Вихретоковые методы измерения толщины неферромагнитных электропроводящих покрытий на неферромагнитных электропроводящих основаниях тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 05.11.13, кандидат технических наук Ивкин, Антон Евгеньевич

  • Ивкин, Антон Евгеньевич
  • кандидат технических науккандидат технических наук
  • 2013, Санкт-Петербург
  • Специальность ВАК РФ05.11.13
  • Количество страниц 160
Ивкин, Антон Евгеньевич. Вихретоковые методы измерения толщины неферромагнитных электропроводящих покрытий на неферромагнитных электропроводящих основаниях: дис. кандидат технических наук: 05.11.13 - Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий. Санкт-Петербург. 2013. 160 с.

Оглавление диссертации кандидат технических наук Ивкин, Антон Евгеньевич

ОГЛАВЛЕНИЕ

ВВЕДЕНИЕ

ГЛАВА 1. АНАЛИЗ СОВРЕМЕННОГО СОСТОЯНИЯ МЕТОДОВ И СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ НЕФЕРРОМАГНИТНЫХ ЭЛЕКТРОПРОВОДЯЩИХ ПОКРЫТИЙ НА НЕФЕРРОМАГНИТНЫХ ОСНОВАНИЯХ

1.1 Классификация неферромагнитных электропроводящих материалов

1.2 Покрытия, основные типы покрытий, классификация

1.3 Толщина покрытия, как основной параметр его качества. Обобщенная структура задач измерения толщины покрытий

1.4 Методы и средства неразрушающего контроля толщины неферромагнитных электропроводящих покрытий на неферромагнитных электропроводящих основаниях

1.5 Анализ современного состояния вихретоковых толщиномеров покрытий

1.6 Постановка задачи

ГЛАВА 2. ТЕОРЕТИЧЕСКОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ ПЕРВИЧНЫХ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ ВИХРЕТОКОВЫХ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ ДЛЯ КОНТРОЛЯ ТОЛЩИНЫ НЕФЕРРОМАГНИТНЫХ ЭЛЕКТРОПРОВОДЯЩИХ ПОКРЫТРМ НА НЕФЕРРОМАГНИТНЫХ ЭЛЕКТРОПРОВОДЯЩИХ ОСНОВАНИЯХ

2.1. Общая характеристика вихретокового вида неразрушающего контроля

2.2 Расчетно-теоретические модели взаимодействия электромагнитного поля измерительного вихретокового преобразователя с объектом контроля

2.3 Сигналы первичного вихретокового преобразователя. Контролируемые и мешающие параметры вихретокового контроля

2.4 Обобщенная структурная схема вихретокового толщиномера

2.5 Выводы по главе 2

ГЛАВА 3. МЕТОДИЧЕСКИЕ ПРИНЦИПЫ ПОСТРОЕНИЯ И РАСЧЕТА ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ ВИХРЕТОКОВЫХ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ И ОБРАБОТКИ ИЗМЕРИТЕЛЬНОЙ ИНФОРМАЦИИ

3.1 Структура первичных измерительных вихретоковых преобразователей

3.2 Методы и средства обработки первичной информации. Подавление мешающих параметров

3.3 Оптимизация параметров первичных измерительных вихретоковых преобразователей

3.4 Выводы по главе 3

ГЛАВА 4. МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ ВИХРЕТОКОВЫХ ТОЛЩИНОМЕРОВ НЕФЕРРОМАГНИТНЫХ ЭЛЕКТРОПРОВОДЯЩИХ ПОКРЫТИЙ НА НЕФЕРРОМАГНИТНЫХ ЭЛЕКТРОПРОВОДЯЩИХ ОСНОВАНИЯХ

4.1. Основные принципы стандартизации в области измерения толщины защитных покрытий и изделий

4.2. Поверочная схема толщиномеров неферромагнитных электропроводящих покрытий на неферромагнитных электропроводящих основаниях. Выбор характеристик и установление номенклатуры наборов мер толщины покрытий

4.3. Исследование мер толщины металлических покрытий

4.4 Методика изготовления и аттестации натурных мер толщины покрытий

4.5 Выводы по главе 4

ГЛАВА 5. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ СРЕДСТВ ВИХРЕТОКОВОЙ ТОЛЩИНОМЕТЕРИИ НЕФЕРРОМАГНИТНЫХ ЭЛЕКТРОПРОВОДЯЩИХ ПОКРЫТИЙ НА НЕФЕРРОМАГНИТНЫХ ЭЛЕКТРОПРОВОДЯЩИХ ОСНОВАНИЯХ

5.1 Экспериментальные исследования вихретокового толщиномера на натурных мерах толщины неферромагнитных электропроводящих покрытий на неферромагнитных электропроводящих основаниях

5.2 Испытания вихретокового толщиномера на образцах реальных изделий

5.3 Анализ эффективности результатов диссертационной работы

5.4. Перспективы развития и области применения результатов диссертационной

работы

5.5 Выводы по главе 5

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

СПИСОК УСЛОВНЫХ ОБОЗНАЧЕНИЙ

СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ

Приложение 1

Приложение 2

Приложение 3

Рекомендованный список диссертаций по специальности «Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий», 05.11.13 шифр ВАК

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Вихретоковые методы измерения толщины неферромагнитных электропроводящих покрытий на неферромагнитных электропроводящих основаниях»

ВВЕДЕНИЕ

Современное промышленное производство характеризуется постоянным повышением требований к качеству выпускаемой продукции. Металлические покрытия изделий из цветных металлов широко распространены во всех отраслях промышленности. Покрытия наносят с целью защиты изделий от коррозии и от воздействия окружающей среды, для придания их поверхностям специальных свойств, улучшения внешнего вида и повышения декоративных свойств. Контроль толщины покрытия является весьма важной операцией в технологическом цикле изготовления изделия, поскольку соответствие реальной толщины покрытия требованиям конструкторской и нормативно-технической документации на изделие является наиболее важным с точки зрения обеспечения функционального назначения покрытия и изделия в целом.

Для неразрушающего измерения толщины электропроводящих неферромагнитных покрытий на электропроводящих неферромагнитных основаниях в настоящее время применяются методы радиационного вида неразрушающего контроля (НК). Достаточно большие размеры рентгено-флуоресцентных анализаторов, сложная методика калибровки, необходимость анализа картины спектров элементов, содержащихся в покрытии и основании, затрудняет их использование в качестве толщиномеров широкой номенклатуры покрытий в цеховых условиях гальванических производств. Повышенные требования безопасности, связанные с работой с источниками радиоактивного излучение и их хранением, а также необходимость использования упорного апертурного кольца преобразователя только под определенный радиус кривизны поверхности объекта измерения снижает эффективность использования толщиномеров, основанных на (3-отражения методе радиационного вида НК.

Наиболее универсальными методами НК толщины металлических покрытий на изделиях из неферромагнитных материалов являются методы вихретокового вида НК. Вихретоковые первичные и вторичные преобразователи могут быть выполнены в малогабаритных корпусах. В отличие от методов радиационного вида НК, применение методов вихретокового вида экологически безопасно. Процедура

калибровки вихретоковых преобразователей достаточно проста, а их эксплуатация не требует каких либо повышенных мер техники безопасности. Перечисленные обстоятельства позволяют эффективно использовать вихретоковые толщиномеры для проведения измерений толщины различных видов покрытий на изделиях сложного криволинейного профиля в цеховых условиях, в том числе непосредственно во время технологического процесса нанесения покрытия.

В настоящее время рядом ведущих производителей решены задачи измерения небольшого количества типов покрытий на основаниях их цветных металлов, с заявляемой погрешностью измерения ±((0,01...0,03)Г„+2...3) мкм, где Тп - измеряемая толщина покрытия. Однако, в области малых толщин покрытий при проведении измерений в цеховых и полевых условиях при реальных технологических разбросах физических и геометрических параметров изделий, заявляемые значения погрешности не обеспечиваются [71].

Уменьшение погрешности измерения вихретоковых толщиномеров возможно за счет оптимизации параметров первичных измерительных вихретоковых преобразователей (ВТП), усовершенствования методик и технических средств измерения и обработки получаемой с ВТП первичной информации.

Для достижения поставленной цели необходимо решить следующие задачи:

- провести анализ методов повышения чувствительности ВТП к контролируемым параметрам и отстройки от воздействия мешающих параметров вихрето-кового вида НК на результаты измерений;

- разработать модель первичного ВТП с ферритовым сердечником и заданной частотой тока возбуждения и схему, обеспечивающую измерение амплитуды и фазы вносимого напряжения;

- разработать способ выделения информативного параметра сигнала ВТП на фоне влияния мешающих параметров, позволяющий проводить измерения с погрешностью, не превышающей заданную;

- разработать методику оптимизации параметров первичного ВТП;

- разработать средства метрологического обеспечения измерений толщины неферромагнитных электропроводящих покрытий на неферромагнитных электропроводящих основаниях и методику их аттестации;

- изготовить и провести испытания разработанных средств вихретоковой толщинометрии;

- провести внедрение результатов работы на промышленных предприятиях.

Научная новизна работы:

- установлены зависимости изменения плотности вихревых токов, наведенных в объекте контроля (ОК) круговым витком с током заданной частоты, от толщины покрытия, электропроводности покрытия и объекта контроля, а также от геометрических размеров объекта контроля;

- разработана модель взаимодействия первичного трехобмоточного накладного ВТП с ферритовым сердечником и заданной частотой тока возбуждения с ОК, представляющим собой неферромагнитное электропроводящее полупространство с неферромагнитным электропроводящим покрытием с заданными значениями толщины и относительной электропроводности;

- установлено, что отклонение от плоскостности поверхности основания меры и неравномерность нанесения покрытия на поверхность меры являются основными источниками погрешности меры толщины покрытия (МТП).

Обоснованность и достоверность научных положений подтверждается сходимостью результатов математического моделирования и аналитических расчетов с результатами экспериментальных исследований в лабораторных условиях на комплектах натурных МТП и контрольных образцах покрытий.

Практическая ценность работы заключается в следующем:

- разработана совокупность средств НК, предназначенная для измерения толщины неферромагнитных электропроводящих покрытий на неферромагнитных электропроводящих основаниях с заданной погрешностью;

- разработаны, изготовлены и сертифицированы комплекты натурных мер толщины неферромагнитных электропроводящих покрытий на неферромагнитных электропроводящих основаниях;

Структура и объем работы: диссертация состоит из введения, 5 глав и заключения, изложенных на 160 страницах. Содержит 62 рисунка, 24 таблицы и список литературы из 118 наименований.

Во введении дана общая характеристика работы, обоснована ее актуальность, сформулирована идея диссертационной работы, на основании которой поставлены цель и основные задачи исследования, а также определены научная новизна и практическая ценность результатов работы.

В главе 1 проведен анализ задач измерения толщины неферромагнитных электропроводящих покрытий на неферромагнитных электропроводящих основаниях, предложена их классификация, проведен обзор и анализ существующих видов, методов и технических средств НК толщины покрытий, дана характеристика объекта исследования, обоснованы цели и задачи исследований.

В главе 2 представлена общая характеристика вихретокового вида НК, предложены расчетно-теоретические модели взаимодействия первичного ВТП с ОК, определены основные мешающие параметры, характерные для контроля толщины неферромагнитных электропроводящих покрытий на неферромагнитных электропроводящих основаниях, и их влияние на сигнал преобразователя, дана обобщенная структурная схема вихретокового толщиномера покрытий.

В главе 3 рассмотрена структура первичных ВТП, обоснована оптимальная конструкция преобразователя для измерения толщины неферромагнитных электропроводящих покрытий на неферромагнитных электропроводящих основаниях, предложены методы и средства обработки первичной информации, позволяющие исключить влияние мешающих параметров вихретокового контроля на результаты измерений, даны рекомендации по выбору оптимальной частоты тока возбуждения преобразователя.

В главе 4 рассмотрены основные принципы стандартизации в области измерения толщины покрытий, установлены основные недостатки существующей поверочной схемы толщиномеров покрытий в диапазоне от 1 до 20 ООО мкм, проведены исследования натурных мер толщины металлических покрытий, предложена методика их изготовления и аттестации, представлен проект технического зада-

ния на разработку стандарта на натурные меры толщины покрытий для поверки и калибровки вихретоковых толщиномеров неферромагнитных электропроводящих покрытий на неферромагнитных электропроводящих основаниях.

В главе 5 представлены результаты экспериментальных исследований разработанных ВТП на комплектах натурных мер толщины и промышленных контрольных образцах, рассмотрены перспективы развития и области применения результатов работы.

В заключении представлены обобщенные выводы по результатам исследований в соответствии с целыо и решенными задачами.

По теме диссертационной работы опубликовано 8 печатных работ, в том числе 3 в изданиях, входящих в список ВАК Минобрнауки России, получен патент на метод измерения.

Положения, выносимые на защиту:

1. Разбалансировка обмоток чувствительного элемента первичного ВТП, обеспечивающая смещение точки наблюдения по мнимой оси комплексной плоскости годографа вектора вносимого напряжения на заданную величину, при оптимальной частоте тока возбуждения и значении обобщенного параметра вихре-токового контроля р не более 30 при Г„=0, уменьшает дополнительную абсолютную погрешность измерения толщины неферромагнитных электропроводящих покрытий на неферромагнитных электропроводящих основаниях с относительной электропроводностью а„/ст0>2 до ±(0,5... 1) мкм в диапазоне толщин от 0 до 50 мкм при девиации относительного зазора И/Яп от 0 до 0,3.

2. Смещение точки, соответствующей Гп=0 и И*=0, вверх по годографу вектора и*ш(Тп), обеспечиваемое установкой дистанционной прокладки необходимой толщины из материала с заданной электропроводностью между контактной поверхностью амплитудно-фазового ВТП и ОК, уменьшает дополнительную абсолютную погрешность измерения толщины неферромагнитных электропроводящих покрытий на неферромагнитных электропроводящих основаниях с относительной электропроводностью стп/сто<0,4 до ±(1...1,5) мкм в диапазоне толщин от 0 до 50 мкм при девиации относительного зазора от 0 до ОД.

3. Предлагаемая конструкция и технология изготовления оснований, приемы их отбора и подготовки совместно с технологиями получения покрытий и методикой аттестации их толщины обеспечивают возможность изготовления комплектов мер толщины неферромагнитных электропроводящих покрытий на неферромагнитных электропроводящих основаниях с абсолютной погрешностью не превышающей ±0,3 мкм, что удовлетворяет условиям градуировки и поверки вихретоковых толщиномеров неферромагнитных электропроводящих покрытий на неферромагнитных электропроводящих основаниях с абсолютной погрешностью измерения не более ±1 мкм в диапазоне толщин покрытий от 0 до 50 мкм.

Похожие диссертационные работы по специальности «Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий», 05.11.13 шифр ВАК

Заключение диссертации по теме «Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий», Ивкин, Антон Евгеньевич

5.5 Выводы по главе 5

1. Экспериментальные исследования толщиномера, проведенные на мерах толщины покрытий в лабораторных условиях подтвердили эффективность предложенных решений, позволяющих уменьшить влияние относительного зазора к* на результаты измерений толщины Г„. Абсолютная погрешность измерений не превысила заданных допустимых значений при влиянии мешающих параметров в определенном интервале.

2. Измерения толщины покрытий образцов изделий дали удовлетворительные результаты и подтвердили лабораторные исследования.

3. В перспективе развития возможно расширение номенклатуры сочетаний покрытие/основание, контроль толщины многослойных покрытий и уменьшение влияния радиуса кривизны ОК на результаты измерений.

4. Испытания толщиномера в цеховых условиях промышленных предприятий подтвердили заявленные технические характеристики.

5. Технические характеристики толщиномера, подтвержденные экспериментально:

Наименование параметра Для покрытий с относительной электропроводностью ап/сто<0,4 ап/а0>2

Погрешность измерения*, мкм, не более ±(0.01Гп+0,7) ±(0.01Гп+0,5)

Погрешность измерения при учете влияния мешающих параметров, мкм, не более ±(0.01 Гп+1)

Максимальный диапазон изменения воздушного зазора, мм од 0,4

Абсолютная дополнительная погрешность вызванная изменением радиуса кривизны изделия на 1 мм, не более 0,2 мкм ОД мкм

Минимальный радиус кривизны изделия, мм 2,5

Максимальная толщина контролируемого покрытия, мкм 50 для плоских изделий с шероховатостью Яа не более 0,8 мкм.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

На основании проведенных исследований получены следующие научные результаты работы:

1. для неразрушающего измерения толщины неферромагнитных электропроводящих покрытий на неферромагнитных электропроводящих основаниях в диапазоне от 0 до 50 мкм с абсолютной погрешностью измерения не более ±1 мкм рекомендован вихретоковый вид НК с применением сбалансированных трехобмо-точных накладных ВТП с ферритовым сердечником;

2. разработан и реализован способ выделения информативного параметра сигнала ВТП, позволяющий измерять толщину покрытия Гп на фоне изменения зазора И с погрешностью, не превышающей заданную величину;

3. разработана конструкция, технология изготовления и методика аттестации натурных мер толщины покрытий, обладающих заданными метрологическими характеристиками, удовлетворяющими условиям поверки вихретоковых толщиномеров неферромагнитных электропроводящих покрытий на неферромагнитных электропроводящих основаниях с абсолютной погрешностью измерения не более ±1 мкм в диапазоне толщин покрытий от 0 до 50 мкм;

4. определена оптимальная частота тока возбуждения преобразователя, зависящая от максимальной толщины и электропроводности измеряемого покрытия;

5. показана возможность измерения толщины неферромагнитного электропроводящего покрытия на неферромагнитном электропроводящем основании с относительной электропроводностью ап/ао<0,4 и ап/а0>2 с отстройкой от влияния зазора к на результат измерения.

СПИСОК УСЛОВНЫХ ОБОЗНАЧЕНИЙ

ВТП - измерительный вихретоковый преобразователь, МТП - мера толщины покрытия, НК - неразрушающий контроль, ОК - объект контроля, Ти - толщина покрытия, к* - относительный зазор между контактной поверхностью преобразователя и объекта контроля, ц0 - магнитная постоянная, с - удельная электрическая проводимость материала, стп - удельная электрическая проводимость покрытия, ст0 - удельная электрическая проводимость основания, /- частота тока возбуждения преобразователя,

- измерительная обмотка,

- компенсационная обмотка,

- обмотка возбуждения, о и*вн - относительное вносимое напряжение измерительной обмотки вихретокового преобразователя, ф - фаза относительного вносимого напряжения, Ц*вн - амплитуда относительного вносимого напряжения.

Список литературы диссертационного исследования кандидат технических наук Ивкин, Антон Евгеньевич, 2013 год

СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ (перечень библиографических записей)

1. Андреева Е.Г., Шамец С.П., Колмогоров Д.В. Расчет стационарных магнитных полей и характеритсик электротехнических устройств с помощью программного пакета ANS YS [Книга]. - Омск : Нефтегазовое дело, 24. 02. 2005. - Омский государственный технический университет. -[http://www.ogbus.ru/authors/Andreeva/Andreeva_l.pdf].

2. Анурьев В.И. Справочник конструктора-машиностроителя [Книга] / ред. Жестокова И. Н. - [б.м.] : М. : Машиностроение, - 8-е издание, переработанное и дополненное, 2001. - В 3 томах : стр. 920.

3. Аркадьев В.К. Электромагнитные процессы в металлах [Книга]. - [б.м.] : М.: Гос-энергоиздат, 1936. - Т. 2 : стр. 312.

4. Артемьев Б.Г., Лукашов Ю.Е. Поверка и калибровка средств измерений [Книга]. - [б.м.] : М.: ФГУП «Стандартинформ», 2006. - стр. 408.

5. Бабаджанов Л.С. О единстве определения толщины покрытий. [Журнал] // Измерительная техника. - 1984 г. - №10. - стр. 11-13.

6. Бабаджанов Л.С., Бабаджанова МЛ. Метрологическое обеспечение измерений толщины покрытий [Книга].- [б.м.]: М.: Издательство стандартов, 2004. - стр. 264.

7. Бабаджанов Л.С., Николаишвили Ю.Н., Надирашвили И.А. Связь метрологической надежности мер толщины покрытий с микротвердостыо поверхности [Журнал]. - [б.м.]: Измерительная техника, 1991 г. - №11.-стр. 24-25.

8. Бакунов А.С, Герасимов В.Г, Останин Ю.А. Вихретоковый контроль накладными преобразователями [Книга]. - [б.м.] : М.: МЭИ, 1985.

9. Баташев К.П, Макаренко Н.В. Методика приготовления эталонов толщины гальванических осадков [Раздел книги] // Трубы ЛПИ. - 1957.

Ю.Бессонов Л.А. Теоретические основы электротехники [Книга]. - [б.м.] : М.: Высшая школа, 1996. - 9-е изд.

П.Бинс К., Лауренснон П. Анализ и расчет электрических и магнитных полей. [Книга]. - [б.м.] : М.: Энергия, 1970. - Пер. с англ.

12.Бромберг Э.П., Куликовский К.Л. Тестовые методы повышения точности измерений [Книга]. - [б.м.] : М.: Энергия, 1987. - стр. 176.

13.Валитов А.М, Шилов Г.И. Приборы и методы контроля толщины покрытий (справочное пособие) [Книга]. - [б.м.] : Л.: Машиностроение, 1970.

М.Вентцель Е.С. Теория вероятностей [Книга]. - [б.м.] : М.: Наука, 1969. - стр. 564.

15.Вишняков C.B., Гордюхина Н.М., Федорова Е.М. Расчет электромагнитных полей с помошыо программного комплекса ANSYS [Книга]. - [б.м.] : МЭИ (ТУ) Кафедра электрофизики, 2003.

16.Гальченко В.Я., Воробьев М.А. Структурный синтез накладных вихре-токовых преобразователей с заданным распределением зондирующего поля в зоне контроля [Журнал] // Дефектоскопия. - 2005 г. - №1. - стр. 40-46.

17.Герасимов В.Г, Клюев В.В, Шатерников В.Е. Методы и приборы электромагнитного контроля промышленных изделий. [Книга]. - [б.м.] : М.: Энергоатомиздат, 1985.

18.Герасимов В.Г, Остапнин Ю.М, Покровский А.Д. Неразрушающий контроль качества изделий электромагнитными методами. [Книга]. - [б.м.] : М.: Энергия, 1978.

19.Герасимов В.Г. Электромагнитный контроль однослойных и многослойных изделий. [Книга]. - [б.м.] : М.: Энергия, 1972.

20.Герасимов В.Г., Покровский А.Д., Сухорукое В.В. Неразрушающий контроль [Книга] / Электромагнитный контроль. - [б.м.] : М.: Высшая школа, 1992. - Т. 3 : стр. 312.

21.Гнусин Н.П., Коварский Н.Я. Шероховатость электроосажденных поверхностей. [Книга]. - Новосибирск: «Наука», сибирское отд, 1970. - стр. 235.

22.Гольдштейн Л.Д, Зернов Н.В. Электромагнитные поля и волны. [Книга]. -[б.м.] : М.: Советское радио, 1971. - изд. 2-е.

23.Гончаров Б.В. Расчет вносимых параметров ВТП с учетом размеров их катушек [Журнал] // Дефектоскопия. - 1990 г. - №1. - стр. 41-47.

24.Григулис Ю.К., Качан М.С., Цепке И.В. Воздействие мешающих факторов на показания электромагнитных приборов. [Журнал] // Дефектоскопия. - 1976 г. - 1. - стр. 85-91.

25.Джексон Дж. Классическая электродинамика [Книга]. - М.: Мир, 1965.

26.Джордж А., Лю Дж. Численное решение больших разреженных систем уравнений [Книга]. - М.: Мир, 1984. - стр. 334. - Пер. с англ.

27.Дорофеев А.Л, Любашев Г.А, Останин Ю.Я. Измерения толщины с помощью вихревых токов. [Книга]. - М.: Машиностроение, 1975.

28.Дорофеев А.Л. и др. Индукционная толщинометрия [Книга]. - М.: Энергия, 1978. - стр. 184.

29.Дорофеев А.Л., Никитин А.И, Рубни А.Л. Индукционная толщинометрия [Книга]. - М.: Энергия, 1969. - стр. 152.

30.Дякин В. В. Теория и расчет накладных вихретоковых преобразователей [Книга]. - М.: Энергоатомиздат, 1981. - стр. 135.

31.Жуков В.К. Электромагнитные методы многопараметрового неразрушающего контроля. - Электромагнитные методы измерения и контроля [Книга]. - Томск : [б.н.], 1985. - стр. 67-80. - Вып. 3.

32.Измерение, контроль, качество. Неразрушающий контроль: [Книга]. - М.: ИПК., Издательство стандартов, 2002. - Справочник.

33.Исаев Л.К, Малинский В.Д. Обеспечение качества: стандартизация, единство измерений, оценка соответствия [Книга]. - М.: ИПК. Издательство стандартов, 2001.

34.Кудрявцев Н.Т. Электролитические покрытия металлами [Книга]. - М.: Химия, 1979. - стр. 352.

35.Кулаев Ю. В. , Касимов Г. А. Анализ погрешностей вихретоковых накладных преобразователей с изменяющимися по глубине электрическими

и магнитными свойствами объекта контроля [Журнал] // Дефектоскопия. -1979 г. - №4. - стр. 63 - 68.

36.Курбатов П.А, Аринчин С.А. Численный расчет электромагнитных полей [Книга]. - М.: Энергоатомиздат, 1984.

37.Лаанеотс P.A. Методы и средства поверки толщиномеров покрытий. [Книга]. - Таллин : Валгус, 1989.

38.Лайнер В.И. Защитные покрытия металлов [Книга]. - М.: Металлургия, 1974. - стр. 560.

39.Леонов И.Г., Логачева Л.Н. О метрологическом обеспечении электромагнитных толщиномеров покрытий [Журнал] // Дефектоскопия. -1975 г.-№4.-стр. 101-103.

40.Лукьянов B.C., Рудзин Я.Л. Параметры шероховатости поверхности [Книга]. - М.: Издательство стандартов, 1979. - стр. 162.

41.Маликов М.Ф. Основы метрологии [Книга]. - М.: Металлургия, 1974.

42.Марков Н. Н. и др. Погрешность и выбор средств при линейных измерениях [Книга]. - М.: Машиностроение, 1967. - стр. 392.

43.Методы неразрушающих испытаний [Книга] / ред. Шарп Р. - М.: Мир, 1872.-стр. 494.

44.МИ 1903-97 ГСИ Меры толщины покрытий. Методика поверки.

45.Митра Р. Вычислительные методы в электродинамике [Книга]. - [б.м.] : М.: Мир, 1977.

46.Неразрушающие испытания. [Книга] / ред. Мак-Мастера Р. - М.: Энергия, 1965. - Т. Книга 2 : стр. 492. - Справочник., Пер. с англ.

47.Неразрушающий контроль Вихретоковый контроль [Книга] / ред. Клюев В. В. член кор. РАН. - М.: Машиностроение, 2003 . - Т. 2. Книга 2 : стр. 347. - Справочник.

48.Неразрушающий контроль. Радиационный контроль [Книга] / ред. Клюев В. В. чл.-корр. РАН. - М.: Машиностроение, 2003. - Т. 1., книга 2: стр. 236. -Справочник.

49.Никитин А.И, Лейзерович А.Т. Влияние перекоса накладного вихретокового преобразователя на его выходные сигналы. [Журнал] // Дефектоскопия . - 1985 г. - №6. - стр. 93-96.

50.Никитин А.И., Васютинский H.H., Днепровский В.Я.

Электроиндуктивный толщиномер с улучшенной отстройкой от влияния изменений зазора. [Раздел книги] // Электромагнитные методы контроля. -М.: [б.н.], 1969.

51.Николький В.В. Теория электромагнитного поля [Книга]. - М: Высшая школа, 1961.

52.Новицкий П.В, Зограф H.A. Оценка погрешностей результатов измерений. [Книга]. - Л : Энергоатомиздат, 1991.

53.Новицкий, П. В. и др. Цифровые приборы с частотными датчиками [Книга]. - Л : Энергия, 1970. - стр. 424.

54.Об обеспечении единства измерений: Закон Российской Федерации [Книга]. - М.: Государственные стандарты, 9 июня 1993. - стр. 56-70.

55.Плахотшок А.Н. Критерии оценки точности многопараметровых измерительных преобразователей [Журнал] // Измерительная техника. -1975 г.-№10.-стр. 22-23.

56.Потапов А.И., Сясько В.А Неразрушающие методы и средства контроля толщины покрытий и изделий [Книга]. - СПб : Гуманистика, 2009. - стр. 904. - Научное, методическое, справочное пособие.

57.Преображенский А.А, Бишард Е.Г. Магнитные материалы и элементы [Книга]. - М.: Высшая школа, 1986. - 3-е изд., перераб. и доп.

58.Приборы для неразрушающего контроля металлов и изделий. [Книга] / ред. Клюев В. В. - [б.м.] : Машиностроение, 1976. - стр. 326.

59.Родигин Н.М., Коробейникова И.Е. Контроль качества изделий методом вихревых токов [Книга]. - М.: Машгиз, 1958. - стр. 62.

60.Сегерленд Л. Применение метода конечных элементов [Книга]. - М.: Мир, 1979.

61.Соболев В,С., Шкарлет Ю.М. Накладные и экранные датчики [Книга]. -Новосибирск : Наука, 1967. - стр. 144.

62.Справочник по авиационным материалам [Книга] / ред. Александров В. Г.- М.: Транспорт, 1972. - стр. 328.

63.Сухоруков В.В. Математическое моделирование элоектромагнитных полей в проводящих средах [Книга]. - М.: Энергия, 1975. - стр. 152.

64.Сясько В.А, Ивкин А.Е.,Чертов Д.Н. Измерение толщины стенок изделий из углеродных композиционных материалов [Статья] // Дефектоскопия. -2011 г.-№8.-стр. 76-84.

65.Сясько В.А. Электромагнитная толщинометрия защитных покрытий металлических изделий [Статья] // В мире неразрушающего контроля. -2000 г. - № 4.

66.Сясько В.А. Методы и приборы измерения толщины гальванических покрытий. Вопросы применения и обеспечения достоверности [Статья] //• Гальванотехника и подготовка поверхности. - 2011 г. - №3. - стр. 42 - 52.

67.Сясько В.А. Ивкин А. Е. Способ вихретокового измерения толщины металлических покрытий [Патент] : №2456589.

68.Сясько В.А. Сканирование при вихретоковом контроле [Статья] // В мире неразрушающего контроля. - 2010 г. - № 3(49).

69.Сясько В.А., Ивкин А.Е. Методы и средства измерения толщины металлических покрытий [Статья] // Мир гальваники. - 2011 г. - № 1.

70.Сясько В.А., Ивкин А.Е. Методы и средства измерения толщины металлических покрытий [Статья] // Мир гальваники. - 2011 г. - №5.

71.Сясько В. А., Ивкин А.Е. Обеспечение достоверности результатов измерений толщины металлических покрытий магнитными и вихретоковыми методами в условиях машиностроительных производств [Статья] // Метрология. - 2011 г. - № 2. - стр. 3-12.

72.Сясько В. А., Ивкин А.Е. Вихретоковая толщинометрия неферромагнитных металлических покрытий на изделиях из цветных металлов [Статья] // Мир измерений. - 2010 г. - № 4. - стр. 18-23.

73.Сясько В.А., Ивкин А.Е. Измерение толщины покрытий из драгоценных металлов с использованием вихретокового вида контроля [Статья] // В мире неразрушающего контроля. - 2012 г. - №3.

74.Сясько В.А., Ивкин А.Е. Измерение толщины покрытий из оловянных сплавов на изделиях из цветных металлов с использованием вихретокового амплитудно - фазового метода [Статья] // Контроль. Диагностика. - 2011 г. -№5.-стр. 12-16.

75.Тозони О.В. Расчет электромагнитных полей на вычислительных машинах [Книга]. - Киев : Техника, 1977. - стр. 252.

76.Том А., Эйплит К. Числовые расчеты полей в технике и физике [Книга]. -М.: Энергия, 1964. - стр. 206.

77.Точность и производственный контроль [Книга] / ред. Кутая А.Я., Сорочкина В.М. - JI: Машиностроение, Ленинградское отделение, 1983.стр. 368. - Справочник.

78.Федосенко Ю.К. Численный анализ систем уравнений нелинейной теории многопараметрового вихретокового контроля металлических изделий [Статья] // Дефектоскопия. - 1981 г. - №7. - стр. 18-23.

79.Федотов A.B. Расчет и проектирование индуктивных измерительных устройств [Книга]. - М.: Машиностроение, 1979. - стр. 176.

80.Фетисов Г.П. и др. Материаловедение и технология металлов [Книга]. - М.: Высшая школа, 2007. - стр. 640.

81.Хусу А.Л., Витенберг Ю.Р., Пальмов В.А. Шероховатость поверхности. Теоретико-вероятностный подход [Книга]. - М.: Наука, 1975. - стр. 344.

82.Цапенко М.П. Измерительные информационные системы [Книга]. - М.: Энергия, 1974. - стр. 290.

83.Шатерников В.Е., Буров В.Н. Автоматическая обработка информации при электромагнитном контроле геометрических и электрофизических параметров изделий [Статья] // Дефектоскопия. - 1980 г. - № 6. - стр. 15-24.

84.Шлугер М. А. Гальванические покрытия в машиностроении [Книга]. -[б.м.] : М.: Машинстроение, 1985. - Т. 1 : стр. 240. - Справочник.

85.Шматко О. А. Структура и свойства металлов и сплавов [Книга]. - М.: Энергоатомиздат, 1987. - стр. 580. - Справочник.

86.Ямпольский A.M. Гальванические покрытия [Книга]. - JI: Машиностроение, 1978. - стр. 176.

87.Р50.2.006-2001 ГСИ «Государственная поверочная схема для средств измерений толщины покрытий в диапазоне 1-20000мкм».

88.РМГ 29 - 99 ГСИ Рекомендации по межгосударственной стандартизации. Метрология. Основные термины и определения [Книга]. - М.: Издательство стандартов, 2000. - стр. 46.

89.РМГ 43-2001 ГСИ. Применение «Руководство по выражению неопределенности измерений».

90.ГОСТ 18353-79 Контроль неразрушающий. Классификация видов и методов.

91.ГОСТ 19807-91 Титан и сплавы титановые деформируемые. Марки.

92.ГОСТ 24289-80 Контроль неразрушающий вихретоковый. Термины и определения.

93.ГОСТ 27333-87 Контроль неразрушающий. Измерение удельной электрической проводимости цветных металлов вихретоковым методом.

94.ГОСТ 4784-97 Алюминий и сплавы алюминиевые деформируемые. Марки.

95.ГОСТ 8.207-76 Государственная система обеспечения единства измерений. Прямые измерения с многократными наблюдениями. Методы обработки результатов наблюдений. Основные положения.

96.ГОСТ 8.362-79 Государственная система обеспечения единства измерений. Измерение толщины покрытий. Термины и определения.

97.ГОСТ 8.395-80 Нормальные условия измерений при поверке. Общие требования. - М.: Изд-во стандартов, 1980 г. - стр. 6.

98.ГОСТ 8.502-84 Государственная система обеспечения единства измерений. Толщиномеры покрытий. Методы и средства поверки.

99.ГОСТ 859-2001 Медь. Марки.

100. ГОСТ 9.008-82 Покрытия металлические и неметаллические неорганические. Термины и определения.

101. ГОСТ 9.302-88 Покрытия металлические и неметаллические неорганические. Методы контроля.

102. ГОСТ 9.303-84 Покрытия металлические и неметаллические неорганические. Общие требования к выбору.

103. ГОСТ 9.305-84 Покрытия металлические и неметаллические неорганические. Операции технологических процессов получения покрытий.

104. ГОСТ Р 53697-2009 (ISO/TS 18173:2005) Контроль неразрушающий. Основные термины и определения.

105. ГОСТ Р 8.000-2000 Государственная система обеспечения единства измерений. Основные положения. - М.: Издательство стандартов, 2000 г. -стр. 5.

106. ' ГОСТ Р 8.563-96 ГСИ Методики выполнения измерений. - М.: Издательство стандартов, 1996 г. - стр. 19.

107. ГОСТ Р ИСО 12718-2009 Контроль неразрушающий. Контроль вихретоковый. Термины и определения.

108. ГОСТ Р ИСО 15549-2009 Контроль неразрушающий. Контроль вихретоковый. Основные положения.

109. ГОСТ Р ИСО 5725 2002 Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. - М.: Изд-во стандартов, 2002 г.

110. Blitz J. Electrical and Magnetic Methods of Nondestructive Testing [Книга]. - London : Chapman and Hall, 1997.

111. Davis J.M. and M. King. Mathematic Formulas and Refferences for Nondestructive Tasting - Eddy Current. [Книга]. - Las Vegas : NV: Art Room Corporation, 2001.

112. DIN EN ISO 21968 Non-Magnetic Metallic Coatingson от Metallic and Non-Metallic Basis Materials- Measurement of Coating Thickness - Phase Sensitive Eddy Current Method [Книга].

ИЗ. http://www.defeIsko.com

114. http://www.elcometer.com

115. http://www.elektrophysik.com

116. http://www.helmut-fischer.com

117. http://www.phynix.com

118. ISO 21968. Non-magnetic metallic coatings on metallic and non-metallic basis materials - Measurement of coatings thickness - Phase-sensitive eddy-current method [Книга].

Обратите внимание, представленные выше научные тексты размещены для ознакомления и получены посредством распознавания оригинальных текстов диссертаций (OCR). В связи с чем, в них могут содержаться ошибки, связанные с несовершенством алгоритмов распознавания. В PDF файлах диссертаций и авторефератов, которые мы доставляем, подобных ошибок нет.