Развитие экспериментальных методик для исследования твердых тел методом РЭС тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 02.00.04, кандидат физико-математических наук Асанов, Игорь Петрович

• Асанов, Игорь Петрович
• кандидат физико-математических наук
• 1999

Оглавление диссертации кандидат физико-математических наук Асанов, Игорь Петрович

ВВЕДЕНИЕ.

ГЛАВА 1 ОСОБЕННОСТИ ИНТЕРПРЕТАЦИИ

РЕНТГЕНОЭЛЕКТРОННЫХ СПЕКТРОВ В ТВЕРДОМ

ТЕЛЕ.!.

1.1. Основные процессы, сопровождающие эффект фотоэлектронной эмиссии в твердом теле.

1.2. Учет эффекта подзарядки при экспериментальном определении энергии связи.

1.3. Методы обработки экспериментальных спектров.

1.4 Экспериментальная установка.

ГЛАВА 2 РАЗВИТИЕ МЕТОДА АНАЛИЗА РЕНТГЕН ОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ ПРИ ПОМОЩИ РЕНТГЕНОВСКИХ ФОТОЭЛЕКТРОНОВ.

2.1. Описание метода анализа рентгеновского излучения при измерении рентгеноэлектронных спектров (метод PAX).

2.2. Экспериментальные спектры, полученные методом PAX.

2.3. Выводы.

ГЛАВА 3 ИССЛЕДОВАНИЕ ПРОФИЛЯ КОНЦЕНТРАЦИИ В ПОВЕРХНОСТНОМ СЛОЕ ПРИ ПОМОЩИ АНАЛИЗА УГЛОВОЙ ЗАВИСИМОСТИ ИНТЕНСИВНОСТИ РЭС.

3.1. Описание методики определения профиля концентрации в поверхностных слоях по данным РЭС с угловым разрешением.

3.2. Распределение элементов в поверхностном слое монокристалла CdTe.

3.3. Выводы.92.

ГЛАВА 4 ИССЛЕДОВАНИЕ ФАЗОВОГО СОСТАВА ПОВЕРХНОСТНЫХ СЛОЕВ ПРИ ПОМОЩИ ОБРАБОТКИ ДАННЫХ

КОЛИЧЕСТВЕННОЙ ОЖЕ СПЕКТРОСКОПИИ МЕТОДАМИ ХЕМОМЕТРИИ.

4.1. Описание методов кластерного анализа и главных компонент.

4.2. Экспериментальные результаты по исследованию ВТСП пленки и системы Pt-Al203.

4.3. Выводы.

ГЛАВА 5 ПОЛУЧЕНИЕ ДАННЫХ О РАСПРЕДЕЛЕНИИ ЭЛЕКТРОННОЙ ПЛОТНОСТИ В ВАЛЕНТНОЙ ЗОНЕ ПРИ ОБРАБОТКЕ ДАННЫХ ОЖЕ СПЕКТРОСКОПИИ МЕТОДОМ РЕГУЛЯРИЗАЦИИ.

5.1. Возможность получения информации о распределении электронной плотности в валентной зоне из оже спектров.

5.2. Описание метода восстановление информации методом итеративной регуляризации.

5.3. Экспериментальные результаты о распределении электронной на атоме углерода из С KLL оже спектров.

5.4. Выводы.

ГЛАВА 6 СОВМЕСТНОЕ ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ДАННЫХ РЭС И МЕССБАУЭРОВСКОЙ СПЕКТРОСКОПИИ ДЛЯ ИЗУЧЕНИЯ ОСОБЕННОСТЕЙ ХИМИЧЕСКОЙ СВЯЗИ ПРИ СПИНОВЫХ ПЕРЕХОДАХ В КОМПЛЕКСАХ ЖЕЛЕЗА (II) С ТРИАЗОЛАМИ.

6.1. Исследование изменения химической связи Fe-N в полимерных комплексах Fe(II) с триазолами при спиновом переходе.

6.2. Выводы.

ГЛАВА 7 ПРИМЕНЕНИЕ РЭС ДЛЯ ИЗУЧЕНИЯ ИНТЕРКАЛИРОВАННЫХ СОЕДИНЕНИЙ ФТОРИРОВАННОГО

ГРАФИТА.

7.1. Исследование взаимодействия внедренных молекул с фторграфитовой матрицей и химической связи между атомами матрицы методом РЭС.1

7.2. Выводы.

ГЛАВА 8 ПРИМЕНЕНИЕ РЭС ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ПРОДУКТОВ МЕХАНОХИМИЧЕСКИХ РЕАКЦИЙ.

8.1. Исследование состояния атомов на начальных стадиях механохимической активации смесей гидроксида кальция и гидратированного диоксида титана.

8.2. Применение метода РЭС при исследовании процесса механохимического синтеза литий-марганцевой шпинели 1лМп204.

8.3. Выводы.

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Развитие экспериментальных методик для исследования твердых тел методом РЭС»

Актуальность темы. Метод рентгеноэлектронной спектроскопии (РЭС) является одним из наиболее универсальных методов исследования поверхности. С его помощью возможно получать информацию о качественном и количественном составе поверхностных слоев, исследовать особенности химической связи между атомами и зонную структуру кристаллов, изучать пространственное строение поверхностных слоев, проводить микроскопические исследования и т.д. Разработаны теоретические основы для интерпретации особенностей в РЭС. В экспериментальном плане метод использует современные научные достижения, включая, например, источники синхротронного излучения. Таким образом, метод РЭС интенсивно развивается.

Можно ожидать, что развитие новых подходов в РЭС, включающие экспериментальные методики, обработку и анализ полученных данных, использование информации от других методов для интерпретации экспериментальных результатов, а также применение метода в новых областях и для исследования новых объектов может оказаться весьма эффективным и представлять научный интерес в широкой области, связанной с использованием данного метода. Целью работы является разработка методов измерения и обработки данных РЭС, исследование особенностей химической связи в некоторых новых неорганических комплексах, слоистых интеркалированных соединениях фторированного графита, продуктах механической активации смесей.

Для выполнения поставленной цели решались следующие задачи

- разработка методики регистрации рентгеновских спектров на рентгеноэлектронном спектрометре в области мягкого рентгеновского диапазона;

- развитие метода восстановления информации о профиле концентрации распределения элементов в поверхностном слое монокристаллов по данным РЭС с угловым разрешением;

- применение методов хемометрии для обработки экспериментальных данных количественной оже спектроскопии для разработки метода определения фазового состава поверхности;

- восстановление информации о распределении электронной плотности в валентной зоне при обработке формы линии оже спектров методом регуляризации;

- проведение исследования изменения электронной структуры в комплексах железа(Н) с триазолами при спиновом переходе совместно по данным РЭС и мессбауэровской спектроскопии;

- изучение взаимодействия внедренных молекул с матрицей и химической связи между атомами фторграфитовой матрицы в интеркалированных соединениях фторированного графита состава

ЫуЪ

- исследование состояния атомов в продуктах механохимической активации реагентов на начальных стадиях реакции.

Научная новизна работы

- Впервые показана применимость метода анализа рентгеновских спектров при помощи регистрации рентгеновских фотоэлектронов для изучения эффектов химической связи в мягком рентгеновском диапазоне.

- Разработан подход для изучения фазового состава поверхностных слоев по данным количественной оже спектроскопии.

- Установлена корреляция между химическими сдвигами внутренних уровней атома железа и мессбауэровскими химическими сдвигами в комплексах железа(Н) с триазолами, находящимися в низкоспиновом состоянии, подтверждающая вывод о том, что комплексы с более высокой температурой спинового перехода характеризуются более ковалентными связями Бе-К

- Установлено, что в интеркалированных соединениях фторированного графита состава С2Р.у11 молекулы, внедренные во фторграфитовую матрицу, могут взаимодействовать с ней не только за счет ван-дер-ваальсовых сил, но и вступать в химическое взаимодействие.

- Показано, что при механохимической реакции синтеза литий-марганцевой шпинели 1лМп204 из смеси ЬЮН и М1Ю2 происходит окислительно-восстановительный процесс, связанный с переносом электронной плотности от ОН'-групп к ионам Мп(+4) и их частичным восстановлением до Мп(+3).

Научная и практическая значимость

- Метод регистрации рентгеновских спектров позволяет получать информацию о распределении парциальной плотности состояний в валентной зоне на рентгеноэлектронном спектрометре.

- Описанная методика получения информации о распределении элементов в поверхностном слое по данным РЭС с угловым разрешением является экспрессным и неразрушающим методом анализа поверхности без априорных ограничений на вид решения и количества компонент.

- Разработанный метод фазового анализа поверхностных слоев с помощью методов хемометрии может быть применен в различных процедурах количественного анализа без предварительной идентификации фаз.

- Методика получения информации о распределении электронной плотности в валентной полосе по данным оже спектроскопии имеет перспективы при анализе легких элементов, где вероятность процесса рентгеновской эмиссии очень низка.

- Практическая значимость информации об электронной структуре изученных соединений связана с их применениями: интеркалированных соединений фторированного графита - в качестве молекулярных контейнеров и перспективного материала при синтезе новых соединений на основе фторида графита; комплексов железа - в молекулярной электронике; литий-марганцевых шпинелей - в качестве катодных материалов для химических источников тока.

На защиту выносятся

- разработка методики анализа рентгеновских спектров при регистрации рентгеновских фотоэлектронов;

- обработка экспериментальных данных РЭС и оже спектроскопии для получения информации о распределении элементов в поверхностном слое, о фазовом составе поверхности и о распределении электронной плотности в валентной зоне;

- результаты исследования электронной структуры в комплексах железа (II) с триазолами со спиновыми переходами, интеркалированных соединениях фторированного графита состава C2F JR, исследование состояния атомов в поверхностном слое на начальных этапах реакции мягкого механохимического синтеза некоторых сложных оксидов. Апробация работы Основные результаты работы представлялись на

XV Всесоюзном совещании по рентгеновской и электронной спектроскопии (Ленинград, 1988), X, XV и XVII научных школах-семинарах "Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь" (Одесса, 1986, Новоуральск, 1997; Екатеринбург, 1999), 2 и 3 германо-российских симпозиумах "Электронная и рентгеновская спектроскопия" (Берлин, 1997; Екатеринбург, 1999), 14 Европейской конференции по поверхности ECOSS-14 (Лейпциг, 1994), Научно-техническом совещании по фотоэлектрическим и тепловым приемникам излучения (Москва, 1989), конференции по электронным материалам (Новосибирск, 1992), VIII и X симпозиумах по химии неорганических фторидов (Полевской, 1987; Москва, 1998), Международном конгрессе по теоретической химии (Иерусалим, 1996), 2 Международной конференции по механохимии и механической активации (Новосибирск, 1997), Ш семинаре Азиатско-Тихоокеанской академии материалов (Новосибирск, 1999), 2 Национальной конференции по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов РСНЭ-99 (Москва, 1999),

Публикации По теме работы опубликовано 8 статей и ряд тезисов в материалах конференций.

Структура и объем диссертации Диссертация состоит из введения, 8 глав, заключения и списка цитируемой литературы из 395 наименований. Основной материал изложен на 197 страницах, включая 40 рисунков, 13 таблиц.

Заключение диссертации по теме «Физическая химия», Асанов, Игорь Петрович

выводы

1. Проведена разработка метода получения рентгеновских спектров с помощью регистрации фотоэлектронов на рентгеноэлектронном спектрометре. На примере N Ка спектров показано, что энергетическое разрешение метода может превосходить разрешение спектров, полученных с помощью обычного кристалл-анализатора. Установлено, что метод может быть использован для изучения эффектов химической связи в соединениях.

2. Разработана экспрессная и неразрушающая методика исследования распределения элементов по глубине в поверхностном слое по данным РЭС с угловым разрешением без дополнительных априорных ограничений на вид решения и для любого числа компонент. Качество восстановления профиля концентраций проверялось путем сопоставления с модельными профилями и литературными данными. Показано, что в монокристалле С<ЗТе, выдержанном на воздухе, в поверхностном слое каждой грани находится преимущественно один из элементов, а на глубине порядка 25А имеется резкий минимум.

3. Предложена методика идентификации фаз и определения их состава в приповерхностных слоях твердых тел по результатам обработки данных количественной оже-спектроскопии с помощью методов главных компонент и кластеризации. На примере ВТСП пленок и системы Рг-А^Оз показано, что с помощью предложенной методики можно обнаружить неоднородности состава поверхностных слоев в образцах, выделить отдельные фазы и определить соотношение элементов в них.

4. Предложен метод получения распределения локальной электронной плотности в валентной зоне при обработке оже-спектров методом итерационной регуляризации. С помощью модельных расчетов отработана методика вычислений. Получено хорошее согласие результатов распределения С 2р электронной плотности, восстановленной из С К1Х оже-спектров для графита, монофторида графита, нанотруб с экспериментальными рентгеновскими эмиссионными С Ка спектрами.

5. Показано, что при совместном использовании данных РЭС и мессбауэровской спектроскопии возможно количественно оценить перераспределение электронной плотности на атоме железа при спиновом переходе в полимерных цепочечных комплексах железа(П) с триазолами. Установлено, что при переходе из низкоспинового в высокоспиновое состояние происходит увеличение ионности связи Ре-К Значительный вклад в перераспределение электронной плотности дают не только Ре Зс/, но Ре 45 электроны. В низкоспиновом состоянии установлена корреляция между сдвигом Ре 2ру2 уровня и мессбауэровскими сдвигами, что подтверждает вывод о том, что комплексы с более высокой температурой спинового перехода характеризуются более ковалентными связями Ре-Ы.

6. Проведено исследование слоистьдх интеркалированных соединений на основе фторированного графита состава С2Р-.у11, где Я-внедренная молекула. При использовании информации о положении С 15 и Р 15 уровней от фторграфитовой матрицы и величинах оже параметров от атомов внедренных молекул показано, что характер химической связи С-Б во фторированном графите значительно отличается как от сильной ковалентной связи С-Р в соединениях типа (СР)„, так и от ионной связи. Такие молекулы "гостей" как С6Н6, Сб?б, веСЦ, СС14, 802 взаимодействуют с фторграфитовой матрицей посредством ван-дер-ваальсовых сил. Установлено, что при внедрении молекулы пиридина во фторграфитовую матрицу происходит химическое взаимодействие с матрицей, при этом отношение содержания атомов С/¥ значительно увеличивается по сравнению с исходной матрицей.

7. Метод РЭС использовался для исследования состояния атомов в приповерхностном контактном слое, возникающем при механохимическом взаимодействии соединений. Показано, что на начальных стадиях активации смесей гидратированного диоксида титана с гидроксидом кальция в поверхностном слое частиц наблюдается избыточное содержание атомов кальция, концентрация которого уменьшается с увеличением времени механической активации. В процессе МА происходит образование связей Са-О-Ть Установлено, что начальные стадии механохимического взаимодействия смесей Мп02 с 1ЛОН и 1л2С03 протекают различным образом. При механохимической активации ЬЛОН с Мп02 происходит окислительно-восстановительная реакция с переносом электрона от гидроксидных групп в 1ЛОН к ионам Мп+4 с их частичным восстановлением до состояния Мп+3. В случае Мп02 с 1л2С03 не обнаружено изменения зарядового состояния атомов марганца.

Список литературы диссертационного исследования кандидат физико-математических наук Асанов, Игорь Петрович, 1999 год

1. Маан Дж. Теория фотоэмиссии // Электронная и ионная спектроскопиятвердых тел / Под. ред. Л.Фирмэнса, Дж. Вэнника, В.Декейсера.-М.: Мир,1981.-С. 9-60.

2. Mahan G.D. Theory of Photoemission in Simple Metals // Phys. Rev. B-1970.-V.2,№11.-P. 4334-4350.

3. Либш А. Фотоэлектронная спектроскопия с угловым разрешением (теоретическая интерпретация данных измерения) // Электронная и ионная спектроскопия твердых тел /

4. Под. ред. Л.Фирмэнса, Дж. Вэнника, В.Декейсера.-М.: Мир, 1981-С. 98-151.

5. Plummer E.W., Eberhardt W. Angle-resolved photoemission as a tool for the study of surfaces // Advan. Chem. Phys.-1982.-V.49.-P. 533-656.

6. Martin R.L., Shirley D.A. Many-electron theory of Photoemission // Electron Spectroscopy: Theory, Techniques and Applications. Vol.1 / Ed. by C.R.Brundle.-London-New-York-San-Francisco, Academic Press, 1977-P.75-117.

7. Амусья М.Я. Атомный фотоэффект // М.:Наука, 1987.-272 с.

8. Баринский Р.Л., Нефедов В.И. Рентгеноспектральное определение заряда атомов в молекулах // М.: Наука, 1966.-247 с.

9. Немошкаленко В.В., Алешин В.Г. Теоретические основы рентгеновской эмиссионной спектроскопии // Киев: Наукова думка, 1974.-382 с.

10. Ю.Мазалов Л.Н., Мурахтанов В.В., Кондратенко А.В. Высокоэнергетическая спектроскопия молекул: Учеб. пособие // Новосибирск: Новосибирский ун-т., 1984.-83 с.

11. П.Кондратенко А.В., Нейман К.М. Квантовая химия и спектроскопия высоковозбужденных состоянийю Координационные соединения переходных металлов // Новосибирск: Наука, 1990 245 с.

12. Губанов В.А., Курмаев Э.З., Ивановский А.Л. Квантовая химия твердого тела //М.:Наука, 1984.-304 с.

13. Губанов В.А., Ивановский A.JL, Рыжков М.В. Квантовая химия в материаловедении//М.: Наука, 1987.-336 с.

14. Немошкаленко В.В. Кучеренко Ю.Н. Методы вычислительной физики в теории твердого тела. Электронные состояния в 'неидеальных кристаллах//Киев: Наукова думка, 1986.-295 с.

15. Эварестов Р.А. Квантовохимические методы в теории твердого тела // Ленинград: Изд-во Ленинград, ун-та., 1982.-280 с.

16. Левин А.А. Введение в квантовую химию твердого тела. Химическая связь и структура энергетических зон в тетраэдрических полупроводниках // М.:Химия, 1974.-240 с.

17. Бехштедт Ф., Эндерлайн Р. Поверхности и границы раздела полупроводников // М.: Мир, 1990.-488 с.

18. Жидомиров Г.М., Багатурьянц А.А., Абронин И.А.Прикладная квантовая химия. Расчеты реакционной способности и механизмов химических реакций // М.: Химия, 1979.-296 с.

19. Волков С.В., Засуха В.А. Квантовая химия координационных конденсированных систем //Киев: Наукова думка, 1985.-296 с.

20. Фудзинага С. Метод молекулярных орбиталей //М.:Мир, 1983,- 461 с.

21. Extensible Computational Chemistry Environment Basis Set Database, Version 1.0. ht^://www.emsl.pnl.gov:2080/forms/basisform.html

22. Слэтер Дж. Методы самосогласованного поля для молекул и твердых тел//М.:Мир, 1978.-662 с.

23. Kohn W., Sham L.J. Self-Consistent Equations Including Exchange and Correlation Effects // Phys. Rev. A.-1965.-V. 140,№4.-P. 1133-1138.

24. Becke A.D.Density functional calculations of molecular bond energies // J.Chem.Phys.-1986.-V.84,№8.-P.4524-4529.

25. Lee C., Yang W., Parr R.G. Development of the Colle-Salvetti correlation-energy formula into a functional of the electron density // Phy. Rev. B-1988.-V.37,№2.-P.785-789.

26. Perdew J.P., Wang Y. Accurate and simple density functional for electronic exchange energy: Generalized gradient approximation // Phys. Rev. B-1986.-V.33,№l2.-P.8800-8802.

27. Vosko S.H., Wilk L., Nusair M. Accurate spin-dependent electron liqid correlation energies for spin density calculations: a critical analysis // Can.J.Phys.- 1980.-V.58.-P. 1200-1211.

28. Becke A.D.A new mixing of Hartree-Fock and local density-functional theories // J.Chem.Phys.-1993.-V.98,№2.-P. 1372-1377.

29. Becke A.D.Density-functional thermochemistry.III.The role of exact exchange // J.Chem.Phys.-1993.-V.98,№7.-P.5648-5652.

30. Gaussian-94 / G.W.Trucks, M.Head-Gordon, P.M.Gill et al.-Gaussian Inc., Pittsburgh, Pa, 1994.

31. ADF 2.0.4. Theoretical Chemistry, Vrije Universiteit,Amsterdam/ G.te Velde, E.J.Baerends.// J.Comp.Phys.-1992.-V.99.-P.84.32. deMon-KS version 4.0/ M.E.Casida, C.Daul, A.Goursot et al.'-deMon Software, 1997.

32. Baerends E.J., Gritsenko O.V. A Quantum Chemical View of Density Functional Theory // J.Phys.Chem. A.-1997.-V. 101,№30.-P.5383-5403.

33. Stowasser R., Hoffmann R. What Do the Kohn-Sham Orbitals and Eigenvalues Mean? // J.Am.Che.Soc.-1999.-V. 121, №14.-P.3414-3420.

34. Немошкаленко B.B., Алешин В.Г. Электронная спектроскопия кристаллов // Киев: Наукова думка, 1976.-335 с.

35. Clark D.T., Cromarty В. J., Sgamelotti A. A ASCF МО Investigation of Core-ionized States of Some First-row Transition Metal Ions // J. Electron Spec-trosc. Relat. Phenom.-1980.-V.19.-P.303-309.

36. Кондратенко A.B., Мазалов JI.H., Тополь И.А. Высоковозбужденные состояния молекул // Новосибирск: Наука, 1982.-176 с.

37. Нефедов В.И. Рентгеноэлектронная спектроскопия химических соединений. Справочник // М.: Химия, 1984 256 с.

38. Нефедов В.И., Вовна В.И. Электронная структура химическуих соединений // М.: Наука, 1987.- 347 с.

39. Вовна В.И. Электронная структура органических соединений по данным фотоэлектронной спектроскопии // М.: Наука, 1991- 247 с.

40. Davis D.W., Shirley D.A. The prediction of core-level binding-energy shifts from CNDO molecular orbitals // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom-1974.-V.3.-P. 137-163.

41. Электронная спектроскопия / К.Зигбан, К.Нордлинг, А.Фальман и др-М.:Мир, 1969.-493 с.

42. Ведринский Р.В., Просандеев С.А., Тетерин Ю.А. Электронная релаксация и химические сдвиги рентгеноэлектронных спектров // Теор. экспер. химия.-1980.-т. 16,№5.-С. 620-625.

43. Shirley D.A. Theory of KLL Auger Energies Including Static Relaxation // Phys. Rev. A.-1973.-V.7,№5.-P. 1520-1528.

44. Jolly W.L. The estimation of core-electron binding energy shifts using the concept of the equivalence of equally charged cores // Electron Spectroscopy / Ed. by D.A.Shirley.-Amsterdam-London:North-Holland Pub. Co., 1972,-P.629-645.

45. Calculated and measured Auger line shapes in Si02 / D.E.Ramaker, J.S. Mur-day, N.H.Turner et al. // Phys.Rev.B.-1979.-V. 19,№10.-P.5375-5387.

46. Ландау Jl.Д., Лифшиц Е.М. Теоретическая физика. T.III. Квантовая механика (нерелятивистская теория).-М. .Наука, 1989.-768 С.

47. Schaich W.L., Ashcroft N.W. Model Calculations in the Theory of Photoemission // Phys.Rev.B.-1971.-V.3,№8.-P. 2452-2465.

48. Scofiled J.H. Hartree-Slater subshell photoionization cross sections at 1254 and 1487 eV//J. Electron Spectros. Relat. Phenom.-1976.-Vol 8.-P. 129-137.

49. Yeh J.J., Lindau I. Atomic Subshell Photoionization Cross Sections and Asymmetry Parameters: 1< Z -<103 // Atomic Data and Nuclear Data Tables.- 1985.-Vol. 32.- P. 1-155.

50. Carlson T.A., Krause M.O. Electron shake-off resulting from K-shell ionization in neon measured as a function of photoelectron velosity // Phys. Rev. A.-1965.-V. 140, №12.-P. 1057-1064.

51. Вудраф Д., Делчар Т. Современные методы исследования поверхности-М. .Мир, 1989.-564 с.

52. Kadewula А.Р., Friedman D.J., Fadley C.S. Application of a novel multiple scattering approach to photoelectron diffraction and Auger electron diffraction // J.Electron Specrosc. Relat. Phenom.-1991.-V.57,№3/4-P.223-278.

53. Parry D.E. The role of core orbital angular momentum calculation of X-ray photoelectron diffraction intensities //J.Electron Specrosc. Relat. Phenom-1989.-V.49,№l.-P.23-30.

54. Fadley C.S. Recent Developments in Photoelectron Diffraction //Core-level spectroscopy in condensed systems./Ed. by J.Kanamori, A.Kotani.-Springer Series in solid state Sciences. V.81.-Berlin-Heidelberg:Springer Verlag, 1988.-P.236-252.

55. The effects of various experimental parameters on the accuracy of photoemission holography / G.R.Harp, D.K.Saldin, X.Chen et al. //J.Electron Specrosc. Relat. Phenom.-1991.-V.57,№3/4.-P.331-355.

56. Martin R.L., Shirley D.A. Theory of core-level photoemission correlation state spectra// J.Chem.Phys.-1976.-V.64,№9.-P.3685-3689.

57. Larsson S. Shake-up and multiplet structure of ESCA satellites of Cu compounds // Chem. Phys. Lett.-1976.-V.40,№3.-P.362-366.

58. Larsson S., Braga M. Charge transfer satellites. Intensity dependence on localization of hole state // Chem. Phys. Lett.-1977.-V.48,№3.-P.596-600.

59. Asada S., Sugano S. Satellites in X-ray Photoelectron Spectra of Transition-Metal Compounds // J.Phys.Soc.Japan.-1976.-V.41, №4.-P. 1291-1299.

60. Zaanen J., Sawatzky G.A, Allen J.W. Band Gaps and Electronic Structure of Transition-Metal Compounds // Phys. Rev. B.-1982 -V.55,№4.-P.418-421.

61. Gunnarsson O., Schonhammer K. Electron Spectroscopies for Ce compounds in the impurity model // Phys. Rev. B.-1983.-V.28,№8.-P.4315-4341.

62. Ваег Y., Schneider W.-D. High-energy spectroscopy of lanthanide materials-an overview.// Handbook on the physics and Chemistry of rare Earths. Vol. 10 / Ed. by K.A.Gschneider,Jr, L.Eyring, S.Htifher.-New York: Elsevier Science Pub, 1987.-P. 1-102.

63. Hiifner S. Systematics of optical energy gaps and core level satellites in CuO and copper dihalides // Solid State Comm.-1983.-V.47,№ 11.-P. 943-945.

64. Screening and exchange splitting in core level XPS / Kinsinger V, Sander I, Steiner P. et al. // Solid State Comm.-1990.-V.73,№7.-P.527-530.

65. Core-level spectroscopy in condensed systems./Ed. by J.Kanamori, A.Kotani -Springer Series in solid state Sciences. V.81.-Berlin-Heidelberg: Springer Verlag, 1988.

66. Hiifner S. Photoelectron Spectroscopy. Principles and Applications./Ed. by M.Cordona, P.Fulde, K.van Klitzing, H.-J.Queisser -Springer Series in solid State Sciences. V.82.-Berlin-Heidelberg:Springer Verlag, 1995.-511 p.

67. Аврамов П.В, Овчшшиков С.Г. Связь особенностей электронной структуры высокотемпературных сверхпроводников с формой их рентгеновских и электронных спектров// Журн.структ.химии.-1999.-т.40,№1-С. 131—183.

68. Fadley C.S. Multiplet splittings in photoelectron spectra// Electron Spectroscopy / Ed. by D.A.Shirley -Amsterdam-London:North-Holland Pub. Co, 1972. -P.781-801.

69. Собельман И.И. Введение в теорию атомных спектров // М.:Наука, 1977.-319 с.

70. Вертхайм Г. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия твердых тел // Электронная и ионная спектроскопия твердых тел / Под. ред. Л.Фирмэнса, Дж. Вэнника, В.Декейсера.-М.: Мир, 1981.-С. 195-235.

71. Scrocco M. Satellite structure in the x-ray photoelectron spectra of Fe(III) halides: Evidence of multielectron excitation and multiplet structure // Phys.Rev. B.-1981.-V.23,№9.-P.4381-4390.

72. Рентгеноэлектронные исследования некоторых соединений никеля и кобальта / Ю.А.Тетерин, А.Н.Баранов, В.М.Кулаков и др. // Координационная химия.-1978.-т.4,№12.-С. 1860-1866.

73. Тетерин Ю.А., Баев А.С. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия соединений лантаноидов: Обзор.-М.:ЦНИИатоминформ, 1987.-128 с.

74. Yamaguchi T.,Sugano S. Multiplet Structure in X-ray Зр-Shell Photoelectron Spectra of Chromium Compounds //J.Phys.Soc.Japan.-1977.-V.42, №6.-P. 1949-1956.

75. Okada K., Kotani A. Multiplet Structures of Cu 2p-XPS in La2Cu04, CuO and Cu Halides //J.Phys.Soc.Japan.-1989.-V.58, №7.-P.2578-2585.

76. Gupta R.P., Sen S.K. Calculation of multiplet structure of core P-vacancy levels// Phys.Rev. B.-Vol.l0,№l.-P. 71-77.

77. Gupta R.P., Sen S.K. Calculation of multiplet structure of core P-vacancy levels.II.//Phys.Rev. B.-Vol. 12,№1.-P. 15-19

78. Запорожченко В.И., Кухаренко Ю.А., Раховский В.И. Оже-электронная спектроскопия твердых тел // Спектроскопия и дифракция электронов при исследовании поверхности твердых тел / В.Ф.Кулешов, Ю.А.Кухаренко, С.А.Фридрихов и др.-М.:Наука,1985.-С. 70-161 с.

79. Мигдал А.Б. Теория конечных ферми-систем и свойства атомных ядер-М.:Наука, 1983.-432 с.

80. Яржемский В.Г. Теория форм линий в фотоэлектронных и оже-спектрах // Журн. структ. химии.—1998.-т.39,№6.-С.985-991.

81. Фелдман Л., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок-М.:Мир, 1989.-344 с.

82. Парилис Э.С. Эффект Оже.-Ташкент:Фан, 1969.-210 с.

83. Ritchie R.H. Plasma losses by fast electrons in thin films //Phys.Rev.-1957-V. 106,№5.~P.874-881.

84. Quinn J.J., Ferrell R.A. Electron Self-Energy approach to Correlation in a Degenerate Electron Gas // Phys.Rev.-1958.-V. 112,№3.-P.812-827.

85. Quinn J.J. Range of Excited Electrons in Metals // Phys.Rev.-1962-V. 126, №4.-P. 1453-1457.

86. Комолов C.A. Интегральная вторично-электронная спектроскопия по-верхности.-JL: Изд-во Ленинград, ун-та, 1986.-180 с.

87. Киттель Ч. Введение в физику твердого тела.-М.:Наука, 1978.-791 с.

88. Шульга Ю.М., Лобач А.С. О связи между энергией (ст+7с)-плазмона и удельной плотностью для твердых образцов Сбо// Физика твердого тела,- 1993.-т. 3 5, №4.-С. 1 092-1095.

89. Sunjic М., Sokcevic D. Bulk and surface plasmon excitation in x-ray photoemission // Solid State Comm.-1974.-V. 15,№2.-P. 165-168.

90. Sunjic M.,Sokcevic D. On the problem of "intrinsic" vs "extrinsic" scattering in x-ray photoemission from core levels of solid // Solid State Comm-1976-V.18,№3.-P.373-375.

91. Спектр потерь энергии электронов фуллерена Сбо, сопровождающий фотоэлектронный пик С Is / Ю.М.Шульга, А.П.Моравский, А.С.Лобач, В.И.Рубцов // Письма в ЖЭТФ.-1992.-Т.55,вып.2.-С. 137-140.

92. Duke С.В., Mahan G.D. Phonon-Broadening Impurity Spectra. I. Density of States // Phys. Rev. A.-1965.-V. 139,№6.-P. 1965-1982.

93. Котани А., Тойозава И. Теоретические вопросы спектроскопии глубоких уровней // Синхротронное излучение. Свойства и применение /К.Кодлинг, В.Гудат, Э.Кох и др.-М.:Мир, 1981.-С.211-277.

94. Берсукер И.Б. Строение и свойства координационных соединений. Введение в теорию.-Л.:Химия,1971- 312 с.

95. Fuggle J.C. High Resolution Auger Spectroscopy of Solids and Surfaces // Electron Spectroscopy: Theory, Techniques and Applications. Vol.4 / Ed. by C.RBrundle and A.D.Baker.-London: Academic Press, 1981-P.85-152.

96. Doniach S., Sunjic M. Many-electron singularity in X-ray photoemission and X-ray line spectra from metals // J.Phys.C.-1970.-V.3-P.285-290.

97. Wertheim G.K., Htifher S. Many-body Shape in X-ray Photoemission from Metals // Phys. Rev. Lett.-1975.-V.35,№l.-P.53-56.

98. Hufner S., Wertheim G.K. Core-level asymmetries in the x-ray photoemission spectra of metals // Phys. Rev. B.-1975.-V.ll,№2.-P.678-683.

99. Wertheim G.K., Buchanan D.N.E. Core-electron line shapes in x-ray photoemission spectra from semimetal and semiconductors// Phys. Rev. B-1977.-V.16,№6.-P.2613-2617.

100. Pendry J.B. The application of pseudopotentials to low-energy electron diffraction. II: Calculation of the reflected intensities.// J.Phys.C.-1969.-V2,№12.-P.2273-2282.

101. Наумовец А.Г. Дифракция медленных электронов // Спектроскопия и дифракция электронов при исследовании поверхности твердых тел /

102. B.Ф.Кулешов, Ю.А.Кухаренко, С.А.Фридрихов и др.-М.:Наука,1985.-С. 162-221 с.

103. Angle-resolved X-ray photoelectron spectroscopy for the characterization of GaAs(OOl) surfaces/ P.Alnot, J.Olivier, F.Wyczisk, C.S.Fadley // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.-1987.-V.43.-P,263-286.

104. Нефедов В.И., Черепин B.T. Физические методы исследования поверхности твердых тел. М.: Наука, 1983. - 296 с.

105. Calculation of Escape Depths from Inelastic Mean Free Paths/ H.Ebel,

106. C.Pohn, R.Svagera et al.// J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom 1990. - Vol 50.-P. 109-116.

107. Powell C.J. The quest for Universal Curves to Describe the Surface Sensitivity of Electron Spectroscopies // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.-1988.-Vol 47.-P. 197-214.

108. Tougaard A. Inelastic background correction and quantitative surface analysis // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.- 1990. Vol 52.-P. 243-271.

109. Surface sensitivity of Auger-electron spectroscopy and X-ray photoelec-tron spectroscopy/C.J.Powell, A.Jablonski, I.S.Tilinin et al. // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.- 1999. Vol 98-99.-P. 1-15.

110. Басченко O.A., Нефедов В.И. Влияние упругого рассеяния фотоэлектронов на определение толщин сверхтонких поверхностных пленок // Металлофизика.-1982.-т.4, №1.-С.61-68.

111. Басченко О.А., Нефедов В.И. Эффективные длины свободного пробега фотоэлектронов в плоских пленках // Поверхностъ.-1982.-№2-С.87-93.

112. Baschenko О .A., Nesmeev А.Е. The Effect of Elastic Photoelectron Scattering on Depth-profiling by Angular Resolvrd X-ray Photoelectron Spectroscopy // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.- 1991. Vol 57,№1-P. 33-46!

113. Басченко О.А. Учет зависимости длин свободного пробега электронов от элементного состава при восстановлении концентрационных профилей по данным РЭСУР // Поверхность.-1992.-№2.-С.98-105.

114. Нефедов В.И., Федорова И.С. Упругое рассеяние фотоэлектронов и аналитика в рентгеноэлектронной спектроскопии // ДАН.-1997-т.353,№2.-С. 207-209.

115. Nefedov V.I., Nefedova I.S. The escape probabilities of the photoelectrons from solids//J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom-1998.-Vol 96-P. 135-140.

116. Влияние недипольных переходов на угловое распределение фотоэлектронов при фотоионизации твердых тел/ В.И.Нефедов, В.Г.Яр-жемский, И.С.Нефедова и др. // ДАН.-1999.-т.367,№3.-С. 324-327.

117. Relative effect of extra-atomic relaxation on Auger and Binding-energy shifts in transition metals and salts /S.P. Kowalczyk , L.Ley , F.R.McFeely et al.// Phys.Rev.B.-1974.-V.9,№2.-P.381-391.

118. Галлон Т. Актуальные вопросы электронной оже-спектроскопии// Электронная и ионная спектроскопия твердых тел / Под. ред. Л.Фирмэнса, Дж. Вэнника, В.Декейсера.-М.: Мир, 1981.-С. 236-280.

119. Sodhi R.N.S.,Cavell R.C. KLL Auger and core level (Is and 2p) photoe-lectron shifts in a series of gaseous sulfur compounds// J.Electron Specrosc. Relat Phen.-1986.-V.41.-P. 1-24.

120. Slater J.C. Quantum Theory of Atomic Structure.-Vol. II.-New York, McGraw-Hill, 1960.-P.286.

121. Larkins F.P. Semiempirical Auger-electron energies for elements 10<Z<100 // At. Data Nuci. Data Tabl.-1977.-V.20,№4 -P.311-387.

122. Hohlneicher G., Pulm H. On the separation of initial and final state effects in photoelectron spectroscopy using an extension of the Auger-parameter concept//J.Electron Specrosc. Relat. Phen.-1985.-V.37.-P.209-224.

123. Wagner C.D. The Auger parameter, its utility and advantages: A review // J.Electron Specrosc. Relat. Phen.-1988.-V.47.-P.283-313.

124. Wagner C.D, Gale L.H, Raymond R.H. Two-dimensional Chemical State Plots: A Standartized Data Set for Use in Identifying Chemical States by X-Ray Photoelectron Spectroscopy// Anal. Chem.-1979.-V.5l,№4.-P.466-482.

125. Moretti G. Relationship between the Auger parameter and the energy gap // J.Electron Specrosc. Relat. Phen.-1990.-V.50.-P.289-293.

126. Determination of effective atomic charge, extra-atomic relaxation and Madelung energy in chemical compounds on the basis of X-ray photoelectron and Auger transition energies// J.Electron Specrosc. Relat. Phen-1988-V.46.-P.381-404.

127. Agren H. On the interpretation of molecular valence Auger spectra // J.Chem.Phys.-1981.-V.75,№3 .-P. 1267-1283.

128. Approximate Calculation of Inner-Shell Binding Energies and Auger Transition Energies of Solid Silicon Compounds /C.Zwanziger, S.Petrowa, J.Reinhold et al. //Phys.Stat.Sol.-1988.-V.145.-P.603-607.

129. Теоретическое исследование оже-спектра алмаза /В.Г.Алешин, О.П.Бугаец, Ю.Н.Кучеренко, В.В.Немошкаленко //ДАН СССР.-1986,-т.287,№3.-С.611-614.

130. Lander J.J. Auger Peaks in the Energy Spectra of Secodary Electrons from Various Materials // Phys.Rev.-1953.-V.91,№6.-C. 1382-1387.

131. Amelio G.F, Scheinber E.J. Auger Spectroscopy of graphite single crystals with low energy electrons // Surf.Sci.-l968.-V.l 1.-P.242-254.

132. Amelio G.F. Band structure of silicon by characteristic Auger electron spectrum analysis // Surf.Sci.-1970.-V.22.-P.301-318.

133. Оже-спектры LW серы, сегрегированной на поверхности 3d-металлов / Ю.Г.Абашкин, А.П.Дементьев, Т.М.Джибути, О.П.Иванова //Поверхность.-1989.-№11.-С.48-54.

134. Кучеренко Ю.Н. Энергетическая структура оже-спектров нестехио-метрических карбидов тирана //Поверхность.-1987.-№7.-С. 106-109.

135. Weifimann R. Intensity ratios of the КЬ^, KL23L23 oxygen Auger lines in different compounds //Solid State Comm.-1979.-V.31.-P.347-349.

136. Metal Auger Intensity Ratios in Transition Metals and Their Com-pounds/S.Yashonath, P.Sen, M.S.Hegde, C.N.R.Rao //J.Chem.Soc., Faraday Trans.I.-1983.-V.79.-P. 1229-1236.

137. Об изменении формы NKVV-оже-линии в ряду ZrN, NbN, Mo2N/ Ю.М.Шульга,В.И.Рубцов,Г.Л.Гуцев.//Поверхность.-1987.-№7.-С.86- 89.

138. Feibelman P.J., McGuire E.J., Pandey K.C. Theory of valence-band Auger line shapes: Ideal Si(lll), (100), and (110)*// Phys Rev.B.-1977.-V.15,№12.-P.2202-2216.

139. McGuire E.J. K-Shell Auger Transition Rates and Fluorescrnce Yields for Elements Be-Ar// Phys Rev.-1969.-V.185,№l.-P.l-6.

140. McGuire E.J. K-Shell Auger Transition Rates and Fluorescrnce Yields for Elements Ar-Xe // Phys Rev. A.-1970.-V.2,№2.-P.273-278.

141. Relationship between the Auger line shape and the electronic properties of graphite/ J.E.Houston, J.W.Rogers,Jr., R.R.Rye et al.-Phys.Rev.B.-1986-V.34,№2.-P. 1215-1226.

142. Cini M. Density of states of two interacting holes in a solid// Solid State Comm.-1976.-V.20.-P.605-607.

143. Cini M. Two hole resonances in the XVV Auger spectra of solids // Solid State Comm.-1977.-V.24.-P.681-684.

144. Sawatzky G.A. Quasiatomic Auger Spectra in Narrow-Band Model// Phys.Rev.Lett.-1977.-V.39,№8.-P.504-507.

145. Hutson F.L., Ramaker D.E. Identification of resonant excitation and shakeoff contributions to the С KW Auger line shapes of several gas phase hydrocarbons//J.Chem.Phys.-1987.-V.87,№12.-P.6824-6837.

146. Kucherenko Yu.N. Influence of relaxation on the shape of the Auger spectra of metals // J.Electron Specrosc. Relat. Phen.-1990.-V.53,№l/2.-P.39-50.

147. Electron correlation in Si studied by high-resolution KLV Auger spectroscopy // Phys.Rev. B.-1993.-V.48,№19.-P. 14142-14149.

148. Ramaker D.E. Bonding information from Auger spectroscopy // Appl. Surf. Sci.-1985.-V.21.-P.243-267.

149. Dunlap B.I., Hutson F.L., Ramaker D.E. Auger lineshapes of solids surfaces-Atomic, bandlike, or something else? // J.Vac.Sci.Technol.-1981-V. 18,№2.-P.556-560.

150. D.E.Ramaker Chemical effects in the carbon KW Auger libe shapes // J.Vac.Sci.Technol. A.-1989.-V.7,№3.-P. 1614-1622.

151. Ramaker D.E., Turner N.H., Milliken J. The Nature of Core States in Сбо as Exhibited by the Auger Line Shape //J.Phys.Chem.-1992.-V.96,№19.-P.7627-7632.

152. Antonides E., Janse E.C., Sawatzky G.A. LMM Auger spectra of Cu, Zn, Ga, and Ge. I. Transition probabilities, term splittings, and effective Coulomb interaction// Phys. Rev. B.-1977.-V. 15,№4.-P. 1669-1679.

153. Барр Т.Л. Применение электронной спектроскопии в гетерогенном катализе // Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / Под. ред. Д.Бриггса, М.П.Сиха-М.:Мир,1987.-С.318-401.

154. Свифт П., Шатлуорс Д., Сих М.П. Методы учета статической заряки// Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектроной спектроскопии / Под. ред. Д.Бриггса, М.П.Сиха.-М.:Мир,1987.-С.488-496.

155. Ebel M.F., Ebel Н. About the charging effect in X-ray photoelectron spectrometry//J.Electron Specrosc. Relat. Phen.-1974.-V.3.-P. 169-180.

156. Anthony M.T., Seah M.P. XPS: Energy Calibration of Electron Spectrometers/ 1-An Absolute, Traceble Energy Calibration and the Provision of Atomic Reference Line Energies // Surf. Interface Anal.-1984.-V.6,№3-P.95-106.

157. Anthony M.T., Seah M.P. XPS: Energy Calibration of Electron Spectrometers/ 2-Results of an Interlaboratory Comparison // Surf. Interface- Anal.-1984.-V.6,№3.-P. 107-115.

158. A method for depositing well defined metal particles onto a solid sample suitable for static charge referening in X-ray photolectron spectroscopy / Th. Gross, K.Richter, H.Sonntag, W.Ugner //J.Electron Specrosc. Relat. Phen.-1989.-V.48,№1/2-P.7-12.

159. Hughes A.E., Sexton B.A. Comments on the use of implanted Ar as binding energy reference//J.Elect. Specrosc.Relat.Phen.-1990.-V.50.-P.cl5-cl8.

160. П.М.А.Шервуд. Обработка данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии // Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии /Под ред. Д.Бриггса, М.П.Сиха -М.: Мир, 1987,- С.497-529.

161. Proctor A., Sherwood P.M.A. Smoothing of Digital X-ray Photoelectron Spectra by an Extended Sliding Least-Squares Approach // Anal. Chem. -1980.-Vol.52.-P. 2315-2321.

162. Seah M.P., Dench W.A. Smoothing and the Signal-to-Noise Ratio of Peaks in Electron Spectroscopy // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.-1989. Vol 48.-P. 43-54.

163. Delamar M. Binomial smoothing for electron spectroscopies// J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.- 1990. Vol 53-P. cl-c4.

164. Маршан, Марме. Биномиальный сглаживающий фильтр (способ избежать некоторых ошибок полиномиального сглаживания по методу наименьших квадратов) // Приборы для научных исследований.-1983-№8 .-С. 125-133.

165. Wertheim G.K. Deconvolution and smoothing: Applications in ESC A // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom 1975. - Vol 6-P. 239-251.

166. Chornik В., Sopizet R., Le Gressus C. Deconvolution in Electron Spectroscopy Revisited: Computational Aspects // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.- 1987. Vol 42.-P. 329-350.

167. Домнич М.Б., Сахарук Т.А. Традиционный и альтернативный методы цифрового сглаживания и дифференцирования спектроскопической информации//Журн. прикл. спектроск.-1990.-т.53,№4.-С.645-651.

168. Reinsch С.Н. Smoothing by spline functions // Numer. Math-1967-V.10,№4.-P. 177-183.

169. Вершинин B.B., Завьялов Ю.С., Павлов H.H. Экстремальные свойства сплайнов и задача сглаживания.-Новосибирск: Наука, 1988 102 с.

170. Losev A. Smoothing by spline functions: Applications in electron spectroscopy// J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.- 1990. Vol 53.-P.

171. Wertheim G.K., Dicenzo S.B. Least-Squares Analysis of Photoemission Data // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom 1985. - Vol 37.-P. 57-67.

172. Beatham N., Orchard A.F. The Application of Fourier Transform Techniques to the Problem of Deconvolution in Photoelectron Spectroscopy // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom 1976. - Vol 9.-P. 129-148.

173. Shirley D.A. High-Resolution Photoemission Spectrum of the Valence Bands of Gold // Phys. Rev. В.- 1972. Vol. 5,№ 12. - P. 4709-4714.

174. Proctor A., Sherwood P.M.A. Data Analysis Techniques in X-ray Photoelectron Spectroscopy // Anal. Chem.-1982.-V.54,№l.-P. 13-19.

175. Tougaard S. Background removal in x-ray photoelectron spectroscopy: Relative importance of intrinsic and extrinsic processes // Phys.Rev.B.-1986.-V.34,№10.-P.6779-6783.

176. Tougaard S. In-depth concentration profile information through analysis of the entire XPS peak shape //Appl.Surf.Sci.-1988.-V.32.-P.332-337.

177. Tougaard S. Inelastic background correction and quantitative surface analysis //J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.- 1990. Vol 52.-P. 243-271.

178. Определение содержания гауссовой и лоренцовой составляющих в форме экспериментальных спектральных линий/Уэртхэйм, Батлер, Уэст, Буханан.// Приборы для научных исследований 1974 - №11- С. 64-66.

179. Weber Е.Н., Flamm D., Meisel A. ESCA investigation of the initial oxidation of polar GaAs surfaces//! Electron Spectrosc. Relat. Phenom.- 1988. -Vol 47.-P. 39-51.

180. Малышев В.И. Введение в экспериментальную спектроскопию-М.:Наука, 1979.-478 с.

181. Применение асимметричных спектральных фунций для разложения рентгеноэлектронных спектров поверхности твердого тела/ В.Г.Яржемский, И.Я.Колотыркин, Г.И.Каплан, П.А.Ждан // Поверхность.-1990.-№2.-С. 141-146.

182. Joyce J. J., Del Giudice M., Weaver J.H. Quantitative analysis of synchrotron radiation photoemission core level data//J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.- 1989. Vol 49.-P. 31-45.

183. Vech J. The Analytical Form of the Shirley-type Background // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom 1988. - Vol 46.-P. 411-417.

184. Marquardt D. W. An Algorithm for Least-Squares Estimation of Nonlinear Parameters // J.Soc. Indust Appl. Math. Vol. 11, № 2 - P.431-441.

185. Meiron J. Damped Least-Squares Method for Automatic Lens Design // J. Opt. Soc. Am.- Vol. 55, № 5,- P. 1105-1109.

186. Дэннис Дж., мл., Шнабель Р. Численные методы безусловной оптимизации и решения нелинейных уравнений- М. .Мир, 1988. 440 С.

187. Гилл Ф., Мюррей У., Райт М. Практическая оптимизация -М.:Мир,1985.

188. Hughes А.Е., Sexton В.A. Curve Fitting XPS Spectra // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.- 1988. Vol 46.-P. 31-42.

189. Яковлев А.А. Спектральная редукция при минимуме априорной информации//Журн. прикл. спектроск.-1985.-т.42,№2.-С.229-234.

190. Guzhavina T.I. On the minimization functional in the data processing of EXAFS spectra by fitting and background removal // Nucl. Instr. Meth. in Phys. Res. A.-1989.-282.-P.664-666.

191. Carley A.F., Joyner R.W. The Application of Deconvolution methods in electron Spectroscopy A Review // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom-1979.-Vol 16.-P. 1-23.

192. Худсон Д. Статистика для физиков.-М.:Мир, 1970.-296 с.

193. Антон А. Дисперсия параметров, полученных при нелинейной аппро-ксимации//Приб. научн. исслед.-1991.-т.62,№3.-С. 161-164.

194. Проблемы измерения интенсивности в электронной оже-спектроскопии / А.И.Загоренко, В.И.Запорожченко, С.Э.Бородянский, Ю.Г.Абашкин // Поверхность.-1991.-№3.-С.93-102.

195. Тихонов А.Н., Арсенин В.Я. Методы решения некорректных задач-М.:Наука, 1979.-285 с.

196. Численные методы решения некорректных задач/ АН.Тихонов,

197. A.В.Гончарский, В.В.Степанов, А.Г.Ягола//М.:Наука, 1990.-232 с.

198. Бакушинский А.Б., Гончарский А.В. Итеративные методы решения некорректных задач.-М. .Наука, 1989.-127 с.

199. Hansen Р.С. Regularization Tools: A Matlab package for analysis and solution of discrete ill-posed problems// Numer. Algor.-1994.-V.6.-P.l-35.

200. Восстановление оже-спектров методом регуляризации /

201. B.Г.Башенков, Ч.В.Копецкий, В.С.Солдатов, Ю.А.Шиянов // Поверхность.-1987.-№7.-С. 110-115.

202. Gatts С., Losch W. Application of factor analysis to Auger crater-edge profiling // J. Vac.Sci.Technol. A.-1991.-V.9,№6.-P.2982-2985.

203. Koenig M.F., Grant J.T. Comparison of factor analysis and curve-fitting for data analysis in XPS// J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom 1986. - Vol 41.-P. 145-156.

204. Идентификация проводящих полимеров методом распознования образов по оже-спектрам углерода/ Б.Лесяк, А.Яблоньский, М.У.Кислюк и др.// Поверхность.-1989.-№11.-С.39-47. .

205. Kwok R.W.M. XPSPEAK V.4.1 //http://sunl.phy.cuhk.edu.hk/~surface/XPSPEAK

206. Adams D.L, Andersen J.N. FitXPS v.1.11 // ftp:Moopic.dfi.aau.dk/pub/fitxps

207. Williams T, Kelley C. GNUPLOT v.3.7 // ftp ://ftp. dartmouth.edu/pub/gnuplot217. ftp://netlib2.cs.utk.edu

208. Seah M.P, Brown M.T. Validation and accuracy of software for peak synthesis in XPS // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom 1998. - Vol 95,№1-P. 71-93.

209. Рентгеноэлектронный спектрометр с электростатической фокусировкой / Л.Н.Мазалов, Г.Ф.Худорожко, Г.Ф.Садовский и др.// Изв. СО АН СССР, сер. хим. наук 1975.-Т.4, № 9,- С. 133-138.

210. Исследование однородности состава и структурных характеристик пленочных структур на основе КРТ и объемных материалов: Отчет по хоздоговору №519-068-91д АН СССР Сиб.отд-ние.Ин-т неорганической химии; Руководитель Л.Н.Мазалов-Новосибирск, 1991.-111 с.

211. The Pecan Power System Development System. New York: Pecan Software Systems, Inc., 1987. - 320 P.

212. Gütlich P., Link R, Trautwein A. Mössbauer Spectroscopy and Transition Metal Chem.-Berlin Heidelberg New York:Springer-Verlag, 1978.-281 P.

213. Рентгеновские спектры молекул /Л.Н.Мазалов, В, Д.Юматов, В.В.Мурахтанов и др. -Новосибирск:Наука, 1977.-331 с.

214. Рентгеновская оптика (Труды ФИАН. Т. 196).-М. .Наука, 1989 182 С.

215. Мишетт А. Оптика мягкого рентгеновского излучения М.: Мир, 1989,-352 С.

216. Рентгеновская оптика и микроскопия / Под ред, Г.Шмаля, Д.Рудольфа.- М.:Мир, 1987 464 С

217. Nordgren J., Wassdahl N. Current Status and Future Prospects for UltraSoft X-Ray Emission Spectroscopy//Phys. Scr.-1990.- Vol. T31- P. 103-111.

218. Barbee T.W.,Jr., Rife J.C., Hunter W.R., Cruddace R.G., Pianetta P. Multilayer diffraction gratings: application to synchrotron radiation instrumentation// Opt. Eng. 1990. - Vol.29, №7,- P.738-744.

219. Barbee T.W.,Jr. Advances in Multilayer X-Ray/EUV optics: synthesis, performance, andinstrumentation//Opt. Eng-1990- Vol.29, №7 -P.711-720

220. Nevière. Multilayer coated gratings for X-Ray Diffraction: differential theory // J. Opt. Soc. Am. A.-1991- Vol.8 №9,- P. 1468-1473.

221. Юматов В.Д. Ультрамягкая рентгеновская спектроскопия и электронное строения ряда простых молекул, органических и комплексных соединений: Автореф. дисс.д-ра хим.наук: 02.00.04 / РАН Сиб. отд-ние. Ин-т неорганической химии,- Новосибирск, 1995,- 74 с.

222. Krause М.О. The MÇ X Rays of Y to Rh in Photoelectron Spectrometry // Chem. Phys. Lett. 1971,-Vol. 10, №1.-P. 65-69.

223. Krause M.O. Photoelectron Spectrometry: A new approach to X-ray analysis // Adv. X-ray Analysis. 1972-Vol. 16 - P. 74-89.

224. Krause M.O. Photoelectrons: Counter Parts of Roentgen Rays // Phys Fenn.- 1974-Vol. 9, №S1.-P.261-263.

225. Krause M.O. Ferreira J.G. К X-Ray Emission spectra of Mg and A1 // J.Phys. В : At. Mol. Phys. 1975 .-Vol. 8, №12,-P. 2007-2014.

226. MacDowell A.A., Hillier I.H., West J.B. // A Soft X-Ray Fluorescence Spectrometer for Studies of Molecular Electronic Structure. Daresbury, 1982. - 19 P.-(Preprint Daresbury Laboratory; DL/SCI/P 344E).

227. MacDowell A.A., Hillier I.H., West J.B. // J.Phys. E: Sci.Instrum.- 1983,-Vol. 16,- P. 487-491.

228. Krause M.O., Wuilleumier F., Nestor C.W., Interpretation of the L X-Ray Emission Spectrum of Zr.// Phys. Rev. A . 1972,- Vol. 6, № 3.- P. 871-879.

229. Benka 0. A Cylindrical Mirror Photoelectron Spectrometer with PositionSensitive Detector used for X-Ray Analysis // Nucl. Instrum. Methods.- 1982,- Vol. 203,- P.547-550.

230. Benka 0. Fluorine Ka-X-Ray Spectra Measuresd by means of a PAX-X-Ray Spectrometer// Intern. Conference on X-Ray and Inner-Shell Processes in Atoms, Molecules and Solids,Abstracts, Part 1. Leipzig, 1984.-P.45-46.

231. Gupta R.P., Brown J.R. X-Ray Spectroscopy with an ESC A Spectrometer// Chem. Phys. Lett.- 1985,- Vol 116,№4,- P.353-356.

232. Holton I.R., Weightman P., Andrews P.T. Quasi-atomic satellites in the L3-M4;5 X-Ray Spectra of Ni,Cu and Zn.

233. Weightman P., Davies M., Andrews P.T. Cu L2,3 M^ X-ray Spectra of CuioPd9o // Phys.Rev В.- 1984,-Vol. 30, №10,- P.5586-5590.

234. Брытов Л.А., Мстибовская Л.Е., Ромащенко Ю.Н. Атлас рентгеновских спектров.-Л.: НПО "Буревестник", 1981.

235. Фомичев В.А. Ультрамягкая рентгеновская спектроскопия и ее применение к изучению энергетической структуры твердого тела: Автореф. дисс. .д-ра физ.-мат.наук:/ ЛГУ Ленинград, 1975 - 46 с.

236. Koster A.S. Influence of the chemical bonds on the K-emission spectrum of oxygen and fluorine // J. Phys. Chem. Solids. Phys-1971. -Vol.32,№12-P. 2686-2692.

237. Beardin J.A. X-ray wavelenths // Rev.Mod.Phys.-V.39,№l.-P.78-124.

238. Рентгеновские спектры ряда образцов нитрида бора/ И.П.Асанов, В.Д.Юматов, О.Л.Щека и др.-Новосибирск, 1988- 30 с. (Препринт АН СССР. Сиб. отд-ние. Ин-т неорганической химии; №88-6).

239. А.с. 1224687, 4G 01 11 23/20. Ультрадлинноволновой рентгеновский спектрометр / Л.Н.Мазалов, В.Д.Юматов, А.В.Окотруб, Г.С.Беликова (СССР). - № 3764439. -Б.И.- 1986, №14,- С. 104.

240. Шарупин Б.Н. Структура и свойства пиронитрида бора // Химическое газофазное осаждение тугоплавких неорганических материалов. Л.: ГИПХ, 1976.-С.66-101.

241. Arefiev K.P., Lopatin V.V., Surov Yu.P. Macrodefects of pyrolytic boron nitride // Phys.Stat.Sol(a).-1986- Vol.98, №1.-P.K27-K32.

242. Хофман С. Послойный анализ //Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / Под ред. Д.Бриггса, М.П.Сиха. М.: Мир, 1987. - С. 160-202 с. '

243. Распыление твердых тел ионной бомбардировкой.Вып2. Распыление сплавов и соединений, распьшение под дей ствием электронов и нейтронов, рельеф повнрхности / Р Бериш, Г.Бетц, Г.Венер и др. -М.:Мир, 1986.- 488 с.

244. Fadley C.S., Baird R.J., Siekhaus W., Novakov T., Bergström S.Â.L. Surface Analysis and Angular Distribution in X-Ray Photoelectron Spectroscopy // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.- 1974. Vol 4.-P. 93-137.

245. Seah M.P., Anthony M.T. Quantitative XPS: The Calibration of Spectrometer Intensity Energy Response Functions. 1 - The Establishment of Reference Procedures and Instrument // Surf. Interface Anal. - 1984. - Vol. 6, №5,-P. 230-254.

246. Flament 0.,Druet E. Calibration of VG ESCALAB Mkll Spectrometer for XPS Quantitative Analysis // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.- 1990. -Vol 53.-P. 141-152.

247. Seah M.P., Anthony M.T. Quantitative XPS: The Calibration of Spectrometer Intensity Energy Response Functions. 1 - The Establishment of Reference Procedures and Instrument // Surf. Interface Anal. - 1984. - Vol. 6, №5,- P. 230-254.

248. Grant M.T. Methods for Quantitative Analysis in XPS // Surf. Interface Anal. 1989. - Vol. 14,- P. 271- 283.

249. Сих М.П. Количественная оже-электронная и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия //Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / Под ред. Д.Бриггса, М.П.Сиха. М.: Мир, 1987. - С.203-243 с.

250. Панов А.Д. Анализ поверхностных пленок с помощью метода рентгеноэлектронной спектроскопии для плоских и хаотических поверхностей // Поверхность.-1995.-№10.-С.21-34.

251. On the Energy Dependence of Attenuation Lengths in Hydrocarbon Contamination./ M.F.Ebel, H.Ebel., C.Puchberger, R.Svagera// J. Electron Spec-trosc. Relat Phenom.-1991.-Vol 57-P. 357-372.

252. Райх Т., Нефедов В.И. Рентгеноэлектронный анализ поверхности с учетом слоя загрязнений// Поверхность.-1989.-№10.-С.58-64.

253. Трапезников В.А., Шабанова И.Н. Рентгеноэлектронная спектроскопия сверхтонких поверхностных слоев конденсированных систем. М.: Наука, 1988. - 200 с.

254. Васильев Л.С., Ломаева С.Ф., Шабанова И.Н. Анализ оксидных слоев ультрадисперсных порошков металлов методом рентгеноэлектронной спектроскопии// Поверхность.-1993.-№11.-С.94-99.

255. Миначев Х.М., Антошин Г.В., Шпиро Е.С. Фотоэлектронная спектроскопия и ее применение в катализе. М.: Наука, 1981. - 213 с.

256. Определение толщины сверхтонких покрытий рентгеноэлектронным методом с учетом упругого рассеяния фотоэлектронов/В.И.Нефедов, И. С.Нефедова,И.Улиг и др.//Поверхность.-1998.-т.34,№11.-С. 1295-1299.

257. Pijolat M.,Hollinger G.,New Depth Profiling Method by Angular Dependent X-ray Photoelectron Spectroscopy//Surf. Sci.-l 981 .-V. 105 .-P. 114-128.

258. Bussing T.D., Holloway P.H. Deconvolution of Concentration Depth Profiles from Angle Resolved X-ray Photoelectron Spectroscopy Data // J.Vac.Sci.Technol.A.-1985.-Vol3,№5.-P.1973-1981.

259. McCaslin P.C., Young V. Numerical Approaches to Non-Destructive Depth Profiling by Variable Angle X-ray Photoelectron Spectroscopy // Scanning Microscopy.-1987.-Vol. 1,№4.-P. 1545-1556.

260. A Comparison of two XPS methods for Quantification of Concentration Profiles/H.Ebel, M.F.Ebel, R.Svagera et al// J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.- 1991. Vol. 57-P. 15-32.

261. Басченко O.A., Нефедов В.И. Неразрушающий метод восстановления профилей концентраций элементов в поверхностных слоях твердых тел по рентгеноэлектронным спектрам // Поверхность.-1987.-№7.-С.75-85.

262. Басченко O.A., Нефедов В.И. Правильность восстановления двухком-понентных концентрационных профилей в поверхностном слое по данным РЭС с угловым разрешением // Поверхность.-1987.-№10.-С.99-106.

263. Nefedov V.l., Baschenko O.A. Relative Intensities in ESCA- and Quantitative Depth Profiling//J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom- 1988. Vol 47-P. 1-25.

264. Басченко O.A., Нефедов В.И. Распределение элементов по глубине в поверхностных слоях твердых тел по данным рентгеноэлектронной спектроскопии с угловым разрешением//Поверхность.-1991.-№8.-С.51-64.

265. Басченко O.A., Бухтияров В.И., Воронин А.И. Применение метода РФЭСУР в сочетании с численным восстановлением концентрационных профилей к системам адсорбат-металл//Поверхность-1992.-№3.-С.36-45

266. Абашкин Ю.Г., Бородянский С.Э., Васильев JI.A., Дементьев А.П. Определение профилей концентрации элементов по глубине с использованием данных угловой РЭС// Поверхность.-1989.-№10.-С.71-77.

267. Черкашинин Г.Ю., Постернак В.В. Восстановление профиля концентрации элементов в приповерхностных слоях по данным РФЭС с угловым разрешением // Поверхность.-1991.-№8.-С. 157-159.

268. Черкашинин Г.Ю. Восстановление профиля концентрации элементов в приповерхностных слоях методом регуляризации // Поверхность-1993.-№10.-С.42-47.

269. Нестеренко Б.А., Миленин В.В., Гаркун О.Ю. Структура и химический состав поверхности эпитаксиалъных пленок, подвергнутой различным обработкам//Укр. физ. журн.-1987.-т.32,№8.-С. 1249-1254.

270. Electron mean free path in CdTe: 350-1450 eV/ J.Szajman, R.C.G.Leckey, J.Liesegang, J.G.Jenkin // J. Electron Spectrosc. Relat. Phe-nom.- 1980. Vol 20.-P. 323-326.

271. Brown S.D. Chemometrics//Anal.Chem.-1990.-Vol.62,№12.-P.84-101R.

272. Kowalski B.R., Schatski T.F., Stress F.H. //Anal. Chem.- 1972-Vol.44.,№13.-P.2176-2180.

273. Hobert H., Meyer K. Infrared spectroscopic analysis of complex mixtures by classification and regression Characterization of urinary calculi. // Fre-senius Z. Anal. Chem.- 1992. - V. 344.-P. 178-185.

274. Scsibarny H., Varmuza K. Common substructures in groups of compounds exhibiting similar mass spectra // Fresenius Z. Anal. Chem 1992. -V. 344.-P.220-222.

275. Gatts C., Losch W. Application of factor analysis to Auger crater-edge profiling. // J.Vac. Sci.Technol. A.-1991.-Vol.9,№6.-P.2982-2985.

276. Мазалов JI.H., Трейгер Б.А. Эффекты химической связи в рентгенос-пектральном анализе // ЖСХ.-1983.-Т.24.-С. 128-155.

277. Process analytical chemistry /R.R.Beebe, W.W.Blaser, RA.Bredeweg et al. //Anal. Chem.- 1993.-Vol. 65,№12.-P.208R-216R.

278. Lavine B.K. Chemometrics. // Anal.Chem.-1998.-VoI.70.-P.209R-228R.

279. Метод исследования фазового состава поверхности по данным оже-спектроскопии с использованием кластерного анализа и метода главных компонент / Л.Н.Шкода, И.П.Асанов, В.О.Хандрос й др. //Поверхность.-1997.-№11.-С.49-56.

280. Трейгер Б.А., Мазалов Л.Н., Диков Ю.П. Использование методов хемометрики в рентгеновской спектроскопии.-Новосибирск, 1989. -62с.-(Препринт АН СССР. Сиб. отд-ние. Ин-т нерган. химии; №89-18.

281. X-ray spectral microanalysis of the phase composition of HTSC Bi-Pb-Sr-Ca-Cu-0 ceramics on the base of chemometric approaches / I.I.Bondarenko, B.A.Treyger, V.V.Rezvitskii, L.N.Mazalov // Analyst.-1992 -V.117,№4.~ P.795-802.

282. Determination of the phase homogeneity of samples of Bi-Pb-Sr-Ca-Cu-0 ceramics by clusterization of electron probe microanalysis data/ I.I.Bondarenko, V.V.Rezvitskii, B.A.Treyger et al. // J. Less-Common Metals.- 1990,-Vol. 164& 165 .-P.620-627.

283. Бондаренко И.И. Рентгеноспектральный фазовый микроанализ ВТСП-материалов с использованием методов хемометрики: Автореф. дисс. канд.физ.-мат. наук: 02.00.02 / Московский ин-т тонкой химической технологии им. М.В. Ломоносова-Москва, 1992.-18 с.

284. Payling R. Semi-empirical elemental sensitivities for quantitative Auger electron spectroscopic analysis// J.Electron Specrosc.Relat. Phenom-1985-Vol.37.№3.-P.225-239.

285. Олдендерфер M.C., Блэпгфилд P.K. Кластерный анализ. В кн.: Факторный, дискриминантный и кластерный анализ. / Под ред. Дж.О.Ким, Ч.У.Мюллер.-М.: Финансы и статистика, 1989. С.139-215.

286. Загоруйко Н.Г. Методы распознавания и их применение,-М :Сов.Радио, 1972.-208 с.

287. Загоруйко Н.Г., Елкина В.Г., Лбов Г.С. Алгоритмы обнаружения эмпирических закономерностей,- Новосибирск.Наука, 1985.-108 с.

288. Пакет прикладных программ ОТЭКС (для анализа данных)/ Н.Г.Загоруйко, В.Г.Елкина, С.В.Емельянов, Г.С.Лбов .- М.:Финансы и статистика, 1986 -160 с.

289. Дубров A.M. Обработка статистических данных методом главных компонент.-М.:Статистика, 1978.-135 с.

290. Алгоритмы и программы восстановления зависимостей /Под ред. В.Н.Вапника- М.: Наука, 1984,- 816 с.

291. Ю.Д.Варламов, М.Р.Предтеченский, А.И.Рыков, А.В.Турбин //Письма в ЖТФ,- 1988.-Т.14.-С.2066-2068.

292. Oscillations of composition near the external surface of Y-Ba-Cu-0 thin films/ O.M.Bakunin, S.M.Klosman, S.A.Matveev, K.A.Stepanov// Appl.Phys. Lett.- 1989.-Vol.55,№l P. 78-80.

293. XPS study of high-Tc superconductor surface degradation/ V.l.Nefedov, A.N.Sokolov, M.A.Tyzykhov et al.// J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.-1989.-Vol.49,№l P.47-60.

294. Хэгструм X. Исследование электронной структуры адсорбатов методами ионно-нейтрализационной и фотоэлектронной спектроскопии / Под. ред. Л.Фирмэнса, Дж. Вэнника, В.Декейсера.-М.: Мир, 1981.-С. 281-344.

295. Hagstrum H.D. Ion-Neutralization Spectroscopy of Solids and Solid Surfaces// Phys. Rev.-1966.-Vol. 150,№2.-P.495-515.

296. Smith M.A., Levenson L.L. Valence-band information from the Auger KW spectrum of graphite.//Phys. Rev. B.-1977.-Vol.l6,№6.-P.2973-2977.

297. Obtaining density of states information from self-deconvolution of Auger band-type spectra/ J.A.Tagle, V.Martinez-Sâez, J.M.Rojo, M.Salmeron // Surf. Sci.-1978.-Vol.79.-P.77-93.

298. Szabo P, Russell G.J. The natural procedure for the auto-deconvolution of CVV-type Auger peaks // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom- 1984. -Vol.33.-P. 115-121.

299. Тихонов A.H, Леонов A.C., Ягола А.Г.Нелинейные некорректные задачи- М.: Наука, Физматлит, 1995 312 с.

300. Рентгеноспектральное и квантово-химическое исследоваание электронной структуры поли(монофторуглерода) /Л.Г.Булушева, А.В.Окотруб, В.Н.Митькин и др. // ЖСХ.-1995.-т.36,№4.-С.630-635.

301. Bulusheva L.G, Okotrub A.V. Nature of chemical bonding in the fluorinated carbon compounds//Rev. Inorg. Chem.-1999.-Vol. 19,№1-2 -P.79-115.

302. Okotrub A.V, Bulusheva L.G, Tomanek D. X-ray spectroscopic and quantum-chemical study of carbon tubes produced in arc-discharge// Chem.Phys.Lett.-1998.-Vol.289.-P.341-349. .

303. Electronic structure of carbon nanotubes / L.G.Bulusheva, A.V.Okotrub, D.A.Romanov, D.Tomanek // Phys. Low-Dim. Struct.-1998.-Vol.3/4-P. 107-134.

304. Bulusheva L.G, Kasyanov S.L, Okotrub A.V, Electronic Structure of Graphite Fluorides: Band Model and Cluster Calculations // Phys. Low-Dim. Struct.-1998.-Vol. 11/12.-P. 189-202.

305. Bulusheva L.G,, Bulusheva L.G, Gusel'iiikov A.V. X-ray spectroscopic study of carbon nanomaterials// Abstr.3rd German-Russian Symp. on electron and x-ray spectroscopy.-Yekaterinburg, 1999.-P.63

306. Baker W.A, Bobonich H.M. Magnetic Properties of some high-spin complexes of iron(II) // Inorg. Chem. -1964,-Vol. 3,№8.-P.1184-1188.

307. Исследование изменений пространственного и электронного строения комплексов железа (II) с триазолами при спиновом переходе методом EXAFS спектроскопии /Н.В.Бауск, С.Б.Эренбург, Л.Г.Лавренова, Л.Н.Мазалов// ЖСХ.-1995.-т.36, №6,-С. 1012-1019.

308. König Е, Ritter G, Kulshreshtha SM Chem. Rev. 1985.-Vol.85,-P. 219-234.

309. Asanov I.P., Bulusheva L.G., Bulusheva L.G. Study of DOS in Graphite Monofluoride with X-ray Excited Auger Spectra// Abstr.3rd German-Russian Symp. on electron and x-ray spectroscopy.-Yekaterinburg, 1999.-P.14

310. Gütlich P., Hauser A., Spiering H.// Angew. Chem.-1994.-Vol.33,№20,-P.2024-2053.

311. Зеленцов B.B., Габдрахманов M.H., Соболев C.C. Влияние размера частиц и свойств кристалла на спиновые переходы координационных соединений // Химич. физика.— 1986.— т. 5, № 9.— С. 1216-1224.

312. Goodwin H.A. Spin transitions in six-coordinate iron(II) complexes // Coord. Chem. Rev. -1976.-Vol.l8.-P.293-325.

313. Burger K., Furlani C., Mattogno G., XPS Structural Characterization of Spin-State Crossover in Fen(NCS)2(ophen)2 //J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.- 1980. Vol.21.-P. 249-256.

314. Burger K., Ebel H., XPS(ESCA) Characterization of spin-State Crossover in an Iron(II) Mixed Complex // Inorg. Chim Acta, 1981.-Vol.83,- P. L105-L107.

315. Высокотемпературный спиновый переход в координационных соединениях железа(П) с триазолами /Л.Г.Лавренова, В.Н.Икорский,

316. B.А.Варнек и др.// Координац. химия.-1986.-т.12, № 2.-С. 207-215.

317. Спиновый переход в координационных соединениях железа(П) с триазолами /Л.Г.Лавренова, В.Н.Икорский, В.А.Варнек и др. // Координац. химия.-1990.-т. 16, № 5.-С. 654-661.

318. Варнек В.А., Лавренова Л.Г. Исследование методом мессбауэровской спектроскопии комплексов FexZnix (4-амино-1,2,4-триазол)3(ЫОз)2, обладающих спиновым переходом 1А\ 5Г2// ЖСХ.-1994.-т.35,№61. C.103-112.

319. Исследование электронного и пространственного строения комплексов нитрата и перхлората трис(4-амино-1,2,4-триазол)железа(И) со спиновым переходом /Н.В.Бауск, С.Б.Эренбург, Л.Н.Мазалов и др.//ЖСХ-1994.-t.35, №4.-С. 96-104.

320. Relation between electronic and spatial structure and spin-transition parameters in chain-like Fe(II) compounds /S.B.Erenburg," N.V.Bausk, L.G.Lavrenova et al.// Solid State Ionics-1997.-Vol.l01.-P.571-577.

321. Mazalov L.N., Asanov I.P., Varnek V.A. Study of electronic structure of spin-transition complexes by XPS and Mossbauer spectroscopy //J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.- 1998. Vol.96.-P. 209-214.

322. Фудзинага С. Метод молекулярных орбиталей.-М.:Мир, 1983-461 с.

323. Watanabe N., Nakajima Т., Touhara H. Graphite Fluorides. Studies in inorganic Chemistry/ Vol.8 -Elsevier: Amsterdam, 1988.-263 p.

324. Fluorine-carbon and fluoride-carbon materials. Chemistry, physics and applications / Ed. by T.Nakajima.-New York: Marcel Dekker,Inc., 1995.-403 p.

325. Nakajima Т., Watanabe N. Graphite fluorides and carbon-fluorine com-pounds.-Boca Raton:CRC Press,1991.

326. Юданов Н.Ф., Чернявский Л.И. Модель строения интеркалированных соединений на основе фторида графита// ЖСХ.-1987.-т.28,№4.-С.86-95.

327. Изучение строения интеркалированных соединений фторида графита С2Рх/Н.Ф.Юданов, Л.И.Чернявский, В.И.Лисойван, И.И.Яковлев // ЖСХ.-1988.~т.29,№3.-С.78-83.

328. Исследование соединений фторированного графита методом РЭС/ И.П.Асанов, В.М.Паасонен, Л.Г.Булушева, А.В.Окотруб.-Тез. докл. 2 Нац. конф по применению рентг,, синхротрон, излучений, нейтронов и электронов для исслед. матер.-Москва, 1999.-С.345.

329. Ориентация и геометрическое строение молекул в матрице фторида графита/ Н.В.Бауск, С.Б.Эренбург, Н.Ф.Юданов, Л.Н.Мазалов // ЖСХ-1996.-т.37,№6.-С. 1082-1088.

330. Определение ориентации молекул BrF3 и FeBr3 в матрице фторида графита с использованием поляризационных зависимостей EXAFS и XANES/ Н.В.Бауск, С.Б.Эренбург, Н.Ф.Юданов, Л.Н.Мазалов //ЖСХ,-1995 ,-т.36,№6.-С. 1020-1029.

331. Интеркалированные соединения фторированного графита с азотной кислотой/А.М.Даниленко, А.С.Назаров, А.Н.Михеев, И.И.Яковлев //ЖНХ.-1989.-т.34,вып.5.-С. 1133-1137.

332. Интеркалирование оксида серы(1У) во фторированный графит /

333. B.М.Паасонен, А.С.Назаров, В.М.Гранкин, И.И.Яковлев //ЖНХ. -1990. т.35,№9. - С. 2205-2209.

334. Паасонен В.М., Назаров A.C., Татарчук В.В. Слоистые сорбенты на основе фторированного графита по принципу "хозяин-гость" // ДАН-1999.-т.367,№3.-С.356-358.

335. Интеркалирование парамагнитных соединений во фторид графита состава C2FX. Н.Ф.Юданов, Е.Г.Богуславский, И.И.Яковлев, С.П.Габуда// Изв. АН СССР.Сер. хим.-1988.-№2.-С.272-276.

336. Рентгеноспектральное и рентгеноэлектронное исследование диокида серы, интеркалированного во фторированный графит/ В.М.Паасонен, С.Б.Эренбург, А.С.Назаров и др. // ЖСХ.-1998.-т.39,№2.-С.350-353.

337. Разупорядоченность и межмолекулярное взаимодействие в интерка-лированных соединениях фторграфита с ВгР3/А.М.Панич, А.М.Даниленко, А.С.Назаров и др. //ЖСХ.-1988.-т.29,№2.-С.55-61.

338. Asanov I.P., Paasonen V.M. Study of fluorinated graphite intercalation compounds by XPS // Abstr. 3rd АРАМ seminar.-Novosibirsk, 1999.-P. 13

339. Фторирование интеркалированных соединений графита /А.М.Даниленко, А.С.Назаров, И.И.Яковлев, В.П.Фадеева // Неорган. матер.-1990.-т.26,№4.-С. 755-759.

340. Худорожко Г.Ф., Асанов И.П., Мазалов J1.H. Профиль концентрации основных элементов в приповерхностном слое (100 А) подложки CdTe// Тез. докл. конф. по электронным матер.-Новосибирск,1992.-С.268-269.

341. Graphite fluorides: an XPS study of a new type of C-F bonding /I.Palchan, M.Crespin, H.Estrade-Szwarckopf, B.Rousseau // Chem. Phys. Lett.-1989-Vol.l57,№4.-P.321-327.

342. Исследование интеркалированных соединений на основе фторированного графита методом РЭС. / И.П.Асанов, В.М.Паасонен, Л.Н.Мазалов, А.С.Назаров //ЖСХ.-т.39,№б.-С. 1127-1133.

343. Бреславская Н.Н., Дьячков П.Н., Ипполитов Е.Г., Изучение строения ковалентных соединений, образующихся при фторировании графита, методом молекулярной механики //ДАН.-1992.-т.324,№4.-С. 751-756.

344. Okino F., Touhara Н. Graphite and Fullerene Intercalation Compounds // Comprehensive Supramolecular Chemistry. Vol.7.-P.25-76.

345. Никоноров Ю.И., Горностаев Л.Л. Исследование фзаимодействия графита с жидким трифторида брома // Изв. СО АН СССР. Сер. хим. наук,- 1979.-№9,вып.4.-С.55-59.

346. Паасонен В.М., Назаров А.С., Гранкин В.М. // ЖСХ.-1998.-т.43,-С. 1452-1456.

347. Physical properties of graphite-nitrate residue compound/ M.Inagaku, J.C.Roullion, G.Ftig, P.Delhaes // Carbon.-1977.-Vol.15.-P. 181-185.

348. HennigG.R.//Progr. Inorg. Chem.- 1959.-1.-P.125.

349. Электронная структура фторорганическнх соединений /Г.Г.Фурин,

350. A.В.Зибарев, Л.Н.Мазалов, В.Д.Юматов. Новосибирск: Наука, 1988264 с.

351. Рентгеноэлектронные исследования окислов некоторых элементов /

352. B.И.Нефедов, Д.Гати, Б.Ф.Джуринский и др.//ЖНХ.-1975.-т.20,№91. C.2307-2314.

353. Рентгеновские спектры и структура Cgc^/A.В.Окотруб, Л.Г.Булу-шева, Н.Ф.Юданов, И.П.Асанов //ЖНХ.-1998.-т.43,№1.-С. 129-137.

354. Bakke А.А., Chen H.-W., Jolly W.L. A Table of absolute core-electron binding -energies for gaseous atoms and molecules// J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1980. - Vol.20. - P. 333-366.

355. Вагнер К.Д. Сводка данных по энергиям оже-электронов, фотоэлектронов и оже-параметрам // Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии /Под ред. Д.Бриггса, М.П.Сиха М.: Мир, 1987. - С.530-562.

356. Furin G.G.// New Fluorinating Agents in Organic Synthesis/ Ed. by L.German, S.Zemskov.-Berlin.Springer-Verlag, 1989.-p.34-68.

357. Umemoto T., Tomita KM Tetrahedron Lett 1986.-Vol.27 - P. 3271.

358. Паасонен B.M., Гранкин B.M., Назаров A .C.II Неорганические материалы- 1999.-T.35.-C. 179.

359. Kamarchik P., Margrove J.L.// Acc. Chem. Res.- 1978,-Vol. 11.-P.296.

360. Ходаков Г.С. Физика измельчения. M.: Наука, 1972.-307 с.

361. Аввакумов Е.Г. Механохимические методы активации химических процессов,- Новосибирск.:Наука, 1986 304 с.

362. Хайнике Г. Трибохимия. М.: Мир, 1987 - 584 с.

363. Аввакумов Е.Г. // Химия в интересах устойчивого развития.-. 1994-Т.2.-С. 541.

364. Awakumov E.G., E.T.Devyatkina, N.V.Kosova // J.Solid State Chem.-1994.-Vol.ll3,№2.-P.379

365. Senna M.//Solid State Ionics.-1993.-Vol.63-65.-P.3.

366. Косова H.B, Девяткина E.T, Аввакумов Е.Г. Поверхностные основные и кислотные центры и механохимические реакции в смесях гидра-тированных оксидов // ДАН.-1996.-т.347,№4.-С.489-492.

367. Awakumov E.G., Kosova N.V. Fast propagating solid-state mechano-chemical reactions //Сиб.хим.журнал.-1991.-вьт.5.-С.62-66.

368. Механохимические реакции гидратированных оксидов: некоторые аспекты механизма / Н.В.Косова, Е.Т.Девяткина, Е.Г.Аввакумов и др. //Химия в интересах устойчивого развития.-. 1998.-t.6-C. 125-130.

369. Механохимическое взаимодействие природных цеолитов с фосфатами кальция / Т.С.Юсупов, Л.Г.Шумская, И.П.Асанов, В.В.Болдырев// ДАН.-1999.-т.364,№4.-С.508-511.

370. Druska Р, Steinike U, Sepelak V. Surface Structure of Mechanically Activated and of Mechanosynthesized Zinc Ferrite // J.Solid State Chem-1999,-Vol. 146, №1.-P.13-21.

371. The spinel phase of LiMn2C>4 as a cathode in secondary lithium cells / J.M.Tarascon, E.Wang, F.K.Shokoohi // J. Electrochem. Soc- 1991-Vol. 138, №10.-P. '2859-2864.

372. Spinel electrodes from the Li-Mn-0 system for rechargeable lithium battery applications /M.M.Thackeray, A.de Kock, M.H.Rossouw et al.//J.Electrochem.Soc 1992,-Vol. 139,№2.-P.363-366.

373. Первов B.C., Кедринский И.В., Махонина Е.В. Принципы подбора катодных материалов для циклируемых литтиевых батарей// Неорганические материалы-1997.- т.ЗЗ,№9.-С. 1031-1040.

374. Перенос спиновой плотности через границу раздела фаз в продуктах механической активации /Н.В.Косова, С.Г.Козлова, ' С.П.Габуда, Е.Г.Аввакумов //ДАН.-1998.-т.362,№4.-С.493-496.

375. Механическая и водная активация реакции взаимодействия диоксида марганца с гидроксидом лития /Г.П.Ерейская, О.Н.Ходарев, В.И.Езикян, В.Г.Калайда// Неорг. матер.-1996,- т.32,№9,- С. 1127-1130.

376. Магнитные свойства двойного оксида LiMn02 /Д.Г.Келлерман, В.С.Горшков, В.Г.Зубков и др.// ЖНХ.-1997-т. 42,№6.-С. 1012-1017.

377. Electronic structure systematics of 3d transition metal oxides/ R.Zimmermaim, P.Steinert, R.Claessen et al. //J.Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1998. - Vol.96,№1-3. - P. 179-186.

378. Thackeray M.M., de Kock A., DavidW.I.F. Synthesis and structural characterization of defect spinels in the lithium-manganese-oxide system // Mat.Res.Bull,- 1993.-Vol.28,№10.-P. 1041-1049.

379. X-ray absorption studies in spinel-type LiMn204/R.S.Liu, L.Y.Jang, J.M.Chen et al. // J.Solid State Chem.- 1997.-Vol.128,- P.326-329.

380. State of manganese atoms during the mechanochemical synthesis of LiMn204 /N.V.Kosova, I.P.Asanov, E.T.Devyatkina, E.G.Awakumov// J. Solid State Chem.-1999.-Vol.146.-P. 184-188.