Методы и средства внутрисхемного контроля параметров активных элементов тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 05.11.01, доктор технических наук Казаков, Вячеслав Александрович

• Казаков, Вячеслав Александрович
• доктор технических наук
• 2004

Оглавление диссертации доктор технических наук Казаков, Вячеслав Александрович

ВВЕДЕНИЕ.

ГЛАВА I. МЕТОДОЛОГИЧЕСКИЕ ВОПРОСЫ ИЗМЕРЕНИЯ ОБОБЩЕННЫХ ПАРАМЕТРОВ МНОГОПОЛЮСНЫХ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ЦЕПЕЙ.

1.1. Вводные замечания.

1.2. Вопросы синтеза моделей объектов измерений для сложных многополюсных цепей.

1.3. Способы инвариантного преобразования параметров сложных многополюсных цепей.

1.4. Вопросы моделирования объектов в виде МЭЦ и оценка измеряемое™ параметров их ветвей.

1.5. Алгоритмы топологического преобразования сложных МЭЦ.

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Методы и средства внутрисхемного контроля параметров активных элементов»

В настоящее время широкое использование средств электронной техники выдвигает на первый план проблемы снижения затрат на разработку, производство и эксплуатацию аппаратуры и повышение ее надежности, что не может быть достигнуто без применения совершенных методов контроля параметров аппаратуры и параметров составляющих ее отдельных элементов.

Трудоемкость контрольных и испытательных работ в производстве радиоэлектронной аппаратуры (РЭА) в нашей стране и за рубежом достигает 25-30 процентов его общей трудоемкости производства, а в отдельных случаях может достигать 70 процентов [1-5]. Еще больший объем затрат падает на эти операции при ремонте отказавших изделий -до 85% общего времени восстановления [6].

Проблема осложняется значительным возрастанием сложности РЭА, в которой используются самые различные активные элементы: дискретные и аналоговые микросхемы различного уровня интеграции, транзисторы, которые до сих пор остаются необходимым элементом схем, особенно аналоговых. Они широко применяются в мощных выходных каскадах усилителей тока и напряжения, в высоковольтных узлах и т.д.

Важное значение приобретают контрольно-испытательные работы как при производстве РЭА (на каждом последующем этапе производства стоимость контроля возрастает), так и при контроле готовых изделий.

В этой связи очень важным этапом контроля печатных плат является эффективное и своевременное выявление дефектных элементов и блоков на ранних стадиях технологических процессов.

Состояние проблемы и ее специфика обуславливаются тем, что контроль параметров электрических цепей должен осуществляться после окончания монтажа элементов на печатной плате при выключенном питании. Особенностью контроля является то, что требуется контролировать сложные многополюсные электрические цепи (МЭЦ), представляющие собой совокупность соединенных определенным образом различных элементов, а именно:

- пассивных линейных двухполюсников (резисторов, конденсаторов, катушек индуктивности);

- активных элементов - элементарных многополюсников (полупроводниковых триодов, интегральных схем), проявляющих свои активные свойства при подключении источников энергии (нелинейные элементы);

- пассивных нелинейных элементов (полупроводниковых диодов, катушек индуктивности с сердечником).

Широкая номенклатура контролируемых элементов и разнообразные ограничения делают нецелесообразным построение специализированных систем контроля и поэтому более эффективными признаются подходы, предусматривающие создание либо универсальных систем контроля, обладающих свойством быстрой адаптации к конкретным условиям современных технологических процессов производства РЭА, либо создание агрегатированных средств измерений и обработки информации, образующих аппаратный базис для организации контрольных и диагностических операций в технологических процессах.

Большой вклад в развитие методов и средств контроля РЭА внесли коллективы отечественных ученых, руководимые в разное время: Т.М. Алиевым, Н.П. Байдой, Ф.Б. Гриневичем, В.А. Долговым, К.Б. Ка-рандеевым, В.В. Карибским, А.С. Касаткиным, JI. Ф. Куликовским, K.JI. Куликовским, В.Ю. Кнеллером, П.И. Кузнецовым, М.Д. Лебедевым, Б.Я. Лихтциндером, А.И. Мартяшиным, A.M. Мелик-Шахназаровым, А.В. Мозголевским, П.П. Пархоменко, К.М. Соболевским, Е.С. Согомо-няном, В.Н. Сретенским, М.П. Цапенко, В.М. Шляндиным, Н.Н. Шуми-ловским, Г.А. Штамбергером и др.

Разработкой методов и средств внутрисхемного диагностического контроля активно занимаются ряд Российских организаций (Центральный научно-исследовательский технологический институт Министерства радиопромышленности г. Москва, Научно-исследовательский институт «Контрольприбор» г. Пенза (ранее - ВНИТИ прибор, Пензенский филиал МНПО "Темп") и др.) и зарубежных фирм (Marconi Instrumentation (Великобритания), Hewlett- Packard, Texas Instruments, Faulffinders, Huntron (США) и др.). Основной тенденцией является разработка диагностических тестеров, способных работать как автономно, так и в составе автоматизированных систем контроля с применением ЭВМ. При этом, в основном, решены задачи контроля пассивных элементов. и частично задачи оценки исправности транзисторов и интегральных схем (ИС) на печатных платах. Наиболее узким местом остается задача диагностики на печатных платах активных элементов: транзисторов, аналоговых интегральных схем (АИС) и цифровых интегральных схем (ЦИС).

Основание для проведения работы. Работа выполнена в соответствии с планами проведения и реализации г/б и х/д НИР Пензенского государственного университета (до 1993 г. Пензенский политехнический институт) и Пензенского регионального центра высшей школы (ПРЦВШ) - филиала Российского государственного университета инновационных технологий и предпринимательства (РГУИТП) по заказам ряда предприятий СССР и РФ в соответствии со следующими координационными планами и комплексными целевыми программами:

- координационные планы научно-исследовательских работ АН СССР по проблеме «Измерительные процессы и системы» (шифр 1.12.15) на 1976 - 1980 гг., (шифр 1.13.1) на 1981 - 1985 гг., (шифр 1.12.8) на 1986 - 1990 гг.;

- целевая комплексная научно-техническая программа ГКНТ

СССР 0.Ц.027 «Создание и разработка автоматизированных систем научных исследований и систем автоматизированного проектирования с применением стандартной аппаратуры и измерительно-вычислительных комплексов» на 1986 - 1990 гг.;

- общегосударственная программа создания и производства приборов и средств автоматизации для научных исследований на 1985 -1995 гг. в которой Пензенский политехнический институт принимал участие в выполнении подпрограммы 23 (шифры 23.18И и 23.58И);

- планы госбюджетных НИР ПГТУ - ПГУ на 1995 - 2000 и 2001 -2005 гг.

Актуальность проблемы, решаемой в диссертационной работе, диктуется следующими обстоятельствами.

Во-первых, в настоящее время в промышленности существует настоятельная потребность как в универсальных системах контроля, позволяющих решить комплекс задач диагностирования, так и в простых и надежных приборах для контрольно-наладочных и ремонтных работ.

Во-вторых, включение в процесс контроля операций поиска неисправностей элементов плат позволяет значительно увеличить процент выхода годных плат. Кроме того, выявление дефектных интегральных схем и других элементов позволяет (по данным фирм США) на 25-30 процентов снизить затраты на изготовление плат [2,3]. В случае отсутствия внутрисхемного контроля после проведения монтажа элементов на плате затраты на обнаружение и устранение одного дефекта по вине ИС при контроле функционирования могут возрасти на один-два порядка [2].

В - третьих, до настоящего времени отсутствуют научные исследования обобщающего характера по рассматриваемой проблеме, в которых излагались бы принципы концептуального проектирования и обобщалось бы многообразие известных способов реализации как контрольно-диагностических процедур, так и способов построения соответствующих измерительных преобразователей и алгоритмов обработки измерительной информации.

Предмет исследований.

1. Методы внутрисхемного параметрического контроля и алгоритмы функционирования устройств на их основе с целью создания на этой базе специализированных и универсальных систем контроля.

2. Математические модели для определения методических и инструментальных погрешностей инвариантных измерителей параметров многоэлементных электрических цепей и характеристик нелинейных электронных компонентов.

3. Методы и алгоритмы обработки информации в системах измерения, контроля и диагностики параметров и характеристик активных элементов РЭА.

Методы исследований: методы математического анализа, линейной алгебры, теории непрерывных и импульсных систем автоматического регулирования; численные методы, методы цифровой фильтрации, методы теории инвариантного преобразования параметров электрических сигналов и цепей, теории чувствительности, математической статистики и обработки экспериментальных данных, методы схемотехнического моделирования на ЭВМ. Теоретические исследования проводились с использованием пакета программ PSPICE и сред программирования MathCAD и MATLAB.

Цель работы состоит в развитии методологической и теоретической основы создания средств внутрисхемного измерения параметров МЭЦ, содержащих активные элементы (АЭ), для контроля и диагностики РЭА.

Для достижения поставленной цели решаются следующие основные задачи:

1. Анализ и исследование методов преобразования параметров сложных МЭЦ, в том числе и содержащих АЭ, в электрические сигналы. Анализ методов внутрисхемного контроля АЭ.

2 . Дальнейшее развитие теории инвариантного преобразования и совершенствование измерительных преобразователей (ИП) параметров МЭЦ, содержащих АЭ, в электрические сигналы.

3 . Разработка и исследование ИП для внутрисхемного измерения параметров АЭ МЭЦ, и внутрисхемного контроля операционных усилителей (ОУ).

4 . Развитие и исследование методов измерения параметров нелинейных двухполюсных электрических цепей (ДЭЦ) с АЭ, в том числе в составе МЭЦ.

5. Практическая реализация, доведение до промышленного уровня и внедрение в производство ИП, приборов и информационно-измерительных систем (ИИС) контроля параметров электрических цепей.

Научная новизна работы заключается в следующем:

1. Предложена методика анализа топологической структуры электрической модели реального физического объекта исследования в виде МЭЦ с АЭ для определения измеряемости его параметров.

2. Разработан алгоритм преобразования топологической структуры МЭЦ до эквивалентной трехполюсной электрической цепи, обеспечивающий условия измеряемости параметров каждой исследуемой ветви МЭЦ.

3. Предложена реализация способа раздельного преобразования параметров ветвей МЭЦ для задачи внутрисхемного измерения и контроля токов.

4. Доказано, что приемлемая для практического применения точность внутрисхемного измерения тока потребления активных элементов может быть достигнута при использовании вспомогательных каналов компенсации в каждой цепи ответвления тока.

5. Разработаны структуры ИП для внутрисхемного измерения токов и коэффициента усиления транзисторов, основанные на применении их нелинейных моделей, и сформулированы критерии исправности транзистора при внутрисхемном контроле.

6. Предложен способ измерения вольт-амперных характеристик нелинейных элементов основанный на применении моделей Гаммерштейна-Чебышева. Разработаны и исследованы алгоритмические методы минимизации методических погрешностей, обусловленных аппроксимацией многочленами Чебышева. Показаны пути минимизации инструментальных погрешностей.

7. Предложены методики моделирования измерительных преобразователей для внутрисхемного контроля параметров АЭ.

8. Теоретически и экспериментально исследованы ОУ как объекты внутрисхемного контроля. Впервые предложены методы оценки исправности ОУ при внутрисхемном контроле. Исследована достоверность контроля ОУ по каждому методу и показана возможность использования ИП, построенных на их основе, для внутрисхемного контроля независимо от схемы включения ОУ, напряжения питания и присутствия рабочих сигналов на входах ОУ.

Основные положения, выносимые на защиту.

1. Методика анализа топологической структуры электрической модели реального физического объекта исследования с целью определения измеряемости его параметров. Алгоритмы машинного анализа для преобразования топологической структуры МЭЦ с АЭ до упрощенной трехполюсной цепи с целью обеспечения условия измеряемости параметров каждой исследуемой ветви МЭЦ.

2. Реализация способа раздельного преобразования параметров ветвей МЭЦ для задачи внутрисхемного измерения и контроля токов.

Структуры ИП для внутрисхемного контроля тока потребления активных элементов.

3. Структурные схемы ИП для внутрисхемного измерения токов и оценки усилительных свойств транзистора.

4. Способ анализа и измерения характеристик нелинейных систем и параметров нелинейных элементов, в том числе в составе МЭЦ, основанный на применении модели Гаммерштейна-Чебышева. Алгоритмические методы анализа и минимизации методических погрешностей, обусловленных аппроксимацией многочленами Чебышева, и способы устранения инструментальных погрешностей. Структурные схемы ИП для измерения вольт-амперных характеристик нелинейных элементов при синусоидальных входных воздействиях.

5. Методики схемотехнического моделирования структур ИП и приборов для контроля тока потребления активных элементов и усилительных свойств транзисторов и алгоритмы оценки основных погрешностей преобразования.

6. Методы внутрисхемного контроля ОУ. Структурные схемы ИП для контроля ОУ на основе предложенных методов оценки исправности ОУ при внутрисхемном контроле. Методики статистической обработки полученных экспериментальных данных для определения достоверности контроля ОУ по каждому методу.

Практическое значение результатов работы заключается в разработке методик инженерного проектирования преобразователей для внутрисхемного измерения, контроля и поэлементного диагностирования электронной аппаратуры. Даны практические рекомендации по построению ИП и систем внутрисхемного контроля МЭЦ с АЭ, выбору типов и режимов работы измерительных преобразователей, включая:

1. Разработку способов инвариантного измерения параметров МЭЦ с АЭ и характеристик нелинейных элементов РЭА.

2. Разработку и исследование структур ИП для внутрисхемного измерения тока потребления по цепи питания активных элементов, в том числе структур ИП повышенной точности, ИП с координированной локализацией неисправностей.

3. Разработку и испытание структур ИП для контроля отношения токов, обеспечивающих внутрисхемное измерение коэффициента усиления по току транзисторов, а также определение путей их совершенствования.

4. Разработку на основе предложенных методов внутрисхемного контроля ОУ, различных вариантов аппаратурной реализации тестеров.

5. Методики моделирования элементов, узлов РЭА и средств измерений, а также проведения расчетов погрешностей измерительных преобразователей.

Реализация и внедрение. Диссертация представляет собой обобщение хоздоговорных научно-исследовательских работ, в выполнений которых автор принимал участие в Пензенском государственном университете (ранее - Пензенском политехническом институте) (№№ гос. per.: 02.818.003, 01.850049566, 01.860031406, 01.87.000.7036, 01.86.010.5591, 019.0 0003216) и в ПРЦВШ Пензенском филиале Российского государственного университета инновационных технологий и предпринимательства (ранее - Пензенском региональном центре высшей школы) (№№ х/д: 82/90, 50/90, 247/91, 96/92, 150/93, 151/93). В данных НИР решались методологические и технические вопросы проектирования.

В настоящее время:

1. Система автоматического допускового контроля параметров электронных цепей блока управления экономайзером (ПАК) - внедрена на заводе АТЭ-1 г. Москва.

2. Тестеры для внутрисхемного контроля сборки радиоэлектронной аппаратуры и гибридных интегральных схем АМЦ 155, RCэлементов АМЦ 15201, транзисторов АМЦ 15202, интегральных операционных усилителей АМЦ 15203 - внедрены в НИИ «Контрольпри-бор» г. Пенза (ранее - ВНИТИ-Прибор, Пензенский филиал МНПО «Темп»),

3. Микропроцессорная система внутрисхемного контроля АМЦ 15204 - внедрена в НИИ «Контрольприбор» г. Пенза.

4. Блок контроля влажности системы диагностики состояния контейнеров НУП - внедрен в ТУСМ-1 г. Пенза.

Перечисленные приборы и системы контроля и диагностики, разработанные при непосредственном участии и руководстве автора, освоены опытным производством НИИ «Контрольприбор». По заказам более чем шестидесяти предприятий СССР и РФ выпущено и внедрено более двухсот единиц аппаратуры. Средства контроля подобного функционального назначения в нашей стране не выпускались и в промышленности были освоены впервые.

Полученные в диссертационной работе результаты также используются на1 кафедрах "Радиотехника и РЭС", КиПРА и АЭЭС Пензенского госуниверситета и подразделениях ПРЦВШ - филиала РГУИТП в учебном процессе, а также внедрены в виде методик в подразделениях НИИ «Контрольприбор», ФГУП НИИ электронно-механических приборов г. Пенза.

Апробация работы. Основные положения диссертационной работы докладывались и обсуждались на ряде ежегодных НТК Пензенского госуниверситета, а также международных и всероссийских конференциях, симпозиумах и семинарах:

- Областной НТС «Методы и средства контроля и диагностики РЭА и ЭВА», Пенза, 1982.

- Областной НТС «Повышение эффективности автоматизированных средств восприятия и обработки информации», Пенза, 1985.

- Республиканский НТС «Опыт разработки и практического применения программно-управляемых средств контроля и диагностирования изделий радиоэлектроники, приборостроения и связи», Ленинград, 1989.

- Всесоюзная НТК «Контроль и диагностика радиоэлектронной аппаратуры и изделий электронной техники», Пенза, 1990.

- II Всесоюзный НТС «Статистическая идентификация, прогнозирование и контроль», Севастополь, 1991. С

- Международная НТК «Микроэлектроника и информатика», Зеленоград, 1993.

- Международная НТК «Актуальные проблемы анализа и обеспечения надежности и качества приборов, устройств и систем», Пенза, 1996, 1997, 1998.

- Всероссийская НТК «Методы и средства измерений физических величин», Нижний Новгород, 1998.

- Международный симпозиум «Надежность и качество. Инновационные технологии производству XXI века», Пенза, 1999, 2001, 2004.

- II Всероссийская научная конференция «Проектирование инженерных и научных приложений в среде MATLAB».- Москва, 2004.

Публикации. По теме диссертации опубликовано 62 печатных работы, в том числе: 2 монографии, 5 учебных пособий, рекомендованных Министерством образования РФ и УМО для студентов вузов, 23 статьи, 15 тезисов докладов и 5 информационных листков. Оригинальность технических решений защищена 12 авторскими свидетельствами СССР.

Структура и объем диссертации. Диссертация состоит из введения , 7 глав, заключения и приложений. Основной текст изложен на 369 листах. Библиография - 237 наименований.

Заключение диссертации по теме «Приборы и методы измерения по видам измерений», Казаков, Вячеслав Александрович

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

В работе решены следующие задачи: поставлены и решены методологические вопросы измерения обобщенных параметров МЭЦ; предложены и обоснованы методы внутрисхемного контроля параметров АЭ и характеристик нелинейных двухполюсников; проведено исследование ИП для внутрисхемного контроля токов АЭ и исследование методов внутрисхемного контроля ОУ; разработаны методики статистической обработки полученных экспериментальных данных для определения достоверности контроля ОУ по каждому методу; разработаны методики моделирования структур разработанных ИП и приборов для контроля тока потребления АЭ и усилительных свойств транзисторов и алгоритмы оценки основных погрешностей преобразования; выполнена практическая реализация, доведены до промышленного уровня и внедрены в производство ИП, приборы и информационно-измерительные системы контроля параметров электрических цепей.

В результате решения этих задач получены практические результаты и сделаны следующие выводы:

Список литературы диссертационного исследования доктор технических наук Казаков, Вячеслав Александрович, 2004 год

1. Байда Н.П., Кузьмин И.В., Шпилевой В.Т. Микропроцессорные системы поэлементного диагностирования РЭА. М.: Радио и связь, 1987.

2. Викторов В.И., Чурабо Д.Д. Конструирование контрольно-испытательной аппаратуры для ЭВМ. М.: Машиностроение, 1979, 304 с.

3. Степанов В.Д., Юсов Ю.П., Ягушенко Е.А. Основные направления работ по автоматизации измерений и контроля в электронной промышленности / Электронная техника. Сер. Управление качеством, стандарты, метрология, 1991.-Вып.4 (146).

4. Hotkiss I. The Roles In-circuit and Functional Broad Test in the Manufacturing Process // Electron. Packag and Prod, 1979.- V. 19, № 1.

5. Фандеев В.П. Технология и средства анализа отказов восстанавливаемых электронных изделий приборостроения. Пенза: Гос. ун-т, 2001.

6. Мейен С.В. Неклассическая биология. Феномен Любищева / С.В. Мейен, Б.С. Соколов, Ю.А. Шрейдер // Вестник АН СССР. 1977. - №10. - С. 29 -38.

7. Винер Н. Кибернетика или управление и связь в животном и машине. -М.: Наука, 1983.-344 с.

8. Грооп Д. Методы идентификации систем. -М.: Мир, 1979. 302 с.

9. Бойков И.В. Аналитические методы идентификации динамических систем. Пенза: Изд-во Пенз. политехи, ин-та, 1992. - 110 с.

10. Краус М. Измерительные информационные системы / М. Краус, Э. Вошни. М.: Мир, 1975.- 172 с.

11. Балтянский С.Ш. Измерение параметров физических объектов на основе идентификации и синтеза электрических моделей. Пенза: Изд-во ПГУ, 2000. - 180 с.

12. Карандеев К.Б. Обобщенная теория мостовых цепей переменного тока / К.Б. Карандеев, Г.А. Штамбергер. Новосибирск: Изд-во СО АН СССР, 1961.-224 с. 13

13. Кнеллер В.Ю. Измерение параметров объектов представляемых многоэлементными двухполюсниками / В.Ю. Кнеллер, Л.П. Боровских // Измерение, контроль, автоматизация. 1976. - Вып. 3(7). - С. 3-12.

14. Основы инвариантного преобразования параметров электрических цепей/ А.И. Мартяшин, K.JI. Куликовский, С.К. Куроедов, JI.B. Орлова; Под ред. А.И. Мартяшина М.: Энергоатомиздат, 1990. - 216 с.

15. Мартяшин А.И., Шахов Э.К., Шляндин В.М. Преобразователи электрических параметров для систем контроля и измерения. М.: Энергия, 1976. -392 с.

16. Мармарелис П. Анализ физиологических систем (метод белого шума) / П. Мармарелис, В. Мармарелис. М.: Мир, 1981. - 480 с.

17. Куроедов С.К. Разработка и исследование методов и средств преобразования параметров сложных электрических цепей: Дис. канд. техн. наук. -Пенза: 1980.-236 с.

18. Камке Э. Справочник по обыкновенным дифференциальным уравнениям. -М.: Наука, 1971. 576 с.

19. Мэзон С. Электронные цепи, сигналы и системы / С. Мэзон, Г. Циммерман / Пер. с англ.; под ред. А.А. Соколова. М.: Изд-во иностр. лит-ры, 1969. -619 с.

20. Лихтциндер Б.Я. Многомерные измерительные устройства / Б.Я. Лихт-циндер, С.М. Широков. -М.: Энергия, 1978.

21. Волгин А.И. Аналоговые операционные преобразователи для измерительных приборов и систем. -М.: Энергоатомиздат, 1983.

22. Петров Б.И. Принцип инвариантности в измерительной технике / Б.И. Петров, В.А. Викторов, Б.В. Лункин, А.С. Совлуков. М.: Наука, 1976.

23. Кнеллер В.Ю. Определение параметров многоэлементных двухполюсников / В.Ю. Кнеллер, Л.П. Боровских. М.: Энергоатомиздат, 1986.

24. Бромберг Э.М. Тестовые методы повышения точности измерений / Э.М. Бромберг, К.Л. Куликовский. -М.: Энергия, 1978. 176 с.

25. Андреев А.Н. Преобразование параметров физических объектов в унифицированные сигналы / Цифровая информационно-измерительная техника.-Пенза: ППИ, 1992.

26. Казаков В.А. Применение сложных многополюсных цепей (МЭЦ) для описания объектов исследования и анализ путей получения информации об их параметрах / Измерительная техника. М. 2003. - №1. - С. 43-46.

27. Казаков В.А. Применение сложных многополюсных цепей (МЭЦ) для описания объектов исследования./ Контроль и диагностика. М. 2003. - № 6.

28. Казаков В.А. Измерительные преобразователи систем внутрисхемного контроля параметров активных элементов многополюсных электрических цепей: Монография. Пенза: Информационно-издательский центр ПТУ, 2004. - 122 с.

29. Эйкхофф П. Основы идентификации систем управления. М.: Мир, 1975.-683 с.

30. Бубенников А.Н. Моделирование интегральных микро технологий, приборов и систем. М.: Высшая школа, 1989 - 320 с.

31. Свистунов Б.Л. Структурно-алгоритмические методы синтеза средств инвариантного измерения параметров электрических цепей: Автореф. дисс. . доктора техн. наук.- Пенза: Гос. ун-т, 2004.

32. Мартяшин А.И., Орлова Л.В., Шляндин В.М. Преобразователи параметров многополюсных электрических цепей. М.: Энергоатомиздат, 1981, 72 с.

33. Автоматический контроль радиоэлектронного и электротехнического оборудования. Под общ. ред. В.М. Шляндина и А.И. Мартяшина. М.: Энергия, 1972, 264 с.

34. Андреев А.Н., Казаков В.А., Светлов А.В., Чернецов В.И. Измерительный стенд для контроля печатных плат и жгутов // Микроэлектроника и информатика: Тез. докл. международной научно-техн. конф. Зеленоград, 1993.-С. 127, 128.

35. А.с. №191689 (СССР). Устройство для автоматического контроля параметров электрических цепей. /А.И. Мартяшин, В.М. Шляндин и др. // Открытия. Изобретения. 1967, №4.

36. А.с. №248340 (СССР). Устройство автоматического допускового контроля параметров сложных электрических цепей и постоянных напряжений. /А.И. Мартяшин, В.М. Шляндин. // Открытия. Изобретения. 1969, №23.

37. А.с. №282752 (СССР). Устройство допускового контроля сопротивления электрических цепей. /В.М. Шляндин, А.И. Мартяшин, Б.В. Цыпин. // Открытия. Изобретения. №30.

38. А.с. №248340 (СССР). Устройство автоматического допускового контроля комплексных сопротивлений и напряжений. /В.М. Шляндин, А.И. Мартяшин, В.В. Цыпин. // Открытия. Изобретения. 1969, №34.

39. А. с. №1541534 СССР. Устройство для измерения статических параметров кварцевых резонаторов / В.А. Казаков, А.И. Мартяшин, А.В. Светлов // Открытия. Изобретения. 1990. - № 5. - С. 188.

40. А. с. №1758587 СССР. Устройство для определения параметров трехэлементных двухполюсных цепей / А.Н. Андреев, В.А. Казаков, А.И. Мартяшин, С.В. Никишин, А.В. Светлов // Изобретения. 1992. - № 32. -С. 169.

41. А. с. №1718146 СССР. Преобразователь параметров четырехэлемент-ных двухполюсных цепей / В.А. Казаков, А.И. Мартяшин, С.В. Никишин, А.В. Светлов // Изобретения. 1992. - № 9. - С. 173, 174.

42. Орлова JI.B. Разработка и исследование преобразователей параметров многополюсных электрических цепей в унифицированные сигналы. Канд. диссертация. Пенза, 1979, 158 с.

43. Smith Wesleg R. Printed circuit board testing and interfacin. "Proc, Automat test. 74 Conf., Brighton, 1974. Sess U." Neuport Pagnell, 1974.

44. Лихтциндер Б.Я. Автоматизация поэлементного контроля многополюсных электрических цепей. Измерение, контроль, автоматизация, 1983, №3, с. 14-24.

45. Швендер Ф.А., Гроссман С.Е. Автоматические испытания элементов без изъятия их из печатной платы. Электроника (США), 1975, 48, №18, с. 98-102.

46. Модульная агрегативная система внутрисхемного контроля компонентов и топологии сборных узлов на печатных платах MACK 031/1024. -Проспект. - Вологда, 1981.

47. Цыпин Б.В. Методы и измерительные преобразователи для контроля и диагностики электронной аппаратуры при производстве: Автореф. дисс. . доктора техн. наук.- Пенза: Гос. ун-т, 2002.

48. Мартяшин А.И., Орлова Л.В., Цыпин Б.В. Методы поэлементного кон троля электронных схем. М.: ЦНИИТЭИ приборостроения, 1983, вып.1, -32 с.

49. А.С. №779938 (СССР). Устройство для контроля вмонтированных транзисторов. /Б.Я. Лихтциндер, В.Т. Шпилевой, В.К. Задорожный. // Открытия. Изобретения. 1980, №42.

50. Прибор для обнаружения дефектных ИС на печатных платах. Integral Electronies Corp. Электроника (США), 1977,№11.

51. Устройство для контроля с использованием ИК-излучения, серия «Электроника и связь», изд. «Знание», вып. 7, 1974, с.29.

52. А.С. №834621 (СССР). Устройство для контроля микросхем. /В.П. Ули-тенко, Р.В. Коровин. // Открытия. Изобретения. 1981, №20.

53. Обнаружение скрытых неисправностей в электронных схемах путем измерения случайных флуктуаций фазы. Экспресс информация, контрольно-измерительная техника, 1979, №47, с.38-43.

54. Основные концепции внутрисхемного контроля. Экспресс информация. Контрольно-измерительная техника, 1984, №11, с.1-11.

55. Критерии выбора автоматических систем. Экспресс информация. Контрольно-измерительная техника, 1984, №24, с. 1-6.

56. Оперативная диагностика отказов на скомплектованных печатных платах. Экспресс информация. Контрольно-измерительная техника, 1979, №44, с.27-32.

57. Поройков В.Н., Великанов B.C. ИИС для автоматизации процесса поиска неисправностей в электронных схемах. Тезисы докладов VI Всесоюзной конференции ИИС - 83. - Куйбышев, 1983, с.235.

58. Finnel Jorn Е. In circuit testing of LSY bascol PCBS. - Electron. Prod. (Gr. Brit), 1982, 11, №9 c.47-53.

59. Байда Н.П. Диагностирование печатных плат узлов ЭВМ на этапе их производства. Предварительные публикации (научный совет АН СССР по комплексной проблеме «Кибернетика» М. 1981, 38 с.

60. Лестер Р. Автоматическая контрольно-измерительная аппаратура для автоматической диагностики неисправностей. М.: УШ конгресс ИМЕКО, препринт №24, «Производство и испытания», 1979, 35 с.

61. Неразрушающий контроль изделий в промышленности. Экспресс информация. Испытательные приборы и стенды, 1984, №13, с. 1.

62. Джорри Лаймен. Международная конференция по методам испытаний. Электроника (США), 1983, 56, №21, с. 123-125.

63. Внутрисхемная проверка компонентов, функциональные испытания. -Электроника (США), 1978, №16, с.78.

64. Jessen Kenneth. In circuit Tests und Funktionstests von Leiterplatten im

65. Verkeich "Elektroniker" <Schweiz>, 1985, №4, c.45-51.

66. Богородицкий А.А. Комплекс аппаратуры для типового технологического процесса контроля при производстве РЭА // Приборы и системы управления. 1985. №6.

67. Hotkiss I. The Roles In-circuit and Functional Broad Test in the Manufacturing Process // Elektron. Pactag.and Prod. 1979. - V. 19. - №1.

68. Paymond D. In-circuit Testing: Special Consideration for CMOS // IEEE Test Conf, 1979.

69. Казаков В.А. Диагностика интегральных операционных усилителей на платах РЭА. Пенза: Пенз. политехи, ин-т, 1987. 14 с. (Рук.деп. в ВИНИТИ, №451-В 87, 1987).

70. Исследование и разработка методов и средств контроля сборки плат. -Отчет о научно-исследовательской работе за 1981 г. Тема №1060, № Г.Р. 02818003563 / Рук. раб. Мартяшин .А.И., исп-ль В.А. Казаков.- Пенза, Пенз. политехи, ин-т, 1981, 159 с.

71. Разработка методов контроля узлов РЭА и исследование измерительных преобразователей параметров ЭРЭ: Отчет о НИР № 86-052, № Г.Р. 01.860031406 / Отв. исп-ль В.А. Казаков .- Пенза, Пенз. политехи, ин-т, 1986.

72. Контроль исправности транзисторов и интегральных схем на платах./ В.А. Казаков, Б.В. Цыпин // Повышение эффективности автоматизированных средств восприятия и обработки информации.: Материалы НТК. -Пенза, 1985 г. С. 48-49.

73. Прибор для проверки исправности транзисторов, включенных в электрическую схему. Приборы для научных исследований, 1966, т.З, с.456.

74. Гниломедов А.П. Проверка транзисторов без выпайки их из схемы: Информационно-справочный листок, 1968. -№017308.

75. Николаевский И.Ф. Эксплуатационные параметры и особенности применения транзисторов. М.: Связьиздат, 1968, 381 с.

76. Николаевский И.Ф., Игумнов Д.В. Параметры и предельные режимы работы транзисторов. М.: Сов. радио, 1971.

77. Shaifer T.R., Henger H.R., Ashy А.Т. In circuit transistor leakage current testing, "IEEE Trans. Instrum. andMeasur"., 1964, №2,3, p. 13

78. A.C. №295094 (СССР). Устройство автоматического контроля исправности полупроводниковых триодов в электрических схемах. /А.И. Мартяшин, В.М. Шляндин, Б.В. Цыпин. // Открытия. Изобретения. 1971, №7.

79. Транзисторы для аппаратуры широкого применения /К.М. Брежнева, Е.И. Гантман, Т.И. Давыдова и др. Под ред. Б.Л. Перельмана. М.: Радио и связь, 1981, 656 с.

80. Трейвис В.И. Использование операционных усилителей для измерения сопротивлений герметизированных схем // Электроника. -1971. №21. - с. 32-33.

81. Патент 4472 (Япония). Способ измерения сопротивлений / Канадзава Такато, Кобояси Тору.

82. Патент 63165 (ПНР) Vklad do promiaru rezistancji jednego z elementow zaknietego i niezasilanego obwodu elektryoznego / Kwiatkowski Stanislaw, Vlikowska Urszula, Walter Jan.

83. A.C. №308387 (СССР). Устройство для измерения сопротивления резисторов, образующих замкнутую цепь / Ю.Л. Нуров, А.И. Пиорунский, Б.Е. Федоров, Б.Е. Черненко // Открытия. Изобретения. 1971. - №21.

84. Патент 3927368 (США). Method of breaking electric networks for measurement of parametezs of network components / Romuald Zielonko, Jezzu Hoja, Henryk Wojciechowski.

85. A.C. №496510 (СССР). Устройство для измерения сопротивлений резисторов, образующих многоконтурную резистивную замкнутую цепь / В.Ф. Болбочан, И.Ф. Драбенко, В.М. Кодица и др. // Открытия. Изобретения. -1975.-№47.

86. А.С. №490361 (СССР). Устройство для измерения параметров элементов сложных электрических цепей / С.В. Угольников, С.П. Косач, В.Д. Каплун и др. // Открытия. Изобретения. 1976. - №36.

87. Парфенов М.М. Способы измерения сопротивлений тензорезисторов в замкнутых мостах Уитсона / М.М. Парфенов, А.А. Цыпин // Приборы и системы управления. 1978. - №10. - с. 37-38.

88. Глухов Н.И. Измерение электрических параметров проволочных резисторов. JL: Энергия, 1976. - 102 с.

89. Мартяшин А.И. Некоторые вопросы контроля многополюсников / А.И. Мартяшин, В.В. Цыпин, В.М. Шляндин // Информационно-измерительная техника. Вып. 1, 2. - Пенза, 1973. - С. 121-126.

90. Сотсков Б.С. Об автоматическом контроле параметров сложных электрических цепей радиоэлектронного оборудования / Б.С. Сотсков, А.И. Мартяшин, В.М. Шляндин // Приборы и системы управления. 1973. - №7. -С. 16-18.

91. А.С. №377700 (СССР). Устройство для автоматического контроля звездообразных электрических цепей / А.И. Мартяшин, В.М. Шляндин // Открытия. Изобретения. 1973. -№18.

92. Казаков В.А. Разработка и исследование измерительных преобразователей для внутрисхемного контроля активных элементов: Дисс. канд. техн. наук. Пенза: ППИ, 1987. - 307 с.

93. Казаков В.А. Внутрисхемные измерения тока потребления активных элементов // Надежность и качество: Труды международ, симпозиума. Пенза: Информационно-издательский центр ПТУ, 2001.

94. Казаков В.А., Андреев А.Н. Внутрисхемный контроль активныхэлементов. В кн.: Контроль и диагностика радиоэлектронной аппаратуры и изделий электронной техники. Всесоюзн. Научно-техн.конф. Пенза, 1990. — С. 67-69.

95. Казаков В.А., Андреев А.Н., Чернецов В.И. Способы контроля исправности элементов электронных схем. В кн.: Статистическая идентификация, прогнозирование и контроль радиоэлектронной аппаратуры. Всесоюзн. Научно-техн. семинар, Севастополь, 1990. С. 23.

96. Справочник по интегральным микросхемам /Б.В. Тарабрин, С.В. Якубовский, И.А. Барканов и др.; под ред. Б.В. Тарабрина. 2-е изд-е, перераб. и доп. - М.: Энергия, 1980. - 816 с.

97. Ветенберг М.И. Расчет электромагнитных реле. 4 изд-е, перераб. и доп. - JL: Энергия, 1975. - 416 с.

98. Шабанов А.А. Контактные устройства для контроля изделий микроэлектроники / А.А. Шабанов, P.P. Хамидуллин. М.: Радио и связь, 1985. -128 с. (Б-ка конструктора радиоэлектронной аппаратуры).

99. Конструирование функциональных узлов ЭВМ на интегральных схе мах/ Б.И. Ермолаев, В.И. Варатнян, И.В. Дудоров и др.; Под ред. Б.И. Ермолаева. -М.: Сов. радио, 1978. 200 с.

100. А.С. №945831 (СССР). Устройство для контроля интегральных операционных усилителей. /А.А. Богородицкий, Л.Д. Гарин, В.А. Казаков, А.И. Мартяшин, Б.В. Цыпин. // Открытия. Изобретения. 1982. - №27.

101. Контроль неисправности операционных усилителей в составе гибридной интегральной схемы. В.А. Казаков, Б.В. Цыпин. Техника средств связи. Серия Технология производства и оборудования (ТПО), Одесса, 1983.-Вып.З, с.81-84.

102. Шило В.Л. Линейные интегральные схемы в радиоэлектронной аппаратуре. 2-е издание, перераб. и доп. - М.: Сов. радио, 1979, 368 с.

103. Гальперин М.В., Злобин Ю.П., Павленко В.А. Усилители постоянного тока. 2-е издание, перераб. и доп. - М.: Энергия, 1978, 248 с.

104. Полковский И.М., Стыцко В.П., Рудберг Ю.Е. Схемотехника микроэлектронной аппаратуры. М.: Радио и связь, 1981, 320 с.

105. Иванов А.И. Быстрые алгоритмы синтеза нелинейных динамических моделей по экспериментальным данным. Пенза.: НПФ «Кристалл», 1995. -30 с.

106. Иванов А.И. Биометрическая идентификация личности по динамике подсознательных движений. Пенза: Изд-во ПГУ, 2000. - 187 с.

107. Андрианов А.В. Цифровая обработка информации в измерительных приборах и системах / А.В. Андрианов, И.И. Шпак. Мн.: Высшая школа, 1987.- 176 с.

108. Левин С.Ф. Рекомендации по метрологии Госстандарта России

109. Левин С.Ф. Теория измерительных задач идентификации // Измерительная техника. 2001. - №7. - С. 8-17.

110. Рекомендации по метрологии Р 50.2.004-2000 ГСИ. Определение характеристик математических моделей зависимостей между физическими величинами при решении измерительных задач. Основные положения. -М.: Госстандарт России, 2000.

111. Заде Л. Теория линейных систем. (Метод пространства состояний) / Л.Заде, Ч. Дезоер / Под ред. Г.С. Поспелова; пер. с англ. М.: Наука, 1970. - 704 с.

112. Математические основы теории автоматического регулирования. Т. 2 / Под ред. Б.К. Чемоданова. М.: Высшая школа, 1977. - 518 с.

113. ГОСТ 8.009-84 ГСИ. Нормируемые метрологические характеристики средств измерений. М.: Изд-во стандартов, 1984.

114. Бессонов JI.А. Теоретические основы электротехники. М.: Высшая школа, 1973. -752 с.

115. Бессонов Л.А. Нелинейные электрические цепи. М.: Высшая школа, 1964.-420 с.

116. Ицхоки Я.С. Нелинейная радиотехника. -М.: Сов. радио, 1955. 168 с.

117. Хемминг Р.В. Численные методы для научных работников и инженеров. М.: Наука, 1972. - 400 с.

118. Корн Г.А. Справочник по математике для научных работников и инженеров / Г.А. Корн, Т.М. Корн. -М.: Наука, 1974. 832 с.

119. Казаков В.А. Способ измерения вольтамперных характеристик в базисе модели Гаммерштейна Чебышева./ Измерительная техника.- М. 2004.5.- С. 50-52.

120. Этерман И.И. Аппроксимативные методы в прикладной математике. -Пенза: Изд-во ППИ, 1973. 263 с.

121. Ланцош К. Практические методы прикладного анализа. М.: Физмат-гиз, 1961.-320 с.

122. Казаков В.А. Расчет спектров Чебышева по результатам быстрого преобразования Фурье. В кн.: Надежность и качество: Труды международ. Симпозиума/ Под ред. Н.К. Юркова Пенза: Изд-во Пенз. Гос. ун-та, 2004.-С. 192.

123. Двайт Г.Б. Таблицы интегралов и другие математические формулы. -М.: Гос. изд-во иностр. лит-ры, 1948. 225 с.

124. ГОСТ 13109-97. Электрическая энергия. Совместимость технических средств электромагнитная. Нормы качества электрической энергии в системах электроснабжения общего назначения. Минск: Межгосстандарт, 1997.-30 с.

125. Изъюрова Г.И. Расчет электронных схем. Примеры и задачи: Учебное пособие / Г.И. Изъюрова и др. М.: Высшая школа, 1987. - 335 с.

126. Гусев В.Г. Электроника / В.Г. Гусев, Ю.М. Гусев. М.: Высшая школа,1990.-622 с.

127. А.С. №851281 (СССР). Способ спектрального анализа / В.А. Казаков, А.И. Мартяшин // // Открытия. Изобретения.-1981. №28.

128. А.с. №1029093 (СССР). Устройство для определения установившегося значения переходного процесса / В.А. Казаков, Белогурский И.М., Мартяшин А.И., Светлов А.В. // // Открытия. Изобретения.- 1983. №26.

129. Рабинер П. Теория и применение цифровой обработки сигналов / П. Рабинер, Б. Гоулд. -М.: Мир, 1978. 848 с.

130. Лагуткин В.Н. О спектральной плотности шумов квантования одного класса интегрирующих АЦП / В.Н. Лагуткин, В.Д. Михотин // Информационно-измерительная техника: Межвуз. сб. науч. тр. Пенза: Изд-во ПГТУ, 1994.-Вып. 21.-С. 123-127.

131. Hotkiss I. The Roles In-circuit and Functional Broad Test in the Manufacturing Process // Elektron. Pactag.and Prod. 1979. - V. 19. - №1.

132. Paymond D. In-circuit Testing: Special Consideration for CMOS // IEEE Test Conf, 1979.

133. Нестеренко Б.К. Интегральные операционные усилители: Справочное пособие по применению. М.: Энергоиздат, 1982. - 128 с.

134. А.С. №1114993 (СССР). Устройство для контроля тока потребления интегральных схем. /В.А. Казаков, А.И. Мартяшин, Б.В. Цыпин. // Открытия. Изобретения.- 1984. №35.

135. Шлыков Г.П. Исключение влияния остаточных параметров ключей прецизионных ЦАП // Измерительная техника. 1980. - №4. - С. 35-36.

136. Шлыков Г.П. Измерение параметров интегральных ЦАП и АЦП. М.: Радио и связь, 1985. - 128 с. (Массовая б-ка инженера «Электроника», вып. 45).

137. Михотин В.Д. Исследование и разработка измерительных интегрирующих развертывающих преобразователей: Канд. дисс. Пенза, 1977. -137 с.

138. К-МОП операционный усилитель с компенсированной погрешностью смещения // Электроника (США). 1979. - №2.

139. Алексенко А.Г. Применение прецизионных аналоговых ИС / А.Г. Алексенко, Е.А. Коломбет, Г.И. Стародуб. М.: Сов. радио, 1980. - 224 с.

140. Казаков В.А., Чернецов В.И., Пискарев С.П., Братцев К.Е. Схемотехника операционных усилителей и аналоговых устройств на их основе. (Учебное пособие). Пенза: Изд-во Пенз. гос. ун-та, 2004. 144 с.

141. Лихачев В.Д. Практические схемы на операционных усилителях. М.: ДОСААФ, 1981,80 с.

142. Патент №3348145 (США). Erath L.W. Apparatus for testing and measuring a.c. parameters of active elements connected in circuit.

143. Аронов В.Л. Испытание и исследование полупроводниковых приборов/ В.Л. Аронов, ЯЛ. Федотов. М.: Высшая школа, 1975. - 325 с.

144. А.С. №1279373 (СССР). Устройство для измерения коэффициента усиления по току транзисторов. /А.Н. Андреев, В.А. Казаков, А.И. Мартяшин, Л.В. Орлова, Б.В. Цыпин.

145. А.С. №1122983 (СССР). Устройство для измерения коэффициента усиления по току транзисторов, вмонтированных в схему / В.А. Казаков, А.И. Мартяшин, Л.В. Орлова, Н.И. Спирин, Б.В. Цыпин // Открытия. Изобретения.- 1984.-№41.

146. А.С. №1426253 (СССР). Устройство для измерения коэффициента усиления по току транзисторов / В.А. Казаков, А.И. Мартяшин, Л.В. Орлова, В.Ф. Рыжов, Б.В. Цыпин, А.А. Чумаков.

147. Программное обеспечение ЭВМ. /Л.М. Бродецкий, В.Н. Зеленко, В.И. Короленко и др.; Ин-т математики АН БССР Мн., 1985, - вып. 60, 160 с.

148. Манаев Е.И. Основы радиоэлектроники. Учебное пособие для вузов. -2-е издание, перераб. и доп. М.: Радио и связь, 1985, 504 с.

149. Анализ критериев для диагностики неисправности операционных усилителей на платах. /Казаков В.А., Цыпин Б.В. Пенз. политехи, ин-т. Пенза, 1986, 10 с. (Рук. деп. В ВИНИТИ, №1454-В 87, 1987).

150. Прикладная статистика: Основы моделирования и первичная обработка данных. Справочное издание. /С.И. Айвазян, Н.С. Елюков, Л.Д. Мешал-кин. М.: Финансы и статистика, 1983, 471 с.

151. Достал И. Операционные усилители: Пер. с англ.- М.: Мир, 1982.

152. Вентцель Е.С. Теория вероятностей. М.: Наука, 1969, 576 с.

153. Н.В. Смирнов, И.В. Дудин-Барковский. Курс теории вероятностей и математической статистики. М.: Наука, 1969, 147 с.

154. Митропольский А.К. Техника статистических вычислений.- М.: Наука, 1971

155. Демидович Б.П. Численные методы анализа/ Б.П. Демидович, И.А. Марон, Э.З. Шувалова; Под ред. Б.П. Демидович.- М.: Наука, 1967

156. А.С. №1027655 (СССР). Устройство для контроля интегральных операционных усилителей. /В.А. Казаков, А.И. Мартяшин, Б.В, Цыпин. // Открытия. Изобретения.- 1983.-№25.

157. Казаков В.А., Михотин В.Д., Тихонова Е.А. Пакет прикладных программ для моделирования параметрических датчиков и унифицированных преобразователей. Информационный листок № 54-390-03. Серия, Пенза, ЦНТИ, 2003.

158. Казаков В.А., Михотин В.Д., Тихонова Е.А. Пакет прикладных программ для моделирования операционных усилителей. Информационный листок № 54-387-03. Серия, Пенза, ЦНТИ, 2003.

159. Карлащук В.И. Электронная лаборатория на IBM PC. Программа Electronics Workbench и ее применение. М.: COJIOH-P, 1999. - 506 с.

160. Разевиг В.Д. Система схемотехнического моделирования Micro-Cap V.-M.: Солон, 1997. -280 с.

161. Разевиг В.Д. Применение программ P-CAD и PSpice для схемотехнического моделирования на ПЭВМ: В 4 выпусках. М.: Радио и связь, 1992.

162. Хайнеман P. PSpice. Моделирование работы электронных схем: Пер. с нем. М.: ДМК Пресс, 2002. - 336 с.

163. Разевиг В.Д. Система схемотехнического моделирования и проектирования печатных плат Design Center (PSpice). М.: СК Пресс, 1996. - 272 с.

164. Разевиг В.Д. Система сквозного проектирования электронных устройств DesignLab 8.0. М.: Солон, 1999. - 698 с.

165. Разевиг В.Д. Система проектирования OrCAD 9.2. М.: СОЛОН-Р, 2001.-520 с.

166. Макромоделирование аналоговых интегральных микросхем / А.Г. Алексенко, Б.И. Зуев, В.Ф. Ламекин, И.А. Романов. М.: Радио и связь, 1983. -248 с.

167. Antognetti P., Massobrio G. Semiconductor device modeling with SPICE. McGraw-Hill, Inc. New York, 1988. - 391 p.

168. Jung W. Models can mimic behavior of real op amps // Electronic Design. 1990.-№20.-P. 71-79.

169. Алексенко А.Г., Зуев Б.И. Макромоделирование интегральных схемоперационных усилителей // Зарубежная радиоэлектроника. 1977. - № 8.-С. 22-32.

170. Donald В. Herbert. Create Spice noise sources // Electronic Design. -1991. -№ 15. -P. 99, 100.

171. Steven C. Hageman. Keep Spice accuracy above 1 Mhz // Electronic Design. 1991. - № 9.-P. 117, 120.

172. Казаков В.А.,Светлов А.В. Методика моделирования измерительных преобразователей для внутрисхемного контроля активных элементов. В кн.: Надежность и качество: Труды международ. Симпозиума/ Под ред. Н.К. Юркова Пенза: Изд-во Пенз. Гос. ун-та, 2004.

173. Чахмахсазян Е.А., Мозговой Г.П., Силин В.Д. Математическое моделирование и макромоделирование биполярных элементов электронных схем. М.: Радио и связь, 1985. - 144 с.

174. Баталов Б.В., Егоров Ю.Б., Русаков С.Г. Основы математическогомоделирования больших интегральных схем на ЭВМ. М.: Радио и связь, 1982.- 168 с.

175. Автоматизация схемотехнического проектирования / В.Н. Ильин, В.Т. Фролкин, А.И. Бутко и др. / Под ред. В.Н. Ильина. М.: Радио и связь, 1987.-368 с.

176. Андреев А.Н., Казаков В.А., Светлов А.В. Макромодель операционного усилителя для моделирования измерительных цепей с импульсными сигналами // Измерительная техника. 1999. - № 9. - С. 26 - 29.

177. Oliver J. Smith, Gene Cavanaugh. Spice modeling: "build" a circuit in no time flat // Electronic Design. 1989. - № 8. - P. 109 - 111.

178. Казаков В.А., Светлов А.В. Моделирование динамических режимов работы измерительных преобразователей // Метрология: приложение к журналу "Измерительная техника", 2002. - № 11. - С. 11-19.

179. Марше Ж. Операционные усилители и их применение: Пер. с франц.1. Л.: Энергия, 1974.-216 с.

180. Пейтон А.Дж., Волш В. Аналоговая электроника на операционных усилителях. М.: Бином, 1994. - 352 с.

181. Гутников B.C. Интегральная электроника в измерительных устройствах. Л.: Энергия, 1980. - 248 с.

182. Казаков В.А.,Светлов А.В. Моделирование измерительных преобразователей тока потребления активных элементов. В кн.: Надежность и качество: Труды международ. Симпозиума/ Под ред. Н.К. Юркова Пенза: Изд-во Пенз. Гос. ун-та, 2004.

183. Казаков В.А.,Светлов А.В. Моделирование измерительных преобразователей тока потребления активных элементов, установленных на платах Измерительная техника.- ж. №9, М. 2004.- С. 57-59.195.

184. Разработка и исследование комплекса тестеров для контроля и диагностики радиоэлементов на платах: Отчет о НИР № 85-034, № Г.Р. 01.850049566/ Отв. исп-ль В.А. Казаков.- Пенза, Пенз. Политехи. Ин-т, 1985.

185. Нефедов А.В., Гордеева В.И. Отечественные полупроводниковые приборы и их зарубежные аналоги: Справочник. М.: Радио и связь, 1985. -288 с.

186. Полупроводниковые приборы. Транзисторы малой мощности: Справочник / А.А. Зайцев, А.И. Миркин, В.В. Мокряков и др.: Под ред. А.В. Го-ломе дова. М.: Радио и связь, 1989. - 384 с.

187. Полупроводниковые приборы: Транзисторы. Справочник / В.Л. Аронов, А.В. Баюков, А.А. Зайцев и др. Под общ. ред. Н.Н. Горюнова. М.: Энергоатомиздат, 1983. - 904 с.

188. Пампуро В.И. Анализ радиоцепей и их схемной надежности. Киев, Техника, 1967.

189. Казаков В.А. Тестер для диагностики исправности интегральных операционных усилителей на платах. В кн. Методы и средства контроля и диагностики РЭА и ЭВА: Тез. докл. к областному семинару. Под ред. к.т.н.

190. A.А. Богородицкого. Пенза, 1982, с. 33-34.

191. Тестер для контроля неисправности интегральных операционных усилителей на платах. Информационный листок о научно-техническом достижении №87-5. Серия 54, 1987. Составитель: В.А. Казаков - Пенза, ЦНТИ, 1987.

192. А.С. №1536981 (СССР). Устройство для контроля транзисторов в схеме / Л.В. Каменев, А.И., Л.В. Орлова, В.Ф. Рыжов, Б.В. Цыпин // Открытия. Изобретения.- 1990.-№2.

193. А.С. №400000 (СССР). Бестрансформаторный двухконтактный фазовый детектор. /А.И. Мартяшин, В.И. Рябинин, Б.В. Цыпин, Ю.К. Чапчиков,

194. B.А. Чурбанов, В.М. Шляндин. // Открытия. Изобретения.- 1973.- №39.

195. Пат. №3659210 (США). Phase detection circuit. /Nils Lennart Nelson, His-ings Backa.

196. Цифровой измеритель отношения напряжений. Информационный листок №98-87. Серия 54, 1987. Составитель: В.А. Казаков - Пенза, ЦНТИ, 1987.

197. А.С. №1474845 (СССР). Преобразователь напряжения в интервал времени. /В.И. Андреев, В.А. Казаков, Б.В. Цыпин, Э.К. Шахов. // Открытия. Изобретения.- 1989.- №15.

198. Андреев А.Н., Никишин С.В., Светлов А.В. Стенд для контроля печатных плат РЭС // Методы и средства оценки и повышения надежности приборов, устройств и систем: Тез. докл. международной научно-техн. конф. Пенза: ПДНТП, 1993. - Ч. 2. - С. 27, 28.

199. Агейкин Д.И., Костина Е.Н., Кузнецова Н.Н. Датчики контроля и регулирования. М.: Машиностроение, 1965. - 928 с.

200. Проектирование датчиков для измерения механических величин/ Под ред. Е.П. Осадчего. М.: Машиностроение, 1979. - 480 с.

201. Ткаченко О.В., Чураков П.П. Многоканальное устройство контроля окружающей среды с емкостными датчиками // Цифровые модели в проектировании и производстве РЭС: Межвуз. сб. научн. тр. Пенза: Изд-во Пенз. гос. техн. ун-та, 1997. - Вып.7. - С. 97 - 103.

202. Путилов В.Г., Крысин Ю.М. Преобразователь параметров емкостных датчиков в напряжение // Иформационно-измерительная техника:

203. Межвуз. сб. науч. тр. Пенза: Изд-во Пенз. гос. ун-та, 1998. - Вып. 23. -С. 139-141.

204. Андреев А.Н., Казаков В.А., Светлов А.В., Чернецов В.И. Система для обнаружения утечек из трубопроводов и технологических емкостей // Микроэлектроника и информатика: Тез. докл. международной научно-техн. конф. Зеленоград, 1993. - С. 21, 22.

205. Разработка преобразователей для обнаружения утечек воды из водопроводной и отопительной сетей: Отчет о НИР/ Пенз. политехи, ин-т; Н. рук. А.И. Мартяшин; Отв. исп. В.И. Кулапин и А.В. Светлов. 91057; № ГР 01.91.0049360. - Пенза, 1992. - 50 с.

206. Справочник по кварцевым резонаторам / Под ред. П.Г. Позднякова. -М.: Связь, 1978.-287 с.

207. Пьезоэлектрические резонаторы: Справочник / Под ред. П.Е. Кандыбы, П.Г. Позднякова. М.: Радио и связь, 1991. - 389 с.

208. А. с. 1308939 СССР. Устройство для измерения статических параметров кварцевых резонаторов / Ю.С. Гаевский, А.И. Мартяшин, А.В. Светлов, Б.В. Цыпин // Открытия. Изобретения. 1987. - № 17. - С. 151, 152.

209. А. с. 1205074 СССР. Устройство для преобразования статических параметров кварцевых резонаторов / Ю.С. Гаевский, Н.А. Ермолаев,

210. А.И. Мартяшин, А.А. Мельников, А.В. Светлов, Б.В. Цыпин // Открытия. Изобретения. 1986. - № 2. - С. 199.

211. Казаков В.А., Андреев А.Н., Светлов А.В., Светлов Д.А. Определение параметров двухполюсников по значениям дискретных отсчетов выходного напряжения измерительной схемы. Измерительная техника.- ж. № 8, М. 1999.-С. 19-22.

212. Светлов А.В. Измерительные преобразователи парметров многоэлем-нтных двухполюсных электрических цепей: Автореф. дисс. . доктора техн. наук.- Пенза: Гос. ун-т, 1999.

213. Казаков В.А., Светлов А.В. Техническая диагностика РЭС. (Методические указания к выполнению лабораторных работ). Пенза: Изд-во Пенз.гос. ун-та, 2001.-31 с.

214. Казаков В.А., Андреев А.Н., Джазовский Н.Б., Зябиров А.Х., Цыпин Б.В., Чураков П.П. Радиотехнические системы. Обнаружение сигналов на фоне помех. (Учебное пособие). Пенза: Изд-во Пенз. Госуд. Ун-та, 2000.- 52 с.

215. Казаков В.А., Андреев А.Н., Джазовский Н.Б., Светлов А.В., Блинов А.В. Теория управления и радиоавтоматика. Системы передачи информции. (Учебное пособие). Пенза: Изд-во Пенз.гос. ун-та, 2000.- 104 с.

216. Казаков В.А., Андреев А.Н., Джазовский Н.Б., Зябиров А.Х., Светлов А.В., Цыпин Б.В. Радиотехнические системы. Общие принципы построения. (Учебное пособие). Пенза: Изд-во Пенз.гос. ун-та, 2001.- 92 с.