Ядерно-физические методы анализа защитных покрытий конструкционных материалов тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 01.04.01, кандидат физико-математических наук Молодцов, Сергей Львович

• Молодцов, Сергей Львович
• кандидат физико-математических наук
• 2009

Оглавление диссертации кандидат физико-математических наук Молодцов, Сергей Львович

Введение.

Глава 1. Измерение дифференциальных сечений для целей анализа на ионных пучках

1.1. Описание эксперимента.

1.2. Экспериментальные результаты.

1.3. Выводы.

Глава 2. Методические разработки.

2.1. Учет шероховатости поверхности.

2.1.1. Описание алгоритма.

2.1.2. Экспериментальная проверка алгоритма.

2.1.3. Практическое применение алгоритма.

2.1.4. Выводы.

2.2. Учет наложений импульсов в спектрометрическом тракте.

2.2.1. Теория.

2.2.2. Обработка спектра.

2.2.3. Результаты и обсуждение.

2.2.4. Использование вейвлет-анализа сигналов для учета наложений.

2.2.4. Выводы.

2.3. Резонансное профилирование. Метод регуляризации.

2.3.1. Основные зависимости.

2.3.2. Метод регуляризации.

2.3.3. Описание расчетной программы.

2.3.4. Выводы.

Глава 3. Анализ защитных покрытий конструкционных сталей.

3.1. Описание образцов.

3.2. Экспериментальная установка.

3.3. Определение профиля кремния.:.

3.4. Анализ результатов, полученных для оксидных образцов.

3.5. Исследование алитированных образцов.

3.6. Анализ нитридной защиты.

3.7. Выводы.

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Ядерно-физические методы анализа защитных покрытий конструкционных материалов»

Анализ при помощи ускоренных ионных пучков (Ion Beam Analysis - IBA)

- это семейство современных аналитических методов, использующих пучки ионов с энергией порядка нескольких МэВ для исследования состава и определения профилей распределения элементов по глубине в поверхностном слое твердых тел [1]. Группу этих методов объединяет то, что исследуемый объект подвергается облучению ускоренным монохроматическим ионным

1 2 пучком. Наиболее распространено использование пучков легких ионов ( Н, Н, 4Не), но в ряде случаев наилучшие результаты достигаются с тяжелыми ионами: В отличие от активационных методов, для которых характерно использование для анализа наведенной активности, в случае IBA используется мгновенное излучение, сопровождающее взаимодействие ускоренных частиц с ядрами. Ускоренные частицы испытывают рассеяние и/или вступают в ядерные реакции с ядрами элементов, составляющих поверхностные слои образца. Вследствие торможения пучка в образце, энергия вылетающих из образца частиц зависит от глубины, на которой произошло взаимодействие. Кроме того, энергия зависит от характера и кинематики взаимодействия. Число вторичных частиц определяется сечением взаимодействия. При известной тормозной способности вещества и сечении взаимодействия спектрометрия рассеянных ионов и продуктов ядерных реакций позволяет определить концентрацию элементов и профиль их распределения по глубине. Физика этих процессов и основные зависимости рассматриваются в [2].

Методы IBA весьма чувствительны и позволяют обнаружить элементы на уровне десятков и единиц частей на миллион (ррш). Разрешение по глубине обычно находится в, пределах от единиц до десятков нанометров. Анализируемая глубина составляет от нескольких десятков нанометров до нескольких десятков микрон. Для всех случаев методы IBA являются количественными с точностью до нескольких процентов, причем в принципе количественные результаты могут быть получены без использования стандартных образцов сравнения. Вследствие уникальности свойств атомных ядер методы ЕВА обладают высокой селективностью. Дозы облучения образцов при проведении анализа, как правило, невелики, и потому методы IBA обычно считаются неразрушающими. На сегодняшний день существует целый ряд разновидностей метода анализа ускоренным ионным пучком, различающихся характером взаимодействия ионов с веществом и типом регистрируемых продуктов взаимодействия. Наиболее* популярными являются методы, основанные на спектрометрии резерфордовского обратного рассеяния (Rutherford Backscattering — RBS), спектрометрии частиц-продуктов ядерных реакции (Nuclear Reaction Analysis — NRA) и гамма-спектрометрии (Particle Induced Gamma Emission — PIGE). Для анализа легких элементов, таких как гелий и изотопы водорода, часто используется метод анализа, основанный на спектрометрии ядер отдачи (Elastic Recoil Detection — ERD). К методам анализа с использованием ускоренных ионных пучков относится' также анализ по характеристическому рентгеновскому излучению, возбуждаемому протонами (Proton Induced X-ray Emission).

Извлечение информации о- профиле распределения элементов из, измеренных спектров1 является* некорректной математической задачей. Для ее решения используются различные приемы, и результат, очевидно, зависит от того, насколько точно известны базовые константы, такие, как тормозная способность вещества и дифференциальное сечение взаимодействия, и как учтены различные эффекты. Наибольший интерес представляет учет многократного рассеяния, энергетического размытия» пучка, при торможении его в веществе (страгглинг), шероховатости поверхности образца, различных искажений при измерении спектра. Получение количественных результатов методами IBA достигается, обычно, при помощи специализированного программного1 обеспечения для анализа данных. На сегодняшний день SIMNRA [3] и DataFurnace [4] - наиболее совершенные программы для анализа методами RBS, ERD и NRA. Однако и в них имеется целый ряд приближений и неточностей.

Область применения методов IBA чрезвычайно широка. В ряде случаев они дают уникальную информацию о составе и структуре поверхности, в других - служат дополнением к таким, методам, как электронная и атомно-силовая микроскопия, вторичная ионно-ионная спектрометрия; методам, основанным на спектрометрии рентгеновского излучения и Оже электронов и методам химического анализа. Анализ при помощи ускоренных ионных пучков. является-незаменимым источником информации и в исследованиях процессов коррозии* конструкционных материалов, и при разработке защитных антикоррозионных покрытий [5].

Одной из, актуальных на' сегодняшний день проблем является-разработка защитных покрытий конструкционных реакторных сталей. В связи с работами по созданию» перспективного реактора на быстрых нейтронах, в частности, безопасного- реактора' БРЕСТ-ОД-ЗОО, для- современного реакторного материаловедения актуальна проблема физико-химического взаимодействия жидкого, свинца с материалами оболочек, ТВЭЛов [6]. Достижение высоких выгораний ядерного топлива, одним из препятствий^ которому является коррозия оболочки под- действием, расплавленного свинца, служит необходимым условием для экономически выгодной, эксплуатации, данного типа реактора.

Материаловедческие проблемы характерны не только для- реакторов - с тяжелометаллическим теплоносителем. Одним из процессов, существенно ограничивающим применение перспективных материалов для оболочек ТВЭЛов традиционных легководных реакторов, является^ гидридное растрескивание [7]. Работа по созданию защитных покрытий и барьерных слоев, снижающих или, предотвращающих поглощение водорода циркониевыми изделиями^ активных зон легководных реакторов, проводится в рамках Федеральной Целевой.Программы "Национальная технологическая база на 2007-2011 годы".

Цель настоящей, работы состояла в разработке методов ядерного микроанализа для исследования поверхности конструкционных реакторных сталей с защитным покрытием; основанным на: оксидировании алитировании азотировании.

Применение методов, анализа при помощи ускоренных ионных пучков в указанных целях потребовало развития, этих методов с учетом особенностей исследуемых образцов. В частности, потребовалось измерить дифференциальные сечения для реакций; информация по которым отсутствовала в литературе и в базах ядерных данных, создать метод учета, шероховатости поверхности' реальных- образцов, разработать метод, позволяющий внести поправку на искажения^ обусловленные наложениями импульсов в спектрометрическом тракте, решить проблему определения профиля распределения' исследуемого элемента , методом резонансного возбуждения гамма излучения для= случая, когда.регистрируемые гамма-кванты соответствуют нескольким резонансам.

Актуальность работы определяется как потребностью, в методе исследования' защитных покрытий поверхности конструкционных реакторных сталей, так и необходимостью исследования и прогнозирования динамики состояния покрытий в процессе эксплуатации.

Настоящая диссертация состоит из трех глав.

Первая глава посвящена измерению сечений ядерных реакций для использования в аналитических целях. Здесь приводится методика измерений и результаты измерения дифференциальных сечений для ядерных реакций типа

II 1 Г <70 d,p) и (d,a) на ядрах N, О, Al, Si с переходом, на; различные уровни возбуждения остаточного ядра.

Вторая глава посвящена разработке методов' обработки спектров; характерных для -ядерного-микроанализа, в частности'двум проблемам при исследовании образцов: неровность поверхности мишени и наложения сигналов в спектрометрическом тракте. Здесь же приведено описание метода определения- профиля концентрации элементов по резонансным реакциям с испусканием гамма-квантов с различной глубины исследуемого слоя.

В третьей главе приводятся результаты исследования защитных покрытий реакторных сталей. Покрытия в данном случае используются для защиты поверхности реакторной стали от коррозии в потоке жидкого тяжелометаллического теплоносителя, такого как свинец или свинец-висмут. Исследуется структура защитной пленки для различных видов покрытий.

Новизна работы состоит в следующем:

Получены новые данные для сечений (d,p) и (d,a) реакций на ядрах

1 j 1 07 ОЙ

N, О, " Al, " Si, необходимые для ядерного микроанализа.

- Разработан новый метод анализа образцов с шероховатой-поверхностью методами ядерного микроанализа.

Развит подход для математической обработки спектров для удаления искажений, вызванных наложениями сигналов.

Получены новые данные по поведению Si на границе металл-защитное покрытие.

Личный, вклад автора состоял в разработке методов анализа и-проведении экспериментальных работ, разработке методов обработки экспериментальных данных, представленных в диссертационной работе, их обосновании и участии в практической реализации разработанных методов.

Материалы, представленные в диссертации, докладывались автором на:

•XVI Международной конференции «Электростатические ускорители и пучковые технологии» (Обнинск, 6-8 июня 2006 г.)

•XVII Международной конференции «Электростатические ускорители и пучковые технологии» (Обнинск, 21-23 октября 2008 г.)

•II всероссийской молодежной научно-инновационной школе «Математика и математическое моделирование» (Саров, 13-16 октября 2008 г.).

• III всероссийской молодежной научно-инновационной школе «Математика и математическое моделирование» (Саров, 20-23 апреля 2009т.).

Основные результаты диссертации опубликованы в открытой печати в отечественных и иностранных журналах и в материалах конференций [8-16].

Выносятся на защиту:

•результаты измерений сечений ядерных реакций (d,p) и (d,a) на ядрах l4N,

1Л 97 ^о

О, Al, Si, используемые для целей ядерного микроанализа;

•метод учета влияния неровности поверхности исследуемого образца на спектр частиц, обратно рассеянных от образца;

• алгоритм моделирования наложений сигналов в спектрометрических цепях;

• выбор типов ядерных реакций для конкретных исследований состава поверхностного слоя реакторной стали;

•методика анализа поверхности стали с защитными покрытиями различных типов;

•результаты исследований защитных покрытий на основе оксида, нитрида и алюминия.

Заключение диссертации по теме «Приборы и методы экспериментальной физики», Молодцов, Сергей Львович

3.7. Выводы

Как следует из представленных результатов, методы IBA могут дать важную информацию относительно состава и структуры защитных окисных пленок на поверхности стали. Эта информация может дополняться результатами, полученными другими методами. Из-за сложности явления, необходима всесторонняя экспериментальная информация, чтобы понять процесс коррозии, и, следовательно, быть в состоянии, в конечном счете, предложить методы для его минимизации.

Основные экспериментальные результаты данной главы были опубликованы в [8, 13].

Заключение

Современные исследования в области материаловедения требуют развития соответствующих методов диагностики поверхности. Исследование элементного состава и структуры поверхностных слоев материалов по мгновенному излучению, сопровождающему взаимодействие ускоренных ионных пучков с атомными ядрами, является мощным материаловедческим методом.

Как видно из опубликованных работ, на сегодняшний день значительный интерес представляет изучение различных процессов и механизмов коррозии различных конструкционных материалов в разнообразных средах. До настоящего времени для неразрушающего исследования этого явления применялись в основном электронные и рентгеновские методы, позволяющие получать параметры корродированной поверхности материала. Однако, этим методам присущи некоторые недостатки, такие как невозможность диагностирования легких примесных элементов в матрице с большим Z, трудность получения обобщенных характеристик поверхности материала, подвергшегося коррозии и т.д.

В настоящей работе произведена адаптация методов IBA для исследования процессов коррозии материалов. Решена проблема обнаружения и профилирования легких элементов (14N, 1бО, 27AI, 28Si) в конструкционной нержавеющей реакторной стали. Для этой цели были измерены функции

1Д 16 , возбуждения реакций типа (d,p) и (d,a) на ядрах N, О, " AI, ~ Si для различных уровней возбуждения остаточного ядра.

Для математической обработки экспериментальных данных при исследовании корродированных образцов разработаны следующие методы:

- метод учета влияния неровности поверхности исследуемого образца на результаты ядерного микроанализа;

- алгоритм математической обработки спектров для удаления искажений, вызванных наложениями сигналов;

- алгоритм решения обратной задачи по извлечению профилей концентраций элементов из экспериментов по резонансному профилированию, основанный на методе регуляризации по Тихонову.

С использованием вышеперечисленных методов исследованы характеристики поверхности стали ЭП823 с защитными покрытиями различных типов, такими как оксидное, нитридное и защита поверхности алюминием. Исследованы параметры коррозионной защиты для различных условий эксплуатации, а также динамика защитного слоя при долговременном пребывании образцов в условиях жидкого свинцового теплоносителя.

Благодарности

Автор выражает глубокую благодарность своему научному руководителю А.Ф. Гурбичу за постоянное внимание и помощь в работе.

Экспериментальная часть работы была выполнена, в основном, на ускорителях ГНЦ РФ ФЭИ. Автор признателен коллективам групп ЭГ и ЭГП-15 за обеспечение необходимых режимов работы ускорителей.

Автор благодарен заведующему кафедрой общей и специальной физики ОГТУ ИАТЭ Ю.А. Коровину за помощь в решении организационных вопросов.

Автор благодарит зарубежных коллег — Криса Джийниса (Chris Jeynes) из центра ионных пучков университета Саррэй (Surrey University Ion Beam Centre), Великобритания и Нуно Баррадаса (Nuno Barradas) из Института ядерных технологий (Instituto Tecnologico е Nuclear), Португалия за постоянный интерес к работе, конструктивную критику и сотрудничество.

Список литературы диссертационного исследования кандидат физико-математических наук Молодцов, Сергей Львович, 2009 год

1. Tesmer J.R., Nastasi M. Handbook of Modern 1.n Beam Material Analysis. -Pittsburgh: MRS, 1995.

2. Deconninck G. Introduction to Radioanalytical Physics. — Amsterdam: Elsevier, 1978.-242 p.

3. Mayer M. SIMNRA, a Simulation Program for the Analysis of NRA, RBS and ERDA. // AIP Conf. Proc. 1999. - V. 475. - P. 541-544.

4. Jeynes C., Barradas N.P., Marriott P.K., Boudreault G., Jenkin M., Wendler E., Webb R.P. Elemental thin film depth profiles by ion beam analysis using simulated annealing a new tool. // J. Phys. D: Appl. Phys. - 2003. - V. 36. -P. R97-R126.

5. Schmaus D., Vickridge I. MeV Ion Beam Analytical Methods. // Analytical Methods in Corrosion Science and Engineering. New York: CRC Press, 2006, Section 4, P.103-132.

6. Gurbich A.F., Molodtsov S.L. Application of IBA techniques to silicon profiling in protective oxide films on a steel surface. // Nucl. Instr. and Meth. -2004. V. B226. - P. 637-643.

7. Gurbich A., Molodtsov S. Measurement of (d,p) and (d,a) differential cross-sections for 14N. // Nucl. Instr. and Meth. 2008. - V. B266. - P. 1206-1208.

8. Gurbich A., Molodtsov S. Measurement of (d,p) and (d,a) differential cross-sections for aluminum. // Nucl. Instr. and Meth. 2008. - V. B266. - P. 35353539.

9. Molodtsov S.L., Gurbich A.F., Jeynes C. Accurate ion beam analysis in the presence of surface roughness. // J. Phys. D: Appl. Phys. — 2008. — V. 41. — 205303.

10. Молодцов СЛ., Гурбич А.Ф. Моделирование спектров обратного рассеяния для образцов с шероховатой поверхностью. // Материалы всероссийской конференции «Математика и математическое моделирование». — Саров. — 2008. — С. 13.

11. Гурбич А.Ф., Молодцов С.Л. Дифференциальные сечения реакций1 17 тп0(d,p) О и Si(d,p) Si. // Вопросы атомной науки и техники. Сер.: Ядерные константы. — Вып.1-2. — 2008. С. 56-59.

12. Молодцов С.Л., Гурбич А.Ф. Моделирование влияния наложений импульсов на амплитудный спектр сигналов. // Материалы всероссийской конференции «Математика и математическое моделирование». Саров. — 2009.-С. 11-30.

13. Molodtsov S.L., Gurbich A.F. Simulation of the pulse pile-up effect on the pulse-height spectrum. // Abstracts of the 19th Int. Conf. on Ion beam Analysis, Cambridge, UK, 2009.

14. Healy M.J.F., Pidduck A.J., Dollinger G., Gorgens L., Bergmaier A. Ion beam analysis of aluminium in thin layers. // Nucl. Instr. and Meth. 2002. - V. B190.-P. 630-635.

15. Siketic Z., Bogdanovic Radovic I., Skukan N., Jaksic M., Lopes Ramos A.R. Proton elastic scattering from aluminum for 120°, 150° and 165° in the energy interval from 2.4 to 5 MeV. // Nucl. Instr. and Meth. 2007. - V. B261. - P. 414-417.

16. Mateus R., Fonseca M., Jesus A.P., Luis H., Ribeiro J.P. PIGE analysis and profiling of aluminium. // Nucl. Instr. and Meth. 2008. - V. B266. - P. 14901492.

17. Ion Beam Analysis Nuclear Data Library (IBANDL), <http://www-nds.iaea.org/ibandl/>.

18. Davies J.A., Jackman Т.Е., Plattner H., Bubb I. Absolute calibration of 14N(d,a) and 14N(d,p) reactions for surface adsorption studies. // Nucl. Instr. and Meth. 1983. -V. 218. - P. 141-146.

19. Pellegrino S., Beck L., Trouslard Ph. Differential cross-sections for nuclear reactions 14N(d,p5)l5N, 14N(d,p0)15N, 14N(d,a0)12C and 14N(d,a012C. // Nucl. Instr. and Meth. 2004. - V. B219-220. - P. 140-144.

20. Amsel G., David D. La microanalyse de l'azote par l'observation directe de reactions nucleaires applications. // Rev. Phys. Appl. — 1969. — V. 4. — P. 383391.

21. Simpson J.C.B., Earwaker L.G. A computer simulation of nuclear reaction spectra with applications inf analysis and depth, pro filing of light elements. // Vacuum. 1984. - V. 34. - P. 899-902.

22. Шорин B.C., Карабаш B.A., Соснин A.H. Дифференциальное сечение реакции 14N(d,p0)15N в области энергий дейтронов 0,3-2,0 для задач элементного анализа. // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Ядерные константы. Вып.2. - 1984. - Т. 56. - С. 26-32.

23. Koenig W., Riccato A., Stock R., Cuzzocrea P., Perillo E., Sandoli M., Spadaccini G. Search for quartet excited states in 1бО. // Nuovo Cimento. — 1977.-V. A39.-P. 9-30.

24. Experimental Nuclear Reaction Data (EXFOR), <http://www-nds.iaea.org/exfor/>.

25. Cohen D.D., Rose E.K. Analysis of oxygen by charged particle bombardment. // Nucl. Instr. and Meth. 1992. - V. B66. - P. 158-190.

26. Badawy O.E.-F. Исследование статистических флуктуаций в реакциях28 31 32дейтонов с ядрами Si , Р и S . // Диссертация, Харьковский Государственный Университет им. С.М. Горького, Атомный Центр ОАР, г. Каир, 1966.

27. Hsu С.С., Pai Т.Р., Tohei Т., Morita S. Mechanism of the Reaction 28Si(d,p)29Si from 2.0 to 4.2 MeV. // Phys. Rev. 1973. - V. C7. - P. 14251432.

28. Вавилов П.В. Ионизационные потери тяжелых частиц больших энергий. // Журнал экспериментальной и теоретичесой физики. — Вып.4. 1957. — Т. 32. - С. 920-924.

29. Ericson Т., Mayer-Kuckuk Т. Fluctuations in Nuclear Reactions. // Ann. Rev. Nucl. Sci. 1966. - V. 16. - P. 183-206.

30. Corti M., Marcazzan G.M., Milazzo Colli L., Milazzo M. Direct effect and01 Oft 07 лсevaporation mechanism in Al(d,p) AI and z'Al(d,oTMg reactions. // Nucl. Phys. 1966. - V. 77. - P. 625-640.

31. Gadioli E., Iori I., Mangialajo M., Pappalardo G. Study of the 27Al(d,a)25Mg and 27Al(d,p)28Al nuclear reactions at 2 MeV deuteron energy. // Nuovo Cimento. 1965. - V. 38. - P. 1105-1132.

32. Pellegrino S. Ion Beam Analysis Nuclear Data Library (<http://www-nds.iaea.org/ibandl/>).

33. Lin C.S., Lin E.K. The reaction 27Al(d,p)28Al in the energy range of the deuteron from 2.0 MeV to 3.0 MeV. // II Nuovo Cimento. 1970. - V. A66. -P. 336-342.

34. Quillet V., Abel F., Schott M. Absolute cross section measurements for H and D elastic recoil using 1 to 2.5 MeV 4He ions, and for the 12C(d,p)13C and 16O(d,p017O nuclear reactions. // Nucl. Instr. and Meth. 1993. - V. B83. - P. 47-61.

35. Карабаш B.A., Соснин A.H., Шорин B.C. Дифференциальное сечение1./ inреакции 0(d,pi) О в области энергий дейтонов 0,7 1,0 МэВ.для задач элементного анализа. // Вопросы атомной науки и техники. Сер.: Ядерные константы. - 1988. — Вып. 3. - С. 31.

36. Jiang W., Shutthanandan V., Thevuthasan S., McCready D.E., Weber WJ. Oxygen analysis using energetic ion beams. // Nucl. Instr. and Meth. — 2003. — V. B207.-P. 453-461.

37. Lennard W.N., Massoumi G.R., Alkemade P.F.A., Mitchell I.V., Tong S.Y.10 1 ^

38. Revisiting the C(d,p) С reaction cross section using condensed gas targets. // Nucl*. Instr. and Meth. 1991. - V. B61. - P. 1-7.

39. Cavallaro S., Cunsolo A., PotenzaR., Rubbino A. L60+d reactions at Ed < 2 MeV. //II Nuovo Cimento. 1973.-V. A14.-P. 692-710.

40. Amsel G., David S. Microanalysis of the stable isotopes of oxygen by means of nuclear reactions. // Analytical Chemistry. 1967. - V. 39. - P. 1689-1698.

41. Bizyukov I., Krieger K., Azarenkov N., Toussaint U.V. Relevance of surface roughness to tungsten sputtering and carbon implantation. // J. Appl. Phys. — 2006.-V. 100.- 113302.

42. Petrik P., Lohner Т., Fried M., Biro L.P., Khanh N.Q., Gyulai J., Lehnert W., Schneider C., Ryssel H. Ellipsometric study of polycrystalline silicon films prepared by low-pressure chemical vapor deposition. // J. Appl. Phys. 2000. -V. 87.-P. 1734-1742.

43. Yedji M., Ross G.G. of electric charge accumulation on the modification of surface properties by means of low energy ion implantation. // J. Phys. D: Appl. Phys. 2006. - V. 39. - P: 4429-4435.

44. Beck L., Jeynes C., Barradas N.P. Characterization of paint layers by simultaneous self-consistent fitting of RBS/PIXE spectra using simulated annealing. //Nucl. Instr. and Meth. 2008. - V. B266. - P. 1871-1874.

45. Edelmann E., Arstila K., Keinonen J. Bayesian data analysis for ERDA measurements. // AIP Conf. Proc. 2004. - V. 735. - P. 52-59.

46. Fischer R., Mayer M., von der Linden W., Dose V. Enhancement of the energy resolution in ion-beam experiments with the maximum-entropy method. // Phys. Rev. 1997. -V. E55. - P. 6667-6673.

47. Metzner H., Gossla M., Hahn Th. Rutherford backscattering spectroscopy of rough films:.theoretical considerations. // Nucl. Instr. and Meth. 1997. - V. В124.- P. 567-574.

48. Metzner H., Hahn Th., Gossla M., Conrad J., Bremer J.-H. Rutherford backscattering spectroscopy of rough films: experimental aspects. // Nucl. Instr. and Meth. 1998. -V. В134. - P. 249-261.

49. Mayer M. Ion beam analysis of rough thin films. // Nucl. Instr. and Meth. -2002. V. В194. — P. 177-186.

50. Barradas N.P. Rutherford backscattering analysis of thin films and-superlattices with roughness. // J. Phys. D: Appl. Phys. 2001. - V. 34. - P: 2109-2116.

51. Barradas N.P. Fitting of RBS data including roughness: Application to Co/Re multilayers. // Nucl. Instr. and Meth. 2002. - V. В190. - P. 247-251.

52. Barradas N.P., Arstila K., Battistig G., Bianconi M., Dytlewski N., Jeynes C., Kotai E., Lulli G., Mayer M., Rauhala E., Szilagyi E., Thompson M. Summaryof 'IAEA intercomparison of IB A software'. // Nucl. Instr. and Meth. 2008. -V. B266.-P. 1338-1342.

53. Behrisch R., Grigull S., Kreissig U., Grotzschel R. Influence of surface roughness on measuring depth profiles and the total amount of implanted ions by RBS and ERDA. // Nucl. Instr. and Meth. 1998. - V. В136-138. - P. 628632.

54. Shorin V.S., Sosnin A.N. The shape of the ion backscattering spectrum for a surface having sine wave relief. // Nucl. Instr. and Meth. — 1991. — V. B53. P. 199-201.

55. Itoh Y., Maeda Т., Nakajima Т., Kitamura A., Ogiwara N., Saidoh M. Simulation of RBS spectra for a surface with a periodic roughness. // Nucl. Instr. and-Meth. 1996. - V. В117. - P. 161-169.

56. Wiiest M., Bochsler P. Simulation of ion backscattering from rough surfaces. // Nucl. Instr. and Meth. 1992. - V. B71. - V. 314-323.

57. Sajavaara Т., Arstila K., Laakso A., Keinonen J. Effects of surface roughness on results in elastic recoil detection measurements. // Nucl. Instr. and Meth. — 2000. -V. B161-163. -P. 235-239.

58. Hajnal Z., Szilagyi E., Paszti F., Battistig G. Channeling-like effects due to the macroscopic structure of porous silicon. // Nucl. Instr. and Meth. — 1996. — V. B118.-P. 617-621.

59. Yesil I.M., Assmann W., Huber H., Lobner K.E.G. Simulation of surface roughness effects in ERDA. // Nucl. Instr. and Meth. 1998. - V. В136-138. -P. 623-627.

60. Simon^A., Jeynes C., Webb R.P., Finnis R., Tabatabaian Z., Sellin P.J., Breese M.B.H., Fellows D.F., van den Broek R., Gwilliam R.M. The new Surrey ion beam analysis facility. // Nucl. Instr. and Meth. 2004. - V. B219-220. - P. 405-409.

61. Rogers D.W.O. Analytic and graphical methods for assigning errors to parameters in non-linear least squares fitting. // Nucl. Instr. and Meth. 1975. -V. 127.-P. 253-260.

62. Wielopolski L., Gardner R.P. Prediction of the pulse-height spectral distortion caused by the peak pile-up effect. // Nucl. Instr. and Meth. 1976. - V. 133. — P. 303-309.

63. Gardner R.P., Wielopolski L. A generalized method for correcting pulse-height spectra for the peak pile-up effect due to double sum pulses. // Nucl. Instr. and Meth. 1977. - V. 140. - P. 289-303.

64. Amsel G., Girard E., Vizkelethy G., Battistig G., Girard Y., Szilagyi E. High pulse rate and pileup handling in precision RBS. // Nucl. Instr. and Meth. — 1992.-V. B64.-P. 811-816.

65. Jeynes C., Jafri Z.H., Webb R.P., Kimber A.C., Ashwin M.J. Accurate RBS measurements of the indium content of InGaAs thin films. // Surface and Interface Analysis. 1997. - V. 25. - P. 254-260.

66. Tenney F.H. Idealized pulse pileup effects on energy spectra. //Nucl. Instr. and Meth. 1984.-V. 219.-P. 165-172.

67. Datlowe D.W. The role of the waveform in pulse pile-up. // Nucl. Instr. and Meth. 1977. - V. 145. - P. 365-378.

68. Cano-Ott D., Tain J.L., Gadea A., Rubio В., Batist L., Karny M., Roeckl E. Pulse pileup correction of large Nal(Tl) total absorption spectra using the true pulse shape. // Nucl. Instr. and Meth. 1999. - V. A430. - P. 488-497.

69. Guo W., Gardner R.P., Mayo C.W. A study of the real-time deconvolution of digitized waveforms with pulse pile up for digital radiation spectroscopy. // Nucl. Instr. and Meth. 2005. - V. A544. - P. 668-678.

70. Wilkinson D.H. Pulse pile-up I: short pulses. // Nucl. Instr. and Meth. 1990. -V. A297.-P. 230-243.

71. Wilkinson D.H. Pulse pile-up II: tailed pulses. // Nucl. Instr. and Meth. 1990. -V. A297.-P. 244-249.

72. McGlone V.A., Johnson P.B. Deconvolution of resonance reaction yield curves by a nonlinear least squares method. // Nucl. Instr. and Meth. — 1991. V. B61. -P. 201-212.

73. Smulders P.J.M. A deconvolution technique with smooth, non-negative results. // Nucl. Instr. and Meth. 1986. - V. В14. - P. 234-239.

74. Sjontoft E. A straightforward deconvolution method for use in small computers. //Nucl. Instr. and Meth. 1979. -V. 163. - P. 519-522.

75. Тихонов A.H., Арсенин В.А. Методы решения некорректных задач. — М.: Наука, 1986.

76. Ivanov K.D., Orlov Yu.I., Martynov P.N., in: Heavy Liquid Metal Coolants in Nuclear Technology, Abstracts of papers, SSC RF — IPPE, Obninsk, 2003, p. 78.

77. Roussanov A., Troyanov V., Jachmenev G., Demishonkov A. Power Reactors and Sub-Critical Blanket Systems with Lead and Lead-Bismuth as Coolant and/or Target Material. IAEA-TECDOC-1348, IAEA, Vienna, 2001, p. 122.

78. Demortier G., Gilson A. Determination of traces of light elements in gold artifacts using nuclear reactions. // Nucl. Instr. and Meth. — 1986. — V. В18. — P. 286-290.

79. Chemin J.F., Rorurier J., Saboya В., Petit G.Y. Microanalysis of Si, S and Zn in GaSb by use of direct observation of (p, p'y) reactions. // J. Radioanal. Chem. 1972. - V. 12. - P. 221-232.

80. Gurbich A. Evaluation of non-Rutherford proton elastic scattering cross section for oxygen.//Nucl. Instr. and Meth. 1997. -V. B129.-P. 311-316.

81. Gurbich A.F., Barradas N.P., Jeynes C., Wendler E. Applying elastic backscattering spectrometry when the nuclear excitation function has a fine structure. // Nucl. Instr. and Meth. 2002. - V. В190. - P. 237-240.

82. Lindstrom D.P., Newson H.W., Bilpuch E.G., Mitchell G.E. Fine structure of analogue states in 55Co, 57Co and 59Co. // Nucl. Phys. 1971. - V. A168. - P. 37-55.

83. M. Takahashi, М. Kondo, К. Hata, S. Yoshida, N. Sawada, in: Heavy Liquid Metal Coolants in Nuclear Technology, Abstracts of papers, SSC RF — IPPE, Obninsk, 2003, p. 62.

84. Быков B.H., Ионов P.A., Руденко B.A. Структура тонких окисных пленок на сплавах железо-кремний. // Физика металлов и металловедение. — 1965. Т.20. - С. 472.

85. NuDat2, < http://www.nndc.bnl.gov/nudat2/>