Учет влияния неизмеряемых компонентов и трудноконтролируемых факторов на результаты рентгенофлуоресцентного анализа тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 01.04.07, доктор физико-математических наук Цветянский, Александр Леонидович

• Цветянский, Александр Леонидович
• доктор физико-математических наук
• 2010

Оглавление диссертации доктор физико-математических наук Цветянский, Александр Леонидович

ВВЕДЕНИЕ

1 ЭКСПРЕССНЫЕ СПОСОБЫ РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНОГО АНАЛИЗА МНОГОКОМПОНЕНТНЫХ МАТЕРИАЛОВ

Обзор).

1.1 Способ теоретических поправок и принципы исправления на межэлементные взаимодействия.

1.2 Использование интенсивности рассеянного первичного рентгеновского излучения.

1.3 Способы определения состава твердотельных пленок, покрытий поверхностей сложной формы.

1.4 Возможности учета влияния неизмеряемых компонентов и трудно контролируемых факторов.

2 СПОСОБ РФА НА ОСНОВЕ РАССЕЯННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ

ДВУХ ЭНЕРГИЙ.

2.1 Зависимость отношения интенсивностей когерентно и некогерентно рассеянного первичного рентгеновского излучения от массового коэффициента рассеяния образца.

2.2 Массовый коэффициент рассеяния в области аномального рассеяния.

2.3 Определение больших содержаний элемента с использованием интенсивностей рассеяния двух энергий.

2.4 Выводы второй главы.

3 СПОСОБ ТЕОРЕТИЧЕСКИХ ПОПРАВОК, УЧИТЫВАЮЩИЙ ВЛИЯНИЕ НЕИЗМЕРЯЕМЫХ КОМПОНЕНТОВ.

3.1 Использование рассеянного рентгеновского излучения для учета влияния неизмеряемых компонентов образца.

3.2 Применение нормировочной суммы в способе теоретических поправок.

3.3 Упрощенное выражение для расчета относительного вклада избирательного возбуждения и его учет при рентгенофлуоресцентном анализе способом теоретических поправок.

3.3.1 Обоснование и экспериментальная проверка.

3.3.2 Учета эффекта избирательного возбуждения при РФ А способом теоретических поправок.

3.4 Выводы третьей главы.

4 СПОСОБЫ РФА ПЛЕНОК И ПОКРЫТИЙ СЛОЖНОЙ КОНФИГУРАЦИИ С УЧЕТОМ МАТРИЧНЫХ ЭФФЕКТОВ.

4.1 Вывод выражения для эффективной длины волны Л3.

4.2 Способ теоретических поправок анализа пленок при значительных изменениях состава и поверхностной плотности.

4.3 Применение нелинейных уравнений связи при РФА рентгеноненасыщенных образцов.

4.4 Определение соотношения МЪ/Бп в сплавах сверхпроводящих покрытий поверхностей сложной конфигурации.

4.5 Выводы четвертой главы.

5 ПРОГРАММНО-МЕТОДИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ РФА МНОГОКОМПОНЕНТНЫХ МАТЕРИАЛОВ.

5.1 Разработка программно-методического обеспечения РФА многокомпонентных материалов.

5.2 Использование программно-методического обеспечения при решении практических задач.

5.2.1 Рентгенофлуоресцентное определение состава рутенатов

5.2.2 Рентгенофлуоресцентное определение больших содержаний иттрия в редкоземельных онцентратах.

5.2.3 Рентгенофлуоресцентный контроль технологии получения ферритов-гранатов.

5.3 Выводы пятой главы.

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Учет влияния неизмеряемых компонентов и трудноконтролируемых факторов на результаты рентгенофлуоресцентного анализа»

Актуальность проблемы. Физика конденсированного состояния нуждается в развитии экспериментальных методов исследования вещества. Свойства массивных и тонкопленочных объектов — электрические, магнитные, оптические и др. - зависят от их состава и толщин. Поэтому аналитический контроль технологии получения материалов с уникальными физическими свойствами является исключительно важной и актуальной задачей. Из физических методов анализа материалов разнообразного состава и поверхностной плотности наиболее эффективным зарекомендовал себя метод рентгеновского флуоресцентного анализа (РФА), используемый в практике заводских и научно-исследовательских лабораторий. Однако в некоторых практических ситуациях его возможности ограничены специфическими трудностями: для каждого типа материалов и технологических процессов следует иметь свою методику, что крайне затруднительно в условиях производства широкой номенклатуры технологических продуктов, выпускаемых малыми партиями;

- отсутствие необходимого числа градуировочных образцов делает невозможным применение регрессионных уравнений связи, являющихся в большинстве случаев основой рентгенофлуоресцентного контроля технологических процессов.

В связи с этим повышается роль способов, основанных на теоретическом учете влияния химического состава материала и толщины образца на интенсивность флуоресценции. Однако их использование требует измерения интенсивностей аналитических линий всех элементов образца, а также высокоточных данных о полном химическом составе и поверхностной плотности пленок и пленочных покрытий образца, который можно было бы использовать в качестве опорного, что не всегда возможно. Физическое обоснование способов РФА в случае ограниченной информации о составе опорного образца и отсутствия возможности измерения аналитических линий всех элементов пробы проведено недостаточно полно, что не позволяет реализовать в требуемом объеме потенциальные преимущества теоретического учета межэлементных взаимодействий при аналитическом контроле материалов с широкими вариациями состава.

Таким образом, представляется актуальным развитие экспериментальных и теоретических основ РФА в направлении расширения возможностей учета межэлементных взаимодействий в условиях ограниченной информации об интенсивностях линий флуоресценции и неполной информации об элементном составе и поверхностной плотности градуировочного образца. В настоящее время актуальность поставленной задачи еще более возросла в связи с тем, что современная рентгенофлуоресцентная аппаратура оснащается высокопроизводительными вычислительными комплексами, позволяющими создавать программно-методическое обеспечение автоматизированных систем аналитического контроля (АСАК), использующее последние достижения в области РФА, опирающееся на хорошо развитые вычислительные методы обработки экспериментальных данных.

Цель исследования: развитие метода рентгенофлуоресцентного анализа на основе детального изучения физических процессов возбуждения рентгеновских вторичных спектров с учетом межэлементных взаимодействий в твердотельных материалах с широкими вариациями состава при отсутствии адекватных градуировочных образцов с известными физико-химическими характеристиками и ограниченных возможностях измерения интенсивностей аналитических линий элементов образца.

Для достижения поставленной цели было необходимо решить следующие задачи:

- теоретически и экспериментально изучить зависимость массового дифференциального коэффициента когерентного и некогерентного рассеяния от химического состава образца. С использованием физических закономерностей рассеяния веществом рентгеновских квантов разной энергии обосновать регрессионные уравнения связи, учитывающие зависимость дифференциального коэффициента рассеяния (когерентного и некогерентного) от элементного состава образца;

- создать вариант способа теоретических поправок для случая, когда число измеряемых аналитических линий элементов меньше числа компонентов анализируемой пробы и отсутствуют градуировочные образцы, адекватные по химическому составу пробам;

- обосновать способы РФА состава твердотельных пленок и сверхпроводящих покрытий поверхностей сложной конфигурации с целью контролирования технологического процесса их получения при отсутствии или ограниченном числе градуировочных образцов;

- получить математические упрощенное выражение для расчета величины эффекта избирательного возбуждения при полихроматическом первичном спектре с целью внесения исправления в измеренную интенсивность в способе теоретических поправок;

- разработать и внедрить программное обеспечение для РФА, опирающееся на хорошо развитые методы обработки экспериментальных данных, позволяющее применять способы РФА, работающие в условиях малого числа градуировочных образцов и невозможности измерения аналитических линий всех элементов образца.

Научная новизна и значимость

1. Получено новое обоснованное соотношение, однозначно связывающее массовые дифференциальные коэффициенты рассеяния образца с отношением интенсивностей когерентно и некогерентно рассеянного образцом первичного рентгеновского излучения. Установлено, что оно слабо зависит от длины волны излучения и состава образца в широком" диапазоне его изменения, что позволяет определять массовые коэффициенты рассеяния, важные для РСА.

2. Предложены и физически обоснованы регрессионные уравнения, переменными в которых служат интенсивности когерентно и некогерентно рассеянного первичного рентгеновского излучения различных длин волн, что позволило с их помощью с высокой точностью устанавливать большие содержания определяемого элемента в материалах широко переменного состава.

3. Разработан вариант способа теоретических поправок для, случая,' когда не представляется возможным измерение аналитических линий спектра всех компонентов пробы, основанный на использовании рассеянного первичного рентгеновского излучения или «нормировочной суммы».

4. Предложен и физически обоснован вариант способа теоретических поправок при РФА пленок для случая значительного отличия составов и поверхностных плотностей исследуемого и опорного образов.

5. Физически обоснованы регрессионные уравнения связи для РФА рентгеноненасыщенных материалов с сильно меняющимися значениями поверхностной плотности, коэффициенты которых определяются по небольшому числу градуировочных проб.

6. Создано методико-математическое обеспечение для контроля технологического процесса формирования сверхпроводящего пленочного покрытия на поверхности подложки сложной конфигурации в условиях сильных изменений величины поверхностной плотности (вплоть до значений соответствующим массивным образцам)- и отсутствия градуировочных образцов.

7. Получено упрощенное выражение для расчета эффекта избирательного возбуждения и с его помощью найден аналитический вид поправочного коэффициента для исправления измеренной интенсивности в способе теоретических поправок.

8. Создано программно-методическое обеспечение РФА для автоматизированных систем аналитического контроля (АСАК) на основе теоретического учета межэлементных взаимодействий при малом числе градуировочных образов, с помощью которого для технологий производства дорогостоящих материалов с уникальными физическими свойствами разработаны методики рентгенофлуоресцентного контроля.

Основные научные положения, выносимые на защиту:

1. Новое соотношение т] = /(<2т<т/сШ), однозначно связывающее массовые дифференциальные коэффициенты рассеяния образца с отношением интенсивностей когерентно и некогерентно рассеянного образцом первичного рентгеновского излучения, позволяет определять массовые дифференциальные коэффициенты рассеяния в широком диапазоне изменения состава образцов.

2. Предложенная методика определения значений массовых дифференциальных коэффициентов рассеяния позволяет физически обосновать регрессионные уравнения связи, в которых переменными являются интенсивности рассеянного излучения с длинами волн до и после длины волны края поглощения определяемого элемента и с учтен скачок коэффициента аномального рассеяния.

3. Развиты способы РФА с теоретическими поправочными коэффициентами для экспериментальных условий, когда не измеряются аналитические линии спектра всех компонентов пробы, а для учета ослабляющих характеристик образца используется рассеянное первичное излучение или «нормировочная сумма».

4. Разработано методико-математическое обеспечение РФА для контроля формирования твердотельных пленок и сверхпроводящих пленочных покрытий, сокращающее число градуировочных образцов при значительном отличии состава, поверхностной плотиости и размеров исследуемого и опорного образцов, формы подложки и качества поверхности.

5. Найдено выражение для оценки эффекта избирательного возбуждения и с его помощью - поправка для исправления интенсивности флуоресценции на отличие химических составов опорного и исследуемого образцов на основе математического приближения Паде.

6. Создано программно-методическое обеспечение количественного РФА материалов широко изменяющегося состава.

Практическая значимость работы. Предложенные в работе способы позволяют расширить возможности учета межэлементных взаимодействий при РФА конденсированных материалов широко изменяющегося состава и твердотельных пленок при ограниченном числе градуировочных образцов и измеряемых аналитических линий. Результаты исследований положены в основу программного и методического обеспечения, которое внедрено на ряде предприятий цветной и черной металлургии, оборонной промышленности.

Внедрены 10 автоматизированных систем аналитического контроля, используемых на предприятиях цветной и черной металлургии, оборонной промышленности, наиболее значимые из которых «Северное машиностроительное предприятие» (г. Северодвинск), Опытный завод «Гиредмет» (г. Верхняя Пышма), Башкирский медно-серный комбинат (г. Сибай), Верхнеднепровский горно-металлургический комбинат (г. Вольногорск, Украина), Тырныаузский вольфрамо-молибденовый комбинат [п. Тырныауз), Карагайлинский горно-обогатительный комбинат (Казахстан), Алавердский горно-металлургический комбинат

Армения), Маднеульский горно-обогатительный комбинат (Грузия), Николаевский глиноземный завод (г. Николаев, Украина).

Результаты работы используются при чтении спецкурса «Рентгеноспектральный анализ» студентам кафедры физики твердого тела Южного федерального университета и в научных исследованиях аспирантов и студентов.

Большая часть настоящей работы проводилась в соответствии с постановлением СМ СССР №60 от 23.01.78 г. и 1054 от 09.11.85 г., приказа Министра цветной металлургии СССР №272 от 16.01.78, постановлением ГКНТ и АН СССР №573/137 от 10.10.85 г. в рамках целевой комплексной программы ОЦ 026 и прямыми хоздоговорами с предприятиями.

По итогам 3-го Всесоюзного конкурса на лучшую работу по системам и средствам автоматического контроля и управления технологическим процессом, внедренным на предприятиях цветной металлургии, участники работы по внедрению автоматизированной системы аналитического контроля на Башкирском мсдно-серном комбинате удостоены 1-й премии президиума Центрального правления НТО цветной металлургии (протокол № 41-6 от 29.05.81г.). Руководитель работы - автор настоящей диссертации.

Публикации. По теме диссертации опубликовано более 45 работ, из них - 22 статьи в центральных изданиях, из которых 15 в журналах, входящих в Перечень ВАК.

Апробация работы Материалы исследований представлялись на следующих конференциях, совещаниях и семинарах: IV Украинская республиканская конференция по спектроскопии и спектральному анализу (Днепропетровск, 1975); Семинар Киевского дома научно-технической пропаганды «Атомная спектроскопия, спектральный анализ» (Киев, 1976);

XII (Ленинград, 1978), XIII (Львов, 1981), XIV (Иркутск, 1984) и XV (Ленинград, 1988) Всесоюзные совещания по рентгеновской и электронной спектроскопии; Всесоюзный научно-технический семинар «Опыт создания и перспективы внедрения АСУ на предприятиях цветной металлургии с использованием вычислительной техники и экономико-математических методов» (Москва, 1980); IV Зональный семинар «Рентгеновские методы анализа в научных исследованиях и контроле производственных процессов» (Красноярск, 1983); Всесоюзное научно-техническое совещание «Развитие работ по созданию автоматизированных систем аналитического контроля в цветной металлургии» (Москва, 1983); Региональное совещание «Методы и аппаратура для ядерно-физического анализа и структуры вещества» (Ростов-на-Дону, 1984); Уральская конференция «Современные методы анализа и исследования химического состава материалов металлургии, машиностроения, объектов окружающей среды» (Устинов, 1985); Всесоюзный семинар «Экспрессный аналитический контроль в черной металлургии (Москва, 1985); I (Орел, 1986) и II (Иркутск, 1989) Всесоюзные совещания по рентгеноспектральному анализу; Научно техническое совещание «Состояние и перспективы автоматизации производственных процессов цветной металлургии» (Орджоникидзе, 1989); XI международная конференция по атомной аналитической спектроскопии (Москва, 1990); Международная научно-практическая конференция «Фундаментальные проблемы функционального материаловедения, пьезоэлектрического приборостроения и нанотехнологий. ПЬЕЗОТЕХНИКА-2005» (Ростов-на-Дону, 2005); XVII Уральская конференция по спектроскопии (Екатеринбург, 2005); V Всероссийское совещание по рентгеноспектральному анализу (Иркутск, 2006); II Международный форум «Аналитика и аналитики» (Воронеж, 2008); VI Всероссийская конференция по рентгеноспектральному анализу с международным участием (Краснодар, 2008).

Личный вклад автора в разработку проблемы. Основные результаты теоретических и экспериментальных исследований, изложенные в работе, получены лично автором или при его участии. Большое влияние на формирование концепции настоящей работы оказал Дуймакаев Ш.И., под руководством которого проводилась работа по постановке задачи разработки математической модели методического обеспечения с использованием рассеянного первичного рентгеновского излучения. Это отражено в работах [39, 132-133], где автор диссертации участвовал в теоретическом обосновании и внес основной вклад в расчетно-экспериментальное обоснование разрабатываемых положений. Активное участие в постановке задач и обсуждении результатов на разных этапах выполнения диссертационной работы принимал Еритенко А.Н. Вклад других соавторов в решении ряда задач отражен в публикациях и состоял в проведении экспериментальных измерений и теоретических расчетов и внедрении результатов исследований на различных предприятиях.

Заключение диссертации по теме «Физика конденсированного состояния», Цветянский, Александр Леонидович

Основные результаты работы и выводы сводятся к следующему:

1. Теоретически и экспериментально исследована физическая связь между величинами отношения 7] интенсивностей когерентно и некогерентно рассеянного рентгеновского первичного излучения и массового дифференциального (по углу) коэффициента рассеяния йт<т/с№. образца. Показана высокая степень однозначности связи этих величин для различных длин волн, углов рассеяния и атомных номеров, что позволяет использовать зависимость г]=/((1та/с1{2') в качестве градуировочной с целью определения величины с/т<тДШ исследуемого материала. I

2. С учетом характера физических процессов возбуждения рентгеновской флуоресценции и рассеяния рентгеновских фотонов в веществе теоретически и экспериментально обоснована структура регрессионного уравнения для анализа произвольных содержаний элемента, в котором учет ослабления образцом первичного возбуждающего рентгеновского излучения и аналитической линии флуоресценции определяемого элемента А осуществляется измерением рассеянного образцом первичного рентгеновского излучения двух энергий с двух сторон от края поглощения элемента А, а учет зависимости массового коэффициента рассеяния от химического состава образца — путем измерения отношения Г] интенсивностей когерентно и некогерентно рассеянного образцом характеристического излучения анода рентгеновской трубки. Физически обосновано введение члена регрессионного уравнения, учитывающего «скачок» коэффициента рассеяния в области К— края поглощения элемента А. Теоретически исследованы случаи использования различных составляющих (когерентной и некогерентной) рассеяния слева и справа от края поглощения элемента А.

3. Теоретически и экспериментально обосновано расширение применимости способа теоретических поправок с использованием рассчитанных на основе фундаментальных параметров взаимодействия рентгеновского излучения с веществом коэффициентов влияния в случае невозможности измерения- интенсивностей аналитических линий всех элементов (компонентов) образца. В отличие от обычных вариантов способа теоретических поправок, где учет ослабляющих характеристик наполнителя осуществляется измерением интенсивностей всех элементов (компонентов) наполнителя, в развитом варианте способа последнее обеспечено измерением интенсивности рассеянного образцом первичного излучения или.использованием нормировочной суммы.

4. Найдено упрощенное выражение для расчета эффекта избирательного возбуждения, и с его помощью получен аналитический вид поправочного коэффициента для исправления измеренной интенсивности в способе теоретических поправок.

5. На основе математически обоснованного упрощения аналитического выражения, описывающего взаимодействие рентгеновского излучения с веществом, получено, универсальное двухпараметрическое соотношение для эффективной длины волны Лэ возбуждающего тормозного излучения, справедливое в широком диапазоне изменения поверхностной плотности пробы. С использованием упрощающей математической аппроксимации развит вариант способа теоретических поправок, расширяющий возможности его применения на область промежуточных толщин при значительных отличиях составов и поверхностных плотностей анализируемой пробы и опорного образца и не требующий изготовления большого числа градуировочных образцов.

6. Создано методическое обеспечение на базе РФА для контроля технологического процесса формирования пленочного покрытия на поверхности деталей (подложки) сложной конфигурации в условиях неконтролируемой поверхностной плотности, величина которой меняется от значений соответствующих рентгеноненасыщенным слоям, до значений соответствующих массивным образцам, и отсутствии градуировочных образцов. Для исключения влияния неизмеряемых элементов наполнителя, размера и формы излучающей поверхности покрытия предложено использовать отношение интенсивностей диафрагмированных излучений аналитических линий NbКа12 и SnКа12.

7. Создано программно-методическое обеспечение позволяющее использовать различные варианты способа теоретических поправок, осуществлять выбор оптимального уравнения регрессии на основе задания аналитиком критериев, с помощью разработанного алгоритма расчета интенсивности рентгеновской флуоресценции моделировать различные аналитические ситуации с целью оптимизации состава градуировочных образцов и условий возбуждения и регистрации рентгеновского спектра. Программно-методического обеспечение создано по модульному принципу, что позволяет достаточно просто его модифицировать применительно к конкретной задаче РФА для работы с ним.

На основе созданного программно-методического обеспечения разработаны методики рентгенофлуоресцентного анализа дорогостоящих материалов с уникальными физико-химическими свойствами, выпускаемых малыми сериями.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

Настоящая работа представляет комплексное исследование по расширению возможностей рентгенофлуоресцентного метода при контроле технологических процессов получения материалов с уникальными физическими свойствами в случае отсутствия градуировочных образцов адекватных исследуемым по различным физико-химическим характеристикам и невозможности измерения интенсивностей всех компонентов образца.

Список литературы диссертационного исследования доктор физико-математических наук Цветянский, Александр Леонидович, 2010 год

1. Блохин, М.А. Физика рентгеновских лучей / М.А.Блохин // М.: ГИТТЛ, 1953.-455с.

2. Лосев, Н.Ф. Количественный рентгеноспектральный флуоресцентный анализ / Н.Ф.Лосев // М.: Наука, 1969. 336с.

3. Афонин, В.П. Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ горных пород и минералов / В.П.Афонин, Т.Н.Гуничева // Новосибирск: СО Наука, 1977.-256с.

4. Павлинский, Г.В. Основы физики рентгеновского излучения / Г.В.Павлинский //М.: Физматлит, 2007. 240с.

5. Лосев, Н.Ф. Основы рентгеноспектрального флуоресцентного анализа / Н.Ф.Лосев, А.Н Смагунова // М.: Химия, 1982. 207с.

6. Лаврентьев, Ю.Г. Уравнения связи в рентгенофлуоресцентном анализе / Ю.Г Лаврентьев, А.И.Кузнецова // Заводская лаборатория. -1979.-Т.45, №4.-С.315-326.

7. Молчанова, Е.И. Уравнения связи в рентгенофлуоресцентном анализе (Обзор) / Е.И.Молчанова, А.Н.Смагунова, В.А.Козлов, Н.А.Азьмуко // Заводская лаборатория. 1994. - Т.60, №2. - С. 12-21.

8. Lachance, G.R. Practical solution to the matrix problem in X-ray fluorescence analysis I G.R.Lachance, R.Trail // Canadian Spectroscopy. -1966. V.l 1, №2. - P.43-48.

9. Молчанова, Е.И. Рентгенофлуоресцентный анализ сталей с использованием уравнений связи / Е.И.Молчанова // Автореф. дис. . док. тех. наук. Иркутск, 2001. 41 с.

10. Крекнин, Ю.И. Рентгеноспектральный анализ продуктов износа газотурбинных двигателей способом фундаментальных параметров / Ю.И.Крекнин, Л.А.Сафронов // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2007. - Т.73, №4. - С.23-25.

11. Лаврентьев, Ю.Г. Полиномиальная аппроксимация коэффициентов динамических уравнений связи в рентгенофлуоресцентном анализе / Ю.'Г.Лаврентьев, А.И.Кузнецова // Заводская лаборатория. -1984. -Т.50, №4. С .21-24.

12. Shiraiwa, Т. Theoretical correction procedures for coexistent elements in fluorescent X-ray analysis of alloy steel / T.Shiraiwa, N.Fujino // Advantage X-ray Analysis. 1968. - V.l 1. - P.63-94.

13. Ревенко, А.Г. Учет взаимных влияний элементов при рентгеноспектральном флуоресцентном анализе легированных сталей / А.Г.Ревенко, Ю.И.Величко, Б.Д.Калинин, Н.В.Попов, Г.В.Павлинский, Р.И.Плотников // Заводская лаборатория. 1974. -Т.40, №6. - С. 15-19.

14. Калинин, Б.Д. К обоснованию метода теоретических поправок в рентгеноспектральном анализе / Б.Д.Калинин, Р.И.Плотников, П.М.Федорова // Заводская лаборатория. 1980. - Т.46, №6. - С.505-507.

15. Jong,W. X-ray fluorescence analysis applying theoretical matrix correction stainless steels / W.Jong // X-ray Spectrometry. 1973. - V.2, №4. - P.151-158.

16. Дуймакаев, Ш.И. К способу теоретических поправок при рентгеноспектральном анализе сплавов / Ш.И.Дуймакаев, А.С.Вершинин, А.П.Никольский, А.Л.Иванов // Деп. в ВИНИТИ. -№2837-78. Юс.

17. Дуймакаев, Ш.И. Определение коэффициентов влияния по бинарным образцам при рентгеноспектральном анализе сталей и сплавов способом теоретических поправок / Ш.И.Дуймакаев, В.И.Гаврилов, С.А.Анапалян // Известия СКНЦ ВШ. 1981. - №35. - С.14-16.

18. Кузнецов, В.Ю. К учету зависимости калибровочных параметров от общего химического состава образца при рентгеноспектральном анализе методом теоретических поправок / В.Ю.Кузнецов, Ш.И.Дуймакаев, В.А.Семенов // Деп. в ВИНИТИ. №1131083-83. - 8с.

19. Цветянский, А.Л. Разработка и внедрение методики РСА для продуктов Пышминского опытного завода Гиредмета / А.Л.Цветянский // Отчет НИР. № гос. per. 01.87.005.3357. -Орджоникидзе. - 1987.

20. Афонин, В.П. Теоретические поправки на матричные эффекты при рентгеноспектральном флуоресцентном анализе / В.П.Афонин, Л.Ф.Пискунова, Т.Н.Гуничева, В.И.Ложкин // Заводская лаборатория. 1976. - Т.42, №6. - С.670-674.

21. Franzini, М. Enhancement effect in X-ray fluorescence analysis of rocks / M.Franzini, L.Leoni, M.Saitta // X-ray Spectrometry. 1976. - V.5, №4 -P.208 - 211.

22. Пржиялговский, C.M. Способ учета эффекта избирательного возбуждения / С.М.Пржиялговский, В.Е.Кованцев, Г.Н.Цамерян // Заводская лаборатория. 1980. - Т.46, №4. - С.308-313.

23. Котляров, Я.Б. Коррекция матричных эффектов в рентгеноспектральном анализе с помощью парциальных коэффициентов влияния / Я.Б.Котляров, Р.И.Плотников //Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Л.: Машиностроение. 1981. - №25. -С.211-216.

24. Калинин, Б. Д. Раздельный учет эффектов поглощения и избирательного возбуждения в методе теоретических поправок при рентгеноспектральном анализе / Б.Д.Калинин, Р.И.Плотников // Заводская лаборатория. 1981. - Т.47, №9. - С.53-56.

25. Мосичев, В.И. Теоретический учет межэлементных влияний на основе нового градуировочного уравнения связи / В.И.Мосичев, Н.В.Першин, Н.В.Ковалева, Г.И.Николаев // Заводская лаборатория. 1981. - Т.47, №1. - С.41-48.

26. Лебедев, В.В. Коррекция матричных эффектов первичной и вторичной флуоресценции при рентгеноспектральном анализе / В.В.Лебедев // Заводская лаборатория. 1997. - Т.63, №9. - С.55-57.

27. Дуймакаев, Ш.И. К оценке «чистого относительного вклада эффекта избирательного возбуждения в рентгенофлуоресцентном анализе / Ш.И. Дуймакаев, А.Я.Шполянский, В.В.Тимошевская // Деп. в ВИНИТИ. №4854-80. - 21с.

28. Веригин, A.A. Энергодисперсионнный рентгеноспектральный анализ. Применение в промышленности / А.А.Веригин // Томск: Изд-во Томского университета, 2005. 242с.

29. Дуймакаев, Ш.И. Рентгеноспектральный анализ высоких содержаний элементов способом стандарта-фона / Ш.И.Дуймакаев, А.Л.Цветянский // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. -2000. Т.66, №3. - С.9-12.

30. Плотников, Р.И. Флуоресцентный рентгенорадиометрический анализ / Р.И.Плотников, Г.А.Пшеничный. М.: Атомиздат, 1973. - 264с.

31. Бахтиаров, A.B. Рентгеноспектральный анализ в геологии и геохимии. / A.B.Бахтиаров // Л.: Недра, 1985. 144с.

32. Каминский, Е.Ю. Рентгеноспектральный флуоресцентный многокомпонентный анализ проб железомарганцевых конкреций в судовых условиях. / Е.Ю.Каминский // Автореф. дисс. . канд. тех. наук. Санкт-Петербург, 2000. 20с.

33. Plesch, R. Die Verbesserung rontgenanalytischer ergebnisse durch eine modifizierte streustrahlungs-quotienten-methode / R.Plesch // Microchimical Acta. 1976. - №2. - P.429-441.

34. Леман, Е.П. Рентгенорадиометрический метод опробования месторождений цветных и черных металлов / Е.П. Леман // Л.: Недра, 1978. -231с.

35. Мамиконян, С.В. Аппаратура и методы флуоресцентного рентгенорадиометрического анализа / С.В .Мамиконян // М.: Атомиздат, 1976. 278с.

36. Franzini, С.Е. Determination of the X-ray mass absorption coefficient by measurement of the intensity of AgKa Compton scattered Radiation / C.E.Franziny, L.Leony, M.Saitta // X-ray spectrometry. 1976. - V.5, №3. - P.84-87.

37. Гурвич, Ю.М. Применение метода множественной регрессии в рентгеноспектральном анализе / Ю.М.Гурвич, Б.Д.Калинин, А.Н.Межевич // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Л.: Машиностроение. 1974. - №13. - С. 122-128.

38. Смагунова, А.Н. Рентгеноспектральный анализ продуктов производства глиноземной и медной промышленности / А.Н.Смагунова // Дисс. . д-ра тех. наук. Иркутск, 1983.- 425с.

39. Налимов, В.В. Статистические методы планирования экстремальных экспериментов / В.В.Налимов, Н.А.Чернова // М.: Наука, 1965. 340с.

40. Котляров, Я.Б. Построение и использование статистических уравнений связи в рентгеноспектральном анализе / Я.Б.Котляров, Р.И.Плотников, АЛ.Сербин // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. JL: Машиностроение. 1978. - №21. - С.191-211.

41. Juchli, К. Australian X-ray analytical association (AXAA) conference // Brisbane, 1993 / ARL software reference guides WinXRE. 1994. - P. 1631.

42. Verkhovodov, P. Effect of crystal structure on the background intensity in XRF / P.Verkhovodov // X-ray spectrometry. 2005. - V.34, №2. - P. 169171.

43. Verkhovodov, P. Measurement of background components in wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometry / P.Verkhovodov // X-ray spectrometry. 2006. - V.35, №5. - P.296-304.

44. Lankosz, M. Quantitative analysis of individual particles by X-ray microfluorescence spectrometry / M.Lankosz, P.A.Pella // X-ray Spectrometry. 1995. - V.24, №6. - P.327-332.

45. Lankosz, M. A procedure using polychromatic excitation and scattered radiation for matrix correction in X-ray microfluorescence analysis / M.Lankosz, P.A.Pella // X-ray Spectrometry. 1995. - V.2, №6. - P.320-326.

46. Bos, M. Constraints, iteration schemes and convergence criteria for concentration calculations in X-ray fluorescence spectrometry / M.Bos, J.A.Vrielink // Analytical chemistry acta. 1998. - V.373, №2-3. - P.291-302.

47. Верховодов, П.А. Рентгеноспектральный анализ. Вопросы теории и способы унификации / П.А.Верховодов // Киев: Наукова Думка, 1984.- 160с.

48. Anderman, G. Scattered X-ray internal standards in X-ray emission spectrometry / G.Anderman, I.W.Kemp // Analytical chemistry. 1958. -V.30, №8. - P.1306-1309.

49. Смагунова, А.Н. Изучение зависимости интенсивности фона в рентгенофлуоресцентном анализе от размера частиц излучателя / А.Н.Смагунова, У.В.Ондар, В.Г.Никитина, В.А.Козлов // Журнал аналитической химии. 2001. - Т.56, №9. - С.943-947.

50. Шполянский, А.Я. Эффект гетерогенности образца в рентгеновской спектрометрии / АЛ.Шполянский, Ш.И.Дуймакаев // Деп. в ВИНИТИ.- №3664-82. 53с.

51. Дуймакаев, Ш.И. Гетерогенность анализируемых образцов в рентгеновской флуоресцентной спектрометрии / Ш.И.Дуймакаев, А.Я.Шполянский, Ю.А.Журавлев // Заводская лаборатория. 1988. -Т.55, №12. - С. 24-34.

52. Ильин, Н.П. Количественный рентгенофлуоресцентный анализ по относительным интенсивностям спектральных линий компонентов / Н.П.Ильин // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2007. - Т.73, №9. - С.8-17.

53. Ильин, Н.П. Рентгенофлуоресцентный анализ по относительным интенсивностям спектральных линий компонентов. Анализ образцов72. произвольных размеров и формы / Н.П.Ильин // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2004. - Т.70, №8. - С.3-8.

54. Дуймакаев, Ш.И. Получение уравнений связи в рентгеноспектральном анализе для условий низкой стабилизации возбуждения спектра / Ш.И.Дуймакаев, А.С.Вершинин, А.П.Никольский, В.Х.Шильман // Заводская лаборатория. 1976. - Т.42, №8. - С.943-945.

55. Peussa, M.J. Quantitative determination of doping concentration by X-ray fluorescence cerium-activated strontium sulfide film / M.J.Peussa, E.Nykanen, K.Kukli., K.Vasama, L.Nilinisto // Chimia. 1998. - V.52. -P.416-418.

56. Kliment, V. Determination of the Sr/Ca ratio in bones by XRFA / V.Kliment // Journal radio analytical and nucléon chemistiy let. 1989. -V.137, №4. - P.265-269.

57. Калинин, Б.Д. Развитие способа уравнений связи с теоретическими коэффициентами в рентгенофлуоресцентном анализе / Б.Д.Калинин, Р.И. Плотников // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. -2008. -Т.74,№3.-С. 19-24.

58. Ревенко, А.Г. Рентгенофлуоресцентный анализ: состояние и тенденции развития (обзор) // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2000. - Т.66, №10. - С. 3-19.

59. Вершинина, Н.В. Рентгеноспектральный анализ ненасыщенных образцов методом теоретических поправок / Н.В.Вершинина, Ш.И.Дуймакаев, В.И.Чирков, А.С.Вершинин, С.А.Анапалян // Деп. в ВИНИТИ-№1412-82. 14с.

60. Вершинина, Н.В. Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ многокомпонентных пленок способом теоретических поправок / Н.В.Вершинина, Ш.И.Дуймакаев, В.И.Чирков, А.С.Вершинин // Заводская лаборатория. 1983. - Т.49, №12. - С.23-25.

61. Дарашкевич, В.Р. К рентгенофлуоресцентному анализу тонких пленок / В.РДарашкевич, Б.А.Малюков // Заводская лаборатория. -1980. -Т.46, №6. С.512-513.

62. Чирков, В.И. К монохроматическому приближению при рентгенофлуоресцентном анализе пленок / В.И.Чирков, Н.В.Вершинина // Деп. в ВИНИТИ. №522-83. - 18с.

63. Павлинский, Г.В. О монохроматическом приближении при расчетах интенсивностей рентгеновской флуоресценции / Г.В.Павлинский, Б.И.Китов // Заводская лаборатория. 1980. - Т.46, №6. - С.502-505.

64. Залесский, В.Ю. К расчету избирательного возбуждения при использовании вторичных рентгеновских спектров / В.Ю.Залесский // Оптика и спектроскопия. 1964. - Т. 17, №4. - С.576-582.

65. Наумцев, Ф.Е. Эффект подвозбуждения при рентгенофлуоресцентном анализе ионно-имплантированных слоев / Ф.Е.Наумцев, В.Ф.Волков, Н.Ф.Лосев // Заводская лаборатория. 1988. - Т.54, №4. - С.30-33.

66. Назаров, В.В. Определение толщины и элементного состава покрытий рентгенофлуоресцентным способом / В.В.Назаров // Заводская лаборатория. 1992. - Т.64, №1. - С.27-29.

67. Трушин, О.С. Определение средней плотности пленок по данным рентгеновской флуоресцентной спектроскопии / О.С.Трушин, В.Ф.Бочкарев, А.А.Горячев, В.В.Наумов, А.А.Лебедев // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2006. - Т.66, №10. - С.39-40.

68. Малюков, Б.А. Рентгеноспектральный метод определения толщины никелевых покрытий без использования стандартов / Б.А.Малюков, Ю.М.Украинский, В.Е.Королев // Заводская лаборатория. 1967. -Т.ЗЗ, №8. - С.961- 967.

69. Бондаренко, Г.В., Долгарева А.П. Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ тонких магнитных пленок с помощью спектрометра СПАРК-1 / Г.В.Бондаренко, А.П.Долгарева // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. 1983. - №31. - С. 128132.

70. Машин, Н.И. Определение состава и толщины пленок системы Со-Ni/Cr рентгенофлуоресцентным методом / Н.И.Машин, А.В.Ершов, А.И.Машин, А.Н.Туманова // Журнал прикладной спектроскопии. -2000. Т.55, №6. - С. 689-691.

71. Машин, Н.И. Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ системы Co/Ni-Cr / Н.И.Машин, А.Н.Туманова, Н.К.Рудневский // Журнал аналитической химии. 2001. - Т.56, №6. - С.651-654.

72. Рудневский, H.K. Рентгеноспектральное определение толщины медно-никелевых пленок на ситалловой подложке с использованием однокомпонентных эталонов / Н.К.Рудневский, Н.И.Машин // Заводская лаборатория. 1984. - Т.50, №9. - С.22-24.

73. Дарашкевич, Б.Р. Рентгенофлуоресцентный метод определения состава и толщины двухкомпонентных пленок / В.Р.Дарашкевич, Н.А.Калинина, Б.А.Малюков, Ю.М.Украинский, С.П.Селиванов // Заводская лаборатория. 1971. - Т.З7, №12. - С.1449-1452.

74. Быков, В.И. Учет влияния подложки при РСФА ненасыщенных слоев / В.И.Быков, И.Г.Швейцер // Деп. в ВИНИТИ. №2129-84. - 14с.

75. Дуймакаев, Ш.И. Рентгенофлуоресцентный анализ ненасыщенных образцов широкоизменяющегося состава и поверхностной плотности / Ш.И.Дуймакаев, Н.В.Вершинина, В.И.Чирков // Заводская лаборатория. 1988. - Т.54, №4. - С.23-26.

76. Дарашкевич, В.Р. Рентгенофлуоресцентный анализ состава и толщины двухкомпонентных пленок по однокомпонентным калибровочным образцам' / В.Р.Дарашкевич, Б.А.Малюков, Ю.М.Украинский // Журнал аналитический химии. -1972. Т.27, №8. - С.1578-1583.

77. Дарашкевич, В.Р. Рентгенофлуоресцентный анализ пленок сложного состава / В.Р.Дарашкевич, Б.А.Малюков, Ю.Ф.Орлов // Заводская лаборатория.- 1974. Т.40, №2. - С. 1962-1966.

78. Дарашкевич, В.Р. Рентгенофлуоресцентный спектральный анализ пленок сложного состава / В.Р.Дарашкевич, Б.А.Малюков // Журнал аналитической химии. 1974. - Т.29, №7. - С.1316-1322.

79. Дарашкевич, В.Р. Рентгеноспектральный флуоресцентный спектральный анализ пленок сложного состава содержащих легкий элемент / В.Р.Дарашкевич, Б.А.Малюков, В.И.Минаев, Ю.М.Украинский, H.H. Усов // Заводская лаборатория. 1974. - Т.40, №6. - С.680-683.

80. Фавинский, И .Я. О компенсации эффекта ненасыщенности в рентгеноспектральном флуоресцентном анализе с помощью рассеянного излучения / И.Я.Фавинский // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Л.: Машиностроение. 1972. - № 10. - С. 143147.

81. Леушкина, Г.В. Рентгенофлуоресцентный анализ проб с неопределенной поверхностной плотностью / Г.В. Леушкина, В.В.Колосова, А.Г.Дутова // Деп. в ВИНИТИ. №3755-82. - 16с.

82. Van Espen, R. Effective sample weight from scatter peaks in energy-dispersive X-ray fluorescence / R.Van Espen, L.Van.Dack, F.Adams, R.Van Grieken // Analytical Chemistry. 1979. - V.51, №7. - P.961-967.

83. Князев, Б.Б. Рентгенофлуоресцентный энергодисперсионный анализ минерального сырья в слоях промежуточной толщины / Б.Б.Князев, А.М.Попов, Г.К.Потребников // Заводская лаборатория. 1993.- Т.59, №4.-С.29-31.

84. Garivait, S. Multi-element analysis of plants by WDXRF using the scattered radiation correction method / S.Garivait, J.P.Quisefit, P.de Chateaubourg and G.Malingre // X-ray spectrometry. 1997. - V.26, №5. -P.257-264.

85. Laguitton, D. Simultaneous determination of composition and mass thickness of thin films by quantitative X-ray fluorescence analysis / D.Laguitton, W.Parrich // Analytical Chemistry. 1977. - V.49, №8. -P.l 152-1156.

86. Sitko, R. Theoretical influence coefficient for correction of matrix effects in x-ray fluorescence analysis of intermediate-thickness samples / R.Sitko //X-ray spectrometry. 2006. - V.35, №2. - P.93-100.

87. Sitko, R. Determination of thickness and composition of thin films by x-ray fluorescence spectrometry using theoretical influence coefficient algorithms / R.Sitko // X-ray spectrometry. 2008. - V.37, №3 - P.265-272.

88. Ochi, H., Watanabe S., Nakamura H. X-ray fluorescence analysis of lead in thin coating using the theoretical intensity of scattered x-ray / H.Ochi, S.Watanabe, H.Nakamura / H.Ochi // X-ray spectrometry. 2008. - V.37, №3. - P.245-248.

89. Sitko, R. Determination of absorption correction by the «two masses» method of intermediate samples / R.Sitko, J.Jurczyk // X-ray spectrometry. 2003. - V.32, №2. - P.l 13-118.

90. Fiorini,C. Determination of the thickness of coating by Means of a new XRF spectrometer / C.Fiorini, A.Glanoncelli, A.Longoni, F.Zagara. // X-ray spectrometry. 2002. - V.31, №1. - P.92-99.

91. Yalcin, PI Incoherent scattering function for some elements with 23< Z < 81/ P.Yalcin, Y.Kurucu, Y.Sahin // X-ray spectrometry. 2002. - V.31, №1. - P.100-102.

92. Rao, D.V. Elastic scattering and associated anomalous dispersion in the energy range 8.63 < E < 42.75 keV from heavy atoms / D.V.Rao, R.Cesareo; G.E.Gigante // X-ray spectrometry. -1998. V.27, №6. - P.381-389.

93. Голубев, A.A. Использование нелинейных уравнений-связи в РФА / А.А.Голубев, Н.В.Першин, В.И.Мосичев // Заводская лаборатория. -1988. Т.54, №4. - С.26-30.

94. Калинин, Б.Д. Программное обеспечение многоканальных рентгеновских спектрометров / Б.Д.Калинин, Н.И.Карамышев, Р.И.Плотников // Заводская лаборатория. 1993. - Т.59, №11. - С.20-22.

95. Kuczumow, A. Consideration of an enhancement effect simplified expression in limiting Cases in X-ray fluorescence analysis / A.Kuczumow // X-ray spectrometry. 1984. - V.13. - P.23-26.

96. Bao, S.X. A power function relation between mass attenuation coefficient and Rh Ka Compton peak Intensity and its application to XRF analysis / S.X.Bao // X-ray spectrometry. 1997. - V.26. - P.23-27.

97. Wolf, S.J. Matrix determination with scattered tube lines / S.J.Wolf // X-ray spectrometry. 1997. - V.26. - P.85-91.

98. Celik, A. Effective atomic numbers and electron densities of CuGaSe2 semiconductor in the energy range 5-511 kev / A.Celik, U.Cevik, E.Bacaksiz and N.Celik // X-ray spectrometry. 2008. - V.37. - P.490-494.

99. Takeda, T. X-ray scattering cross section for molecules plastics, tissues and few biological materials / T.Takeda, Y.Itai, T.Akatsuka, R.Cesareo,

100. A.Brunetti, G.E.Gigaante // J. Trace and microprobe technique. 2002. -V.20, №3. - P.327-361.

101. Беляева, E.E. Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ систем Fe-Ni-Mo / Е.Е.Беляева, А.В.Ершов, А.И.Машин, Н.Н.Машин, Н.К.Рудневский // Журнал аналитической химии. 1988. - Т.53, №6. -С.638-640.

102. Дробышев, А.И. Рентгенофлуоресцентное определение серы и других элементов при таможенном контроле нефти и жидких нефтепродуктов / А.И.Дробышев, С.М.Глебова, В.И.Тихонов // Журнал аналитической химии. 2006. - Т.61, №8. - С.843-846.

103. Карпукова, О.М Разработка экспрессной методики рентгенофлуоресцентного анализа сплавов черных металлов во вторичном сырье / О.М.Карпукова, А.В.Колешина, А.В.Потанина,

104. B.А.Козлов, А.Н.Смагунова // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2007. - Т.73, №11. - С.15-18.

105. Ильин, Н.П. Рентгенофлуоресцентный анализ по относительным интенсивностям спектральных линий компонентов. Анализ произвольных массивных образцов в тонких слоях / Н.П.Ильин //

106. Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2005. - Т.71, №8. -С.3-11.

107. Roy, S.C. Elastic scattering of photons: Perspectives and present status / S.C.Roy // X-ray spectrometry. -1999. V.28. - P.376-378.

108. Karydas, A.G. Self element secondary fluorescence enhancement in XR analysis / A.G.Karydas // X-ray spectrometry. - 2005. - V.34 - P.426-431.

109. Цветянский, А.Л. К вопросу о величине эффективного номера среды / А.Л.Цветянский, А.Н.Еритенко // VI Всероссийская конференция по рентгеноспектральному анализу. Тезисы докладов. Туапсе. 2008. -С.127.

110. Дуймакаев, Ш.И. Использование рассеянного первичного излучения при рентгеноспектральном анализе методом теоретических поправок / Ш.И.Дуймакаев, А.Л.Цветянский // Заводская лаборатория. 1984. -Т.50,,№11. - С.20-24.

111. Головко, С.А. Способ учета неизмеряемых компонентов при рентгенофлуоресцентном анализе методом! теоретических поправок / С.А.Головко, А.Л.Цветянский, А.Н.Еритенко // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 1995. - Т.61, №11. - С.13-17.

112. Цветянский, А.Л. Изучение поведения коэффициента рассеяния в области аномального рассеяния / А.Л.Цветянский, А.Н.Еритенко // VI Всероссийская конференция по рентгеноспектральному анализу. Тезисы докладов. Туапсе. 2008. - С. 128.

113. Сорокина, Н.М. Рентгенофлуоресцентное определение мольного' отношения металлов в гетеробиметаллических комплексах / Н.М.Сорокина, П.Р.Абдюшев, Н.П.Кузьмина // Журнал аналитической химии. 2007. - Т.62, №9. - С.943-945.

114. Трушин, О.С. Контроль стехиометрии тонких пленок методом рентгеноспектрального флуоресцентного анализа / О.С.Трушин,

115. B.Ф.Бочкарев, В.В.Мул, В.В.Наумов // Заводская лаборатория. 1995. - Т.61, №8. - С.20-22.

116. Nielson, К.К. Matrix correction for energy dispersive X-ray fluorescence analysis of environmental samples with coherent/incoherent scattered X-rays / K.K.Nielson // Analytical Chemistry. 1977. - V.49. - P.641-648.

117. Смагунова, A.H. Элементный рентгеноспектральный анализ органических материалов / А.Н.Смагунова, Е.Н.Коржова, Т.М.Великова // Журнал аналитической химии. -1998. Т.53, №7.1. C.678-690.

118. Budesinsky, B.W. X-ray fluorescence spectrometry of copper intermediates / B.W.Budesinsky // Talanta. 1976. - V.23, №3. - P.211-215.

119. Claisse, F. Generalization of the Lachance-Traill method for the correction of the matrix effects in X-ray fluorescence analysis / F.Claisse, M.Quintin // Canadian spectroscopy. 1967. - №12. - P.129-146.

120. Kuszumov, A. The concentration correction equation as a consequence of the Shiraiwa and Fujino equation / A.Kuszumov // X-ray spectrometry. -1982. V.ll, №3. - P.l 12-116.

121. Jenkins, R. A review of empirical influence coefficient methods in X-ray spectrometry / R.Jenkins // Advances X-ray analysis. 1979. - V.22. - P.81-292.

122. Frigeri, P. Assessment of various mathematical correction methods of matrix effects in X-ray fluorescence analysis / P.Frigeri, F.Rossi, R.Trucco // Spectrochimica Acta. 1980. - V.35, №6. - P.351-366.

123. Wentzel, G. Zur theorie des comptoneffekts. 1/G. Wentzel // Z. physic. -1927.-Bd. 43.-S.1-8.

124. Wentzel, G. Zur theorie des comptoneffekts. 2 / G.Wentzel // Z. physic. -1927.-Bd. 43. S. 779-787.

125. Смагунова, A.H. Способ стандарта-фона в рентгеновском спектральном флуоресцентном анализе / А.Н.Смагунова, Р.А.Белова,

126. B.П. Афонин, Н.Ф.Лосев // Заводская лаборатория. 1964. - Т.30, №4.1. C.426-431.

127. Конев, A.B. Физический критерий качества фона как стандарта сравнения в рентгеноспектральном анализе / А.В.Конев, Э.В.Григорьев, Н.Е. Суховольская, Н.А.Астахова, С.И. Рубцова // Журнал аналитической химии. 1984. - Т.34, №2. - С. 197-203.

128. Рехколайнен, Г.И. Исследование рассеянного рентгеновского излучения в области -спектра флуоресценции редкоземельных элементов / Г.И.Рехколайнен // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Л.: Машиностроение. 1972. - №10. - С.89-94.

129. Van Dyck, P.M. Absorption correction via scattered radiation in energy-dispersive X-ray fluorescence analysis for samples of variable composition and thickness / P.M.Van Dyck, Van Grieken // Analytical chemistry. -1980. V.52, №12. - P.1859-1864.

130. Medcus, G. Bieitrag zur physikalischen matrix korretur bei der rontgenfluorescenzanalyse von massen — und spezialglasern auf silicatischer basis / G.Medcus, G.Ackerman // Fresenius zeitschrift fur analytischen chemie. -1986. V. 325. - P.667-675.

131. Rasberry, S. Calibration for interelement effects in X-ray fluorescence analysis / S.Rasberry, H.Heinrich // Analytical chemistry. 1974. - V.46, №1. - P.81-89.

132. Plesch, R. X-ray secondary fluorescence in matrix correction / R.Plesch // X-ray spectrometry. 1979. - V.8, №3. - P.l 14-116.

133. Rousseau, R.M. Fundamental algorithm between concentration and intensity in XRF analysis. PI / R.M. Rousseau // X-ray spectrometry. -1984.-V.13,№3.-P.l 15-120.

134. Rousseau, R.M. Fundamental algorithm between concentration and intensity in XRF analysis. P 2 / R.M.Rousseau // X-ray spectrometry.-1984. -.V.13, №3. P.121-125.

135. Budesinsky, B.W. Determination of correction constants in X-ray fluorescence spectrometry by a multivariate least squares method / B.W.Budesinsky // Analytical chemistry acta. 1979. - V.104, №1. - P. 1-9.

136. Karimi, M. Thickness measurements of coated Ni on brass plate using Ka/Kp ratio by XRF spectrometry / M.Karimi, N.Amiri, A.Ali Tabbakh Shabani // X-ray spectrometry. 2009. - V.38, №1. - P.234-238.

137. Nygard, K. Quantitative thickness determination using x-ray fluorescence: application to multiple layers / K.Nygard, K.Hamalainen, S.Manninen, P.Jalas, J.-P.Ruottinen // X-ray spectrometry. -2004. V.33, №6. - P.354-359.

138. Fiorini, С. Determination of the thickness of coating by means of a new XRF spectrometer / C.Fiorini, A.Gianoncelli, A.Longoni, F.Zaraga // X-ray spectrometry.-2002. V. 31, №1. - P. 92-99.

139. Молчанова, Е.И. Сопоставление различных вариантов уравнений связи при рентгеноспектральном анализе материалов широкопеременного состава / Е.И.Молчанова, А.Н.Смагунова, О.Ф.Розова // Журнал аналитической химии. 1986. - Т.41, №7. -С.1183-1191.

140. Szaloki, I. Empirical equation for atomic form factor and incoherent scatting functions / I.Szaloki // X-ray spectrometry. -1996. V. 25, №1. -P.21-28.

141. Rousseau, R. Correction for matrix effects in X-ray fluorescence analysis -A tutorial / R.Rousseau / Spectrochimica Acta Part В. 2006. - V.61. -P.759-777.

142. Rousseau R. Painless XRF analysis using new generation computer program / R.Rousseau // Adv. X-ray anal. Steamboat Spring. Colo. 1988. New York; London. - 1989. - P.77-82.

143. Bao, S.X. A power fanction relation between mass attenuation coefficient and RhKa compton peak intensity and, its application to XRF analysis / S.X.Bao // X-ray spectrometry. 1997. - V. 26, №2. - P. 23-27.

144. Бахтиаров, A.B. Коэффициенты рассеяния рентгеновских лучей /А.В.Бахтиаров, С.А.Чернобережская // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. JL: Машиностроение.- 1972,- №11. С.200-218.

145. Бронштейн, И.М. Вторичная электронная эмиссия / И.М.Бронштейн, Б.С.Фрайман // М.: Атомиздат, 1973. 254с.

146. Выропаев, В.Я. Рентгенофлуоресцентный экспресс-анализ медно-молибденовых руд с использованием полупроводникового детектора / В.Я.Выропаев, Д.Пурэвхайдав, Х.Сиражет // Препринт. 13-8604. -Дубна. ОИЯИ. - 1975. - 25с.

147. Пинскер, З.Г. Динамическое рассеяние рентгеновских лучей в идеальных кристаллах / З.Г.Пинскер // М.: Наука, 1974. 368с.

148. Аккерман, А.Ф. Решение методом Монте-Карло задач переноса быстрых электронов в веществе / А.Ф.Аккерман, Ю.М.Никитушев, В.А.Ботвин // Алма-Ата: Наука, 1972. 163с.

149. Беда, А.Г. Наблюдение аномальной энергетической зависимости сечения релеевского рассеяния у —излучения / А.Г.Беда, И.М.Липкин // Известия АН СССР, серия физическая. 1980 №1. - С. 163-167.

150. Маренков О.Б. Таблицы полных массовых коэффициентов ослабления характеристического рентгеновского излучения / О.Б.Маренков // Л.: ЛНПО «Буревестник», 1978. 274с.

151. Verheijke, M.L. On the calculation of X-ray fluorescence line intensities excited from thin layers on this substrates / M.L.Verheijke, A.W.Witmer // Spectrochimica Acta. 1978. - V.338. - P.817-831.

152. Рехколайнен, Г.И. Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ сплавов ниобия и олова / Г.И.Рехколайнен, А.П.Косинов // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. JI.: Машиностроение. -1971. №8. - С.104-108.

153. Касьянов, П.М. Учет матричного эффекта при рентгенофлуоресцентном анализе вещества сложного химического состава / П.М.Касьянов // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2005. - Т.71, №5. - С. 15-19.

154. Бахтиаров, A.B. Формулы для приближенного расчета сечений рассеяния малой энергии / A.B.Бахтиаров, Г.А.Пшеничный // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Л.: Машиностроение. -1973. №.12. - С.68-72.

155. Cromer, D.T. X-ray scattering factors computer from numerical Hartre-Fock wave functions / D.T.Cromer, J.B.Mann // Acta crystallographica. Cection A. 1968. - V.24, №2. - P.321-324.

156. Павлинский, Г.В. Программа расчета интенсивностей аналитических линий рентгеновского спектра флуоресценции / Г.В.Павлинский, Ю.И.Величко, А.Г.Ревенко // Заводская лаборатория. 1977. - Т.43, №4. - С.433-436.

157. Еритенко, А.Н. Программа выбора оптимального набора регрессоров в рентгеноспектральном флуоресцентном анализе / А.Н.Еритенко, А.Л.Цветянский // Заводская лаборатория. 1985. - Т.51, №8. - С.31-33.

158. Люк, Ю. Специальные математические функции и их аппроксимации / Ю.Люк // М.: Мир, 1980. 608с.

159. Franzini, M. Enhancement effect in X-ray fluorescence analysis of rocks/ M.Franzini, L.Leoni, MSaitta // X-ray spectrometry. 1976. - V.5-. - P.208 -211.

160. Budesinsky, B.W. Interelement effects in X-ray fluorescence spectrometry. Analysis of the iron-copper-sulfur system / B.W.Budesinsky // Analytica Chimica Acta. 1975. - V.77, № 4. - P.87 - 96.

161. Andermann, G. Some fundamental aspects of surface-film analysis with variable angle ultrasoft X-ray fluorescence spectrometry / G.Andermann, F.Fujiwara // Analytical chemistiy. 1984. - V.56, №9. - P.1711-1715.

162. Себер, Дж. Линейный регрессионный анализ / Дж. Себер // М.: Мир, 1980.-456с.

163. Финкельштейн, А.Л. , Расчет спектрального излучения при рентгенофлуоресцентном анализе / А.Л.Финкельштейн, Т.Н.Гуничева, В.П.Афонин, Л.Ф.Парадина, Л.Ф.Пискунова// Заводская лаборатория.- 1981.-Т.47, №11.-0.28-31.

164. Shima К. La Xrray production efficiency from Z=50-82 thick target elements by electron impacts from threshold energy to 30 keV / K. Shima, M.Okuda, E.Suzuki, T.Tsubota, and T.Mikumo // Journal Applied Physics.- 1983. V.54, №11. - P. 1202-1208.

165. Criss J.W., Birks L.S., Gilfrich J.V. Versatile X-ray analysis program combining fundamental parameters and empirical coefficient / J.W.Criss, L.S.Birks, J.V.Gilfrich // Analytical Chemistry. 1978. - V.50, №1. - P.33-37.

166. Лаврентьев, Ю.Г. Программа для вычисления относительных интенсивностей линий при рентгенофлуоресцентном анализе / Ю.Г.Лаврентьев, А.И.Кузнецова // Физико-химические методы анализа'минералов. Новосибирск: Наука, 1977. С.60-70.

167. Цветянский, А.Л. Изготовление реперных образцов для РФА / А.Л.Цветянский, А.В.Титаренко, А.Н.Еритенко // Аналитика и контроль. 2008. - № 1-2. - С.42-45.

168. Karamanova J. Self-consistent empirical correction for matrix effects in X-ray analysis / J.Karamanova // Journal of radioanalytical chemistry. 1980.- V.57, №2. P.473-479.

169. Зубавичус, Я.В. Рентгеновское синхротронное излучение в физико -химических исследованиях / Я.В.Зубавичус, Ю.Д.Словохотов // Успехи химии. 2001. - Т.70, №5. - С.430-463.

170. Смагунова, А.Н. Методы математической статистики в аналитической химии / А.Н.Смагунова, О.М.Карпукова // Иркутск: Изд-во Иркут. гос. ун-та, 2008. 339с.

171. Краснолуцкий, В.П. Влияние градиента концентраций на интенсивность рентгеновской интенсивности негомогенных слоев / В.П.Краснолуцкий, Д.Н.Любимов, А.Л.Цветянский // Деп. в ВИНИТИ.- №2089-82. 12с.

172. Gollan, D. Rontgen-fluoreszenzanalyse (RFA) galvanischer Messingu and Drahten / D.Gollan, G.Hascher, V.Robinger // Metalloberflache. 1983. -V.37, №12. - P.496-499.

173. Дуймакаев, Ш.И. К обоснованию путей компенсации и учета матричных эффектов и других трудноконтролируемых факторов при РСФА на основе регрессионных уравнений связи / Ш.И.Дуймакаев,

174. А.А.Вершинин, В.И.Чирков // Заводская лаборатория. Диагностикаматериалов. 2001. - Т.67, №7. - С. 17-21.

175. Van Sprang, Н.А. Determination of light elements using X-ray spectrometry. Part 1. Analytical implication of using scattered tube lines / H.A.Van Sprang, M.H.J.Bekkers // X-ray spectrometry. 1998. - V. 27, №1. - P.31-36.

176. Van Sprang, H.A. Determination of light elements using X-ray spectrometry. Part II. Boron in Glass / H.A.Van Sprang, M.H.J.Bekkers // X-ray spectrometry. 1998. - V. 27, №1. - P.37-42.

177. Подоляко, C.B. Численное моделирование трансформация рентгеновского излучения в объектах с учетом влияния формфакторов на угловое распределение фотонов / С.В.Подоляко, Е.Г.Лукьянова // Препринт. Институт прикладной математики РАН. -2004. 19с.

178. Van Gysel, М. Description of Compton peaks in energy dispersive X-ray fluorescence spectra / M.Van Gysel, P.Lemberger, P.Van Espen // X-ray spectrometry. - 2003. - V.32, №2. - P.139-147.

179. Bao, S.X. Absorption correction method based on the power function of continuous scattered radiation / S.Bao // X-ray spectrometry. 1998. -V.27, №10. - P.332-336.

180. Simsek, O. Inelastic and elastic scattering differential cross-section of 59,5 kev photons Cu and Zn targets / O.Simsek, M.Ertugrul, G.Budak, A.Karabulut // X-ray spectrometry.- 2004.- V.33, №6. P.349-353.

181. Vrebos, B. Inverse formulations of the Sherman Equation for X-ray spectrometry / B.Vrebos, J.A.Helsen // X-ray spectrometry. 1985.- V.14, №1. - P.27-35.

182. Nielson, K.K. Multielement analysis of unweighed biological and geological samples using backscatter and fundamental parameters / K.K.Nielson, R.W.Sanders // Advances X-ray analysis. 1983. - V.26.-P.385-390.

183. Nielson, K.K. Progress in X-ray fluorescence correction method using scattered radiation / K.K.Nielson // Advances X-ray analysis. -1979. -V.22. P.303-315.

184. Калинин, Б.Д. Влияние неопределенности условий возбуждения на погрешность способа фундаментальных параметров в рентгенофлуоресцентном анализе / Б.Д.Калинин, Р.И. Плотников //

185. Заводская лаборатория. Диагностика материалов. -2010. Т.76, №2 -С.15-17.