Разработка и исследование методов синтеза импульсных тестов для автоматизации проверки КМОП СБИС на этапах изготовления и эксплуатации телекоммуникационного оборудования тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 05.13.07, кандидат технических наук Фрейман, Владимир Исаакович

• Фрейман, Владимир Исаакович
• кандидат технических наук
• 2000

Оглавление диссертации кандидат технических наук Фрейман, Владимир Исаакович

ВВЕДЕНИЕ.

1. АНАЛИТИЧЕСКИЙ ОБЗОР. ПОСТАНОВКА ЗАДАЧИ.

1.1. Цели и задачи тестового диагностирования ДУ.

1.2. Диагностические модели ДУ.

1.3. Обзор существующих методов тестирования ДУ.

1.4. Выводы по главе.

2. ДИАГНОСТИЧЕСКАЯ МОДЕЛЬ ДУ СОВРЕМЕННЫХ ТЕХНОЛОГИЙ.

2.1. Обзор применяемых моделей дефектов ДУ.

2.2. Диагностическая модель ИС современных технологий.

2.2.1. Традиционная (константная) модель дефектов.

2.2.2. Модель дефектов КМОП-устройств.

2.3. Необходимость применения импульсных тестов.

2.4. Выводы по главе.

3. ИССЛЕДОВАНИЕ И РАЗРАБОТКА МЕТОДОВ И АЛГОРИТМОВ ДИАГНОСТИРОВАНИЯ ОДНОКРАТНЫХ И СОЧЕТАНИЯ ОДНОКРАТНЫХ ДЕФЕКТОВ ИЗ РКД В ДУ.

3.1. Основные понятия и определения математического аппарата БД.

3.2. Применение тестовой функции для диагностики ДУ.

3.2.1. Тестовая функция для статического теста.

3.2.2. Тестовая функция для вариационного теста.

3.2.3. Тестовая функция для импульсного теста.

3.3. Построение импульсных тестов обнаружения однократных дефектов из РКД.

3.3.1. Обнаружение однократных константных дефектов.

3.3.2. Обнаружение однократных перемычек, приводящих к коротким замыканиям.

3.3.3. Обнаружение однократных перемычек, приводящих к образованию обратных связей.

3.4. Построение импульсных тестовых наборов обнаружения сочетания однократных дефектов из РКД.

3.4.1. Обнаружение сочетаний однократных КД и КЗ.

3.4.2. Обнаружение сочетания однократных КД и ОС.

3.5. Выводы по главе.

4. ИССЛЕДОВАНИЕ И РАЗРАБОТКА МЕТОДОВ И АЛГОРИТМОВ ДИАГНОСТИРОВАНИЯ КРАТНЫХ ДЕФЕКТОВ ИЗ РКД В ДУ.

4.1. Построение импульсных тестов обнаружения сочетания кратных дефектов типа КД.

4.2. Построение импульсных тестов обнаружения сочетания кратных дефектов типа КД и КЗ.

4.2.1. Обнаружение сочетания кратных КД и однократного КЗ

4.2.2. Условия возникновения компенсации кратными дефектами из РКД.

4.3. Построение импульсных тестов обнаружения сочетания кратных дефектов типа КД и ОС.

4.4. Выводы по главе.

5. РАЗРАБОТКА И ИССЛЕДОВАНИЕ МЕТОДОВ ДИАГНОСТИРОВАНИЯ КОНТРОЛЕПРИГОДНЫХ КМОП СБИС.

5.1. Анализ объекта диагностирования.

5.2. Методы и средства повышения контролепригодности современных КМОП ПЛИС.

5.3. Разработка методов и алгоритмов диагностики контролепригодных СБИС современных технологий.

5.4. Выводы по главе.

6. РЕАЛИЗАЦИЯ МЕТОДОВ СИНТЕЗА ИМПУЛЬСНЫХ ТЕСТОВ ДЛЯ АВТОМАТИЗАЦИИ ДИАГНОСТИРОВАНИЯ ЦИФРОВЫХ МОДУЛЕЙ ТЕЛЕКОММУНИКАЦИОННОЙ АППАРАТУРЫ.

6.1. Место диагностирования в процессе производства телекоммуникационной аппаратуры. Структура АСТД.

6.2. Диагностика современных СБИС на этапе изготовления изделия.

6.3. Диагностика цифровых функциональных модулей, использующих КМОП СБИС, на этапе эксплуатации телекоммуникационных систем.

6.4. Выводы по главе.

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Разработка и исследование методов синтеза импульсных тестов для автоматизации проверки КМОП СБИС на этапах изготовления и эксплуатации телекоммуникационного оборудования»

Одной из наиболее сложных и трудоемких промышленных отраслей является производство телекоммуникационной аппаратуры. При этом потребность в системах связи и сетях передачи данных испытывают подавляющее большинство отраслей народного хозяйства. Поэтому на первый план выходят вопросы повышения качественных, технологических, экономических характеристик процесса изготовления телекоммуникационного оборудования. Основным фактором увеличения эффективности технологических процессов изготовления аппаратуры является повышение уровня автоматизации производства.

Неотъемлемым этапом процесса изготовления современной телекоммуникационной аппаратуры является процесс проверки и настройки соответствующих элементов (Рис. 1). Этот процесс неразрывно связан с процессами изготовления и наладки и является необходимым компонентом для перехода к следующей стадии сборки устройства или системы. Качество и эффективность диагностирования на этапах изготовления, сборки и настройки элементов аппаратуры в конечном счете определяет эффективность всего технологического этапа производства. Поэтому автоматизация этапа проверки элементов и всего изделия в целом является определяющим для уровня автоматизации технологических процессов изготовления и эксплуатации телекоммуникационного оборудования. Следовательно, качество решения вопросов технической диагностики на этапах производства и эксплуатации оборудования предопределяют эффективность, качество изготовления и функционирования, а также другие важные технические и эксплуатационные параметры аппаратуры связи.

Эффективность функционирования телекоммуникационной аппаратуры в значительной степени определяется достоверностью информации, которая обрабатывается в цифровых устройствах и системах. Высокая производительность и стоимость оборудования обусловливают значительные потери при простое из-за неисправностей или плохо организованной эксплуатации.

Достоверность информации зависит от целого ряда факторов как технических, так и эксплуатационных. Совершенствуя и улучшая качество указанных факторов, можно добиться существенного повышения эффективности использования контролируемой аппаратуры.

Рис. 1. Этапы изготовления и эксплуатации телекоммуникационной аппаратуры

При решении проблем увеличения надежности и повышения качества контроля и эксплуатации электронных устройств важную роль играют методы и средства технической диагностики, применяемые на всех стадиях жизненного цикла устройств: проектирования, производства и эксплуатации.

Увеличение объема и сложности электронной аппаратуры при переходе на сверхбольшие интегральные схемы (СБИС) привело к тому, что стоимость производственного и эксплуатационного контроля этого оборудования стала сравнима со стоимостью проверяемого оборудования и даже превосходить его. С усложнением структуры и расширением функциональных возможностей аппаратуры процесс обнаружения и поиска дефектов становится более трудоемким и длительным, что требует повышения уровня автоматизации процесса диагностирования.

Диагностика технического состояния функциональных узлов и связей между ними является одним из составляющих технологического процесса производства и наладки современной аппаратуры. Указанные функции выполняют автоматизированные системы технического диагностирования (АСТД). На этапе эксплуатации или при регламентных работах для проверки каждого функционального узла (печатной платы, блока, изделия) применяется АСТД, интегрированная с системой управления и мониторинга (СУиМ). Такая система наряду с функциональным контролем рабочих характеристик и параметров позволяет производить тестовое диагностирование выбранных устройств.

Для обеспечения качественной процедуры диагностирования необходимо применять адекватную диагностическую модель, которая определяется технологией изготовления основных элементов аппаратуры. Для подавляющего большинства современных СБИС (микропроцессоров, программируемых схем, специализированных СБИС, сигнальных процессоров и т.д.) базовой технологией изготовления стала КМОП. Для ее описания первоначально была предпринята попытка применить ранее разработанные (для предшествующих технологий - ТТЛ, ТТЛШ и т.д.) диагностические модели. Однако анализ, проведенный в работах отечественных и зарубежных исследователей, показал их неадекватность КМОП-технологии и, как следствие, недостаточную покрывающую способность существующих диагностических тестов, что привело к необходимости разработки новых адекватных моделей дефектов расширенного класса (РКД) КМОП дискретных устройств (ДУ), исследовании новых видов формального описания проверяемого ДУ, разработке методик и алгоритмов синтеза диагностических тестов для обнаружения сочетания возросшего числа дефектов. Рост числа и типов дефектов стал обусловлен увеличением степени интеграции и плотности упаковки элементов в КМОП СБИС, применением многослойного печатного монтажа, а также особенностями конструктивного построения КМОП-элементов. Это привело к значительному усложнению процедуры контроля и диагностики аппаратуры, реализованной на КМОП СБИС.

Постановка задачи. Разработать и исследовать новые адекватные логические модели дефектов для КМОП-технологии, методы и алгоритмы построения диагностических тестов для обнаружения кратных дефектов в КМОП ДУ, а также методы и алгоритмы реализации процедуры тестового диагностирования для автоматизации проверки сложных электронных устройств на этапах изготовления и эксплуатации телекоммуникационного оборудования.

Таким образом, актуальность диссертации определяется необходимостью:

- отработки новых моделей дефектов (РКД) для современных технологий (КМОП и т.п.), более адекватных, чем традиционные модели дефектов (КД);

- создания методов и средств построения диагностических тестов проверки ДУ в рамках кратных дефектов из РКД, разработки машиноори-ентированных алгоритмов вычисления тестовых наборов;

- организации тестового диагностирования контролепригодных СБИС современных технологий изготовления с использованием внутренних средств и алгоритмов, а также методов построения тестов, предлагаемых в настоящей работе;

- проектирования и реализации аппаратно-программного обеспечения АСТД телекоммуникационной аппаратуры на технологических этапах ее изготовления и эксплуатации.

Целью диссертационной работы является повышение достоверности диагностики расширенного класса дефектов КМОП СБИС, являющихся одним из базисных элементов современной телекоммуникационной аппаратуры, на этапах ее изготовления и эксплуатации.

Целью теоретической части работы является исследование структурно-логической модели дефектов из РКД, характерной для устройств, изготовленных по КМОП-технологии, исследование применимости метода «проверки исправности ветви в неисправном устройстве» для диагностики дефектов из РКД с использованием импульсных тестов, построенных с помощью математического аппарата сдвоенных ориентированных булевых дифференциалов (СОБД), а также разработка методов синтеза импульсных тестов для обнаружения дефектов из РКД в КМОП СБИС. Поставленная цель достигается при допустимом количестве ограничений и допущений, не наносящих ущерба полноте и достоверности обнаруживающих свойств теста и упрощающих процедуру синтеза теста.

Цель прикладной части работы заключается в разработке эффективных машиноориентированных алгоритмов синтеза тестов, в разработке порцедуры тестового диагностирования КМОП СБИС с использованием средств повышения контролепригодности, интегрированных в современные электронные устройства (в частности, стандарт контролепригодного проектирования ЛАО), а также в разработке информационного, программного, аппаратного и прикладного обеспечения АСТД. Указанная цель достигается за счет использования предлагаемых методов и алгоритмов для проверки цифровых функциональных модулей в составе телекоммуникационной аппаратуры на стадиях ее изготовления и эксплуатации.

Основные задачи диссертационной работы, определяемые поставленной целью, состоят в следующем:

1. Исследовать структурно-логическую модель дефектов РКД КМОП

ДУ.

2. Исследовать возможность применения импульсных тестов для диагностики КМОП ДУ и определить их преимущества цо сравнению с вариационными тестами.

3. Разработать математический аппарат для синтеза импульсных тестов проверки КМОП ДУ с РКД на базе математического аппарата ориентированных булевых дифференциалов.

4. Разработать методы обнаружения кратных дефектов из РКД в КМОП комбинационных устройствах, а также алгоритмы синтеза импульсных проверяющих тестов.

5. Разработать машиноориентированные алгоритмы синтеза импульсных проверяющих тестов обнаружения кратных дефектов из РКД в КМОПДУ.

6. Исследовать методы и средства повышения контролепригодности современных электронных устройств, использующих в качестве элементного базиса КМОП СБИС, и разработать алгоритмы диагностирования подобных устройств в составе телекоммуникационной аппаратуры.

7. Разработать информационное, программное, аппаратное и прикладное обеспечение для отладочного стенда (технологического тестера) проверки линейных и коммутационных модулей телекоммуникационной аппаратуры.

8. Спроектировать систему управления и мониторинга (СУиМ) телекоммуникационным оборудованием с интегрированной АСТД на этапе эксплуатации, использующей предлагаемые в работе методы построения контролепригодных модулей и систем, алгоритмы синтеза проверяющих импульсных тестов, процедуры сетевой диагностики.

Практическая ценность работы состоит в следующем:

- разработаны методы и алгоритмы синтеза проверяющих импульсных тестов для диагностирования КМОП СБИС, описываемых моделью РКД;

- разработаны методики использования средств повышения контролепригодности, интегрированных в современные СБИС, которые позволяют применить для диагностики предлагаемые алгоритмы, повысив при этом эффективность и достоверность диагностирования;

- предложены алгоритмы и процедуры проведения тестового диагностирования функциональных узлов телекоммуникационной аппаратуры на различных стадиях производства и эксплуатации;

- предложена структура АСТД и системы управления и мониторинга телекоммуникационного оборудования.

Достоверность научных положений, выводов и практических рекомендаций подтверждена корректным обоснованием и анализом математических моделей РКД и методов синтеза проверяющих тестов в ДУ, наглядной интерпретацией математических моделей, теоретических результатов и выводов, а также данными математического моделирования и экспериментальных исследований результатов синтеза тестов дефектов из РКД для 9 электронных устройств, используемых в качестве базисных элементов для телекоммуникационной аппаратуры.

Научная новизна работы заключается в разработке, обосновании, теоретическом и экспериментальном исследовании новых методов обнаружения одиночных и кратных дефектов из РКД в комбинационных устройствах; в использовании математического аппарата СОБД для синтеза проверяющих импульсных тестов для КМОП ДУ, описываемых моделью кратных дефектов из РКД; разработке иерархической архитектуры АСТД на этапе изготовления и системы управления и мониторинга с интегрированной АСТД на этапе эксплуатации телекоммуникационного оборудования.

Реализация результатов работы. Теоретические результаты были использованы при разработке информационного, программного, аппаратного и прикладного обеспечения:

1. Отладочного комплекса проверки телекоммуникационного оборудования производства ОАО «Морион» и НПО АО «Такт» на этапах изготовления и отладки.

2. АСТД, интегрированной в СУиМ технического состояния телекоммуникационного оборудования производства ОАО «Морион» и НПО АО «Такт», применяемого в качестве платформы системы диспетчерской служебной связи (ДСС), внедренной на Октябрьской (Санкт-Петербург) и Восточно-Сибирской (Иркутск) железных дорог.

Диссертационная работа изложена на 114 страницах машинописного текста, иллюстрируется 45 рисунками, 15 таблицами и состоит из введения, шести глав, заключения, списка литературы из 34 наименований и приложений.

Заключение диссертации по теме «Автоматизация технологических процессов и производств (в том числе по отраслям)», Фрейман, Владимир Исаакович

6.4. Выводы по главе

1. Предложена структура АСТД телекоммуникационного оборудования на этапах его изготовления и эксплуатации, состав основных подсистем, разработаны схемы диагностического эксперимента проверки составных элементов аппаратуры (СБИС-плата-блок-изделие-система).

2. Приведено описание АСТД на этапах изготовления и эксплуатации, реализованной для проверки телекоммуникационной аппаратуры производства ОАО «Морион» и НПО АО «Такт».

3. На основании разработанных методов и алгоритмов диагностирования элементов телекоммуникационной аппаратуры реализованы ИО, ПО, АО и ПрО отладочного стенда (технологического тестера) и АСТД, интегрированной в систему управления и мониторинга телекоммуникационного оборудования ОАО «МОРИОН» и НПО АО «ТАКТ». Проведенные эксперименты показали адекватность применяемой диагностической модели, высокую покрывающую способность построенных импульсных тестов, высокие характеристики предлагаемых методов и алгоритмов тестового диагностирования.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

В результате выполнения диссертационной работы:

1. Исследована структурно-логическая модель, описывающая расширенный класс дефектов, включающий константные дефекты, обрывы электродов и межсоединений, перемычки электродов и межсоединений, приводящие к возникновению коротких замыканий и обратных связей. Доказана адекватность модели РКД для описания СБИС, изготовленных по КМОП-технологии;

2. Для диагностики КМОП КУ предложено применять ориентированные импульсные тесты, что, по сравнению с вариационными тестами, позволит повысить достоверность и сократить объем вычислений тестовых последовательностей и длину теста;

3. Исследована возможность применения математического аппарата ориентированных булевых дифференциалов для синтеза проверяющих тестов КМОП ДУ. Для синтеза проверяющих ориентированных импульсных тестов проверки исправности ветвей КМОП КУ с дефектами из РКД предложено использовать разработанный математический аппарат сдвоенных ориентированных булевых дифференциалов (СОБД);

4. Разработан аналитический метод построения ориентированного импульсного теста проверки исправности ветви комбинационного ДУ, описываемого моделью кратных дефектов из РКД.

5. Разработаны машиноориентированные алгоритмы синтеза проверяющих ориентированных импульсных тестов, использующих метод проверки исправности ветви, для КУ с кратными дефектами из РКД.

6. Предложены методики и алгоритмы тестового диагностирования СБИС (ПЛИС) современных технологий изготовления (КМОП), реализованных в стандарте контролепригодного проектирования JTAG. При этом на определенных этапах применяются проверяющие тесты, синтезированные по предлагаемым в данной работе алгоритмам.

7. Предлагаемые в работе диагностические модели РКД, алгоритмы синтеза oi-тестов, методы диагностирования ДУ, реализованных в стандарте JTAG, нашли применение в составе ПО и ИО разработанного отладочного стенда (технологического тестера) проверки линейных и коммутационных модулей системы диспетчерской служебной связи.

8. Спроектирована и внедрена система управления и мониторинга телекоммуникационным оборудованием в соответствии с требованиями Международных организаций по стандартизации ISO и ITU-T, а также Министерства связи РФ. В систему управления и мониторинга интегрирована автоматизированная система тестового диагностирования телекомму

Список литературы диссертационного исследования кандидат технических наук Фрейман, Владимир Исаакович, 2000 год

1. ГОСТ 20911-75. Техническая диагностика. Основные термины и определения.

2. Гессель М., Согомонян Е.С. Функционально-тестовое диагностирование на основе сохраняющего четность сигнатурного анализатора / Автоматика и телемеханика, №5, 1999. с. 162

3. Лобанов A.B. Обнаружение и идентификация "враждебных" неисправностей путем одновременного сочетания функционального и тестового диагностирования в многомашинных вычислительных системах / Автоматика и телемеханика, №1, 1999. с. 159

4. Гессель М., Дмитриев A.B., Сапожников В.В., Сапожников Вл.В. Самотестируемая структура для функционального обнаружения отказов в комбинационных схемах / Автоматика и телемеханика, №1, 1999. с. 162

5. Столов Е.Л. Проверка цифровых устройств парой последовательно соединенных сигнатурных анализаторов / Автоматика и телемеханика, №1, 1999. -с.164

6. Техническая диагностика / Пархоменко П.П. Москва.: Наука, 1972. - 368 е.: ил.

7. Методы и средства диагностирования КМОП БИС: Учеб. пособие для вузов / Артамонов С.Е., Кривошапко В.М., Левицкий Д.О. и др.; Под ред. Кривошапко В.М. М.: Радио и связь, 1993. - 240 е.: ил.

8. Hassan К. Reghbati, Fault Detection in PLAs. IEEE Transaction on computers. 1985. pp. 43-503.

9. Ярмолик В.H., Янушкевич А.И., М.Г.Карповский IDDQ тестирование итерационных структур, реализованных на КМОП-логике, РАН, Микроэлектроника т.26, №2 -1997.

10. Иванюк A.A., Янушкевич А.И., Ярмолик В.Н. Технология IDDQ тестирования одномерных итерационных логических структур / Автоматика и телемеханика, №1, 1999. с. 148

11. Быков Ю.В., Иванюк A.A., Янушкевич А.И., Ярмолик В.Н. Диагностика неисправностей КМОП-схем на основе Iddq-тестирования / Автоматика и телемеханика, №7, 1999. с. 142

12. Yacoub M. El-zig, Richard J. Cloutier, Functional-Level Test Generation for Stuck-Open Faults in CMOS VLSI. IEEE Test Conference. 1981. pp. 536-546

13. Автоматизация поиска дефектов в цифровых устройствах / Киселев В.В., Кон Е.Л., Шеховцов О.И. Л.: Энергоатомиздат. Ленингр. отделение, 1986. - 96 е.: ил.

14. Janusz Raj ski, Jerzy Tyszer, Combinatorial Approach to Multiple Contact Faults Coverage in PLAs. IEEE Transaction on computers. 1985. pp. 549-553

15. Соломенников В.Ю. Алгебраический метод диагностики схемных реализаций симметрических функций. / Автоматика и телемеханика, №2, 1998. с. 138

16. J.P.Roth, W.G. Bouricius, P.R.Schneider, Programming Algorithms to compute tests to detect and distinguish between failures in logic Circuits. IEEE Transaction on computers. 1967. pp. 567-580

17. Разработка и исследование диагностических моделей и методов построения тестов (проверяющих) для ПЛИС / Кон Е.Л., Жужгов В.Н., Киселев В.В., Пащенко. А.В. Пермь, ППИ, 1988. - 173 е.: ил.

18. Al-Arian, Sami A., Dharma P. Agarmal, Modeling and testing of CMOS-circuits. IEEE Transaction on computers. 1984. pp. 460-474

19. Niraj К. Л1а, Multiple Stuck-Open Fault Detection in CMOS Logic Circuits. IEEE Transaction on computers. 1987. pp. 563-571

20. Кон Е.Л., Фрейман В.И. Синтез проверяющих тестов для КМОП ИС // Информационные управляющие системы: Межвуз. сб. науч. тр./Перм. гос. тех. ун-т. Пермь, 1997.

21. Peter N. Marinos, Derivation of Minimal Complete Sets of Test-Input Sequences Using Boolean Differences. IEEE Transaction on computers. 1985. -pp. 27-32

22. Белоусов В.В, Кон Е.Л., Фрейман В.И. Синтез проверяющих тестов для КМОП ИС // Информационные управляющие системы: Межвуз. сб. науч. тр./Перм. гос. тех. ун-т. Пермь, 1998. с.17-с.21.

23. Фрейман В.И. Тестовое диагностирование контролепригодных ПЛИС с использованием импульсных тестов // Информационные управляющие системы: Межвуз. сб. науч. тр./Перм. гос. тех. ун-т. Пермь, 1999. -с.17-с.22.

24. Кон Е.Л., Фрейман В.И. Применение импульсных проверяющих тестов на этапах изготовления и эксплуатации аппаратуры // Методы и средства технической диагностики: Сб. науч. тр./Ивано-Франковский гос. тех. ун-т, 1999.

25. Программируемые пользователем логические интегральные схемы / Попова Г.М., Криворучко В.Ф., Зарубежная электронная техника, 8, 1990. 39 е.: ил.

26. Основные тенденции развития ПЛИС / Шипулин С., Храпов В. Электронные компоненты, №3-4, 1996.

27. Проектирование тестопригодных логических схем: Пер. с англ. Беннетс Р.Дж,- М.: Радио и связь, 1990. 176 е.: ил.104

28. Матросова А.Ю., Останин С.А., Паршина H.A. К синтезу контро-лепригодных комбинационных устройств / Автоматика и телемеханика, №2, 1998. с. 129

29. Аксенова Г.П., Халчев В.Ф. Декомпозиция для контролепригод-ного преобразования дискретных устройств / Автоматика и телемеханика, №9, 1999. с. 131

30. Суханов C.B., Торопицын C.B., Фрейман В.И. Обеспечение тес-топригодности систем // Тезисы докладов ежегодной научно-технической конференции студентов и аспирантов/Перм. гос. тех. ун-т. Пермь, 1997. -с.П-с.12.

31. Test Access Port and Boundary Scan Architecture, IEEE Std. 1149.190 (1149.1a-93)

32. Суханов C.B., Фрейман В.И. Подсистема функционального диагностирования коммутационных модулей интегрированной сети // Тезисы докладов ежегодной научно-технической конференции студентов и аспирантов/Перм. гос. тех. ун-т. Пермь, 1997. с.9-с.11.

33. Мы, нижеподписавшиеся, представитель ппу Галкин в. и. с одной стороны, и представитель ОАО "Морион" Струк в. К. с другой стороны, составили настоящий акт о нижеследующем:

34. В соответствии с дополнителным соглашением N1 к договору N 97/33/50 "Разработка ПО и АО устройств контроля блоков систем плезиохронной цифровой иерархии" проведены следующие

35. Разработано и отлажено ПО и АО супервизорной платыи устройств контроля плат ОЯТ, MX-DMX в системе PDH.

36. Разработано и отлажено АО и ПО для плат КС и пультов опрераторов: КС-001, КС-002, пульт для платы АМЗЗ, пульт для отображения аварийной информации в сети управления электросвязью ("индийский проект", DCC, HDSL).

37. Модифицировано ПО для КС-001 с целью взаимодействия с системой обслуживания "Центр".

38. Разработана и отлажена ПЛИС для платы MS.

39. Разработаны и отлажены сетевые протоколы передачи аварийной информации плат MS "индийского проекта".

40. Конструкторская документация на перечисленные выше изделия находится в НПОАО "Такт".1. От исполнителяработы:

41. Утверждаю" проректор по НИР ПГТУ В. R Галкинмтехнической готовности по договору 98/43-261 на создание научно-технической продукции

42. Мы, нижеподписавшиеся, представитель ПГТУ Галкин В.И., с одной стороны, и представитель ОАО "Морион" директор НТЦ СПИ Карелин H.A., с другой стороны, составили настоящий акт о нижеследующем:

43. В соответствии с договором № 98/43-261 "Разработка концепции автоматизированной системы технической эксплуатации коммутационного оборудования и интерфейса локального взаимодействия оператора и коммутационного оборудования" проведены следующие работы:

44. Разработана концепция проектирования автоматизированной системы управления и мониторинга коммутационного оборудования различного назначения.

45. Разработаны и протестированы интерфейсы локального взаимодействия пульта оператора и коммутационного оборудования.

46. В результате выполненных работ заказчику передана следующая документация:

47. Отчет с концепцией проектирования автоматизированной системы технической эксплуатации коммутационного оборудования. »

48. Исходные тексты программ интерфейсных модулей на магнитном носителе по протоколам TCP/IP, SPX/IPX, NetBIOS, ведущий/ведомый для взаимодействия пульта оператора под Windows 95/NT и промышленный контроллер под MS-DOS.

49. Тестовые программы для интерфейсных модулей по п.2 в виде запускаемых файлов на магнитном носителе.

50. Инструкция пользователя по эксплуатации сетевых протоколов по п.2.от заказчика Н.АКарелин1. АКТтехнической готовности по договору на создание научно-технической продукции № 97/33/50

51. Мы, нижеподписавшиеся, представитель ПГТУ Галкин В.И. с одной стороны, и представитель ОАО "Морион" Струк В.К. с другой стороны, составили настоящий акт о нижеследующем:

52. Заказчику предъявлены два промежуточных и заключительный отчет. От заказчик От исполнителя1. Расчетная часть

53. Проведем сравнительный анализ длины тестовой последовательности проверяющего теста для произвольного комбинационного устройства. Примем следующие ограничения:

54. Количество внешних выводов п

55. Рис. 1. Сравнительная характеристика оьтестов, оу-тестов, тривиальных и построенных по ТФН тестов1.. Зависимость длины импульсного теста № от сложности устройства (количества узлов разветвления Б)1. О I-О Ф I0