства перечисленных работ, касающихся анализа воздействия ЭСР на элементы ЭС, наиболее характерным является экспериментальный подход для решения данной задачи, упрощение конфигурации решаемой задачи и множество подходов и методов для защиты от непосредственного воздействия ЭСР на цифровые элементы печатных плат.

Лучшим же способом, решения проблем ЭМС ЭС, является исключение с самого начала, т. е. еще на этапе разработки ЭС, причины, порождающие помехи. Для этого необходимо: 1) понять, какие виды и механизмы влияния помех наиболее вероятны в данном ЭС; 2) создать условие, которая исключает возникновение как можно большего числа помех или уменьшает вероятность их появления; 3) выбрать и разместить печатные платы, кабели и другие структурные составляющие системы таким образом, чтобы исключить как можно больше причин, вызывающих помехи, и обеспечить при необходимости возможность подсоединения подавляющих помехи компонентов. Все эти меры позволяют принять необходимые решения для устранения последствий ЭСР еще на этапе разработки ЭС, что приводит к сокращению материальных, временных затрат и в целом позволяют повысить качество ЭС, сделать их более эффективной, экономичной и надежной.

Вышеизложенное показывает актуальность исследования и требует проведения глубокого анализа проблемы ЭМС при ЭСР и выработки методики для анализа возможных нежелательных процессов при воздействии ЭСР на функционирование цифровых элементов печатных плат ЭС.

В диссертационной работе предлагаются следующие новые научные положения, касающиеся задачи воздействия ЭСР на функционирование цифровых элементов печатных плат ЭС:

-методика анализа воздействия ЭСР на функционирование цифровых элементов печатных плат ЭС;

- обоснование возможности и необходимости анализа воздействия ЭСР на функционирование цифровых элементов печатных плат на этапе разработки ЭС;

- классификация механизмов воздействия ЭСР;

- модели для анализа воздействия ЭСР на цифровые элементы печатных плат ЭС;

- результаты моделирования воздействия ЭСР на цифровые элементы печатных плат ЭС.

Практическая ценность работы заключается в предложенной методике, которая может быть использована на этапе разработки ЭС и тем самым, позволяет предотвратить возможные нежелательные последствия воздействия ЭСР на этапе обязательного испытания. Это позволит снизить затраты и сократить сроки разработки ЭС с учетом требований ЭМС при воздействии ЭСР.

Объектом исследования в данной работе является печатная плата ЭС с установленными цифровыми элементами.

Структура работы. Диссертационная работа состоит из введения, четырех глав, заключения и списка использованной литературы. Общий объем диссертации 167 страниц, которая включает 13 таблиц и 92 рисунка. Библиографический список состоит из 147 наименований.

Заключение диссертации по теме «Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления», Гизатуллин, Зиннур Марселевич

Основные выводы по работе можно сформулировать следующим образом:

1. Разработана методика анализа воздействия ЭСР на функционирование цифровых элементов печатных плат, которая позволяет обеспечить электромагнитную совместимость разрабатываемых ЭС.

2. Выявлены параметры опасного фактора и механизмы воздействия ЭСР на цифровые элементы печатных плат.

3. Обоснован выбор методов и систем для анализа воздействия ЭСР на цифровые элементы печатных плат.

4. Разработаны модели, и проведено моделирование воздействия ЭСР на цифровые элементы печатных плат при простой конфигурации пути тока разряда. Погрешность моделирования ± 22 % .

5. Разработаны модели и проведено моделирование воздействия ЭСР на цифровые элементы печатных плат при произвольной конфигурации пути тока разряда на основе метода моментов. Погрешность моделирования ± 15 %.

6. Проведены экспериментальные исследования воздействия ЭСР, которые подтвердили адекватность разработанной методики и моделей.

Заключение

Список литературы диссертационного исследования кандидат технических наук Гизатуллин, Зиннур Марселевич, 2004 год

1. Агапов С. В., Чермошенцев С. Ф. Методы и средства анализа и прогнозирования электромагнитных излучений от электронных средств // Информационные технологии. 2003. - № 11. - С. 2-11.

2. Андреев А. В. Защита кремниевых интегральных схем от воздействия электростатических разрядов: Автореф. дис. . канд. техн. наук. -Воронеж, 1998. 17 с.

3. Барнс Дж. Электронное конструирование: Методы борьбы с помехами / Пер. с англ. М.: Мир, 1990. - 238 с.

4. Белов И. В., Тишкин В. Ф. Высокочастотные электромагнитные поля внутри помещений // Математическое моделирование. 1999. - Т. 1, №11. -С. 3-49.

5. Бреббия К., Теллес Ж., Вроубел Л. Методы граничных элементов. М.: Мир, 1987. - 524 с.

6. Бубнов С. С. Разработка и исследование методов анализа помехоустойчивости многослойных печатных плат: Автореф. дис. . канд. техн. наук JL, 1987. - 18 с.

7. Васильев Е. П. Архитектура и сравнительные характеристики системы функционального проектирования микроволновых устройств ПОИСК-Д // Информационные технологии. 1998. - № 11. - С. 22-27.

8. Волин М. Л. Паразитные процессы в радиоэлектронной аппаратуре. М.: Радио и связь, 1981. - 296 с.

9. Вопросы защиты ИС от электростатических напряжений / ГПНТБ 06890031203. 11 с. - Пер. докл. Avery L. R. из сб. докл.: IEEE Custom Integrated Circuits Conference. USA. - 1988. - P. 27.1.1-27.1.4.

10. Вуль В. А. Помехоустойчивость наносекундных цифровых узлов. Л.: Энергия, 1977.- 148 с.

11. Газизов Т. Р. Уменьшение искажения электрических сигналов в межсоединениях. Томск: Изд-во НТЛ, 2003. - 212 с.

12. Гетманец А. Н. Имитатор статического электричества // Электромагнитная совместимость: Сб. науч. докл. Междунар. симпозиума. СПб., 1993, 4.2.-С. 462-463.

13. Гизатуллин 3. М. Анализ влияния разряда статического электричества на элементы цифровых печатных плат // XXVI Гагаринские чтения: Тез. докл. Междунар. молод, науч.-техн. конф. Т. 2. М., 2000. - С. 404.

14. Гизатуллин 3. М. Моделирование поведения цифровых элементов при воздействии электростатического разряда // Электронное приборостроение. 2002. - № 26. - С. 98-107.

15. Гизатуллин 3. М. Факторное моделирование влияния электростатического разряда на элементы печатных плат электронных средств // Электромагнитная совместимость: Сб. докл. VII Рос. науч.-техн. конф. -СПб., 2002.-С. 314-319.

16. Гизатуллин 3. М. Частотный анализ воздействия электростатическогоразряда на элементы печатных плат // Технологии ЭМС. 2004. - № 1. -С. 47-51.

17. Гизатуллин 3. М., Софронова В.В. Моделирование работы встроенных защитных структур цифровых элементов при воздействии электростатического разряда // Будущее технической науки: Тез. докл. III Всерос. молод, науч.-техн. конф. Н. Новгород, 2004. - С. 26.

18. Горлов М. И., Андреев А. В., Воронцов И. В. Воздействие электростатических зарядов на изделие полупроводниковой электроники и радиоэлектронной аппаратуры. Воронеж: Изд-во Воронеж, ун-та. -1997. - 160 с.

19. Грошева Г. Д. Защита полупроводниковых приборов и интегральных схем от статического электричества. М., 1980. - 24 с.

20. Гурвич И. С. Защита ЭВМ от внешних помех. М.: Энергоатомиздат, 1984.- 224 с.

21. Джоввет Ч. Э. Статическое электричество в электронике / Пер. с англ. В. А. Воротинского, В. А. Каверзнева. М.: Энергия, 1980. - 135 с.

22. Джордж А., Лю Дж. Численное решение больших разреженных систем уравнений. М.: Мир, 1984. - 333 с.

23. Джорджевич А. Р., Саркар Т. К., Харрингтон Р. Ф. Временные характеристики многопроводных линий передачи // ТИИЭР. 1987. - Т.75.- № 6. С. 7-29.

24. Долкарт В. М., Новик Г. X. Конструктивные и электрические характеристики многослойных печатных плат. М.: Сов. радио, 1974. -88 с.

25. Замалетдинова Л. Я. Электромагнитные резонансные явления вэкранированных модулях быстродействующих электронных вычислительных средств: Автореф. дис. . канд. техн. наук. Казань, 1999. -17 с.

26. Идиатуллов 3. Р. Анализ и прогнозирование воздействия СВЧ помех на низкочастотные радиоэлектронные устройства: Автореф. дис. . канд. техн. наук. - Казань, 1996. - 16 с.

27. Каверзнев В. А. Статическое электричество в полупроводниковой промышленности. -М.: Энергия, 1975. 164 с.

28. Каден Г. Электромагнитные экраны. М.: Госэнергоиздат, 1957. - 327 с.

29. Калантаров П. JL, Цейтлин JI. А. Расчет индуктивностей. JL: Энергоатомиздат, 1986. - 488 с.

30. Кармашев В. С. Техническое регулирование в области ЭМС в Российской федерации и условия присоединения к ВТО // Электромагнитная совместимость: Сб. докл. VII Рос. науч.-техн. конф. СПб., 2002. -С. 387-399.

31. Кармашев В. С. Электромагнитная совместимость технических средств. Справочник. -М.: Научно-производственный центр «НОРТ», 2001, 401 с.

32. Кечиев JI. Н., Носов В. В., Степанов П. В. Проблемы ЭМС и стандартизации // Электромагнитная совместимость и проектирование электронных средств. М.: Изд-во Мое. ин-та электроники и математики, 2002.-С. 5-16.

33. Кечиев JI. Н., Степанов П. В. ЭМС: стандартизация и функциональная безопасность. М.: Изд-во Мое. гос. ин-та электроники и математики, 2001.-82 с.

34. Кириллов В. Ю. Определение параметров импульсных электромагнитныхпомех в ближней и дальней зонах распространения // Электромагнитная совместимость и электромагнитная экология: Сб. науч. докл. IV Междунар. симпозиума. СПб., 2001. - С. 225-228.

35. Кириллов В. Ю. Расчет параметров излучаемых электромагнитных помех от электростатических разрядов // Электромагнитная совместимость и электромагнитная экология: Сб. науч. докл. V Междунар. симпозиума. -СПб, 2003.-С. 261-263.

36. Кириллов В. Ю. Электромагнитная совместимость элементов и устройств бортовых систем летательных аппаратов при воздействии электростатических разрядов: Автореф. дис. . докт. техн. наук. М, 2002. - 35 с.

37. Кириллов В. Ю. Электростатические разряды и излучаемые электромагнитные помехи // Технологии ЭМС. 2004. - № 1. - С. 43-46.

38. Князев А. Д, Кечиев Л. Н, Петров В. Б. Конструирование радиоэлектронной и электронно-вычислительной аппаратуры с учетом требований ЭМС. М.: Радио и связь, 1989. - 222 с.

39. Комягин С. И. О противоречиях стандартов "МОРОЗ-6" требованиям электромагнитной совместимости // Электромагнитная совместимость технических средств и биологических объектов: Сб. науч. докл. IV Рос. науч.-техн. конф. СПб., 2000. - С. 359-362.

40. Коэн Ч. Достижения японских инженеров электронной аппаратуры // Электроника. 1985. - № 23. - С. 63-71.

41. Кравченко В. И., Болотов Е. А, Летунова Н. И. Радиоэлектронные средства и мощные электромагнитные помехи / Под ред. В. И. Кравченко. М.: Радио и связь, 1987. - 256 с.

42. Кузьмин В. И., Кечиев Л. Н. Электростатический разряд и электронное оборудование: Учебное пособие. М.: МГИЭиМ, 1997. - 83 с.

43. Леб Л. Б. Статическая электризация: Пер. с. англ. В. М. Фридкина. М.: Госэнергоиздат, 1963. - 197 с.

44. Лобзов С. Н. Разработка методов автоматизированного моделированияаналоговых узлов РЭА с учетом электродинамического взаимодействия проводников печатных плат: Автореф. дис. . канд. техн. наук. Казань, 1994. - 16 с.

45. Логачев В. В. Экспериментальные исследования помехоустойчивости ПЭВМ при электростатических разрядах // Электромагнитная совместимость и электромагнитная экология: Сб. науч. докл. Междунар. симпозиума. СПб., 1997. - С. 233.

46. Маевский Д. А. Разработка и исследование методов и системы автоматизированного проектирования полосковых многослойных печатных плат: Автореф. дис. . канд. техн. наук. М., 1987. - 16 с.

47. Максимов Б. К., Обух А. А. Статическое электричество в промышленности и защита от него. М.: Энергоатомиздат, 2000. - 95 с.

48. Маничев В. Б. Новые алгоритмы для программы анализа радиоэлектронных схем // Радиоэлектроника. 1995. - Т. 38, № 7 - 8. -С. 53-59. (Изв. высш. учеб. заведений).

49. Матков В. Н. Статическое электричество в промышленности. М.: Имидж, 1992. - 48 с.

50. Метод матрицы линий передачи в вычислительной электродинамике / А. С. Петров, С. А. Иванов, С. А. Королев, С. В. Фастович // Успехи современной радиоэлектроники. 2002. - № 1. - С. 5-36.

51. Мырова Л. О., Чепиженко А. В. Обеспечение стойкости аппаратуры связи к ионизирующим и электромагнитным излучениям. М.: Радио и связь, 1988.-296 с.

52. Наумов Ю. Е., Аваев Н. А., Бедрековский М. А. Помехоустойчивость устройств на интегральных логических схемах. М.: Сов. радио, 1975. -216 с.

53. Никольский В. В., Никольская Т. И. Электродинамика и распространение радиоволн: Учебное пособие. 3-е изд. перераб. и доп. - М.: Наука, 1989. -544 с.

54. Норенков И. П. Введение в автоматизированное проектированиетехнических устройств и систем. М.: Высшая школа, 1980. - 311 с.

55. Норенков И. П. Основы автоматизированного проектирования: Учеб. для вузов. 2-е изд., перераб. и доп. - М.: Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2002. - 336 с.

56. Норенков И. П. Средства автоматизации в радиоэлектронике // Приложение к журналу «Информационные технологии». 2001. - № 8. - 24 с.

57. Носов В. В., Степанов П. В. Тенденции в стандартизации в области ЭМС // Электромагнитная совместимость и интеллектуальные здания: Сб. науч. тр. конф.-М., 2000.-С. 17-21.

58. Обзор влияния электростатического разряда и методов защиты электронных схем / ГПНТБ 88/30658. 31 с. - Пер. ст. Greason W. D. из журн.: IEEE Transactions on Industry Applications. - 1987. - Vol. IA-24, № 2. -P. 205-216.

59. Отт Г. Методы подавления шумов и помех в электронных системах: Пер. с англ. М.: Мир, 1979. - 320 с.

60. Потапов Г. П. Двигательная электризация летательных аппаратов. Казань: Изд-во Казан, гос. техн. ун-та, 1995. - 168 с.

61. Потапов Г. П. Электростатическая безопасность эксплуатации летательных аппаратов: Учебное пособие. Казань: КАИ, 1987. - 44 с.

62. Потапов Ю. Обзор систем ЭМ моделирования // EDA Express. 2001. -№ 3. - С. 9-15.

63. Преснухин Л. Н., Воробьев Н. В., Шишкевич А. А. Расчет элементов цифровых устройств: Учеб. пособие. 2-е изд., перераб. и доп. - М.: Высшая школа, 1991. - 526 с.

64. Разевиг В. Д. Система проектирования цифровых устройств Workview

65. Office // PC WEEK. 1996. - № 44. - C. 40-42.

66. Разевиг В. Д., Курушин А. А. Среда проектирования Microwave Office . -М.: Солон, 2003.-335 с.

67. Разевиг В. Д., Потапов Ю. В., Курушин А. А. Проектирование СВЧ-устройств с помощью Microwave Office. М.: COJIOH-Пресс, 2003. -496 с.

68. Риккетс Л., Бриджес Дж., Майлетта Дж. Электромагнитный импульс и методы защиты: Пер. с англ. / Под ред. Н. А. Ухина. М.: Атомиздат, 1979. -328 с.

69. Самарский А. А., Николаев Е. С. Методы решения сеточных уравнений. -М.: Наука, 1978.-592 с.

70. Сильвестер П., Феррари Р. Метод конечных элементов для радиоинженеров и инженеров-электриков. М.: Мир, 1986. - 229 с.

71. Совместимость технических средств измерения, контроля и управления промышленными процессами электромагнитная. Устойчивость к электромагнитным помехам. Общие положения: ГОСТ 29073-91. -Введ. 01.01.1992. М.: ИПК Изд-во стандартов, 1991. - 7 с.

72. Совместимость технических средств электромагнитная. Устойчивость к электростатическим разрядам. Требования и методы испытания: ГОСТ Р 51317.4.2-99. Введ. 01.01.2001. - М.: ИПК Изд-во стандартов, 2000. - 20 с.

73. Совместимость технических средств электромагнитная. Электромагнитная обстановка. Классификация электромагнитных помех в местах размещения технических средств: ГОСТ Р 51317.2.5-2000. Введ. 01.01.2002. - М.: ИПК Изд-во стандартов, 2000. - 42 с.

74. Тареев Б. М. Физика диэлектрических материалов. М.: Энергоиздат, 1982. - 320 с.

75. ТэнэсэскуФ., Крамарюк Р. Электростатика в технике: Пер. срум./Под ред. А. А. Обуха. М.: Энергия, 1980. - 296 с.

76. Управление электростатическими разрядами / ГПНТБ 88/38805. — 10 с. —

77. Пер. ст. Ng К., Campbell Y. из журн.: Telecommunication Journal of Australia. 1986.-Vol. 36, №1.-P. 7-13.

78. Файзулаев Б. Н. Анализ переходных процессов электростатического разряда при испытаниях помехоустойчивости технических средств // Электромагнитная совместимость и электромагнитная экология: Сб. науч. докл. Междунар. симпозиума. СПб., 1995. - С. 128-131.

79. Флетчер К. Численные методы на основе метода Галеркина: Пер. с англ. -М.: Мир, 1988.-352 с.

80. Форма импульса разрядного тока / ГПНТБ 06901020458. 12 с. - Пер. ст. Norberg A, Lunoqist S, Szedenik N. из журн.: Elektrotechnika - 1989. -Vol. 82, № 10.-P. 368-371.

81. Хабигер Э. Электромагнитная совместимость. Основы её обеспечения в технике / Пер. с нем. И. П. Кужекина; Под ред. Б. К. Максимова. -М.: Энергоатомиздат, 1995. 295 с.

82. Чермошенцев С. Ф. Информационные технологии электромагнитной совместимости электронных средств. Казань: Изд-во Казан, гос. техн. ун-та, 2000. - 152 с.

83. Чермошенцев С. Ф. Компонентные модели межсоединений при автоматизированном проектировании электронно-вычислительных средств // Вестник КГТУ им. А. Н. Туполева. 1996. - № 4. - С. 4-27.

84. Чермошенцев С. Ф., Гизатуллин 3. М. Моделирование влияния разряда статического электричества на элементы печатных плат электронных средств // Вестник КГТУ им. А. Н. Туполева. 2000. - № 2. - С. 22-26.

85. Чермошенцев С. Ф., Гизатуллин 3. М. Моделирование прямого и косвенного влияния разряда статического электричества на цифровые элементы печатных плат // Электромагнитная совместимость и интеллектуальные здания: Сб. науч. тр. конф. М., 2000. - С. 47-51.

86. Шабров А. В. Восприимчивость модулей ЭВА к импульсному магнитному полю: Автореф. дис. . канд. техн. наук. Казань, 1993. - 18 с.

87. Шабров А. В., Шувалов Л. Н. Методика анализа помехозащищенности модулей ЭВА при воздействии внешних магнитных полей // Электромагнитная совместимость: Сб. науч. докл. Междунар. симпозиума. СПб., 1993, Ч. 2. - С. 457-461.

88. Шваб А. Электромагнитная совместимость / Пер. с нем. В. Д. Мазина и

89. С. А. Спектора, 2-е изд., перераб. и доп.; Под ред. И. П. Кужекина. М: Энергоатомиздат, 1998. - 480 с.

90. Шевель Д. М. Электромагнитная безопасность. Киев: ВЕК+, 2002. -432 с.

91. Шевчук А. А. Методы анализа целостности сигнала в структурированных кабельных системах: Автореф. дис. . канд. техн. наук М., 2003. - 16 с.

92. Электромагнитная совместимость радиоэлектронных средств и непреднамеренные помехи. Вып. 1. Составитель Д. Р. Уайт. М.: Сов. радио, 1977. - 352 с.

93. Электромагнитный терроризм на рубеже тысячелетий / М. Бакстром, К. И. Баум, Р. Борисов и др.; Под ред. Т. Р. Газизова. Томск: Изд-во ТГУ, 2002. - 206 с.

94. Электростатический разряд и моделирование этого процесса / ГПНТБ 06893025278. 11 с. - Пер. ст. Van der Pijll. из журн.: Elektronica. - 1987. -№ 20. - P. 43-49.

95. Электростатический разряд. Причины действия и возможные меры защиты / ГПНТБ 06903019774. 8 с. - Пер. ст. Digneffe N. из журн.: Electronic Industries. - 1990. - № 7. - P. 48-52.

96. Эстербю О., Златев 3. Прямые методы для разреженных матриц. М.: Мир, 1987. - 129 с.

97. Юркевич JI. В., Гердлер О. С. Анализ использования специализированного программного обеспечения в области ЭМС // Проблемы электромагнитной совместимости технических средств: Сб. докл. Всерос. симпозиума. М., 2002. - С. 74-82.

98. Яншин А. А. Теоретические основы конструирования, технологии и надежности ЭВА. М.: Радио и связь, 1983. - 312 с.

99. Amoruso V., Helali М., Lattarulo F. Human-generated ESD: investigation on the direct discharge to a victim // Proceedings of the 14th International Symposium on Electromagnetic Compatibility. Zurich, 2001. - P. 203-207.

100. Bonich S., Kalkner W. Measurement and simulation of the behavior of a shortspark gap used as ESD protection device // Proceedings of the IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. Boston, 2003. -P. 37-42.

101. Boxleither W. Electrostatic discharge and electronic equipment: a practical guide for designing to prevent ESD problems. New York: IEEE press, 1988. -118 p.

102. Cardelli E. Studies about human electrostatic discharges // Proceedings of the 13th International Symposium on Electromagnetic Compatibility. Zurich, 1999.-P. 87-92.

103. Catrysse J. The characterisation of antistatic materials: an alternative approach // Proceedings of the 13th International Symposium on Electromagnetic Compatibility. Zurich, 1999. - P. 99-104.

104. Centola F., Pommerenke D., Kai W. ESD excitation model for susceptibility study // Proceedings of the IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. Boston, 2003. - P. 58-63.

105. Cerri G., De Leo R., Mariani Primiani V. Theoretical and experimental evaluation of electromagnetic fields radiated by ESD // Proceedings of the IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. Montreal, 2001. -P. 93-97.

106. Chen S., Sun Y., Xie H. Characteristics of electromagnetic wave radiated from corona discharge // Proceedings of the IEEE Electromagnetic Compatibility International Symposium. Montreal, 2001. - P. 127-130.

107. ESD response in parallel cables inside metallic enclosures / G. Cerri, R. De Leo, V. Mariani Primiani, S. Pennesi // Proceedings of the 14th International Symposium on Electromagnetic Compatibility. Zurich, 2001. - P. 256-260.

108. Frei S, Senghaas M, Kalkner W. The influence of speed of approach and humidity on the intensity of ESD // Proceedings of the 13th International Symposium on Electromagnetic Compatibility. Zurich, 1999. - P. 105-110.

109. Fujjwara O. An Analytical Approach to Model Indirect Effect Caused by Electrostatic Discharges // IEICI Transactions on Commun. 1996. - Vol. E-79-B, № 4 - P. 67-75.

110. Haseborg J, Weber T. Advances in measurement and simulation of transients // Proceedings of the 14th International Symposium on Electromagnetic Compatibility. Zurich, 2001. - P. 213-216.

111. Hickernell F, Martinez E, Cho F. Electrostatic-Discharge Awareness &Control An R & M 2000 Issue // IEEE Transactions on reliability, 1987. - № 3. -P. 351-353.

112. Huang J, Deng Q, Liu F. Electromagnetic field generated by transient ESD from person charged with low electrostatic voltage // Proceedings of the Electrical Overstress / Electrostatic Discharge Symposium. China, 2001. -P. 4B.6.1.-4B.6.3.

113. Huang J, Deng Q, Liu P. The study of transient fields generated by typical ESD models // Proceedings of the 4th International Conferences Application ELECTROSTATICS. Dalian, 2001. - P. 585-588.

114. Huang J, Liu F, Li C. The influence of inductance on the ESD current by numerical computation // Proceedings of the 3th International Conferences of Applied Electrostatics. Shanghai, 1997. - P. 349-352.

115. Huang Y, Wu T. Numerical and experimental investigation of noise couplingperturbed by ESD currents on printed circuit boards 11 Proceedings of the IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. Boston, 2003. -P. 43-47.

116. Impact of ESD generator parameters on failure level in fast CMOS system / K. Wang, D. Pommerenke, R. Chundru, J. Huang, X. Kai // Proceedings of the IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. Boston, 2003. - P. 52-57.

117. Ishigami S., Gokita R., Nishiyama Y. Measurements of fast transient fields in the vicinity of short gap discharges // IEICI Transactions on Commun. -1995. vol. E78-B, № 2. - P. 199-206.

118. Ishigami S., Otonari J., Iwasaki T. Measurement of the break-down voltage in a very-small gap discharge // Proceedings of the 13th International Symposium on Electromagnetic Compatibility. Zurich, 1999. - P. 93-98.

119. Ketelaere W., Martens L., Braem Y. Calculation of the ESD-pulse parameters and associated uncertainty for ESD gun calibration // Proceedings of the International Symposium on Electromagnetic Compatibility. Danver. - 2000. -P. 449-452.

120. Leuchtmann P., Sroka J. Enhanced field simulation and measurements of the ESD calibration setup // Proceedings of the IEEE Electromagnetic Compatibility International Symposium. Montreal, 2001. - P. 122-127.

121. Leuchtmann P., Sroka J. Transient field simulation of electrostatic discharge (ESD) in the calibration setup (acc. IEC 61000-4-2) // Proceedings of the International Symposium on Electromagnetic Compatibility. Danver, 2000. -p. 443-448.

122. Leuchtmann P., Sroka J., Vahldieck R. Insestigation of the ESD in the calibration setup (following IEC 61000-4-2) // Proceedings of the 14th International Symposium on Electromagnetic Compatibility. Zurich, 2001. -P. 217-220.

123. MacLeod L., Balmain K. Compact Traveling Wave Physical Simulator for Human ESD // IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility. 1997.2.-P. 89-99.

124. Pommerenke D. ESD: What has been achieved, what is less well understood? // Proceedings of the 13th International Symposium on Electromagnetic Compatibility. Zurich, 1999. - P. 77-82.

125. Pommerenke D. Investigation of ESD current and induced voltage from different ESD simulators // Proceedings of the ESA IEEE Joint Annual Meeting. - China, 2003. - P. 123-125.

126. Pommerenke D, Chundru R, Kai W. Numerical modeling of ESD-simulators // Proceedings of the IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. Minneapolis, 2002. - P. 93-98.

127. Pommerenke D, Van Doren T, Kai W. ESD currents and fields on the VCP and HCP modeled using quasi-static approximations // Proceedings of the IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. Minneapolis, 2002.-P. 81-86.

128. Shim H, Kim J, Yook J. Modeling of ESD and EMI problems in split multilayer power distribution network // Proceedings of the IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. Boston, 2003. - P. 48-51.

129. Sroka J. Insertion loss as transfer coefficient for the calibration of ESD simulators. Is it sufficient to cope with? // Proceedings of the 13th International Symposium on Electromagnetic Compatibility. Zurich, 1999. - P. 213-215.

130. Sroka J. Target influence on the calibration uncertainty of ESD simulators // Proceedings of the 14th International Symposium on Electromagnetic Compatibility. Zurich, 2001. - P. 225-227.

131. Traa W. An approach to improve ESD-generator calibration and the realization of a simple discharge device for very wide band measurements // Proceedings of the 14th International Symposium on Electromagnetic Compatibility. Zurich, 2001.-P. 228-230.

132. Wang K, Pommerenke D, Chundru R. Numerical modeling of ESD-simulators // Proceedings of the IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. Minneapolis, 2002. - P. 93-98.

133. Wilson P., Ma M. Field radiated by electrostatic discharges // IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility. 1991. -№ 1. - P. 10-18.

134. Zhancheng W., Jiusheng H., Shanghe L. Measurements of body impedance for ESD // Proceedings of the Electrical Overstress / Electrostatic Discharge Symposium. Santa Clara, 1997. - P. 2A.8A.1-2A.8A.3.