Диагностика теплового состояния объектов по коротковолновой составляющей квантовой плотности излучения тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 05.27.03, кандидат технических наук Русанов, Константин Евгеньевич

• Русанов, Константин Евгеньевич
• кандидат технических наук
• 2004

Оглавление диссертации кандидат технических наук Русанов, Константин Евгеньевич

Введение.

1. Оптико-электронные системы диагностики как объект проектирования.

1.1. Обобщенная схема систем диагностики.

1.2. Анализ структуры оптико-электронной системы диагностики.

1.3. Классификация источников теплового излучения, их основные характеристики.

1.4. Промежуточная оптическая среда.

1.5. Анализ методов радиометрии оптического излучения реальных объектов

1.6. Оптические каналы систем диагностики.

1.6.1. Особенности работы оптических каналов в тепловых условиях отличных от нормальных.

1.6.2. Анализ погрешностей при наличии фонового излучения элементов оптического канала.

1.7. Приемники лучистой энергии.

1.8. Компьютерная обработка информации о тепловом состоянии объекта.

1.9. Анализ эффективности диагностики теплового состояния объекта по коротковолновой составляющей квантовой плотности излучения.

Выводы к главе 1.

2. Теоретические исследования характеристик систем диагностики.

2.1. Математические модели оптического излучения.

2.2. Эквивалентная шуму разность температур.

2.3. Взаимосвязь выбранной математической модели оптического излучения с характером изменения спектрального коэффициента излучения объекта.

Выводы к главе 2.

3. Система диагностики теплового состояния объектов по коротковолновой составляющей квантовой плотности излучения.

3.1. Структурная схема.

3.2. Метрологические характеристики.

3.2.1. Методическая погрешность.

3.2.2. Эквивалентная шуму разность температур.

Выводы к главе 3.

4. Практическая реализация систем диагностики в электровакуумном СВЧ приборостроении.

4.1. Диагностика состояния активной поверхности катода.

4.1.1. Тепловое поле катода как основной показатель качества его активной поверхности.

4.1.2. Исследование теплового рельефа катода.

4.2. Исследование эмиссионных характеристик катодов.

4.2.1. Анализ факторов, изменяющих параметры теплового излучения катода.

4.2.2. Методика и экспериментальные данные исследований.

Выводы к главе 4.

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Диагностика теплового состояния объектов по коротковолновой составляющей квантовой плотности излучения»

Вне зависимости от физической природы, практически все объекты характеризуются пространственно-временными полями излучений в оптическом диапазоне спектра. Этот диапазон интересен тем, что в нем расположены главные частоты молекулярных спектров большинства соединений и на него же приходится основная доля теплового излучения. В связи с этим, одной из важнейших задач исследований механизма взаимодействия излучения с объектом является диагностика его теплового состояния при наличии внешних воздействующих факторов (ВВФ) в виде фонов, организованных оптических помех, собственного теплового излучения промежуточных оптических элементов и элементов конструкции измерительного канала.

Для решения задач диагностики теплового состояния объектов используются оптико-электронные системы, нашедшие применение в следующих областях:

- научные исследования (разведка ресурсов земных недр, ледовая разведка, метеорологические исследования, определение природы поверхности Луны и других планет, интроскопия); промышленность (диагностика температурного режима объектов, исследования оптических материалов, обнаружение утечек тепла);

-военная техника (обнаружение и распознавание объектов в условиях тепло-маскировки, оценка качества тепломаскировки, исследование излучения целей и фонов, сигнатурная разведка, исследование качества активных систем противодействия);

- экология (экологический мониторинг, обнаружение лесных пожаров); медицина (особенно ранняя диагностика сложных заболеваний).

В общем случае системы состоят из двух взаимосвязанных частей: аппаратурной и алгоритмической.

В состав аппаратурной части входят компоненты, характеризуемые различными параметрами, которые определяются их различной физической природой. Поэтому выявление закономерностей их взаимодействия и влияния на конечные результирующие параметры системы в целом достаточно сложно.

Параметрический анализ показал, что при проведении исследований в условиях значительной априорной неопределенности главными требованиями, которые предъявляются к аппаратурной части систем, являются:

1. минимальный уровень помех в передающем тракте, величина которых определяется в основном шириной спектрального интервала, регистрируемого системой, и положением его в спектре электромагнитных излучений;

2. отсутствие влияния спектрального коэффициента излучения диагностируемого объекта.

В большинстве случаев состояние, структура, химический состав, геометрия поверхности измеряемого объекта меняются. При этом по неизвестному закону изменяется во времени спектральный коэффициент излучения. Это, в конечном итоге, приводит к искажению измерительной информации, поступающей в алгоритмическую часть, что приводит к снижению достоверности диагностики теплового состояния объекта.

Как показали проведенные исследования, наиболее эффективно использование квазимонохроматической составляющей квантовой плотности излучения в коротковолновой области спектра. При этом влияние фонового излучения и изменения спектрального коэффициента излучения объекта диагностики на точностные характеристики систем будет определяться шириной выбранного рабочего спектрального интервала и его положением в спектре излучения.

Кроме уменьшения методической погрешности при определении температуры, связанной с вариабельностью значений спектрального коэффициента излучения, работа в коротковолновой области спектра дает еще ряд преимуществ, повышающих точностные характеристики систем диагностики: - с уходом в коротковолновую область спектра уменьшается влияние излучения элементов оптического канала и элементов конструкции;

-у ряда веществ в коротковолновой области спектра наблюдается увеличение спектрального коэффициента излучения.

Актуальность темы

Анализ состояния разработок систем диагностики показал:

- недостаточно полно исследован ряд вопросов, относящихся к узкоспектральным системам, в частности связанных с влиянием изменения спектрального коэффициента излучения измеряемых объектов на метрологические характеристики систем; -отсутствует количественная оценка зависимости пределов методической погрешности определения температуры, связанной с изменением спектрального коэффициента излучения, ширины рабочего спектрального интервала и его расположения в коротковолновой области оптического спектра;

- практически не исследовано влияние погрешностей математического моделирования характеристик излучения физических объектов на методическую погрешность;

- отсутствуют данные, характеризующие связь изменения ширины спектрального интервала и его расположения в коротковолновой области спектра с величиной эквивалентной шуму разности температур,'являющейся основной характеристикой систем диагностики;

- практически не развиваются системы, обеспечивающие высокий уровень достоверности оценки теплового состояния исследуемых объектов в условиях значительной вариабельности спектрального коэффициента излучения при наличии собственного излучения оптических элементов передающего канала системы.

Необходимость проведения комплекса исследований, которые бы позволили восполнить указанные пробелы, определила цель работы. Цель работы

Цель настоящей работы — разработка методологии построения систем диагностики, обеспечивающих высокий уровень достоверности оценки по тепловой картине состояния физических объектов в условиях значительной вариабельности спектрального коэффициента излучения при наличии собственного излучения оптических элементов передающего канала системы.

Достижение поставленной цели связано с решением следующих задач:

- разработка методики количественного учета теоретической погрешности, связанной с математической моделью квантовой плотности излучения физического объекта, как определяющего фактора при определении температуры в различных областях спектра; установление зависимости пределов изменения методической погрешности определения температуры исследуемых физических объектов при изменении спектрального коэффициента излучения, ширины рабочего спектрального интервала системы и его расположения в спектре излучения; -установление связи между эквивалентной шуму разностью температур, шириной спектрального интервала и его расположением в коротковолновой области оптического спектра;

- разработка автоматизированной системы диагностики, работающей по коротковолновой составляющей квантовой плотности излучения в диапазоне температур 800-2300 К.

Научная новизна

В результате проведенных исследований разработаны принципы повышения эффективности систем диагностики теплоизлучающих объектов. В соответствие с этими принципами:

1. Теоретически и экспериментально доказана возможность создания систем диагностики теплового состояния объектов по коротковолновой составляющей квантовой плотности излучения.

2. Предложена и обоснована методика математического моделирования квантовой плотности излучения физических объектов, установлены пределы теоретической погрешности определения температуры, обусловленной погрешностями моделирования. Установлены области применения данных моделей для систем диагностики с шириной рабочего спектрального интервала от 10 до 100 нм.

3. Проведено исследование влияния изменений спектрального коэффициента излучения, ширины рабочего спектрального интервала и его расположения в спектре излучения на величину методической погрешности.

4. Получены аналитические зависимости для расчета методической погрешности с учетом влияния погрешностей моделирования.

5. Определена зависимость эквивалентной шуму разности температур от ширины спектрального интервала и его расположения в коротковолновой области спектра.

Основные результаты и положения, выносимые на защиту

1. Доказательство возможности создания высокоэффективной системы диагностики теплоизлучающих объектов в условиях значительной вариабельности спектрального коэффициента излучения при наличии собственного излучения оптико-электронного передающего канала.

2. Методика математического моделирования плотности излучения физических объектов.

3. Методика установления пределов теоретической погрешности определения температуры, обусловленной погрешностями моделирования.

4. Способ оценки методической погрешности, обусловленной влиянием изменений спектрального коэффициента излучения, ширины рабочего спектрального интервала и его расположения в спектре излучения.

5. Аналитические зависимости расчета методической погрешности с учетом погрешностей моделирования.

6. Аналитическая зависимость определения эквивалентной шуму разности температур от ширины рабочего спектрального интервала и его расположения в спектре излучения.

Практическая ценность и реализация результатов работы В диссертационной работе решена важная научно-техническая задача разработки автоматизированных систем диагностики, обеспечивающих высокий уровень достоверности оценки теплового состояния исследуемых объектов в условиях значительной вариабельности значений спектрального коэффициента излучения при наличии собственного излучения оптических элементов передающего канала системы и внутриприборных фоновых излучений.

Предложены и практически реализованы: -принцип построения автоматизированной системы диагностики по коротковолновой составляющей квантовой плотности излучения с использованием структурно-стохастического метода анализа тепловых полей; -инженерный метод расчета сочетаний значений ширины спектрального интервала, его положения в спектре излучения и температуры, при которых значение эквивалентной шуму разности температур равно 1 градусу; - методики, алгоритмы и компьютерные программы расчета методической погрешности определения температуры при изменении спектрального коэффициента излучения по неизвестному закону.

Разработанные автором системы диагностики, рекомендации по их применению, методики, алгоритмы и компьютерные программы внедрены на предприятиях ОАО "Плутон", "Альтаир", ЦНИИТМАШ-Поликомп, НИЦ "Атом". Результаты работы используются в настоящее время в учебном процессе МИРЭА (ТУ) в виде лекционных материалов, экспериментально-лабораторной базы.

Апробация работы

Результаты диссертации докладывались: на 3-й Международной конференции "Радиоэлектроника в медицинской диагностике" (Москва, 1999); на 49-й, 50-й, 51-й и 52-й НТК МИРЭА (Москва, 2000, 2001, 2002, 2003); на Международной научно-практической конференции "Фундаментальные проблемы пьезоэлектрического приборостроения", Пьезотехника-2000 (Москва, 2000); на XIII НТК с участием зарубежных специалистов "Датчики и преобразователи информационных систем измерения, контроля и управления", Датчик-2001 (Феодосия, 2001); на Международной НТК "Моделирование электронных приборов и техпроцессов, обеспечение качества, надежности и радиационной стойкости приборов и аппаратуры", Приборинформ-2001 (Москва-Севастополь, 2001); на Международной НТК "Тонкие пленки и слоистые структуры", Плен-ки-2002 (Москва, 2002).

Разработки по теме диссертации отмечены серебряными медалями Международной академии авторов научных открытий и изобретений в 2000 г. и 2002 г.

Объем и структура диссертации

Диссертация состоит из введения, четырех глав, заключения, списка литературы, включающего U наименований. Основное содержание изложено на №8 страницах текста, иллюстрированного 93 рисунками и таблицами.

Заключение диссертации по теме «Квантовая электроника», Русанов, Константин Евгеньевич

Основные результаты и выводы

В диссертационной работе разработана методология построения систем диагностики, обеспечивающих высокий уровень достоверности оценки теплового состояния физических объектов в условиях значительной вариабельности значений спектрального коэффициента излучения при наличии собственного излучения оптических элементов передающего канала системы и внутрипри-борных фоновых помех.

Полученные в работе результаты заключаются в следующем. 1. Решена комплексная проблема создания высокоэффективной автоматизированной распознающей системы, для этого:

-теоретически доказано, что наиболее оптимальной с точки зрения устойчивости к изменению спектрального коэффициента излучения при диагностировании теплового состояния объектов при температурах 800—2300 К является система, работающая по коротковолновой составляющей квантовой плотности излучения;

- установлено, что наименьшей методической, погрешностью при определении температуры, полученной вследствие изменения спектрального коэффициента излучения, обладают квазимонохроматические системы диагностики с шириной спектрального интервала Л=10 нм при его расположении в коротковолновой (УФ) области спектра, при этом увеличение ширины спектрального интервала или расположение его в длинноволновой области спектра приводит к росту методической погрешности при определении температуры;

-установлены зависимости пределов методической погрешности при определении температуры в диапазоне 800-2300 К от изменений спектрального коэффициента излучения по неизвестному закону, ширины спектрального интервала и его расположения в спектре излучения; показано, что при различных сочетаниях Л и Я можно получить одинаковые значения относительной методической погрешности при определении температуры;

-доказана необходимость учета погрешности моделирования излучения, которая вносит значительную неопределенность при оценке методической погрешности, полученной вследствие изменения спектрального коэффициента излучения, что приводит к уменьшению эффективности разрабатываемых систем диагностики;

- предложена математическая модель для оценки методической погрешности при определении температуры системой диагностики по коротковолновой составляющей квантовой плотности излучения.

2. Реализована система диагностики по коротковолновой составляющей квантовой плотности излучения, обеспечивающая высокий уровень достоверности оценки теплового состояния исследуемых объектов в условиях значительной вариабельности спектрального коэффициента излучения при наличии собственного излучения оптических элементов передающего канала системы, при этом:

- экспериментально подтверждены определенные теоретически значения методической погрешности, возникающей при изменении спектрального коэффициента излучения;

- показано, что разрешающая способность разработанной системы диагностики, определяемая эквивалентной шуму разностью температур, в диапазоне 1300-2300 К составляет <, 2 град;

- определена зависимость эквивалентной шуму разности температур систем диагностики ДГШ от Л и Я в коротковолновой области оптического спектра.

3. Разработаны предпосылки введения САПР в процессе создания систем диагностики на основе:

-разработанной диаграммы для определения влияния изменений Л, Я на величину АГШ в различных областях спектра оптического излучения;

- разработанной диаграммы для определения сочетаний Л, Я, Г, в УФ области спектра, при которых ДГШ= 1 град;

-разработанных диаграмм для определения равных значений относительной методической погрешности в различных областях спектра оптического излучения.

4. Проведена практическая проверка систем диагностики в электровакуумном

СВЧ приборостроении.

5. Показано, что наивысшая эффективность в диагностике теплового состояния катодных узлов электровакуумных СВЧ приборов может быть достигнута при комплексном использовании систем, работающих как по коротковолновой, так и длинноволновой составляющей квантовой плотности излучения.

Список литературы диссертационного исследования кандидат технических наук Русанов, Константин Евгеньевич, 2004 год

1. Анцыферов С.С., Голубь Б.И. Принципы проектирования адаптивных широкоспектральных информационно-распознающих тепловизионных систем. // Тепловидение. / Межотрасл. сб. научн. тр. - М.: МИРЭА, 2000, № 13, с. 3-26.

2. Мирошников М.М. Теоретические основы оптико-электронных приборов. -Л.: Машиностроение, 1977. — 600 с.

3. Госсорг Ж. Инфракрасная термография. М.: Мир, 1988. - 400 с.

4. Лазарев Л.П., Комочкин В.Е., Мебелкин А.Н. Автоматизация проектирования оптико-электронных приборов. — М.: Машиностроение, 1986. — 216 с.

5. Мосягин Г.М., Немтинов В.Б. Преобразование сигналов в оптико-электронных приборах систем управления летательными аппаратами. — М.: Машиностроение, 1980. — 176 с.

6. Андреев А.Б., Комлев Ю.В., Мелюшев А.С. Структура программного обеспечения систем коллективного пользования и система диалогового ввода заданий. / В кн.: Проектирование ЭВМ и систем. М.: МВТУ, 1981, с. 112-121.

7. Криксунов Л.З. Справочник по основам инфракрасной техники. М.: Советское радио, 1978. - 400 с.

8. Буров С.В., Чудненко В.А. Инфракрасные системы наведения. — М.: МИРЭА, 1990.-102 с.

9. Лазарев Л.П. Инфракрасные и световые приборы самонаведения и наведения летательных аппаратов. — М.: Машиностроение, 1970. — 540 с.10., Хадсон Р. Инфракрасные системы. Пер. с англ. -М.: Мир, 1972.- 534 с.

10. Ллойд Дж. Системы тепловидения. Пер. с англ. М.: Мир, 1978. - 414 с.

11. Справочник по лазерам. Пер. с англ. Под ред. A.M. Прохорова. М.: Сов. % радио, 1978, т. I. - 504 с; т. II. - 400 с.

12. Реди Дж. Промышленные применения лазеров. М.: Мир, 1981. — 639с.

13. Свет Д.Я. Объективные методы высокотемпературной пирометрии принепрерывном спектре излучения. М.: Наука, 1968. - 236 с.

14. Рибо Г. Оптическая пирометрия. М.: Гостехиздат, 1934. - 455 с.

15. Хорохоров A.M., Голубь Б.И., Куртев Н.Д. Определение спектральногоfri*коэффициента излучения оптически полупрозрачных тел. // Труды МИРЭА, сер. Физика. -М.: 1972, вып.59, с. 3-10.

16. Свет Д.Я. Температурное излучение металлов и некоторых веществ. — М.: Металлургия, 1964. 134 с.

17. Кудинцева Г.А., Мельникова А.И., Морозова А.В., Никонов Б.П. Термоэлектронные катоды. M.-JL: Энергия, 1966. - 368 с.

18. Свет Д.Я. Оптические методы измерения истинных температур. — М.: Наука, 1982.-296 с.

19. Старченко A.H. Контактно-дистанционный метод контроля температурырасплава. // Оптический журнал, 2002, т.69, № 2, с. 60-64. 23; Поскачей А.А., Чубаров Е.П. Оптико-электронные системы измерения температуры. — М.: Энергоатомиздат, 1988. 247 с.

20. Куртев Н.Д., Голубь Б.И. Измерение параметров оптического излучения. -М.: МИРЭА, 1981.-115 с.

21. Голубь Б.И., Куртев Н.Д. Оптические каналы приборов измерения теплового излучения. -М.: МИРЭА, 1979. 100 с.

22. Куртев Н.Д., Голубь Б.И. Приборы измерения теплового излучения. ^ Принципы построения и расчет. М.: МИРЭА, 1978. — 114 с.

23. Голубь Б.И., Пахомов И.И., Хорохоров A.M. Собственное излучение элементов оптических систем оптико-электронных приборов. М.: Машиностроение, 1978. 144 с.

24. Пахомов И.И., Голубь Б.И., Симдянов Г.И. Влияние поля яркости оптических элементов пирометров излучения на погрешность измерения температуры. // Электронная техника, сер. 2. Полупроводниковые приборы. МЭТ, 1972, №6, с. 106-111.

25. Пахомов И.И., Голубь Б.И., Куртев Н.Д. Распределение фоновой облученности по плоскости приемника оптического диапазона. // Радиотехника. Труды МИРЭА. М.: 1975, вып. 76, с. 105-109.

26. Пахомов И.И., Голубь Б.И., Куртев Н.Д. Определение потока, попадающего на приемник излучения оптико-электронного устройства от защитного окна. // Радиотехника. Труды МИРЭА. М.: 1975, вып. 76, с. 248-252.

27. Пахомов И.И., Хорохоров A.M., Голубь Б.И., Куртев Н.Д. Радиационное поле круглой плоскопараллельной пластины. // Радиопередающие устройства. Труды МИРЭА. М.: 1975, вып. 79, с. 113-121.

28. Голубь Б.И., Хорохоров А.М., Куртев Н.Д. Влияние нагретых промежуточных оптических элементов на точность пирометрических измерений. // Физика. Труды МИРЭА. М.: 1972, вып. 59, с. 11-22.

29. Голубь Б.И., Пономарев В.М. Об учете влияния собственного внутрипри-борного излучения элементов конструкции тепловизионных камер. // Тепловидение. / Межвуз. сб. научн. тр. М.: МИРЭА, 1992, № 9, с. 7-9.

30. Пономарев В.М., Голубь Б.И. Программный модуль расчета фоновой облученности плоскости анализа тепловизионной камеры произвольной конструктивной компоновки. // Тепловидение./ Межвуз. сб. научн. тр. —

31. Йг< . М.: МИРЭА, 1994, № 10, с. 12-17.

32. Пономарев В.М., Голубь Б.И. Определение фоновой облученности плоскости анализа тепловизионной камеры от непрозрачных элементов конструкции. // Тепловидение./ Межвуз. сб. научн. тр. М.: МИРЭА, 1998, № 12, с. 18-25.

33. Пономарев В.М., Голубь Б.И. Внутриприборные фоновые помехи теплоfa'визионных приборов с линзовой оптической системой. // Радиоэлектронные устройства и системы обработки сигналов. / Межвуз. сб. научн. тр. -М.: МИРЭА, 1996, с. 95-99.

34. Голубь Б.И., Пономарев В.М. Методика расчета внутриприборной фоновой помехи тепловизионных приборов с линзовой оптической системой. // Радиоэлектронные устройства и системы обработки сигналов. / Межвуз. сб. научн. тр. -М.: МИРЭА, 1996, с. 99-109.

35. Мотовиловец И.А. Теплопроводность пластин и тел вращения. — Киев: Наукова думка, 1967. 120 с.

36. Янке Э., Эмде Ф., Леш Ф. Специальные функции. М.: Наука, 1968. - 344 с.

37. Богомолов П.А., Сидоров В.И., Усольцев И.Ф. Приемные устройства ИК систем. М.: Радио и связь, 1987. - 208 с.

38. Голубь Б.И., Гусев А.Н., Русанов К.Е. Эффективность информационно-Ц' распознающих систем биомедицинского назначения на основе высокотемпературных сверхпроводников. // Биомедицинская радиоэлектроника. — 2001, № 1, с. 41-47.

39. Ишанин Г.Г. Приемники излучения оптических и оптико-электронных приборов. Ленинград: Машиностроение, 1986. - 175 с.

40. Соболева Н.А., Меламид А.Е. Фотоэлектронные приборы. — М.: Высшая школа, 1974.-374 с.

41. Арсеньев В.В., Давыдов Ю.Т. Приемные устройства оптического диапазона. М.: МАИ, 1992. - 157 с.

42. Вечерин П.П., Журавлев В.В., Квасков В.Б., Клюев Ю.А., Красильников А.В., Самойлович М.И., Суходольская О.В. Природные алмазы России. — М.: Полярон, 1997.-304 с.

43. Куртев Н.Д., Анцыферов С.С. Анализ тепловых изображений. // Медицинская техника. -М.: Медицина, 1980, № 4, с. 29-32.

44. Куртев Н.Д., Анцыферов С.С. Автоматизированный анализ тепловых изображений. // Электронная промышленность. М.: ЦНИИ "Электроника", 1986, №5, с. 29-30.

45. Куртев Н.Д., Анцыферов С.С. Повышение достоверности анализа тепловых изображений. // Тепловидение. / Межвуз. сб. научн. тр. М.: МИРЭА, 1986, №6, с. 112-117.

46. Куртев Н.Д., Анцыферов С.С. Автоматизированные системы диагностики по тепловым изображениям и перспективы их развития. // Тепловидение в медицине. / Сб. научн. тр. под ред. М.М. Мирошникова. Л.: ГОИ им. С.В. Вавилова, 1990, с. 51-57.

47. Куртев Н.Д., Анцыферов С.С. Стохастическая модель распознавания образов тепловых изображений. // Тепловидение. / Межвуз. сб. научн. тр.

48. Н1 м.: МИРЭА, 1990, № 8, с. 90-91.

49. Куртев Н. Д., Анцыферов С. С. Вопросы построения классификатора объектов по их тепловизионным сигналам. // Тепловидение. / Межвуз. сб. научн. тр. -М.: МИРЭА, 1978, № 2, с. 127-134.

50. Куртев Н. Д., Анцыферов С. С., Фолуменов Е. М. Алгоритмы машинной классификации объектов по их тепловизионным сигналам. // Тепловидеtt*ние. /Межвуз. сб. научн. тр. -М.: МИРЭА, 1978, № 2, с. 146-153.

51. Kurtev N.D., Antsyferov S.S. Concept on computer-aided thermodiagnostics in solving the problem of mass prophylactic examination of population. // Proc. SPIE. 1993, v. 2106, p. 26-33.

52. Kurtev N. D., Antsyferov S. S. Structural-stochastic method of processing and recognizing information in thermal images. // J. Opt. Technol. 1997, v. 64 (2), p. 102-104.

53. Анцыферов С. С. Формирование спектра тепловых изображений и распознавание их образов. // Оптический журнал. 1999, т. 66, № 12, с. 46-48.

54. Русанов К.Е. Метрологические особенности квазимонохроматических информационно-распознающих систем оптического диапазона. //Тепловидение. / Межотрасл. сб. научн.тр. М.: МИРЭА, 2002, № 14, с. 85-92.1. Щх

55. Яворский Б.М., Детлаф А.А. Справочник по физике: 3-е изд. М.: Наука. Гл. ред. физ.-мат. лит., 1990. - 624 с

56. Русанов К.Е. Некоторые особенности выявления теоретических погрешностей. // Тепловидение. / Межотрасл. сб. научн. тр. — М.: МИРЭА, 2002, №14, с. 56-58.

57. Русанов К.Е., Филатов С.В. Погрешности моделирования плотности излучения абсолютно черного тела. // Тепловидение. / Межотрасл. сб. научн. тр. -М.: МИРЭА, 2002, № 14, с. 158-159.

58. Русанов К.Е. Информационно-распознающая система для теплового контроля качества катодных покрытий. // Сборник трудов 50-й юбилейной научно-технической конференции МИРЭА — М.: МИРЭА, 2001, ч. 1,с. 74-75.

59. Русанов К.Е., Филатов С.В. Тепловизионный контроль качества диэлектрических материалов. //Тепловидение. / Межотрасл. сб. научн. тр. — М.:

60. МИРЭА, 2002, № 14, с. 146-151.

61. Вугман С.М., Вдовин Н.С. Тепловые источники излучения для метрологии. /Библиотека светотехника, вып. 17. -М.: Энергоатомиздат, 1988.-79 с.

62. Мирошников М.М., Иванова Р.Н., Кремень Н.В. Методика расчета пороговой чувствительности тепловизора. // Тепловидение. / Межвуз. сб. научн. тр. М.: МИРЭА, 1978, № 2, с. 4-9.

63. Куртев Н.Д., Хахин В.И., Журавлев А.А. Сопоставление тепловизионных систем, использующих различные фотонные приемники излучения. // Тепловидение. / Межвуз. сб. научн. тр. М.: МИРЭА, 1976, № 1, с. 116-120.

64. Герман Г., Вайнер С. Оксидный катод. М.: Гостехиздат, 1949. - 508 с.

65. Robert L., Iepsen, Marcel W., Muller. Enhanced Emission from Magnetron Cathodes. // Journal of Applied Physics. 1951, v. 22, № 9, p. 1196-1207.

66. Соминский Г.Г., Терехин Д.К., Фридрихов C.A. Роль вторично-эмиссионных свойств катода в работе магнетронного генератора. // Вопросы радиоэлектроники, серия 1, Электроника, 1964, № 10, стр. 99.

67. Ильченко Г.А., Поскачей А.А., Русанов К.Е. Применение сканирующих пирометрических анализаторов. //Тепловидение. / Межотрасл. сб. научн. тр. -М.: МИРЭА, 2000, № 13, с. 149-153.

68. Поскачей А.А., Ильченко Г.А., Русанов К.Е. Влияние внешних воздействующих факторов на погрешность анализаторов температурных полейтипа "Скапир". //Тепловидение. / Межотрасл. сб. научн. тр. М.: МИРЭА, 2000, № 13, с. 154-156.

69. Иориш А.Е., Мойжес Б.Я., Сорокин О.В., Чудновский Ф.А. О распределении температуры в оксидном покрытии катода. // Радиотехника и электроника. 1964, т. IX, № 8, с. 1447-1457.