Разработка методов и средств проектирования полузаказных микросхем с применением имитаторов тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 05.13.12, кандидат наук Денисов, Андрей Николаевич

• Денисов, Андрей Николаевич
• кандидат наук
• 2013

Оглавление диссертации кандидат наук Денисов, Андрей Николаевич

СОДЕРЖАНИЕ

ВВЕДЕНИЕ

1 Методология проектирования аппаратуры специального назначения

1.1 Методология дискретных элементов

1.1.1 Средства и методы проектирования

1.1.2 Основные этапы методологии дискретных элементов

1.2 Методология БМК

1.2.1 Конструктивные особенности БМК

1.2.2 Методы проектирования

1.2.3 Средства проектирования

1.2.4 Маршрут проектирования полузаказной БИС

1.2.5 Библиотека ячеек БМК

1.2.6 Основные этапы методологии БМК

1.3 Методология ПЛИС-БМК

1.3.1 Конструктивные особенности ПЛИС

1.3.2 Методы проектирования

1.3.3 Библиотека ячеек

1.3.4 Маршрут проектирования

1.3.5 Методы перевода проекта ПЛИС в базис БМК

1.3.6 Импортозамещающая технология ПЛИС - БМК

1.4 Практическая применимость методологий ПЛИС-БМК

2 Методология БМК - ПЛИС - БМК

2.1 Основные этапы методологии БМК - ПЛИС - БМК

2.2 Методы и правила проектирования

2.2.1 Общие правила разработки подсхем

2.2.2 Правила применения триггеров

2.2.3 Правила разработки синхронных схем

2.2.4 Правила разработки асинхронных схем

2.2.5 Правила разработки комбинационных схем

2.2.6 Правила согласования синхронных и асинхронных сигналов

2.2.7 Правила использования периферийных ячеек

2.2.8 Правила тестирования

2.2.9 Метод прототипирования

2.3 Библиотека БМК для бездефектного проектирования

2.3.1 Структура библиотеки

2.3.2 Система обозначений библиотеки ячеек

2.3.3 Функциональный состав библиотеки ячеек

2.3.4 Учёт специфики БМК

2.4 Средства проектирования

2.4.1 Основные характеристики подсистемы функционально-логического моделирования

2.4.2 Подсистема аттестации проекта

2.5 Маршрут и методика проектирования полузаказной микросхемы с применением имитатора

2.5.1 Этап разработки и функциональной верификации логической схемы

2.5.2 Этап разработки топологии

2.5.3 Этап прототипирования и исследования имитатора в аппаратуре

2.5.4 Этап аттестации проекта

2.6 Преимущества методологии БМК - ПЛИС - БМК

3 Разработка средств прототипирования полузаказных микросхем

3.1 Принципы конвертации проекта БИС в базис ПЛИС

3.2 Выбор семейства ПЛИС

3.3 Разработка функциональных аналогов библиотечных ячеек БМК в базисе ПЛИС

3.3.1 Структура конфигурируемого логического блока ПЛИС фирмы Х1ЬШХ

3.3.2 Особенности библиотеки ячеек БМК

3.3.3 Функциональные аналоги триггеров

3.4 Разработка конструкции имитаторов

3.5 Программные средства прототипирования

3.5.1 Подготовка описания проекта БИС

3.5.2 Формирование программы зашивки ПЛИС

3.5.3 Специализация имитатора

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

СПИСОК ИСПОЛЬЗОВАННЫХ ИСТОЧНИКОВ

ПРИЛОЖЕНИЕ А АКТЫ О ВНЕДРЕНИИ РЕЗУЛЬТАТОВ ДИССЕРТАЦИИ

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Разработка методов и средств проектирования полузаказных микросхем с применением имитаторов»

ВВЕДЕНИЕ

В структуре мирового рынка интегральных микросхем (ИС) специализированные микросхемы, предназначенные для применения в конкретном изделии и, как правило, используемые одним производителем радиоэлектронной аппаратуры (РЭА), составляют около 10% общего объёма продаж микроэлектроиных компонентов. Примерно такая же доля приходится на специализированные микросхемы в совокупном потреблении ИС российскими изготовителями РЭА. В современных условиях непрерывного обновления и расширения номенклатуры и ассортимента РЭА потребности в специализированных ИС постоянно возрастают. Основным движущим фактором этого служит постоянное появление образцов новой техники, создание которых требует разработки заказных (полностью оригинальных) и полузаказных (реализуемых на базовых матричных кристаллах) микросхем. Однако, потребности в конкретных типах микросхем, как правило, относительно невелики.

Разработка аппаратуры не может быть выполнена только на уровне компьютерного моделирования. Необходимо изготовление макетных и опытных образцов изделий, при отработке которых требуется оперативное изменение проектов микросхем и получение образцов в кротчайшие сроки. Для этих целей наиболее эффективным является применение полузаказных ИС, для изготовления которых нужно только сформировать на унифицированной пластине с базовыми матричными кристаллами (БМК) слои металлических межсоединений, разделить пластину на кристаллы и закорпусировать полученные кристаллы.

Важными аспектами при разработке аппаратуры, особенно специального назначения, являются эффективность процесса разработки и область применения. Для такой аппаратуры возможно применение элементной базы преимущественно отечественного производства, обеспечивающей жёсткие условия эксплуатации. При этом важную роль играет методология разработки, направленная на совершенствование процессов и сокращение сроков проектирования образцов новой техники, а также ориентированная на использование отечественной элементной базы.

В последнее время широкое распространение получила методология разработки аппаратуры ПЛИС-БМК, в соответствии с которой разработка макетного образца изделия выполняется на программируемых логических ИС (ПЛИС) импортного производства с последующим перепроектированием в полузаказные микросхемы. Простота перепрограммирования ПЛИС позволяет оперативно корректировать проект микросхемы, за счёт чего достигается значительное сокращение времени разработки. Однако при переходе от ПЛИС к полузаказной микросхеме на основе БМК возникают проблемы, обусловленные различиями конструкции, схемотехнической реализации и динамических характеристик, не позволяющие выполнить автоматическое конвертирование проекта ПЛИС в базис БМК. В результате требуется полное перепроектирование специализированной микросхемы из ПЛИС в базис отечественных БМК. Устранить указанные недостатки позволяет предлагаемая в данной диссертационной работе методология разработки аппаратуры, объединяющая в себе процесс проектирования полузаказной микросхемы с возможностью оперативного получения прототипа разрабатываемой микросхемы в виде имитатора с использованием в составе имитатора ПЛИС и отработки проекта полузаказной микросхемы в составе аппаратуры до её изготовления (далее, методология БМК-ПЛИС-БМК).

Целыо диссертационной работы является разработка методов, средств, библиотек ячеек и маршрута проектирования полузаказных микросхем, ориентированных на использование в высоконадёжной аппаратуре специального назначения, позволяющих выполнять оперативное прототипирование микросхем в составе реальной аппаратуры для обеспечения сокращения сроков создания, уменьшения стоимости разработки и повышения качества образцов новой техники.

Для достижения поставленной цели необходимо решить следующие задачи:

1. Исследовать существующие методологии проектирования аппаратуры специального назначения, в том числе с применением БМК;

2. Исследовать методы и средства проектирования специализированных микросхем в процессе разработки аппаратуры;

3. Разработать метод и средства взаимодействия проектировщик - система на основе методологии БМК-ПЛИС-БМК при проектировании аппаратуры специального назначения;

4. Разработать маршрут проектирования полузаказной микросхемы с отработкой в составе аппаратуры средствами имитатора микросхемы;

5. Провести анализ библиотеки ячеек БМК и разработать их функциональные аналоги в базисе ПЛИС;

6. Разработать принципы и средства оперативной конвертации проекта микросхемы из базиса БМК в базис ПЛИС для последующего прототипирования с помощью имитатора и исследования разрабатываемой микросхемы в составе аппаратуры;

7. Разработать конструкции имитаторов микросхем, соответствующих типам БМК.

8. Оценить эффективность разработанных в рамках реализации методологии БМК-ПЛИС-БМК метода и средств взаимодействия проектировщик - система, маршрута проектирования, принципов и средств оперативной конвертации проектов микросхем из базиса БМК в базис ПЛИС, использования имитаторов микросхем при создании реальной аппаратуры специального назначения.

На защиту выносятся следующие основные научные положения:

1. Методология автоматизированного проектирования полузаказных микросхем БМК-ПЛИС-БМК с применением новых методов взаимодействия проектировщика с САПР, позволяющая получать функционирующие прототипы микросхем до их изготовления.

2. Маршрут проектирования полузаказных микросхем средствами САПР «Ковчег», обеспечивающий в отличие от традиционного, отладку проекта микросхемы с использованием имитатора в составе реальной аппаратуры.

3. Функциональные аналоги библиотечных ячеек БМК в базисе ПЛИС, позволяющие осуществлять автоматический переход от логического проекта микросхемы на БМК в структурное описание ПЛИС.

4. Метод конвертации полузаказных микросхем на основе отечественных БМК в базис ПЛИС, обеспечивающий сокращение времени разработки, как самой микросхемы, так и аппаратуры с её применением.

1 Методология проектирования аппаратуры специального назначения

Разработка современной аппаратуры - сложный и длительный процесс, в ходе которого решаются системные и технические задачи, выполняется проектирование специализированной элементной базы, отрабатываются алгоритмы функционирования, интерфейсы и взаимодействие блоков в составе изделия, разрабатываются печатные платы и конструкция, разрабатывается и тестируется программное обеспечение и т.д. При этом используются определённые методы и маршруты проектирования, позволяющие реализовать необходимые схемотехнические решения с помощью программных или аппаратных средств. Все перечисленные аспекты процесса разработки аппаратуры образуют методологию проектирования [ 1 ].

Методология проектирования определяется, прежде всего, элементной базой, выбор которой обуславливается требованиями к назначению и условиям эксплуатации аппаратуры. В случае разработки аппаратуры специального назначения основным требованием является использование преимущественно отечественной элементной базы, разрешённой для применения в такой аппаратуре и позволяющей функционировать в жёстких условиях эксплуатации.

Таким образом, методология проектирования - это совокупность методов и маршрутов проектирования, обеспечивающих реализацию необходимых схемотехнических решений с учётом условий эксплуатации на определённой элементной базе с помощью программных и аппаратных средств (рисунок 1.1).

Рисунок 1.1— Составляющие методологии проектирования

Основные этапы процесса разработки изделий электронной техники определены ГОСТ РВ 15.205 (рисунок 1.2), но имеют свои особенности, прежде всего связанные с применяемой элементной базой.

Рисунок 1.2 - Основные этапы процесса разработки изделий электронной

техники

При разработке аппаратуры специального назначения широкое распространение получили полузаказные микросхемы и связанные с ними методологии проектирования. На сегодняшний день можно выделить две методологии, использующие в качестве элементной базы полузаказные микросхемы. Это - методология БМК и методология ПЛИС-БМК, которые, в свою очередь, формировались на основе методологии дискретных элементов.

1.1 Методология дискретных элементов

Методология дискретных элементов базировалась на микросхемах малой и средней степени интеграции, а также дискретных компонентах. Разработчик мог использовать серийно выпускаемые микросхемы, функциональные возможности которых были весьма ограничены. Так наиболее развитая серия микросхем 555 включала в себя 122 типономинала, самым сложным из которых был 8-разрядный последовательный сдвиговый регистр [2]. Хотя общее число выпускаемых отечественных серий ИС было достаточно велико (около 200 серий [ 2-4 ]), разработчик сталкивался с тем, что электрические и конструктивные параметры различных серий микросхем (такие как, напряжение питания, логические уровни, выходные токи, быстродействие, типы корпусов и т.д.), допустимые условия эксплуатации часто были несовместимы, в силу чего они не могли совместно применяться в рамках одного изделия.

1.1.1 Средства и методы проектирования

Программные средства проектирования были недостаточно развиты. Они представляли собой несвязанные друг с другом программы расчёта печатных плат и электронных схем [ 5 ]. В основном применялись экспериментальные методы

проектирования. Переход к компьютерным расчётам и моделированию требовал разработки адекватных математических моделей схем и конструкций радиоэлектронной аппаратуры и численных методов исследования.

Процесс разработки аппаратуры сравнивался с искусством [ 6 ]. Он выполнялся не с помощью средств моделирования, а непосредственно в процессе экспериментальной отладки аппаратуры. Поэтому требовались многократные переработки печатных плат, что существенно увеличивало время разработки аппаратуры. Для уменьшения затрат при проектировании использовались типовые схемотехнические решения [ 7 - 10 ], качество разработки в основном определялось опытом и квалификацией разработчика.

1.1.2 Основные этапы методологии дискретных элементов

Методология дискретных элементов включала основные этапы разработки эскизного и технического проектов, изготовление и проведение испытаний макетного, экспериментального и опытного образцов и имела свои особенности (рисунок 1.3).

Разработка начиналась с выбора конкретных типов микросхем, дискретных компонентов и других элементов, которые удовлетворяли техническим требованиям к изделию и могли быть использованы в серийной аппаратуре. При этом учитывались и электрические параметры и условия эксплуатации. Электрическая схема изделия разрабатывалась на выбранной элементной базе. Печатные платы также проектировались с ориентацией на конечный вариант аппаратуры. В силу ограниченных возможностей дискретной элементной базы аппаратура на её основе состояла из большого числа модулей, реализованных в виде печатных плат, которые представляли собой законченные функциональные узлы и блоки.

Рисунок 1.3 - Основные этапы методологии дискретных элементов

Использование типовых схемотехнических и конструктивных решений с применением методов экспериментальной отработки аппаратуры позволяли минимизировать затраты на стадии разработки макетного образца. Отладка изделия выполнялась поэтапно: вначале отлаживались отдельные печатные платы, узлы, модули, а затем макетировалось изделие в целом. Основные проблемы при отработке макетного образца возникали при стыковке печатных плат и согласовании протоколов обмена между ними. На каждом из этих этапов могла проявиться ошибка в электрической схеме или печатных платах, что приводило к их коррекции и повторному изготовлению. Часто для согласования сигналов применялись аппаратные задержки, что требовало индивидуальной настройки изделий. Необходимость коррекции и повторного изготовления печатных плат

могла возникнуть как при отладке экспериментального образца, так и в процессе испытаний опытного образца.

Таким образом, методология дискретных элементов имела существенные ограничения, связанные с функциональными возможностями элементной и компонентной базы (ЭКБ); средства проектирования были недостаточно развиты. Тем не менее, принцип ориентации на серийный образец и выполнение всего цикла разработки макетного, опытного и серийного образцов в базисе единой ЭКБ позволяли эволюционно построить процесс разработки новых изделия.

1.2 Методология БМК

Следующим шагом в развитии методологий разработки аппаратуры стала методология БМК, элементной базой которой явились базовые матричные кристаллы (БМК).

Наиболее активное развитие в нашей стране БМК получили в 80-е годы. Практически на всех предприятиях, имеющих микроэлектронное производство, были разработаны БМК, многие из которых так и не были освоены в серийном производстве. Кризис 90-х годов привёл к снижению номенклатуры выпускаемой ЭКБ, в том числе и БМК. К этому моменту отечественной промышленностью было освоено в производстве 9 серий (13 типов) БМК. Тем не менее, направление БМК продолжало развиваться, создавались и осваивались в производстве новые серии БМК [11-16], в том числе имеющие повышенную устойчивость к внешним воздействующим факторам [17-18 ]. Краткие характеристики серийно освоенных БМК приведены в Приложении А.

БМК имеют неоспоримые преимущества по сравнению с дискретной ЭКБ, среди которых можно выделить следующие:

• значительное повышение функциональной сложности полузаказных микросхем, реализующих функции большого количества микросхем средней и малой степени интеграции;

• уменьшение габаритов аппаратуры за счёт снижения количества используемых микросхем и уменьшения размеров печатных плат;

• улучшение технических характеристик за счёт увеличения системного быстродействия и сокращения потребляемой мощности;

• повышение надёжности изделия за счёт более высокой надёжности БИС по сравнению с дискретными элементами;

• повышение гибкости модификации изделия благодаря тому, что изменение полузаказной микросхемы в большинстве случаев не требует изменения других узлов и переразводки печатных плат;

• возможность объединения в полузаказной микросхеме на основе БМК цифровой и аналоговой обработки информации;

• обеспечение защиты разработки за счёт возможности патентования топологии полузаказных микросхем.

1.2.1 Конструктивные особенности БМК

БМК представляют собой универсальные кристаллы-заготовки, расположенные на полупроводниковой пластине. Такие кристаллы называют базовыми, поскольку все фотошаблоны, за исключением слоев коммутации, для их изготовления являются постоянными и не зависят от реализуемой схемы. Базовые ячейки, представляющие собой нескоммутированные пары транзисторов и позволяющие реализовать функцию логического вентиля, располагаются на кристалле в узлах прямоугольной сетки, поэтому их называют матричными. Электрические связи между нескоммутированными транзисторами, составляющими матрицу, реализуются с помощью тонкопленочных слоев межсоединений. У большинства отечественных БМК количество слоев разводки не превышает двух.

Область вентильной матрицы окружена периферийными ячейками, выполняющими функцию входа, выхода или вход - выхода. Обобщённая структура БМК приведена на рисунке 1.4.

Рисунок 1.4 - Обобщённая структура БМК

Конструкция БМК, имеющая в своей основе, как правило, 4-х транзисторные базовые ячейки, позволяет эффективно использовать ресурсы БМК и реализовать сложные схемотехнические решения. Ограниченное количество слоев коммутации, одним из которых часто является поликремний, вносящий задержку в распространение сигнала, влияет на выбор методов проектирования. ;

1.2.2 Методы проектирования ~

Методы проектирования БИС на БМК, с одной стороны, обеспечивают эффективное использование ресурсов БМК, с другой - направлены на повышение качества проектирования. Схемотехнические приёмы, применяемые при разработке аппаратуры на дискретных элементах, как правило, не применимы при проектировании схем на БМК. Например, широко используемые при отладке аппаратуры на дискретных элементах методы согласования сигналов за счёт аппаратной задержки сигналов недопустимы при проектировании полузаказных схем.

В методологии БМК по-прежнему применяются классические методы минимизации логических функций [ 19 ], методы формального синтеза программных автоматов [ 20 ], эвристические методы синтеза

последователыюстных схем [21] и другие методы, в том числе методы синхронного и асинхронного проектирования [ 22 ].

Метод синхронного проектирования заключается в том, что процессы обработки информации синхронизируются единой частотой или набором связанных частот. При этом все процессы обработки, реализуемые на комбинационных схемах, не должны превышать периода синхронизирующей частоты. Этот метод требует значительных аппаратных затрат, связанных с необходимостью синхронизации фронтовыми триггерами результатов с каждой схемы обработки. Особые требования предъявляются к сигналам синхронизации триггеров, фронты которых не должны иметь временного разброса в пределах поля БМК. Достичь этого можно только при формировании фиксированной структуры системы синхронизации. А если учесть, что у большинства БМК количество слоев разводки не превышает двух, одним из которых часто является поликремний, реализация системы синхронизации вообще невозможна.

частот

Рисунок 1.5 - Функциональная схема реализации метода синхронного

проектирования

Поэтому метод синхронного проектирования чаще применяется при реализации отдельных узлов и блоков, компактно расположенных на поле БМК, где он обеспечивает необходимые технические характеристики и не требует глобальных ресурсов в рамках всего проекта микросхемы.

Метод асинхронного проектирования реализует условие, при котором последующий цикл обработки начинается после завершения предыдущего, независимо от его продолжительности.

Данные

Данные

Комбина-

Данные ^ ционная 'С

схема

Частота 'Г1 —►

и

Рисунок 1.6 - Функциональная схема реализации метода асинхронного

проектирования

Этот метод не требует дополнительных аппаратных затрат, но позволяет реализовать только определенный класс алгоритмов. Ограничение метода также связано с необходимостью формирования сигнала признака начала следующего цикла обработки, который используется в качестве синхронизации. Для исключения ложных срабатываний он не должен иметь «дребезга», что схемотехнически сложно реализовать на базе комбинационных схем.

Метод смешанного проектирования позволяет при реализации того или иного алгоритма совместно используются узлы и фрагменты схемы, построенные как по принципу синхронного, так и асинхронного проектирования. Это наиболее часто применяемый подход, позволяющий, с одной стороны, учитывать специфику БМК и эффективно использовать его ресурсы, с другой - реализовывать корректные бездефектные схемотехнические решения.

При разработке проектов БИС также применяются специальные методы, направленные на получение уникальных свойств схемы. Примером такого метода является метод самосинхронного проектирования [ 23 ]. Известно [ 24 ], что любая логическая функция от нескольких переменных имеет состязания. В то же время, существует теория асинхронных схем Дэвида Маллера [ 25 ], которая доказывает существование схем, поведение которых не зависит от задержек элементов, т.е. в

таких схемах состязаний нет. Метод самосинхронного проектирования основан на той же теории и позволяет строить схемы, работа которых не зависит от задержек и разброса сигналов. Быстродействие таких схем определяется только временем распространения сигналов в схеме [ 26 - 29 ]. Однако, для реализации данного метода требуется специальная библиотека самосинхронных элементов [ 30 - 32], наличие специальных средств диагностики [ 33 ], а объём самосинхронных схем практически в 2 раза превышает объём аналогичных схем при их традиционной реализации.

Таким образом, конструкция БМК позволяет реализовывать не только традиционные, но и специфические методы проектирования. Наиболее часто в технологии БМК используются асинхронные и смешанные схемотехнические решения.

1.2.3 Средства проектирования

Появление БМК сопровождалось ростом степени интеграции, уменьшением проектных норм, увеличением сложности микроэлектронных изделий. Используемые методы проектирования в условиях уменьшения времени задержки элементов до значений менее наносекунды перестали удовлетворять требованиям разработчиков. Математическое описание электрических сигналов с помощью нелинейных уравнений требовало решения систем из нескольких тысяч уравнений и оказалось не эффективным и малопригодным. Поэтому стали развиваться интерактивные средства моделирования [ 34, 35 ], которые были ориентированы на проектирование специализированных БИС на основе БМК, но не позволяли выполнять моделирования аппаратуры в целом.

В силу специфики конструкции конкретных типов БМК универсальные средства проектирования, особенно синтеза топологии, не обеспечивали высокого уровня использования ресурсов БМК и качества топологии. Поэтому системы топологического проектирования разрабатывались под конкретные типы БМК. Системы схемотехнического и функционально-логического моделирования были

более универсальными и позволяли проводить разработку схем в базисе различных типов БМК. В результате, средства проектирования представляли собой обособленные подсистемы, реализующие отдельные этапы маршрута проектирования и связанные между собой только на уровне форматов представления входной и выходной информации [36-39 ]. Средства функционально-логического моделирования позволяли провести анализ поведения проекта БИС в зависимости от отдельных внешних факторов, а также с учётом топологических задержек. [ 40 ].

Важной стороной процесса проектирования является подготовка контрольно-диагностических тестов для измерительного оборудования. Как правило, подсистемы функционально-логического моделирования позволяют подготовить описание тестовых воздействий в формате измерительного оборудования, но они не обеспечивают контроля контроль полноты функционального и параметрического тестирования, а также формирование программ контроля для конкретного измерительного оборудования. В результате качество тестирования микросхем в процессе их производства опять же зависит от опыта разработчика.

Таким образом, средства проектирования методологии БМК ориентированы на разработку микросхем и не позволяют моделировать поведение изделия в целом. Они не интегрированы в единую систему автоматизированного проектирования, не имеют средств аттестации проекта микросхемы с учётом внешних факторов и технологических разбросов параметров, а также средств контроля тестируемости параметров микросхем и подготовки программ контроля для измерительного оборудования.

1.2.4 Маршрут проектирования полузаказной БИС

Разработка полузаказных микросхем выделилась в самостоятельный процесс, имеющий специфические особенности, определяющие маршрут проектирования. Они связаны с тем, что любая коррекция микросхемы требует

повторного изготовления, что связано с дополнительными финансовыми средствами и временными затратами производственного цикла.

В маршруте проектирования полузаказной БИС (рис. 1.7) можно выделить 3 основных этапа [ 37, 41, 42 ]:

• разработка и функциональная верификация логической схемы;

• разработка топологии;

• контроль и спецификация проекта.

Разработка схемы выполняется в соответствии с выбранным методом проектирования. Конструкция БМК, использующая, как правило, четырёх транзисторные ячейки, позволяет реализовать синхронные и асинхронные схемы и эффективно использовать ресурсы БМК. Как уже отмечалось, схемотехнические приёмы, применяемые в технологии дискретных элементов, в большинстве случаев не применимы при проектировании БИС на БМК.

Особое значение в маршруте проектирования уделяется тестированию подсхем и всей схемы в целом. Это позволяет в большинстве случаев проверить соответствие функционирования схемы требованиям технического задания и избежать изменения схемы после изготовления. Логическая схема разрабатывается с учетом обеспечения контролепригодности узлов и элементов БИС, самой БИС в^ целом. Проверяется реализуемость и полнота программ и методик испытаний'г' микросхем с целыо исключения схемотехнических решений, проверку работоспособности которых невозможно или нетехнологично выполнять с помощью имеющегося измерительного оборудования [43]. Для этого в состав БИС при необходимости для повышения контролепригодности вводятся дополнительные блоки, а также в рамках системы проектирования обеспечивается взаимосвязь с тестовым оборудованием [ 44 ].

Формирование информации для изготовления БИС

Список литературы диссертационного исследования кандидат наук Денисов, Андрей Николаевич, 2013 год

СПИСОК ИСПОЛЬЗОВАННЫХ ИСТОЧНИКОВ

1. Адамов Ю.Ф. Проектирование систем на кристалле.-URL: http://bmstu-sm5.narod.ru/puchkov/puchkov_lec.pdf

2. Интегральные микросхемы. Каталог. Том 2: Цифровые интегральные микросхемы. - М.: ГЦКБ Дейтон, 1993. - 375 с.

3. Справочник по интегральным микросхемам / под ред. Табардина. -М.: Энергия, 1981.-816 с.

4. Шило В.Л. Популярные цифровые микросхемы: Справочник. - М.: Радио и связь, 1987. - 352 с.

5.Норенков И.П. Средства автоматизации проектирования в электронике.-

URL: http://rk6.bmstu.ru/electronic_book/develop/ecad/software.htm.

6. Хоровиц, П. Искусство схемотехники: в 2-х т. / П. Хоровиц, У. Хилл; пер. с англ. - М.: Мир, 1986.

7. Уитсон, Дж. 500 практических схем на ИС / пер. с англ. - М.: Мир, 1992.-376 с.

8. Янсен, Й. Курс цифровой электроники: в 4-х т. / пер. с голланд. -М.: Мир, 1987.

9. Угрюмов, Е.П. Проектирование элементов и узлов ЭВМ. - М.: Высшая школа, 1987. - 318 с.

10. Титце, У. Полупроводниковая схемотехника: Справочное руководство / У. Титце, К. Шенк; пер. с нем. - М.: Мир, 1983. - 512 с.

11. Базовые матричные кристаллы серии «Титул» 1578ХМ6, 1578ХМ8.- НИИЭТ, Воронеж. -

URL: www.electronicengeneering.vrn.ru/products/bmc.

12. Симонов, Б. Базовые матричные кристаллы / Б. Симонов, Б. Малашевич // Chip News. - 2000. - №6.

13. Малашевич, Б. Отечественные базовые матричные кристаллы / Б. Симонов, Б. Малашевич // Chip News. - 2003. - №9.

14. Коняхин, B.B. Серия цифро - аналоговых БМК 5503

/В.В. Коняхин, C.B. Гаврилов, А.Н.Денисов, H.A. Шелепин//Труды 8-ой Международной конференции «Актуальные проблемы твердотельной электроники и микроэлектроники ПЭМ-2002». - Таганрог, 2002. - С. 58.

15. Денисов, А.Н. Разработка базовых матричных кристаллов в ГУ НПК «Технологический центр» МИЭТ. ПЛЕНКИ. 2002 / А.Н. Денисов,

B.В. Коняхин //Материалы Международной научно-технической конференции «Тонкие пленки и слоистые структуры». - Москва, 2002, 26-30 ноября; М.: МИРЭА, 2002. - 4.2. - С. 305.

16. Денисов, А.Н. Разработка базовых матричных кристаллов в ГУ НПК «Технологический центр» МИЭТ / Денисов, // IV Международная научно-техническая конференция МИЭТ «Электроника и информатика». -2002, 19-21 ноября.- Ч. 1. - С. 334.

17. Коняхин, В.В. Семейство радиационно-стойких БМК для систем специального назначения: тезисы доклада науч. конф. /В.В. Коняхин, Е.В. Кузнецов, А.Н. Денисов // IV научно-практическая конференция «Проблемы обеспечения изделий авиационной и ракетно-космической отрасли высококачественной элементной базой». - Сочи, 2003, 29 сентября -3 октября ; Тезизы докладов. - Москва: МНТО РЭС им. A.C. Попова, 2003,-

C. 25-26.

18. Перечень электрорадиоизделий, разрешённых к применению при разработке (модернизации), производстве и эксплуатации аппаратуры, приборов, устройств и оборудования военного назначения. 4.2. Микросхемы интегральные МОП 44 001.02-02.

19. Лобанов, В. Синтез и минимизация комбинационных схем // Информатика и образование. - 2000. - №5. - С. 60 - 63.

20. Баранов, С.И. Синтез микропрограммных автоматов. -Л.: Энергия, 1974.

21. Гутников, B.C. Интегральная электроника в измерительных приборах. - Л.: Энергия, 1974.

22. Уэйкерли, Дж. Проектирование цифровых устройств. -М.: Постмаркет, 2002. - 544с.

23. Степченков, Ю.А. Цена реализации уникальных свойств самосинхронных схем /Ю.А. Степченков, Ю.Г. Дьяченко, B.C. Петрухин, A.B. Филин // Системы и средства информатики. - М.: Наука. - 1999. -Вып.9. - С. 261 -292.

24. Апериодические автоматы / под ред. В.И. Варшавского. -М.: Наука, 1976.-423с.

25. Muller, В.Е., Bartky, W.C. A theory of asynchronous circuit.

/ В.E. Muller, W.C. Bartky//Proc. Int. Symp. on the Theory of Switching. Part I. - Harvard University Press, 1959. - P. 204 - 243.

26. Филин, A.B. Схемотехника интегральной элементной базы естественно-надёжных компьютеров / A.B. Филин, Ю.А. Степченков // Системы и средства информатики.- М.: Наука. - 1995. - Вып.7. - С. 222-239.

27. Плеханов, Л.П. Базовые элементы самосинхронных схем // Системы и средства информатики. - М.: Наука. - 1995. - Вып.7. - С.258 -264.

28. Степченков, Ю.А. Квазисамосинхронный вычислитель: методологические и алгоритмические аспекты / Ю.А. Степченков, Ю.Г. Дьяченко, С.Г. Бобков // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2008. Сборник научных трудов / под общ. ред. А.Л.Стемпковского. - М.:ИППМ РАН, 2008. - С. 441-446.

29. Дьяченко Ю.Г. Квазисамосинхронный вычислитель: практическая реализация / Ю.Г. Дьяченко, Ю.В. Рождественский, Н.В. Морозов, Ю.А. Степченков // Проблемы разработки перспективных микро - и

наноэлектронных систем - 2008. Сборник научных трудов / под общ. ред. А.Л. Стемпковского. - М.:ИППМ РАН, 2008. - С. 435-440.

30. Степченков, Ю.А. Библиотека элементов базовых матричных кристаллов для критических областей применения / Ю.А. Степченков,

А.Н. Денисов, Ю.Г. Дьяченко, Ф.И. Гринфельд и др. // Системы и средства информатики-М.: Наука. - 2004. - Вып.14. - С. 318 -361.

31. Степченков Ю.А. Самосинхронный триггер для связи с удаленным приемником / Ю.А. Степченков, А.Н. Денисов, Ю.Г. Дьяченко, О.П. Филимоненко // Патент № 2382487 от 20.02.2010.

32. Степченков Ю.А. Г-триггер / Ю.А. Степченков, Ю.Г. Дьяченко, А.Н. Денисов, Ю.П. Фомин //Патент № 2371842 от 27.10.2009.

33. Гаврилов C.B. Диагностирование самосинхронных функциональных ячеек средствами САПР «Ковчег» / C.B. Гаврилов, А.Н. Денисов, A.C. Росляков, P.A. Федоров, Н.И. Малашевич // Известия ВУЗов. Электроника. - 2011.- №1(87).- С. 40-45.

34. Киносита, К. Логическое проектирование СБИС / К. Киносита, К. Асаду, О. Карацу; пер. с япон. - М.: Мир, 1988. - 309 с.

35. Алексеенко, А.Г. Микросхемотехника / А.Г. Алексеенко,

И.И. Шагурин / под ред. И.П. Степаненко. - М.: Радио и связь, 1982. - 418 с.

36. Ермохин И.В. Разработка средств высокоуровневого моделирования цифровых устройств на поведенческом уровне // Электронная промышленность, 1996. - №4. - С. 23 - 25.

37. Автоматизация проектирования БИС. В 6 кн. / под. ред. Г.Г. Казенова. - М.: Высшая школа, 1990.

38. Петренко, А.И. Автоматизированное проектирование СБИС на базовых кристаллах / А.И. Петренко, В.Н. Лешаков, А.Я. Тетельбаум, Б.Л. Шрамченко. - М.: Радио и связь, 1988. - 160 с.

39. Харин В.Н. Обеспечение параллельного выполнения проектных работ в интегрированной САПР сквозного проектирования СБИС /

В.Н. Харин, A.B. Стариков, А.П. Удовик, A.B. Горохов // Электронная промышленность, 1994. - №4-5. - С. 94-96.

40. Ильин, В.Н. Автоматизация схемотехнического проектирования / В.Н. Ильин, В.Т. Фролкин, А.И. Бутков и др.; под ред. В.Н. Ильина. -М.: Радио и связь, 1987. - 309 с.

41. Система проектирования. Микросхемы матричные. Проектирование. СТП. ЩИ 2.91-84. - М.: Ангстрем.

42. Проектирование специализированных КМОП БИС на основе БМК 5501ХМ2: уч. пособие / под ред. В.В. Ермака. -М.: МГИЭТ (ТУ), 1996. -80 с.

43. Комаров, A.C. Проблемы обеспечения защиты потребителя изделий ИЭТ от некачественной продукции / A.C. Комаров, С.Н. Кузин, В.Н. Панасюк. - М.: Микроэлектроника. - 1994.- т. 23. - вып. 3. - С. 80 - 86.

44. Беннетс, Р.Дж. Проектирование тестопригодных логических схем. - М.: РиС, 1990.

45. Микросхемы интегральные 1515ХМ1, Н1515ХМ1. Инструкция по разработке МБИС с применением системы автоматизированного проектирования 6KO.347.414 Д1.

46. Библиотека функциональных элементов КМОП БМК 1582ВЖ. //НПО Физика, Москва. - URL: www.npofizika.ru/ss/htm/ruk_2.html.

47. Микросхемы матричные Н1806ВП1. Библиотека стандартных элементов. ЩИО.010.046.

48. Микросхемы интегральные 1515ХМ1, Н1515ХМ1. Библиотека стандартных элементов. ЩИО.010.047.

49. Гаврилов, C.B. Особенности применений БМК серии К5501 и К5503: тезисы доклада науч. конф. / C.B. Гаврилов, С.И. Голощапов, А.Н. Денисов, В.В. Коняхин // Всероссийская научно-техническая конференция «Электроника и информатика-97». - Москва, МИЭТ (ТУ), 1997, ноябрь.- сб. тез. ч.1 - 236 с.

50. Микросхемы матричные 1537ХМ2. Библиотека стандартных элементов. ЩИО.010.049.

51. Библиотека стандартных элементов AGA 12С. - М.: Ангстрем,

1998.

52. Библиотека стандартных элементов ввода-вывода AGA12P.-М.: Ангстрем, 1998.

53. Лобанов, В. Заметки о проектировании современных цифровых систем управления на отечественной элементной базе // Chip News. - 2003. -№3.

54. Хуртин, O.E. Перспективы использования современной схемотехники при разработке цифровых устройств автономного регулирования: тез. докл. / O.E. Хуртин, Ф.А. Томилов, P.A. Ванециан // XLIV научная конференция, МФТИ, 2001.

55. Дайперт, Б. Обзор приборов программируемой логики // Электронные компоненты. - 2005. - №2.

56. Производители и основные параметры FPGA, PAL, SPLD и специализированных ИС/FPGA [таблицы] // Электронные компоненты. -2005. - №2.

57. Кнышев, Д.А. ПЛИС фирмы «ХШпх»: описание структуры основных семейств. / Д.А. Кнышев, М.О. Кузелин. - М.: ИД Додэка-ХХ1, 2001.

58. Стешенко, В.Б. ПЛИС фирмы Altera: проектирование устройств обработки сигналов. - М.: ДОДЭКА, 2000. - 126 с.

59. Коноплёв, Б.Г. Исследование способов реализации СБИС на основе ПЛИС, БМК и в виде заказных схем / Б.Г. Коноплёв, Е.А. Рындин, В.Г. Ивченко // Известия вузов. Электроника. - 2000.- №1. - С.81-87.

60. Мальцев, П.П. Программируемые логические ИМС на КМОП-структурах и их применение / П.П. Мальцев, H.H. Гарбузов, А.П. Шарапов, Д.А. Кнышев. - М.: Энергоиздат, 1998. - 160 с.

61. Балашов, Ю.С. Библиотека цифровых макромодулей для средств проектирования ПЛИС. /Ю.С.Балашов, В.Г. Мистяков, В.Д. Капитонов. -М.: Scan Engineering Telecom, 1999.

62. MAX 3000A Programmable Logic Device Family Data Sheet / Altera Corporation. - 2001, March. - ver. 2.01.

63. The Programmable Logic Data Book / Xilinx Inc., 1999.

64. FPGA Data Book and Design Guide / Actel Corporation, 1996.

65. Володин, П.В. Топологическая и временная оптимизация проектов на ПЛИС фирмы XILINX /П.В.Володин, В.Д. Капитонов. - М.: Scan Engineering Telecom, 1999.

66. Бёрски, Д. Достижения 1И IBM-технологии, обеспечивающие повышение быстродействия и расширение функциональных возможностей кристаллов // Электроника. - 1993. - №5-6. - С. 43-48.

67. Hard Ware Data Book / Xilinx Inc., 1991.

68. Бёрски, Д. Более дешёвые программируемые потребителем вентильные матрицы с фиксированной топологией // Электроника -1991.-№11-12.-С. 6-7.

69. Малиньяк, Л. Программы образования проектов специализированных ИС в ППВМ-реализации, предлагаемые полупроводниковыми компаниями // Электроника. - 1993. - №1-2. - С. 79-82.

70. Цыбин, С.А. Методы и средства интегральной технологии ПЛИС + БМК / С.А. Цыбин, А.В Быстрицкий // Электронная промышленность. -

1994. -№4-5. -С.49-51.

71. Семенов, М.Ю. Принципы построения унифицированной библиотеки элементов для ПЛИС и БМК / М.Ю. Семенов, А.Н. Денисов // Электронная промышленность. - 1996. - №1.

72. Семенов, М.Ю. Принципы преобразования проектов из базиса ПЛИС в базис БМК: тезисы докладов //Микроэлектроника и информатика -

97. Тезисы докладов Межвузовской научно-технической конференции. Ч.1.-М.: МИЭТ, 1997.

73. Семенов, М.Ю. Особенности проектирования схем на основе ПЛИС и БМК с использованием VHDL/ М.Ю. Семенов, Д.В. Беневоленский, A.B. Малышев // Сборник трудов сотрудников НПК «Технологический центр» МИЭТ.-М., 1998.

74. Артёмов, С.А. Автоматизированная информационная система перевода полузаказных схем из базиса ПЛИС в базис БМК: тезисы докладов //Микроэлектроника и информатика, 2004. Тезисы докладов 11-ой Всероссийской межвузовской научно-технической конференции.- М.: МИЭТ, 2004.

75. Артёмов, С.А. Разработка конвертора проекта интегральных схем из базиса ПЛИС в базис БМК // Известия вузов. Электроника. - 2005. - №1. -С. 42 - 45.

76. Евстигнеев, В.Г. Обеспечение импортозаменяемости при разработке и производстве радиоэлектронной аппаратуры вооружения, военной и специальной техники / В.Г. Евстигнеев, А.В.Завьялов,

A.Н. Кошарновский // Электронная промышленностью. - 2002. - № 1.

77. Евстигнеев, В. Импортозамещающая технология ПЛИС-БМК / А. Кошарновский, Е. Дегтярёв, М. Критенко, С. Цыбин, А. Быстрицкий // Компоненты и технологии. - 2004. - № 7, 8, 9.

78. Денисов, А.Н. Разработка аппаратуры специального назначения по технологии БМК-ПЛИС-БМК: тезисы докладов / А.Н. Денисов,

B.В. Коняхин // IV научно-практическая конференция «Проблемы обеспечения изделий авиационной и ракетно-космической отрасли высококачественной элементной базой», Сочи, 2003, 29 сентября-3 октября ; Тезизы докладов. - Москва: МНТО РЭС им. A.C. Попова, 2003. - С. 18.

79. Денисов, А.Н. Обеспечение качества РЭА на этапе проектирования специализированной ЭКБ / А.Н. Денисов, H.A. Шелепин //Петербургский журнал электроники. - 2004. - №3-4. - С. 169.

80. Басаев, A.C. Методология проектирования радиационно-стойких микросхем на основе БМК для космических аппаратов / A.C. Басаев, А.Н. Денисов, В.В. Коняхин, П.П. Мальцев // Материалы III Всероссийской научно-технической конференции «Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2008», (МЭС-2008). - Истра, 2008, 1216 октября. - 8 с.

81. Денисов, А.Н. Средства оперативной разработки полузаказных БИС / А.Н. Денисов, В.В. Коняхин, C.B. Гаврилов // Труды 8-ой Международной конференции «Актуальные проблемы твердотельной электроники и микроэлектроники, ПЭМ-2002». - Таганрог, 2002. - С. 56.

82. Денисов, А.Н. Библиотека функциональных ячеек для проектирования полузаказных микросхем серий 5503 и 5507 / А.Н. Денисов, Ю.П. Фомин, В.В. Коняхин, P.A. Фёдоров; под ред. А.Н. Саурова. -М.: Техносфера, 2012.

83. Шелепин, H.A. Создание комплекта БИС для мультиплексного канала «Манчестр-П» на основе серии 5503 /H.A. Шелепин, В.В. Коняхин, А.Н. Денисов, Ю.П. Фомин // Труды 8-ой Международной конференции «Актуальные проблемы твердотельной электроники и микроэлектроники, ПЭМ-2002». - Таганрог, 2002. - С. 61.

84. Басаев, A.C. Специализированные интегральные микросхемы космического применения на основе базовых матричных кристаллов / A.C. Басаев, А.Н. Денисов, В.В. Коняхин, П.П. Мальцев // Петербургский журнал электроники. - 2008. - №1. - С. 34 - 39.

85. Басаев, A.C. Специализированные интегральные микросхемы космического применения на основе базовых матричных кристаллов /А.С.Басаев, А.Н.Денисов, В.В. Коняхин, П.П.Мальцев //Материалы

Всероссийской конференции «Пути повышения радиационной стойкости микросхем на основе БМК для космических аппаратов». -СПб: Электронстандарт, 2008. - 7 с.

86. Денисов, А.Н. Повышение радиационной стойкости микросхем на основе нового поколения БМК и чувствительных элементов датчиков / А.Н. Денисов, П.П. Мальцев // Известия ЮФУ. - 2008. - №2. - С. 45 - 51

87. Денисов, А.Н. Повышение радиационной стойкости микросхем на основе нового поколения БМК и чувствительных элементов датчиков / А.Н. Денисов, П.П. Мальцев // Материалы Третьей Всероссийской научно-практической конференции «Перспективные системы и задачи управления». - Домбай, 2008, 7-13 апреля. - 9 с.

88. Басаев, A.C. Применение базовых матричных кристаллов при разработке аппаратуры специального назначения / A.C. Басаев, А.Н. Денисов, В.В. Коняхин, А.Н. Сауров // Вестник концерна ПВО «Алмаз-Антей».-2011.-№2.- С. 69-79.

89. Денисов, А.Н. Специализированные микросхемы для аппаратуры космического назначения/ А.Н. Денисов, В.В. Коняхин //Петербургский журнал электроники. - 2012. - №3. - С. 84-92.

90. Денисов, А.Н. Разработка аппаратуры космического применения с использованием базовых матричных кристаллов / А.Н. Денисов,

B.В. Коняхин, А.Н.Якунин, В.П. Бец //Вестник ФГУП «НПО им.

C.А. Лавочкина». - 2012. - №5. - С. 67-72.

91. Денисов, А.Н. Библиотека функциональных ячеек для проектирования полузаказных микросхем серий 5503 и 5507 / А.Н. Денисов, Ю.П. Фомин, В.В. Коняхин, P.A. Фёдоров. - М.: Техносфера, 2012. - 296 с.

92. Гаврилов, C.B. Система автоматизированного проектирования «Ковчег 2.1». / C.B. Гаврилов, А.Н.Денисов, В.В. Коняхин; под ред. Ю.А. Чаплыгина. - М.: Микрон-Принт, 2001. - 194 с

93. Гаврилов, C.B. САПР полузаказных КМОП БМК / C.B. Гаврилов, А.Н. Денисов, В.В. Коняхин // Труды 8-ой Международной конференции «Актуальные проблемы твердотельной электроники и микроэлектроники», Таганрог, 2002. - С. 58.

94. Денисов, А.Н. Методология проектирования аппаратуры по технологии БМК-ПЛИС-БМК // Известия ВУЗов. Электроника. - 2009. -№5. - С.85-86.

95. Савельев, П.В. Автоматизация проектирования БИС. В 6 кн. Практ. пособие. Кн.2. Функционально-логическое проектирование БИС /П.В. Савельев, В.В. Коняхин; под ред. Г.Г. Казенова. - М.: Высшая школа, 1990.- 156 с.

ПРИЛОЖЕНИЕ А АКТЫ О ВНЕДРЕНИИ РЕЗУЛЬТАТОВ ДИССЕРТАЦИИ

УТВЕРЖДАЮ Заместитель Генерального директора по НИОКР

АКТ

о внедрении в ОАО «НИИ «Субмикрон» результатов кандидатской диссертации Денисова А.Н.

«Разработка методов и средств проектирования микросхем по методологии БМК-ПЛИС-БМК на основе имитаторов (по специальности 05.13.12 - «Системы автоматизации проектирования»)

Настоящий акт составлен в том, что следующие результаты диссертационной работы Денисова А.Н.:

1. Методология автоматизированного проектирования полузаказных микросхем БМК-ПЛИС-БМК, позволяющая получать функционирующие прототипы микросхем до их изготовления;

2. Маршрут проектирования полузаказных микросхем средствами САПР «Ковчег», обеспечивающий отладку проекта микросхемы с использованием имитатора в составе реальной аппаратуры;

3. Средства конвертации полузаказных микросхем на основе БМК серии

5503 в базис ПЛИС, обеспечивающий сокращение времени разработки, как самой \

*

микросхемы, так и аппаратуры с её применением

внедрены в ОАО «НИИ «Субмикрон» при создании более 40 типов специализированных микросхем для аппаратуры космического назначения, в частности локального контроллера абонента, бортовой цифровой вычислительной машины и др.

В целом результаты диссертации Денисова А.Н. характеризуются высоким научным уровнем, практической применимостью и технико-экономической эффективностью.

Заместитель главного конструктора

П.М. Еремеев

УТВЕРЖДАЮ

Гл авн ы 51 ко) 1 етру ктор ФГУ-П.ТЙ6кЬ;<<{^арс>> д. т.н. профессор А.С^Сыров/

? ;•! > 1! ' £ /

лгА/'-тх;: "»тяг» л¡-.

АКТ '

о нмедрсшш п ФГУП «МСЖ1» «Марс» реп льтапж кандидатской лк-ссргацин Депиеииа А.11.

«Разработка методов и среден* проектроганпя микросхем по методологии БМК-ПЛИС-БМК на основе имитаторов (но специальности 05.13.12 -«Системы шшжатшашш проектирования»)

Настоящий акт составлен и юм, что резулыаты диссертационной работы Денисова АЛ I.. а именно:

1. Методоло! ия автомаз тированного проект нронаним пилу -.акашых микросхем БМК-ПЛИС-БМК. ориентированная на получение функционирующих нмиппороа микросхем:

2. Маршрут проектирования полузаконных микросхем среде! вами САПР ^Ковчег•>

с отладкой проекта микросхемы на имитаторе в составе аппарат ры: »

3. Средства получения протоишои полутдказных микросхем серии 5503. обеспечивающие сокращение сроков разработки не только микросхемы, но и агшнрапры с её применением

внедрены п ФГУП МОКБ «МАРС» при разработке более 20 типов специализированных микросхем для аппаратуры космического и поенного назначения. и частности аппаратуры, входящей в состав систем управления КА "")кспреес-МД1". "КачС'ат-2". "Спектр-Р". "Спектр-!1! ", изделии серии КОСИ. ДД9. КОЗ! и др.

В целом результаты диссертации Денисова Л.Н. характеризуются иькчжим научным уровнем, практической нримеинмост ыо и ! е х н и ко -э ко и ом и че е ко и эффективное гью.

"Заместитель начальника направления

/

/ ,

РЛО, Дорскш'г

.4 Д