Разработка бессеточных ионно-оптических элементов времяпролётных масс-анализаторов тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 01.04.01, кандидат физико-математических наук Помозов, Тимофей Вячеславович

• Помозов, Тимофей Вячеславович
• кандидат физико-математических наук
• 2012

Оглавление диссертации кандидат физико-математических наук Помозов, Тимофей Вячеславович

ВВЕДЕНИЕ

ГЛАВА 1. ИСТОРИЯ И СОВРЕМЕННОЕ СОСТОЯНИЕ

РАЗВИТИЯ ВПМС

1.1. Простейший ВПМС

1.2. ВПМС с двухступенчатым ускорителем

1.3. Способы компенсации энергетического разброса в ВПМС

1.3.1. Компенсация энергетического разброса в ионных 18 зеркалах

1.3.2. Компенсация энергетического разброса в электростатических и магнитных секторных полях

1.4. Способы формирования импульсных ионных пакетов из непрерывных ионных источников. Метод ортогонального 21 ускорения

1.5. Ионные зеркала для ВПМС рефлектронного типа

1.5.1. Общие оптические свойства ионных зеркал

1.5.2. Ионные зеркала с времяпролётной фокусировкой по энергии

1.5.2.1. Ионные зеркала с кусочно-однородными полями

1.5.2.2. Ионные зеркала с неоднородными аксиальными полями

1.5.3. Ионные зеркала с пространственной (пространственно-угловой) фокусировкой

1.5.4. Эффекты, вносимые сетками

1.6. Особенности секторных ВПМС

1.7. Сравнение ионных зеркал и секторных полей как элементов для ВПМС

1.8. МОВПМС

1.8.1. Принципы МОВПМС и общие требования

1.8.2. МОВПМС на основе ионных зеркал

1.8.2.1. МОВПМС на основе осесимметричных ионных зеркал

1.8.2.2. МОВПМС на основе планарных (двумерных) ионных зеркал

1.8.3. Секторные МОВПМС

ГЛАВА 2. ПЛАНАРНЫЕ БЕССЕТОЧНЫЕ ИОННЫЕ ЗЕРКАЛА ДЛЯ ВПМС

2.1. Расчёт и оптимизация аберрационных коэффициентов планарных (двумерных) и осесимметричных бессеточных ионных зеркал

2.2. Планарные бессеточные зеркала для рефлектронов с ортогональным ускорением ионов

2.2.1. Бессеточные ионные зеркала с тормозящими потенциалами всех электродов

2.2.1.1. Зеркало Фрея

2.2.1.2. Ионные зеркала с альтернативными ионно-оптическими свойствами

2.2.2. Планарное ионное зеркало с ускоряющим потенциалом одного из электродов

2.2.3. Обобщение оптических свойств бессеточных ионных зеркал с двумя настроечными потенциалами

2.3. Планарные бессеточные ионные зеркала для МОВПМС 86 2.3.1. Планарные бессеточные ионные зеркала для МОВПМС с продольно ориентированным ортогональным ускорителем

2.3.1.1. Бессеточные план арные ионные зеркала с третьим порядком фокусировки времени пролёта по энергии

2.3.1.2. Бессеточные планарные ионные зеркала с четвёртым порядком фокусировки времени пролёта по энергии

2.3.1.3. Бессеточные планарные ионные зеркала с пятым порядком фокусировки времени пролёта по энергии

2.3.2. Планарные бессеточные ионные зеркала для МОВПМС с поперечно ориентированным ортогональным ускорителем

2.3.2.1. Бессеточное планарное ионное зеркало с полной фокусировкой третьего порядка времени пролёта

ГЛАВА 3. БЕССЕТОЧНЫЙ ОРТОГОНАЛЬНЫЙ УСКОРИТЕЛЬ ДЛЯ МОВПМС

3.1. Оптимизация выходной части ортогонального ускорителя

3.2. Оптимизация импульсной части ортогонального ускорителя

3.3. Ортогональный ускоритель с бессеточными входной и выходной частями

ГЛАВА 4. ПРИМЕРЫ ИСПОЛЬЗОВАНИЯ ПЛАНАРНЫХ БЕССЕТОЧНЫХ ИОННЫХ ЗЕРКАЛ С УЛУЧШЕННЫМИ ОПТИЧЕСКИМИ СВОЙСТВАМИ В СХЕМАХ ВПМС

4.1. Одиночный масс-рефлектрон на основе двухпотенциального бессеточного ионного зеркала с ускоряющим потенциалом

4.2. Трёхоборотный масс-анализатор на основе бессеточного планарного ионного зеркала с пятым порядком фокусировки времени пролёта по энергии

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Разработка бессеточных ионно-оптических элементов времяпролётных масс-анализаторов»

Времяпролётная масс-спектрометрия, в основе своей использующая разделение ионов по массам за счёт различия времён пролёта коротких импульсных пакетов заряженных частиц, на сегодняшний день является одним из самых мощных и востребованных методов в самых разнообразных областях исследования вещества (атомная и молекулярная физика, химия и нефтехимия, геология, химия и биология, фармацевтика и многие другие), а времяпролётный масс-спектрометр (ВПМС) является, пожалуй, одним из самых популярных типов масс-анализатора. Успех ВПМС обусловлен их фундаментальными особенностями, такими как высокие чувствительность (единицы пг), информативность получаемых масс-спектров, скорость анализа (менее 1 мсек на спектр), точность определения массы (единицы ррт) и широкий динамический диапазон (порядка 104). Кроме того, возможность реализации ионно-оптических схем, функционирующих в неограниченном массовом диапазоне, делает времяпролётные приборы практически не имеющими альтернативы при исследовании тяжёлых молекулярных ионов, а достигнутый к настоящему времени уровень компенсации искажений временного сигнала позволяет достигать высокой разрешающей способности: от 5000 - 15000 для простейших ВПМС (рефлектронов) до 70000 - 100000 для многоотражательных ВПМС (МОВПМС).

Разрешающая способность - одна из важнейших аналитических характеристик ВПМС, стремление к увеличению которой, сопровождающееся расширением области возможных применений, является общей тенденцией в истории развития времяпролётных приборов. Один из возможных и наиболее перспективных способов улучшения этой характеристики - уменьшение временных искажений сигнала (аберраций), вносимых оптическими элементами масс-анализатора.

Современные ВПМС, как правило, используют ионные зеркала для компенсации временного уширения ионных пакетов, возникающего вследствие энергоразброса заряженных частиц. Традиционные ионные зеркала для простейших ВПМС (рефлектронов) - приборов с однократным отражением ионных пакетов - состоят из промежутков однородного тормозящего электростатического поля, отделённых друг от друга и от дрейфового пространства сеточными электродами. Использование сеток в конструкции ионных зеркал сопровождается целым рядом негативных эффектов: малоугловым рассеянием ионных пакетов на неоднородностях поля вблизи сеток, приводящим к искажениям, увеличивающим длительность временного сигнала в плоскости детектора (по этой причине пики спектра масс, полученные времяпролетным методом, характеризуются типичными длинными «хвостами», ограничивающими динамический диапазон масс-спектрометра в режиме высокой разрешающей способности), уменьшением трансмиссии ионов, обусловленным конечной прозрачностью сеточных электродов и рассеянием на большие углы, эффектами зарядки, нагревом и фрагментацией заряженных частиц. Перечисленных недостатков лишены бессеточные зеркала, поэтому их использование позволяет существенно улучшить параметры рефлектрона при работе в режиме высокого разрешения по массе (> 10000 на полувысоте пика). До настоящего времени предпринимались попытки замены в рефлектронах традиционных сеточных зеркал на бессеточные, однако они, как правило, не приводили к существенному улучшению характеристик зеркал из-за того, что неоднородная структура электростатического поля в бессеточном зеркале приводит к зависимости времени пролета от пространственного распределения ионов в пакетах. Наиболее высококачественным известным в настоящее время бессеточным зеркалом для рефлектрона с двумя управляющими потенциалами является аксиально-симметричное зеркало

Фрея, сочетающее в себе свойства пространственной фокусировки ионных пакетов и фокусировку второго порядка времени пролёта по энергии.

Однако, данное зеркало обладает существенным недостатком, а именно, 7 большими времяпролётными аберрациями второго порядка по пространственным переменным пучка заряженных частиц, которые ограничивают разрешающую способность на 10%-ом уровне интенсивности сигнала и по основанию и, соответственно, возможность разрешения ионных пиков, сильно различающихся по интенсивности. Таким образом, для ВПМС рефлектронного типа по-прежнему актуальной является разработка конструктивно простых бессеточных ионных зеркал с малым количеством источников питания, обладающих малыми аберрациями времени пролёта как по энергии пакетов заряженных частиц, так и по пространственным координатам ионов в этих пакетах.

Гораздо более перспективными по сравнению с времяпролётными приборами рефлектронного типа с точки зрения достигаемых величин разрешающей способности являются МОВПМС, к котором в последние годы проявляется колоссальный интерес, связанный со стремительной динамикой развития и сложностью решаемых задач в таких областях естествознания, как биология и биохимия. Среди МОВПМС на основе ионных зеркал особый интерес представляют так называемые анализаторы с зигзагообразной траекторией ионов, которые, в отличие от спектрометров «челночного» типа с аксиально-симметричными зеркалами, способны функционировать в режиме анализа ионов в полном массовом диапазоне. Приборы такого типа эквивалентны комбинации последовательно расположенных времяпролётных анализаторов с однократным отражением и реализуются на основе планарных (двумерных) ионных зеркал. Известные к настоящему времени план арные МОВПМС используют ионные зеркала, обеспечивающие фокусировку 3-го порядка времени пролёта по энергии, пространственную изохронность во втором аберрационном порядке и эффективное удержание малой ширины ионного пучка на всей длине пути. Увеличение разрешающей способности таких приборов, несомненно, может быть достигнуто при улучшении оптических свойств существующих зеркал, которое может происходить в двух направлениях, в зависимости от высоты пакетов ионов в анализаторе. Если ионный пакет в анализаторе намного уже, чем высота зазора окна зеркала, то основным фактором, уширяющим пакет в зеркале, являются аберрации времени пролета по энергии, и, таким образом, основным ресурсом улучшения качества зеркал становится повышение порядка фокусировки времени пролёта по энергии этими зеркалами. Если же высота ионного пакета сравнима с высотой окна зеркала, то набольшее значение для улучшения качества зеркал имеет уменьшение смешанной аберрации третьего порядка времени пролета по энергии и пространственной высоте пакета ионов. Актуальность предлагаемых улучшений обусловлена тем, что они создают условия повышения разрешающей способности МОВПМС до уровня, позволяющего этим приборам конкурировать по этому параметру с магнитными приборами ион-циклотронного резонанса, демонстрирующими на сегодняшний день рекордные величины разрешающей способности среди существующих типов масс-спектрометров при, однако, небольшой скорости снятия спектров.

Бессеточные ионные зеркала с двумерной структурой распределения поля хорошо согласуются с геометрией ионных пакетов, получаемых методом ортогонального ускорения, который, в свою очередь, является наиболее широко используемым способом создания импульсных ионных пучков из стационарных потоков заряженных частиц. Существенный недостаток традиционной конструкции ортогонального ускорителя - наличие сеточных электродов, негативные эффекты которых были перечислены выше. Для МОВПМС с бессеточными ионными зеркалами, обладающими небольшим угловым аксептансом, наиболее существенным из перечисленных эффектов является рассеяние пучка ионов на сетках ускорителя, приводящее к потере чувствительности прибора. Поэтому эффективное использование подобных ионных зеркал требует отсутствия сеточных электродов в конструкции импульсного конвертера.

Бессеточным ортогональным ускорителям в оптике заряженных части на сегодняшний момент уделено крайне мало внимания, а в единичных 9 публикациях, где представлены их принципиальные схемы, ничего не сообщается об эффектах уширения временной длительности ионных пакетов в неоднородных полях таких систем, о вариациях потенциала в области движения непрерывного пучка в моменты времени между экстрагирующими импульсами и о многих других особенностях их работы. Поэтому разработка и оптимизация электродной конфигурации полностью бессеточного импульсного конвертера, вносящей малые временные искажения ионных пакетов, остаётся актуальной для создания высокоразрешающих МОВПМС.

Таким образом, цель настоящей диссертационной работы состоит в разработке бессеточных ионно-оптических элементов для ВПМС, обеспечивающих малые аберрационные искажения временного сигнала. Понятие «ионно-оптические элементы» здесь включает в себя планарные зеркала для ВПМС рефлектронного типа и МОВПМС, а также ортогональный ускоритель. Отметим, что предложенные в настоящей работе типы бессеточных ионных зеркал, обладающих определённой совокупностью ионно-оптических свойств, могут быть реализованы на основе не только планарных, но и осесимметричных электродов. Поскольку принципы дизайна обоих указанных типов зеркал идентичны, то конкретные результаты представлены в диссертации для планарных зеркал, представляющих больший интерес для анализа спектров в широком диапазоне масс. Исключением является представленная в главе 2 аналитическая аппроксимация осевого распределения поля совокупности цилиндрических электродов, отличающаяся от аппроксимации, использующейся для планарных зеркал.

Диссертация состоит из введения, четырёх глав, заключения и списка литературы.

Заключение диссертации по теме «Приборы и методы экспериментальной физики», Помозов, Тимофей Вячеславович

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

В заключение сформулируем основные результаты, полученные в диссертации:

1. Получено приближённое аналитическое выражение для расчёта напряжённости поля на оптической оси многоэлектродных бессеточных осесимметричных ионных зеркал с пренебрежимо малыми межэлектродными зазорами, на порядок превосходящее по точности ранее известную аппроксимационную формулу.

2. На основе анализа различных типов бессеточных ионных зеркал для ВПМС рефлектронного типа, управляемых двумя потенциалами, разработана ионно-оптическая схема бессеточного планарного зеркала, управляемого двумя источниками питания и обладающего свойствами фокусировки третьего порядка времени пролёта по энергии и пространственной изохронности во втором аберрационном порядке.

3. Предложены ионно-оптические схемы бессеточных планарных ионных зеркал, обладающих свойствами фокусировки четвёртого и пятого порядков времени пролёта по энергии и пространственной изохронности во втором аберрационном порядке, для использования в МОВПМС с продольной ориентацией ортогонального ускорителя по отношению к плоскости зигзагообразного движения ионов.

4. Разработана ионно-оптическая схема бессеточного планарного ионного зеркала, обладающего свойством полной фокусировки третьего порядка времени пролёта по энергии и пространственным параметрам ионных пакетов, для использования в МОВПМС с поперечной ориентацией ортогонального ускорителя по отношению к плоскости зигзагообразного движения ионов.

5. Проведён сравнительный анализ качества предложенных ионных зеркал между собой и с их существующими наиболее высококачественными аналогами.

6. Предложена и исследована ионно-оптическая схема бессеточного ортогонального ускорителя, обеспечивающая малые искажения формируемого временного сигнала.

7. На основе разработанных ионно-оптических элементов предложены схемы ВПМС рефлектронного типа и трёхоборотного МОВПМС с продольно ориентированным ортогональным ускорителем, демонстрирующие высокую разрешающую способность.

Список литературы диссертационного исследования кандидат физико-математических наук Помозов, Тимофей Вячеславович, 2012 год

1. Cameron А. Е., Eggers D. F. An 1.n vvVelocitron". // Rev. Sci. Instrum. 1948. V. 19. P. 605.

2. Ионов H. И., Мамырин Б. А. Масс-спектрометр с импульсным источником ионов. // ЖТФ. 1953. Т. 23. Вып. 11. С. 2101 2103.

3. Wiley W. С., McLaren I. Н. Time-of-flight mass spectrometer with improved resolution. // Rev. Sci. Instrum. 1955. V. 26. P. 1150 1157.

4. Алиханов С. Г. Новый импульсный метод измерения массы ионов. // ЖТФ. Т. 31. Вып. 3. С. 517-521.

5. Мамырин Б. А., Каратаев В. И., Шмикк Д. В., Загулин В. А. Масс-рефлектрон, новый безмагнитный времяпролётный масс-спектрометр с высоким разрешением. // ЖТФ. 1973. Т. 64. Вып. 1. С. 82 89.

6. Moorman С. J., Parmater, J. Q. Time of flight mass spectrometer having both linear and curved drift regions whose energy dispersions with time are mutually compensatory. // US Patent 3576992. 1971.

7. Poschenrieder, W. P. Multiple-focusing time of flight mass spectrometers. Part I. TOFMS with equal momentum acceleration. // Int. J. Mass Spectrom. Ion Phys. 1971. V. 6. P. 413-426.

8. Poschenrieder, W. P. Multiple-focusing time of flight mass spectrometers. Part II. TOFMS with equal energy acceleration. // Int. J. Mass Spectrom. Ion Phys. 1972. V. 9. P. 357 373.

9. Matsuda H., Matsuo Т., Ioanoviciu D., Wollnik H., Rabbel V. Particle flight times through electrostatic and magnetic sector fields and quadrupoles to second order. // Int. J. Mass Spectrom. Ion Phys. 1982. V. 42. P. 157 -168.

10. Додонов А. Ф., Чернушевич И. В., Додонова Т. Ф., Разников В. В., Тальрозе В. J1. Метод масс-спектрометрического анализа по времени пролёта из непрерывного пучка ионов. АС 1681340. 1991.

11. Douglas D. J., French J. B. Collisional focusing effects in radiofrequency quadrupoles. // J. Am. Soc. Mass Spectrom. 1992. V. 3. P. 398-408.

12. Xu H. J., Wada M., Tanaka J., Kawakami, H., Katayama, I., Ohtani, S. A new cooling and focusing device for ion guide. // Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. A. 1993. V. 333. P. 274 281.

13. Gohl W., Kutcher R., Laue H. J., Wollnik H. Time-of-flight mass spectrometry for ions of large energy spread. // Int. J. Mass Spectrom. Ion Phys. 1983. V. 48. P. 411 414.

14. Haberland H., Kornmeier H., Ludewigt C., Risch, A. Converting a reflectron time-of-flight mass spectrometer into a tandem instrument. // Rev. Sci. Instrum. 1991. V. 62. P. 2368 2371.

15. Vestal M.L. Time-of-flight analyzer and method. US Patent 5160840.1991.

16. Cornett D. C., Peschke M., LaiHing K., Cheng P. Y., Willey K. F., Dunkan M. A. Reflectron time-of-flight mass spectrometer for laser photodissociation. // Rev. Sci. Instrum. 1991. V. 63. P. 2177 2186.

17. Ionavociu D. Complete third-order resolution formulae for time-of-flight mass spectrometers incorporating reflectrons. // Rapid Comm. Mass Spectrom. 1993. V. 7. P. 1095.

18. Scheinfein M. R., Seidman D.N. Time aberrations of uniform fields: an improved reflectron mass spectrometer for an atom-probe field-ion microscope. // Rev. Sci. Instrum. 1993.V. P. 3126 3131.

19. Zhang J., Enke C.G. Simple cylindrical ion mirror with three elements. // Am. Soc. Mass Spectrom. 2011. V. 11. P. 759 764.

20. Yefchak G. E., Flory C.A. Improved method for designing a cylindrical Zhang-Enke ion mirror. // Int. J. Mass Spectrom. 2002. V. 214. P. 89 94.146

21. Hansen S.C. Ion mirror for time-of-flight mass spectrometer. US Patent 6717135.2001.

22. Zhang J., Gardner B. D., Enke C. G. Simple geometry gridless ion mirror. // Am. Soc. Mass Spectrom. 2000. V. 11. P. 765 -769.

23. Frey R., Schlag E. Time of flight mass spectrometer using an ion reflector. US Patent, 4731532 (1986).

24. Grix R., Kutcher R., Li G., Gruner U., Wollnik, H. A time-of-flight mass analyzer with high resolving power. // Rapid Comm. Mass Spectrom.1988. V. 2. P. 83 -85.

25. Kutcher R., Grix R., Li G., Wollnik, H. Ion reflector. US Patent 5017780.1989.

26. Kutcher R., Grix R., Li G., Wollnik, H. A transversally and longitudinally focusing time-of-flight mass spectrometer. // Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 1991. V. 103. P. 117 128.

27. Holle A. Space-angle focusing reflector for time-of-flight mass spectrometers. US Patent 6740872.2002.

28. Franzen J. Gridless time of flight mass spectrometer for orthogonal ion injection.UK Patent GB2361353. 2000.

29. Kawato E. Time-of-flight mass spectrometer. US Patent 6384410. 1999.

30. Schmid R. P., Weickhardt C. Designing time-of-flight mass spectrometers with and without grids: a direct comparison. // Int. J. Mass Spectrom. 2001. V. 206. P. 181 190.

31. Haberland H., Kornmeier H., Ludewigt C., Rich, A. Converting a reflectron time-of-flight spectrometer into s tandem instrument. // Rev. Sei. Instrum. 1991. V. 62. P. 2368 2371.

32. Yavor M. Optics of charge particle analyzers. Acad. Press. Amsterdam. 2009. P. 130-132.

33. Matsuda H. Electrostatic analyzer with variable focal length. // Rev. Sci. Instrum. 1961. V. 32. P. 850 852.

34. Matsuo T., Sakurai T., Matsuda, H. Ion optics of new TOF mass spectrometer in the third order approximation. // Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. A. 1987. V. 258. P. 327 330.

35. Sakurai T., Matsuo T., Matsuda, H. Ion optics for time-of-flight mass spectrometers with multiply symmetry. // Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 1985. V. 63. P. 273-287.

36. Sakurai T., Fujita Y., Matsuo T., Matsuda H., Katakuse I., Miseki K. A new time-of-flight mass spectrometer. // Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 1985. V. 66. P. 283 290.

37. Wollnik H. Time-of-flight mass spectrometer. UK Patent GB208021.1982.

38. Wollnik H., Przewloka M. Time-of-flight mass spectrometer with multiply reflected ion trajectories. // Int. J. Mass Spectrom. Ion Proc. 1990. V. 96. P. 267.

39. Wollnik H. et al. Time-of-flight mass analyzers. // Mass Spec. Rev. 1993. V. 12. P. 89.

40. Casares A., Kholomeev A., Wollnik H. Multipass time-of-flight mass spectrometer with high resolving powers. // Int. J. Mass Spectrom. 2001. V. 206. P. 267 273.

41. Wollnik H., Casares A. An energy-isochronous multi-pass time-of-flight mass spectrometer consisting of two coaxial electrostatic mirrors. // Int. J. Mass Spectrom. 2003. V. 227. P. 217 222.

42. Ishida Y., Wada M., Matsuo Y., Tanihata I., Casares A., Wollnik H. A time-of-flight mass spectrometer to resolve isobars. // Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. B. 2004. V. 219 220. P. 468 - 472.

43. Ishida Y., Wada M., Wollnik H. A multi-reflection time-of-flight mass spectrometer for mass measurements of short-lived nuclei. // Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. B. 2005. V. 241. P. 983 985.

44. Wollnik H., Casares A., Radford D., Yavor M. Multi-pass time-of-flight mass-spectrometers of high resolving power. // Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. A. 2004. V. 519. P. 373 379.

45. Yavor M. Optics of charge particle analyzers. Acad. Press. Amsterdam. 2009. P. 130 132.

46. Giles R., Sudakov M., Wollnik H. A coaxial time-of-flight mass spectrometer. WO Patent 071921 A2. 2008.

47. Назаренко JI. M., Секунова Л. М., Якушев Е. М. Времяпролетный масс-спектрометр с многократным отражением. АС 1725289. 1989.

48. Явор М. И., Веренчиков А. Н. Планарный многоотражательный времяпролетный масс-анализатор с неограниченным массовым диапазоном. // Научное приборостроение. 2004. Т. 14. Вып. 2. С. 38 -45.

49. Verentchikov А. N. Time of flight mass spectrometer employing a plurality of lenses focusing an ion beam in shift direction. UK Patent GB 2403063 A. 2003.

50. Verentchikov A. N., Yavor M. I., Mitchell J. C., Artaev V. Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer and a method of use. WO Patent 0028787. 2005.

51. Verentchikov A. N., Yavor, M. I. Quasi-planar multi-reflecting time of flight mass spectrometer. WO Patent 008386 Al. 2010.

52. Yavor ML, Verentchikov A., Hasin Ju., Gavrik M., Trufanov A. Planar multi-reflecting time-of-flight mass analyzer with a jig-saw ion path. // Physics Procedia. 2008. V. 1. P. 391 400.

53. Poschenrieder W. P. Multiple-focusing time of flight mass spectrometers. Part II. TOF MS with equal energy acceleration. // Int. J. Mass Spectrom. Ion Phys. 1972. V. 9. P. 357 373.

54. Toyoda M., Okumura D., Ishihara M., Katakuse I. Multi-turn time of flight mass spectrometers with electrostatic sectors. // J. Mass Spectrom. 2003. V. 38. P. 1125-1142.

55. Okumura D., Toyoda M., Ishihara M., Katakuse I. A compact sector-type multi-turn time-of-flight mass spectrometer «MULTUM II». // Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. A. 2004. V. 519. P. 331 337.

56. Satoh Т., Tsuno H., Iwanaga M., Kammei Y. The design and characteristic features of a new time-of-flight mass spectrometer with a spiral ion trajectory. // J. Am. Soc. Mass Spectrom. 2005. V. 16. P. 1969 1975.

57. Satoh Т., Sato Т., Tamura J. Development of high-performance MALDI-TOF mass spectrometer utilizing a spiral ion trajectory. // J. Am. Soc. Mass Spectrom. 2007. V. 18. P. 1318 1323.

58. Berz M. Modern map methods in particle beam physics (Advances in imaging and electron physics, V. 108). Acad. Press. 1999. P. 81 117.

59. Миролюбов H. H., Костенко H. В., Левинштейн M. Л., Тиходеев Н. Н. Методы расчёта электростатических полей. Москва: Высшая школа. 1963. С. 178-210.

60. Хокс П., Каспер Э. Основы электронной оптики. Москва: Мир. 1993.

61. Manura D.J., Dahl D.A. SIMION™ 8.0 User Manual. Sci. Instrument Services, Inc., Idaho Nat. Lab. 2006.

62. Веренчиков A. H., Явор M. И. Планарный многоотражательный времяпролетный масс-анализатор, работающий без ограничения диапазона масс. // Научное приборостроение. 2004. Т. 14. Вып. 2. С. 38 -45.

63. Веренчиков А. Н., Явор М. И., Хасин Ю. И., Гаврик М. А. Многоотражательный планарный времяпролетный масс-анализатор. I. Анализатор для параллельного тандемного анализа. // ЖТФ. 2005. Т. 75. Вып. 1. С. 74-83.

64. Verentchikov А. N. Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer with orthogonal acceleration. US Patent 0176090. 2007.

65. Franzen J. Gridless time-of-flight mass spectrometer for orthogonal ion injection. US Patent 0011703 Al. 2001.

66. Makarov A. A. A time of flight mass spectrometer including an orthogonal accelerator. Patent WO 01/11660 Al. 2000.

67. Явор M. И., Веренчиков A. H. Сравнительный анализ многопроходных времяпролетных масс-анализаторов на основе зеркал и секторных полей. // Научное приборостроение. 2006. Т. 16. Вып. 3. С. 21 29.