Метод оценки метрологической надежности при проектировании аналоговых блоков информационно-измерительных систем неразрушающего контроля теплофизических свойств объектов тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 05.11.16, кандидат наук Каменская Мария Анатольевна

• Каменская Мария Анатольевна
• кандидат наук
• 2016

Оглавление диссертации кандидат наук Каменская Мария Анатольевна

Выводы

2 ТЕОРЕТИЧЕСКОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ ОСНОВНЫХ ПОЛОЖЕНИЙ МЕТОДА ОЦЕНКИ МЕТРОЛОГИЧЕСКОЙ НАДЕЖНОСТИ ПРИ ПРОЕКТИРОВАНИИ ИИС НК ТФС

2.1 Математическое моделирование процесса изменения во времени

МХ исследуемых АБ ИИС НК ТФС объектов

2.2 Метод определения величины межповерочных интервалов АБ информационно - измерительных систем НК ТФС объектов

2.3 Разработка показателей оценки качества прогнозирования

информационно - измерительных систем НК ТФС объектов

Выводы

3 МЕТОДИКА ОЦЕНКИ МЕТРОЛОГИЧЕСКОЙ НАДЕЖНОСТИ ПРИ ПРОЕКТИРОВАНИИ ИИС

3.1 Общие положения

3.2 Оценка метрологической надежности аналоговых блоков ИК ИИС неразрушающего контроля теплофизических свойств объектов

3.3 Информационно - аналитическая система оценки и прогнозирования метрологической надежности информационно

измерительных систем

Выводы

4 ПРАКТИЧЕСКАЯ РЕАЛИЗАЦИЯ РАЗРАБОТАННОГО МЕТОДА ОЦЕНКИ МЕТРОЛОГИЧЕСКОЙ НАДЕЖНОСТИ ИИС НА ЭТАПЕ ПРОЕКТИРОВАНИЯ

4.1 Математическое моделирование состояния метрологических характеристик АБ ИИС НК ТФС

4.2 Проверка качества прогнозирования и разработка рекомендаций по

метрологическому обслуживанию АБ ИИС на стадии эксплуатации

Выводы

Заключение

СПИСОК ИСПОЛЬЗУЕМЫХ ИСТОЧНИКОВ

ПРИЛОЖЕНИЯ

Приложение 1 Акты об использовании результатов диссертационной

работы

Приложение 2 Свидетельства о регистрации программ для ЭВМ

Приложение 3 Материалы для проверки адекватности ММ

Приложение 4 Фрагмент исходного кода ИАС оценки МН ИИС НК

ТФС объектов

Перечень наиболее часто употребляемых обозначений и сокращений т - математическое ожидание; 5 - метрологическая характеристика; Т1, Т2 - области контроля и прогноза соответственно; ? - время;

ивх, ивых - входной и выходные сигналы соответственно;

х - входной параметр;

у - выходной параметр;

5 - основная относительная погрешность;

ц - вектор параметров комплектующих элементов;

а - среднеквадратическое отклонение;

Ф - вектор внешних возмущающих воздействий;

у - функция, определяющая границы отклонений метрологической

характеристики от ее математического ожидания;

АБ- аналоговый блок;

АВП-аналитико-вероятностное прогнозирование; ИАС-информационно - аналитическая система; ИИС - информационно - измерительная система; ИК - измерительный канал; ММ-математическая модель; МО-метрологический отказ; МН-метрологическая надежность; МПИ-межповерочный интервал; МХ-метрологическая характеристика; НК - неразрушающий контроль ПНЧ- преобразователь напряжение-частота; ТФС -теплофизическое свойство ТДШ - теория Демпстера - Шафера; ЭИС - электронное измерительное средство;

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Метод оценки метрологической надежности при проектировании аналоговых блоков информационно-измерительных систем неразрушающего контроля теплофизических свойств объектов»

ВВЕДЕНИЕ

В практике технических измерений широкими функциональными возможностями обладают тепловые методы неразрушающего контроля (НК), которые позволяют определять качество исследуемых материалов и изделий по их теплофизическим свойствам (ТФС). Подобные измерительные эксперименты реализуются с использованием информационно - измерительных систем (ИИС) НК ТФС. Как показывают теоретические и практические исследования, наиболее значимыми в метрологическом отношении для ИИС являются аналоговые блоки (АБ), выполняющие различные функции преобразования измеряемой величины.

Метрологическая надежность (МН) информационно-измерительных систем является основной характеристикой их качества и, прежде всего, определяется метрологической надежностью аналоговых блоков, входящих в измерительный канал (ИК) ИИС неразрушающего контроля теплофизических свойств объектов.

Метрологическая надежность - свойство электронных измерительных средств (ЭИС), сохранять во времени метрологические характеристики (МХ) в пределах установленных норм при заданных режимах эксплуатации, технического обслуживания, хранения и транспортирования. Для количественной оценки МН ЭИС, в том числе ИИС используются два показателя: вероятность сохранения метрологической исправности и метрологический ресурс.

Оценка метрологической надежности АБ ИК ИИС может быть реализована с проведением длительных испытаний АБ ИИС на стабильность, причем срок этих испытаний должен совпадать с длительностью эксплуатации данного АБ ИИС. Это обстоятельство приводит к тому, что стоимость испытаний возрастает, и сроки, отводимые на проектирование АБ ИК ИИС, значительно меньше в сравнении с временем для проведения испытаний. Вследствие этого возникает необходимость в разработке метода оценки метрологической надежности при проектировании ИИС НК ТФС объектов, в основе которого

лежит ММ нестационарных случайных процессов изменения во времени МХ исследуемых АБ проектируемых ИИС с использованием аппарата аналитико-вероятностного прогнозирования. Для быстрой и оперативной оценки МН проектируемого АБ ИИС необходимо разработать информационно-аналитическую систему (ИАС), позволяющую оперативно получать достаточное количество статистических данных о процессах изменения во времени МХ проектируемых ИИС НК ТФС объектов за небольшие промежутки времени, обеспечивая, таким образом, возможность получить информацию о МН АБ и ИИС в целом. На основании полученных на стадии проектирования АБ данных об изменении во времени МХ исследуемых АБ ИИС может быть решена задача определения научно обоснованных межповерочных интервалов (МПИ). Назначение МПИ с учетом характера изменения метрологических свойств ИИС НК ТФС объектов позволит сократить число поверок и профилактических работ, уменьшив тем самым материальные и трудовые затраты на организацию и проведение поверочных мероприятий.

Степень разработанности темы исследования

Появление первых работ по проблеме метрологической надежности измерительных средств (ИС) относится к 1965 году. Приведенные в них результаты исследований показали, что математический аппарат общей теории надежности, разработанный для широкого класса технических средств, не может быть применен в полной мере для оценки метрологической надежности ИС, в том числе и ИИС. Это обусловлено прежде всего спецификой ИС, метрологическими свойствами, преобладанием доли постепенных метрологических отказов, определяемых только при проведении поверок, в общем потоке отказов, а также связью показателей точности и надежности ИС. Вопросам оценки метрологической надежности измерительных средств различного назначения посвящены работы П.В.Новицкого, Э.И.Цветкова, А.Э.Фридмана, Ж.С.Мельницкой, В.С.Лабунца и других ученых.

Проблема обеспечения метрологической надежности ИС различного назначения остается актуальной и в настоящее время. Сложность и

ответственность функций, выполняемых современными ИС, в том числе и ИИС НК ТФС требует разработки методов оценки их метрологической надежности при проектировании и обеспечения необходимого уровня показателей метрологической надежности на этапе эксплуатации. Общим подходом к решению подобных задач является математическое моделирование метрологических характеристик исследуемых ИС.

Объект исследования: метрологическая надежность АБ измерительного канала ИИС неразрушающего контроля ТФС объектов.

Предмет исследования: аналоговые блоки измерительного канала ИИС неразрушающего контроля теплофизических свойств объектов.

Методы исследования базируются на применении теоретико-вероятностных и статистических методов, на методах вероятностно-статистического моделирования, экстраполяции и интерполяции, а также на использовании результатов выполнения научных работ на базе кафедры "Конструирование радиоэлектронных и микропроцессорных систем" ФГБОУ ВПО "ТГТУ".

Научная новизна.

1 Разработан метод оценки МН при проектировании АБ ИИС НК ТФС, базирующийся на применении созданных на основе авторегрессионных и рациональных ММ изменения во времени МХ АБ, учитывающий постановку задачи прогнозирования МН и позволяющий определить требуемые показатели МН ИИС, а также разработать рекомендации по организации метрологического обслуживания АБ ИИС НК ТФС при их эксплуатации.

2 Разработана ММ процесса изменения во времени МХ исследуемых АБ ИИС на основе использования авторегрессионной зависимости, применяемая в решении прямой задачи прогнозирования метрологической надежности для оперативного определения вероятности сохранения метрологической исправности ИИС.

3 Предложена ММ процесса изменения во времени МХ исследуемых АБ ИИС на основе рациональной зависимости, используемая для решения обратной

задачи прогнозирования МН ИИС для определения метрологического ресурса ИИС НК ТФС объектов.

4 Разработан алгоритм определения межповерочных интервалов АБ ИИС, позволяющий определить время проведения предстоящих метрологических поверок с учетом применяемого вида ММ временного дрейфа МХ АБ, построенной при проектировании ИИС НК ТФС объектов.

5 Разработан комплекс показателей оценки качества прогнозирования МН АБ на этапе проектирования ИИС, включающий показатели эффективности и достоверности прогнозирования и рассчитываемый с учетом применяемых видов ММ изменения во времени МХ АБ ИИС НК ТФС объектов.

6 Разработана методика прогнозирования метрологической надежности АБ ИИС, реализованная в структуре ИАС, содержащая обобщенный алгоритм оценки требуемых показателей МН АБ на основе построенных ММ изменения во времени исследуемых МХ АБ и позволяющая также оценить, качество проведенного прогнозирования и разработать рекомендации по метрологическому обслуживанию АБ ИИС НК ТФС.

Положения, выносимые на защиту:

1. Новые алгоритмы математического моделирования состояния МХ проектируемых ИИС НК ТФС объектов с целью прогнозирования МН рассматриваемых измерительных средств.

2. Алгоритм определения величины межповерочных интервалов с учетом принятого вида математической модели временного дрейфа МХ аналоговых блоков информационно - измерительных систем.

3. Определение показателя эффективности прогнозирования метрологической надежности ИИС неразрушающего контроля ТФС.

4. Оценка показателя достоверности прогнозирования метрологической надежности аналоговых блоков ИИС.

5. Методика прогнозирования показателей метрологической надежности при проектировании АБ ИИС, и реализующая ее ИАС.

Целью диссертационной работы является разработка метода оценки МН

проектируемых АБ ИИС, базирующегося на построении нового класса математических моделей изменения во времени МХ АБ с использованием аппарата аналитико-вероятностного прогнозирования и позволяющего оперативно оценить требуемые в конкретной постановке задачи прогнозирования показатели МН АБ.

Для решения поставленной задачи и достижения цели необходимо:

1. Разработать математические модели (ММ) процесса изменения во времени нормируемой метрологической характеристики АБ ИИС, учитывающие постановку задачи прогнозирования метрологической надежности ИИС неразрушающего контроля ТФС.

2. Решить задачу оценки МПИ с учетом временного дрейфа метрологических характеристик ИИС НК ТФС объектов.

3. Разработать и исследовать показатели качества прогнозирования метрологической надежности ИИС.

4. Разработать обобщенную методику оценки метрологической надежности при проектировании аналоговых блоков ИИС.

5. Разработать информационно-аналитическую систему оценки и прогнозирования метрологической надежности при проектировании ИИС.

Теоретическая и практическая значимость работы

1. Выбор адекватного математического описания изменения во времени МХ проектируемой ИИС дает возможность не только оценить показатели МН с достаточной для практики точностью, но и дать рекомендации по метрологическому обслуживанию ИИС при эксплуатации, в том числе провести расчет МПИ с учетом изменения во времени метрологических свойств ИИС НК ТФС объектов.

2. Разработанная ИАС, реализующая методику оценки и прогнозирования МН ИИС, позволяет провести выбор ММ изменения во времени МХ ИИС, оперативно определить состояние МХ проектируемого АБ в различные моменты времени предстоящей эксплуатации ИИС, получить наглядную графическую интерпретацию результатов моделирования временных

изменений МХ АБ ИИС, прогнозировать показатели МН АБ ИИС, входящих в состав проектируемой ИИС НК ТФС объектов, а также количественно оценить показатели качества прогнозирования.

3. Показатели достоверности и эффективности прогнозирования позволяют оценить качество решенной задачи прогнозирования, а также целесообразность применения выбранного вида ММ МХ ИИС НК ТФС объектов.

Внедрение результатов исследования.

Результаты диссертационной работы приняты к использованию на предприятии АО «ТНИИР «ЭФИР», а также в учебном процессе ТГТУ.

Степень достоверности и апробация результатов исследования.

Достоверность научных результатов работы подтверждается корректностью постановки задач и методов, изложенных в фундаментальных трудах отечественных и зарубежных ученых. При решении поставленных задач эффективно используются методы математической метрологии, методы математического программирования, результаты имитационного моделирования и экспериментальных исследований. Научные положения диссертации обоснованы и подтверждены воспроизводимостью и соответствием экспериментальных и расчетных результатов.

Основные результаты работы представлялись и обсуждались на 3-й Международной научно-практической конференции "Наука и устойчивое развитие общества. Наследие В.И.Вернадского" (2008, Тамбов), на IX Всероссийской научно-технической конференции "Повышение эффективности средств обработки информации на базе математического моделирования" (2009, Тамбов), XIV научной конференции ТГТУ (2009, Тамбов), Всероссийской научно-технической конференции "Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций" (2009, Самара), XXIII Международной научной конференции "Математические методы в технике и технологиях" (2010, Саратов)," II Международной научной конференции. Торсионные поля и информационные взаимодействия (2010, Тамбов), "Международной научно-технической конференции "Современные методы и средства исследований

теплофизических свойств веществ" (2010, С.-Петербург), II Международной кластерной научно-практической конференции "Аспекты ноосферной безопасности в приоритетных направлениях деятельности человека" (2011, Тамбов), 7-ой Международной научно-практической конференции "Найновите постижения на европейската наука" (2011, София), Всероссийской научной школе "Актуальные проблемы нано- и микроэлектроники" (2011, Тамбов), Всероссийской научно-практической конференции "Современные проблемы и перспективные направления развития авиационных комплексов и систем военного назначения, форм и способов их боевого применения" (2011, Воронеж), VIII MEZINÂRODNÎ VËDECKO-PRAKTICKÂ KONFERENCE «APLIKOVANÉ VËDECKÉ NOVINKY - 2012» 27 cervencû- 05 srpna 2012 roku Dil 13 Technické vëdy Tëlovychova a sport, II Международной научно-технической конференции «Современные методы и средства исследований теплофизических свойств веществ» (2012, СПб), III Всероссийской научно-практической конференции студентов, аспирантов и молодых ученых "Электронные приборы системы и технологии" (2013, Томск), Международной конференции с элементами научной школы "Актуальные проблемы энергосбережения и энергоэффективности в технических системах" (2014, Тамбов), XXVII Международной научной конференции "Математические методы в технике и технологиях (ММТТ-27)" (2014, Тамбов), 2-ой Международной конференции с элементами научной школы «Актуальные проблемы энергосбережения и энергоэффективности в технических системах» (2015, Тамбов), XI-ой Международной научно-практической конференции "Фундаментальная и прикладная наука" (2015, Англия)

Публикации. По материалам работы опубликовано 27 печатных работ, в том числе 6 статей в научных журналах из Перечня ВАК при Минобрнауки РФ.

Структура и объем работы.

Диссертационная работа состоит из введения, четырех глав, заключения, приложений, изложенных на 158 страницах машинописного текста, 50 рисунков и 7 таблиц. Список использованных источников включает 108

наименований.

ОСНОВНОЕ СОДЕРЖАНИЕ РАБОТЫ Во введении обоснована актуальность темы диссертации, сформулированы цели и задачи работы, раскрыты научная новизна и практическая значимость проводимых в диссертации исследований.

В первой главе проведен обзор существующих методов и подходов к определению метрологической надежности аналоговых блоков ИИС НК ТФС, показавший, что разработка принципиально новых методов решения задач оценки и прогнозирования метрологической надежности АБ ИИС с учетом изменения во времени их МХ, приводящих к метрологических отказам, остается одной из важных задач современной теоретической и практической метрологии. Исследования показали, что для оценки состояния метрологических характеристик АБ ИК ИИС могут быть использованы аналитико-вероятностные методы прогнозирования, математическим аппаратом которых являются метод статистического моделирования, теория интерполяции и экстраполяции. Показано, что точность полученных при этом результатов оценки показателей МН определяется в большой степени адекватностью применяемых математических моделей МХ проектируемых ИИС. Сформулирована постановка задачи исследования.

Во второй главе рассмотрена задача разработки математических моделей при реализации метода АВП состояния метрологических характеристик АБ ИИС НК ТФС объектов. Разработанные алгоритмы ММ изменения во времени МХ позволяют проводить выбор оптимального математического описания временного изменения МХ АБ ИИС неразрушающего контроля ТФС. Рассматриваемые методы позволяют выработать рекомендации на этапе эксплуатации, а именно, в зависимости от темпа изменения во времени метрологической характеристики АБ, определяемой по его математической модели, оценить величину межповерочных интервалов. Предложены методы для оценки эффективности и достоверности проведенного прогнозирования МН, которые позволяют оценить качество решенной задачи прогнозирования, а

также целесообразность применения выбранного вида математической модели МХ ИК ИИС. Разработанный метод позволяет оценить и прогнозировать МХ АБ на этапе проектирования без проведения длительных экспериментов по определению долговременной стабильности МХ АБ ИК ИИС с достаточной для практики точностью и достоверностью.

В третьей главе изложены основные положения методики оценки метрологической надежности при проектировании ИИС, а также реализованная на ее основе ИАС. Разработанная методика распространяется на аналоговые блоки, входящие в состав измерительных каналов ИИС неразрушающего контроля ТФС. Методикой вводится единый алгоритм оценки и прогнозирования состояния МХ аналоговых блоков ИК информационно-измерительных систем, независимо от их назначения, структуры и используемой элементной базы.

Представленная методика реализована в ИАС, которая позволяет оперативно определять показатели метрологической надежности проектируемых АБ ИИС. Разработанная ИАС предусматривает выбор оптимального математического описания процессов изменения во времени метрологических свойств АБ ИИС с представлением соответствующих графических зависимостей, исходя из выбранного вида математической модели изменения во времени МХ ИИС неразрушающего контроля теплофизических свойств объектов. ИАС позволяет решить важную для метрологического обслуживания задачу по определению величины межповерочных интервалов при эксплуатации проектируемых ИИС, а также проводит расчет необходимого числа измерений при проведении поверок. Кроме того, ИАС проводит численную оценку показателей качества прогнозирования, таких как достоверность и эффективность, позволяющих оценить качество проведенного прогнозирования МН и целесообразность принятого вида математической модели МХ АБ ИИС с учетом постановки задачи прогнозирования.

В четвертой главе представлены результаты практического применения разработанных в диссертации подходов к математическому моделированию

МХ и оценке показателей качества решаемой задачи прогнозирования МН ИИС. На примере типового АБ измерительного канала ИИС НК ТФС с использованием разработанной ИАС проверена работоспособность метода и методики оценки и прогнозирования МН исследуемых АБ ИИС.

В ИАС предусмотрены формы вывода, которые дают информацию для пользователей о результатах расчета величины МПИ, максимального и минимального количества измерений при организации поверок. Также ИАС позволяет провести оценку эффективности и достоверности проведенного прогнозирования МН по построенной ММ изменения во времени МХ ИИС НК ТФС объектов. ИАС проводит проверку адекватности модели и объекта. Все результаты проводимых расчетов при реализации положений разработанного метода приводятся в формах отображения.

Полученные при реализации ИАС результаты показали, что основные теоретические положения, разработанные в методе прогнозирования МН ИИС НК ТФС объектов, реализуются в ИАС и пригодны для оперативного принятия решений по оценке МН исследуемого блока ИИС.

В приложениях размещен листинг ИАС оценки и прогнозирования МН при проектировании и эксплуатации АБ ИК ИИС НК ТФС, а также результаты статистического моделирования МХ исследуемого блока ИИС

1 АНАЛИЗ ПРОБЛЕМЫ МЕТРОЛОГИЧЕСКОЙ НАДЕЖНОСТИ ПРИ ПРОЕКТИРОВАНИИ ИНФОРМАЦИОННО - ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ СИСТЕМ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ ТЕПЛОФИЗИЧЕСКИХ СВОЙСТВ ОБЪЕКТОВ. ПОСТАНОВКА ЗАДАЧИ ИССЛЕДОВАНИЯ

1.1 Общая характеристика проблемы метрологической надежности

и ее состояния

Расширение области применения измерительной техники, усложнение измерительных средств, повышенные требования к точности, а также возрастающая значимость ИИС в производственном процессе приводят к необходимости улучшения их МН.

Первые работы по вопросам метрологической надежности АБ ИИС начали появляться с 1965 года [1,28,41-43]. Проведенные исследования показали, что математический аппарат общей теории надежности, разработанный для широкого класса ЭИС, не может быть использован для прогнозирования МН АБ ИИС. Прежде всего это обусловлено спецификой АБ -их метрологическими свойствами, а также связью между показателями точности и надежности АБ ИИС неразрушающего контроля ТФС.

Обобщенная структурная схема ИИС НК теплофизических свойств объектов [53] приведена на рисунке 1.1

Рисунок 1.1 Обобщенная структурная схема ИИС НК ТФС объектов

Метрологическая надежность всей ИИС неразрушающего контроля ТФС объектов в наибольшей степени определяется характеристиками измерительного канала, а также входящих в его состав аналоговых блоков, которые выполняют различные функции преобразования измеряемой величины.

Метрологические характеристики являются наиболее важными техническими характеристиками АБ ИИС. На этапе эксплуатации одна или несколько МХ АБ ИИС, с течением времени, могут выйти за пределы, нормируемые в технической документации АБ ИК ИИС НК ТФС это приводит к наступлению метрологического отказа (МО).

Практика эксплуатации ЭИС и анализ публикаций [8,24-26,76] показывают, что для ИИС НК ТФС характерно преобладание постепенных метрологических отказов, составляющих более 70% в общем потоке отказов, а для некоторых случаев почти 100% [49]. Метрологические отказы определяются выходом за допустимые пределы нормируемой МХ, как правило, в большинстве случаев рассматривается основная относительная погрешность АБ ИК ИИС. Метрологические отказы могут быть выявлены только в результате поверок. Вследствие этого невозможно применять для анализа надежности АБ ИИС НК ТФС объектов, а именно МН, аппарат статистических оценок надежности на основе X - характеристик и условия постоянства во времени интенсивности отказов. Использование методов, которые основаны на этих допущениях, может приводить к грубым ошибкам, которые исключают возможность внедрения полученных результатов. К примеру, прогнозируемое значение МПИ может составить месяц вместо года.

Поэтому актуальной задачей при проектировании АБ ИК ИИС является задача оценки их МН при их проектировании и обеспечении заданных показателей МН ИИС НК ТФС объектов при эксплуатации. Существенный вклад в решение задачи разработки теории МН внесли такие ученые, как Ю.В.Тарбеев, Э.И.Цветков, П.В.Новицкий, А.Э.Фридман, Ж.С.Мельницкая, В.С. Лабунец, М.И.Ревяков, А.В.Екимов и др.

Основы физического обоснования закономерностей протекания процессов временного изменения МХ проектируемых ИИС НК ТФС объектов были заложены в работах [24,42,57].

Базовое влияние на ход старения АБ ИИС НК ТФС производят процессы, которые происходят на молекулярном уровне. При этом основным фактором, обуславливающем старение АБ, является календарное время, прошедшее с момента изготовления АБ, а не работа во включенном состоянии исследуемого ЭИС. Эти положения являются общепризнанными и внедрены в рекомендации по межгосударственной стандартизации РМГ 29-99 [57].

Обычно применяются два базовых подхода к проблеме прогнозирования МН АБ ИИС НК ТФС объектов. Первый из них состоит в проведении продолжительных испытаний АБ на стабильность, при этом сроки проведения испытаний должны совпадать с длительностью эксплуатации проектируемого АБ, т.е. на протяжении 10-20 лет. Вследствие чего стоимость таких испытаний возрастает, а их продолжительность значительно выше сроков, отводимых для проектирования АБ.

Исследования показали [50], что необратимые процессы, влияющие на изменения погрешности, как основной метрологической характеристики, протекают очень медленно и зафиксировать такие изменения в ходе измерительного эксперимента в большинстве случаев невозможно. Поэтому, основное значение приобретают различные математические методы, позволяющие построить модели изменения во времени исследуемых погрешностей и провести прогнозирование метрологических отказов. В связи с этим необходим иной путь решения проблемы оценки метрологической надежности на этапе проектирования. В основу второго подхода положено математическое моделирование нестационарных случайных процессов временного изменения МХ исследуемых АБ ИИС неразрушающего контроля ТФС объектов с использованием аппарата АВП [43]. Применение такого подхода позволяет оценить и прогнозировать МН АБ ИИС без длительных экспериментов по оценке долговременной стабильности МХ АБ ИИС НК ТФС.

Из вышеизложенного следует, что при решении задач оценки и состояния МХ, определяющих МН исследуемых ИИС НК ТФС объектов, все больший вес приобретает математическое моделирование. Адекватность прогнозов, выполненных на основе ММ временного изменения МХ будет являться несколько ограниченной и должна рассматриваться только в вероятностном аспекте. Тем не менее, результаты прогнозирования имеют большое значение при решении задач метрологического обслуживания, таких как: определение межповерочных интервалов, необходимого числа измерений МХ; вычисление метрологического ресурса АБ ИИС НК ТФС на основе полученных в результате моделирования данных об изменении во времени МХ ИИС.

Оценке и прогнозированию метрологической надежности на этапах проектирования посвящено множество публикаций, таких как [105-107].

В частности в работе [107] выполняется оценка метрологической надежности в области химии с использованием также математического моделирования. Введением обобщенной математической модели химических измерений проводится оценка характеристик метрологической надежности при использовании спектрофотометрических и потенциометрических методов.

Таким образом, проблема метрологической надежности является актуальной проблемой на протяжении более чем пятидесяти лет. Основным математическим аппаратом решения такого вида задач является математическое моделирование исследуемых ЭИС и реализация ими процессов измерения.

Список литературы диссертационного исследования кандидат наук Каменская Мария Анатольевна, 2016 год

СПИСОК ИСПОЛЬЗУЕМЫХ ИСТОЧНИКОВ

1. Абдуладзе, И. В. Метрологическая надежность / И. В. Абдуладзе С. Н. Мандельштам // Измерительная техника. - 1975. - № 2. - С. 29-30.

2. Абрамов, О. В. Прогнозирование состояния технических систем / О. В. Абрамов, А. Н. Розенбаум. - М. : Наука, 1990 - 126 с.

3. Алексеев, О. В. Автоматизация проектирования радиоэлектронных средств : учеб. пособие для вузов / О. В. Алексеев, А. А. Головков ; под ред. О. В. Алексеева. - М. : Высш. шк., 2000.- 479с.

4. Алексенко, А. Г. Применение прецизионных аналоговых ИС / А. Г. Алексенко, Е. А. Коломбет , Г. И. Стародуб. - М. : Радио и связь, 1985. -304 с.

5. Балакирева, С. Д. Определение и адаптивная корректировка межповерочных интервалов измерительных приборов и систем / С. Д. Балакирева, А. В. Екимов // Метрология. - 1991. - № 9. - С. 35-46.

6. Батова, Г. П. Статистический метод оценки стабильности аналоговых приборов контроля и регулирования по результатам экспериментальных исследований / Г. П. Батова, А. М. Звягинцев // Труды НИИТП. - 1974. - Вып. 81. - С. 12-20.

7. Бедова, Е. М. Исследование долговечности аналоговых устройств, обладающих высокой надежностью / Е. М. Бедова // Труды Всесоюзного научно-исследовательского института электроизмерительных приборов. - 1973. - № 16. - С. 148-155.

8. Бердичевский, Б. Е. Вопросы обеспечения надежности радиоэлектронной аппаратуры при разработке / Б. Е. Бердичевский. - М. : Советское радио, 1977. - 384 с.

9. Блинов, А. П. Построение градуировочных характеристик методом максимума компактности / А. П. Блинов // Измерительная техника. -1987. - № 7. - С. 15 - 17.

10. Бокс, Дж. Анализ временных рядов. Прогноз и управление / Дж. Бокс, Г. Дженникс. -. М.: Мир, 1974. - Вып.1. - 406с.

11. Булычев, А. Л. Аналоговые интегральные схемы: справ. / А. Л. Булычев, В. И. Галкин, В. А. Прохоренко. - Минск : Беларусь, 1993. - 382 с.

12. Бусленко, Н. П. Метод статистических испытаний (Монте-Карло) и его реализация на цифровых вычислительных машинах / Н. П. Бусленко, Ю. А. Шрейдер . - М. : Физматлит, 1961 - 226 с.

13. Волович, Г. И. «Интегрирующие АЦП» [Электронный ресурс] / Г. И. Волович . - Загл. с экрана. - Режим доступа : <http://www.limi.ru/ adcs/adcinteg.htm>

14. Власов, В. В, Теплофизические измерения : справ. пособие / В. В. Власов. - Тамбов: ВНИРТМАШ, 1975. - 256 с.

15. Гаскаров, Д. В. Прогнозирование технического состояния и надежности радиоэлектронной аппаратуры / Д. В. Гаскаров , Т. А. Голинкевич, А. В. Мозгалевский. - М.: Сов. Радио, 1974. - 223 с.

16. Голинкевич, Т. А. Оценка надежности радиоэлектронной аппаратуры / Т. А. Голинкевич. - М. : Сов. радио, 1969. - 176с.

17. Грубо, Е. О. Алгоритмическое обеспечение повышения метрологической надежности средств измерений: дис. канд. техн. наук / Грубо Елена Олеговна.- СПб., 2011. - 135с.

18. Грановский, В. А. Методы обработки экспериментальных данных при измерениях // В. А. Грановский, Т. Н. Сирая. - Л. : Энергоатомиздат, 1990. - 287 с.

19. Гутников, В. С. Интегральная электроника в измерительных устройствах / В. С. Гутников. - Л. : Энергоатомиздат, 1980. - 304 с.

20. Давыдов, П. С. Техническая диагностика радиоэлектронных устройств и систем / П. С. Давыдов. - М. : Радио и связь, 1988. - 256 с

21. Данилов, А. А. Методы установления и корректировки межповерочных и межкалибровочных интервалов средств измерений / А.А. Данилов // Главный метролог. - 2005. - № 6. - С. 29-36.

22. Джексон, Р. Г. Новейшие датчики / Р. Г. Джексон. - М. : Техносфера, 2007. - 384 с.

23. Дрейпер, Н. Прикладной регрессионный анализ : в 2-х кн. / Н. Дрейпер, Г. Смит. - М.: Финансы и статистика, 1986.- 323 с.

24. Екимов, А. В. Надежность средств измерительной техники / А. В.Екимов, М. И. Ревяков. - Л. : Энергоатомиздат, 1986. - 208 с.

25. Екимов, А. В. О метрологической надёжности средств электроизмерительной техники / А. В. Екимов // Измерительная техника. -1984. - № 1. - С. 10-11.

26. Екимов, А. В. Прогнозирование и обеспечение надёжности средств измерений с учётом явных и скрытых отказов / А. В. Екимов, Ю. М. Макаров, М. И. Ревяков // Измерительная техника. - 1990. - № 6. - С. 3-4.

27. Вучков, И. Прикладной регрессионный анализ / И. Вучков, Л. Бояджиева, Е. Солаков. - М. : Финансы и статистика, 1987. - 240 с.

28. Иванов, Б. С. Связь между точностью и надежностью некоторых теплоэнергетических приборов / Б. С. Иванов, Д. В. Свечарник // Измерительная техника. - 1970. - № 5. - С. 76-78.

29. Иванов, Д. М. Переменные резисторы / Д. М. Иванов, В. В. Стальбовский, И. И. Четвертков. - М. : Радио и связь, 1981. - 64с.

30. Игнатов, Д. В. Оценка и повышение метрологической надежности при проектировании средств неразрушающего контроля с учетом температурных режимов их эксплуатации : дис. ... канд. техн. наук / Игнатов Дмитрий Вячеславович. - Тамбов, 2005. — 155 с.

31. Ильин, В.Н. Автоматизация схемотехнического проектирования: учеб. пособие для вузов / В. Н. Ильин, В. Т. Фролкин, А. И. Бутко [ и др.].; под ред. В. Н. Ильина. - М. : Радио и связь, 1987. - 368 с.

32. Каменская, М. А. Информационно-аналитическая система прогнозирования метрологической надежности электронных измерительных средств / М. А. Каменская, Д. В. Поляков // Электронные приборы системы и технологии :сб. науч. тр. 3 Всерос. науч.-практ. конф. студентов, аспирантов и молодых ученых - Томск, 2013. - С. 115-117.

33. Кампур, К. Надежность и проектирование систем / К. Кампур, Л Ламберсон. - М. : Мир, 1980. - 600с.

34. Катковник, В. Я. Непараметрическая идентификация и сглаживание данных: метод локальной аппроксимации / В. Я. Каткович. - М. : Наука, 1985. - 176 с.

35. Кендалл, М. Многомерный статистический анализ и временные ряды / М.Кендалл, А. Стьюарт. - М. : Наука, 1976. - 736 с.

36. Кобзарь, А. И. Прикладная математическая статистика : справ. для инженеров и научных работников / А. И. Кобзарь. — М. : Физматлит, 2006. — 816 с.

37. Купер, Дж. Вероятностные методы анализа сигналов и систем : пер. с англ. / Дж. Купер, К. Макгиллем ; под ред. В. Т. Горяинова. - М. : Мир, 1989.- 376 с.

38. Лабунец, В.С. Изменение надёжности электроизмерительных приборов при их длительной эксплуатации / В. С. Лабунец, А. Б. Маркович, Л. Г. Осадчая [и др.] // Измерительная техника. - 1974. - № 3. - С. 59-60.

39. Люггер, Джордж, Ф. Исскуственный интеллект: стратегии и методы решения сложных проблем : пер. с англ. - 4-е изд. / Джордж Ф. Люггер. - М. : Издат. дом "Вильямс", 2005. - 864 с.

40. Мандельштам, С. М. Информационная надежность / С. М. Мандельштам // Труды Ленинградского института авиационного приборостроения. - 1966. - Вып. 48. - С. 102-109.

41. Мельницкая, Ж. С. Об основных эксплуатационных показаниях качества средств измерений / Ж. С. Мельницкая, П. В. Новицкий // Приборы и системы управления. - 1973. - № 5 . - С. 16-17.

42. Мельницкая, Ж. С. Оценка срока службы электроизмерительных приборов по данным испытаний и эксплуатационный статистики / И. В. Мельницкая // Вопросы надежности электроизмерительных приборов. - М., 1965. - С. 59-67.

43. Мищенко, С. В Метрологическая надежность измерительных средств / С. В. Мищенко ,Э. И. Цветков , Т. И. Чернышова. - М. : Машиностроение-1, 2001. - 96 с.

44. Мозгалевский, А. В. Техническая диагностика: непрерывные объекты / А. В. Мозгалевский, Д. В. Гаскаров. - М. : Высш. школа, 1975. -206 с.

45. Монтгомери, Д. К. Планирование эксперимента и анализ данных: пер. с англ. / Д. К. Монтгомери. - Л. : Судостроение, 1980. - 384 с.

46. Мячин, Ю. А. 180 аналоговых микросхем / Ю. А. Мячин. - М. : Патриот, 1993. - 52 с.

47. Нистратов, М. И. Разработка методов оценки и повышения метрологической надежности средств неразрушающего контроля теплофизических свойств объектов с учетом условий эксплуатации : дис. ... канд. техн. наук / Нистратов Михаил Игоревич. - Тамбов, 2011. — 114 с.

48. Новицкий, П. В. Динамика погрешностей средств измерений / П. В. Новицкий, И. А. Зограф, В. С. Лабунец. - Л. : Энергоатомиздат, 1990. -192 с.

49. Новицкий, П. В. Оценка погрешностей результатов измерений // П. В.Новицкий, И. А. Зоограф. - Л. : Энергоатомиздат, 1991. - 301с.

50. Отхман, Набиль Заки Сабир Метод повышения метрологической надежности аналоговых блоков информационно-измерительных систем : дис. канд. техн. наук / Отхман Набиль Заки Сабир. - Тамбов, 2012. — 114 с.

51. Переверзев, Е. С. Надежность и испытания технических систем / Е. С. Переверзев ; АН УССР ; Ин-т тех. механики. - Киев : Наукова думка, 1990. - 326 с.

52. Пономарев, С.В. Применение математических основ метрологии при оптимизации режимных параметров методов и основных конструкционных размеров устройств для измерения теплофизических свойств веществ: моногр. / С. В. Пономарев, А. Г. Дивин, Д.А. Любимова. -М. : ФГБОУ ВПО «ТГТУ», 2015. - 160 с.

53. Прохоров, Ю.В. Вероятность и математическая статистика: энцикл. / гл. ред. Ю. В. Прохорова. — М.: Большая российская энциклопедия, 2003. — 912с.

54. Ратхор, Т. С. Цифровые измерения. АЦП/ЦАП / Т. С. Ратхор. - М. : Техносфера, 2006. - 392 с.

55. Редькина, В. П. Исследование связи надежности различных групп электроизмерительных приборов с их конструктивными и технологическими особенностями.: автореф.дис.канд.техн.наук /В.П.Редкина. - Киев, 2004.-16 с.

56. РМГ 74 - 2004. Рекомендации по межгосударственной стандартизации. Методы определения межповерочных и межкалибровочных интервалов средств измерений. - 2005. - 28 с.

57. РМГ 29-99 Рекомендации по межгосударственной стандартизации. Метрология. Основные термины и определения. - 2001. -143с.

58. Разработка и оформление конструкторской документации радиоэлектронной аппаратуры: справ. / Э. Т. Романычева, А. К. Иванова [и др.] ; под ред. Э. Т. Романычевой. - 2-е изд., перераб. и доп. - М. : Радио и связь, 1989.- 448 с.

59. Ротенберг, Б. А. Керамические конденсаторные диэлектрики / Б. А. Ротенберг. - СПб.: Типография ОАО НИИ "Гириконд", 2000. - 246 с.

60. Рычина, Т. А. Устройства функциональной электроники и электрорадиоэлементы / Т. А. Рычина, А. В. Зеленский. - М. : Радио и связь, 1989. - 352 с.

61. Свидетельство об официальной регистрации программы для ЭВМ №2008611147 от 4 марта 2008г. "Оценка метрологической надежности средств измерений" / Т.И. Чернышова, М.А. Каменская; заявка №2008610082; заяв. 10.01.2008; зарегистрировано в реестре программ для ЭВМ 04.03.2008.

62. Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ № 2010611090. Оценка основных показателей метрологической

стабильности при эксплуатации электронных измерительных средств / Чернышова Т.И., Каменская М.А.; заявка №2009617131; заяв. 14.12.2009; зарегистрировано в реестре программ для ЭВМ 05.02.2010.

63. Селезнев, А. В. Методика оценки и повышения метрологической надежности средств неразрушающего контроля теплофизических свойств материалов : дис. ... канд. техн. наук / Селезнев Андрей Владимирович. -Тамбов, 2000. — 136 с.

64. Селезнев, А. В. Методика оценки метрологической надежности средств измерений / А. В. Селезнев, Т. И. Чернышова // Труды Тамбовского государственного технического университета. - 1998. - Вып. 2. - С. 122-126.

65. Сергеев, А.Г. Метрология : учеб. пособие / А. Г. Сергеев, В. В. Крохин. - М. : Логос, 2000. - 408 с.

66. Соболь, И. М. Метод Монте - Карло / И. М. Соболь. - М. : Наука, 1968. - 64 с.

67. Тарбеев, Ю. В. Российская метрологическая : энцикл. / Ю. В. Тарбеев. - СПб : Лики России, 2001. - 840с.

68. Тарбеев, Ю. В. Научно-технические перспективы обеспечения надёжности средств измерений / Ю. В. Тарбеев, В. Н. Иванов, П. В. Новицкий // Измерительная техника. - 1982. - № 5. - С. 17-19.

69. Федорков, Б. Г. Микросхемы ЦАП и АЦП: функционирование, параметры, применение / Б. Г. Федорков, В. А. Телец. - М. : Энергоатомиздат, 1990. - 319 с.

70. Фридман, А. Э. Основы метрологии современный курс / А. Э. Фридман. - СПб. : НПО Профессионал, 2008. - 284 с.

71. Фридман, А. Э. Оценка метрологической надежности измерительных приборов и многозначных мер / А. Э. Фридман // Измерительная техника. - 1993. - № 5. - С. 7 - 10.

72. Фридман, А. Э. Теория метрологической надежности средств измерений / А. Э. Фридман // Измерительная техника. - 1991. - № 11. - С. 310.

73. Фрумкин, В. Д. Теория вероятностей и статистика в метрологии и измерительной технике / В. Д. Фрумкин, Н. А. Рубичев. - М. : Машиностроение, 1987. - 168 с.

74. Хоровиц, П. Искусство схемотехники / П. Хоровиц , У. Хилл : в 2-х т. : пер. с англ. - М. : Мир, 1986. - 590 с.

75. Цветков, Э. И. Основы математической метрологии / Э. И. Цветков. - СПб.: Политехника, 2005. - 510 с.

76. Цветков, Э. И. Метрология. Модели. Метрологический анализ. Метрологический синтез / Э. И. Цветков. - СПб. : Изд-во СПбГЭТУ : ЛЭТИ, 2014. - 293 с.

77. Чернышова, Т. И Информационная технология оценки метрологической надежности информационно-измерительных систем / Т.И. Чернышова, М. А. Каменская // Математические методы в технике и технологиях ММТТ-23ХХШ : Междунар. науч. конф., 22-24 июня. - Саратов, 2010. - С. 5-6.

78. Чернышова, Т. И Информационная технология прогнозирования метрологической надежности электронных измерительных средств / Т. И. Чернышова, М. А. Каменская // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций: материалы Всерос. науч. - техн. конф., 12-14 мая 2009 г., Самара / под ред. М.Н. Пиганова.- Самара , 2009 . С. 222-223.

79. Чернышова, Т. И Определение величины межповерочных интервалов при эксплуатации электронных измерительных средств / Т. И. Чернышова, М. А. Каменская // Аспекты ноосферной безопасности в приоритетных направлениях деятельности человека : II междунар.кластерная науч. - практ. конф.,11 февраля 2011 г. - Изд-во "ТР-принт", 2011. - С 89-90.

80. Чернышова, Т. И Оценка метрологической надежности как характеристики качества электронных измерительных средств / Т. И. Чернышова, М. А. Каменская // Торсионные поля и информационные взаимодействия : II Междунар. науч. конф., 28, 29 сентября 2010 года, г Тамбов. - Тамбов, 2010. - С. 175-177.

81. Чернышова, Т. И. Информационная система анализа метрологической исправности электронных измерительных средств / Т. И. Чернышова, М. А. Каменская // Найновите постижения на европейската наука : материали 7-а междунар. науч. - практ. конф. Т. 42 Технологии. -София, 2011. - С. 28-30.

82. Чернышова, Т. И. Информационная технология прогнозирования состояния метрологических характеристик электронных измерительных средств / Т. И. Чернышова , М. А. Каменская // Актуальные проблемы нано-и микроэлектроники: тез. докл. Всерос. науч. шк., 7-8 июля 2011г. - Изд-во Першина Р.В., 2011. -. С 232-234.

83. Чернышова, Т. И. Информационно-аналитическая система оценки и прогнозирования метрологической надежности электронных средств измерений / Т. И. Чернышова, М. А Каменская // MATERIÂLY VIII MEZINÂRODNÎ VËDECKO - PRAKTICKÂ KONFERENCE «APLIKOVANÉ VËDECKÉ NOVINKY - 2012» 27 cervencû- 05 srpna 2012 roku Dil 13 Technické vëdy Tëlovychova a sport. - С. 68-70.

84. Чернышова, Т. И. Математическое моделирование электронных измерительных средств при оценке их метрологической надежности / Т. И. Чернышова , М. А. Каменская // Вестник Тамбовского государственного технического университета. - 2010. - Т. 16, № 4. - С. 770-775.

85. Чернышова, Т. И. Методы и средства неразрушающего контроля теплофизических свойств материалов / Т. И. Чернышова , В. Н. Чернышов // М.: Машиностроение - 1, 2001. - 240 с.

86. Чернышова, Т. И. Оценка качества прогнозирования состояния метрологических характеристик средств неразрушающего контроля / Т. И. Чернышова , М. А. Каменская // Современные методы и средства исследования теплофизических свойств веществ : II Междунар. науч. - техн. конф., 27-30 ноября 2012г. - СПБ.:НИУ ИТМО; ИХиБТ, 2012. - С. 34.

87. Чернышова, Т. И. Прогнозирование состояния метрологических характеристик средств неразрушающего контроля / Т. И. Чернышова, М. А.

Каменская // Современные методы и средства исследований теплофизических свойств веществ : Междунар. науч.- техн. конф., 30ноября-2 декабря 2010г. - СПб.:СПбГУНиПТ,2010. С.34.

88. Чернышова, Т. И. Прогнозирование состояния метрологических характеристик проектируемых средств неразрушающего контроля свойств материалов / Т. И. Чернышова, М. А. Каменская // Современные проблемы и перспективные направления развития авиационных комплексов и систем военного назначения, форм и способов их боевого применения: сб. материалов докл. всерос. науч.- практ. конф., 22-23 ноября 2011, Воронеж. -Воронеж, 2011. - Ч. 3. - С. 225-226.

89. Чернышова, Т. И. Информационная технология оценки метрологической стабильности электронных измерительных средств / Т. И. Чернышова, М. А. Каменская // Вопросы современной науки и практики. Университет имени В.И. Вернадского. - 2011. - Спец. выпуск (36). - С. 79-85.

90. Чернышова, Т. И. Информационно-аналитическая система оценки метрологической надежности электронных измерительных средств / Т. И. Чернышова, М. А. Каменская // Вести Высших учебных заведений Черноземья. - 2011. - № 1. - С. 79-82.

91. Чернышова, Т. И. Оценка достоверности прогнозирования метрологической надежности электронных измерительных средств / Т. И. Чернышова, М. А. Каменская // Вестник Тамбовского государственного технического университета. - 2012. - № 3. - С. 79-82.

92. Чернышова, Т. И. Информационная технология оценки и прогнозирования метрологической исправности измерительных средств / Т. И. Чернышова, М. А. Каменская // Наука и устойчивое развитие общества. Наследие В.И. Вернадского. - 2008. - № 3. - С. 429-430.

93. Чернышова, Т. И. Метрологическая надежность средств неразрушающего контроля теплофизических свойств материалов и изделий : дис. д-ра. техн. наук : 05.11.13 / Т. И. Чернышова ; Тамб. гос. техн. ун-т. -Тамбов, 2002. - 461 с.

94. Чернышова, Т. И. Обобщенный алгоритм оценки и прогнозирования метрологической исправности средств измерений / Т. И. Чернышова, М. А. Каменская // Фундаментальные и прикладные исследования, инновационные технологии, профессиональное образование. -2009. - Т. XIV. - С.86-89.

95. Чернышова, Т. И. Прогнозирование состояния метрологических характеристик электронных измерительных средств с применением последовательности авторегрессии / Т. И. Чернышова, М. А. Каменская // Повышения эффективности средств обработки информации на базе математического моделирования : IX Всерос. науч.-техн. конф. Изд-во Тамб. гос.техн. ун-та, 2009., 2009. - С. 418-421.

96. Чернышова, Т. И. Математическое моделирование электронных измерительных средств при оценке их метрологической надежности / Т. И. Чернышова, М. А. Каменская // Вестник Тамбовского государственного технического университета. - 2010. - № 4. - С. 770-775.

97. Чернышова, Т. И. Информационно-аналитическая система оценки состояния метрологических характеристик электронных измерительных средств./ Т. И. Чернышова, М. А. Каменская // Актуальные проблемы энергосбережения и энергоэффективности в технических системах : Междунар. науч. конф. - Тамбов, 2014. - С. 154-156.

98. Чернышова, Т. И. Информационная технология оценки метрологической стабильности электронных измерительных средств./ Т. И. Чернышова, М. А. Каменская // Вопросы современной науки и практики. Унт имени В.И. Вернадского. - 2011. - Спец. выпуск (36). - С. 79-85.

99. Чернышова, Т. И. Информационная технология оценки метрологической надежности радиоэлектронных измерительных систем // Математические методы в технике и технологиях - ММТТ-27 : сб. тр. XXVII Междунар. науч. конф.: в 12 т. Т.4. Секции 10, 11. - Тамбов, 2014. - С. 153154.

100. Чернышова, Т. И. Оценка эффективности прогнозирования метрологической надежности электронных измерительных средств./ Т. И. Чернышова, М. А. Каменская // Вопросы современной науки и практики. Университет им. В.И. Вернадского. - 2013. - № 3. - C. 301-305.

101. Чернышова, Т. И. Информационно-аналитическая система оценки и прогнозирования метрологической надежности электронных измерительных средств./ Т. И. Чернышова, М. А. Каменская // Вопросы современной науки и практики. Университет им. В.И. Вернадского. - 2014. -Спец. выпуск (52). - C. 111-114.

102. Четвертков, И. И. Резисторы: справ. / Ю. Н. Андреев, А. И. Антонян, Д. М. Морозов и др.; под. ред. И. И. Четверткова. - М. : Энергоиздат, 1981. - 352 с.

103. Шиндяпин, Д. А. Методы повышения метрологической надежности средств контроля теплофизических свойств материалов : дис. ... канд. техн. наук / Шиндяпин Дмитрий Алексеевич.- Тамбов, 2002. — 189 с.

104. Яншин, А.А. Теоретические основы конструирования, технологии и надежности ЭВА : учеб. пособие / А. А. Яншин. - М. : Радио и связь, 1983. - 312 с.

105. CTU FEE Department of Measurement K338. Completed projects: Metrological reliability of measuring systems based on plug-in cards for PC. Yead of the project: doc. Ing Petr Kocourec, CSc. - Р. 35-39.

106. Holub, J. Metrological Reliability of Dithered Quatizer of Plug - in -Card for PC / J. Holub // In: Poster 1997. Prague: CTU, Faculty of Electrical Engineering. - 1997. - Р. 23-24.

107. Justina Dobiliene. Evaluation of metrological reliability of measurement of nitrate concentration in water/ Dobiliene Justina. - Kaunas: University of Technology, Intitute of metrology, 2009 - 16 p.

108. Michael S. Floater. Barycentric rational interpolation with no poles and high rates of approximation / Michael S. Floater and Kai Hormann // Numerische Mathematik. - 2007. - V. 107, № 2. - Р. 315-331.

Акты об использовании результатов диссертационной работы

«Утверждаю»

Первый проректор федерального государственного бюджетного

го учреждения

профессионального «Тамбовский

^¿Образования

технический

Молоткова Н.В. 2016 г.

АКТ

об использовании результатов диссертационной работы Каменской Марии Анатольевны

Комиссия в составе: председатель - зам. директора института энергетики, приборостроения и радиоэлектроники к.т.н., доцент С.Н, Баршутин, члены комиссии: заведующий кафедрой «Конструирование радиоэлектронных и микропроцессорных систем» к.т.н., доцент Н.Г\ Чернышев, д.т.н., профессор З.М. Селиванова составила настоящий акт о том, что результаты разработанной методики оценки метрологической надежности при проектировании аналоговых блоков информационно измерительных систем неразрушающего контроля теплофизических свойств материалов, используются в учебном процессе кафедры «Конструирование радиоэлектронных и микропроцессорных систем» при разработке лекций и практических занятий для подготовки бакалавров по дисциплине «Моделирование в радиоэлектронных средствах» направления 11.03.03 -«Конструирование и технология электронных средств», магистров по дисциплине «Теория измерительного эксперимента» направления 11.04.03 -«Конструирование и технология электронных средств», что позволяет повысить качество учебного процесса,

Председатель комиссии Члены комиссии

С.Н. Баршутин Н.Г Чернышев З.М. Селиванова

< ¿3 » ^Л

2016 г.

Свидетельства о регистрации программ для ЭВМ

Приложение 3

Материалы для проверки адекватности математической модели. Таблица 3.1 Экспериментальные данные исследуемого блока

г т8(г) )

0 0,02471 0,001836

500 0,02482 0,001847

1000 0,02493 0,001858

1500 0,02504 0,001869

2000 0,02515 0,00188

2500 0,02526 0,001891

3000 0,02537 0,001902

3500 0,02548 0,001913

4000 0,02559 0,001924

4500 0,0257 0,001935

5000 0,02581 0,001946

5500 0,02592 0,001957

6000 0,02603 0,001968

6500 0,02614 0,001979

7000 0,02625 0,00199

7500 0,02636 0,002001

8000 0,02647 0,0020012

8500 0,02658 0,0020023

9000 0,02669 0,0020034

Фрагмент исходного кода информационно - аналитической системы оценки метрологической надежности информационно - измерительных систем неразрушающего контроля теплофизических свойств объектов.

Разработанная ИАС создана для оценки метрологической надежности исследуемых аналоговых блоков ИИС. Информационно - аналитическая система позволяет на основе экстраполяции математических моделей процессов изменения метрологических характеристик АБ оценить метрологическую надежность. Интерфейс ИАС позволяет получать данные для оценки показателей метрологической надежности. unit T_rasp;

interface

uses

Windows, SysUtils, Classes, Graphics, Forms,

Dialogs, StdCtrls, Messages, OleCtrls, Variants, SHDocVw, Controls;

type

TtRaspr = class(TForm) TraspBrowser: TWebBrowser; procedure FormShow(Sender: TObject); // блок описания приватны и публичных свойств и методов класса procedure btZicloIzmClick(Sender: TObject); end;

var

tRaspr: TtRaspr;

X_raspr:array[1..18,1..30] of real=((0.00016,0.020,0.115,0.30,0.55,0.87,1.24, 1.65,2.09,2.56,3.1,3.6,4.1,4.7,5.2,5.8,6.4,7.0,7.6,8.3,8.9,9.5,10.2,10.9,11.5, 12.2,12.9,13.6,14.3,15.0),

(0.0006,0.040,0.185,0.43,0.75,1.13,1.56,2.03,2.53,

3.06,3.6,4.2,4.8,5.4,6.0,6.6,7.3,7.9,8.6,9.2,9.9,10.6,11.3,12.0,12.7,13.4,14.1, 14.8,15.6,16.3),

(0.00098,0.051,0.216,0.484,0.831,1.24,1.69,2.18,2.70,3.25,3.82,4.40,5.01,5.63, 6.26,6.91,7.56,8.23,8.91,9.59,10.3,11.0,11.7,12.4,13.1,13.8,14.6,15.3,16.0,16.8),

(0.0039,0.103,0.352,0.71,1.14,1.63,2.17,2.73,3.32,3.94,4.6,5.2,5.9,6.6,7.3,8.0, 8.7,9.4,10.1,10.9,11.6,12.3,13.1,13.8,14.6,15.4,16.2,16.9,17.7,18.5),

(0.016,0.211,0.584,1.06,1.61,2.20,2.83,3.49,4.17,4.86,5.6,6.3,7.0,7.8,8.5,9.3, 10.1,10.9,11.7,12.4,13.2,14.0,14.8,15.7,16.5,17.3,18.1,18.9,19.8,20.6),

(0.0б4,0.44б,1.005,1.б5,2.34,3.07,3.82,4.59,5.38,б.18,7.0,7.8,8.б,9.5,10.3,11.2, 12.0,12.9,13.7,14.б,15.4,1б.3,17.2,18.1,18.9,19.8,20.7,21.б,22.5,23.4),

(0.148,0.713,1.424,2.19,3.00,3.83,4.б7,5.53,б.39,7.27,8.1,9.0,9.9,10.8,11.7,12.б, 13.5,14.4,15.4,1б.3,17.2,18.1,19.0,19.9,20.9,21.8,22.7,23.б,24.б,25.5),

(0.455,1.38б,2.3бб,3.3б,4.35,5.35,б.35,7.34,8.34,9.34,10.3,11.3,12.3,13.3,14.3, 15.3,1б.3,17.3,18.3,19.3,20.3,21.3,22.3,23.3,24.3,25.3,2б.3,27.3,28.3,29.3),

(1.07,2.41,3.бб,4.9,б.1,7.2,8.4,9.5,10.7,11.8,12.9,14.0,15.1,1б.2,17.3,18.4,19.5, 20.б,21.7,22.8,23.9,24.9,2б.0,27.1,28.1,29.3,30.3,31.4,32.5,33.5),

(1.б4,3.22,4.б4,б.0,7.3,8.б,9.8,11.0,12.2,13.4,14.б,15.8,17.0,18.2,19.3,20.5, 21.б,22.8,23.9,25.0,2б.2,27.3,28.4,29.б,30.7,31.8,32.9,34.0,35.1,3б.3),

(2.7,4.б,б.3,7.8,9.2,10.б,12.0,13.4,14.7,1б.0,17.3,18.5,19.8,21.1,22.3,23.5,24.8, 2б.0,27.2,28.4,29.б,30.8,32.0,33.2,34.4,35.б,3б.7,37.9,39.1,40.3),

(3.8,б.0,7.8,9.5,11.1,12.б,14.1,15.5,1б.9,18.3,19.7,21.0,22.4,23.7,25.0,2б.3, 27.б,28.9,30.1,31.4,32.7,33.9,35.2,3б.4,37.7,38.9,40.1,41.3,42.б,43.8),

(5.0,7.4,9.4,11.1,12.8,14.4,1б.0,17.5,19.0,20.5,21.9,23.3,24.7,2б.1,27.5,28.8, 30.2,31.5,32.9,34.2,35.5,3б.8,38.1,39.4,40.б,41.9,43.2,44.5,45.7,47.0),

(5.4,7.8,9.8,11.7,13.4,15.0,1б.б,18.2,19.7,21.2,22.б,24.1,25.5,2б.9,28.3,29.б, 31.0,32.3,33.7,35.0,3б.3,37.7,39.0,40.3,41.б,42.9,44.1,45.4,4б.7,48.0),

(б.б,9.2,11.3,13.3,15.1,1б.8,18.5,20.1,21.7,23.2,24.7,2б.2,27.7,29.1,30.б,32.0, 33.4,34.8,3б.2,37.б,38.9,40.3,41.б,43.0,44.3,45.б,47.0,48.3,49.б,50.9),

(7.9,11.б,12.8,14.9,1б.3,18.б,20.3,21.9,23.б,25.2,2б.8,28.3,29.8,31,32.5,34,35.5, 37,38.5,40,41.5,42.5,44,45.5,47,48,49.5,51,52.5,54),

(9.5,12.4,14.8,1б.9,18.9,20.7,22.б,24.3,2б.1,27.7,29.4,31,32.5,34,35.5,37,38.5, 40,41.5,43,44.5,4б,47.5,48.5,50,51.5,53,54.5,5б,57.5),

(10.83,13.8,1б.3,18.5,20.5,22.5,24.3,2б.1,27.9,29.б,31.3,32.9,34.5,3б.1,37.7, 39.2,40.8,42.3,43.8,45.3,4б.8,48.3,49.7,51.2,52.б,54.1,55.5,5б.9,58.3,59.7));

T_raspr:array[1..10,1..34] of геа1=((1.000,0.81б,0.7б5,0.741,0.727,0.718, 0.711,0.70б,0.703,0.700,0.б97,0.б95,0.б94,0.б92,0.б91,0.б90,0.б89,0.б88,0.б88, 0.б87,0.б8б,0.б8б,0.б85,0.б85,0.б84,0.б84,0.б84,0.б83,0.б83,0.б83,0.б81,0.б79, 0.б77,0.б74),

(1.37б,1.0б1,0.978,0.941,0.920,0.90б,0.89б,0.889,0.883,0.879,0.87б,0.873,0.870,

0.8б8,0.8бб,0.8б5,0.8б3,0.8б2,0.8б1,0.8б0,0.859,0.858,0.858,0.857,0.85б,0.85б,

0.855,0.855,0.854,0.854,0.851,0.848,0.845,0.842),

(1.9б3,1.33б,1.250,1.190,1.15б,1.134,1.119,1.108,1.100,1.093,1.088,1.083,1.079,

1.07б,1.074,1.071,1.0б9,1.0б7,1.0бб,1.0б4,1.0б3,1.0б1,1.0б0,1.059,1.058,1.058,

1.057,1.055,1.055,1.055,1.050,1.04б,1.041,1.03б),

(3.078,1.886,1.638,1.533,1.476,1.440,1.415,1.397,1.383,1.372,1.363,1.356,1.350,

1.345,1.341,1.337,1.333,1.330,1.328,1.325,1.323,1.321,1.319,1.318,1.316,1.315,

1.314,1.313,1.311,1.310,1.303,1.296,1.289,1.282),

(6.314,2.920,2.353,2.132,2.015,1.943,1.895,1.860,1.833,1.812,1.796,1.782,1.771,

1.761,1.753,1.746,1.740,1.734,1.729,1.725,1.721,1.717,1.714,1.711,1.708,1.706,

1.703,1.701,1.699,1.697,1.684,1.671,1.658,1.645),

(12.706,4.303,3.182,2.776,2.571,2.447,2.365,2.306,2.262,2.228,2.201,2.179,2.160,

2.145,2.131,2.120,2.110,2.103,2.093,2.086,2.080,2.074,2.069,2.064,2.060,2.056,

2.052,2.048,2.045,2.042,2.021,2.000,1.980,1.960),

(31.821,6.965,4.541,3.747,3.365,3.143,2.998,2.896,2.821,2.764,2.718,2.681,2.650,

2.624,2.602,2.583,2.567,2.552,2.539,2.528,2.518,2.508,2.500,2.492,2.485,2.479,

2.473,2.467,2.462,2.457,2.423,2.390,2.358,2.326),

(63.657,9.925,5.841,4.604,4.032,3.707,3.499,3.355,3.250,3.169,3.106,3.055,3.012,

2.977,2.947,2.921,2.898,2.878,2.861,2.845,2.831,2.819,2.807,2.797,2.787,2.779,

2.771,2.763,2.756,2.750,2.704,2.660,2.617,2.576),

(636.619,31.598,12.941,8.610,6.859,5.959,5.405,5.041,4.781,4.587,4.487,4.318, 4.221,4.140,4.073,4.015,3.965,3.922,3.883,3.850,3.819,3.792,3.767,3.745,3.725, 3.707,3.690,3.674,3.659,3.646,3.551,3.460,3.373,3.291),

(0.7,0.5095,0.4447,0.4242,0.4142,0.4082,0.4043,0.4015,0.3995,0.3979,0.3966, 0.3956,0.3947,0.394,0.3933,0.3928,0.3923,0.3919,0.3915,0.3912,0.3909,0.3906,

0.3904.0.3902.0.39.0.3898.0.3896.0.3894.0.3893.0.3892.0.389.0.0.0));

implementation {$R *.dfm}

uses Globals, MainForm;

procedure TtRaspr.FormShow(Sender: TObject);

begin

TraspBrowser.Navigate(ExtractFileDir(ParamStr(0)) + '\trasp.htm'); end;

procedure TtRaspr.btZicloIzmClick(Sender: TObject); var

1,j:integer;

res: array [1..30] of double;

sum_C2_8,sum_C2_7,sum_C2_6,sum_C2_5,sum_C2_4,sum_C2_3,sum_C2_2,sum_C2_1:doubl e;

c28,c27,c26,C25,c24,c23,C22,C21,sumxy_C2_2,sumxy_C2_1:double; xy_C2_8,xy_C2_7,xy_C2_6,xy_C2_5,xy_C2_4,xy_C2_3,xy_C2_2,xy_C2_1:double; x2y_C2_8,x2y_C2_7,x2y_C2_6,x2y_C2_5,x2y_C2_4,x2y_C2_3,x2y_C2_2,x2y_C2_1:double; sumxy_C2_8,sumxy_C2_7,sumxy_C2_6,sumxy_C2_5,sumxy_C2_4,sumxy_C2_3:double;

sumx2y_C2_8,sumx2y_C2_7,sumx2y_C2_6,sumx2y_C2_5,sumx2y_C2_4,sumx2y_C2_3:doubl e;

a2_C2_8,a2_C2_7,a2_C2_6,a2_C2_5,a2_C2_4,a2_C2_3,a2_C2_2,a2_C2_1:double; a1_C2_8,a1_C2_7,a1_C2_6,a1_C2_5,a1_C2_4,a1_C2_3,a1_C2_2,a1_C2_1:double; a0_C2_8,a0_C2_7,a0_C2_6,a0_C2_5,a0_C2_4,a0_C2_3,a0_C2_2,a0_C2_1:double; sumx2y_C2_2,sumx2y_C2_1:double;

sum_C1_8,sum_C 1_7,sum_C1_6,sum_C1_5,sum_C1_4,sum_C1_3,sum_C1_2,sum_C1_1:doubl e;

c18,c17,c16,C15,c14,c13,C12,C11,x2y_C1_1,sumxy_C1_2,sumxy_C1_1:double;

xy_C1_8,xy_C1_7,xy_C1_6,xy_C1_5,xy_C1_4,xy_C1_3,xy_C1_2,xy_C1_1:double;

x2y_C1_8,x2y_C1_7,x2y_C 1_6,x2y_C1_5,x2y_C1_4,x2y_C1_3,x2y_C1 _2:double;

sumxy_C1_8,sumxy_C1 _7,sumxy_C1_6,sumxy_C1_5,sumxy_C1_4,sumxy_C1_3:double;

sumx2y_C1_8,sumx2y_C1_7,sumx2y_C1_6,sumx2y_C1_5,sumx2y_C1_4:double;

a2_C1_8,a2_C1_7,a2_C1_6,a2_C1_5,a2_C1_4,a2_C1_3,a2_C1_2,a2_C1_1:double;

a1_C1_8,a1_C1_7,a1_C1_6,a1_C1_5,a1_C1_4,a1_C1_3,a1_C1_2,a1_C1_1:double;

a0_C1_8,a0_C1_7,a0_C1_6,a0_C1_5,a0_C1_4,a0_C1_3,a0_C1_2,a0_C1_1:double;

sumx2y_C1_3,sumx2y_C1_2,sumx2y_C1_1:double;

begin

sum_C1_5:=0; sum_C1_4:=0;sum_C1_3:=0;sum_C1_2:=0;sum_C1_1:=0; sumXY_C1_5:=0; sumXY_C1_4:=0; sumXY_C1_3:=0; sumXY_C1_2:=0; sumXY_C1_1:=0; sumX2Y_C1_5:=0; sumX2Y_C1_4:=0; sumX2Y_C1_3:=0; sumX2Y_C1_2:=0; sumX2Y_C1_1:=0;

sum_C2_7:=0;sum_C2_6:=0;sum_C2_8:=0;sum_C2_5:=0; sum_C2_4:=0;sum_C2_3:=0; sum_C2_2:=0;sum_C2_1:=0;

sum_C2_7:=0;sum_C2_6:=0;sumXY_C2_8:=0;sumXY_C2_5:=0; sumXY_C2_4:=0; sumXY_C2_3:=0; sumXY_C2_2:=0; sumXY_C2_1:=0; sumX2Y_C2_7:=0;sumX2Y_C2_6:=0;sumX2Y_C2_8:=0;sumX2Y_C2_5:=0; sumX2Y_C2_4:=0;

sumX2Y_C2_3:=0; sumX2Y_C2_2:=0; sumX2Y_C2_1:=0; for i:= 0 to 30 do begin

//------------Alpha = 0.70------------------------------------------------------

C1_8[i]:=((i-1)*i) /(x_raspr[7,i] *t_raspr[10,i]);

//------------Alpha = 0.50------------------------------------------------------

C1_6[i]:=((i-1)*i) /(x_raspr[8,i] *t_raspr[1,i]);

//------------Alpha = 0.30------------------------------------------------------

C1_7[i]:=((i-1)*i) /(x_raspr[9,i]*t_raspr[3,i]);

//------------Alpha = 0.20------------------------------------------------------

C1_1[i]:=((i-1)*i) /(x_raspr[10,i] *t_raspr[4,i]);

//------------Alpha = 0.10------------------------------------------------------

C1_2[i]:=((i-1)*i) /(x_raspr[11,i]*t_raspr[5,i]);

//------------Alpha = 0.05------------------------------------------------------

C1_3[i]:=((i-1)*i) /(x_raspr[12,i]*t_raspr[6,i]);

//------------Alpha = 0.02------------------------------------------------------

C1_4[i]:=((i-1)*i) /(x_raspr[14,i]*t_raspr[7,i]);

//------------Alpha = 0.01------------------------------------------------------

C1_5[i]:=((i-1)*i) /(x_raspr[15,i]*t_raspr[8,i]);

//------------Alpha = 0.0001----------------------------------------------------

// C1_6[i]:=((i-1)*i) /(x_raspr[18,i]*t_raspr[9,i]);

//------------1-Alpha = 0.99-(0.01)---------------------

C2_5[i]: =((i- 1)*i) /(x_raspr[1,i]*t_raspr[8,i]);

//------------1-Alpha = 0.98-(0.02)---------------------

C2_4[i]:=((i-1)*i) /(x_raspr[2,i]*t_raspr[7,i]);

//------------1-Alpha = 0.95-(0.05)---------------------

C2_3[i]:=((i-1)*i) /(x_raspr[4,i]*t_raspr[6,i]);

//------------1-Alpha = 0.90-(0.10)---------------------

C2_2[i]:=((i-1)*i) /(x_raspr[5,i]*t_raspr[5,i]);

//------------1-Alpha = 0.80-(0,20)---------------------

C2_1[i]:=((i-1)*i) /(x_raspr[6,i]*t_raspr[4,i]);

//------------1-Alpha = 0.70-(0,30)---------------------

C2_7[i]:=((i-1)*i) /(x_raspr[7,i]*t_raspr[3,i]);

//------------1-Alpha = 0.50-----------------------------

C2_6[i]:=((i-1)*i) /(x_raspr[8,i] *t_raspr[1,i]);

//------------1-Alpha =0,30 (0.70)----------------------

C2_8[i]:=((i-1)*i) /(x_raspr[9,i]*t_raspr[10,i]);

lx2 =i*i;

lx3 =lx2*i;

lx4 =lx3*i;

lx5 =i*lx4;

lx6 =i*lx5;

lsumX:=lsumX+i;

lsumX2:=lsumX2+lx2;

lsumX3:=lsumX3+lx3;

lsumX4:=lsumX4+lx4;

lb12:=lsumX3/lsumX4;

lb13:=lsumX2/lsumX4;

la22:=lsumx2-lsumx3*lb12;

la23:=lsumx-lsumx3*lb13;

la32:=lsumx-lsumx2*lb12;

la33:=30-lsumx2*lb13;

lb23:=la23/la22;

la33_2:=la33-la23*lb23;

//------y (0.01)-----------------------------

sum_C1_5:=C1_5[i]+sum_C1_5;

xy_C1_5:=i*C1_5[i];

x2y_C1_5:=sqr(i)*C1_5[i];

sumXY_C1_5:=sumXY_C1_5+xy_C1_5;

sumX2Y_C1_5:=sumX2Y_C1_5+x2y_C1_5;

lb14:=sumX2Y_C1_5/lsumX4; la24:=sumXY_C1_5-lsumx3*lb14; la34:=sum_C1_5 -lsumx2*lb14; lb24:=la24/la22; la34_2:=la34-la23*lb24;

a2_C1_5:=la34_2/la33_2;

a1_C1_5:=lb24-lb23*a2_C1_5;

a0_C1_5:=lb14-lb13*a2_C1_5-lb12*a1_C1_5;

//--------y (0.02)---------------------------

sum_C1_4:=C1_4[i]+sum_C1_4;

xy_C1_4:=i*C1_4[i]; x2y_C1_4:=sqr(i)*C1_4[i]; sumXY_C1_4:=sumXY_C1_4+xy_C1_4; sumX2Y_C1_4:=sumX2Y_C1_4+x2y_C1_4;

lb14:=sumX2Y_C1_4/lsumX4;

la24:=sumXY_C1_4-lsumX3*lb14;

la34:=sum_C1_4-lsumX2*lb14;

lb24:=la24/la22;

la34_2:=la34-la23*lb24;

a2_C1_4:=la34_2/la33_2;

a1_C1_4:=lb24-lb23*a2_C1_4;

a0_C1_4:=lb14-lb13*a2_C1_4-lb12*a1_C1_4;

//-------- y (0.05)---------------------------

sum_C1_3:=C1_3[i]+sum_C1_3;

xy_C1_3:=i*C1_3[i];

x2y_C1_3:=sqr(i)*C1_3[i];

sumXY_C1_3:=sumXY_C1_3+xy_C1_3;

sumX2Y_C1_3:=sumX2Y_C1_3+x2y_C1_3;

lb14:=sumX2Y_C1_3/lsumX4;

la24:=sumXY_C1_3-lsumX3*lb14;

la34:=sum_C1_3-lsumX2*lb14;

lb24:=la24/la22;

la34_2:=la34-la23*lb24;

a2_C1_3:=la34_2/la33_2;

a1_C1_3:=lb24-lb23*a2_C1_3;

a0_C1_3:=lb14-lb13*a2_C1_3-lb12*a1_C1_3;

//--------y (0.10)---------------------------

sum_C1_2:=C1_2[i]+sum_C1_2;

xy_C1_2:=i*C1_2[i];

x2y_C1_2:=sqr(i)*C1_2[i];

sumXY_C1_2:=sumXY_C1_2+xy_C1_2;

sumX2Y_C1_2:=sumX2Y_C1_2+x2y_C1_2;

lb14:=sumX2Y_C1_2/lsumX4;

la24:=sumXY_C1_2-lsumX3*lb14;

la34:=sum_C1_2-lsumX2*lb14;

lb24:=la24/la22;

la34_2:=la34-la23*lb24;

a2_C1_2:=la34_2/la33_2; a1_C1_2:=lb24-lb23*a2_C1_2; a0_C1_2:=lb14-lb13*a2_C1_2-lb12*a1_C1_2; //-------- y (0.2)---------------------------

sum_C1_1:=C1_1[i]+sum_C1_1; xy_C1_1:=i*C1_1[i]; x2y_C1_1:=sqr(i)*C1_1[i]; sumXY_C1_1:=sumXY_C1_1+xy_C1_1;

sumX2Y_C1_1:=sumX2Y_C1_1+x2y_C1_1;

lb14:=sumX2Y_C1_1/lsumX4; la24:=sumXY_C1_1 -lsumX3*lb14; la34:=sum_C1_1-lsumX2*lb14; lb24:=la24/la22; la34_2:=la34-la23*lb24;

a2_C1_1:=la34_2/la33_2; a1_C1_1:=lb24-lb23*a2_C1_1; a0_C1_1:=lb14-lb13*a2_C1_1-lb12*a1_C1_1; //--------y (0.3)----------------------------

sum_C1_7:=C1_7[i]+sum_C1_7;

xy_C1_7:=i*C1_7[i];

x2y_C1_7:=sqr(i)*C1_7[i];

sumXY_C1_7:=sumXY_C1_7+xy_C1_7;

sumX2Y_C1_7:=sumX2Y_C1_7+x2y_C1_7;

lb14:=sumX2Y_C1_7/lsumX4; la24:=sumXY_C1_7-lsumX3*lb14; la34:=sum_C1_7 -lsumX2*lb14; lb24:=la24/la22; la34_2:=la34-la23*lb24;

a2_C1_7:=la34_2/la33_2; a1_C1_7:=lb24-lb23*a2_C1_7; a0_C1_7:=lb14-lb13*a2_C1_7-lb12*a1_C1_7; //--------y (0.5)----------------------------

sum_C1_б:=C1_б[i]+sum_C1_б;

xy_C1_6:=i*C1_6[i];

x2y_C1_6:=sqr(i)*C1_6[i];

sumXY_C1_6:=sumXY_C1_6+xy_C1_6;

sumX2Y_C1_6:=sumX2Y_C1_6+x2y_C1_6;

lb14:=sumX2Y_C1_6/lsumX4; la24:=sumXY_C1_6-lsumX3*lb14; la34:=sum_C1_6 -lsumX2*lb14; lb24:=la24/la22; la34_2:=la34-la23*lb24;

a2_C1_6:=la34_2/la33_2; a1_C1_6:=lb24-lb23*a2_C1_6; a0_C1_6:=lb14-lb13*a2_C1_6-lb12*a1_C1_6; //-------- y (0.7)---------------------------

sum_C1_8:=C1_8[i]+sum_C1_8;

xy_C1_8:=i*C1_8[i];

x2y_C1_8:=sqr(i)*C1_8[i];

sumXY_C1_8:=sumXY_C1_8+xy_C1_8;

sumX2Y_C1_8:=sumX2Y_C1_8+x2y_C1_8;

lb14:=sumX2Y_C1_8/lsumX4;

la24:=sumXY_C1_8-lsumX3*lb14;

la34:=sum_C1_8-lsumX2*lb14;

lb24:=la24/la22;

la34_2:=la34-la23*lb24;

a2_C1_8:=la34_2/la33_2;

a1_C1_8:=lb24-lb23*a2_C1_8;

a0_C1_8:=lb14-lb13*a2_C1_8-lb12*a1_C1_8;

//------1-Alpha = 0.99-(0.01)--------------------------

sum_C2_5:=C2_5[i]+sum_C2_5;

xy_C2_5:=i*C2_5[i];

x2y_C2_5:=sqr(i)*C2_5[i];

sumXY_C2_5:=sumXY_C2_5+xy_C2_5;

sumX2Y_C2_5:=sumX2Y_C2_5+x2y_C2_5;

lb14:=sumX2Y_C2_5/lsumX4; la24:=sumXY_C2_5-lsumx3*lb14; la34:=sum_C2_5 -lsumx2*lb14; lb24:=la24/la22; la34_2:=la34-la23*lb24;

a2_C2_5:=la34_2/la33_2; a1_C2_5:=lb24-lb23*a2_C2_5; a0_C2_5:=lb14-lb13*a2_C2_5 -lb12*a1_C2_5;

//--------1-Alpha = 0.98-(0.02)------------------------

sum_C2_4:=C2_4[i]+sum_C2_4;

xy_C2_4:=i*C2_4[i];

x2y_C2_4:=sqr(i)*C2_4[i];

sumXY_C2_4:=sumXY_C2_4+xy_C2_4;

sumX2Y_C2_4:=sumX2Y_C2_4+x2y_C2_4;

lb14:=sumX2Y_C2_4/lsumX4;

la24:=sumXY_C2_4-lsumX3*lb14;

la34:=sum_C2_4-lsumX2*lb14;

lb24:=la24/la22;

la34_2:=la34-la23*lb24;

a2_C2_4:=la34_2/la33_2;

a1_C2_4:=lb24-lb23*a2_C2_4;

a0_C2_4:=lb14-lb13*a2_C2_4-lb12*a1_C2_4;

//--------1-Alpha = 0.95-(0.05)------------------------

sum_C2_3:=C2_3[i]+sum_C2_3;

xy_C2_3:=i*C2_3[i];

x2y_C2_3:=sqr(i)*C2_3[i];

sumXY_C2_3:=sumXY_C2_3+xy_C2_3;

sumX2Y_C2_3:=sumX2Y_C2_3+x2y_C2_3;

lb14:=sumX2Y_C2_3/lsumX4; la24:=sumXY_C2_3 -lsumX3*lb14;

la34:=sum_C2_3 -lsumX2*lb14;

lb24:=la24/la22;

la34_2:=la34-la23*lb24;

a2_C2_3:=la34_2/la33_2; a1_C2_3:=lb24-lb23*a2_C2_3; a0_C2_3:=lb14-lb13*a2_C2_3 -lb12*a1_C2_3;

//--------1-Alpha = 0.90-(0.10)------------------------

sum_C2_2:=C2_2[i]+sum_C2_2;

xy_C2_2:=i*C2_2[i];

x2y_C2_2:=sqr(i)*C2_2[i];

sumXY_C2_2:=sumXY_C2_4+xy_C2_4;

sumX2Y_C2_2:=sumX2Y_C2_2+x2y_C2_2;

lb14:=sumX2Y_C2_2/lsumX4; la24:=sumXY_C2_2-lsumX3*lb14; la34:=sum_C2_2 -lsumX2*lb14; lb24:=la24/la22; la34_2:=la34-la23*lb24; a2_C2_2:=la34_2/la33_2; a1_C2_2:=lb24-lb23*a2_C2_2; a0_C2_2:=lb14-lb13*a2_C2_2-lb12*a1_C2_2; //--------1-Alpha = 0.80-(0.2)--------------------------