Плазмохимические процессы в активной среде электроразрядных CO-лазеров тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 01.04.08, кандидат наук Григорьян, Галина Михайловна

• Григорьян, Галина Михайловна
• кандидат наук
• 2013

Оглавление диссертации кандидат наук Григорьян, Галина Михайловна

СОДЕРЖАНИЕ

Введение

Глава 1. Исследование параметров активных сред и генерационных характеристик электроразрядных СО - лазеров с криогенным охлаждением. Анализ соответствия теории и эксперимента

1.1 Теоретическая модель электроразрядного СО-лазера

1.2 Температура газа и заселенности колебательных уровней молекулы СО(Х12) в плазме проточного разряда в смесях Не - СО, Не - СО - 02, Не - СО - N2 , Не - СО - N2 - О2 с криогенным охлаждением

1.3 Энергетические и спектральные характеристики активной среды СО-лазера в смесях Не - СО, Не - СО - Ог, Не - СО - N2 , Не - СО -N2 - О2 с криогенным охлаждением

1.4 О влиянии кислорода на параметры активной среды

1.5. Влияние кислорода на параметры плазмы в СО-лазере с несамостоятельным

разрядом

Глава 2. Исследование параметров активных сред и генерационных характеристик электроразрядных СО - лазеров, работающих при комнатной температуре. Анализ соответствия теории и эксперимента

2.1 Проточный электроразрядный СО-лазер, работающий при комнатной

тма» Iпалпч^глл ОС

1 1 у рс

2.2 Отпаянный СО-лазер, работающий при комнатной температуре

2. 2.1 Описание эксперимента

2.2.2. Влияние условий эксперимента на заселенности колебательных уровней в

отпаянном СО-лазере

Глава 3. Влияние ксенона на плазмохимические процессы в активной среде электроразрядного СО-лазера

3.1 Описание эксперимента

3.2 Теоретическая модель

3.3 Влияние ксенона на концентрацию молекул СО2 в плазме газового разряда в смесях Не - СО - Хе

3.4 Влияние ксенона на концентрацию молекул О2 в плазме газового разряда в

смесях Не - СО - 02 - Хе

Глава 4.. Баланс молекул окиси углерода в активной среде отпаянного

злектроразрядного СО-лазера

4.1 Описание эксперимента

4.2 Теоретическая модель

4.3 Смесь Не - СО

4.4 Смесь Не - СО - Хе

4.5 Влияние материала стенки на величину скорости гетерогенной

рекомбинации

Глава 5. Процессы с участием продуктов плазмохимии в активной среде

электроразрядного СО-лазера

5.1 Молекулы СОг в активной среде СО-лазера

5.1.1 Описание эксперимента

5.1.2 Численная модель

5.1.3 Результаты исследований

5.2. Молекулы С3О2 в активной среде СО-лазера

5.2.1 Смесь Не - СО

5.2.2 Смесь Не - СО - Хе

5.2.3 Процессы, определяющие концентрацию молекул С3О2 в плазме газового разряда

5.3 Молекулы С2

5.3.1 Результаты исследований

5.3.2 Смеси Не - СО - 02, Не - СО - Хе

5.3.3 Процессы, определяющие концентрацию молекул С2 в плазме газового разряда

5.4 Молекулы CN

5.4.1 Результаты экспериментальных исследований

5.4.2 Анализ процессов образования и возбуждения молекул CN в плазме разряда

5.4.3 О влиянии молекул CN на заселенности колебательно-возбужденных

молекул окиси углерода в плазме

Заключение

Литература

Приложение

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Плазмохимические процессы в активной среде электроразрядных CO-лазеров»

Введение

Электрический разряд в смесях, содержащих молекулы окиси углерода, является объектом интенсивных исследований на протяжении многих десятилетий. Это связано как с важными прикладными возможностями использования таких разрядов - в первую очередь это мощные СО-лазеры, работающие на колебательных переходах основного электронного состояния молекулы и плазмохимические реакторы, так и с разработкой

фундаментальных аспектов молекулярной и электронной кинетики.

Низкотемпературная плазма газового разряда в смесях, содержащих окись углерода, используется для создания активной среды мощных СО-лазеров. Эти лазеры обладают целым рядом уникальных свойств, выделяющих их среди других мощных лазеров. В частности они имеют максимальный для газовых лазеров электрооптический КПД. Теоретический КПД превышает 90%, причем его отклонение от 100% обусловлено превращением в тепло небольшой доли энергии (связанной с ангармонизмом) при столкновениях в процессе колебательного обмена. Экспериментально реализованы рекордные значения КПД ~ 60% в импульсном режиме и ~ 50% в непрерывном режиме). По мощности он сравним с СОг-лазерами, но по КПД и удельному энергосъему существенно их превосходит.

Хотя впервые генерация на молекулах СО была получена почти в то же время, что и на молекулах СО2, развитие работ по его исследованию началось не сразу, т.к. первоначально СО-лазер не привлек внимания исследователей, в отличие от СОг-лазера, который сразу стал объектом пристального интереса не только ученых, но и технологов. Отсутствие интереса к СО-лазеру было в первую очередь связано с непониманием механизма создания инверсии в его активной среде, следствием чего был низкий уровень мощности лазера в первых

экспериментах, т.к. они проводились в условиях, далеких от оптимальных. Интерес к СО-лазеру резко возрос после появления в 1968 г. сообщения группы Р.М.Осгуда о получении в лаборатории фирмы Air Force Avionics непрерывной генерации на СО мощностью 20 Вт при КПД 6,5%. Группе Осгуда удалось впервые показать, что СО -лазер может иметь КПД и мощность по величине сравнимые с теми, которые получают в СОг-лазера.

Возросший после работ Осгуда интерес к СО-лазерам способствовал появлению многочисленных работ, посвященных исследованию механизма создания инверсии и свойств активной среды СО-лазера. В результате было выяснено, что этот лазер имеет особый механизм образования инверсной населенности, суть которого состоит в том, что схема генерации является существенно многоуровневой и генерация может осуществляться на многих десятках колебательно-вращательных переходах В этом отношении лазерная схема молекулы СО кардинально отличается от схем лазеров на атомных и ионных переходах, электронных переходах молекул и колебательных переходах молекул СОг и N2O.

Вследствие ангармоничности колебательных уровней молекулы СО, процессы колебательно-колебательного (W) обмена могут приводить к установлению распределения молекул по колебательным уровням, существенно отличного от больцмановского. Это отличие от больцмановского распределения будет тем больше, чем больше разрыв между температурой газа Tg и колебательной температурой первого колебательного уровня СО Ti ( Ti = Ei/ln(No/Ni), где Ei - величина первого колебательного кванта, No и N| ■ заселенности нулевого и первого колебательных уровней молекулы СО). При достаточно большом различии величин Tg и Т| функция распределения молекул по колебательным уровням для v > EiTg/2AE T| (ДЕ - ангармоничность молекулы)

имеет вид характерного плато, на котором заселенности уровней меняются очень слабо, ~ 1/(у+1). Такой вид колебательной функции распределения молекул приводит к особому механизму генерации в СО-лазере. Лазерный переход может осуществляться между любой парой соседних колебательных уровней в районе плато, (причем, как правило, на Р-ветви) при этом нижний лазерный уровень для одного перехода может быть верхним лазерным уровнем для последующего перехода. Молекула на самом нижнем лазерцом уровне может снова возбуждаться за счет УУ-обмена.

Молекулу СО отличают низкие константы скоростей колебательно-поступательной (УТ) релаксации на компонентах рабочей лазерной смеси газов и высокие скорости УУ-процессов, заселяющих колебательные уровни. Суммарная концентрация молекул на высоких (у> 10) колебательных уровнях может составлять проценты от концентрации СО. При этом в генерации могут участвовать десятки колебательно-вращательных уровней.

Важной особенностью СО-лазера является широкий спектральный диапазон его излучения. При генерации на основных переходах (у—>у-1) полученные в экспериментах линии излучения лазера лежат в диапазоне от 4.63 мкм до 8.23 мкм. Важное практическое значение имеет тот факт, что многие длины волн генерации СО-лазера попадают в "окна прозрачности" атмосферы, поглощение в которых во много раз меньше, чем для излучения СОг-лазеров. По сравнению, с последними СО-лазеры имеют в два раза меньшую предельную угловую расходимость, большую лучевую и механическую прочность оптических материалов, прозрачных в диапазоне длин волн генерации.

Лазеры на окиси углерода обеспечивают высокую мощность излучения в той части спектрального диапазона, где расположены характеристические частоты и полосы поглощения многих веществ (в том числе и многих

технических материалов). Актуальность исследований физико-химических процессов в активной среде этих лазеров и оптимизация их работы для практики несомненна, т.к. использование мощных СО-лазеров возможно для целого ряда высокотехнологических процессов.

Независимо от перспектив использования высоких энергетических возможностей СО-лазеров и оптимизации параметров мощных лазерных установок, а также разработки на его основе источников среднего ИК-излучения для различных практических применений, активная среда этих лазеров представляет большой интерес для важных фундаментальных исследований. Она является уникальным физическим объектом, позволяющим создавать существенно неравновесные условия, отличающиеся высокими концентрациями колебательно-возбужденных молекул на высоких колебательных

уровнях. Присутствие больших концентраций колебательно-возбужденных молекул в плазме газового разряда способно оказывать значительное влияние на электронную и молекулярную кинетику, плазмохимию и другие физико-химические процессы, что, в конечном счете, может существенно менять и параметры такой плазмы, что важно учитывать в различных ее приложениях.

Параметры активной среды лазеров на окиси углерода могут изменяться в довольно широких пределах. Как известно, СО-лазеры отличаются разнообразием модификаций. В зависимости от способов создания активной среды можно указать следующие типы СО-лазеров: электроразрядные, газодинамические, химические, лазеры с ядерной накачкой, электроионизационные, лазеры с комбинированной накачкой.

Самыми распространенными и наиболее изученными являются электроразрядные СО-лазеры. Их можно разделить на четыре основных вида -проточные лазеры с криогенным охлаждением активной среды, проточные

лазеры, работающие при комнатной температуре, лазеры, работающие без прокачки газовой смеси через зону разряда ("отпаянные лазеры"), и лазеры, работающие в режиме замкнутого контура. Несмотря на общую для всех типов схему установления инверсной населенности, каждый из этих лазеров обладает рядом особенностей, связанных с различием многих физико-химических процессов в их активной среде, что приводит к тому, что оптимальные условия их работы (в частности, параметры активной среды и состав смеср рабочих газов) существенно отличаются.

Несмотря на существование большого количества работ, посвященных электроразрядным СО-лазерам, ряд важных аспектов, связанных с процессами в плазме его активной среды, к началу наших исследований оставались малоизученными. В частности, имелась существенная проблема, состоявшая в следующем.

Как отмечалось выше, важной особенностью молекулы СО, позволяющей запасать большое количество энергии в колебательной степени свободы и обеспечивать высокие энергетические параметры СО-лазеров, является тот факт, что она имеет очень низкие константы УТ-релаксации на компонентах смеси рабочих газов (Не, СО, N2 - кНе ~ Ю"17 см3/с, ксо~ 10"19см3/с, ~ 10~16 см3/с). Однако это достоинство молекулы СО, как оказалось, существенным образом осложняет работу с этим лазером как экспериментаторам, так и теоретикам. В экспериментах было замечено, что энергетические характеристики СО-лазеров очень чувствительны к присутствию в рабочей смеси любых технологических примесей. Только тщательная очистка газов рабочей смеси позволяет получить высокие мощности и КПД генерации. Как оказалось, константы скоростей УТ-релаксации СО на примесях могут на много порядков превышать константы скоростей релаксации на компонентах рабочих смесей. Этим активная среда СО-

лазера сильно отличается от активной среды СО2 лазера, у которого скорости колебательной релаксации молекул СО2 на компонентах исходной смеси значительно выше (~ 10"12 - 10~14 см3/с), поэтому влияние различных примесей на заселенности колебательных уровней СО2 проявляется при значительно более высоких концентрациях этих продуктов.

Если влияние технологических примесей на релаксацию колебательно-возбужденных молекул СО можно исключить очисткой газа, то исключить или хотя бы уменьшить влияние продуктов плазмохимических реакций, появляющихся в активной среде лазера в процессе горения разряда, крайне сложно.

Известно, что молекулы окиси углерода эффективно диссоциируют в плазме газового разряда, и степень диссоциации при этом может достигать десятка процентов даже в быстропроточных системах. Хотя молекула окиси углерода имеет очень большую энергию диссоциации (>11 эВ), она может весьма эффективно распадаться в разряде, даже если энергия электронов плазмы не очень велика. Это объясняется тем, что в плазме газового разряда имеется еще один эффективный канал распада молекулы СО - столкновение метастабильной молекулы СО(а3П) (Е = 6 эВ) со своей невозбужденной молекулой СО(Х'£). В условиях, характерных для активных сред СО-лазеров, этот процесс может значительно ускорять общую скорость диссоциации молекулы СО в газовом разряде.

При включении разряда в рабочей смеси лазера процессы диссоциации молекул окиси углерода в плазме приводят к появлению в активной среде атомов кислорода и углерода, а также молекул СО2. Последующее взаимодействие молекул СО и продуктов диссоциации ведет к образованию в разряде молекул С2

и С2О, а затем и более сложных молекул Сп, СпОт В случае, если в смеси присутствует азот, появляются также молекулы СЫ и N0.

В связи с появлением в разряде плазмохимических продуктов, корректный расчет заселенностей колебательных уровней молекулы окиси углерода в активной среде СО-лазера невозможен без данных о реальном составе смеси, который устанавливается в процессе горения разряда, и о константах скоростей колебательной релаксации СО на продуктах плазмохимии.

На необходимость учета в теоретической модели СО-дазера изменения состава рабочей смеси в процессе горения разряда давно указывали различные факты несоответствия данных эксперимента и предсказаний теории. В частности, расчеты энергетических параметров электроразрядных СО-лазеров давали более оптимистические результаты, чем наблюдалось в экспериментах. Также теория не могла объяснить, почему небольшие добавки кислорода в смесь 0.1%) приводили к резкому увеличению мощности и КПД лазера. В расчетах такие небольшие добавки кислорода никак не влияли на результаты - ни на вид функции распределения электронов по энергиям, ни на колебательную кинетику в активной среде. Хотя в литературе неоднократно делались попытки объяснить этот эффект, ни одна из существовавших гипотез не могла достаточно полно объяснить результаты экспериментов.

Для того, чтобы найти подходы к решению данной задачи, в первую очередь необходимо определить состав продуктов плазмохимии, появляющихся в активной среде, и зависимость их концентраций от условий эксперимента, а также определить степень влияния того или иного продукта на заселенности колебательных уровней молекулы СО(Х Е, v) .

К началу данной работы вопрос о влиянии продуктов плазмохимии на колебательную релаксацию молекул СО(Х'Е) оставался открытым. Это было

связано с отсутствием достаточной информации о концентрациях продуктов плазмохимических реакций в разряде лазера и о константах скоростей процессов с их участием. Работы, посвященные измерению концентраций этих продуктов в разряде в смесях, содержащих СО, были немногочисленны. В связи с этим большой интерес представляло получение любых данных о составе продуктов плазмохимических реакций в активной среде СО-лазера и зависимости этого состава от условий эксперимента, а также о влиянии продуктов, возникающих в разряде, на заселенности колебательных уровней молекул окиси углерода.

Также требовалось создание надежной базы количественных данных о зависимостях параметров активной среды и генерационных характеристик лазера от условий эксперимента в широком диапазоне экспериментальных условий. Для СО-лазера ключевым моментом является формирование в активной среде функции распределения молекул СО по колебательным уровням, которая в значительной степени определяет энергетические характеристики лазера. Правильность предсказания вида этой функции распределения является важным показателем адекватности используемой теоретической модели.

К началу наших исследований в литературе было мало работ, где бы содержалась информация о заселенностях колебательных уровней в активной среде и их зависимости от экспериментальных условий. Особенно это касалось лазеров, работающих при комнатной температуре (проточных и отпаянных), в которых измерять заселенности высоких колебательных уровней СО было значительно сложнее в связи с тем, что в этих условиях они существенно ниже, чем в случае криогенного охлаждения. Поэтому не было возможности подробно проанализировалось соответствие эксперимента и теоретической модели для условий СО - лазера, работающего при комнатной температуре. Между тем этот анализ представлял большой интерес в связи с возможным влиянием продуктов

плазмохимии на заселенности колебательных уровней - в условиях работы лазера при комнатной температуре концентрация этих продуктов должна быть существенно выше, чем при криогенном охлаждении, где они могут вымораживаться на охлаждаемой стенке.

Для разрешения указанных выше проблем в первую очередь необходимо

было

- детально исследовать функцию распределения молекул СО(Х'2, у) по колебательным уровням в условиях, характерных для активных среды электроразрядных СО-лазеров, и проследить ее зависимость от условий эксперимента, в частности, от состава рабочей газовой смеси, а также провести сравнение данных эксперимента с результатами расчетов;

- определить состав продуктов плазмохимии, появляющихся в активной среде, и зависимость их концентраций от условий эксперимента, а также определить степень влияния того или иного продукта на заселенности колебательных уровней молекулы СО(Х*Е, у);

- провести сравнение экспериментальных данных по параметрам активной среды и генерационным характеристикам электроразрядных СО-лазеров с расчетными и проанализировать степень их соответствия и зависимость этого соответствия от условий эксперимента.

В связи с этим целью настоящей диссертационной работы явилось исследование плазмохимических процессов в активной среде электоразрядных СО-лазеров и влияния продуктов плазмохимии на колебательную кинетику молекул окиси углерода в широком диапазоне экспериментальных условий.

Для проведения данных исследований были созданы две экспериментальные установки, на основе которых была реализована работа электроразрядного СО-лазера в различных режимах работы:

- с криогенным охлаждением в проточном режиме в широком диапазоне скоростей прокачки (у~1-30 м/с),

- в проточном режиме при комнатной температуре (V ~ 1-10 м/с),

- без прокачки рабочей смеси через зону разряда (отпаянный режим).

Проведенная в работе диагностика активной среды позволила в широком диапазоне экспериментальных условий получить данные о вращательной и колебательной температуре молекул, заселенностям колебательных уровней молекул СО как при генерации лазера, так и в ее отсутствии, радиальном распределении газовой и колебательной температур, коэффициенте усиления слабого сигнала, КПД и мощности генерации лазера, спектре генерации и спектре спонтанного излучения активной среды. Также были проведены измерения концентраций продуктов плазмохимических реакций (СОг, С, О, Сг, С3О2, СИ) в плазме газового разряда и анализ твердых продуктов, образующихся в разрядной трубке в процессе горения разряда. В широком диапазоне экспериментальных условий проведено сравнение данных эксперимента с теорией.

При выполнении данных работ использовались методы оптической спектроскопии: по излучению молекул в разряде определялись вращательные и колебательные температуры, функция распределения молекул СО по колебательным уровням, концентрации атомов и молекул в электронно-возбужденных состояниях, концентрации атомов С и О в основном электронном состоянии; по поглощению определялись концентрации молекул С1Ч(Х). Для исследования динамики состава исследуемой газоразрядной плазмы использовался масс-спектрометрический метод. Для анализа твердых продуктов, образующихся в отпаянном разряде лазера в процессе длительной работы, использовался сканирующий электронный микроскоп. С помощью

энергодисперсионного рентгеновского микроанализа определялся состав полимерной пленки, образующейся на стенке разрядной трубки.

Эксперименты проводились в условиях, характерных для активной среды проточных и отпаянных СО-лазеров. Ток разряда мог меняться в диапазоне 10100 мА, давление газа в разрядной трубке - в диапазоне 2-20 Тор. Использовались газовые смеси, содержащие Не, СО, N2, О2, Хе. Температура газа на оси разрядной трубки и ее радиальный профиль определялись спектроскопически из анализа вращательной структуры полос системы Ангстрема молекулы СО. Величина электрического поля в разряде находилась из измерений падения напряжения на разрядном промежутке и величины приэлектродных падений. Приэлектродные падения напряжения определялись из измерений напряжения при различной длине зоны разряда. Колебательное распределение молекул СО в основном электронном состоянии (Х'Е) определялось по спектрам ИК излучения молекул на основном переходе (у —» у-1), а также на первом (переходы у —> у-2) и втором (переходы у у-З) обертонах.

Диссертация состоит из пяти глав, введения и заключения. Первая и вторая главы посвящены исследованию параметров активных сред и генерационных характеристик электроразрядных СО-лазеров, в третьей, четвертой и пятой главах приведены результаты исследований процессов с участием продуктов плазмохимии, возникающих в активной среде СО-лазеров в процессе горения разряда.

Первая глава посвящена исследованию процессов в активной среде проточного электроразрядного СО-лазера с криогенным охлаждением.

Исследования, результаты которых приведены в данной главе, были направлены на изучение зависимости от экспериментальных условий таких важных параметров активной среды, как газовая температура, заселенности

колебательных уровней, а также генерационных характеристик электроразрядных СО-лазеров с криогенным охлаждением, и сравнение экспериментальных результатов с расчетами в широком диапазоне параметров. Особое внимание уделялось исследованию влияния кислорода на параметры активной среды.

Были исследованы зависимости от условий эксперимента газовой температуры, заселенностей колебательных уровней молекулы СО (до у~30), колебательных температур молекул СО и N2, радиальных распределений газовой и колебательных температур, мощности и КПД генерации, коэффициента усиления слабого сигнала, спектра генерации. По всем исследованным характеристикам проведено сравнение экспериментальных данных с результатами расчетов (численных и аналитических). Показано, что экспериментальные и расчетные результаты хорошо совпадают по всем перечисленным параметрам при условии, что в эксперименте используются смеси, содержащие небольшое количество кислорода (0.1-0.5%). При использовании в эксперименте бескислородных смесей измеренные заселенности колебательных уровней молекулы СО оказываются значительно ниже тех, которые предсказывает теория.

На основании проведенных исследований сделан вывод о причине несоответствия теории и эксперимента в бескислородных смесях. Для правильного описания процессов в активной среде СО-лазеров необходимо учитывать релаксацию колебательно-возбужденных молекул СО на продуктах плазмохимических реакций, образующихся в разряде. Добавление кислорода в рабочую смесь заметно уменьшает концентрацию этих частиц, в результате чего процессы релаксации на них молекул СО (у) становятся несущественными и не учет их в теоретической модели может быть оправдан.

Рассмотрены процессы, определяющие концентрацию электронов в плазме несамостоятельного разряда для условий, характерных для электроионизпционного СО-лазера со сверхзвуковым охлаждением, стабилизированного электронным пучком. Сделан вывод о том, что добавление кислорода в рабочую газовую смесь Аг - СО может приводить к заметному увеличению концентрации заряженных частиц в разряде и, как следствие, к увеличению энерговклада в активную среду. В этом случае механизм влияния кислорода на характеристики разряда основан на смене доминирующего иона (СО)2+ на 02+.

Во второй главе представлены результаты исследования процессов в активной среде электроразрядных СО-лазерах, работающих при комнатной температуре - проточном и отпаянном (работающем без прокачки газовой смеси через зону разряда).

В широком диапазоне экспериментальных условий проведены исследования зависимости заселенностей колебательных уровней молекулы СО и генерационных характеристик активной среды проточного СО-лазера, работающего при комнатной температуре, и отпаянного СО-лазера от условий эксперимента (ток, давление, состав рабочей газовой смеси).

Проведены сравнения данных эксперимента и результатов численных и аналитических расчетов по большому числу параметров (заселенности колебательных уровней в условиях без генерации и при генерации, КПД генерации, мощность и спектральный состав генерации). В отличие от рассмотренного в Гл.1 случая лазера с криогенным охлаждением, для СО-лазера, работающего при комнатной температуре, наблюдаются заметные различия результатов эксперимента и теории не только при работе со смесями Не - СО, но и при использовании кислородсодержащих смесей.

Показано, что хорошее согласие данных теории и эксперимента по всем исследованным параметрам наблюдается при работе лазера на смесях, содержащих ксенон - Не - СО - Хе при [Хе] ~ 100-300%[ТО].

Впервые измерены функции распределения молекул СО по колебательным уровням, как в режиме усиления, так и в режиме генерации отпаянного СО-лазера и изучено влияние на них экспериментальных условий, а также исследована их динамика при длительном горении разряда.

На основе результатов первой и второй глав обоснована необходимость экспериментального исследования плазмохимических процессов в активной среде СО-лазера и влияния продуктов плазмохимии на концентрации колебательно-возбужденных молекул СО.

Третья глава посвящена исследованию влияние ксенона на плазмохимические процессы в активной среде электроразрядного СО-лазера.

В ряде работ было обнаружено, что добавление ксенона в смеси Не - СО, Не - СО - N2 сопровождается заметным уменьшением концентрации молекул СО2, образующихся в разряде в процессе плазмохимических реакций и высказывались предположения, что именно снижение концентрации двуокиси углерода в плазме разряда лазера и последующее уменьшение релаксации на нем колебательно-возбужденных молекул СО являются основной причиной улучшения энергетических характеристик отпаянного лазера при добавлении в рабочую смесь ксенона. Несмотря на то, что этот эффект известен давно, к началу данной работы не проводилось специальных исследований его причин. Обычно предполагалось, что наблюдаемое падение концентрации молекул СО2 вызвано уменьшением величины Е/Ы в плазме газового разряда при добавлении в смесь ксенона.

Проведенные нами исследования позволили установить, что в смесях, содержащих ксенон, появляется дополнительный механизм диссоциации молекул СО2 и О2, который в условиях, характерных для работы электроразрядного СО-лазера, может являться доминирующим процессом диссоциации этих молекул в плазме газового разряда.

В главе представлены результаты исследований процессов, влияющих на концентрацию молекул СО2 в плазме газового разряда в смесях с ксеноном и без него, и предложена схема процессов, позволяющая моделировать зависимость концентрации СО2 от условий эксперимента. Измеренные в эксперименте концентрации молекул сравнивались с расчетными.

Список литературы диссертационного исследования кандидат наук Григорьян, Галина Михайловна, 2013 год

Литература

1. Osgood R.M., Espers W.C., Appl.Phys.Lett., 1968, v.13, p.409

2. Mann M.M., AIAA Journal, 1976, v.14, p.549

3. Shimizu K., Taniwaki M., Sato S., Kumagai M., et al., Proc.SPIE, 2000, v.3859, p,0277

4. Dymshits B.M., Alexandrov B.S., Belavin V.A., Koretsky J.P., Chem.Prod.and Technol., 2002, v.4, p.9

5. Бородин A.M., Гурашвили B.A., Кузьмин В.Н., Курносов А.К., и др., Квант.электр., 1996, т.23, с.315

6. Ionin A.A. in " Gas Lasers", ed. By M.Endo and R.F.Walter, CRC Press, Tailor&Francis Group, Boca Raton, 2007

7. Григорьян Г.М., Дымшиц Б.M., Изюмов C.B.,. Квант.электр., 1987, т. 14, с.2175

8. Taieb G., Legay F., Can.J.Phys., 1970, v.42, p.1965

9. Трубачеев Э, А., Труды ФИАН, 1977, т. 102, с.З

10. Bhaumic M.L., bacina W.B., Mann M., IEEE J.Quant.Electr., 1972, v.8, p. 150

11. Микаберидзе A.A., Очкин B.A., Соболев H.H., ЖТФ, 1977, т.42, с. 1464

12. Murray G.A., Smith A.L .S., J.Phys.D., 1981, v.14, p.1745

13. Keren H.E., Avivi P., Phys.Rew., 1977, v. 16, p.l 186

14 .Keren H. E., Avivi P., Dothan F., IEEE J.Quant.Electr., 1975, v.l 1, p.590 15. Morgan W.E., Fisher E.R., Phys.Rew., 1977, v. 16, p.l 186

16 . Конев Ю.Б., Кочетов И.В., Марченко B.C. и др. Препринт ИАЭ, N 2810, 1977 17.. Brechignac P., Martin J.P., Taieb G., IEEE J.Quant.Electr., 1974, v.10, p.797

18. Микаберидзе A.A., Очкин В.А., Соболев H.H., Препринт ФИАН, т.54, 1977

19. Конев Ю.Б., Кочетов И.В., Курносов А.К., Препринт ИАЭ-3829, Москва, 1983

20. Treanor С.Е., Rich J.W., Rehm R.G., J.Cnem,.Phys, 1968, v.48, p. 1798

21. Brau G.A., Caledonia G.E., Center R.E., J.Chem.Phys., 1970,v.52, p.4306

22. Rich J.W., J.Appl.Phys., 1971, v.42, p.2719

23. Lacina W.B.: Kinetic model and theoretical calculations for steady state analysis of electrically excited СО-laser amplifier system. Final report: NCL 71-32R, U.S. Navy, Aug. 1971

24.. Center R.E., Caledonia G.E., Appl.Phys.Lett.,1971, v.19, p.211

25. Nighan W.L., Appl.Phys.Lett., 1972, v.20, p.96

26. Sidney В., Melville R.M., Hassan H.A., AIAA Paper N.75-850, 1975

27. Sidney В., Melville R.M., Smith N.S., Hassan H.A., Theory of low transitions in CO discharge lasers, Report NASA TN D-8181, NASA Langley Research Center Hampton, 1976

28. Smith N.S., Hassan H.A., IEEE, J.Quant.Electr., 1977, v.QE-9, p.126

29. Stanton A.C., Hanson R.K., Mitchner M., IEEE, Chem.Phys., 1977, v.23, p.26

30. Басов Н.Г., Долинина В.И., Ковш И.В., Пятахин М.В., Урин В.М., Препринт ФИАН 183, 1984

31. Smith N.S., Hassan Н.А., AIAA Journal, v.14, 374,1976, J.Appl.Phys., 1980, v.51, p.1360

32. Rockwood S.D., Bray V.E., Proctor W.A., IEEE, J.Quant.Electr., 1977, QE-9, p.126

33. Конев Ю. Б., Кочетов И. В., Певгов В. Г., ЖТФ, 1978, т.48, №5, с.977

34. Демьянов А. В., Жданок С. А., Кочетов И. В., Напартович А. П., и др. ПМТФ, 1981, №3, с.5

35. Бердышев А. В., Кочетов И. В., Напартович А. П., Химическая физика, 1988, т.7, №4, с.470

36. Конев Ю. Б., Кочетов И. В., Курносое А. К., Мирзакаримов Б. А., Квантовая электроника, 1994, т.21, с. 133

37. Ионин А.Н.. Климачев А., Котков А.. Курносов А.К.. Напартович А.П. и др. Препринт ФИАН, т.11, 1998

38. Кочетов И.В., Курносов А.К., Напартович А.П., Шнырев C.JL, Физика Плазмы, 2002, т.28, с. 1041

39. Ионин А.Н., Климачев А., Котков А.. Курносов А.К.. Напартович А.П. и др., Квантовая электроника, 2000, т.30, с.573

40. Кочетов И.В., Напартович А.П., Старостин С.А.. Квантовая электроника, 2003, т.ЗЗ, с.856

41. Александров Н.Л.. Кочетов И.В., 1987, ТВТ, т.25, с.1062

42. Кочетов И. В., Певгов В. Г., Полак Л. С., Словецкий Д. И.// Плазмохимические Процессы 1979. М: ИНХС АН СССР, с. 28

43. Schulz G.J. In:" Electron Molecule Scattering", Ed. By S.C.Brown (Wiley, New York, 1979)

44. Haddad G.N., Milloy H.B., Austral.J,Phys., 1983, v.36, p.473.

45. Sharma R.D., Brau C.A., J.Chem.Phys., 1969, v.50, p.924

46. Lacina W.B., Mann M.M., McAllister G.H., IEEE Journal Quant.Electr., 1973, v.9, p.588

47. Биллинг Г.Д. В кн.:Неравновесная колебательная кинетика. Под ред. Б.Ф.Гордийца и В.Д.Русанова (М.: Мир, 1990)

48. Cacciatore М., Kurnosov A., Napartovich A., Shnyrev S., J,Phys.B:At.Mol.Opt.Phys., 2004, v.37, р.3379

49. Patel С.К., Phys.Rev., 1969, v.136A, p.l 187

50. Гордиец Б.Ф., Осипов А.И., Шелепин Л.А., ЖЭТФ, 1971, т.61, с.562

51. Мамедов Ш.С. Труды ФИАН, т. 107, с.З, 1979

52. Напартович А.П., Новобранцев И.В., Старостин А.Н.. Квант.Электр., 1977, т.4, с.2125

53. Гордиец Б.Ф., Осипов А.И., Шелепин Л.А..,УФН, 1972, т.108, с.655

54. Гордиец Б.Ф., Мамедов Ш.С., ЖТФ, 1977, т.47, с.831

55. Keck J., Carrier G., J.Chem.Phys., 1965, v.43, p.2284

56. Григорьян Г.М., Дымшиц Б.М., Ионих Ю.З., Квант.электр., 1990, т. 17, с.669

57. Григорьян Г.М., Дымшиц Б.М., Ионих Ю.З., Оптщса и спектр., 1988, т.4, с.686

58. Григорьян Г.М., Ионих Ю.З, ТВТ, 1989, т.21, с.8^8

59. Григорьян Г.М., Дымшиц Б.М., Ионих Ю.З., Кв.электр. 1989. т.16, с.1377

60. Grigoryan G. M, Ionikh Y. Z, Kochetov I. V, Pevgov V. G. J.Phys.D: Appl. Phys, 1992, v. 25, p. 1064

61. Grigorian G.M., Kochetov I.V., Kurmosov A.K., J,Phys.D., 2010, v.305, c.798

62. Губанов A.M., ЖПС, 1970, т. 12, с.794

63. Golubovsky Yu.B., Teleschko V.M., Proc.XV Int.Conf..Phen. Ion.Gas.,Minsk, 1981, p.1710

64. Horn K.P., Oettinger P.B., J.Chem.Phys., 1971, v.54, p.3040

65. Young S.J., Horn K.P. J.Chem.Phys., 1972, v.57, p.4835

66. Yong S.J., J.Chem.Phys., 1973, v.58, p. 1603

67. Tears J.D., Taylor R.L., Rosenberg S.W., Nature, 1970, v.225, p.240

68. Новгородов M.3., Очкин B.H., Соболев H.H., ЖТФ, 1970, т.40, с. 1268

69. Гагарин С.Г., Полак Л.С., Словецкий Д.И., В кн.: IV Всес.конф.по физике и генераторам низкотемпературной плазмы. 1970. Тез.докл., Алма-Ата: Изд-во АН Каз. ССР, 1977, с.ЗЗ

70. Запесочный И.П., Скубенич В.В., Оптика и спектр., 1966, т.21, с.140

71. Мнацаканян А.Х., Подлубный Л.И., ЖТФ, 1971, т.41, с.2121

72. Гордиец Б.Ф., Осипов А.И., Шелепин Л.А., Кинетические процессы в газах и молекулярные лазеры. М.:, Наука, 1980, 312 с

73. Очкин В.Н., Савинов С.Ю., Соболев H.H., Тр.ФИАН, 1985, т.157, с.6.

74. Очкин В.Н., Савинов С.Ю., Удалов Ю.Б., Препринт ФИАН, 1977, т.36, с. 12

75. Демьянов А.В., Жданок С.А., Кочетов И.В., ПМТФ, 1981, т.З, с.5

76. Ионин А.А., Казакевич B.C., Ковш И.Б., Препринт ФИАН, 1982, т.232, с. 15

77. Fisher Е. R, Lightman A. J., J. Appl. Phys., 1978, v. 49, p. 530

78. De Benedictis S, Cramarossa F, d'Agostino R., J.Phys.D., 1985, v. 18, p. 413

79. Fisher E. R, Lightman A. J., J. Appl. Phys., 1978, v.49, p.971

80. Ионин A.A., Климачев Ю.М., Козлов А.Ю., Котков А.А., Курносов А.К., Напартович А.П., С. JI. Шнырев СЛ., Квантовая электроника, 2008, т. 38, с.833

81. Григорьян Г.М., Ионих Ю.З., 1990, ТВТД990, т. 28, с. 1080

82. Григорьян Г.М., Ионих Ю.З., Кв.электр., 1991, т. 18, N1, с.29

83. Григорьян Г.М., Ионих Ю.З., 1997, ТВТ, т. 35, с.702

84. Баиадзе К.В., Вецко В.М., Лопанцева Г.Б., Напартович А.П., и др. Физ.Плазмы, 1985, т.11, Вып.З, с.355

85. Nighan W.L. Phys.Rew., 1977, v. 18, p. 1209

86. Бородин A.M., Высикайло A,B„ Гурашвили B.A. и др. Препринт ИАЭ N 4706/10, М., 1989.

87. Kretschmen С.В., Petterson Н., J.Appl.Phys., 1963, v.34, р.3209

88. Smith D., Cromey P., J.Phys.B., 1968, v.l, p.636

89. Gaur J.P., Chain L.,M., Phys.Rew., 1969, v.182, p.167

90. Cronin J.C., Sexton M.C., J.Appl.Phys., 1967, v.l , p.889

91. Бродский В.Б., Колоколов Н.Б., ЖТФ, 1970, т.40, с.498

92. Brattacharya А.К., J.Appl.Phys., 1970, v.41, p. 1707

93. Rakshit A.B., Warneck P., J.Chem.Phys., 1980, v.23, p.2678

94. Liu W.F., Conway D.C., J.Chem.Phys., 1975, v.62, p.3070

95. Gilkinson J., Held H., Chanin L., J.Appl.Phys., 1989, v.40, p.2350

96. Fehsenfeld F.C., Ferguson E.E., Scheltekopf A.L., J.Chem.Phys., 1966, v.45, p.404

97. Warneck P., J.Chem.Phys., 1967, v.46, p.513

98. Hyatt D., Knewstobb P.E., Chem.Soc.Farad.Soc., 1972, v.269, p.202

99. Laudenslagens J.B., Huntress W.T., Bowers M.T., J.Chem.Phys., 1974, v.61, p.4600

100. Dotan L., Lindinger W., J.Chem.Phys., 1982, v.76, p.4972

|01. Ribrion C., Rowe B.R., Marquette J.B., J.Chem.Phys., }989, v.91, p.6142

102. Meot-Ner M., Field F.H., J.Chem.Phys., 1974, v.61, p.3742

103. Schummers J.H., Thomson G.M., James D.R., Phys.Rew., 1973, v.7, p.689

104. Van Koppen P.A., Derai R., Int.J.Mass Spectr.Ion.Proc., 1986, v.73, p.765

105. Sieck L.W., Görden R., J.Nat.Bur.Stand., 1974, v.78A, p.876

106. Chong S.L., Franklin J.L., J.Chem.Phys., 1971, v.54, p.1487

107. Horton R.L., Franklin J.L., Mazzeo B., J.Chem.Phys., 1975, v.62, p.1739

108. Collins C.B., Lee F.W., J.Chem.Phys., 1979, v.71, p.184

109. Raksit A.B., Int.J.Mass Spectr.Ion Proc., 1985, v.66, p.109

110. Böhme D.K., Adams N.B., Mosesman M. et al., J.Chem.Phys., 1970, v.52, p.5094

111. Adams N.B., Böhm D.K., Dunkin D.B. et al., J.Chem.Phys., 1970, v.52, p.1981

112. Smith D., J.Phys. B., 1970, v.3, p.34

113. Collins C., Lee F., J.Chem.Phys., 1974, v.71, p.184

114. Keto J., Hart C. et al., J.Chem.Phys., 1981, v.74, p.4450

115. Adams D.K., Int.J.Mass Spectr.Ion Proc., 1978, v.26, p.405

116. McDanial Ion-Molecule reactions (NY, Wiley-Interscience, 1970)

117. Chung A.K., Peck M.S., Prelas M.A., Laser and Part.Beams, 1991, v.9, p.829

118. Ferguson E.E. Rev.Geophys.and Space Phys., 1974, v.12, p.703

119. Good A., Durden D.A., Kebarle P., J.Chem.Phys., 1970, v.52, p.222

120. Howard J.C., J.Chem.Phys., 1972, v.57, p.3491 121.. PayzantDJ., J.Chem.Phys., 1973, v.59, p.561.5 122. Böhme D.K., J.Chem.Phys., 1969, v.51, p.863

123. Plumb I.C., Smith D., Adams N.B., J.Phys.B, 1972, v.4, p. 1762

124. Shiu J.J., Biondi M.A., Phys.Rew., 1978, v.17, p.868

125. Mitchell J.B., Hus H.J., J.Phys.B, 1985, v.18, p.545

126. Whitaker M., Biondi M.A., Johnsen R., Phys.Rew., 1981, v.23, p.1481

127. Mehr F.J., Biondi M.A., Phys.Rew., 1969, v. 181, p.264

128. Mul P.M., McGowan J.W., J.Phys.B, 1979, v. 12, p. 159

129. DulaneyJ.L., Biondi M.A., Johnsen R., Phys.Rev., 1988, v.37, p.2539

130. Ng C.Y., Adv.Chem.Phys., 1983, v.52, p.263

131. Munson M.S., Field F.H., Franklin J.L., J.Chem.Phys., 1962, v.37, p. 1790

132. Елецкий A.B., Смирнов Б.М., УФН, 1982, т. 136, с.25

133. Parkes D.A., Trans.Farad.Soc., 1972, v.68, p.627

134.. Patterson J.R., Aberth W.H., Moseley J.T. et al., Phys.Rew., 1971, v.3, p.1651

135. Григорьян Г.М., Кочетов И.В., Кв.Электр., 2008, т.38, № 10, с.940

136. Григорьян Г.М. Сб. "Лазерные исследования в Санкт-Петербургском государственном университете", т. 5 , Санкт-Петербург, с.

137 . Baumik M.L., bacina W.B., Mann М.М., IEEE J. Quant.Electr., 1970, v.6, p.576

138. Baumik M.L., Appl.Phys.Lett., 1970, v.17, p.188

139. Brawn P. G., Smith A. L. S., J. Phys. E 1975, V. 8, p. 870

140. Дубровина И. Л., Очкин В. H., Соболев H. H., Квантовая электроника, 1975, т. 4, с. 1038

141. Лоткова Э. Н., Гончарова С. Г., Писаренко В. В., Квантовая электроника. 1974, т. 1,с. 542

142. Bhaumik M. L., High Power Lasers. N.-Y. 1975. P.230

143. Patel C.K.N., Appl.Phys.Lett., 1968, v.7, p.246

144. Legay-SommairN., Henry L., Legay F. C.R., Acad.Sc.Paris, 1965, v.2058, p.19

145. Mann M.M., Baumik M.L., Lacina W.B., Appl.Phys.Lett., 1970, v.16, p.430

146. Bhaumik M. L., Appl.Phys.Lett., 1970, v.17, p.l 18

147. Лоткова Э. H.,Островская Л.Ю., Соболев H.H., Квант.Эл., 1977, т.4, с. 1944 148..Алейников B.C., Масычев В.И., Лазеры на окиси углерода. - М.: Радио и связь, 1990

149. Лоткова Э. Н., Писаренко В. В.. Соболев H.H., ЖПС,1975, т.23, с.988

150. Лоткова Э. Н., Писаренко В. В., ЖПС, 1974, т.20, с.784

151. Лоткова Э.Н., Мерсер Дж.Н., Савченко В.Ф., Соболев H.H. Экспериментальное определение усиления и заселенности колебательных уровней в СО-лазре. Препринт ФИАН, т.151, 1972

152. Григорьян Г.М., Дятко H.A., Кочетов И.В., Физика плазмы. 2003, т.28, с.768 153 Григорьян Г.М, Сб."Лазерные исследования в Санкт-Петербургском государственном университете", т.З, Санкт-Петербург, 2004 г, с. 155

154. Григорьян Г.М Сб. Лазерные исследования в Санкт-Петербургском государственном университете, Санкт-Петербург, 2001 г, стр.46

155. Grigorian G.M., Cenian А., Chem.Phys.Let., 2009, v.469, р.247

156. Лоткова Э.Н., Писаренко В.В., Соболев H.H. Заселенности колебательных уровней в электроразрядном лазере на окиси углерода. Препринт ФИАН, №130, 1975

157. Лоткова Э.Н., Савченко В.Ф., Соболев H.H., Тертичко Р.П. Влияние кислорода и ксенона на характеристики активной среды СО-лазера. Препринт ФИАН, №67, 1976

158. D'Amico K.M., Smith A.S.L., J.Phys.D., 1977, v.lO, p.261

159. Лоткова Э. H., Писаренко В. В., ЖПС, 1975. т.23, с.988

160. Дубровский П.Е., Лоткова Э. Н., ЖТФ, 1977, т.З, с.540

161. Murray G.A., Smith A.L.S., J.Phys,D.,1978 v.l 1, p.2477

162. Arai T., Kikuchi M., Appl.Phys.Lett., 1984, v.45, p.362

163. UeharaM., KanazawaH., Appl.Phys., 1994, v.65,p.22

164. Микаберидзе А.А., Труды ФИАН, 1977, т. 102, c.58

165. a) McTaggart F.K., AustJ.Chem., 1964. v.17, p.l 182

6) McTaggart F.K., 1967 Plasma Cjemistry in Electrical Discharges (Amsterdam, Elseiver)

166. Словецкий Д. И. //.Химия плазмы/ Механизмы физико-химических процессов в тлеющем разряде в окиси углерода. М:, Атомиздат. 1984. вып. 11. с. 213.

167. Sato Sh., Shimizu К., Shimenoto К., Opt.Lett., 1994, v. 19, p.719

168. Clark P. O., Wada J., J. Quant. Electr., 1968, V. 4, p. 267

169. McArthur B. A.,Tulip J., Rev. Scient. Instr., 1980, V. 88, p. 722

170. Григорьян Г.М., Кочетов И.В., Сб. "Лазерные исследования в Санкт-Петербургском государственном университете", т.4 , Санкт-Петербург, 2006 г, с.5

171. Григорьян Г.М., Кочетов И.В , Физика Плазмы, 2006, т.32, с.273

172. Григорьян Г.М., Кочетов И.В Сб. "Лазерные исследования в Санкт-Петербургском государственном университете", т. 5 , Санкт-Петербург, с.

173. Соболев Н.Н., Соковиков В.В., Квант.Эл.,1972, т.4, с.З

174. Качева Т.Ф., Очкин В.Н., Соболев Н.Н.. Квант.Эл.. 1973, т.6, с.58

175. Алейников B.C., Масычев В.И., Квантовая электр., 1985, т.12, с.1940

176. Алейников B.C., Масычев В.И.,Квантовая электр., 1982, т.9, с. 1880

177. Алейников B.C., Масычев В.И.,. Квантовая электр., 1986, т.13, с.357

178. Алейников B.C., Масычев В.И., Квантовая электр., 1985, т.12, с.1933

179. Алейников B.C., Карпецкий В.В.. Масычев В.И., Электронная техника. Сер.Квантовая электроника, т.1. с.80. 1975

180. Freed С., Appl.Phys.Lett., 1971, v.18, р.458

181. Peters P.J.M., Witteman W.J., Zuidema R.J., Appl.Phys.Lett., 1980. v.37, p.l 19

182. Seguin H.J., Tulip J., White В., Can.J.Phys., 1971, v.49, p.2731

183. Peters P.J.M., Witteman W.J., Krzyzanowski Z., Opt.Comm., 1983, v.45, p.193

184. Pearson G.N., Hall D.R., J.Phys.D., 1989, v.22, p.l 102

185. Hocker G.B., IEEE, 1971, QE-7, p,575

186. Murray G.A., Smith A.L.S., J.Phys,D., 1981, v.14, p.1745

187. Murray G.A., Smith A.L.S., J.Phys,D., 1982. v.15, p.2125

188. Автономов В.П., Очкин В.П., Соболев H.H.. Троицкий Ю.В.. Удалов Ю.Б.. Квант.Электр., 1982, т.9, с. 1203

189 Ионих Ю.З., Куранов A.JL, Ермолов Ю.Н., Концентрация атомарного кислорода в разряде в смесях, содержащих окись углерода. //Тез. докл. VI Всес.конф. Физика Низкотемпературной Плазмы, 1983, т.1, с.86

190. Куранов А. JI., Исследование элементарных процессов в СО-содержащих смесях//Кандидатская диссертация. 1985. JI. ЛГУ

191. Gulcicek Е.Е., Doering J.P., J. Geoph. Res., 1987, v. 92, p. 3445

192. Gulcicek E E., Doering J.P., Vaughan S.O., J.Geoph.Res., 1988, v. 93, p. 5885

193. Дятко H. А., Кочетов И. В., Напартович А. П и др., ТВТ, 1984, т. 22, с. 1048

194. Pack J. L., Voshall R. Е., Phelps А. V., Юте L. Е., J. Appl. Phys., 1992, v. 71, р. 5363

195. Mityureva А. А., Smirnov V. V., J.Phys.B, 1994, v. 27, р. 1869

196. Баранов В. Ю., Борисов В. М., Высикайло Ф. И., и др. //Исследование характеристик разряда и генерации эксимерных лазеров. I. Баланс энергии и скорости возбуждения отдельных уровней с смесях F2-Xe-He./ Препринт ИАЭ-3080. М. 1979.

197. Land J. Е., J. Appl. Phys., 1978, v. 49, Р. 5716

198. Ehrhardt Н. Langhans L. Linder F., Taylor H. S., Phys. Rev., 1968, v. 173, c. 222

199. Александров H. Л., Кочетов И. В., Напартович А. П., ХВЭ, 1986, т. 20, с. 291

200. Александров Н. Д., Кончаков А. М., Сон Э. Е., ЖТФ, 1979, т. 49, с. 1200

201. Kovalev A.S., Lopaev D.V., Mankelevich Yu.A., J.Phys.D.: Appl.Phys., 2005, v.38, p.2360

202. Таблицы физических величин. Справочник под ред. Кикоина Н.К., М.: Атомиздат, 1975, С. 1006

203. Максимов А. И., Полак JI. С., Словецкий Д. И., Сергиенко А.Ф., ХВЭ, 1979, т. 13, с. 358

204. Иванов Е. Е., Ионих Ю. 3., Пенкин Н.П., Чернышева Н.В., Хим. физ., 1988, т. 7, с 1694

205. Stuhl F., Niki J„ J. Chem. Phys., 1971, v. 55, p. 3943

206. Slanger T.S., Black S., J. Chem. Phys., 1970, v. 53, p. 3722

207. Black J.L., Green H.I., Chem.Phys., 1978, v. 32, P. 675

208. Toby S., Int. J. Chem. Kinet., 1984, v. 16, p. 149

209. Словецкий Д. И. Механизмы химических реакций в низкотемпературной плазме/М.: 1980, С. 342

210. Григорьян Г. М. Тр. Всерос. Кон. по физ.низкотемп.плазмы. Петразаводск. 2001, с. 36

211. Hussain D., Young R. N., J. Chem. Soc. Farad. Trans. II., 1975, v. 71, p. 525

212. Martinotti F.F., Welch MJ, Wolf А. Р., Chem. Com., 1968, v. 3, p. 115

213. Braun W., Bas A.M., Davis D.D. et al. Proc. Roy. Soc., 1969, v. A312, p. 417

214. Becker K.H., Brochmann K.J., Wiesen Р., J. Chem. Soc. Farad. Trans II., 1988, v. 84, p. 455

215. Geppert W.D., Reigner D., Stoeckl T. et al., Phys. Chem.Chem. Phys, 2000, v. 2, p. 3873

216. Chastaing D., James P.L., Sims I.R., et al, Phys. Chem. Chem. Phys., 1999, v. 1, p. 2247

217. Иванов Е. Е., Ионих Ю. 3., Пенкин Н. П., Чернышева Н.В., Хим. Физика, 1989, т. 7, с. 1527

218. Ferguson Е., Adv.Chem., 1968, v.80, р.83

219. Григорьян Г. М., Ионих Ю. 3.,ХВЭ. 1989, т. 23, с. 548

220. Максимов А. И., Полак Л. С., Словецкий Д. И. и др., ХВЭ, 1973, т. 13, с. 358

221. Toby S., Int. J. Chem. Kinet., 1984, v. 16, p. 149

222. Slanger F., Black G., J. Chem. Phys., 1970, v. 53, p. 3722

223. De Benedictis S., Capitelli M., Gramarossa F. et al., Opt. Comm., 1983,v. 47, p. 107

224. De Benedictis S., Gorse C., Cachiatori M. et al., Chem. Phys. Lett, 1983, v. 96, p. 674

225. De Benedictis S., Gramarossa F., d'Agostino R . et al., J. Phys. D., 1985, v. 18, p. 413

225. Иванов E. E., Ионих Ю. 3., Пенкин H. П., Чернышева Н.В., Хим. Физика. 1989, т. 7, с. 1527

226. Polak L. S., Slovetsky D. I., Int. J. Radiat. Phys. and Chem., 1975, v. 8, p. 2577

227. Velzco J. E., Kolts J. H., Setser D. W., J. Chem. Phys., 1978, v. 69, p. 4357

228. Balamuta J, Golde.M. F., J. Chem. Phys., 1982, v. 79, p. 2430

229. Clark P. O., Wada J. J., J. Quant. Electr., 1968, v. 4, p. 267

230. McArthur B. A.,Tulip J., Rev. Scient. Instr., 1980, v. 88, p. 722

231. Stedman D., Setser D., J. Chem. Phys., 1970, v. 52, p. 3957

232. Tsuji M., Yamaguchi K., Nishimura Y., Chem. Phys., 1988, v. 125, P. 337

233. Grigorian G.M., Cenian A., Chem,Phys., 2009, v.359, p.31

234. Григорьян Г.М., Кочетов И.В., Физика Плазмы, 2004 т.30, с.766

235. Максимов А. И., Полак Л.С., и др., ХВЭ, 1979, т. 13, с. 134

236. Ионих Ю. 3., Косиокевич И. Н., Чернышева Н. В., Опт. спектр., 1993, т. 74, с. 768

237. Вайннггейн JI. А., Собельман И. И., Юков Е. А. Сечения возбуждения атомов и ионов электронами. / М.: Наука, 1973. с. 141

238. Tomas L. D., Nesbet R. К., Phys. Rev. A., 1975, v. 12, p. 2378

239. Ионих Ю. 3., Костюкевич И. H., Чернышева Н. В.,Опт. спектр., 1994, т. 76, с. 406

240. Hussain D., Kirsch L. J., Trans. Farad. Soc., 1971, v. 67, p. 2025

241. Goss F., Sadeghi K., Pebay-Peyroula J. C., Chem. Phys. Lett., 1972, v. 13, p. 557

242. Кондратьев В. H. Константы скоростей газофазных реакций. Справочник. / М.: Наука. 1971. с. 200.

243. McEnroy М. Е., McConnel N., J. Geophys. Res., 1971, v. 76, p.6667

244. BeckerK. N., Horie О. et al, Chem. Phys. Lett., 1982, v. 30, p. 64

245. Shechelforce F., Mastrup I. N., J. Chem. Phys., 1972, v. 57, p. 3733

246. Williamson D. O., Bayes K. D., J. Am. Chem. Soc., 1967, v. 89, p. 3390

247. Donnelly V., Pitts W., McDonald J., Chem.Phys., 1980, v. 49, p. 289

248. Tahara H., Minami K., Murai A., et al., Jap. J. Appl. Phys., 1995, v. 34, p. 1972

249. Reachlend G. K., J. Chem. Phys. 1984, v. 56, p. 745

250. Pasternack L., McDonald J., Chem.Phys., 1980, v. 47, p. 49

251. Mangir M.S., Reisler H., Wittig С., J. Chem. Phys., 1980, v. 73, p. 829

252. Кисилев В.Ф. Поверхностные явления в полупроводниках и диэлектриках. / М:. Наука 1970. с. 230.

253. Полак JI. С., Словецкий Д. И., Соколов А.Г. -: Неравновесная химическая кинетика и ее применения. / Н.: Наука, 1979, 326 с.

254. Алейников А. С., Масычев В. И, Квант, электр., 1987, т. 14, с. 1817

255. Виттеман В.Д., С02-лазер, 1990, Мир, 360с

256. Ионих Ю.З., Куранов А.Л., Ермолов Ю.А., VI Всесоюзн.конф. по физике низкотемп.плазмы. Ленинград, 1983, Тез.докл., т.7, с.83

257. Волченок В.И., Комаров В.Н., Егоров Н.П., Куприянов С.Е. и др., Препринт ФИАН, 778, Т.96, С.1

258. Максимов А.И., Полак Л.С. и др., Химия выс.энерг., 1979, т. 13, с. 165

259. Иванов Е. Е., Ионих Ю. 3., Пенкин Н.П. и др., Хим. физ., 1988, т. 7, с. 1694

260. Ионих Ю. 3., Костюкевич И. Н., Чернышева Н. В. ,Опт. спектр., 1994, т. 76, с. 406

261. Григорьян Г.М.. Кочетов И.В., Квант.электр., 2008, т.38б с.222

262. Caledonia G. В., Green B.D., Murphy R.E., J. Chem. Phys., 1979, v.71, p.4369

263. Wilson G. J., Turnidge M. L., Reid J. P., and Simpson C. J. S. M. ,J. Chem. Phys., 1995, v.102, p.192

264. Hancock G., Smith W. M., Appl. Opt., 1971, v. 10, p.1827

265. Кондратьев В. H., Никитин Е. Е. Кинетика и механизм газофазных реакций (М:, Наука, 1974, с. 558).

266. а) Григорьян Г. М., Иванова О. В., Ионих Ю. 3., Кочетов И.В. Сборник трудов. ISTAS-2005/ IV Международный симпозиум по теоретической и прикладной плазмохимии. Иваново. Ивановский государственный химико-технологический университет, 1, 103, (2005).

б) Grigorian G.M., Cenian A., Phys,Chem.Chem.Phys., 2013, v.15, р.6215

267. Dunn О., Harteck P., Dondes S., J.Chem.Phys., 1973, v.77, p.878

268. Harteck P., Reeves R.R., Tompson B.A., Z.Naturforch. A, 1964, v. 19, P.l

269. Roussel P.B., Back R.A., J.Photochem., 1989, v..46, p.l59

270. Goss F., Sadeghi K., Pebay-Peyroula J. C., Chem. Phys. Lett., 1972, v. 13, p. 557

271. Hussain D., Kirsch L. J., Trans. Farad. Soc., 1971, v. 67, p. 2025

272. Weiner B.R., Rosenfeld R.N., J.Phys.Chem., 1986, v.90, p.4037

273. Stephenson J.C.,Mosburg E.R., J.Chem.Phys., 1974. v.60, p.3502

274. Bayes K.D., J.Am.Chem.Soc., 1963, v.85, p.1730

275. Willis C., Bayes K.D., J.Phys.Chem., 1967, v.71, p.3667

276. Strauss C.E.M., Kable S.U., Chawia G.K., Houstran P.L., J.Chem.Phys., 1991. v.94. p.1837

277. Anderson D.J., Rosenfeld R.N., J.Chem.Phys., 1991. v.94. p.7357

278. Long D.A., Murfin F.S., William R.S., Proc.Roy.Soc. A, 1953, v.223, p.251

279. Weiner B.R., Rossenfeid R.N., J.Phys.Chem., 1986, v.90, p.4037

280. Husain D., Haider N., J.Chem.Soc.Farad.Trans., 1993, v.89, p.7

281. Liuti G., Kunz С., Dondes S., J.Am.Chem.Soc., 1967, v.89, p.5542

282. Sheaffer P.M., Zittel P.F., J.Phys.Chem., 2000, v.104, p.10194

283. Walch S.P., J.Chem.Phys., 1980, v.72, p.5679

284 . Shimanovich Т., J.Phys.Chem.Ref.Data, 1997, v.6, № 3, p.1087

285. Karyakin E.N., Krupnov A.F., Shapin S.M., J.Mol.Phys., 1982, v.94, p.283

286. Young R.T., 1974 in Introduction to Gas Lasers, (Oxford: Pergamon), p.390

287. Osgood R.M., Eppers W.C., Nickols E.R., IEEE J.Quant.Electr., 1970, v.6, p.145

288. Rich J.W., Bergman R.C., Chem.Phys., 1979, v.44, p.53

289. Flament C., George Т., Meister K.A., Tufts J.C. et al., Chem.Phys., 1992, v.163, p.241

290. Gosse F., Sadeghi N., Pebai-Peyroula J.C., Chem.Phys.Lett., 1972, v. 13, p.557

291. Григорьян Г.М., Ионих Ю.З., Чернышева H.B., Опт.и спектр., 1991, т.70, с.309

292. Ибрагимова Л.Б., Хим.Физика, 1996, т. 15, №7, с. 10

293. Caubet P., Dorthe G., Chem.Phys.Lett., 1994, v.218, р.529

294. C.Kunz, P.Hartek, S.Dondes. J.Chem.Phys., 1967, v.46, p.4157

295. Naegeli D.W., Palmer H.B., J.Mol.Spectr., 1968, v.45, p.2390

296. Little C.E., Brown P.G., Chem.Phys.Lett., 1987, v.134, p.560

297. Ионих Ю.З., Костюкевич И.Н., Чернышева H.B., Оптика и спектр., 1996, т.80, С.590

298. Blashkov V.l., Ivanov Е.Е., Ionikh Y.Z., Proc,18th Int.Conf.on Physics of Ionized Gases, Budapest, 1985, v.l, p.299

299. Grigorian G.M., J.Chem.Chem.Eng., 2013, v.6, p. 199

300. Bauer W., Becker K.H., Bielefeld M., Meuser R„ Chem.Phys.Lett., 1986, v. 123, p.33

301. Fontijn A., Fernandez A., Ristanovic A., Randalf M. et al., J.Phys.Chem.A, 2001, v.105, p.3182

302. Grigorian G.M., Crnian A., Plasma Chem.Plasma Process, 2011, v.31, p.337

303. Joeckle R., Peyron M., J.Chem.Phys., 1970, v.67, p.l 175.

304. Osgood R.M., Eppers W.C., Nickols E.R., IEEE J.Quant.Electr., 1970, v.6, p.145

305. Joeckl R., Peyron M., Comptes Rendus, 1965, v.B261, p.1819

306. Legay F., Comptes Rendus, 1968, v.B266, p.554

307. Legay F., Legay-Sommair N., Toeb F., Compt.Rend., 1968, B266, p.855

308. Legay F., Legay-Sommair N., Can.J.Phys., 1970, v.48, p.1966

309. Legay-Sommair N., Henry L., Legay F., Compt.Rend., 1965, B262, p.103

310. Очкин B.H., Трубачев Э.А., Соболев H.H., Кв.электр.1974, т.1, с.573

311. Кочетов И.В., Курносов А.Г., Напартович А.Н., Препринт, 1983

312. Фриш С.Э.,Определение концентраций нормальных и возбужденных атомов и сил осцилляторов методами испускания и поглощения света //Спектроскопия газоразрядной плазмы, JI., Наука, 1970, с.7-49

313. Ионих Ю.З., Яковицкий C.B.. Оптика и спектр. 1989, т.66, с.1285

314. Provencher G.M., McKenney J.M., Can.J.Phys., 1972, v.50, p.2527

315. Boden J.C., Thrush В.A., Proc.Roy.Soc.,Í968, A305, p.93

316. Provencher G.M., McKenney D.J., Chem. Phys.Lett., 1971, v.10, p.365

317. Iwai F., Savadatti M.J., Broida H.P., J.Chem.Phys., 1967, v.47, p.3874

/

318. Stair A.T., Kennealy J.P., Marphy R.E., J.Chim.Phys., 1967, v.64, p.52

319. WashidaN., Becker K.H., Groth W., Chem..Phys.Lett., 1972, v.15, p.45

320. WashidaN., Kley D., Becker K.H., J.Chem.Phys., 1975, v.|53, p4230

321. Joung R.A., Morrow W., J.Chem.Phys., 1974, v.60, p. 1005

322. Katayama D.H., Miller F.A., Bondybey V.E., J.Chem.Phys., 1979, v,71, p. 1662

323. Dongping L., Matrtin I.T., Zhou J., Fisher E.R., Pure Appl.Phys., 2006, v.78, p.1187

324. Stillaha J., Fisher E.R., J.Phys.Chem.A, 2010, v.114, p.5287

325. Whyte A.R., Phyllips L.F., Chem.Phys.Lett., 1983, v.98, p.590

326. Duran J.L., Tully F.P., Chem.Phys.Lett., 1989, v.154, p.568

327. Balla R.J., Castelon K.H., J.Phys.Chem., 1991, v.95, p.2344

328. Sims I.R., Queffelec J.-L., Defrance A., J.Chem,Phys., 1994, v. 100, p.4229

329. Tsang W., J.Phys.Chem.Ref.Data, 1992, v.21, p.741

330. Dreyer J.W., Perner D., Roy C.R., J.Chem.Phys., 1974, v.61, p.3164

331. Herron J.T., J.Phys.Chem.Ref.Data, 1999, v.28, p. 1469

332. Wauchop F.S., Broida H.P., J.Chem.Phys., 1972, v.56, p.330

333. Li X., SayahN., Jackson W.M., J.Chem.Phys., 1984, v.81, 838