Электронная микроскопия структуры аморфных и нанокристаллических сплавов тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 01.04.07, кандидат наук Пустовалов, Евгений Владиславович

• Пустовалов, Евгений Владиславович
• кандидат наук
• 2018

Оглавление диссертации кандидат наук Пустовалов, Евгений Владиславович

Оглавление

Введение

Глава 1 Обзор литературы по методам электронной микроскопии,

аморфным и нанокристаллическим сплавам

1.1 Современные методы электронной микроскопии и их

развитие

1.1.1 Методы восстановления волновой функции на выходе объекта

1.1.2 Развитие теории метода электронной микроскопии

1.1.3 Метод фокальных серий

1.1.4 Электронная томография

1.1.5 Методы исследования функции передачи контраста

1.1.6 Метод сканирующей просвечивающей микроскопии

1.1.7 Программное обеспечение

1.1.8 Алгоритмы моделирования и обработки изображений

1.1.9 Исследование технических параметров электронного микроскопа

1.1.10 Методы статистической обработки изображений

1.1.11 Развитие новых методик и техники эксперимента

1.1.12 Исследование магнитной структуры

1.1.13 Развитие методик «Тп-БЙи» исследований

1.1.14 Развитие методик подготовки образцов

1.2 Обзор современных аморфных и нанокристаллических металлических сплавов

1.2.1 Структурная релаксация и кристаллизация

1.2.2 Магнитные свойства

1.2.3 Механические свойства

1.2.4 Каталитические и коррозионные свойства

1.2.5 Локальная атомная структура

1.2.6 Моделирование структуры и свойств АМС

1.2.7 Наноструктурированные АМС

Заключение и постановка задачи

Глава 2 Материалы и методы

2.1 Материалы

2.1.1 Исследуемые аморфные и нанокристаллические сплавы

2.2 Методы исследования

2.2.1 Подготовка образцов к исследованиям

2.2.2 Сканирующая электронная микроскопия, микроанализ, вторичная ионная масс-спектрометрия

2.2.3 Просвечивающая и сканирующая просвечивающая электронная микроскопия

2.2.4 Электронно-микроскопические «т^йи» эксперименты

2.2.5 Электронная томография

2.2.6 Обработка результатов экспериментов

2.3 Свойства аморфных лент Со58М10Ее581пБ16

2.3.1 Морфология поверхности и ее параметризация

2.3.2 Рентгеноструктурный анализ

2.3.3 Позитронная аннигиляционная спектроскопия

2.3.4 Дифференциальная сканирующая калориметрия

2.3.5 Элементный состав

2.3.6 Магнитные свойства

2.3.7 Коррозионные свойства

2.3.8 Микротвердость

Глава 3 Атомная структура аморфных и нанокристаллических сплавов в

процессах структурной релаксации и кристаллизации

3.1 Атомная структура АМНС в исходном состоянии

3.2 Электронно-микроскопические и дифракционные "т^йи" исследования структуры АМНС в процессах термической обработки

3.3 Атомная структура АМНС в процессах структурной релаксации и кристаллизации

Выводы по главе

Глава 4 Электронная томография аморфных и нанокристаллических

сплавов

Выводы по главе

Глава 5 Моделирование атомной структуры, обработка и моделирование

электронно-микроскопических изображений

5.1 Моделирование атомной структуры

5.2 Обработка электронно-микроскопических изображений,

картин электронной дифракции и автоматизация экспериментов

5.3 Моделирование электронно-микроскопических изображений аморфной и нанокристаллической структуры

5.4 Обработка и моделирование результатов электронной томографии

Выводы по главе

Заключение

Список использованных источников

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Электронная микроскопия структуры аморфных и нанокристаллических сплавов»

Введение

Актуальность. Современное технологическое общество требует создания материалов с улучшенными, новыми свойствами, и направляет значительные ресурсы на их разработку. Свойства материалов определяются химическим составом и структурой, от атомного уровня до макромасштаба, формируемой технологическими процессами. Многие из свойств являются структурно чувствительными, что делает задачу исследования многомасштабной структуры актуальной задачей исследования, разработки новых материалов, прогнозирования их свойств. Наиболее информативной группой методов исследования структуры является электронная микроскопия, включая дифракцию электронов. Дополненная аналитическими методами, основанными на взаимодействии электронов с веществом, электронная микроскопия находится на переднем крае современных исследований твердого тела [1]. В настоящей работе основной фокус установлен на применение методов высокоразрешающей электронной микроскопии, включая просвечивающую и сканирующую просвечивающую электронную микроскопию атомного разрешения (ПЭМ/СПЭМ), к задачам исследования структуры аморфных и нанокристаллических сплавов.

Степень разработанности темы. Приближаясь к 90-летнему юбилею, электронная микроскопия активно развивается, перешагнув порог разрешения в 1 Ангстрем на стыке столетий, предлагает экспериментаторам новые комплексные методы исследования, например, сверхбыстрый просвечивающий электронный микроскоп с фемтосекундным разрешением [2] или исследования структуры в жидкостной или газовой среде [3-6]. Теоретическая разработка и практическая реализация ассиметричных электромагнитных линз, развитие компьютеризированных средств управления, повышение стабильности источников тока и напряжения позволило вывести на рынок электронные микроскопы с

корректором аберраций. Коррекция аберраций объективной линзы, так называемый корректор изображения, позволяет получить разрешение на уровне десятков пикометров, а корректор аберраций конденсорной линзы позволяет получить пучок электронов диаметром порядка 50 пм. Уменьшение аберраций привело к развитию новых методов электронной микроскопии, например, фокальных серий в СПЭМ режиме [7-9], а также комбинированных методов, например, СПЭМ томографии в сочетании с фокальными сериями [10,11].

В данной работе значительное внимание уделяется методам обработки результатов электронно-микроскопических исследований, в том числе предлагается новый метод определения рельефа объекта по результатам обработки изображений фокальной серии, полученных в просвечивающем электронном микроскопе.

В последние десятилетия активно совершенствуются не только оптические системы электронных микроскопов, но и системы регистрации сигнала. Например, вместо камер с зарядовой связью (ПЗС/CCD) используются камеры с прямой регистрацией электронов, имеющие лучшие показатели передаточной функции и чувствительность на уровне отдельных электронов [12]. Увеличенный динамический диапазон делает возможным регистрацию картин электронной дифракции от областей размером с диаметр электронного пучка. В сочетании с компьютеризированным управлением регистрация картин электронной дифракции в СПЭМ режиме позволяет получить карту картин дифракции и рассчитать ориентацию кристаллографических фаз. Применение корректоров аберраций позволило увеличить расстояние между полюсниками объективной линзы, увеличивая таким образом свободное место вокруг держателя образца. Это позволяет установить детекторы отраженных/вторичных электронов непосредственно в камеру образца и получать дополнительную информацию о поверхности объекта. Увеличенная камера образца дает возможность размещения

детекторов для регистрации характеристических гамма квантов, большей площади соответственно повышая чувствительность систем химического микроанализа.

Метод электронной томографии, основанный на регистрации проекций структуры образца под различными углами наклона, также требует большего пространства между полюсниками объективной линзы, особенно при исследовании непериодических структур, например, таких как, биологические объекты и наноструктурированные аморфные сплавы. И если в случае с биологическими объектами зачастую необходимость в высоком разрешении отсутствует, то для приложений материаловедения необходимо разрешение на субнанометровом уровне.

Компьютеризация микроскопа существенно расширила возможности исследователей, например, создавая свои программы или сценарии управления микроскопом и проведения экспериментов. Компьютерная обработка сигнала позволяет получать новую информацию о структуре и свойствах объекта исследования, предлагая ученым новые детекторы, например, многосегментный кольцевой детектор рассеянных электронов, позволяющий детектировать наличие магнитного поля в образце при выключенной объективной линзе [13-15]. Данные, получаемые в результате электронно-микроскопических исследований, зачастую имеют огромный объем, и это относится не только к томографическим экспериментам. Например, трехмерные данные в экспериментах картирования элементного состава с записью полного спектра в каждой точке или четырехмерные, при картировании в режиме дифракции электронов, когда в каждой точке двумерной карты зарегистрирована двумерная картина нанодифракции [16] имеют также огромный объем. Эффективная обработка таких массивов не возможна без использования высокопроизводительных компьютеров с адаптированными к большим массивам данных алгоритмов.

В настоящей работе значительное внимание уделено новым алгоритмам обработки электронно-микроскопических данных, разработке программного обеспечения, в том числе с использованием параллельных алгоритмов и графических процессоров.

На любом этапе развития промышленности требуются материалы с улучшенными, новыми свойствами, это касается как функциональных, так и

конструкционных материалов. Экстенсивный путь развития — это поиск новых составов, легирование; интенсивный - поиск технологии, способной изменить свойства. Одной из новых технологий 20 века стало сверхбыстрое охлаждение, или закалка, приведшая к появлению нового класса материалов - аморфных металлических сплавов, металлических стекол (АМС). В отличие от обычных оксидных стекол и полимеров, где неупорядоченное состояние сохраняется благодаря сложным, длинным молекулам или сильным ковалентным связям, структура АМС остается неупорядоченной благодаря составу с глубокими эвтектиками и технологии быстрой закалки. Несмотря на кажущуюся очевидность причин аморфизации металлических сплавов, исследователи до сих пор не пришли к единому мнению относительно критериев, определяющих возможность аморфизации того или иного многокомпонентного сплава [17-20]. Неупорядоченная структура твердых тел характеризуется большей внутренней энергией и в целом нестабильна. В отличие от конечного количества кристаллографических групп [21], комбинаций неупорядоченной структуры бесконечное множество, причем эти состояния могут отличаться по энергии, что обуславливает наличие локальных минимумов внутренней энергии, различных по глубине. Нахождение в глубоком локальном минимуме обеспечивает большую стабильность структуры и свойств [22]. Именно уникальная комбинация свойств делает АМС такими привлекательными, функциональными и конструкционными материалами, а нестабильность структуры и свойств не позволяет использовать АМС в полной мере. Задача исследователя - определить факторы, позволяющие привести структуру АМС в метастабильное состояние и влияющие на стабильность структуры и свойств [23]. В качестве внешних воздействий чаще всего используют температуру, радиационное облучение и механические деформации [24,25]. Причем незначительные, по суммарной энергии, воздействия могут приводить к существенным изменениям структуры и свойств. Это обуславливает необходимость исследования ранних стадий релаксации структуры [25-29], когда изменения свойств находятся в диапазоне ошибки измерения. Ввиду многофакторной, сложной связи состава, структуры, технологии и свойств,

оптимально проводить комплексные исследования структуры и свойств с максимальным охватом химических, физических, механических характеристик АМС [30].

Но несмотря на многообразие методов и большие данные, получаемые в ходе экспериментов, исследователи далеки от понимая взаимосвязи: технология-структура-свойства.

Настоящая работа является частью комплексных исследований, проводимых в Лаборатории электронной микроскопии и обработки изображений Дальневосточного федерального университета в рамках НИР: «Структурные и физические характеристики функциональных наноструктур и наноустройств методами современной электронной микроскопии - развитие методологии и ее приложения», ДВФУ №13-09-0311-м_а, 2013-2015г.; «Создание новых аморфных и нанокристаллических материалов», ДВФУ № 13-09-0312-м_а, 2013-2015г.; «Исследование микроструктуры аморфных и нанокристаллических сплавов и ее динамики в процессах структурной релаксации и кристаллизации. Фундаментальное исследование», Госзадание № 01200063339, 2009-2013г.; «Исследование прямыми методами структуры функциональных иерархических аморфных и нанокристаллических сплавов с заданными служебными свойствами в процессах структурной релаксации» Госзадание МОН РФ № 2.8649.2013, 2012 -2014 г.; «Разработка методов формирования и исследование структурных, магнитных и транспортных свойств наносистем» Госзадание МОН РФ № 559, 2014-2017г.; «Магнитные свойства и многомасштабная структура наноматериалов», Госзадание №3.7383.2017/БЧ, 2017-2019г.; «Исследование наноструктурных превращений в функциональных аморфных сплавах на основе металлов группы железа, легированных вольфрамом при внешних термических воздействиях» РФФИ 15-02-06545_а 2015-2016г., "Фундаментальные основы формирования наноструктурированных материалов из аморфных и многослойных матриц в условиях термического и радиационного воздействий" Федеральная целевая программа "Кадры". ГК № 14.740.11.1015 2011-2013г. и других.

Цель и задачи работы. Целью настоящей работы является исследование многомасштабной структуры аморфных сплавов, взаимосвязи структуры и свойств, развитие методов электронно-микроскопического исследования и моделирования неупорядоченных структур. Для достижения поставленной цели необходимо решить следующие задачи:

- исследовать атомную структуру аморфных сплавов в исходном состоянии;

- исследовать динамику атомной структуры и состава аморфных сплавов при термическом воздействии;

- исследовать многомасштабную структуру аморфных сплавов методом электронной томографии;

- разработать методы и параллельные вычислительные алгоритмы обработки результатов и моделирования электронно-микроскопических экспериментов по исследованию аморфной структуры;

- разработать алгоритмы и параллельные вычислительные методы обработки результатов и моделирования электронно-томографических экспериментов.

Научная новизна работы. В ходе выполнения работы получены следующие новые научные результаты:

- предложены корреляционные модели и установлена взаимосвязь между технологическими условиями получения, характеристиками атомной структуры и физико-химическими свойствами АМС системы CoNiFeSiB;

- установлено наличие высоких скоростей диффузии на начальных стадиях кристаллизации АМС систем CoP-CoNiP, CoW-CoNiW;

- обнаружено зарождение и растворение атомных кластеров с упорядоченной структурой на начальных стадиях кристаллизации;

- установлено, что начальная стадия кристаллизации АМС происходит преимущественно за счет поверхностного роста нанокристаллов;

- разработан метод определения рельефа тонких пленок с нанометровой точностью по фокальным сериям изображений структуры в просвечивающем электронном микроскопе;

- установлено, что статистические характеристики многомасштабного распределения объемов структурных неоднородностей в АМС систем CoP-CoNiP, CoW-CoNiW подчиняются классическому распределению Парето или модифицированному, вне зависимости от использования ПЭМ, СПЭМ или СПЭМ томографии;

- разработаны алгоритмы и комплекс программ обработки результатов и моделирования электронно-микроскопических экспериментов с визуализацией в реальном режиме времени с использованием графических процессоров;

- разработаны алгоритмы и комплекс программ для обработки результатов и моделирования электронно-томографических экспериментов с использованием 2-х и более графических процессоров.

Теоретическая и практическая значимость работы. Полученные в работе результаты вносят значительный вклад в фундаментное понимание природы аморфного состояния, позволяют приблизиться к пониманию взаимосвязи: состава-технологии-структуры-свойств аморфных металлических сплавов. Предлагаемые корреляционные модели устанавливают зависимость характеристик структуры от технологических параметров и физико-химических свойств. Установленные закономерности могут быть использованы на практике для получения материалов с измененными свойствами. Разработанные программные комплексы могут быть использованы для обработки результатов экспериментов и моделирования электронно-микроскопических исследований.

Методология и методы исследования. В проведенных исследованиях использовались как общие методологические подходы построения экспериментов, разработки теоретических положений, алгоритмов и программ, обеспечения

достоверности и повторяемости, так и узкоспециальные методики электронно-микроскопических исследований, корреляционного анализа, параллельного программирования. В работе использовались как стандартное оборудование (электронные микроскопы, аналитическое оборудование, вычислительные средства), так и специально разработанные держатели, управляющие блоки. Для расчетов использовались численные методы и известные уравнения математической физики.

Основные положения, выносимые на защиту:

- метод исследования рельефа тонких пленок по сериям фокальных изображений в просвечивающем электронном микроскопе с корректором аберраций объективной линзы;

- корреляционные модели взаимосвязи технологических условий получения, физико-химических свойств и характеристик атомной структуры сплавов системы CoNiFeSiB;

- установленные плотности зародышей с упорядоченной атомной структурой в пленках аморфных сплавов систем CoP-CoNiP, CoW-CoNiW в исходном состоянии и при нагреве;

- установленное зарождение и растворение атомных кластеров с упорядоченной структурой на начальных стадиях кристаллизации в структуре пленок аморфных металлических сплавов системы CoP-CoNiP;

- обнаруженные высокие скорости диффузии и преимущественно поверхностный рост нанокристаллов на начальной стадии кристаллизации пленок аморфных и нанокристаллических сплавов систем CoP-CoNiP, CoW-CoNiW;

- статистические закономерности многомасштабного распределения объемов структурных неоднородностей в пленках аморфных и нанокристаллических сплавов систем CoP-CoNiP, CoW-CoNiW.

Степень достоверности. Достоверность результатов работы подтверждается использованием известных методик исследований, повторяемостью экспериментальных и расчетных результатов. Результаты экспериментальных исследований согласуются с теоретическими положениями.

Апробация результатов. Основные результаты диссертационной работы докладывались автором и с его участием в более чем 60 докладах на научных конференциях, конгрессах, симпозиумах и семинарах различного уровня: 10th European Congress on Electron Microscopy, Granada, Spain, 1992; Российская конференция по электронной микроскопии, Черноголовка 1998, 2000, 2008, 2012, 2014; 8th Asia-Pacific Conference On Electron Microscopy, Japan (Kanazawa), 2004; European Microscopy Congress, Belgium (Antverp), 2004; 14th European Microscopy Congress, Aachen, Germany, 2008; 2nd Asian Symp.on Adv.Mat. Shanghai 2009; Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials (ASCO-NANOMAT), Vladivostok, 2015, 2017, 2018; Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, г.Черноголовка, 2013, 2015; Materials Science and Energy Engineering (CMSEE 2014) Sanya, Hainan, China 2014; The 23rd International Congress on Glass (ICG2013), Prague, Czech Republic, 2013; 12th International conference on the structure of noncrystalline materials (NCM12), Riva del Garda, Italy, 2013; 15-th European Microscopy Congress (EMC-2012), Manchester, United Kingdom, 2012; International Conference on Industrial Engineering, Vladivostok, 2017; Международный форум «Техноюнити -Электроннолучевые технологии для микроэлектроники 2017», г. Москва, Зеленоград, 2017.

Публикации. По теме диссертации опубликовано 27 статей в рецензируемых научных журналах, а также в материалах научных международных, всероссийских и региональных конференций. По результатам работы получено два патента (на полезную модель и на метод), получено 14 свидетельств о регистрации программ для ЭВМ. Методические аспекты диссертационной работы опробованы в исследованиях полупроводниковых, магнитных и биологических материалов, опубликованных в 32 статьях.

Личный вклад автора. Автором определены цели и задачи экспериментальных исследований, моделирования и обработки результатов экспериментов. Все изложенные в диссертации результаты исследований получены самим автором или при непосредственном руководстве автором. Большая часть программ для ЭВМ разработаны лично автором.

Структура и объем диссертации. Диссертационная работа состоит из введения, пяти глав, заключения и списка использованных источников. Общий объем работы составляет 383 страницы, включая 176 рисунков, 28 таблиц и библиографию 415 наименований.

Глава 1 Обзор литературы по методам электронной микроскопии, аморфным и нанокристаллическим сплавам

1.1 Современные методы электронной микроскопии и их развитие

Электронная микроскопия, отметив свой 80 летний юбилей, на сегодняшний день является одним из самых информативных методов прямого исследования структуры. За это время развитие метода привело к появлению новых методик, например, таких как сканирующая просвечивающая микроскопия (STEM) c высокоугловым кольцевым темнопольным детектором (HAADF), сочетающая преимущества прямого разрешения атомов и аналитические возможности определения химического состава на атомном уровне. Атомное разрешение в просвечивающей электронной микроскопии (TEM) было бы невозможным без теоретических исследований в области асимметричных магнитных линз, что привело к созданию в конце 90-х годов прошлого века корректоров аберраций объективной линзы и осветителя. Техническая реализация коррекции аберраций стала возможна с широким применением компьютерной техники и увеличением ее производительности. Как и любой другой экспериментальный метод, электронная микроскопия неотделима от методов обработки и моделирования результатов. К обработке результатов относятся методы фильтрации, призванные улучшить соотношение сигнал/шум и выделить периодические объекты на изображении, статистические методы обработки, в том числе многомасштабные, используемые для выделения полезного сигнала из изображения, многомасштабные методы, такие, как вейвлет анализ, необходимые для разбиения изображение на пространственные уровни, которые можно анализировать затем самостоятельно, элементы метода искусственного интеллекта, используемые для распознавания образов, также нелинейная, итеративная обработка изображений, позволяющая получать новую

информацию о структуре исследуемого объекта. Моделирование результатов эксперимента можно разделить по методам электронной микроскопии, например, TEM, STEM, и по объекту моделирования, например, сама атомная структура образца и система формирования изображений в электронном микроскопе. Хороший обзор с попыткой выявить некоторые тенденции среди множества способов последующей обработки изображений в области микроскопии приведен в [31]. В обзоре выделено девять тем, они охватывают следующие области: обработка сигналов, статистический анализ, искусственный интеллект, трехмерная микроскопия, многомерная микроскопия, комплексная микроскопя, теория, моделирование и междисциплинарность. Отдельная тема посвящена тенденции к полуавтоматизации вместо полной автоматизации обработки изображений. В обзоре [32] рассматриваются аспекты трехмерной микроскопии биологических объектов с акцентом на достижимое разрешение структуры.

В данной главе мы не будем останавливаться на базовых теоретических положениях и основах электронной микроскопии, которые замечательно представлены в ставших уже классическими книгах: Борн М., Вольф Э. «Основы оптики» [33]; Каули Дж. «Физика дифракции» [34]; Розе Х. «Geometrical Charged-Particle Optics» [35], освещающие теоретически положения; Хирш П. и др. «Электронная микроскопия тонких кристаллов» [36], с уклоном в практическое применение; Киркланд Е.Дж. «Advanced Computing in Electron Microscopy» [37] по моделированию электронно-микроскопических изображений, а также книга, посвященная общим вопросам обработки изображений «Цифровая обработка изображений» Гонсалес и Вудс [38].

В ДВГУ, а затем и в ДВФУ, коллектив авторов, занимающихся вопросами обработки и моделирования электронно-микроскопических изображений, выпустил несколько монографий [39-43] по развиваемым направлениям.

Первый раздел представляет обзор современных и перспективных направлений развития электронной микроскопии в преломлении через точку зрения автора. Второй раздел - краткий обзор современных направлений исследования аморфных и нанокристаллических металлических сплавов (АМС). Мы не будем останавливаться на базовых понятиях, успевших стать классическим фундаментом в исследовании АМС, за десятилетия исследования было опубликовано много обзорных работ [44-51], монографий и сборников [52-61]. В этих работах подробно и детально освящены вопросы истории создания АМС, подходы к моделированию атомной структуры, критерии стеклообразования, приведены широко известные составы сплавов и другие характеристики и параметры. За последнее десятилетие защищено много диссертационных исследований как в России, так и за рубежом [62 -68]. Отдельно хочется отметить огромный вклад в исследование АМС, вносимый научными группами ИФТТ РАН [69], Черноголовка, ЦНИИЧЕРМЕТ им. Бардина [70], Москва, ИФФТ им. Киренского, Красноярск [71], НИТУ МИСИС, Москва [72], НЦПМ Пермского национального исследовательского политехнического университета, Пермь [73], Научно-исследовательский центр "Курчатовский Институт" [74], ИФТТ НАН Беларуси, Минск [75].

Обзор не претендует на всеобъемлющий охват опубликованных материалов, а всего лишь авторский срез наиболее интересных публикаций.

1.1.1 Методы восстановления волновой функции на выходе из объекта

Любое современное экспериментальное исследование приносит ожидаемые результаты, если опирается на теоретические предпосылки, моделирование и расчеты.

В этой связи стоит отметить интенсивно развивающуюся область создания новой информации на основе обработки данных (data fusion), таких как, например, итеративная реконструкция волновой функции (IWFR). Она является одним из видов линейной голографии и восстанавливает

комплексную волновую функцию из набора фокальных изображений. Авторы [76] показывают, что IWFR обеспечивает очень хорошую оценку атомного разрешения волновой функции в плоскости образца (EWF) просто из преобразований Фурье наблюдаемой интенсивности. Таким образом, первое приближение EWF, используя только пять изображений, позволяет получить все особенности конечного результата, и сходимость IWFR происходит очень быстро. IWFR может использовать большой диапазон шага дефокусировки, а общее количество промежутков дефокусировки или шаг дефокусировки не являются существенными. Абсолютная дефокусировка может быть оценена путем распространения EWF к плоскости, в направлении распространения волновой функции, на которой имеется минимальное изменение амплитуды. Даже когда есть некоторые ошибки в расчете коэффициента сферической аберрации, EWF искажается из-за аберраций, возникающих из-за ошибки оценки величины аберраций. Остаточная ошибка может быть скорректирована при реконструкции сложной волновой функции. С развитием микроскопов, с повышенной стабильностью параметров эксперимента, такой подход становится более реалистичным, и получая несколько изображений с хорошим качеством, можно выполнить дополнительную обработку изображений, такую как IWFR. Восстановление волновой функции на выходе из объекта необходимо, чтобы исследовать объект с использованием Cs-корректированного микроскопа, так как намеренно введенную аберрацию для усиления фазового контраста объекта желательно устранить путем постобработки. Данный метод может быть использован для получения дополнительной информации об объекте исследования.

Восстановление волновой функции после прохождения объекта также необходимо, чтобы определить количество неизвестных параметров структуры, таких как положение и состав столбцов атомов на атомном уровне. Существующие методы обеспечивают расчет комплексной волновой функции на плоской поверхности, близкой к плоскости, в которой электроны вылетают из столбцов атомов. Однако из-за локального отклонения в плоскости

поверхности выхода возможно смещение между плоскостью реконструкции и фактическим выходом конкретного атомного столбца. Используя теорию каналирования, в работе [77] было показано, что изменение дефокусировки помогает определять столбец атомов за столбцом. Также, шероховатость поверхности может быть определена количественно на атомном уровне. Но результат сильно зависит от начальной плоскости реконструкции особенно в кристаллической структуре. Если эта поверхность находится дальше от истинного выхода, то волны от столбцов атомов становятся делокализованными и сильно усложняют интерпретацию выходной волны с точки зрения локальной структуры. В этой работе более систематически изучается делокализация с дефокусировкой, используя теорию каналирования.

Список литературы диссертационного исследования кандидат наук Пустовалов, Евгений Владиславович, 2018 год

Список использованных источников

1. Handbook of Nanoscopy: 2 books set/ Ed. Gustaaf van Tendeloo, Dirk van Dyck, Stephen J. Pennycook. - Darmstadt: John Wiley & Sons, 2012. - Books 1-2. - 1450 P.

2. Андреев, С.В. Сверхбыстрый просвечивающий электронный микроскоп для исследования динамики процессов, индуцированных фемтосекундным лазерным излучением/ С.В. Андреев, С.А. Асеев, В.Н. Баграташвили, Н.С. Воробьев, А.А. Ищенко, В.О. Компанец, А.Л. Малиновский, Б.Н. Миронов, А.А. Тимофеев, С.В. Чекалин, Е.В. Шашков, Е.А. Рябов //Квантовая электроника. - 2017. - Т.47, .№2. - С.116-122.

3. Sharma, R. Environmental Transmission Electron Microscopy in Nanotechnology / R. Sharma, P.A. Crozier // Handbook of Microscopy for Nanotechnology/ Yao N., Wang Z.L. (eds). - Springer, Boston, MA, 2005. -P.531-565.

4. Hansen, T. Environmental Transmission Electron Microscopy in an Aberration-Corrected Environment/ T. Hansen, J. Wagner //Microsc. Microanal. - Vol.18, N 4. - 2012. - P.684-690.

5. Takeda, S. Environmental transmission electron microscopy for catalyst materials using a spherical aberration corrector/ Seiji Takeda, Yasufumi Kuwauchi, Hideto Yoshida //Ultramic. - Vol.151. - 2015. - P. 178-190.

6. Walther, T. What environmental transmission electron microscopy measures and how this links to diffusivity: thermodynamics versus kinetics/ T. Walther // J Microsc. - 2015. - Vol.257. - P.87-91.

7. Jones, L. Applications of focal-series data in scanning-transmission electron microscopy: PhD thesis/ Lewys Jones. - Oxford University, 2013. - 183p.

8. Jones, L. Focal Series Reconstruction in Annular Dark-Field STEM / L. Jones, P. Nellist// Microsc. Microanal. - 2012. - Vol. 18, N S2. - P.1214-1215.

9. van Benthem, K. Three-dimensional ADF imaging of individual atoms by through-focal series scanning transmission electron microscopy/ Klaus van Benthem, Andrew R. Lupini, Mark P. Oxley, Scott D. Findlay, Leslie J. Allen, Stephen J. Pennycook // Ultramicrosc. - 2006. - Vol. 106, N 11-12. - P. 10621068.

10. Trepout, S. Scanning transmission electron microscopy through-focal tilt-series on biological specimens/ Sylvain Trepout, Cedric Messaoudi, Sylvie Perrot, Philippe Bastin, Sergio Marco // Micron. - 2015. - Vol. 77. - P. 9-15.

11. Dahmen, T. Combined Scanning Transmission Electron Microscopy Tilt- and Focal Series/ T. Dahmen, J. Baudoin, A. Lupini, C. Kübel, P. Slusallek, N. De Jonge//Microsc. Microanal. - 2014. - Vol.20, N 2. - P. 548-560.

12. Milazzo, A.-C. Characterization of a direct detection device imaging camera for transmission electron microscopy/ Anna-Clare Milazzo, Grigore Moldovan, Jason Lanman, Liang Jin, James C. Bouwer, Stuart Klienfelder, Steven T. Peltier, Mark H. Ellisman, Angus I. Kirkland, Nguyen-Huu Xuong//Ultramic. - 2010. - Vol. 110, N 7. - P. 741-744.

13. Lopatin, S. Multiscale differential phase contrast analysis with a unitary detector/ Sergei Lopatin, Yurii P. Ivanov, Jurgen Kosel, Andrey Chuvilin// Ultramic. - 2016. - Vol. 162. - P. 74-81.

14. Zhang, J. Y. Variable-angle high-angle annular dark-field imaging: application to three-dimensional dopant atom profiling/ Jack Y. Zhang, Jinwoo Hwang, Brandon J. Isaac & Susanne Stemmer // Sci. Rep. - 2015. - Vol. 5. - 12419.

15. Jones, L. Quantitative ADF STEM: acquisition, analysis and interpretation/ L. Jones // IOP Conf. Series: Mat. Sci. Eng. - 2016. - Vol.109. - 012008.

16. Jesse, S. Big Data Analytics for Scanning Transmission Electron Microscopy Ptychography/ S. Jesse, M. Chi, A. Belianinov, C. Beekman, S. V. Kalinin, A. Y. Borisevich, A. R. Lupini // Sci. Rep. - 2016. - Vol. 6. - P.26348.

17. Inoue, A. Glass-forming ability of alloys/ Akihisa Inoue, Tao Zhang and Tsuyoshi Masumoto //J Non-Cryst. Sol. - 1993. - Vol.156-158. - P. 473-480

18. Takeuchi, A. Classification of Bulk Metallic Glasses by Atomic Size Difference, Heat of Mixing and Period of Constituent Elements and Its Application to Characterization of the Main Alloying Element/ Akira Takeuchi and Akihisa Inoue // Mat. Transact. - 2005. - Vol. 46, N 12. - P. 2817 - 2829.

19. Long, Z. A new criterion for predicting the glass-forming ability of bulk metallic glasses/ Zhilin Long, Hongqin Wei, Yanhuan Ding, Ping Zhang, Guoqiang Xie, Akihisa Inoue // J Alloys Comp. - 2009. - Vol. 475, N 1-2. -P. 207-219.

20. de Oliveira, M. F. A simple criterion to predict the glass forming ability of metallic alloys/ M. F. de Oliveira// J. Appl. Phys. -2012. - Vol.111. - P.023509.

21. Современная кристаллография: в 4-х т. / под ред. Б.К.Вайнштейн, А.А.Чернов, Л.А.Шувалов. - М.Наука. - 1979.

22. Zbigniew, H. Stachurski Fundamentals of Amorphous Solids: Structure and Properties/ H. Zbigniew - Wiley-VCH (Verlag), 2015. 260 p.

23. Louzguine-Luzgin, D.V. Nano-devitrification of glassy alloys. / D.V. Louzguine-Luzgin, A. Inoue //J Nanosci. Nanotech. - 2005. - Vol.5, N 7. -P.999-1014.

24. Zhao, C. Significant improvement of soft magnetic properties for Fe(Co)BPSiC amorphous alloys by magnetic field annealing/ Chengliang Zhao, Anding Wang, Shiqiang Yue, Tao Liu, Aina He, Chuntao Chang, Xinmin Wang, Chain-Tsuan Liu//J Alloys Comp. - 2018. - Vol. 742. - P.220-225.

25. Jiang, M. Q. Shear band dilatation in amorphous alloys/ M. Q. Jiang, G. Wilde, L. H. Dai // Scr. Mat. - 2017. - Vol.127. - P.54-57.

26. Ratushnyak, S.L. Aging and deformation of metallic glasses/ S.L. Ratushnyak, N.O. Gonchukova //Glass Phys. Chem. - 2007. - Vol.33, N 2. - P. 130-135.

27. Louzguine-Luzgin, D.V. Pd40Ni40Si5P15 bulk metallic glass properties variation as a function of sample thickness/ D.V. Louzguine-Luzgin, N. Chen, V.Yu. Zadorozhnyy, I. Seki, A. Inoue, // Intermet. - 2013. - Vol.33. - P. 6772.

28. Apreutesei, M. Microstructural, thermal and mechanical behavior of co-sputtered binary Zr-Cu thin film metallic glasses/ M. Apreutesei, P. Steyer, L. Joly-Pottuz, A. Billard, J. Qiao, S. Cardinal, F. Sanchette, J.M. Pelletier, C. Esnouf/ Thin Sol. Films. - 2014. - Vol.561. - P. 53-59.

29. Oellers, T. Microstructure and mechanical properties in the thin film system Cu-Zr/ T. Oellers, R. Raghavan, J. Chakraborty, C. Kirchlechner, A. Kostka, C.H. Liebscher, G. Dehm, A. Ludwig// Thin Sol. Films. - 2018. - Vol.645. -P.193-202.

30. Louzguine, D.V. Metallic Glasses and Their Composites/ D.V. Louzguine/ Mat. Res. Foundations. - 2018. - Vol. 19. - 334 P.

31. Bonnet, N. Some trends in microscope image processing/ Noel Bonnet //Micron. - 2004. - Vol.35. -P.635-653.

32. Sorzano, C.O.S. A review of resolution measures and related aspects in 3D Electron Microscopy/ C.O.S. Sorzano, J. Vargas, J. Otón, V. Abrishami, J.M. de la Rosa-Trevín, J. Gómez-Blanco, J.L. Vilas, R. Marabini, J.M. Carazo // Prog. Biophys. Mol. Bio. - 2017. - Vol.124. - P.1-30.

33. Борн, М. Основы оптики /Борн М., Вольф Э. - Изд. 2-е. Перевод с английского. - М.:Наука, 1973. - 713 с.

34. Каули, Дж. Физика дифракции / Дж. Каули - Пер. с англ. А.С. Авилова, Л.И. Ман. Под ред. З.Г. Пинскера. — М.: Мир, 1979. — 431 с.

35. Rose, H. Geometrical Charged-Particle Optics / Harald Rose - Berlin Heidelberg: Springer-Verlag, 2012. - 507 p.

36. Хирш, П. Электронная микроскопия тонких кристаллов / П. Хирш, А. Хови, Р.Николсон, Д.Пэшли, М.Уэлан - Пер. с англ. - М.:Мир,1968. - 575 с.

37. Kirkland, Earl J. Advanced Computing in Electron Microscopy / E. J. Kirkland - Springer US. -2010. -289 p.

38. Гонсалес, Р. Цифровая обработка изображений / Р. Гонсалес, Р. Вудс - М.: Техносфера, 2005. - 1072 с.

39. Грудин, Б.Н. Оптические системы обработки изображений [Электронный ресурс]: учебное пособие / Б. Н. Грудин, В. С. Плотников; М-во образования и науки Российской Федерации, Дальневосточный федеральный ун-т. - Владивосток: ДВФУ, 2015.

40. Грудин, Б.Н. Обработка и моделирование микроскопических изображений / Б. Н. Грудин, В. С. Плотников. - Владивосток: Дальнаука, 2010. - 348 с.

41. Грудин, Б.Н. Моделирование и анализ изображений в электронной и оптической микроскопии / Б. Н. Грудин, В. С. Плотников, В. К. Фищенко.

- Владивосток: Дальнаука, 2001. - 220 c.

42. Грудин, Б.Н. Исследования неупорядоченных сред по электроннооптическим изображениям / Б.Н. Грудин, В.С. Плотников, В.К. Фищенко. - Владивосток: Изд-во Дальневост. ун-та, 1999. - 358 c.

43. Грудин, Б.Н. Методы анализа и моделирования микроскопических изображений [Электронный ресурс]: научное электронное издание: монография / Б. Н. Грудин, В. С. Плотников; М-во образования и науки Российской Федерации, Дальневосточный федеральный ун-т, Шк. естественных наук. - Владивосток: ДВФУ, 2014.

44. Gaskell, P.H. Local and medium range structures in amorphous alloys/ P.H. Gaskell // J. Non-Cryst. Solids. - 1985. - V. 75 - №2. - P 329-346.

45. Золотухин, И.В. Физические свойства аморфных металлических материалов/ И.В. Золотухин - М.: Металлургия, 1986. - 176 C.

46. Золотухин, И. В. Аморфные металлические сплавы/ И.В. Золотухин, Ю.Е. Калинин //УФН. - 1990. - Т.160, №9. С. 75-110.

47. Алехин, В.П. Структура и физические закономерности деформации аморфных сплавов / В.П. Алехин, В.А. Хоник. - М.: Металлургия, 1992. -286 C.

48. Hashimoto, K. What we have learned from studies on chemical properties of amorphous alloys?/ Koji Hashimoto // App. Surf. Sci. -2011. - Vol. 257, N 19.

- P. 8141-8150.

49. Андриевский, Р.А. Прочность наноструктур/ Р.А. Андриевский, A.M. Глезер // УФН. - 2009. - Т.179, №4. - С.337-358.

50. Андриевский, Р.А. Размерные эффекты в нанокристаллических материалах. 1. Особенности структуры. Термодинамика. Фазовые равновесия. Кинетические явления / Р.А. Андриевский, А.М. Глезер// ФММ. - 1999. - Т. 88. - С. 50-73.

51. Андриевский, Р.А. Размерные эффекты в нанокристаллических материалах. 2. Механические и физические свойства / Р.А. Андриевский, А.М. Глезер // ФММ. - 2000. - T. 89, No 1. - С.91-112.

52. Козлов, Э.В. Основы пластической деформации наноструктурных материалов/ Э.В. Козлов, А.М. Глезер, Н.А. Конева, Н.А. Попова, И.А. Курзина; А.М. Глезер (ред.). — М.: Физматлит, 2016. — 304 с.

53. Глезер, А. М. Аморфно-нанокристаллические сплавы / А. М. Глезер, Н. А. Шурыгина. - М.: Физматлит, 2014. - 450 с

54. Глезер, А. М. Нанокристаллы, закаленные из расплава / А. М. Глезер, И. Е. Пермякова. - М.: Физматлит, 2012. - 359 с.

55. Abrosimova, G. Amorphous and Nanocrystalline Metallic Alloys, Progress in Metallic Alloys / Galina Abrosimova and Alexandr Aronin; Dr. Vadim Glebovsky (Ed.). - InTech, 2016. DOI: 10.5772/64499. Available from: https://www.intechopen.com/books/progress-in-metallic-alloys/amorphous-and-nanocrystalline-metallic-alloys

56. Белащенко, Д.К. Компьютерное моделирование жидких и аморфных веществ: Научное издание/ Д.К. Белащенко - М.: МИСИС, 2005. - 408 с.

57. Куницкий, Ю.А. Некристаллические металлические материалы и покрытия в технике/ Ю.А. Куницкий, В.Н. Коржик, Ю.С. Борисов - Киев: Техника, 1988. - 197с.

58. Глезер, А.М. Структура и механические свойства аморфных сплавов/ А.М. Глезер, Б.В. Молотилов - М.: Металлургия, 1992. - 208 с.

59. Судзуки, К. Аморфные металлы/ К. Судзуки, X. Фудзимори, К. Хасимото - М.: Металлургия, 1987. - 328 С.

60. Металлические стёкла / Под ред. Дж.Дж.Гилмана и Х.Дж.Лими. Пер. с англ. - М.: Металлургия, 1984. - 264 C.

61. Herzer, G. Nanocrystalline soft magnetic alloys. Handbook of magnetic materials. V. 10. Edited by K. H. J. Bushow / G. Herzer - Amsterdam: Elsevier Science, 1997. 415-462.p

62. Абросимова, Г.Е. Эволюция структуры металлических стекол при внешних воздействиях: дис. ... докт. физ.-мат. наук/ Г.Е. Абросимова -Черноголовка, 2012. - 294 с.

63. Томчук, А.А. Закономерности формирования структуры и свойств в сплавe FeNi при мегапластической деформации кручением под высоким квазигидростатическим давлением: дисс. ... канд. физ.-мат. наук / А.А. Томчук - Москва - 2017. 145 с.

64. Орлова, Н.Н. Влияние механических напряжений на структуру, фазовые превращения и свойства аморфных сплавов: дисс. ... канд. физ.-мат. наук / Н.Н. Орлова - Черноголовка, 2014. - 133с.

65. Модин, Е.Б. Особенности структуры электролитически осажденных аморфных металлических сплавов CoP-CoNiP, CoW-CoNiW: дисс. ... канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / Е.Б. Модин - Владивосток, 2015. - 133 с.

66. Liu, X. A Study on iron-based amorphous alloys: alloy development, thermodynamics and soft magnetism: Dissertation (Ph.D.)/ Xiao Liu -California Institute of Technology, 2014. - 89 p.

67. Baumer, R. E. Atomistic simulations of radiation damage in amorphous metal alloys: Dissertation (Ph.D.)/ Richard Edward Baumer - Massachusetts Institute of Technology, Department of Materials Science and Engineering, 2013. 131p.

68. Mei, J. Titanium-based Bulk Metallic Glasses: Glass Forming Ability and Mechanical Behavior: Thesis Ph. D./ Jinna MEI - Grenoble. - 2009. - 255 p.

69. Лаборатория структурных исследований ИФФТ РАН, Черноголовка. -Режим доступа: http://www.issp.ac.ru/lsa/index.html

70. Институт металловедения и физики металлов им. Г.В. Курдюмова, ЦНИИчермет им. И.П.Бардина. - Режим доступа:

http://www. chermet.net/index. php?option=com_content&view=article&id= 19 :2010-06-08-16-27-45&catid=4:struktura&Itemid=22

71. Лаборатория физики магнитных пленок, ИФ СО РАН. - Режим доступа: http://kirensky.ru/ru/institute/labs/phmf/phmf

72. Институт новых материалов и нанотехнологий НИТУ МИСИС. - Режим доступа: http ://misis. ru/university/struktura-universiteta/instituty/inmin/

73. НЦПМ Пермского национального исследовательского политехнического университета. - Режим доступа: http: //pstu.ru/title 1/departments/centres/ncpm/

74. Научно-исследовательский центр "Курчатовский Институт". - Режим доступа: http://www.nrcki.ru/

75. Институт физики твердого тела и полупроводников НАН Беларуси. -Режим доступа http://ifttp.bas-net.by/

76. Ishizuka, K. Phase retrieval from image intensities: Why does exit wave restoration using IWFR work so well?/ Kazuo Ishizuka //Microscopy. - 2013. -Vol.62, N1. - P.S109-S118.

77. Wang, A. A method to determine the local surface profile from reconstructed exit waves / A. Wang, F.R. Chen, S. Van Aert, D.A Van Dyck//Ultramic. -2011. - Vol.111, N8. - P.1352-1359.

78. De Backer, A. High precision measurements of atom column positions using model-based exit wave reconstruction/ A. De Backer, S. Van Aert, D. Van Dyck//Ultramic. - 2011. - Vol.111, N9-10. - P.1475-1482.

79. Wang, A. Direct structure inversion from exit waves: Part I: Theory and simulations / A. Wang, F.R. Chen, S. Van Aert, D. Van Dyck //Ultramic. -2010. - Vol.110, N5. -P.527-534.

80. Wang, A. Direct structure inversion from exit waves. Part II: A practical example / A. Wang, F.R. Chen, S. Van Aert, D. Van Dyck //Ultramic. - 2012. - vol.116. -P.77-85.

81. Haigh, S. J. Recording low and high spatial frequencies in exit wave reconstructions / S. J. Haigh, B. Jiang, D. Alloyeau, C. Kisielowski, Kirkland, A. I. //Ultramic. - 2013. - Vol.133. - P.26-34.

82. Howie, A. Near field and exit wave computations for electron microscopy / A. Howie//Ultramic. - 2013. - Vol.134. - P.62-67.

83. Smith, D.J. Exploring aberration-corrected electron microscopy for compound semiconductors/ David J. Smith, Toshihiro Aoki, John Mardinly, Lin Zhou, Martha R. McCartney //Microscopy. - 2013. - vol.62, N 1. - P.S65-S73.

84. Kimoto, K. Quantitative evaluation of temporal partial coherence using 3D Fourier transforms of through-focus TEM images / K. Kimoto, H. Sawada, T. Sasaki, Y. Sato, T. Nagai, M. Ohwada, K. Suenaga, K. Ishizuka//Ultramic. -2013. - Vol.134. P.86-93.

85. Fernandez, J. J. Computational methods for electron tomography/ J.J. Fernandez //Micron. - 2012. - vol.43, N10. -P.1010-1030.

86. Zheng, S. Q. Automated Data Collection for Electron Microscopic Tomography/ S.Q. Zheng, J.W. Sedat, D.A. Agard// Methods Enzymol. - 2010. - Vol. 481. - P.283-315.

87. Zheng, Q. S. An improved strategy for automated electron microscopic tomography/ Q.S. Zheng, M.B. Braunfeld, J.W. Sedat, D.A. Agard//J. Struc. Biol. - 2004. - Vol.147, N2. -P.91-101.

88. Chen, S. High-resolution noise substitution to measure overfitting and validate resolution in 3D structure determination by single particle electron cryomicroscopy/ S. Chen, G. McMullan, A.R. Faruqi, G. N. Murshudov, J.M. Short, S.H.W. Scheres, R. Henderson//Ultramic. - 2013. - Vol.135. -P.24-35.

89. Fernandez, J. J. Image processing and 3-D reconstruction in electron microscopy/ J.J. Fernandez, C.O.S. Sorzano, R. Marabini, J. M. Carazo//Sig. Process. Mag., IEEE. - 2006. - Vol.23, N3. -P.84-94.

90. Hermann, G. ANIMATED-TEM: a toolbox for electron microscope automation based on image analysis/ G. Hermann, N. Coudray, J.L. Buessler,

D. Caujolle-Bert, H.W. Rmigy, J.P. Urban//Mach. Vis. Appl. - 2012. - Vol.23, N4. -P.691-711.

91. Leary, R. Compressed sensing electron tomography/ R. Leary, Z. Saghi, P. A. Midgley, D.J. Holland//Ultramic. - 2013. - Vol.131. p.70-91.

92. Mastronarde, D. N. Automated electron microscope tomography using robust prediction of specimen movements/ D.N. Mastronarde// J. Struc. Biol. - 2005. - Vol.152, N1. -P.36-51.

93. Heidari, M. H. A practical method to determine the effective resolution in incoherent experimental electron tomography/ M.H. Heidari, W. Van den Broek, S. Bals//Ultramic. - 2011. - Vol.111, N5. -P.330-336.

94. Jornsanoh, P. Electron tomography combining ESEM and STEM: A new 3D imaging technique/ P. Jornsanoh, G. Thollet, J. Ferreira, K. Masenelli-Varlot, C. Gauthier, A. Bogner//Ultramic. - 2011. - Vol.111, N8. -P.1247-1254.

95. Houben, L. Refinement procedure for the image alignment in high-resolution electron tomography/ L. Houben, M. Bar Sadan//Ultramic. - 2011. - Vol.111, N9-10, p.1512-1520.

96. Jones, S. D. A new correlation based alignment technique for use in electron tomography/ S.D. Jones, M. Harting//Ultramic. -2013. - Vol.135, N1. - P.56-63.

97. Heidari, H. Quantitative electron tomography: The effect of the three-dimensional point spread function/ H. Heidari, W. Van den Broek, S. Bals //Ultramic. -2013. - Vol.135, N1. - P.1-5.

98. Wolf, D. Weighted simultaneous iterative reconstruction technique for single-axis tomography/ D. Wolf, A. Lubk, H. Lichte//Ultramic. -2014. - Vol.136. -P.15-25.

99. Haberfehlner, G. 3D spatial resolution improvement by dual-axis electron tomography: Application to tri-gate transistors/ G. Haberfehlner, R. Serra, D. Cooper, S. Barraud, P. Bleuet//Ultramic. -2014. - Vol.136. - P.144-153.

100. Voortman, L. M. A fast algorithm for computing and correcting the CTF for tilted, thick specimens in TEM/ L.M. Voortman, S. Stallinga, R.H.M.

Schoenmakers, L.J. van Vliet, B. Rieger//Ultramic. -2011. - Vol.111, N8. -P.1029-1036.

101. Voortman, L. M. Fast, spatially varying CTF correction in TEM/ L.M. Voortman, E.M. Franken, L.J. van Vliet, B. Rieger//Ultramic. -2012. - Vol.118. - P.26-34.

102. Vulovic, M. Precise and unbiased estimation of astigmatism and defocus in transmission electron microscopy/ M. Vulovic, E. Franken, R.B.G. Ravelli, L.J. van Vliet, b. Rieger//Ultramic. - 2012. - Vol.116, N0. - P.115-134.

103. Van Aert, S. Quantitative atomic resolution mapping using high-angle annular dark field scanning transmission electron microscopy/ S. Van Aert, J. Verbeeck, R. Erni, S. Bals, M. Luysberg, D.V. Dyck, G.V. Tendeloo //Ultramic. -2009. - Vol.109, N10. - P.1236-1244.

104. Crewe, A. V. Visibility of Single Atoms/ A. V. Crewe, J. Wall, J. Langmore // Science. - 1970. - Vol.168, N3937. - P.1338-1340.

105. Sousa, A. A. Development and application of STEM for the biological sciences/ A.A. Sousa, R.D. Leapman//Ultramic. - 2012. - Vol.123. - P.38-49.

106. Zuo, J. M. Lattice and strain analysis of atomic resolution Z-contrast images based on template matching/ J.M. Zuo, A.B. Shah, H. Kim, Y. Meng, W. Gao, J.L. Rouviere//Ultramic. - 2014. - Vol.136. - P.50-60.

107. Findlay, S. D. Enhanced light element imaging in atomic resolution scanning transmission electron microscopy/ S.D. Findlay, Y. Kohno, L.A. Cardamone, Y. Ikuhara, N. Shibata//Ultramic. - 2014. - Vol.136. - P.31-41.

108. Kotaka, Y. Image formation mechanisms of spherical aberration corrected BF STEM imaging methods /Y. Kotaka, T. Yamazaki, M. Ohtsuka, K. Watanabe//Ultramic. - 2014. - Vol.136. - P.119-126.

109. Stadelmann, P.A. EMS - a software package for electron diffraction analysis and HREM image simulation in materials science/ P.A. Stadelmann // Ultramic. -- 1987. - Vol. 21, N2. - P. 131-145.

110. Lobato, I. Progress and new advances in simulating electron microscopy datasets using MULTEM/ I. Lobato, S. Van Aert, J. Verbeeck // Ultramic -2016. - Vol. 168. - P.17-27.

111. Oelerich, J.O. STEMsalabim: A high-performance computing cluster friendly code for scanning transmission electron microscopy image simulations of thin specimens/ Jan Oliver Oelerich, Lennart Duschek, Jürgen Belz, Andreas Beyer, Sergei D. Baranovskii, Kerstin Volz // Ultramic. - 2017. - Vol. 177. - P.91-96.

112. De Backer, A. StatSTEM: An efficient approach for accurate and precise model-based quantification of atomic resolution electron microscopy images/ A. De Backer, K.H.W. van den Bos, W. Van den Broek, J. Sijbers, S. Van Aert // Ultramic. -2016. - Vol. 171. - P.104-116.

113. Maraghechi, S. Correction of scan line shift artifacts in scanning electron microscopy - an extended digital image correlation framework// Siavash Maraghechi, Johan P.M. Hoefnagels, Ron H.J. Peerlings, Marc G.D Geers //Ultramic. - 2018. - Vol.187 -P.144-163.

114. Grillo, V. STEM_CELL: A software tool for electron microscopy. Part 2 analysis of crystalline materials/ V. Grillo, F. Rossi//Ultramic. - 2013. -Vol.125. - P.112-129.

115. Grillo, V. STEM_CELL: A software tool for electron microscopy: Part I -simulations/ V. Grillo, F. Rossi //Ultramic. - 2013. - Vol.125, N1. - P.97-111.

116. Kawasaki, T. Practical method to determine the filter shape function used in the three-dimensional Fourier filtering method / T. Kawasaki, M. Taya, Y. Takai//J. Electr. Mic. - 2004. - Vol.53, N3. - P.271-275.

117. den Dekker, A. J. Estimation of unknown structure parameters from highresolution (S)TEM images: What are the limits?/A.J. den Dekker, J. Gonnissen, A. De Backer, J. Sijbers, S. Van Aert //Ultramic. - 2013. - Vol.134. - P.34-43.

118. Eggeman, A. S. Ultrafast electron diffraction pattern simulations using GPU technology. Applications to lattice vibrations/ A.S. Eggeman, A. London, P.A. Midgley//Ultramic. -2013. - Vol.134. - P.44-47.

119. Grob, P. Ranking TEM cameras by their response to electron shot noise/ P. Grob, D. Bean, D. Typke, X. Li, E. Nogales, R.M. Glaeser//Ultramic. -2013. -Vol.133. - P.1-7.

120. McLeod, R. A. Characterization of detector modulation-transfer function with noise, edge, and holographic methods/ R.A. McLeod, M. Malac//Ultramic. -2013. - Vol.129. - P.42-52.

121. De Backer, A. Atom counting in HAADF STEM using a statistical modelbased approach: Methodology, possibilities, and inherent limitations/A. De Backer, G.T. Martinez, A. Rosenauer, S. Van Aert//Ultramic. -2013. - Vol.134.

- P.23-33.

122. Krause, F. F. Comparison of intensity and absolute contrast of simulated and experimental high-resolution transmission electron microscopy images for different multislice simulation methods/ F.F. Krause, K. Müller, D. Zillmann, J. Jansen, M. Schowalter, A. Rosenauer//Ultramic. -2013. - Vol.134. - P.94-101.

123. Cossio, P. BioEM: GPU-accelerated computing of Bayesian inference of electron microscopy images/ Pilar Cossio, David Rohr, Fabio Baruffa, Markus Rampp, Volker Lindenstruth, Gerhard Hummer // Comp. Phys. Comm. - 2017.

- Vol. 210. - P.163-171.

124. Wang, A. An alternative approach to determine attainable resolution directly from HREM images/ A. Wang, S. Turner, S. Van Aert, D. Van Dyck //Ultramic. -2013. - Vol.133. - P.50-61.

125. Sannomiya, T. Determination of aberration center of Ronchigram for automated aberration correctors in scanning transmission electron microscopy/ T. Sannomiya, H. Sawada, T. Nakamichi, F. Hosokawa, Y. Nakamura, Y. Tanishiro, K. Takayanagi//Ultramic. -2013. - Vol.135. - P.71-79.

126. Edgcombe, C. J. Imaging of weak phase objects by a Zernike phase plate / C.J. Edgcombe //Ultramic. -2014. - Vol.136. - P.154-159.

127. Danev, R. Practical factors affecting the performance of a thin-film phase plate for transmission electron microscopy/ R. Danev, R.M. Glaeser, K. Nagayama //Ultramic. -2009. - Vol.109, N4. - P.312-325.

128. Glaeser, R. M. Minimizing electrostatic charging of an aperture used to produce in-focus phase contrast in the TEM/ R.M. Glaeser, S. Sassolini, R. Cambie, J. Jin, S. Cabrini, A.K. Schmid R. Danev, B. Buijsse, R. Csencsits, K.H. Downing, D.M. Larson, D. Typke, B.G. Han//Ultramic. -2013. - Vol.135. - P.6-15.

129. Barthel, J. On the optical stability of high-resolution transmission electron microscopes/ J. Barthel, A. Thust//Ultramic. -2013. - Vol.134. - P.6-17.

130. Zhang, C. The use of a central beam stop for contrast enhancement in TEM imaging/ C. Zhang, Q. Xu, P.J. Peters, H. Zandbergen//Ultramic. -2013. -Vol.134. - P.200-206.

131. Higgins, M. K. On the state of crystallography at the dawn of the electron microscopy revolution/ Matthew K. Higgins, Susan M. Lea //Curr. Opin. Str. Biol. -2017. - Vol. 46. - P.95-101.

132. Koning, R. I. Nanofabrication of a gold fiducial array on specimen support for electron tomography/ R.I. Koning, V.G. Kutchoukov, C.W. Hagen, A.J. Koster //Ultramic. -2013. - Vol.135, N1. - P.99-104.

133. Uesugi, F. Strain mapping in selected area electron diffraction method combining a Cs-corrected TEM with a stage scanning system/ F. Uesugi //Ultramic. -2013. - Vol.135. - P.80-83.

134. Morawiec, A. Orientation precision of TEM-based orientation mapping techniques/ A. Morawiec, E. Bouzy, H. Paul, J.J. Fundenberger//Ultramic. -2014. - Vol.136. - P.107-118.

135. Maldonis, J. J. FEMSIM + HRMC: Simulation of and structural refinement using fluctuation electron microscopy for amorphous materials/ Jason J. Maldonis, Jinwoo Hwang, Paul M. Voyles //Comp. Phys. Comm. - 2017. - Vol. 213. - P.217-222.

136. Treacy, M. M. J. When structural noise is the signal: speckle statistics in fluctuation electron microscopy/ M. M. J. Treacy // Ultramic. - 2007. Vol.107. P.166-171.

137. McBride, W. E. Dark field microscopy for diffraction analysis of amorphous carbon solids /W. E. McBride, D. R. McKenzie, D. G. McCulloch, D. J. H. Cockayne, T.C. Petersen/ J. Non-Cryst. Sol. - 2005. - Vol. 351, N5. - P.413-417.

138. Fan, L. Fluctuation microscopy - a tool for examining medium-range order in noncrystalline systems/ L. Fan, I. McNulty, D. Paterson, M. M. J. Treacy and J. M. Gibson/Nuc. Instr. Meth. Phys. Res. B. - 2005. - Vol. 238. -P.196-199.

139. He, L. Measurement of Irradiation-induced Swelling in Stainless Steels with a New Transmission Electron Microscopy Method/ L. He, H. Xu, L. Tan, P. Voyles, K. Sridharan //Micr. and Microan. - 2017. - vol. 23 (S1). - P.2234-2235

140. Faruqi, A.R. Direct imaging detectors for electron microscopy/ A.R. Faruqi, G. McMullan // Nucl. Instrum. Meth. A. - 2018. - Vol. 878. - P.180-190,

141. Florian, F. K. Effects of instrument imperfections on quantitative scanning transmission electron microscopy/ Florian F. Krause, Marco Schowalter, Tim Grieb, Knut Müller-Caspary, Thorsten Mehrtens, Andreas Rosenauer // Ultramic. - 2016. - Vol. 161. - P.146-160.

142. Grillo, V. Generation and application of bessel beams in electron microscopy/ Vincenzo Grillo, Jeremie Harris, Gian Carlo Gazzadi, Roberto Balboni, Erfan Mafakheri, Mark R. Dennis, Stefano Frabboni, Robert W. Boyd, Ebrahim Karimi // Ultramic. -2016. - Vol. 166. - P.48-60.

143. Togawa, Y. Small-angle electron scattering of magnetic fine structures / Yoshihiko Togawa //Microscopy. - 2013. - Vol.62, N 1. - P.S75-S86.

144. Beleggia, M. Phase contrast image simulations for electron holography of magnetic and electric fields/ Marco Beleggia, Giulio Pozzi //Microscopy. -2013. - Vol.62, N1. - P.S43-S54.

145. Harada, K. Lorentz microscopy observation of vortices in high-Tc superconductors using a 1 -MV field emission transmission electron microscope / Ken Harada //Microscopy. - 2013. - Vol.62, N1. - P.S3-S15.

146. Masseboeuf, A. Micromagnetic study of flux-closure states in Fe dots using quantitative Lorentz microscopy/ A. Masseboeuf, O. Fruchart, F. Cheynis, N. Rougemaille, J.C. Toussaint, A. Marty, P. Bayle-Guillemaud//Ultramic. -2012. - Vol.115. - P.26-34.

147. Yamamoto, K. Development of advanced electron holographic techniques and application to industrial materials and devices/ Kazuo Yamamoto, Tsukasa Hirayama, Takayoshi Tanji //Microscopy. 2013. - Vol.62, N 1. - P.S29-S41.

148. Lichte, H. Electron holography for fields in solids: Problems and progress/ H. Lichte F. Börmert, A. Lenk, A. Lubk, F. Röder, J. Sickmann, S. Sturm, K. Vogel, D. Wolf//Ultramic. -2013. - Vol.134. - P.126-134.

149. Rodríguez, L. A. Quantitative in situ magnetization reversal studies in Lorentz microscopy and electron holography/ L.A. Rodríguez, C. Magén, E. Snoeck, C. Gatel, L. Marín, L. Serrano-Ramón, J.L. Prieto, M. Muñoz, P.A. Algarabel, L. Morellon, J.M. De Teresa, M.R. Ibarra//Ultramic. -2013. - Vol.134. - P.144-154.

150. Volkov, V. V. Double-resolution electron holography with simple Fourier transform of fringe-shifted holograms/ V.V. Volkov, M.G. Han, Y. Zhu //Ultramic. -2013. - Vol.134. - P.175-184.

151. Lubk, A. Dynamic scattering theory for dark-field electron holography of 3D strain fields/ A. Lubk, E. Javon, N. Cherkashin, S. Reboh, C. Gatel, M. Hytch //Ultramic. -2014. - Vol.136. - P.42-49.

152. Niermann, T. Creating arrays of electron vortices/ T. Niermann, J. Verbeeck, M. Lehmann//Ultramic. -2014. - Vol.136. - P.165-170.

153. Schattschneider, P. Is magnetic chiral dichroism feasible with electron vortices?/ P. Schattschneider, S. Löffler, M. Stöger-Pollach, J. Verbeeck//Ultramic. -2014. - Vol.136. - P.81-85.

154. Taheri, M. L. Current status and future directions for in situ transmission electron microscopy/ Mitra L. Taheri, Eric A. Stach, Ilke Arslan, P.A. Crozier, Bernd C. Kabius, Thomas LaGrange, Andrew M. Minor, Seiji Takeda, Mihaela Tanase, Jakob B. Wagner, Renu Sharma // Ultramic. - 2016. - Vol. 170. - P.86-95.

155. Zheng, H. Perspectives on in situ electron microscopy/ Haimei Zheng, Yimei Zhu// Ultramic. - 2017. - Vol. 180. - P.188-196.

156. Welch, D. A. Simulating realistic imaging conditions for in situ liquid microscopy/ D.A. Welch, R. Faller, J.E. Evans, N.D. Browning//Ultramic. -2013. - Vol.135. - P.36-42.

157. Castro-Hartmann, P. The ArrayGrid: A methodology for applying multiple samples to a single TEM specimen grid/ P. Castro-Hartmann, G. Heck, J.M. Eltit, P. Fawcett, M. Samso//Ultramic. -2013. - Vol.135. - P.105-112.

158. Dieterle, L. Optimized Ar+-ion milling procedure for TEM cross-section sample preparation/ L. Dieterle, B. Butz, E. Muller//Ultramic. -2011. - Vol. 111, N11. - P.1636-1644.

159. English, T. S. Parallel preparation of plan-view transmission electron microscopy specimens by vapor-phase etching with integrated etch stops/ Timothy S. English, J. Provine, Ann F. Marshall, Ai Leen Koh, Thomas W. Kenny // Ultramic. -2016. - Vol. 166. - P.39-47.

160. Грабчиков, С.С. Аморфные электролитически осажденные металлические сплавы/ С.С. Грабчиков - Мн.: Изд.центр БГУ, 2006. - 186 C.

161. Романов, И.Ю. Воздействие ионного облучения на процесс нанокристаллизации и изменение рельефа поверхности ленты сплава Fe72.5Cu1Nb2Mo1.5Si14B9 / И.Ю. Романов, Н.В.Гущина, В.В. Овчинников, Ф.Ф. Махинько, А.В. Степанов, А.И. Медведев, Ю.Н. Стародубцев, В.Я. Белозеров, Б.А. Логинов // Изв. ВУЗов. Физика. - 2017. - Т.60, №10. - С. 157-165.

162. Rezaei-Shahreza, P. Thermal stability and crystallization process in a Fe-based bulk amorphous alloy: The kinetic analysis/ P. Rezaei-Shahreza, A. Seifoddini, S. Hasani // J Non-Cryst. Sol. -2017. - Vol. 471. - P.286-294.

163. Rezaei-Shahreza, P. Non-isothermal kinetic analysis of nano-crystallization process in (Fe41Co7Cr15Mo14Y2C15)94B6 amorphous alloy/ P. Rezaei-Shahreza, A. Seifoddini, S. Hasani // Thermochim. Acta. -2017. - Vol. 652. -P.119-125.

164. Guo, W. Unusual plasticization for structural relaxed bulk metallic glass/ Wei Guo, Rui Yamada, Junji Saida // Mat. Sci. Eng. A. - 2017. - Vol. 699. - P.81-87.

165. Duarte, M.J. Kinetics and crystallization path of a Fe-based metallic glass alloy/ M.J. Duarte, A. Kostka, D. Crespo, J.A. Jimenez, A.-C. Dippel, F.U. Renner, G. Dehm // Acta Mat. - 2017. - Vol. 127. - P.341-350

166. Спивак, Л. В. Влияние температурной обработки на морфологию поверхности аморфного сплава на основе железа/ Л.В. Спивак, А.В. Сосунов // Фундаментальные проблемы современного материаловедения.

- 2017. -Т.14, №3. - С. 327-331.

167. Абросимова, Г.Е. Изменение структуры аморфных сплавов под действием высокого давления/ Г.Е. Абросимова, А.С. Аронин // ФТТ. -2017. -Т.59, №11. - С. 2227-2234.

168. Комогорцев, С.В. Зависимость коэрцитивной силы от размера зерна в лентах нанокристаллических сплавов Fe64Co21B15/ С.В. Комогорцев, Р.С. Исхаков, А.Д. Балаев, А.А. Гаврилюк // Изв. РАН. Серия Физ. - 2013.

- Т.77, №10. - С. 1442-1444.

169. Grabchikov, S. S. Microstructure of Amorphous Electrodeposited Co-Ni-W Films/ S.S. Grabchikov, O.I. Potuzhnaya, L.V. Sosnovskaya, M.U. Sheleg // Russian Metallurgy (Metally). - 2009. - Vol.2. - P.164-171.

170. Grabchikov, S.S. Effect of the Structure of Amorphous Electrodeposited Ni-W and Ni-Co-W Alloys on Their Crystallization /S.S. Grabchikov, A.M. Yaskovich//Russian Metallurgy (Metally). - 2006. - Vol.1. - P.56-60.

171. Bern, P. Characterization of amorphous Co-P alloy coatings electrodeposited with pulse current using gluconate bath/ Parthasarathi Bera, H. Seenivasan, K.S. Rajam, V.K. William Grips //Appl. Surface Sci. - 2012. - Vol. 258. -P.9544-9553

172. Xu, X. Magnetic anisotropy and crystal structure of Co-P films synthesized by electrodeposition from alkaline electrolytes/ X. Xu, C. Zangari // J Appl. Phys.

- 2006. -Vol. 99. - P. 08M304-08M304-3.

173. Ciudad, D. Optimization of magnetic properties of electrodeposited CoP multilayers for sensor applications/ D. Ciudad, J.L. Prieto, I. Lucas // J. Appl. Phys. - 2007. - Vol.101. - P.043907-1(5).

174. Shadrov, V.G. Structural Characteristics, Magnetic Nonuniformity and Magnetic Intercrystalline Interaction in High-Coercivity Co-W and Co-P Coatings/ V.G. Shadrov, A.V. Boltushkin // Russ. Metallurgy(Metally). - 2006.

- N3. - P.271-276.

175. Kosta, I. Nanocrystalline CoP coatings prepared by different electrodeposition techniques/ I. Kosta, E. Vallés, E. Gómez, M. Sarret // Mat. Lett. - 2011. -Vol.65. - P.2849-2851.

176. Точицкий, Т. А. Электролитически осажденные наноструктуры/ Т.А. Точицкий, В.М. Федосюк- Мн.: БГУ, 2002. - 363 с.

177. Федосюк, В.М. Наноструктурные пленки и нанопроволоки / В.М. Федосюк - Мн.: Изд. центр БГУ, 2006. - 311 с.

178. Lonyuk, B. Effect of high-phosphorus electroless nickel coating on fatigue life of Al-Cu-Mg-Fe-Ni alloy/ B. Lonyuk, I. Apachitei and J. Duszczyk //Scr. Mater. - 2007. - V.57. - P.783-786.

179. Sudagar, J. Electroless nickel, alloy, composite and nano coatings - A critical review / Jothi Sudagar, Jianshe Lian, Wei Sha //J. Alloys Comp. - 2013. - Vol. 571. - P. 183-204

180. Soni, K. K. Hydrotreating of coker light gas oil on SBA-15 supported nickel phosphide catalysts/ Kapil K. Soni, P.E. Boahene, N. Rambabu, A.K. Dalaia, J. Adjaye //Catal. Today. - 2013. - Vol.207. - P. 119- 126

181. Zhang, H. Influence of sputtering carbon top-layer on lithium storage performance of amorphous Ni-P films from ionic liquid/ Heng Zhang, Yi Lu, Chang-Dong Gu, Jian-Bin Cai, Xiu-Li Wang, Jiang-Ping Tu //Electrochim. Acta. - 2013. - Vol.108. - P. 472- 479

182. Sahoo, P. Tribology of electroless nickel coatings - A review/ Prasanta Sahoo, Suman Kalyan Das //Mat. Design. -2011. - Vol.32. - P. 1760-1775

183. Zoikis-Karathanasis, A. Pulse electrodeposition of Ni-P matrix composite coatings reinforced by SiC particles/ A. Zoikis-Karathanasis, E.A. Pavlatou, N. Spyrellis //J. Alloy. Comp. - 2010. - Vol.494. - P. 396-403

184. Rabizadeh, T. Corrosion resistance enhancement of Ni-P electroless coatings by incorporation of nano-SiO2 particles/ Taher Rabizadeh, Saeed Reza Allahkaram //Mater. and Design. - 2011. - Vol.32. - P. 133-138

185. Abdoli, M. Preparation and characterization of Ni-P/nanodiamond coatings: Effects of surfactants/ M. Abdoli, A. Sabour Rouhaghdam //Diamond Relat. Mater. - 2013. - Vol.31. - P. 30-37

186. Alexis, J. Development of nickel-phosphorus coatings containing micro particles of talc phyllosilicates/ Joël Alexis, Clélia Gaussens, Bernard Etcheverry, Jean-Pierre Bonino // Mater. Chem. Phys. - 2013. - Vol.137. -P.723-733

187. Rymer, K. Nanocrystalline cobalt-phosphorous alloy plating for replacement of hard chromium/ K. Rymer, A. Przywoski//9th Youth Symposium on Experimental Solid Mechanics, Trieste, Italy, July 7-10, 2010. - P. 112.

188. Capel, H. Sliding wear behaviour of electrodeposited cobalt-tungsten and cobalt-tungsten-iron alloys/ H. Capel, P.H. Shipway, S.J. Harris // Wear. -2003. - Vol.255. - P.917.

189. Sheikholeslam, M.A. Characterization of nanocrystalline and amorphous cobalt-phosphorous electrodeposits/ M.A. Sheikholeslam, M.H. Enayati, K. Raeissi // Mater. Lett. - 2008. - V.62. -P.3629.

190. Jung, H. Phosphorous alloying and annealing effects on the corrosion properties of nanocrystalline Co-P alloys in acidic solution/ H. Jung, A. Alfantazi // Corrosion. - 2007. - Vol.63(2). - P.159-170.

191. Bobanova, Zh. I. Properties of CoW Alloy Coatings Electrodeposited from Citrate Electrolytes Contaning Surface Active Substances/ Zh.I. Bobanova, V.I. Petrenko, G.F. Volodina, D.Z. Grabko, A.I. Dikusar //Surface Eng. Appl. Electrochem. - 2011. - Vol.47. - P.493-503.

192. Elias, N. Syntesis and Characterization on Nickel-Tungsten Alloy by Electrodeposition/ N. Elias, T.M. Sridhar, E. Gileadi//Electrochim. Acta. -2005. - Vol.50. - P.2899-2504.

193. Bottoni, G. Magnetization processes in CoNiW films/ G. Bottoni, D. Candolfo, A. Cecchetti, V.M. Fedosyuk, F. Masoli//JMMM. - 1993. - Vol.120. -P.213-216.

194. Wanga, J.-J. Crystal structures and magnetic properties of epitaxial Co-W perpendicular films/ J.-J. Wanga, Y. Tan, C.-M. Liu, O. Kitakami// JMMM. -2013. - Vol.334. -P.119-123.

195. Wei, G. Effect of organic additives on characterization of electrodeposited CoW thin films/ Guoying Wei, Hongliang Ge, Xiao Zhu, Qiong Wu, Junying Yu, Baoyan Wang // Appl. Surf. Sci. - 2007. - Vol.253. -P.7461-7466.

196. Корниенков, Б.А. О механизме формирования магнитной анизотропии в сплавах типа 2НСР в аморфном состоянии/ Б.А. Корниенков, М.А. Либман, Б.В. Молотилов, Д.И. Кадышев // Сталь. - 2017. Т.3. - С. 61-62.

197. Пермякова, И.Е. Влияние внешних воздействий на магнитные свойства и коррозионную стойкость аморфного сплава Co70.5Fe0.5Cr4Si7B18/ И.Е. Пермякова, А.М. Глезер, Е.С. Савченко, И.В. Щетинин// Изв. РАН. Сер. физ. - 2017. Т. 81, №11. - С. 1458-1465.

198. Ломов, С.Б. Влияние термической обработки на свойства аморфного сплава на основе кобальта/ С.Б. Ломов, Т.В. Соколова, М.Ю. Малькова, А.Н. Задиранов// Труды ВИАМ. - 2017. - Т.50 №2. - С. 18-23.

199. Князев, А.В. Магнитные свойства электроосажденных аморфных сплавов никеля с фосфором/ А.В. Князев, Л.А. Фишгойт, П.А. Чернавский, В.А. Сафонов, С.Е. Филиппова// Электрохимия. - 2017. - Т.53, №3. - С. 306310.

200. Милютин, В.А. Процесс кристаллизации из аморфного состояния в лентах из сплавов на основе Fe-Si-B в условиях сильного постоянного магнитного поля/ В.А. Милютин, И.В. Гервасьева, Е. Beaugnon, В.С. Гавико, Е.Г. Волкова// ФММ. - 2017. - Т.118, №5. - С. 493-498.

201. Кекало, И.Б. Закономерности формирования гистерезисных магнитных свойств в аморфных сплавах разных классов при термомагнитной обработке в поперечном поле/ И.Б. Кекало, П.С. Могильников// ФММ. -2016. - Т.117, №6. - С. 551-561.

202. Кекало, И.Б. Влияние композиционного ближнего упорядочения на гистерезисные магнитные свойства аморфного сплава на основе кобальта/ И.Б. Кекало, П.С. Могильников // Изв. РАН. Сер. физ. - 2016. - Т.80, №12. - С. 1674-1681.

203. Чеканова, Л.А. Анализ фазового состава порошков сплава на основе магнитометрических измерений/ Л.А. Чеканова, Е.А. Денисова, О.А. Гончарова, С.В. Комогорцев, Р.С. Исхаков// ФММ. - 2013. Т.114, №2. -С. 136-143.

204. Денисова, Е.А. Влияние термической обработки на магнитные свойства гранулированных нанокомпозитов (Co40Fe40B20)x(SiO2)1 - ^ Е.А. Денисова, С.В. Комогорцев, Р.С. Исхаков, Л.А. Чеканова, Д.А. Великанов, Ю.Е. Калинин, А.В. Ситников// Изв. РАН. Сер. физ. - 2016. - Т.80, №11. - С. 1500-1503.

205. Кекало, И.Б. Особенности влияния процессов структурной релаксации на магнитные свойства и механическое поведение аморфных сплавов с очень низкой магнитострикцией (^ < 10-7)/ И.Б. Кекало, П.С. Могильников. - М.: Изд.Дом МИСИС, 2017. - 248 с.

206. Kassner, M. E. Creep in amorphous metals/ Michael E. Kassner, Kamia Smith, Veronica Eliasson // J Mater Res Technol. - 2015. -Vol. 4(1). - P.100-107.

207. Кекало, И.Б. Особенности процессов охрупчивания и расчет кинетических параметров в аморфном сплаве Со69Fe3,7Cr3,8Si12,5B11/ И.Б. Кекало, П.С. Могильников // Перспективные Материалы. - 2016. -№2. - С. 36-45.

208. Глезер, А.М. О природе "двойного" предела текучести в сплаве в условиях кручения под высоким давлением/ А.М. Глезер, Л.С. Метлов, Р.В. Сундееве, А.В. Шалимова// Письма в ЖЭТФ. - 2017. - Т.105, №5-6. - С. 311-314.

209. Marques, P.W.B. Investigation by mechanical spectroscopy at different frequencies of the nucleation processes in amorphous Cu-Zr-Al alloys/ P.W.B. Marques, O. Florencio, P.S. Silva, F.H. Santa Maria, J.M. Chaves, A. Moreno-Gobbi, L.C.R. Aliaga, W.J. Botta // Mat. Sci. Eng. A. - 2017. - Vol. 694. - P.66-71.

210. Pan, J. Ductile fracture in notched bulk metallic glasses /J. Pan, Y.X. Wang, Y. Li // Acta Materialia. - 2017. - Vol. 136. - P. 126-133.

211. Singh, D. Effect of quenching rate on the microstructure and mechanical behavior of Ce75Al21Ga4 glassy alloy/ Dharmendra Singh, Devinder Singh, R.K. Mandal, O.N. Srivastava, R.S. Tiwari // Materials Characterization. -2017. - Vol. 134. - P.18-24.

212. Tan, J. Fractography and morphology of shear bands of a Zr-based bulk metallic glass/ Jun Tan, Jun-yan Gao, Xue-mei Qin, Zheng-rong Fu, Dong Li, Min Li, Xiu-chang Wang, Gang Wang // J of Iron and Steel Res. Int. - 2017. -Vol. 24, N 4. - P.385-389.

213. Zhang, P. Applications and limitations of electron correlation microscopy to study relaxation dynamics in supercooled liquids / Pei Zhang, Li He, Matthew F. Besser, Ze Liu, Jan Schroers, Matthew J. Kramer, Paul M. Voyles // Ultramic. - 2017. - Vol. 178. - P.125-130.

214. Анциферов, В.Н. Современные аморфные металлические сплавы/ В.Н. Анциферов, А.И. Шиляев// Проблемы механики и материаловедения -Ижевск, Изд. ИМ УрО, 2017. - С.338-350 (Труды / Института механики УрО РАН)

215. Кекало, И.Б. Закономерности влияния величины исходных изгибных напряжений на их релаксацию в процессе отжига аморфных магнитно -мягких сплавов разных классов / И.Б. Кекало, П.С. Могильников //ФММ. - 2017. - Т.118, №2. - С. 130-141.

216. Tsyntsaru, N. Iron-Tungsten Alloys Electrodeposited under Direct Current from Citrate-Ammonia Plating Baths/ N. Tsyntsaru, J. Bobanova, X.Ye.H. Cesiulis, A. Dikusar, I. Prosycevas, J.-P. Celis //Surf. Coat. Tech. - 2009. -Vol.203. - P.2983-3332.

217. Eskalen, H. Amorphous Alloys, Degradation Performance of Azo Dyes: Review/ Hasan Eskalen, Celal Kursun, Mikail Aslan, Mustafa Cesme, Musa Gogebakan //arXiv: 1709.06941 [physics.app-ph]

218. Weng, N. Enhanced Azo-Dyes Degradation Performance of Fe-Si-B-P Nanoporous Architecture/ Nan Weng, Feng Wang, Fengxiang Qin, Wanying Tang and Zhenhua Dan //Materials. - 2017. -Vol.10. - P.1001.

219. Mbarek, W. Ben Rapid degradation of azo-dye using Mn-Al powders produced by ball-milling/ W. Ben Mbarek, M. Azabou, E. Pineda, N. Fiol, L. Escoda, J. J. Sunol and M. Khitounia // RSC AdVol. - 2017. - Vol.7. -P.12620-12628.

220. Fu, C. Structural Inheritance and Redox Performance of Nanoporous Electrodes from Nanocrystalline Fe85.2B10-14P0-4Cu0.8 Alloys/ Chaoqun Fu, Lijun Xu, Zhenhua Dan, Akihiro Makino, Nobuyoshi Hara, Fengxiang Qin and Hui Chang //Nanomat. - 2017. - Vol.7. - P. 141.

221. Qin, X. D. Ultrafast degradation of azo dyes catalyzed by cobalt-based metallic glass/ X. D. Qin, Z. W. Zhu, G. Liu, H. M. Fu, H. W. Zhang, A. M. Wang, H. Li & H. F. Zhang //Sci. Rep. - 2015. - Vol.5. - P.18226.

222. Lv, Z. Y. Development of a novel high entropy alloy with eminent efficiency of degrading azo dye solutions/ Z. Y. Lv, X. J. Liu, B. Jia, H. Wang, Y. Wu & Z. P. Lu //Sci. Rep. - 2016. - Vol. 6. - P.34213.

223. Schuler, J. D. Materials selection rules for amorphous complexion formation in binary metallic alloys/ Jennifer D. Schuler, Timothy J. Rupert // Acta Mat. -2017. - Vol.140. - P.196-205.

224. Mahjoub, R. Amorphous phase stability and the interplay between electronic structure and topology/ Reza Mahjoub, Kevin J. Laws, Michael Ferry // Acta Mat. - 2017. - Vol.131. - P.131-140.

225. Kim, J. Modulation of plastic flow in metallic glasses via nanoscale networks of chemical heterogeneities/ Jinwoo Kim, Hyun Seok Oh, Wan Kim, Pyuck-Pa Choi, Dierk Raabe, Eun Soo Park //Acta Mat. - 2017. - Vol. 140. - P. 116-129.

226. Полухин, В.А. Формирование среднего порядка в стеклах и дальнего в нанокристаллических сплавах с учетом характера связи и трансформации ближнего порядка/ В.А. Полухин, Э.Д. Курбанова, Р.М. Белякова// Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов. - 2016. - №8. - С. 302-311.

227. Белащенко, Д.К. Универсальный алгоритм реконструкции атомных моделей некристаллических систем/ Д.К. Белащенко// Журнал Физ. Хим. - 2016. - Т.90, №4. - С. 483-494.

228. Белащенко, Д.К. О геометрии и термодинамике нанокластеров/ Д.К. Белащенко// Журнал Физ. Хим. - 2015. - Т.89, №3. - С. 517-532.

229. Белов, Т.А. Применение метода событийно-управляемой молекулярной динамики для моделирования атомных кластеров/ Т.А. Белов, В.И. Иордан, И.Е. Соколова// Многоядерные процессоры, параллельное программирование, плис, системы обработки сигналов. - 2017. - №7. - С. 83-90.

230. Полухин, В.А. Формирование среднего порядка в металлических стеклах и дальнего в нанокристаллических сплавах с учетом характера связи и

трансформации ближнего порядка расплава/ В.А. Полухин, Э.Д. Курбанова, Н.А. Ватолин// Расплавы. - 2017. - №5. - С. 337-363.

231. Лысов, В.И. Термодинамический анализ и практическая реализация очистки аморфной фазы от вмороженных центров кристаллизации/ В.И. Лысов, Т.Л. Цареградская, О.В. Турков, Г.В. Саенко // Журнал Физ. Хим. - 2017. -Т.91, №12. - С. 2039-2043.

232. Rico, P. P. The atomistic mechanism of fast relaxation processes in Cu65Zr35 glass/ P. Palomino Rico, D.G. Papageorgiou, A.L. Greer, G.A. Evangelakis // Acta Mat. - 2017. - Vol. 135. - P.290-296.

233. Sengul, S. Molecular dynamics simulations of glass formation and atomic structures in Zr60Cu20Fe20 ternary bulk metallic alloy/ S. Sengul, M. Celtek, U. Domekeli // Vacuum. - 2017. - Vol. 136. - P.20-27.

234. Velasco, J. E. Plastic deformation induced anisotropy in metallic glasses: A molecular dynamics study/ J. Enrique Velasco, Amadeu Concustell, Eloi Pineda, Daniel Crespo // J Alloys Comp. - 2017. - Vol.707. - P.102-107.

235. Brennhaugen, D.D.E. Predictive modeling of glass forming ability in the Fe-Nb-B system using the CALPHAD approach/ David D.E. Brennhaugen, Huahai Mao, Dmitri V. Louzguine-Luzgin, Lars Arnberg, Ragnhild E. Aune // J Alloys Comp. - 2017. - Vol. 707. - P. 120-125.

236. Huang, B. Saturated magnetization and glass forming ability of soft magnetic Fe-based metallic glasses/ B. Huang, Y. Yang, A.D. Wang, Q. Wang, C.T. Liu // Intermetallics. - 2017. - Vol. 84. - P.74-81.

237. Basu, J. Role of polyhedral order in glass to crystal transition dynamics in Zr60Cu10Al15Ni15 glass forming alloy/ Joysurya Basu, S. Vincent, B.S. Murty, M.J. Kramer, Jatin Bhatt // J Non-Cryst. Sol. - 2017. - Vol. 471. - P.256-263.

238. Глезер, А.М. Особенности образования трещин в зоне лазерного отжига аморфных сплавов/ А.М. Глезер, И.Е. Пермякова, В.А. Федоров// Materials Physics and Mechanics. - 2016. - Т.25, №1. - С. 62-67.

239. Скулкина, Н.А. Влияние полимерного покрытия и прессующего давления на магнитные свойства аморфных сплавов на основе кобальта/ Н.А. Скулкина, О.А. Иванов, А.К. Мазеева, П.А. Кузнецов, Е.А. Степанова, О.В. Блинова, Е.А. Михалицына, Н.Д. Денисов, В.И. Чекис// ФММ. -2017. - Т.118, №12. - С. 1248-1256.

240. Jin, Y. A new strategy to fabricate nanoporous iron-based metallic glasses: Selective phase tailoring of amorphous-nanocrystalline composite alloys through electrochemical dissolution/ Yu Jin, Ran Li, Hongjie Xu, Xiao-Bo Chen, Tao Zhang // Scripta Mat. -2017. - Vol. 133. - P. 14-18.

241. Zuo, L. Surface vitrification of alloys by pulsed electrical discharge treatment/ Lei Zuo, Shujie Pang, Shanfang Zou, Haifei Li, Tao Zhang // J Alloys Comp. - 2017. - Vol. 707. - P. 148-154.

242. Williams, E. Laser processing of bulk metallic glass: A review/ E. Williams, N. Lavery // J Mat Proc Tech. - 2017. - Vol. 247. - P.73-91.

243. Wang, D. Core-shell amorphous metal oxides/metallic glassy particles for absorbing application of toxic heavy metal and electromagnetic wave/ DongJun Wang, Yongliang An, JianMing Qiang, Hao Yuan // Scripta Mat. - 2017. - Vol. 132. - P.30-33.

244. Shen, Y. 3D printing of large, complex metallic glass structures/ Yiyu Shen, Yingqi Li, Chen Chen, Hai-Lung Tsai // Materials & Design. - 2017. - Vol. 117. - P.213-222.

245. Li, Y. Building metallic glass structures on crystalline metal substrates by laser-foil-printing additive manufacturing/ Yingqi Li, Yiyu Shen, Chen Chen, Ming C. Leu, Hai-Lung Tsai // J Mat. Proc. Tech. - 2017. - Vol. 248. - P.249-261.

246. Petrzhik, M. On conditions of bulk and surface glass formation of metallic alloys/ Mikhail Petrzhik, Vyacheslav Molokanov, Evgeny Levashov // J Alloys Comp. - 2017. - Vol. 707. - P.68-72.

247. Bacal, P. Electrodeposition of high-tungsten W-Ni-Cu alloys. Impact of copper on deposition process and coating structure/ Pawel Bacal, Mikolaj Donten, Zbigniew Stojek // Electrochimica Acta. -2017. - Vol. 241. - P.449-458.

248. Mendez-Vilas, A. Microscopy: science, technology, applications and education/ Antonio Mendez-Vilas, J Diaz. - Badajoz: Formatex, 2010. - 617p.

249. Abou-Ras, D. Enhancements in specimen preparation of Cu(In,Ga)(S,Se)2 thin films/D. Abou-Ras, B. Marsen, T. Rissom, F. Frost, H. Schulz, F. Bauer, V. Efimova, V. Hoffmann, A. Eicke // Micron. - 2012. -Vol.43, N 2-3. - P.470-474.

250. Zhang, H. What limits the application of TEM in the semiconductor industry?/ H. Zhang // Thin sol. films. - 1998. -Vol.320, N1. - P. 77-85.

251. Kulchin, Yu.N. Cavity-based Fabry-Perot probe with protruding subwavelength aperture/ Yu.N. Kulchin, O.B. Vitrik, A.A. Kuchmizhak, E.V. Pustovalov, A.V. Nepomnyashchii// Optics Letters. - 2011. - Vol.36, N19. -P.3945-3947.

252. Kulchin, Y.N. Fiber-optic Fabry-Perot microresonator for near-field optical microscopy systems/ Y.N. Kulchin, O.B. Vitrik, E.V. Pustovalov, A.A. Kuchmizhak, A.V. Nepomnyashchiy// Cryst. Rep. - 2011. Vol.56, N5. - P. 866-870.

253. Kulchin, Yu.N. Fibre Fabry - Perot cavity-based aperture probe for near-field optical microscopy systems/ Yu.N. Kulchin, O.B. Vitrik, A.V. Bezverbnyi, E.V. Pustovalov, A.A. Kuchmizhak, A.V. Nepomnyashchii// Quantum Electronics. - 2011. - Vol.41, N3. - P. 249-252.

254. Steblii, M.E. Features of the magnetic properties of Pd/Fe/Pd films and nanodisks/ M.E. Steblii, A.V. Ognev, Y.P. Ivanov, E.V. Pustovalov, V.S. Plotnikov, L.A. Chebotkevich// Bull. Russian Acad. of Sci.: Phys. -2010 -Vol.74, N10/ - P. 1407-1409.

255. Держатель образцов для сканирующего электронного микроскопа: пат. 102799 Рос. Федерация: МПК7 G01N 1/28, H01J 37/20 / Пустовалов Е.В., Плотников В.С., Грудин Б.Н., Войтенко О.В., Модин Е.Б.; заявитель и патентообладатель ДВГУ. - №2010130845/05; заявл. 22.07.2010; опубл. 10.03.2011, Бюл. №7. - 2с.: ил.

256. Способ формирования объектов на поверхности материалов фокусированным ионным пучком: пат. 2457573 Рос. Федерация: МПК7 H01L 21/26, B82B 3/00 / Пустовалов Е.В., Плотников В.С., Грудин Б.Н., Глухов А.П., Кириллов А.В.; заявитель и патентообладатель ДВФУ. - № №2011117623/28; заявл. 29.04.2011; опубл. 27.07.2012, Бюл. №21. - 14с.: ил.

257. Syubaev, S. Fabrication of porous microrings via laser printing and ion-beam post-etching/ S. Syubaev, A. Nepomnyashchiy, E. Mitsai, E. Pustovalov, O. Vitrik, S. Kudryashov, A. Kuchmizhak// Appl. Phys. Lett. - 2017. -Vol.111, N8. - статья № 083102

258. Syubaev, S. Direct laser printing of chiral plasmonic nanojets by vortex beams/ S. Syubaev, A. Zhizhchenko, A. Kuchmizhak, A. Porfirev, E. Pustovalov, O. Vitrik, Yu. Kulchin, S. Khonina, S. Kudryashov// Optics Express. - 2017. -Vol.25, N9. - P. 10214-10223.

259. Kuchmizhak, A. On-Fly Femtosecond-Laser Fabrication of Self-Organized Plasmonic Nanotextures for Chemo- and Biosensing Applications/ A. Kuchmizhak, E. Pustovalov, S. Syubaev, O. Vitrik, Y. Kulchin, A. Porfirev, S. Khonina, S. Kudryashov, P. Danilov, A. Ionin// ACS Applied Materials and Interfaces. - 2016. - Vol.8, N37. - P. 24946-24955.

260. Plekhova, N.G. Effect of modified coatings titanium implants on innate immunity cell/ N.G. Plekhova, I.N. Lyapun, E.V. Pustovalov, E.V. Prosekova, S.V. Gnedenkov, S.L. Sinebryukhov, A.V. Puz// Genes and Cells. -2016. -Vol.11, N 3. - P. 87-93.

261. Bozhenko, M.V. Structure and optical properties of porous silicon formed on silicon substrates treated with compression plasma flow/ M.V. Bozhenko, E.A. Chusovitin, N.G. Galkin, E.V. Pustovalov, V.V. Tkachev, A.V. Nepomnyaschiy, V.V. Mararov, V.M. Astashinsky, A.M. Kuzmitsky// Sol. State Phenom. - 2016. - Vol.245. - P. 49-54.

262. Kulchin, Y.N. Fiber-optic Fabry-Perot microresonator for near-field optical microscopy systems/ Y.N. Kulchin, O.B. Vitrik, E.V. Pustovalov, A.A.

Kuchmizhak, A.V. Nepomnyashchiy// Cryst. Rep. - 2011. - Vol.56, N 5. - P. 866-870.

263. Steblii, M.E. Features of the magnetic properties of Pd/Fe/Pd films and nanodisks/ M.E. Steblii, A.V. Ognev, Y.P. Ivanov, E.V. Pustovalov, V.S. Plotnikov, L.A. Chebotkevich// Bull. Russian Acad. of Sci.: Phys. - 2010 -Vol.74, N 10. - P. 1407-1409.

264. Gouralnik, A.S. An approach to growth of Fe-Si multilayers with controlled composition profile - A way to exchange coupled thin films/ A.S. Gouralnik, E.V. Pustovalov, K.-W. Lin, A.L. Chuvilin, S.V. Chusovitina, S.A. Dotsenko, A.I. Cherednichenko, V.S. Plotnikov, V.A. Ivanov, V.I. Belokon, I.A. Tkachenko, N.G. Galkin// Nanotechnology. - 2017. - Vol.28, N 11. - статья № 115303.

265. Fedorets, A.N. Crystallization processes in an amorphous Co-Fe-Cr-Si-B alloy under isothermal annealing/ A.N. Fedorets, E.V. Pustovalov, V.S. Plotnikov, E.B. Modin, G.S. Kraynova, A.M. Frolov, V.V. Tkachev, A.K. Tsesarskaya// AIP Conf. Proc. - 2017. - Vol.1874. - статья № 040008

266. Pustovalov, E.V. Atomic structure design of rapidly quenched amorphous cobalt-based alloys/ E.V. Pustovalov, E.B. Modin, A.N. Fedorets// Sol. State Phenom. - 2017. - Vol.265. - P. 569-574.

267. Fedorets, A.N. Electron tomography as a tool for studying the structures of amorphous alloys/ A.N. Fedorets, E.V. Pustovalov, E.B. Modin, V.S. Plotnikov, S.S. Grabchikov// Bull. Russian Acad. of Sci.: Phys. - 2016. -Vol.80, N12. - P. 1455-1458.

268. Modin, E.B. Atomic structure and crystallization processes of amorphous (Co,Ni)-P metallic alloy/ E.B. Modin, E.V. Pustovalov, A.N. Fedorets, A.V. Dubinets, B.N. Grudin, V.S. Plotnikov, S.S. Grabchikov// J. Alloys and Comp. - 2015. -Vol. 641. - P. 139-143.

269. Modin, E.B. HAADF-STEM investigation of the structures of electrolytically deposited CoP and CoNiP alloys/ E.B. Modin, O.V. Voitenko, E.V.

Pustovalov, V.S. Plotnikov, B.N. Gradin, S.V. Polischuk, S.S. Grabchikov// Bull. Russian Acad. of Sci.: Phys. - 2014. - Vol.78, N 9. - P. 886-889.

270. Pustovalov, E.V. Structural relaxation in the CoP-CoNiP system upon low-temperature annealing/ E.V. Pustovalov, E.B. Modin, A.V. Kirillov, V.S. Plotnikov, A.V. Dubinets, A.N. Fedorets// Bull. Russian Acad. of Sci.: Phys. -2014. Vol.78, N 9. - P. 890-893.

271. Pustovalov, E.V. Structure relaxation and crystallization of the cow-coniw-niw electrodeposited alloys/ E.V. Pustovalov, E.B. Modin, O.V. Voitenko, A.N. Fedorets, A.V. Dubinets, B.N. Grudin, V.S. Plotnikov, S.S. Grabchikov// Nanoscale Res. Lett. - 2014. -Vol.9, N 1. -P. 1-8.

272. Kotvitckii, A. Development of effective technique for irradiating samples of thin films using the focused ion beam/ A. Kotvitckii, A. Dubitents, K. Ermakov, E. Modin, E. Pustovalov, V. Plotnikov// Adv. Mat. Res. - 2014. - Vol.10251026. - P. 765-769.

273. Fedorets, A. Structure and composition investigation of amorphous alloy Fe78Ni1Si9B12 during thermal processing/ A. Fedorets, A. Kotvitckii, E. Modin, A. Dubinets, E. Pustovalov, V. Plotnikov, B. Grudin// Adv. Mat. Res.

- 2012. - Vol.590. - P. 13-16.

274. Modin, E.B. In-situ investigation of the structure of electrolitically deposited cobalt-phosporous alloy upon heating/ E.B. Modin, O.V. Voitenko, A.P. Glukhov, A.V. Kirillov, E.V. Pustovalov, S.V. Dolzhikov, A.V. Kolesnikov, S.S. Grabchikov, L.B. Sosnovskaya// Bull. Russian Acad. of Sci.: Phys. - 2012.

- Vol.76, N9. - P. 1012-1014.

275. Electron Tomography: Methods for Three-Dimensional Visualization of Structures in the Cell, 2nd Edition/ Edited by Frank Joachim. - Springer, Albany, NY; 2006, 455 p.

276. Mastronarde, D.N. Dual-Axis Tomography: An Approach with Alignment Methods That Preserve Resolution/ David N. Mastronarde // J Struct. Biol. -1997. - Vol.120, N 3. - P. 343-352.

277. Midgley, P.A. 3D electron microscopy in the physical sciences: the development of Z-contrast and EFTEM tomography/ P.A. Midgley, M. Weyland // Ultramicrosc. - 2003. - Vol.96, N 3-4. - P. 413-431.

278. Bals, S. Annular Dark Field Tomography in TEM/ S. Bals, C. Kisielowski, M. Croitoru, G. Tendeloo// Microsc. Microanal. - 2005. - Vol.11(S02). - P. 21182119.

279. Goris, B. Three-Dimensional Elemental Mapping at the Atomic Scale in Bimetallic Nanocrystals/ Bart Goris, Annick De Backer, Sandra Van Aert, Sergio Gomez-Grana, Luis M. Liz-Marzan, Gustaaf Van Tendeloo, and Sara Bals//Nano Lett. - 2013. - Vol.13(9). - P. 4236-4241.

280. Scott, M. C. Electron tomography at 2.4-ängström resolution/ M. C. Scott, Chien-Chun Chen, Matthew Mecklenburg, Chun Zhu, Rui Xu, Peter Ercius, Ulrich Dahmen, B. C. Regan & Jianwei Miao// Nature. - 2012. - Vol.483. - P. 444-447.

281. Pustovalov, E.V. Electron tomography algorithms in scanning transmission electron microscopy/ E.V. Pustovalov, V.S. Plotnikov, B.N. Grudin, E.B. Modin, O.V. Voitenko// Bull. Russian Acad. of Sci.: Phys. - 2013. - Vol.77 (8). - P. 995-998.

282. Mekhantseva, T. TEM and STEM electron tomography analysis of amorphous alloys CoP-CoNiP system/ T. Mekhantseva, O. Voitenko, I. Smirnov, E. Pustovalov, V. Plotnikov, B. Grudin, A. Kirillov// Adv. Mat. Res. - 2012. -Vol.590. - P. 9-12.

283. Voitenko, O.V. Electron tomography and morphological analysis of the structure of multicomponent amorphous and nanocrystalline alloys/ O.V. Voitenko, E.B. Modin, I.S. Smirnov, E.V. Pustovalov, B.N. Grudin, V.S. Plotnikov, S.S. Grabchikov, L.B. Sosnovskayab// Bull. Russian Acad. of Sci.: Phys. - 2012. - Vol.76 (9). - P. 999-1001.

284. Pustovalov, E.V. Graphics processors in problems of electron tomography/ E.V. Pustovalov, O.V. Voitenko, B.N. Grudin, V.S. Plotnikov//

Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. - 2012. - Vol.48 (1). -P. 62-68.

285. Voitenko, O.V. Electron tomography and STEM investigations of the structure of multilayer amorphous and nanocrystalline alloys of CoP-CoNiP, CoW-CoNiW systems under external action/ O.V. Voitenko, E.V. Modin, I.S. Smirnov, E.V. Pustovalov, S.V. Dolzhikov, V.S. Plotnikov, S.S. Grabchikov, L.B. Sosnovskaya// Bull. Russian Acad. of Sci.: Phys. - 2011. - Vol.75 (9). -P. 1209-1212.

286. STEM-томография для просвечивающего электронного микроскопа (STEMTomo)/ Пустовалов Е.В., Грудин Б.Н., Плотников В.С., Войтенко О.В., Полищук С.В.; Св. о гос. рег. программы для ЭВМ, № 2012616379; заявитель и патентообладатель ДВФУ. - №2012614191; заявл. 23.05.2012; зарег. 12.07.2012. -1с.

287. Создание паттернов для фокусированного ионного пучка (FIB_Template)/ Пустовалов Е.В., Грудин Б.Н., Плотников В.С., Модин Е.Б., Кириллов А.В.; Св. о гос. рег. программы для ЭВМ, № 2012617390; заявитель и патентообладатель ДВФУ. - №2012614985; заявл. 18.06.2012; зарег. 16.08.2012. - 1с.

288. Управление процессом нагрева и охлаждения при проведении in-situ экспериментов (HEATcontrol)/ Пустовалов Е.В., Б.Н. Грудин, В.С. Плотников, О.В. Войтенко, Смирнов И.С.; Св. о гос. рег. программы для ЭВМ, № 2012614987; заявитель и патентообладатель ДВФУ. -№2012614987; заявл. 18.06.2012; зарег. 16.08.2012. - 1с.

289. Визуализации и модификации данных электронной томографии (RotateMRC)/ Пустовалов Е.В., Грудин Б.Н., Плотников В.С., Гарке Д.В.; Св. о гос. рег. программы для ЭВМ, № 2010610453; заявитель и патентообладатель ДВГУ. - №2009615940; заявл. 26.10.2009; зарег. 11.01.2010. -1с.

290. Фильтрация двумерных и терхмерных электронно-микроскопических изображений сложными фильтрами с использованием графических

процессоров (ОРЦРгейкег) / Пустовалов Е.В., Грудин Б.Н., Плотников В.С., Смольянинов Н.А., Кириллов А.В.; Св. о гос. рег. программы для ЭВМ, № 2010616325; заявитель и патентообладатель ДВГУ. -№2010614601; заявл. 29.07.2010; зарег. 23.09.2010. -1с.

291. Корреляционная обработка электронно-микроскопических изображений с использованием графических процессоров (ОРиСоггеЫюп)/ Пустовалов Е.В., Грудин Б.Н., Плотников В.С., Кириллов А.В., Гарке Д.В.; Св. о гос. рег. программы для ЭВМ, № 2010616326; заявитель и патентообладатель ДВГУ. - №2010614602; заявл. 29.07.2010; зарег. 23.09.2010. -1с.

292. Трехмерная реконструкция томограмм по электронно-микроскопическим изображениям с использованием графических процессоров (ОРиТошо)/ Пустовалов Е.В., Грудин Б.Н., Плотников В.С., Войтенко О.В., Смирнов И.С.; Св. о гос. рег. программы для ЭВМ, № 2010616322; заявитель и патентообладатель ДВГУ. - №2010614574; заявл. 29.07.2010; зарег. 23.09.2010. -1с.

293. Трехмерная и двумерная вейвлет фильтрация электронно-микроскопических изображений с использованием графических процессоров (ОРиМ'ауе^)/ Пустовалов Е.В., Грудин Б.Н., Плотников В.С., Модин Е.Б., Глухов А.П.; Св. о гос. рег. программы для ЭВМ, № 2010616323; заявитель и патентообладатель ДВГУ. - №2010614575; заявл. 29.07.2010; зарег. 23.09.2010. -1с.

294. Программа изменения пространственных характеристик моделей аморфных структур с помощью геометрических объектов (АшогрИОео) / Дубинец А.В., Пустовалов Е.В. Войтенко О.В., Федорец А.Н., Модин Е.Б.; Св. о гос. рег. программы для ЭВМ, № 2013614361; заявитель и патентообладатель ДВФУ. - №2013612443; заявл. 22.03.2013; зарег. 29.04.2013. - 1с.

295. Моделирование электронно-микроскопических изображений на графических процессорах(ТЕМОри)/Пустовалов Е.В., Грудин Б.Н.,

Плотников В.С., Модин Е.Б., Кириллов А.В.; Св. о гос. рег. программы для ЭВМ, № 2012616377; заявитель и патентообладатель ДВФУ. -№2012614192; заявл. 23.05.2012; зарег. 12.07.2012. -1с.

296. Фильтрация изображений с произвольным ядром на графических процессорах (FilterGPU)/ Пустовалов Е.В., Грудин Б.Н., Плотников В.С., Войтенко О.В., Модин Е.Б.; Св. о гос. рег. программы для ЭВМ, № 2012616378; заявитель и патентообладатель ДВФУ. - №2012614190; заявл. 23.05.2012; зарег. 12.07.2012. -1с.

297. Frolov, A.M. Dependency properties of the amorphous alloy Co58Ni10Fe5Si11B16 on technological parameters of spinning/ A.M. Frolov, V.V. Tkachev, A.N. Fedorets, E.V. Pustovalov, G.S. Kraynova, S.V. Dolzhikov, N.V. Ilin, A.K. Tsesarskaya// AIP Conf. Proc. - 2017. - Vol. 1874. - статья № 040009.

298. Dubinets, A. Modeling of structures nanocrystalline and amorphous alloys / A. Dubinets, E. Pustovalov, E. Modin, A. Fedorets, V. Tkachev, V. Plotnikov// Sol. State Phenom, - 2016. - Vol.245. - P. 60-66.

299. Grudin, B.N. Gibbs distribution-based Bayesian segmentation of electron microscopy nanostructure images/ B.N. Grudin, V.S. Plotnikov, E.V. Pustovalov, S.V. Polischuk, N.A. Smolyaninov, A.A. Efremov// Bull. Russian Acad. of Sci.: Phys. - 2013. - Vol. 77, N 8. - P. 990-994.

300. Grudin, B.N. Simulation and analysis of images using spectral characteristics/ B.N. Grudin, V.S. Plotnikov, E.V. Pustovalov, N.A. Smolyaninov, S.V. Polishuk// Bull. Russian Acad. of Sci.: Phys. - 2012. - Vol. 76 (9). - P. 10201024.

301. Grudin, B.N. Synthesis of fractal electron micrographs/ B.N. Grudin, V.S. Plotnikov, N.A. Smolyaninov, E.V. Pustovalov, E.B. Modin// Russian Physics Journal. - 2009. - Vol.52 (11). - P. 1205-1211.

302. Grudin, B.N. Modeling and parametrization of HREM amorphous structure images/ B.N. Grudin, V.S. Piotnikov, E.V. Pustovalov, V.K. Fishenko//

Izvestiya Akademii Nauk. Ser. Fizicheskaya. - 1999. - Vol. 63 (7). - P. 13011305.

303. Фролов, А.М. Анизотропия структурных неоднородностей быстрозакаленных сплавов/ А. М. Фролов, Г. С. Крайнова, С. В. Должиков // Поверхность. Рентген., синхротр. нейтрон. исслед. - 2018. № 4. - С. 83-89.

304. Чухрий, Н.И. Корреляция морфологии поверхностей быстрозакаленных лент и атомного разупорядочения в процессах спиннингования/ Н.И. Чухрий, Л.А. Юдина, А.М. Фролов, В.В. Юдин// Поверхность. Рентген., синхротр. нейтрон. исслед. - 1999. - № 4. - C. 55.

305. Юдина, Л.А. Системная методика обработки сложных РЭМ-изображений/ Л.А. Юдина, А.М. Фролов, Н.И. Чухрий, В.В. Юдин// Изв. РАН. Сер. Физ. - 1998. - Т .62. № 3. - С. 455.

306. Пивцаев, А. А. Исследование химических канцерогенов методом позитронной аннигиляционной спектроскопии c временным разрешением/ А. А. Пивцаев, В. И. Разов, А. О. Карасев // Ж. Прикл. Спектр. - 2013. - Т. 80, № 5. - С.806-809.

307. Измерение микротвёрдости вдавливаемых алмазных наконечников: ГОСТ 9450-76. - Введ. 01.01.1977. - М.: Издательство стандартов, 1993. -35 с.

308. Hausleitner, Ch. Structure of amorphous FeZr alloys/ Ch. Hausleitner, J. Hafner //J Non-Cryst. Solids. - 1992. - Vol.144. - P. 175-186.

309. Hirata, A. Direct imaging of local atomic ordering in a Pd-Ni-P bulk metallic glass using -corrected transmission electron microscopy/Akihiko Hirata, Yoshihiko Hirotsu, T.G. Nieh, Tadakatsu Ohkubo, Nobuo Tanaka //Ultramic. -2007. - Vol. 107, N 2. - P. 116-123.

310. Hirata, A. Local structural fluctuation in Pd-Ni-P bulk metallic glasses examined using nanobeam electron diffraction/ Akihiko Hirata, Yoshihiko Hirotsu, Satoru Kuboya, T.G. Nieh//J Alloy. Comp. - 2009.- Vol. 483, N 1. - P. 64-69

311. Bakonyi, I. Relevance of Fe atomic volumes for the magnetic properties of Fe-rich metallic glasses/I. Bakonyi//JMMM. - 2012. - Vol. 324, N 22. - P. 39613965.

312. Perepezko, J.H. Deformation alloying and transformation reactions/ J.H. Perepezko, K.E. Kimme, R.J. Hebert //J Alloy. Comp. - 2009. -Vol. 483, N 1.

- P. 14-19.

313. Fang, S. Relationship between the widths of supercooled liquid regions and bond parameters of Mg-based bulk metallic glasses/ Shoushi Fang, Xueshan Xiao, Lei Xia, Weihuo Li, Yuanda Dong //J Non-Cryst. Sol. -2003. - Vol.321.

- P. 120-125.

314. Inoue, A. Stabilization of metallic supercooled liquid and bulk amorphous alloys/ Akihisa Inoue // Acta mater. - 2000. - Vol.48. - P. 279-306.

315. Zhang, B.Y. Solid-Solution Phase Formation Rules for Multi-component Alloys/ By Yong Zhang, Yun Jun Zhou, Jun Pin Lin, Guo Liang Chen and Peter K. Liaw // Adv. Eng. Mat. - 2008. - Vol.10, N 6. - P.534-539.

316. Глезер, А.М. Нанокристаллы, закалённые из расплава/ А.М. Глезер, И.Е. Пермякова. - М.: Физматлит. 2011. 240 с.

317. Способ обработки изделий из магнитно-мягких аморфных сплавов интенсивной пластической деформацией: пат. 2391414 Рос. Федерация: МПК7 C21D6/04, C22F1/00, H01F1/153 / Глезер А.М., Добаткин С.В., Перов Н.С., Плотникова М.Р., Шалимова А.В.; заявитель и правообладатель ФГУП «ЦНИИчермет им. И.П. Бардина». заяв. 18.07.2008, опубл. 10.06.2010. Бюл. № 16

318. Sundeev, R.V. In situ observation of the "crystalline ^amorphous state" phase transformation in Ti2NiCu upon high-pressure torsion/S.V. Sundeev, A.V. Shalimova, A.M. Glezer, G.I. Nosova, M.V. Gorshenkov, E.A. Pechina// Mat. Sci. Eng. A. - 2017. - Vol. 679. -P. 1-6.

319. Горшенков, М.В. Эффект стабилизации размера кристаллов T-(Fe,Ni) в Fe-Ni-B аморфной ленте/М.В. Горшенков, А.М. Глезер, О.А.

Корчуганова, А.А. Алеев, Н.А. Шурыгина// ФММ. - 2017. - Т. 118, № 2. -С. 186-192.

320. Klement, W. Jun. Non-crystalline Structure in Solidified Gold-Silicon Alloys/W. Klement Jun., R. H. Willens, Pol Duwez /Nature. - 1960. - Vol. 187. P.869-870.

321. Duwez, P. Continuous Series of Metastable Solid Solutions in Silver-Copper Alloys/Pol Duwez, R. H. Willens, and W. Klement Jr// J Appl. Phys. 1960. -Vol. 31 - P.1136.

322. Gaskell, P.H. A new structural model for amorphous transition metal silicides, borides, phosphides and carbides/ P.H. Gaskell // J. of Non-Cryst. Sol. - 1979. - Vol.32, N 1-3. - P. 207-224.

323. Finney, J.L. Random Packings and the Structure of Simple Liquids. I. The Geometry of Random Close Packing/J.L. Finney // Proc. R. Soc. Lond. A. -1970. -Vol. 319. - P. 479-493.

324. Pustovalov, E. V. Local Atomic Ordering in Amorphous Fe-Based Alloys/ E.V. Pustovalov, N.D. Zakharov, V.S. Plotnikov//Phys. stat. sol. (a). - 1993. -Vol.135. -P. K1-K4.

325. Fan, G.Y. Auto-correlation analysis of high resolution electron micrographs of near-amorphous thin films/ G.Y. Fan, J.M. Cowley //Ultramic. - 1985. -Vol.17, N4. -P.345-355.

326. Fan, G.Y. Assessing the information content of HREM images/ G.Y. Fan, J.M. Cowley // Ultramic. - 1988. - Vol. 24, N 1. - P. 49-60.

327. Dirks, A.G., Leamy H.J., Columnar microstructure in vapor-deposited thin films// Thin Sol. Film. - 1977. - Vol. 47, N 3. - P. 219-233.

328. Грабчиков, С.С. Исследование микроструктуры аморфных плёнок сплавов Co-P на разных пространственных уровнях методами просвечивающей электронной микроскопии/ С.С. Грабчиков, О.И. Потужная, Е.В. Пустовалов, А.Л. Чувилин, О.В. Войтенко, Е.Б. Модин // Металлы. - 2011. - Т.3. - С. 78-84.

329. Sidorov, M. ctfExplorer: Interactive Software for 1d and 2d Calculation and Visualization of TEM Phase Contrast Transfer Function/ M. Sidorov// Microscopy and Microanalysis. - 2002. - Vol. 8 (Suppl. 02). - P. 1572-1573.

330. Kirland, E.J. Fine tuning an aberration corrected ADF-STEM/ E.J. Kirland //Ultramic. - 2018. - Vol.186. - P. 62-65.

331. Spence, J.C.H. Experimental High-Resolution Electron Microscopy/ J.C.H. Spence - N.-Y.: Oxford University Press, 1988. - 370 p.

332. Spence, J.C.H. High-Resolution Electron Microscopy 4 ed./ J.C.H.Spence - N.Y.: Oxford University Press, 2013, 432 p.

333. Спенс, Дж. Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения / Дж. Спенс - М.: Наука, 1986. 320 с.

334. ГОСТ 2789-73 Шероховатость поверхности. Параметры и характеристики// М.: Стандартинформ, 2005. 7 с.

335. Ylonen, M. Amorphous metal alloy based MEMS for RF applications/ Mari Ylonen, Hannu Kattelus, Tauno Vaha-Heikkila //Sens. Actuat. A: Physical. -2006. - Vol. 132, N 1. - P. 283-288.

336. Leinenbach, C. Chapter 28 - Surface Micromachining, In Handbook of Silicon Based MEMS Materials and Technologies (Second Edition). Micro & Nano Technologies Series Editor: Jeremy Ramsden / Christina Leinenbach, Hannu Kattelus and Roy Knechtel. - William Andrew Publishing, Boston, 2015. - P. 525-539.

337. Wang, H. Electrodepositing amorphous Ni-W alloys for MEMS / Hong Wang, Rui Liu, FengJi Cheng, Ying Cao, GuiFu Ding, XiaoLin Zhao// Microelectronic Eng. - 2010. - Vol. 87, N 10. - P. 1901-1906.

338. Slavcheva, E. Electrodeposition and properties of NiW films for MEMS applicationOriginal/ E. Slavcheva, W. Mokwa, U. Schnakenberg // Electrochim. Acta. - 2005. - Vol. 50, N 28. - P. 5573-5580.

339. Wang, H. Electrodepositing amorphous Ni-W alloys for MEMS/ Hong Wang, Rui Liu, FengJi Cheng, Ying Cao, GuiFu Ding, XiaoLin Zhao// Microelectronic Engineering. - 2010. - Vol. 87, N 10. - P. 1901-1906.

340. Zhi, H. Investigation of a novel MEMS orthogonal fluxgate sensor fabricated with Co-based amorphous ribbon core/ Shaotao Zhi, Zhu Feng, Lei Guo, Chong Lei, Yong Zhou // Sensors and Actuators A: Physical. - 2017. -Vol. 267. - P. 121-126.

341. Shelyakov, A. Micromechanical device based on amorphous-crystalline TiNiCu alloy/ Alexander Shelyakov, Denis Rozhkov, Nikolay Sitnikov, Alexey Menushenkov, Alexey Timofeev, Maxim Berezin //Materials Today: Proc. - 2017. - Vol. 4, N 3, Part B. - P. 4870-4874.

342. Cockayne, D.J.H. The Study of Nanovolumes of Amorphous Materials Using Electron Scattering/ David J.H. Cockayne // Ann. Rev. Mat. Res. - 2007. - Vol. 37. - P.159-187.

343. Norenberg, H. Estimation of radial distribution functions in electron diffraction experiments: physical, mathematical and numerical aspects/ H. Norenberg, R. Saverin, U. Hoppe and G. Holzhuter // J. Appl. Cryst. - 1999. - Vol.32. - P. 911-916.

344. Mitchell, D. R. G. RDFTools: A software tool for quantifying short-range ordering in amorphous materials / D. R. G. Mitchell and T. C. Petersen // Microsc. Res. Tech. - 2012. - Vol.75, N2. - P.153-163.

345. Gatan Microscopy Suite Software, режим доступа http://www.gatan.com/products/tem-analysis/gatan-microscopy-suite-software

346. Bergerhoff, G. in Crystallographic Databases, F.H. Allen et al. (Hrsg.) Chester/ G. Bergerhoff, I.D. Brown//International Union of Crystallography, (1987). -P.77-95

347. Belsky, A. New developments in the Inorganic Crystal Structure Database (ICSD): accessibility in support of materials research and design/ A. Belsky, M. Hellenbrandt, V. L. Karen and P. Luksch// Acta Cryst. - 2002. - Vol.B58. -P. 364-369.

348. Modin, E. B. Atomic structure and crystallization processes of amorphous (Co,Ni)-P metallic alloy/ Evgeny B. Modin, Evgeny V. Pustovalov,

Aleksander N. Fedorets, Aleksander V. Dubinets, Boris N. Grudin, Vladimir S. Plotnikov, Sergey S. Grabchikov // J Alloy. Comp. - 2015. - Vol. 641. - P. 139143.

349. Бокштейн, Б.С. Диффузия в металлах/ Б.С. Бокштейн - М.:Металлургия, 1978. - 248 c.

350. Valenta, P. Self-diffusion of phosphorus in amorphous alloy Fe40Ni40P14B6/ P. Valenta, K. Maier, H. Kronmuller, K. Froitag// Phys.stat.sol. (b). - 1981. - Vol. 105. - P.537-542.

351. Valenta, P. Diffusion of iron in amorphous alloy Fe40Ni40P14B6 and Fe80B20/ P. Valenta, K. Maier, H. Kronmuller, K. Froitag // Phys.stat.sol. (a). - 1981. Vol.106, N1. - P.129-131.

352. Edelin, G. Diffution of P in amorphous Fe85B15/ G. Edelin, C. Tete// Scripta met. -1981. -Vol. 15. - P.739-742.

353. Marco, S. Electron tomography of biological samples/S. Marco, T. Boudier, C. Messaoudi, J.-L. Rigaud //Biochemistry (Moscow). -2004. - Vol. 69, N 11. -P.1219-1225.

354. Ferroni, M. Biological application of Compressed Sensing Tomography in the Scanning Electron Microscope /Matteo Ferroni, Alberto Signoroni, Andrea Sanzogni, Luca Masini, Andrea Migliori, Luca Ortolani, Alessandro Pezza & Vittorio Morandi // Sci. Rep. -2016. - Vol. 6. - P.33354.

355. Vanhecke, D. Cryo-electron tomography: methodology, developments and biological applications /D. Vanhecke, S. Asano, Z. Kochovski, R. Fernandez-Busnadiego, N. Schrod, W. Baumeister, V. Lucic// J Microsc. - 2011. - Vol. 242. P.221-227.

356. Bals, S. A New Approach for Electron Tomography: Annular Dark-Field Transmission Electron Microscopy/ S. Bals, G. Van Tendeloo, C.A. Kisielowski// Adv. Mater. - 2006. - Vol. 18. - P.892-895.

357. Miao, J. Atomic electron tomography: 3D structures without crystals/Jianwei Miao, Peter Ercius, Simon J. L. Billinge//Science. - 2016. - Vol. 353, N 6306. - P. aaf2157.

358. Scott, M. C. Electron tomography at 2.4-ängström resolution /M. C. Scott, Chien-Chun Chen, Matthew Mecklenburg, Chun Zhu, Rui Xu, Peter Ercius, Ulrich Dahmen, B. C. Regan & Jianwei Miao//Nature. - 2012. - Vol. 483. - P. 444-447.

359. Saxton, W.O. Three-dimensional reconstruction of imperfect two-dimensional crystals/ W.O. Saxton, W. Baumeister, M. Hahn//Ultramic. - 1984. - Vol. 13.

- P.57-70.

360. Electron Tomography - Methods for Three-Dimensional Visualization of Structures in the Cell/ ed. Frank, J. - Springer Science & Business Media, 2008.

- 456p.

361. Tong, J. A novel dual-axis reconstruction algorithm for electron tomography/ J. Tong, P. Midgley// J. Phys. Conf. Ser. -2006. - Vol. 26. - P.33-36.

362. Owen, C.H. Alignment of electron tomographic series by correlation without the use of gold particles/C.H. Owen, W.J. Landis//Ultramic. - 1996. - Vol63, N1. - P.27-38.

363. Amat, F. Markov random field based automatic image alignment for electron tomography/F. Amat, F. Moussavi, L.R. Comolli, G. Elidan, K.N. Downing, M. Horowitz//J Struct Biol. - 2008. -Vol.161, N3. - P.260-75.

364. Kremer, J.R. Computer visualization of threedimensional image data using IMOD/J.R. Kremer, D.N. Mastronarde, J.R. McIntosh//J. Struct. Biol. - 1996.

- Vol. 116. - P.71-76.

365. iTEM Solution "Tomography" [электронный ресурс] - Режим доступа: https: //www. emsis.eu/products/software/item/

366. Kübel, C. Recent advances in electron tomography: TEM and HAADF-STEM tomography for materials science and semiconductor applications/ C. Kübel, A. Voigt, R. Schoenmakers, M. Otten, D. Su, T.C. Lee, A. Carlsson, J. Bradley //Microsc Microanal. - 2005. - Vol. 11, N5. - P.378-400.

367. Xu, R. Three-dimensional coordinates of individual atoms in materials revealed by electron tomography/Rui Xu, Chien-Chun Chen, Li Wu, M. C. Scott, W. Theis, Colin Ophus, Matthias Bartels, Yongsoo Yang, Hadi Ramezani-Dakhel,

Michael R. Sawaya, Hendrik Heinz, Laurence D. Marks, Peter Ercius, Jianwei Miao//Nature Mat. - 2015. - Vol. 14. - P. 1099-1103.

368. Barnaby, D.A. Levin Nanomaterial datasets to advance tomography in scanning transmission electron microscopy/Barnaby D.A. Levin, Elliot Padgett, Chien-Chun Chen, M.C. Scott, Rui Xu, Wolfgang Theis, Yi Jiang, Yongsoo Yang, Colin Ophus, Haitao Zhang, Don-Hyung Ha, Deli Wang, Yingchao Yu, Hector D. Abruna, Richard D. Robinson, Peter Ercius, Lena F. Kourkoutis, Jianwei Miao, David A. Muller & Robert Hovden//Scientific Data.

- 2016. - Vol. 3. - P.160041.

369. Kuipers, J. Large-scale Scanning Transmission Electron Microscopy (Nanotomy) of Healthy and Injured Zebrafish Brain/ J. Kuipers, R.D. Kalicharan, A.H. Wolters, T.J. van Ham, B.N. Giepmans//J Vis Exp. - 2016. -Vol.111. - P.53635.

370. Pradeep, K.G. Atom probe tomography study of ultrahigh nanocrystallization rates in FeSiNbBCu soft magnetic amorphous alloys on rapid annealing /K.G. Pradeep, G. Herzer, P. Choi, D. Raabe//Acta Materialia. 2014. - Vol. 68, N 15.