Управление параметрами рентгеновских дифракционных максимумов воздействием на кристаллы тепловым и электрическим полем тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 01.04.07, доктор физико-математических наук Трушин, Владимир Николаевич

• Трушин, Владимир Николаевич
• доктор физико-математических наук
• 2009

Оглавление диссертации доктор физико-математических наук Трушин, Владимир Николаевич

Основные сокращения и условные обозначения.

ВВЕДЕНИЕ

ГЛАВА 1. ИЗУЧЕНИЕ ВЛИЯНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПОЛЯ НА ДИФРАКЦИОННЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ КРИСТАЛЛОВ ГРУППЫ КОР.

1.1. Дифракция рентгеновских лучей в кристаллах при обратимых изменениях их структуры (обзор литературы).

1.2. Методика изучения влияния постоянного электрического поля на дифракционные характеристики кристаллов.

1.2.1. Исследуемые кристаллы.

1.2.2. Структурные характеристики кристаллов группы КОР.

1.2.3. Выращивание кристаллов группы КОР.

1.2.4. Экспериментальная схема изучения влияния постоянного электрического поля на дифракционные характеристики кристаллов группы КХ>Р.

1.3. Влияние электрического поля на дифракционные характеристики кристаллов группы КОР.

1.3.1. Электрорентгеновский эффект в кристаллах КОР и АЕ)Р.

1.3.2. Особенности электрорентгеновских явлений для различных индеков (Ьк1) дифракционных максимумов.

1.3.3. Влияние полярности электрического поля и температуры.

1.4. Моделирование неоднородных полей пьзодеформаций в модулях, составленных из кристаллов группы КОР.

1.5. Обсуждение результатов.

1.6. Способ модуляции рентгеновского излучения электрическим полем

Выводы к главе 1.

ГЛАВА 2. ИССЛЕДОВАНИЕ ОСОБЕННОСТЕЙ ДИФРАКЦИИ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ НА КРИСТАЛЛАХ ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ.

2.1. Влияние неоднородного нагрева кристалла на характеристики рентгеновских дифракционных максимумов кристаллов (анализ литературы).

2.2. Методика эксперимента.

2.2.1. Изучение влияния лазерного излучения на дифракционные характеристики кристаллов группы КОР.

2.3. Влияние лазерного излучения на интенсивность дифракционных максимумов кристаллов КОР и АБР.

2.4. Влияние структурных дефектов на дифракцию рентгеновских лучей в кристаллах группы КХ)Р в условиях температурного градиента, создаваемого лазерным излучением.

2.5. Влияние неоднородных температурных полей на оптические свойства кристаллов.

2.5.1. Влияние температуры и температурных полей на оптические свойства кристаллов.

2.6. Кинетика изменения двулучепреломления и дифракционных параметров кристалла ниобата лития 1Л1ЧЬОз:Си в процессе воздействия лазерного излучения на кристалл.

2.7. Обсуждение результатов.

2.8. Способ модуляции рентгеновского излучения путем лазерного воздействия на дифрагирующий кристалл.

Выводы к главе 2.

ГЛАВА 3. ТЕРМОИНДУЦИРОВАННАЯ КОРРЕКТИРОВКА СХОДИМОСТИ РЕНТГЕНОВСКИХ ПУЧКОВ.

3.1. Фокусировка рентгеновского излучения. Литературный обзор.

3.1.1. Дифракционная фокусировка с использованием изогнутых кристаллов.

3.1.2. Фокусировка с использованием многослойных структур.

3.1.3. Фокусировка преломляющими линзами.

3.1.4. Фокусировка с использованием капиллярной оптики.

3.1.5. Фокусировка с помощью Френелевских линз.

3.2. Способы изгиба поверхности фокусирующей среды.

3.3. Методика эксперимента.

3.3.1. Исследуемые кристаллы.

3.3.2. Рентгенооптическая схема изучения влияния теплового воздействия света на дифракционные параметры кристаллов.

3.4. Корректировка параметров рентгеновских максимумов кристаллов СаСОз с блочной структурой.

3.5. Корректировка параметров рентгеновских максимумов дифракционного элемента, состоящего из двух монокристаллов СаСОз

3.6. Управление дифракционными спектрами рентгеновского излучения.

3.7. Моделирование термоиндуцированной корректировки смещений

ДМ кристаллов.

Выводы к главе 3.

ГЛАВА 4. ФОРМИРОВАНИЕ ПРОСТРАНСТВЕННО-НЕОДНОРОДНЫХ РЕНТГЕНОВСКИХ ПУЧКОВ ПЕРЕМЕННОЙ ИНТЕНСИВНОСТИ (РЕНТГЕНОВСКИХ ИЗОБРАЖЕНИЙ).

4.1. Формирование рентгеновских изображений (анализ литературы)

4.2. Методика эксперимента.

4.2.1. Исследуемые кристаллы.

4.2.2. Схема формирования пространствнно неоднородных по интенсивности рентгеновских пучков (рентгеновских изображений)!

4.3. Изменение рентгенодифракционных параметров кристаллов при наличии пространственно-неоднородных температурных полей.

4.4. Формирование пространственно-неоднородных рентгеновских пучков воздействием на дифрагирующие кристаллы ИК лазером.

4.5. Формирование рентгеновских изображений воздействием оптического изображения на дифрагирующий кристалл KDP.

4.6. Моделирование контраста рентгеновских изображений формируемых тепловым воздействием света на кристалл.

4.7. Расчет разрешающей способности рентгеновских изображений.

4.8. Способы улучшения характеристик рентгеновских изображений

4.9. Формирований рентгеновских изображений при дифракции рентгеновских лучей от поверхности кристаллов, имеющих колончатую структуру.

4.10. Обсуждение результатов.

Выводы к главе 4.

ГЛАВА 5. УПРАВЛЕНИЕ ДИСПЕРСИОННЫМИ СВОЙСТВАМИ КРИСТАЛЛОВ С ПОМОЩЬ ТЕПЛОВОГО ВОЗДЕЙСТВИЯ СВЕТА НА ИХ ПОВЕРХНОСТЬ.

5.1. Дисперсионные свойства кристаллов в рентгеновском диапозоне

5.2. Методика эксперимента.

5.3. Управление дисперсионными свойствами кристаллов KDP и TGS тепловым воздействием света на их поверхность.

5.4. Управление дисперсионными свойствами кристаллов с помощью воздействия инфракрасного (ИК) лазера.

5.5. Моделирование термоиндуцированного управления дисперсионными свойствами кристаллов KDP.

Выводы к главе 5.

ГЛАВА 6. КОРРЕКТИРОВКА ПРОФИЛЯ ПОВЕРХНОСТИ ДИФРАГИРУЮЩЕГО КРИСТАЛЛА.

6.1. Методика эксперимента.

6.2. Термоуправляемое изменение радиуса кривизны поверхности кристаллов KDP и Si.

6.3. Расчет изменений радиусов кривизны модульных подложек.

6.4. Управление профилем модульных образцов с помощью изменения геометрических параметров ТЭ.

6.5. Изгиб модульного образца управляемый пьезодеформациями вставок.

Выводы к главе 6.

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Управление параметрами рентгеновских дифракционных максимумов воздействием на кристаллы тепловым и электрическим полем»

Актуальность темы исследования. Хорошо известно, что интенсивность рентгеновских дифракционных максимумов массивных идеальных кристаллов сильно отличается от интенсивности дифракционных максимумов искаженных кристаллов [1]. Это дает возможность с помощью определенных воздействий на дифрагирующий кристалл изменять рентгенодифракционные параметры кристаллов и на основе анализа этих изменения судить о структурных несовершенствах данного кристалла. Кроме того, исследование изменений рентгенодифракционных параметров кристаллов под действием внешних воздействий является перспективным направлением в создании устройств рентгеновской оптики.

В настоящее время созданы целые направления, связанные с управлением пучками рентгеновского излучения: брэгг-френелевские линзы [2, 3], многослойные интерференционные зеркала и зонные дифракционные пластинки [4 -7], рентгеновские капиллярные фокусирующие системы [8], кристаллические и многослойные монохроматоры [9]. Исследуется также возможность создания фокусирующих оптических систем на основе деформируемых кристаллов и периодических структур с переменным периодом [10, 11].

Для фокусировки рентгеновского излучения обычно используют изогнутые кристаллы, являющиеся основным элементом почти любой рентгенооптической схемы. Для придания заданной формы поверхности кристалла используют различные способы его изгиба, например упрогой деформации [12, 13], термопластического изгиба 14, 15] и др. На результат фокусировки рентгеновского излучения изогнутыми кристаллами, помимо геометрических искажений и структурных несовершенств, влияет отклонение локальной кривизны изгиба от заданной, что в значительной степени влияет на параметры рентгенооптических систем. В этом случае актуальным является развитие методов адаптивной рентгеновской оптики, позволяющих корректировать сходимость рентгеновских пучков путем управления профилем изгиба кристалла или (и) локальным изменением параметров его решетки. Решение данной задачи открывает новые возможности для развития управляемой рентгеновской оптики, например, можно было бы модулировать рентгеновское излучение, т.е. получать эффекты, аналогичные оптическим [16].

Привлекательной является идея внешнего управления дифракционной средой. Это позволяет непрерывно изменять параметры дифракционного максимума и возвращать среду в исходное состояние за счет обратимого воздействия. Реализация идеи управления параметрами среды существенно затруднена целым рядом причин, в частности необходимо отобрать такие типы воздействий и такие среды, которые приводили бы к заметным эффектам на дифракционной картине, не достаточно проработана также и теория рассеяния на монокристаллах с нарушениями кристаллической структуры.

В качестве внешних воздействий, обратимо изменяющие структуру кристаллов, могут быть поверхностные акустические волны [17 - 23], наложение внешнего электрического поля [А1 — АЗ], облучение кристалла лазерным пучком [А4 - А9] и др.

Общая цель диссертационной работы заключается в исследовании и развитии экспериментальных подходов к управлению рентгеновским излучением с помощью воздействия на кристаллы тепловыми и электрическими полями.

Для достижения этой цели возникла необходимость решения следующих задач:

1. Исследовать влияние внешних воздействий на характеристики рентгеновских дифракционных максимумов кристаллов. На основе проведенных исследований разработать способы управления интенсивностью рентгеновского излучения;

2. На основе анализа зависимостей влияния электрического поля и лазерного излучения на интенсивность дифракции рентгеновских лучей в реальных кристаллах попытаться найти подходы к использованию полученных результатов для контроля качества кристаллов;

3. Исследовать возможность термоиндуцированного управления угловым рассогласованием рентгеновских дифракционных максимумов кристаллов. Разработать способы корректировки сходимости рентгеновских пучков;

4. Исследовать возможность формирования пространственной структуры рентгеновских дифракционных пучков (рентгеновских изображений) тепловым воздействием света на дифрагирующий кристалл;

5 . Исследовать влияние теплового воздействия света на дисперсионные свойства кристаллов, разработать способы управления их дисперсионными свойствами.

6. Разработать принципы построения элементов адаптивной рентгеновской оптики. Разработать способы корректировки профиля изгиба поверхности дифракционных элементов с использованием тепловых и электрических полей.

В качестве основных методов исследования нами применены методы рентгеновской дифрактометрии, эллипсометрии, рентгеновской топографии и компьютерного моделирования.

Научная иовизна работы заключается в том, что в ней развит новый подход к управлению рентгеновским излучением на основе влияния постоянного электрического поля, лазерного излучения и теплового воздействия света на параметры дифракционных максимумов кристаллов. Разработаны новые способы модуляции интенсивности рентгеновского излучения, изменение дисперсионных свойств кристаллов, формирования пространственной структуры рентгеновских пучков и их сходимости.

В диссертационной работе впервые изучены и решены следующие вопросы:

1. Получены значительные обратимые изменения интенсивности дифракционных рентгеновских максимумов (А1/10 до 500%) при непосредственном приложении модулирующего электрического поля к электродам на гранях кристалла.

2. Получены и описаны обратимые изменения интенсивности рентгеновских дифракционных максимумов при облучении массивных монокристаллов лазерным излучением малой мощности.

3. Разработаны способы модуляции рентгеновского излучения путем воздействия на кристалл электрического поля и лазерного излучения.

4. Предложен новый подход к методам контроля совершенства кристаллов, который основан на закономерностях влияния лазерного излучения и электрического поля на дифракцию рентгеновских лучей в кристаллах с разной плотностью дислокаций.

5. Показана возможность и разработан новый способ корректировки сходимости рентгеновских пучков путем управления искажением решетки кристалла с помощью теплового воздействия света на его поверхность.

6. Разработан способ формирования пространственной структуры рентгеновских дифракционных пучков, отраженных от поверхности кристаллов, (рентгеновских изображений) при освещении поверхности пространственно модулированным по интенсивности световым пучком, позволяющим, в частности, локализовано воздействовать на биологическую ткань.

7. Показана возможность увеличения разрешающей способности рентгеновских изображений при дифракции рентгеновских лучей на кристаллах, имеющих колончатую структуру поверхности.

8. Показано, что путем управления профилем светоиндуцированной тепловой деформации кристалла можно изменять его ширину кривой дифракционного отражения. Разработаны методы управления шириной кривой дифракционного отражения кристалл-монохроматоров, профиль тепловой деформации, на поверхности которых создается с помощью полупроводниковых ИК лазеров и оптического излучения видимого диапазона.

9. Разработаны оригинальные способы корректировки профиля изгиба поверхности дифракционных элементов, осуществляемые локальными изменениями радиусов кривизны модульной подложки.

Практическое значение работы. Результаты проведенных исследований могут быть использованы: для получения рентгеновских пучков переменной интенсивности с целью передачи информации сквозь экраны, сделанные из материалов, непроницаемых для других видов электромагнитных волн; в методах интегральной диагностики совершенства кристаллов; в системах рентгеновской фокусирующей оптики для корректировки сходимости рентгеновских пучков; в рентгеновской спектроскопии и дифрактометрии для управления дисперсионными свойствами кристаллов; в радиологии для формирования пространственно неоднородного распределения интенсивности в рентгеновском пучке с целью локализованного и дозированного воздействия на биологическую ткань.

Основные положения выносимые на защиту:

1. Электрорентгеновский эффект, заключающийся в значительном (до 500%) обратимом изменении интенсивности дифракционных рентгеновских максимумов при воздействии на кристаллы дигидрофосфата калия (КОР) и дигидрофосфата аммония (АБР) электрического поля. Новый способ управления интенсивностью рентгеновского излучения путем воздействия на кристалл электрическим полем.

2. Эффект модуляции дифрагированного рентгеновского излучения при воздействии на кристаллы КОР и АБР промодулированным лазерным излучением малой мощности (~ 10 мВт). Новый способ управления интенсивностью рентгеновского излучения путем воздействия на дифрагирующий кристалл лазерным излучением малой мощности.

3. Метод контроля качества кристаллов, основанный на анализе зависимостей влияния теплового воздействия лазерного излучения на интенсивность дифрагированных рентгеновских лучей в реальных кристаллах.

4. Новый способ корректировки сходимости рентгеновских пучков путем управления тепловым воздействием светового пучка на поверхность кристалла.

5. Способ формирования пространственной структуры дифрагированного кристаллом рентгеновского пучка при освещении поверхности кристалла пространственно модулированным по интенсивности световым пучком. Метод управления шириной кривой дифракционного отражения кристаллов.

Личный вклад автора

Автором выполнены описанные в работе методические разработки и их техническая реализация. Рентгенодифракционные измерения проведены самим автором. Оптические измерения проведены совместно с Жолудевым А. А. Приведенные в работе результаты моделирования, получены совместно с Маркеловым A.C.

Апробация работы. Основные результаты диссертационной работы докладывались на следующих конференциях: XII Европейской кристаллографической конференции (Москва, 1989 г.), IV Всесоюзном совещании по когерентному взаимодействию излучения с веществом (Юрмала 1989 г.), Всероссийских научных чтениях, посвященных памяти академика Н.В. Белова (Н. Новгород 1992 г., Н. Новгород 1997 г., Н. Новгород 2000 г., Н. Новгород 2003 г., Н. Новгород 2004 г., Н. Новгород 2005 г., Н. Новгород 2008 г.), Итоговой конференции ГИФТИ (Горький, 1988 г.), Всесоюзной конференции по структуре и свойствам кристаллических и аморфных материалов. (Н. Новгород, 1996 г), Национальной конференции по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов. (Дубна, 1997 г), XVIII European Crystallographic Meeting ЕСМ-18, (Прага, 1998), Международной научно-технической конференции по конверсии, приборостроению и медицинской техники (Владимир, 1999 г.), Национальной конференции по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов (Москва, 1999 г.), Совещаниях, по рентгеновской оптике (Н. Новгород 2001 г., Н. Новгород, 2002 г., Н. Новгород, 2003 г. Н. Новгород, 2004 г.), XV Международном совещании «Рентгенография и кристаллохимия минералов» (Санкт-Петербург, 2003 г.), IV Национальной конференции по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов (Москва, 2003 г.), Международной конференции «Single crystals and their application in the 20 century» (Александров, 2004 г.), Совещаниях по нанофизике и наноэлектроника (Н. Новгород, 2005 г., Н. Новгород, 2006 г, Н. Новгород, 2007, Н.Новгород, 2008, Н. Новгород, 2009), V Национальной конференции по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов (Москва, 2005 г.),

Третьем международном научном семинаре по современным методам анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) (Великий Новгород, 2006 г), Третьей международной конференции по физике кристаллов «Кристаллофизика 21-го века» (г. Черноголовка 2006), VI Национальной конференции по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов (Москва, 2007 г.)

Публикации. Основное содержание диссертации отражено в 71 работах, из них 33 статьи в центральных научных журналах, 38 публикации в материалах симпозиумов, конференций и семинаров. По материалам работы получено два авторских свидетельства на изобретение, два патента на изобретение.

Настоящая работа выполнена на кафедре кристаллографии и экспериментальной физики Нижегородского государственного университета им Н.И. Лобачевского и лаборатории N8 Нижегородского физико-технического института в рамках темы НИР «Исследование структуры и свойств кристаллических и аморфных материалов оптоэлектроники в зависимости от условий получения и их модификация с помощью радиационных воздействий с целью создания приборов оптоэлектроники», «Разработка новых методов исследования совершенства кристаллов на основе электрорентгеновских и опторентгеновских явлений», «Модуляция электромагнитного излучения рентгеновского диапазона кристаллами при воздействии на них лазерного излучения и электрического поля», «Исследование термодифракционных свойств кристаллов и разработка нового рентгеновского метода исследования их реального строения», «Исследование физических основ управления рентгеновским излучением методами электромагнитных воздействий на дифрагирующий кристалл».

Структура и объем диссертации. Диссертация состоит из введения, шести глав, заключения и списка литературы. Она содержит 284 страницы, включая 97 рисунков и 11 таблиц. Список цитированной литературы насчитывает 187 наименования.

Заключение диссертации по теме «Физика конденсированного состояния», Трушин, Владимир Николаевич

ОСНОВНЫЕ РЕЗУЛЬТАТЫ И ВЫВОДЫ

1. Исследовано влияние постоянного электрического поля и лазерного излучения малой мощности (~10 мВт) на характеристики рентгеновских дифракционных максимумов (РДМ) ряда кристаллов. На основе проведенных исследований разработаны способы управления интенсивностью рентгеновского излучения.

2. Исследована зависимость влияния лазерного излучения малой мощности на интенсивность рассеяния рентгеновских лучей в реальных кристаллах. Установлено, что величина относительного изменения интегральной интенсивности РДМ зависит от степени совершенства области дифракции и является ее интегральной характеристикой. Разработан новый метод контроля качества кристаллов.

3. Предложен способ корректировки углового положения ДМ кристаллов путем теплового воздействия света на их поверхность. Диапазон изменения углов ДМ зависит от термоупругих свойств кристаллов. Для кристалла кальцита ДО (228) смещение максимума составило ~ 4 угл. сек./град.

4. Исследовано изменение пространственной структуры рентгеновских дифракционных пучков при освещении поверхности кристаллов пространственно модулированным световым пучком. Образуемый на пленке контраст рентгеновских изображений зависит от распределения светоиндуцированного температурного поля в дифрагирующей области кристалла, от положения рабочей точки на кривой дифракционного отражения и функционально связан с оптическим изображением, формируемым на поверхности кристалла. Разработан метод получения рентгеновских изображений.

5. Проведен расчет разрешающей способности полученных рентгеновских изображений, которая составила ~3 пары линий на мм. Оценена экспериментальная разрешающая способность рассматриваемого метода формирования изображений, которая составила ~2,5 пары линий на мм, что согласуется с рассчитанной разрешающей способностью.

6. Показана возможность увеличения разрешающей способности рентгеновских изображений с использованием колончатых структур. Разрешающая способность рентгеновских изображений в этом случае определяется геометрическими параметрами колонок, и теоретически может составлять более 30 п.л/мм.

7. Исследована зависимость изменения полуширины дифракционных максимумов кристаллов дигидрофосфата калия (КОР) и триглицинсульфата (ТОБ) от величины светоиндуцированного изменения температуры их поверхности. Для кристаллов КОР получено изменение полуширины 4,5 угл. сек./град., в интервале температур 20°С - 52°С.

8. Экспериментально показана возможность создания дифракционных элементов с управляемыми профилями кривизны их поверхности, которые можно использовать для корректировки сходимости рентгеновских пучков. Показано изменение полуширины кривой дифракционного отражения от -140 угловых секунд до -30 угловых секунд.

252

Список литературы диссертационного исследования доктор физико-математических наук Трушин, Владимир Николаевич, 2009 год

1. Джеймс, Р. Оптические принципы дифракции рентгеновских лучей / Р. Джеймс -М.: Изд-во Ин. лит., 1950. - 572 с.

2. Аристов, В.В. / В.В.Аристов и др. // Письма в ЖЭТФ. 1986. - Т.44, В.4.-С. 207.

3. Аристов, В.В. Экспериментальное обнаружение фокусировки рентгеновских лучей при брэгговской дифракции на совершенном кристалле с зонной структурой Френеля /В.В. Аристов, Ю.А. Басов, A.A. Снигирев // Письма в ЖТФ.- 1987.-Т. 13, вып. 2.-С. 114-118.

4. Мишетт, А. Оптика мягкого рентгеновского излучения: Пер. с англ. / А. Мишетт-М.: Мир, 1989.-351 с.

5. Snigirev, А,А / A.A. Snigirev et al.'J //Nature. 1996. - V.384. - P. 49-51.

6. Аристов, В.В. Рентгеновская оптика / В.В. Аристов, А.И. Ерко М.: Наука, - 1991.- 150 с.

7. Асадчиков, В.Е. / В.Е. Асадчиков и др. // Кристаллография. 1999 - Т. 44. - с. 592.

8. Kumakhov, M.F. / M.F. Kumakhov // Proc. SPIE. 2000. - 4155. - 2.

9. Рентгеновская зеркальная оптика / A.B. Виноградов и др. — Ленинград: Машиностроение, 1989.-463 с.

10. Андреев, A.B. Фокусировка пучков при отражении от кристаллов и многослойных периодических структур с переменным периодом. / A.B. Андреев // Письма в ЖЭТФ. 2001. - Т.74, вып. 1. - С. 8-11.

11. Rushnir, V.I. / V.I. Rushnir, E.V. Suvorov, K. Mukhin // Solid State Phys. -1980.-V.22.-P. 2135-2143.

12. Ахсахалян, А.Д. / А.Д. Ахсахалян и др. // Сб. трудов Всероссийского совещания «Рентгеновская оптика», Н.Новгород, ИФМ РАН. 1998. - С. 189.

13. Ахсахалян, А.А. / А.А. Ахсахалян и др. // Материалы совещания «Рентгеновская оптика», 2001 г, Н.Новгород, ИФМ РАН. 2001. - С. 170.

14. Пространственные модуляторы света / А.А. Васильев и др.. — М.: Радио и связь, 1987. — 320 с.

15. Roshchupkin D.V. Surface Acoustic Wave Interaction with Regular Domain Structures in the LiNbC>3 Crystals / D.V. Roshchupkin и др. // Ferroelectrics Letters. 1995.-V. 19.-P. 139-144.

16. Рощупкин, Д.В. / Д.В. Рощупкин и др. // Материалы всероссийского совещания «Рентгеновская оптика», Нижний Новгород. 1999. - Т.1. - С. 83.

17. Shilo, D / D. Shilo et al. // Synchrotron Rad. News. 2002. - VI5. - P. 17.

18. Zolotoyabko, E / E. Zolotoyabko // Rev. Sc. Instruments. 2004. - V.75. -P. 699.

19. Носик, В. JI. / В. Л. Носик, М.В. Ковальчук // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2000. - Т,1. — С.91.

20. Благов, А.Е. Исследование возможностей управления рентгеновским пучком с помощью кристалла, подвергнутого длинноволновым ультразвуковым колебаниям / А.Е. Благов и др. // ЖЭТФ. 2005. — Т. 128, вып. 5(11).-С. 893-903.

21. А. Е. Благов. Динамическое изменение параметра решетки кристалла с помощью ультразвука в рентгенодифракционных экспериментах / А.Е. Благов и др. // Кристаллография. 2006. - Т. 51, вып. 5. — С. 701-706.

22. Bocuf, A. X-ray diffraction characteristics of cirved monochromators for synchrotron radiation / A. Bocuf et al. // J. Appl. Crystallogr. 1978. — V.l 1, N5.-P. 442-448.

23. Alsertlni, Q. Evidence for the fanlcuchen effect In neutron diffraction by curved crystals / Q. Alsertlni, A. Bocuf, S.A.Laqomarsino // Acta Cryst, 1977.1. A.33, N 2. P. 360-365.

24. Bocuf, A. Neutron focislng experiment in the fankuchen effect for curved crystals / A. Bocuf, S. Melone, F.A. Riifstlchelli // J. Appl. Grystallogr. 1979.1. V.12, N1. —P. 275-278.

25. Любимов, А.Г. Модель мозаичного кристалла с динамически рассеивающими блоками / А.Г. Любимов // Кристаллография. 1991, -Т.36, вып. 5.-С. 1102-1108.

26. Даценко, Л.И. Динамическое рассеяние рентгеновских лучей реальными кристаллами. / Л.И.Даценко, В.Б.Молодкин, М.Е. Осиновский -Киев: Наукова думка, 1988. — 260 с.

27. Дарбинян, С.П. Решение обратной задачи рентгеновской дифракции в слоистых структурах в динамическом случае / С.П. Дарбинян, П.В. Петрашень, Ф.Н. Чуховский // Кристаллография. 1992. - Т.37, вып.4. - С. 864-862.

28. Никольский, И.А. Экспериментальное исследование интерференционных эффектов при дифракции рентгеновских лучей в изогнутом кристалле с дислокацией. / И.А. Никольский, П.В. Петрашень // Металлофизика. 1988. - Т. 10, N. 5. - С.49-52.

29. Тихонова, Е.А. Динамическое рассеяние на эквидистантных изогнутых отражающих плоскостях / Е А. Тихонова // Металлофизика. 1980. - Т.2, вып. З.-С. 34-43.

30. Кютт, P.H. Брэгговская дифракция рентгеновских лучей в кристаллах с дислокациями / Р.Н. Кютт // Кристаллография. 1988. — Т. 33, вып. 4. — С. 827-830.

31. Бушуев В.А. Статистическая динамическая теория дифракции рентгеновских лучей в несовершенных кристаллах с учетом углового распределения интенсивностей // Кристаллография. — 1989. Т. 34, вып. 2.- С. 279-287.

32. Takagi, S. Dynamical theory of diffraction applicable to crystals with any kind of small distortions / S.Takagi // Acta cryst. 1962. - V.15, N12. - P. 1311-1323.

33. Чуховский, Ф.Н. Динамическое рассеяние рентгеновских лучей в упруго-изогнутых кристаллах / Ф.Н. Чуховский // Металлофизика. 1981.- Т.З, вып. 5 С. 3-30.

34. Петрашень, П.В. Динамическое рассеяние рентгеновских лучей в кристалле с постоянным градиентом температур / П.В.Петрашень, Ф.Н. Чуховский // ЖЭТФ. 1975. - Т. 1, вып. 2(8) - С. 477-487.

35. Чуховский, Ф.Н. Динамическое рассеяние рентгеновских лучей в упруго изогнутых кристаллах. 1. Лауэ-дифракция / Ф.Н. Чуховский // Металлофизика. 1980. - Т. 2, №6 - С. 3-27.

36. Петрашень, П.В. Эффект дифракционной фокусировки рентгеновских лучей в упруго изогнутом кристалле / П.В. Петрашень, Ф.Н. Чуховский // ЖЭТФ. 1975. - Т. 1, вып. 2(8) - С. 477-487.

37. Zachariasen, W.H. A get theory X ray diffraction In crystals / W.H. Zachariasen // Acta Cryst. - 1967. - V. 23, N. 4. - P. 558 - 564.

38. Becker, P. The theoretical models of extinction their domain of applicability

39. P. Becker // Acta Cryst. 1977. - V. 33, N.5. - P. 243-249.

40. Mazzone, G. Extinction theory for a plane parallel mosaic crystal In transmission / G. Mazzone // Acta Cryst. - 1981. - V.37, N. 3. - P. 391-397.

41. Молодкин, Б.Б. Классификация дефектов кристалла по их влиянию на дифракцию излучений в рамках динамической теории рассеяния (АН УССР, ин-т металлофизики. Препринт 76.4) / Б.Б. Молодкин Киев, 1976. -С.43.

42. Кривоглаз, М.А. Теория рассеяния рентгеновских лучей и медленных нейтронов искаженными кристаллами / М.А. Кривоглаз — М.: Наука, 1967. -336 с

43. Олехнович, Н.М. Интегральные характеристики дифракции рентгеновских лучей в монокристаллах с хаотическим распределением дислокаций / Н.М. Олехнович // Металлофизика. 1986. - Т. 8, вып. 1. — С. 48-53.

44. Кривоглаз, М.А. К теории рассеяния рентгеновских лучей кристаллами, содержащими дефекты / М.А. Кривоглаз // ФММ. — 1961. Т. 12, вып. 4. -С. 465-475.

45. Кривоглаз, М.А. Применение рассеяния рентгеновских лучей тепловых нейтронов для исследования несовершенств в кристаллах (АН УССР, ин-т металлофизики. Препринт 74.5) / М.А. Кривоглаз Киев, 1974. - С. 47.

46. Хрупа, В.И. Влияние структурных искажений на пространственное распределение интенсивности дифрагированного пучка в условиях рентгеноакустического резонанса / В.И. Хрупа, И.Р. Энтин // ФТТ. 1991. -Т. 33, вып. 6.-С. 1821-1825.

47. Ассур, К.П. Влияние ультразвуковых колебаний на динамическую дифракцию рентгеновских лучей в геометрии Брэгга / К.П. Ассур, Н.Р. Энтин // ФТТ. 1982. - 1.24, вып. 7. - С. 2122-2129.

48. Даценко, Л.И. Дифрактометрическое исследование интегральных характеристик микродефектов с использованием рентгеноакустическогорезонанса / Л.И. Даценко и др. // Металлофизика. 1992. - Т. 14, вып. 9. -С. 55-60.

49. Папоян, A.A. Экспериментальное исследование дифракции рентгеновских лучей на однородно-изогнутом кристалле в случае Брэгга. / A.A. Папоян, Г.М. Аладжян, П.А. Безиргонян // Кристаллография. i960. -Т. 25, вып. 2.-С. 391-393.

50. Безиргонян, П.А. Экспериментальное исследование дифракции рентгеновских лучей в однородно — изогнутом кристалле в случае Лауэ. / П.А. Безиргонян, A.A. Папоян, Г.М. Аладжян // Кристаллография. 1980. -Т. 25, вып. 4.-С. 850-852.

51. Frmov, N.A / N.A. Frmov, Y.Y. Voronov, Yu.S. Kuzminov // Ferroelectrics. 1978. - V. 22, № 1-2. - P. 337-345.

52. Фетисов, Г.В. / Г.В.Фетисов, С.Г.Жуков, Л.А.Асланов // Письма в ЖТФ. 1989. - Т. 15. - вып. 10. - С. 13-15.

53. Безиргонян, P.A. Влияние пьезоэлектрических колебаний кристаллической решетки на интенсивность проходящего пучка рентгеновских лучей / P.A. Безиргонян, В.И. Авуджян // Изв. АН Арм. ССР. Сер. физика. 1966.-Т. 1, № 3. - С. 147.

54. Безиргонян, P.A. Влияние пьезоэлектрических колебаний кристаллической решетки на интенсивность рассеяния рентгеновских лучей во втором приближении / P.A. Безиргонян, В.М. Авуджян // Изв. АН Арм. ССР. Сер. физика. 1967.-Т. 1,№4.-С. 277.

55. Безиргонян, Р.А. Рассеяние рентгеновских лучей кристаллической решеткой, подвергнутой пьезоэлектрическим колебаниям. / Р.А. Безиргонян. В.И. Авуджян // Изв. АН Арм. ССР. Сер. физика. 1967. - Т. 2, вып. 4. - С. 244.

56. Навасардян, М.А. Модуляция дифрагированного рентгеновского излучения в низкочастотном диапазоне с целью передачи сигналов / М.А. Навасардян, Ю.Р. Назарян, В.К. Мирзоян // Изв. АН. Арм. ССР. Сер физика. 1979. - Т. 14, вып. 6. - С. 423-425.

57. Лапин, Е.Г. Эффект пьезоквазимозаичности при дифракции рентгеновского излучения / Е.Г. Лапин и др. // ЖЭТФ. — 1977. — Т. 73, вып. З.-С. 1016-1024.

58. Пинскер, З.Г. Рентгеновская кристаллооптика / З.Г. Пинскер // — М.: Наука, 1982.-340 с.

59. Кочарян, Л.А. Двойная модуляция дифрагированного в монокристалле кварца рентгеновского излучения поверхностными высокочастотными акустическими волнами / Л.А. Кочарян и др. // Изв. А.Н. Арм. ССР, физика. 1986. - Т. 21, вып. 6. - С. 317-319.

60. Способ и устройство для контроля и анализа рентгеновского излучения. Патент США N3.991309. 1976.- С.250 272.

61. М.В. Балахонов, В.И. Пустовайт. Способ модуляции излучения и устройство для его реализации. А„С. N728166, опубл. 1980.

62. М.В. Балахонов, В.И. Пустовайт. Способ модуляции излучения А.С. N 1010661, публ. 1983.

63. Fujimoto, I. Electric-Field- Induced Ionic Displacement and Redistribution of Bonding Electrons In LiNb03 and ЫТаОз. Revealed by Modulation X ray Diffraction / I. Fujimoto // Acta Crystallography. - 1982. - V.38, N3. - P. 337345.

64. Пунегов, В.И. Диффузное рассеяние рентгеновских лучей от кристалла, промодулированного поверхностной акустической волной / В.И. Пунегов и др. // Письма в ЖТФ. 2007. - Т. 33, № 6. - С. 33.

65. Рощупкин, Д.В. Электронно-микроскопические и рентгеновские методы исследования акустических волновых полей в пьезоэлектрических кристаллах / Д.В. Рощупкин, Д.В. Иржак // Нано- и микросистемная техника. 2007. - №3 - 4. С. 40.

66. Белюстин, A.B. Об изменчивости скоростей роста дипирамиды кристаллов КН2РО4 / A.B. Белюстин, Н.С. Степанова, И.М. Левина // Кристаллография. 1988. - Т. 33, вып. 5. - С. 1326-1328.

67. Левина, И.М. Об оценке коэффициентов массопереноса при растворении кристаллов KDP / И.М. Левина, A.B. Белюстин, Н.С. Петрушкииа // Кристаллография. 1983. - Т. 28, вып. 3. — С. 618-620.

68. Степанова, Н.С. Влияние условий образования на реальное строение кристаллов KDP / Н.С. Степанова и др. // Сб. Рост кристаллов. — 1977. -Т. 12, вып. 1.-С. 129-132.

69. Блистанов, A.A. Акустические кристаллы. Справочник. / A.A. Блистанов, B.C. Бондаренко, В.В. Чкалова. — М.: Наука, 1982. — 632 с.

70. Фишман, Ю.М. Рентгенотопографическое исследование дислокаций, возникающих в кристалле KDP при росте их из раствора / Ю.М. Фишман // Кристаллография. 1972. - Т. 17, вып. 3. - С. 607-611.

71. Helmholz, L. The crystal structure of silver phosphate / L. Helmholz // Y. Chem.phys. 1936. -V.4, N2. - P. 316-322.

72. Рашкович, Л.Н. Влияние кислотности раствора на кинетику роста кристаллов KDP / Рашкович Л.Н., Молдажанова Г.Т. // Кристаллография. -1994. Т. 39, №1. - С. 135-140.

73. Ефремова, Е.П. Влияние pH на рост и свойства кристаллов KDP / Е.П. Ефремова // Кристаллография. 1993. - Т. 3 8, №5 - С.171-181.

74. Степанова, Н.С. Растрескивание кристаллов дигидрофосфата калия, содержащих коллоидные включения / Н.С. Степанова, A.B. Белюстин // Неорганические материалы. — 1975. Т. 11, №8. - С. 1457-1460.

75. Пунегов, В.И. Влияние дефектов структуры на угловое распределение рентгеновской Лауэ-дифракции в тонком кристалле / В.И. Пунегов, K.M. Павлов // Письма в ЖТФ. 1992. - Т. 18, вып. 12. - С. 60-64.

76. Хрупа, В.И. Рентгеновская динамическая дифракция в кристаллах содержащих динамическое и статическое искажение / В.И. Хрупа // Металлофизика. 1991. - Т. 13, вып. 6. - С. 49-77.

77. Иверонова, В.И. Теория рассеяния рентгеновских лучей. / В.И. Иверонова, Г.П. Ревкевич. М.: Изд-во МГУ, 1978. - 278 с.

78. Ландау, Л.Д, Теоретическая физика. Т. 6. / Л.Д. Ландау, Е.М. Лившиц. — М.: ФИЗМАТЛИТ, 2003: 264 с.

79. Borrmann, G. Über Exinktion der öntgenstrahlen von Quarz / G. Borrmann // Physik Zeit. 1941. - Bd. 42, N 9/10. - S. 157-162.

80. Borrmann, G. Die Absorption von Röntgenstrahlen im Fall der Interferenz / G. Borrmann // Zeit. Phys. 1950^ - Bd. 127, N 4. - S. 297-323.

81. Borrmann, G. Röntgenstrahl-Facher im Kalkspat / G. Borrmann, G. Hildebrandt, H. Wagner // Zeit. Phys. 1955. - Bd. 142, N 3. - S. 406-414.

82. Authier A. Dynamical theory of X-ray diffraction. Oxford University Press, 2004. 676 p.

83. Ishii, Z. X-ray observation of the strain field in germanium single crystals with the use of the anomalous transmission / Z. Ishii, K. Kohra // J. Phys. Soc. Japan.- 1959.-V. 14,N9.-P. 1250-1251.

84. Безиргонян, П.А. Рассеяние рентгеновских лучей в кристаллах при температурном градиенте / П.А. Безиргонян // ЖТФ. 1967. - Т. 37. — вып. 6.-С. 1123-1126.

85. Безиргонян, П.А. Рассеяние рентгеновских лучей в кристаллах при температурном градиенте с учетом тепловых колебаний / П.А. Безиргонян // ЖТФ. 1967. - Т. 37, вып. 12. - С. 2218-2221.

86. Навасардян, М.А. Влияние температурного градиента на интенсивность рентгеновских рефлексов / М.А. Навасардян, Р.К. Караханян, П.А. Безиргонян. // Кристаллография. 1970. - Т. 1'5, вып. 2. — С. 235-239.

87. Агранович, В.М. Кристаллооптика с учётом пространственной дисперсии и теории экситонов / В.М. Агранович, B.JI. Гинсбург — М.: Наука.-1979.-432 с.

88. Жданов, Г.С. Основы рентгеновского структурного анализа / Г.С. Жданов. М.: Гостехиздат, 1940. - 446 с.

89. Кузьминов, С. Электрооптический и нелинейнооптический кристалл ниобат лития / С. Кузьминов М.: Наука, 1987. - 264 с.

90. Фридкин, В.М. Фотосегнетоэлектрики / В.М. Фридкин. М.: Наука, 1979-174 с.

91. Chen F.S. //J.Appl.Phys.-1969.- V.40, P.3389.

92. Рыбкин, С.М. Фотоэлектрические явления в полупроводниках. / С.М. Рывкин. — Физматгиз, 1963. 496 с

93. Абрамов, Н.А. Локальная фоторефракция и фоторефракция в кристаллах ниобата лития /

94. Ярославский, Л.П. Цифровая голография. / Л.П. Ярославский, Н.С. Мерзляков. -М.: Наука, 1982 220 с.

95. Gunter, Ed. Photorefractive materials and their applications. I Fundamental Phenomena / Ed. Gunter, P.J.P. Huignard. — Berlin, etc.: Springer, 1988. — P. 295.

96. Абрамов H.A., Воронов B.B. Локальная фоторефракция и фоторефракция в кристаллах ниобата лития //ФТТ.~ 1979.-Т.21, вып. 4,-С.1234- 1236.

97. Авакянц, Л.П. Фотоупругость LiNbC>3 / Л.П. Авакянц, Д.Ф. Кисилев, Н.Н. Шитов//ФТТ.- 1976.-Т. 18, №6. -С. 1547-1550.

98. Суворов Э.В. Физические основы современных методов исследования реальной структуры кристаллов. Черноголовка. 1999. — 231с.

99. Hildebrandt, G. Gekrammte rontgenstrahlen in schwach verformten kristallgitter Laue-Fall des Interferenz / G. Hildebrandt // Zeit. Kristallograph. -1959.-Bd. 112, N 1 S. 312-361.

100. Андреев, A.B. Фокусировка рентгеновского излучения с помощью деформированных кристаллов / A.B. Андреев, A.A. Коновко // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. -2003. — № 1.-С. 28-32.

101. Johann, H. Die Erzeugung lichtstarker Röntgenspektren mit Hilfe von Konkavkristallen / H. Johann // Z. Physik. 1931. - B. 60. - S. 185.

102. Tourillon G., Dartyge E., Fontaine A., Jucha A.,// PRL, 603, 1986.

103. Скадоров, B.B. Фокусировка рентгеновского излучения изогнутыми кристаллами. / В.В. Скадоров, С.И. Тютюнников // Тезисы докладов международной научной конференции ФТТ-2003. — 2003. — С. 274.

104. Молодкин В. Б., Шевченко М. Б. // Металлофиз. и нов. технол. 11, 1996, Т. 18, С.50-64

105. Молодкин В. Б., Шевченко М. Б., Побидайло О. В. // Металлофиз. и нов. технол. N 5, 2002, Т.24, С.639-652.

106. Гынгазов Л. Н., Тютюнников С. И. // Препр. Р14-99-277, 1999, С.14

107. Мазурицкий, М. И. Моделирование ступенчатой поверхности рентгеновского дифрактора высокого разрешения / М. И. Мазурицкий и др. // Письма в ЖТФ. 2000. - № 12, Т. 26. - С. 15-22.

108. Мазурицкий, М. И. Новый светосильный ступенчатый дифрактор для рентгеновского микроанализа / М. И. Мазурицкий и др. // Письма в ЖТФ. 2001. -№ 1, Т. 27. - С. 24-30.

109. Чен, Т. О фокусировке сферической рентгеновской волны при обратном рассеянии кристаллом, изогнутым в форме параболического цилиндра/Т. Чен // Письма в ЖТФ. 2002. - № Ю, Т. 28. - С. 41-45.

110. Чен, Т. Чувствительность дифракционной фокусировки рентгеновских лучей к межплоскостному рассогласованиюпри обратном рассеянии в изогнутом кристалле с эпитаксиальной пленкой / Т. Чен // Письма в ЖТФ. 2003. - №3, Т. 29. - С. 89-94.

111. Чен, Т. К вопросу о фокусировке сферической рентгеновской волны при обратном рассеянии двухосно-изогнутым кристаллом / Т. Чен // ЖТФ. 2002. - №6, Т.72. - С. 1-6.

112. Bouman, Ed. J. De Wolff P.M. Selected Topics on X-ray Crystallography / Ed. J. Bouman. Amsterdam: Morth Holland Publ, Co., 1951.

113. Габриелян, K.T О дифракционной фокусировке рентгеновского излучения «плоская волна точка» двухосно изогнутым кристаллом / К.Т Габриелян и др. // Письма в ЖЭТФ. - 1987. - Т. 46, вып. 10. - С. 411-413.

114. Габриелян К.Т., Чуховский Ф.Н., Пискунов Д.И. // ЖЭТФ, 1989, т.96, вып.3.(9), с.834-846.

115. Габриелян, К.Т. Рентгеновские спектрометры на отражение с вертикальной фокусировкой типа Гамоша / К.Т. Габриелян, Г.О. Демирчян, Ф.Н. Чуховский // ЖТФ. 1990. - Т. 60, вып. 1. - С. 170178.

116. Чен, Т. К вопросу о двумерной дифракционной фокусировке рентгеновского излучения при его брэгговской дифракции на двухосно-изогнутом кристалле / Т. Чен // ЖТФ. 2002. - Т. 72, вып. 7. - С. 92-94.

117. Молодкин В. Б., Шевченко М. Б., Побидайло О. В. // Металлофиз. и нов. технол. 4, 1999, т.21, стр. 10-14

118. Zhong, Z. / Z. Zhong et al. // J. Appl. Crystallogr. 2001. - T. 34, N 4 -P. 504-509.

119. Zhong, Z. / Z. Zhong et al. // J. Appl. Crystallogr. 2001. - T. 34, N 5 -P. 646-653.

120. А.В. Иржак, В.А. Соменков, К.М. Подурец // Материалы рабочего совещания Рентгеновская оптика 2000, ИФМ РАН, Нижний Новгород, 2000, С. 168.

121. Jiang, et al. US Patent 6421417, July 16, 2002

122. E. Spiller, //Soft X ray Optics, SPIE Optical Engineering Press, 1994.

123. E.J. Puik, M.J. van Oer Wiel, //Vacuum, v. 38, N 8-10, (1988) p. 707-709.

124. J.M. Slaughter, B.S. Medower, //Optics Letters, v. 19, No21 (1994), p. 1786-1788.

125. Андреев А. В.// Письма в ЖЭТФ N 1-2, 2001, т.74, стр.8-11

126. А.Д.Ахсахалян, Е.Б Клюенков, В.А. Муравьев и др.// Материалы совещания Рентгеновская оптика 2003, Н.Новгород, ИФМ РАН 2003. с.160.

127. Thathachari, Y.T. Theory of image formation in combination of X-ray focusing mirrors / Y.T. Thathachari // Proc. Indian. Acad. Sci. A. 1953.-V. 37.-P. 41-62.

128. Montel, M. The X-ray microscope with catamegonic roof-shape objective, in: X-Ray Microscopy and Microradiography / M. Montel. et al. // Elsiver. Amsterdam, 1957. - P. 135-150.

129. Seward, F. Calibrated for-color X-ray microscope for laser plasma diagnostics / F. Seward et. al. // Rev. Sci. Instr. 1975. - V. 47. N 3. - P. 73-83.

130. Gobel H. // Abstracts, АСА Annuall Meeting (August 9-14, 1992, Pittsburg, PA), v.20, p.34.

131. Schuster M., Gobel H. //J.Phys.D: Appl.Phys., 1995, v.28, No4A. p.270.

132. Single Coner Kirkpatrik-Baez Beam Conditioning Optic Assembly. U.S.Patent. US006041099, Mar.,21, 2000.

133. Ахсахалян, A.A. / А.А. Ахсахалян // Материалы совещания «Рентгеновская оптика 2003», Н.Новгород, ИФМ РАН. — 2003. - С. 187.

134. Аристов, В.В. Фокусировка синхротронного излучения на планарныхпараболических линзах из кремния / В.В. Аристов и др. // Поверхность.

135. Рентгеновские, синхротроиные и нейтронные исследования. — 2001. — №1.-С. 13-22.

136. Aristov V.V., Grigoriev M.V., Kuznetsov S.M. at al., //Appl.Phys.Letts 77(2000) 4058-4061.

137. Aristov V.V., Grigoriev M.V., Kuznetsov S.M. at al.// Optic Communications, 177(2000) p.33-38.

138. Аристов, В.В. Рентгеновская оптика преломления /В.В. Аристов и др. // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 1999. -№1. - С. 7-13.

139. Аристов В.В.Короткофокусные параболические линзы дляжесткого рентгеновского излучения / В.В. Аристов и др. // Поверхность.

140. Рентгеновские, Синхнотронные, Нейтронные Исследования 2000.1.- С.71-76.

141. В.Г. Кон //Материалы рабочего совещания Рентгеновская оптика -2003, ИФМ РАН, Нижний Новгород, 2003, с.22.

142. В.В. Аристов, М.В.Григорьев, С.М.Кузнецов и др.// Материалы рабочего совещания Рентгеновская оптика 2001, ИФМ РАН, Нижний Новгород, 2001, с.38-47,150. http://www.iroptic.com/rentoptics.htm

143. Dabagov, S.B. Observation of Interference Effects at the Focus of an X-ray Lens / S.B. Dabagov et al. // J. Synchrotron Rad. 1995. - Vol. 2. -P. 132-135.

144. Дудчик, Ю.И. Формирование пучков рентгеновского излучения с помощью конусообразного микрокапилляра / Ю.И. Дудчик, Ф.Ф. Комаров, Я.А. Константинов // ЖТФ. 1998. - Т. 65, №5. - С. 90.

145. В.А. Аркадьев, А.И. Коломийцев и др.// Успехи Физ. Наук. 1989, т. 157, вып.З, с.530-537

146. Аристов, В.В. Фокусировка жесткого рентгеновского излучения спомощью френелевских составных линз / Аристов, В.В. и др. //

147. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования.-2002.-№1.-С. 48.

148. А.В. Андреев, В.Е. Асадчиков, И.А. Артюков и др.// Материалы рабочего совещания Рентгеновская оптика 2001, ИФМ РАН, Нижний Новгород, 2001, с.7.

149. В.В. Аристов, А.А. Исоян, А.В. Куюмчан и др.// Материалы рабочего совещания Рентгеновская оптика-2002, ИФМ РАН, Нижний Новгород, 2002, с.326-330.

150. V.I. Rushnir, E.V. Suvorov, К. Mukhin, // Solid State Phys., v.22( 1980),pp.213 5-2143.

151. H.C. Баштовой, А.А. Гребешок, //препринт ИЯФ CO АН СССР 83-40, Новосибирск, 1983, с.3-25.

152. G.M. Sanger, Proc. SPIE, 433 (1983), рр.2-18.

153. Ахсахалян, А.Д. Изготовление многослойных рентгеновских цилиндрических отражателей / А.Д. Ахсахалян и др. // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. — 1999. -№1. С. 162.

154. Ахсахалян, А.А. / А.А. Ахсахалян и др. Изготовление цилиндрических поверхностей методами термопластического и упругого изгиба стеклянных пластин. // Поверхность. Рентгеновские синхротронные и нейтронные исследования. 2002. — №1. — С. 51.

155. Ахсахалян, А.Д. / А.Д. Ахсахалян и др. // Поверхность. Рентгеновские синхротронные и нейтронные исследования. 2000. -№1. - С. 112.

156. Underwood, J.H. / J.H. Underwood, D. Turner // Proc. SPIE. 1977. - V. 106.-P. 125.

157. Stedman, M. // Stanford Linear Accelerator Center. 1978. SSRL Report No 78/04. P.VII 142.

158. Патент Российской Федерации (№ 2,018,986, МКИ G21K1/06, 30 сентября, 1994).

159. Патент Российской Федерации (№ 9,192,48, МКИ B28D5/00, 10 февраля, 2000).

160. Лидер, В.В. Рентгенодифракционная характеризация гомогенности изгиба фокусирующих кристаллов. / В.В. Лидер, Е.О. Баронова, М.М. Степаненко. // Матер, совещ. «Рентгеновская оптика-2001», Нижний Новгород, 19-22 февраля 2001, ИФМРАН. С. 125-130.

161. Аристов, В.В. Первый опыт передачи изображения Брэгг-Френелев-ской рентгеновской линзой / В.В. Аристов и др. // Письма в ЖТФ. -1988.-Т. 14, вып. 1.-С. 3-6.

162. Борн, М. / М. Борн, Э. Вольф // Основы оптики. М.: Наука, 1973.720 с.

163. Инденбом В.Л., Аладжаджан А.Г. // ДАН СССР, 1976, Т.227, вып. 4,1. С.828-829.

164. В. Л. Носик, М.В.Ковальчук // Поверхность. Рентгеновские, Синхнотронные, Нейтронные Исследования, 2000, №1, С.91.

165. Габриелян, К.Т. Формирование полос роста в кристаллах ниобата лития на различных стадиях выращивания / К.Т. Габриелян, Д.В. Ковалевский, П.В. Смирнов // Четвёртая международная конференция

166. Рост монокристаллов и тепломассоперенос» (ICSC-01), Обнинск, Россия, сентябрь 24-28, 2001 г. 2001. - С.23 25.

167. Гурвич, A.M. Физические основы радиационного контроля и диагностики. / A.M. Гурвич. -М.: Энергоатомиздат, 1989. -240 с

168. Пленка рентгеновская техническая FOMADUX R8 Электронный ресурс. / ООО «НПФ «АВЭК». 2003. - Режим доступа http://www.avek.ru/equipment/?sectionid:=43&itemid=99, свободный.

169. Стариковская, С.М. Физические методы исследования. Семинарские задания. Часть 2: Учебное пособие. / С.М. Стариковская. М.: изд-е МФТИ, 2001.

170. Латуш Е. М., Мазурицкий М. И. // Письма в ЖТФ, 2002, т.28, вып.1, стр.49-53.

171. Блохин, М.А. Методы рентгеноспектральных исследований. / М.А. Блохин. М.: ФИЗМАТЛИТ, 1959. - 386 е.

172. Андреев, A.B. / Рентгеновская микроскопия с использованием крайне асимметричного отражения от кристалла / A.B. Андреев, A.A. Коновко // Вестник МГУ. Сер. Физика, астрономия. 2002. - №5. - С. 49.

173. Андреев, A.B. Дисперсионные свойства кристалла с экспоненциальным профилем изменения периода решетки / A.B. Андреев, A.A. Коновко // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2005. - №1. - С. 12-16.

174. Шульпина, И.Л. Рентгенодифракционное исследование изменений реальной структуры монокристаллов CdTe в результате лазерногооблучения. / И.Л. Шульпина, В.В. Ратников, О.В. Матвеев // Физика твердого тела. 2001. - Т. 43, вып. 3. - С. 559-562.

175. Звонков, Н.Б. Полупроводниковые лазеры на длину волны 0,98 мкм с выходом излучения через подложку / Н.Б. Звонков и др. // Квантовая электроника. 1998. - 25, №7. - С. 622-624

176. Сиротин, Ю.И. Основы кристаллофизики. / Ю.И. Сиротин, М.П. Шаскольская. М.: Наука, 1979. - 639 с.

177. Ландау, Л.Д. Теоретическая физика. T. VII. Теория упругости. / Л.Д. Ландау, Е.М. Лившиц. М.: ФИЗМАТЛИТ, 2003. - 264 с.

178. Корн, Г. Справочник по математике (для научных работников и инженеров). Определения, теоремы, формулы. 6-изд., стер. / Г. Корн, Т. Корн. СПб.: Лань, 2003. - 832 с.