Анодное формирование и свойства нанопленки оксида Ag(I) на поли-, монокристаллах серебра и Ag,Au-сплавах тема диссертации и автореферата по ВАК РФ 02.00.05, кандидат химических наук Кудряшов, Дмитрий Александрович

• Кудряшов, Дмитрий Александрович
• кандидат химических наук
• 2008

Оглавление диссертации кандидат химических наук Кудряшов, Дмитрий Александрович

ВВЕДЕНИЕ

СОДЕРЖАНИЕ

ГЛАВА 1. ОБРАЗОВАНИЕ И СВОЙСТВА ПОЛУПРОВОДНИКОВОГО

ОКСИДА Ag2Or ОБЗОР ЛИТЕРАТУРЫ.

1.1. Анодное образование фазы Ag20 на серебре и Ag-Au сплавах.

1.1.1. Физико-химические свойства серебра.

1.1.2. Физико-химические свойства оксида Ag(I).

1.1.3. Термодинамика и кинетика анодного ффрмирования Ag20.

1.2. Оксиды металлов с позиций физики полупроводников.

1.2.1. Энергетические зоны и проводимость в полупроводнике.

1.2.2. Дефекты в кристаллической структуре оксидов металлов.

1.3. Строение границы раздела полупроводник/электролит.

1.3.1. Распределение электрического потенциала.

1.3.2. Роль внешней поляризации.

1.4. Фотоэлектрохимия полупроводниковых электродов.

1.4.1. Фотоэлектронная эмиссия в раствор.

1.4.2. Фотовозбуждение электрода без эмиссии электронов.

1.4.3. Рекомбинация носителей.

1.5. Энергетические барьеры на границах оксида.

1.6. Фототок и фотопотенциал.

1.6.1. Фототок.

1.6.2. Фотопотенциал.

1.7. Фотоэлектрохимические свойства границы Ag/OH".

ГЛАВА 2. МЕТОДИКА ИССЛЕДОВАНИЙ.

2.1. Электроды, растворы, ячейки.

2.2. Электрохимические исследования.

2.2.1. Циклическая и многоциклическая вольтамперометрия.

2.2.2. Потенциостатическое оксидообразование.

2.2.3. Определение выхода по току процесса оксидообразования.

2.2.4. Импедансометрия.

2.2.5. Микроскопия.

2.2.6. Вращающийся дисковый электрод с кольцом.

2.3. Фотоэлектрохимические измерения.

2.3.1. Аппаратурное обеспечение.

2.3.2. Измерение фототока.

2.3.3. Измерение фотопотенциала.

ГЛАВА 3. РАСЧЕТ ФОТОТОКА И ФОТОПОТЕНЦИАЛА В ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛЕНКАХ РАЗНОЙ ТОЛЩИНЫ.

3.1. Постановка задачи о распределении концентрации носителей заряда.

3.2. Толщина пленки оксида больше ширины области пространственного заряда (толстая пленка).

3.2.1. Поиск концентрационного профиля.

3.2.2. Выражения для фототока и фотопотенциала в толстой пленке.

3.3. Толщина пленки оксида меньше ширины области пространственного заряда (тонкая пленка).

3.3.1. Поиск концентрационного профиля.

3.3.2. Выражения для фототока и фотопотенциала в тонкой пленке.

ГЛАВА 4. КИНЕТИКА АНОДНОГО ФОРМИРОВАНИЯ И ТОЛЩИНА ПЛЕНКИ ОКСИДА Ag(I).

4.1. Вольтамперометрия серебра и

§,Аи-сплавов.

4.2. Хроноамперо- и хронокулонометрия анодного формирования оксида Ag(I) на стационарном серебряном электроде.

4.3. Определение парциальных токов процесса анодного формирования Ag20 в щелочной среде на Ag-ВДЭ.

ГЛАВА 5. ХАРАКТЕРИСТИКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВОГО ОКСИДА Ag20: ДАННЫЕ ФОТОЭЛЕКТРОХИМИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙ

5.1. Измерение фототока.

5.1.1. Фототок в оксиде Ag20, сформированном на Agpoiy.

5.1.2. Фототок в Ag20, сформированном на монокристаллическом Ag-электроде.

5.1.3. Фототок в оксиде Ag20, сформированном на Ag,Au-cruiaBax.

5.1.4. Спектроскопия фототока на Ag и Ag,Au-cmiaBax.

5.2. Измерение фотопотенциала.

5.2.1. Фотопотенциал в оксиде Ag20, сформированном на поликристаллическом серебре.

5.2.2. Роль микроструктурного состояния поверхности поликристаллического Ag-электрода.:.

5.2.3. Фотопотенциал в оксиде Ag20, сформированном на монокристаллическом серебре.

5.2.4. Роль толщины оксидной пленки.

5.2.5. Спектральная зависимость фотопотенциала.

5.2.6. Фотопотенциал в оксиде Ag20, сформированном на поликристаллических сплавах Ag-Au.

ВЫВОДЫ.

Введение диссертации (часть автореферата) на тему «Анодное формирование и свойства нанопленки оксида Ag(I) на поли-, монокристаллах серебра и Ag,Au-сплавах»

Научная актуальность проблемы. Интерес к процессу оксидообразова-ния на металлах и сплавах в водных растворах электролитов обусловлен рядом обстоятельств. Накопление оксида на поверхности электрода в ходе анодного растворения или коррозии обычно приводит к радикальным изменениям в кинетике этих процессов, а зачастую обуславливает и саму возможность их практического использования [1-4]. Нарушение сплошности оксидной пленки служит одной из причин появления весьма опасных локальных коррозионных поражений [5]. Особое внимание привлекает начальный этап оксидообразования, что не в последнюю очередь связано с фундаментальной проблемой пассивации [6-9]. Наконец, оксиды металлов, как правило относящиеся к полупроводниковым фазам, являются перспективными оптически чувствительными электродными материалами [10].

Несмотря на интенсивные исследования в области электрохимии тонкопленочных, особенно наноразмерных оксидных систем, ряд вопросов все еще не достаточно изучен. Имеются различные точки зрения на то, является ли оксид первичным продуктом анодной реакции или возникает по механизму "растворение/осаждение" в результате пересыщения приэлектродного слоя (термодинамически эти процессы неразличимы), какова кинетика анодного процесса при потенциалах оксидообразования. Возникают разногласия по типу проводимости оксидной фазы, характеру и степени ее отклонения от стехиометрии. Крайне ограничены сведения о роли ориентации кристаллической грани и химической неоднородности подложки, а также условий роста оксидной пленки в формировании ее характеристик, в частности степени отклонения от стехиометрии. В значительной степени это связано с трудностями в определении парциальных скоростей процессов, одновременно текущих при потенциалах образования оксида: активного растворения металла со свободных участков или сквозь поры оксидной пленки, роста фазы оксида и ее саморастворения. Ситуация еще более усложняется, если требуется учесть стадийность окисления металла, приводящую к изменению фазового состава и структурного состояния пленки оксида уже в процессе ее роста.

Обоснование методов и объектов исследований. Кинетика процесса ок-сидообразования, транспортные возможности и полупроводниковые свойства оксидной пленки в значительной мере определяются особенностями ее электронного строения, которые, в свою очередь, тесно связаны со структурным состоянием и стехиометрией оксида. В то же время перечень структурно-чувствительных методов in situ изучения свойств оксидных слоев, в том числе наноразмерных, весьма невелик. Важное место среди них занимают фотоэлектрохимические методы, в частности спектроскопия фототока (ФТ) и фотопотенциала (ФП), однако в большинстве исследований ограничиваются определением фототока [11-16]. Работы по измерению фотопотенциала менее многочисленны [17-21] и сводятся, в основном, к определению его знака и оценке амплитуды сигнала. При этом принципиальные методологические аспекты проведения подобного рода исследований, прежде всего связанные с учетом роли размерного фактора, в данном случае - соотношения между толщиной пленки оксида L и шириной области пространственного заряда (ОПЗ) W, корректной оценкой толщины наноразмерной пленки, а также интерпретацией эффекта релаксации ФП после прекращения поляризации, как правило остаются вне поля зрения.

Для изучения кинетики анодного оксидообразования и определения параметров оксида весьма удобной является система Ag|0H"(H20). Основным устойчивым продуктом первой одноэлектронной ступени окисления серебра является Ag20, при этом потенциалы образования оксидов Ag(I) и Ag(II) достаточно разнесены. Измерения ФТ и ФП на монокристаллах серебра позволяют оценить вклад кристаллографического фактора, а использование сплавов Ag-Au с преобладанием серебра - роль химической неоднородности подложки. Немаловажно, что при потенциалах формирования оксида Ag(I) золото термодинамически устойчиво, а атомные радиусы Ag и Аи очень близки.

Цель работы - определение кинетических закономерностей анодного формирования наноразмерных пленок оксида Ag(I) на поли- и монокристаллическом серебре, а также Ag,Au-ciuiaBax в водном щелочном растворе; установление характера влияния ориентации кристаллической грани серебра и его легирования золотом на характеристики пленок по данным фотоэлектрохимических измерений.

Задачи работы:

- установление кинетики процесса анодного оксидообразования на электродах из Agp0iy, Agioo, Ag110, Agni, а также Ag,Au-cmiaBax (1, 4 и 15 ат.%) в водном щелочном растворе;

- создание научно-обоснованной методики разделения анодного тока поляризации серебра на парциальные токи активного растворения, образования оксида Ag(I) и его химического растворения; определение толщин нанопленок оксида;

- разработка светодиодного комплекса с цифровым управлением для проведения фотоэлектрохимических исследований методами in situ спектроскопии фототока и фотопотенциала;

- выявление роли ориентации кристаллической грани' серебра, наличия в его решетке атомов золота и потенциала анодного формирования в свойствах полупроводникового оксида Ag(I).

Практическая значимость результатов исследований. Исследования носят фундаментальный характер. Однако полученные данные по кинетике роста и растворения пленки оксида Ag(I) и его полупроводниковым характеристикам могут быть полезны для развития оптоэлектроники, а также в электрохимических технологиях и коррозионных исследованиях серебра. Разработанная методика определения парциальных токов анодной реакции в области потенциалов оксидообразования может быть использована для изучения иных металл-оксидных структур; то же относится и к аппаратурным решениям для реализации методов спектроскопии фототока и фотопотенциала.

Научная новизна основных результатов:

1. Доказано, что анодный процесс роста полупроводникового оксида Ag(I) n-типа на Agpoiy- и Aghkrэлектродах лимитируется массопереносом в пленке.

2. Дана теоретическая интерпретация и экспериментально подтверждена роль размерных эффектов в формировании фотоотклика в нанопленках оксида Ag(I).

3. Установлена взаимосвязь между кристаллическим, химическим и микроструктурным состоянием поверхности Ag и характеристиками оксида Ag(I); доказан однотипный характер влияния ориентации кристаллической грани на его структурно-зависимые характеристики.

4. Выявлено снижение степени нестехиометричности анодно формирующегося оксида Ag20 по мере перехода Agpoiy—»Aghki—»Ag-Au (< 4 ат.%) и нарастание структурного разупорядочивания оксидной фазы с ростом потенциала.

5. Предложен новый метод многоцикловой хроновольтамперометрии ВДЭсК раздельного определения скоростей процессов анодного роста оксида, растворения подложки и оксидной фазы.

Положения, выносимые на защиту:

1. Оксид Ag(I), анодно формируемый на серебре, преимущественно возникает в ходе прямой электрохимической реакции, а не путем переосаждения.

2. Ориентация кристаллической грани серебра, химический состав поверхности сплава Ag-Au и толщина пленки полупроводникового оксида Ag(I) n-типа определяют параметры фотоотклика, генерируемого в объеме оксида, а не на его поверхности.

3. Переход от поли- к монокристаллическим Ag-электродам, а также введение атомов Аи в решетку серебра в количестве, не превышающем 4 ат.%, приводят к снижению степени отклонения от стехиометричного состава Ag20.

Апробация работы. Основные результаты работы докладывались на IV, V и VI Всероссийских конф. молодых ученых "Современные проблемы теоретической и экспериментальной химии" (Саратов - 2003, 2005, 2007); X Межрегиональной конф. "Проблемы химии и химической технологии" (Тамбов -2003); II и III Всероссийских конф. "Физико-химические процессы в конденсированном состоянии и на межфазных границах (ФАГРАН)" (Воронеж - 2004, 2006); 56th , 57th и 58th Annual Meetings of the Int. Soc. of Electrochemistry (Busan

2005, Edinburg - 2006, Bunff - 2007); 4th Baltic Conf. on Electrochemistry (Greif-swald - 2005); VI Международной конференции "Фундаментальные проблемы электрохимической энергетики" (Саратов - 2005); 8th International Frumkin Symp. "Kinetics of Electrode Processes" (Moscow - 2005); 4th Croatian Symp. on Electrochemistry (Primosten - 2006); IV Международной научной конференции «Кинетика и механизм кристаллизации. Нанокристаллизация. Биокристаллизация» (Иваново - 2006); V Международной конференции «Аморфные и микрокристаллические полупроводники» (Санкт-Петербург - 2006); 12th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis "Ecasia'07" (Brussels-Flagey - 2007); European Corrosion Congress "EUROCORR" (Freiburg - 2007); научных сессиях ВГУ (Воронеж - 2004, 2007).

Публикации. По материалам диссертации опубликовано 22 работы; из них одна в перечне ВАК, и два патента РФ.

Плановый характер работы. Исследования по теме диссертации поддержаны грантом РФФИ "Селективное анодное растворение гомогенных сплавов в условиях оксидо- и солеобразования", проект 06-03-32274а; АВНП Ро-собразования РФ "Развитие научного потенциала высшей школы" по теме: "Нелинейная взаимосвязь между селективным анодным растворением гомогенных сплавов на основе меди или серебра и структурно-зависимыми свойствами образующихся оксидов" (№ ГР 0120.0610705).

Заключение диссертации по теме «Электрохимия», Кудряшов, Дмитрий Александрович

ВЫВОДЫ

1. Оксид Ag(I), образующийся в I цикле потенциостатической анодной поляризации на монокристаллических гранях серебра, как и низколегированных Ag,Au-craiaBax (XAu< 15 ат.%), является бислойным. Кинетика роста наноразмерных пленок оксида Ag(I) на всех изученных электродных системах является твердофазно-диффузионной; скорость-определяющий массоперенос связан с фазой оксида, предположительно протекая по микропорам. Зависимость выхода по току \|/ процесса анодного образования оксида Ag(I) на статичном электроде от величины пропущенного заряда q характеризуется резким ростом \\i с постепенным выходом на стационарный уровень. Различия в \\i для Agpoiy и Aghki незначительны, но при переходе к Ag,Au-cmiaBaM величина \|/ несколько падает.

2. Парциальные токи активного растворения серебра сквоь поры пленки и образования оксида Ag(I) не чувствительны к скорости вращения дискового электрода. Эффективная константа скорости процесса растворения пленки Ag20 не зависит от потенциала, что указывает на его химическую природу.

3. Теоретически показано, что если оксидная пленка характеризуется достаточно высоким уровнем оптического поглощения (aLD~ 1), а ее толщина1. L меньше ширины ОПЗ, то фототок iph и фотопотенциал EPh должны увеличиваться v • 2 с толщиной, причем по-разному: iPh ~ L, а Eph ~ L . Учет возможности рекомбинации неосновных носителей, как и ограничений по скорости процессов их ассимиляции на границе оксид|раствор не меняет вида этих зависимостей.

4. Использование набора монохроматических (ДХ/Х < 0,01) светодиодов, - возможностей полосовой фильтрации и цифровой обработки сигнала фотоотклика, а также Фурье-анализ структуры его шумовой компоненты позволяет реализовать методы in situ спектроскопии ФТ и ФП (в дискретном варианте перестройки длины волны) с чувствительностью по iPh ~ 20 нА, а по f Eph ~ З-т-5 мкВ. По знаку iPh и Ерь установлен n-тип проводимости оксида Ag(I), анодно сформированного на Agpoiy, Agioo, Ag110, Agm и Ag-Au (1-И5 ат.% Au), характеризуемого различной концентрацией донорных дефектов, предположительно атомов Ag в междоузлиях решетки. Фотогенерация электронно-дырочной пары в оксиде Ag20 скорее происходит по механизму прямого, чем непрямого межзонного перехода

5. Эффект снижения фотопотенциала в системе Ag20|Ag после прекращения поляризации обусловлен химическим растворением пленки оксида, что

Л- 1 подтверждено совпадением констант скоростей этого процесса (~ 3-^-5-10" с" ), полученных в опытах по спаду ФП:и экспериментах с многоцикловой хроноам-перометрией ВДЭсК.

6. Переход от поли- к монокристаллическому серебру, как и введение в его решетку небольшого количества атомов золота (ХАи -4 ат.%) приводят, к заметному структурному упорядочиванию оксидной фазьь из-за снижения-степени ее отклонения? от стехиометричного состава Ag20. Последнее служит причиной уменьшения концентрации донорных дефектов Nq и коэффициента оптического поглощения; а, роста ширины ОПЗ W и дебаевской длины LD, снижения вклада электронной составляющей фотопроводимости стп в нанопленке оксида при одновременном росте цп - подвижности основных носителей, а также слабого снижения ширины запрещенной зоны £bg- Рост анодного потенциала формирования? оксида Ag(I) приводит к увеличению степени структурного разупорядочивания оксидной фазы

7. Структурно-зависимые параметры оксида Ag(I) (a, ND, W и LD) дополнительно зависят не только от ориентации кристаллической грани серебра, но и от потенциала формирования пленки. Тем не менее, при Е=0,52 В, отвечающем: наименьшему, средш изученных, сдвигу от E^Bi0.AB, можно выстроить ряды изменения данных характеристик, коррелирующие с рядом ретикулярной плотности: [110] < [100] < [111]. При более высоких потенциалах увеличение (или спад) значений a, ND, W и LD, а также ап и рп остается связанным с типом кристаллической грани, но в иной последовательности:[100]> [111] > [110];

8. Экспериментально установленное влияние ориентации, кристаллической грани, химической состава и микрокристаллического состояния поверхности Ag-электрода, а также толщины пленки на характеристики фотоотклика в оксиде Ag(I) свидетельствуют, что значения ФТ и ФП связаны с объемными, а не поверхностными энергетическими уровнями. Кроме того, наличие четкой взаимосвязи между состоянием границы раздела оксид/металл и значениями всех структурно-зависимых характеристик полупроводниковой фазы Ag20 позволяет считать, что анодное образование оксида Ag(I) в основном является результатом первичной электрохимической реакции

Благодарности:

Автор выражает глубокую благодарность доценту А. В. Наумову - за полезные консультации при обсуждении результатов, а также инж. Б.Ш. Бе-ренштейну - за изготовление и наладку части аппаратуры. Особая благодарность канд. хим. наук, асс. С.Н. Грушевской - за постоянную помощь и творческое сотрудничество на всех этапах работы.

Список литературы диссертационного исследования кандидат химических наук Кудряшов, Дмитрий Александрович, 2008 год

1. Эванс Ю.Р. Коррозия, пассивность и защита металлов / Ю.Р. Эванс. M.-JL: Металлургиздат, 1941. - 885 с.

2. Тодт Ф. Коррозия и защита от коррозии. Коррозия металлов и сплавов. Методы защиты от коррозии / Ф. Тодт. M.-JL: Химия, 1966. - 847 с.

3. Скорчеллетти В.В. Теоретические основы коррозии металлов / В.В. Скорчел-летти. Л.: Химия, 1973. - 264 с.

4. Кеше Г. Коррозия металлов. Физико-химические принципы и актуальные проблемы / Г. Кеше. М.: Металлургия, 1984. - 400 с.

5. Розенфельд И.Л. Коррозия и защита металлов: Локальные коррозионные процессы / И.Л. Розенфельд. М. : Металлургия, 1970. - 448 с.

6. Феттер К. Электрохимическая кинетика / К. Фетгер. М.: Химия, 1967. - 856 с.

7. Landolt D. Corrosion and surface chemistry of metals / D. Landolt. Lausanne : EFPL Press, 2007. - 622 p.

8. Corrosion mechanisms / Ed. by F. Mansfeld. N.-Y.: Marcel Dekker, 1987. - 455 p.

9. Мурыгин И.В. Электродные процессы в твердых электролитах / И.В. Муры-гин. М.: Наука, 1991. - 351 с.

10. Оптика наноструктур / Гапоненко С.В. и др. СПб: Недра, 2005. - 326 с.

11. Photoelectrochemical investigation of passive layers formed on Fe in different electrolytic solutions /F. Di Quarto et al. // Corr. Sci. 2004. - V. 46, № 4. - P. 831-851.

12. Cattarin S. Photoelectrochemical investigation of film formation at titanium and niobium anodes in acid fluoride media / S. Cattarin, M. Musiani // J. Electroanal. Chem. 2001. - V. 517, № 1-2.-P. 101-108.

13. Фотоэлектрохимическое исследование анодных оксидных пленок на сплавах системы титан-кобальт / А.Н. Камкин и др. // Электрохимия. 2001. - Т. 7, № 5. - С. 606-613.

14. Jongh Р.Е. Photoelectrochemistry of electrodeposited Cu20 // P.E. Jongh, D. Van-maekelbergh, J.J. Kelly // J. Electrochem. Soc. 2000. - V. 147, № 2. - P. 486-489.

15. Aruchamy A. Photoanodic behaviour of Cu20 corrosion layers on copper electrodes / A. Aruchamy, A. Fujishima // J. Electroanal. Chem. 1989. - V. 272, № 1-2. - P. 125-136.

16. Чуриков A.B. Фотоэлектрохимическое исследование внедрения лития в пленки диоксида титана / А.В. Чуриков, В. А. Зобенкова, И.М. Гамаюнова // Электрохимия. 2004. - Т. 40, № 1. - С. 122-125.

17. Ибрис Н. Зависимость полупроводниковых свойств пленки оксида титана от скорости ее роста и потенциала формирования / Н. Ибрис // Электрохимия. -2003. Т. 39, № 4. - С. 476-479.

18. Gori М. Photochemical properties of sintered iron (III) oxide / M. Gori, H.-R. Gruniger, G. Calzaferri // J. Appl. Electrochem. 1980. - V. 10, №. p. 345-349.

19. Photoeffects on the CU/H3PO4 interface / B. Pointu et al. // J. Electroanal. Chem. 1981.-V. 122. - P. 111-131.

20. Электроды из синтетического полупроводникового алмаза: определение потенциала плоских зон методами измерения фототока и фотопотенциала / В.М. Мазин и др. // Электрохимия. 2000. - Т. 36, № 6. - С. 655-661.

21. Budiene J. Photoelectrochemical properties of oxide layers developed on copper electrode in Cu(II) solutions containing glycolic and small amounts of chloride /

22. J. Budiene, P. Kalinauskas, A. Survila // Chemija. 2006. - V. 17, № 2-3. - P. 7-10.

23. Химическая энциклопедия: в 5 т. / под ред. Н.С. Зефирова. М.: Большая Российская энцикл., 1995. - Т. 4. - 639 с.

24. Farnsworth Н.Е. Photoelectric Work Functions of (100) and (111) Faces of Silver Single Crystals and Their Contact Potential Difference / H.E. Farnsworth,

25. R.P. Winch // Phys. Rev. 1940. - V. 58, № 9. - P. 812-819.

26. CRC handbook of chemistry and physics (77th edn) / Ed. by D. R. Lide. Boca Raton Florida: CRC Press, 1996. - 3000 p.

27. Handbook of chemistry and physics (63th edn) / Ed. by R.C. Weast. Boca Raton, Florida: CRC Press, 1982. - 2586 p.

28. Handbook of inorganic compounds / Ed. by D.L. Perry. N.-Y. : CRC Press, 1995. -3122 p.

29. Reversible resistance modulation in mesoscopic silver wires induced by exposure to amine vapor / B. J. Murray et al. // Anal. Chem. 2005. - V. 77. - P. 52055214.

30. CRC handbook of chemistry and physics (73rd edn.) / Ed. by D.R. Lide. Boca Raton Florida: CRC Press, 1992-1993. - 2890 p.

31. Electronic structure of Ag20 / L.H. Tjeng et. al. // Phys Rev. B. 1990. - V. 41, №5.-P. 3190-3199.

32. Long Li. Oxide structures formed on silver single crystals due to hyperthermal atomic oxygen exposure / Long Li, J.C. Yang // Proc. Mat. Res. Soc. Symp. 2003. -V. 751.-P. 252-258.

33. The mechanism of silver(I) oxide formation on polycrystalline silver in alkaline solution. Determination of nucleation and growth rates / C. Alonso et al. // Electro-chim. Acta. 1990. - V. 35, № 2. - P. 489-496.

34. Егоров-Тисменко Ю.К. Теория симметрии кристаллов / Ю.К. Егоров-Тисменко, Г. П. Литвинская. М. : ГЕОС, 2002. - 317 с.

35. Пятницкий И.В. Аналитическая химия серебра. Серия «Аналитическая химия элементов» / И.В. Пятницкий, В.В. Сухан. М. : Наука, 1975. - 264 с.

36. Tselepis Е. Preparation and photovoltaic properties of anodically grown Ag20 films /Е. Tselepis, E. Fortin//J. Mater. Sci. 1986. - V. 21. - P. 985-988.

37. West A.R. Solid state chemistry and its applications / A.R. West. N.-Y. : Wiley, 1984.-742 p.

38. Jiang Z.Y. Semiconductor properties of Ag20 film formed on the silver electrode iml MNaOH solution / Z.Y. Jiang, S.Y. Huang, B. Qian // Electrochimica Acta-. -1994. V. 39, № 16. - P. 2465-2470.

39. Vijh A.K. In Oxides and Oxide Films / A.K. Vijh; Ed. by J.W. Diggle. N.-Y. : Marcel Dekker, 1973. - V. 2. - P. 150.

40. Electrical and optical properties of reactive DC magnetron sputtered silver oxide thin films: role of oxygen / U.K. Barik et. al. // Thin Solid Films 2003. - V. 429, № 1-2. - P. 129-134.

41. Butler M.A. Prediction of flatband potentials at semiconductor-electrolyte interfaces from atomic electronegativities / M.A. Butler, D.S. Ginley // J. Electrochem. Soc. 1978. - V. 125, № 2. - P. 228-232.

42. Varkey A. J. Some optical properties of silver peroxide (AgO) and silver oxide (Ag20) films produced by chemical-bath deposition / A.J. Varkey, A.F. Fort // Sol. Energy Mater. Sol. Cells. 1993. - V. 29, № 3. - P. 253-259. f

43. Impedance and formation characteristics of electrolytically generated silver-oxides-II. Photo-effects / R.S. Perkins et al. // Electrochim. Acta. 1972 V. 17, № 8. -P. 1471-1489.

44. Физико-химические свойства полупроводниковых веществ. Справочник / Под ред. А.В. Новоселовой, В.Б. Лазарева. М.: Наука, 1979. - 340 с.

45. Xu Yong. The absolute energy positions of conduction and valence bands of selected semiconducting minerals / Yong Xu, M.A.A. Schoonen // American Mineralogist. 2000. - V. 85. - P. 543-556.

46. Chatterjee K. Plasmon resonance shifts in oxide-coated silver nanoparticles / K. Chatterjee, S. Banerjee, D. Chakravorty // Phys. Rev. B. 2002. - V. 66, № 8.1. P. 854211-854287.

47. Справочник химика: в 6-ти т. / под ред. Б.П. Никольского Л.: Химия, 1966. -Т. 1.- 1072 с.

48. Ellipsometric study of the optical properties of silver oxide prepared by reactive magnetron sputtering / Jian-Hong Qiu et al. // J. Korean Phys. Soc. 2005. - V. 46. -P. s269-s275.

49. Ismail A. Preparation and photovoltaic properties of Ag20/Si isotype heterojunc-tion raid / A. Ismail, Kh.Z. Yahya, O.A. Abdulrazaq // Surf. Rev. Lett. 2005;1. V. 12, №2.-P. 299-303.

50. Synthesis of silver oxide nano-scale thin films and photo-activated dynamic luminescence from their nanoparticles / XY. Zhang et al. // Acta Phys.-Chim Sin. -2003. V. 19, № 3. - P. 203-207.

51. Hampson N.A. The electrochemistry of oxides of silver a short review / N.A. Hampson, J.B. Lee, J.R. Morley // Electrochim. Acta. - 1971. - V. 16, № 5: -P. 637-642.

52. Dignam M.J. Anodic behavior of silver in alkaline solutions / M.J. Dignam, H.M. Barret, G.D. Nagy // Canad. J. Chem. 1969. - V. 47, № 22. - P. 4253-4266.

53. Impedance and formation characteristics of electrolytically generated silver ox-ides-I formation and reduction of surface oxides and the role of dissolution processes / B.V. Tilak et al. // Electrochim. Acta. 1972. - V. 17, № 8. - P. 1447-1469.

54. Stonehart P. Potentiodynamic determination of electrode kinetics for chemisorbed . reactants: The Ag/Ag20/0H" system /P. Stonehart//Electrochim. Acta. 1968.1. V. 13, №8.-P. 1789-1803.

55. Oxidation involving silver. VI. A study of the system Ag/Ag20/0H" by potential sweep methods / Clarke T.G. et al. // Ber. Buns. Phys. Chem. 1969. - V. 73, № 3. -P. 279-283.

56. Справочник по электрохимии / Под ред. A.M. Сухотина. JI.: Химия, 1981.- 125 с.

57. Оше Е.К. Исследование анодного окисления и пассивации серебра в растворе методом фотоэлектрической поляризации / Е.К. Оше, И.Л. Розенфельд // Электрохимия. 1968. - Т. 4, № 5. - С. 610-613.

58. Hepel М. Study of the initial stages of anodic oxidation of polycrystalline silver in KOH solutions / M. Hepel, M. Tomkievich // J. Electrochem. Soc. 1984. - V. 31, №6.-P. 1288-1294.

59. Ambrose J. The electrochemical formation of Ag20 in KOH electrolyte /

60. J. Ambrose, R.G. Barradas // Electrochim. Acta. 1974. - V. 19, № 11. - P. 781-786.

61. On the mechanism of Ag(l 11) sub-monolayer oxidation: a combined electrochemical, in situ SERS and ex situ XPS study / Savinova E.R. et al. // Electrochim. Acta. 2000. - V. 46, № 2-3. - P. 175-183.

62. Kunze J. In situ study of initial stages of electrochemical oxide formation at the Ag(l 11)/0.1 M NaOH(aq) interface / J. Kunze, H.-H. Strehblow, G. Staikov // Elec-trochem. Comm. 2004. - V. 6. - P. 132-137.

63. In situ Raman spectroscopy studies of the interface between silver(l 11) electrodes and alkaline NaF electrolytes / Savinova E.R. et al. // J. Electroanal. Chem. -1997. V. 430, № 1-2. - P. 47-56.

64. Hecht D. XPS investigations of the electrochemical double layer on silver in alkaline chloride solutions / D: Hecht, H. Strehblow // J. Electroanal. Chem, 1997.1. V. 440, №1-2.-P. 211-217.

65. Becerra J.G. Kinetic study of silver (I) oxide layer electroreduction / J.G. Becerra, R.C. Salvarezza, A.J. Arvia // Electrochim. Acta. 1990. - V. 35, № 3. - P. 595-604.

66. Видович Г.Л. К механизму анодного окисления-серебра в щелочи / Г.Л. Ви-дович, Д.И. Лейкис, Б.Н. Кабанов // Докл. Ак. Наук СССР. 1962. - Т. 142, № 1. -С. 109-112.

67. Jovic В.М. Electrochemical formation and characterization of Ag20 / B.M. Jovic, V.D. Jovic // J. Serb. Chem. Soc. 2004. - V. 69, № 2. - P. 153-166.

68. G.T. Burstein. Anodic behaviour of scratched silver electrodes in alkaline solution / G. T. Burstein, R. C. Newman // Electrochim. Acta. 1980. - V. 25, № 8. -P. 1009-1013.

69. Кузнецова T.A. Анодное окисление серебра и Ag-Au сплавов в щелочном растворе / Т.А. Кузнецова, Е.В.Флегель, А.В. Введенский // Защита металлов. -2002. Т. 38, № 4. - С. 333-339.

70. Droog J.M.M. Oxygen Electrosorption on Ag(l 11) and Ag(100) Electrodes in NaOH Solution / J.M.M. Droog // J. Electroanal. Chem. 1980. - V. 115, № 1-2. -P. 225-233.

71. Специфичность поведения монокристаллических граней в начальной стадии окисления Ag-электродов в кислых водных растворах / Дубова JI.M. и др. // Электрохимия. 2002. - Т. 38, № 1. - С. 25-34.

72. Савинова Е.Р. Размерные и структурные эффекты в электрокатализе // Дисс. д.х.н. Новосибирск, 2006. 285 с.

73. Анодное растворение и селективная коррозия сплавов / И.К. Маршаков и др.. Воронеж : Изд-во Воронеж, ун-та, 1988. - 402 с.

74. Кузнецова Т.А. Анодное растворение Ag,Au-cmiaBOB на основе серебра при потенциалах образования Ag20 и AgCl // Дисс. к.х.н. Воронеж, 2002. 214 с.

75. Ансельм А.И. Введение в теорию полупроводников / А.И. Ансельм. М. : Наука, 1978. - 616 с.

76. Collisi U. The formation of Cu20 layers on Cu and their electrochemical and pho-toelectrochemical properties / U. Collisi, H.-H. Strehblow. // J. Electroanal. Chem. -1990. V. 284, № 4. - P. 385-401.

77. Батенков В.А. Электрохимия полупроводников / В.А. Батенков. : Барнаул: Изд-во Алт. ун-та, 2002. 162 с.

78. Talbot D. Corrosion science and technology / Ed. by B. Ralph. -Boca Raton : CRC Press, 1998.-390 p.

79. Кофстад П. Отклонение от стехиометрии, диффузия и электропроводность в простых окислах металлов / П. Кофстад. М.: Мир, 1975. - 396 с.

80. Бонч-Бруевич B.JI. Физика полупроводников / B.JI. Бонч-Бруевич, С.Г. Калашников. М.: Наука, 1977. - 672 с.

81. Арутюнян В.М. Физические свойства границы полупроводник электролит

82. В.М. Арутюнян // Успехи физических наук. 1989. - Т. 158, № 2. - С. 255-288.j

83. Bagotsky V.S. Fundamentals of electrochemistry 2 edition / V.S. Bagotsky. -New Jersey : Wiley, 2006. 747 p.

84. Semiconductor electrodes // Ed by H.O. Finklea. N.-Y. : Elsevier, 1988. - 519 p.

85. Encyclopedia of electrochemistry. V.6: Semiconductor Electrodes and Photoelec-trochemistry / Ed. by A.J. Bard, M. Stratmann, S. Licht. Weinheim: Wiley-VCH, 2002. - 608 p.

86. Handbook of electrochemistry / Ed. by C.G. Zoski. New Mexico State University : Elsevier, 2007. - 935 p.

87. Дамаскин Б. Б. Электрохимия / Б.Б. Дамаскин, О.А. Петрий, Г.А. Цирлина ; ред. Л.И. Галицкая .— 2-е изд. — М.: Химия, 2006 .— 670 с.

88. Becquerel E. Mcmoire sur les effets electriques produits sous l'influence des rayons solaires / E. Becquerel // C.R. Acad. Sci.- 1839. № 9. - P. 561-567.

89. Garrett C.G.B. Physical theory of semiconductor surfaces / C.G.B. Garrett, W.H. Brattain // Phys. Rev. 1955. - V. 99, № 2. - P. 376-387.

90. Johnson E.O. Large-signal surface photovoltage studies with germanium / E.O. Johnson // Phys. Rev. 1958. - V. 111, №153. - P. 153-166.

91. Gartner W.W. Depletion-Layer Photoeffects in Semiconductors / W. W. Gartner // Phys. Rev. 1959. - V. 116, № 1. - P. 84-87.

92. Kruger G. Electrochemical reactions at the tantalum-oxide/solution interface with UV illumination / G. Kruger//Electrochim. Acta. 1968. - V. 13, № 8. - P. 1389-1394.

93. Butler M.A. Photoelectrolysis and physical properties of the semiconducting electrode W02 / M.A. Butler // J. Appl. Phys. 1977. - V. 48, № 5. - P. 1914-1920.

94. Gerischer H. Electrochemical behavior of semiconductors under illumination / H: Gerischer//J Electrochem. Soc. 1966. - V. 113, № 11. - P: 1174-1182.

95. Fujishima A., Honda K. Electrochemical photolysis of water at a semiconductor electrode / A. Fujishima, K. Honda // Nature. 1972. - V. 238, № 5358. - P. 37-38.

96. Винников Ю.Я. Фотоэлектрохимическое и элипсометрическое исследование анодных окислов на Au-электроде / Ю.Я Винников, В.А. Шепелин, В.И: Весе-ловский // Электрохимия. 1974. - Т. 10, № 4. - С. 650-661.

97. Оше Е.К. Внутренний фотоэффект в электрохимических и коррозионных системах / Е.К. Оше, И.Л. Розенфельд // Итоги науки и техники. ВИНИТИ. Коррозия и защита от коррозии. 1978. - № 7. - С. 111-158.

98. Оше Е.К., Розенфельд И.Л. Метод определения характера и степени отклонения от стехиометрии поверхностных окислов на металлах в растворах электролитов // Сб. «Новые методы исследования коррозии металлов».- М. : Наука. 1973. - С. 35-46.

99. Мямлин В.А. Электрохимия полупроводников / В.А. Мямлин, Ю.В. Плесков. М.: Наука, 1965. - 388 с.

100. Churikov A.V. Photoelectrochemical processes on metal electrodes in nonaqueous solutions of lithium salts / A.V. Churikov, I.M. Gamayunova // J. Solid State Electrochem. 2001. -V. 5, № 2. - P. 119-130.

101. Kostecki R. Photon-driven reduction reactions on silver / R. Kostecki, J. Au-gustynski // J. Appl. Electrochem. 1993. - V. 23. - P. 567-572.

102. Грибковский В.П. Теория поглощения и испускания света в полупроводниках / В.П. Грибковский. Минск: Наука и техника, 1975: - 464 с.

103. Lewis N.S. Mechanistic Studies of Light-Induced Charge Separation at Semiconductor/Liquid Interfaces / N.S. Lewis // Acc. Chem. Res. 1990. - V. 23, № 6. -P. 176-183.

104. McAleer J.F. Photocurrent spectroscopy of anodic oxide films on titanium / J.F. McAleer, L.M. Peter // Farad Discuss Chem Soc. 1980. - V. 70, № 1. - P. 67-75.

105. H. Gerischer Models for the discussion of the photo-electrochemical response of oxide layers on metals // Corros. Sci. 1989.- V. 29, № 2-3. - P. 257-266t

106. Enhanced photocurrent in thin film Ti02 electrodes prepared by sol-gel method / Masahide Takahashi et al. // Thin Solid Films. 2001. - V. 388, № 2. - P. 231-236.

107. Reiss H. Photocharacteristics for electrolyte-semiconductor junctions / H. Reiss //J. Electrochem. Soc. 1978. - V. 125, № 6. - P. 937-949.

108. Волькенштейн Ф.Ф. О фотоэлектрической поляризации окисной пленки на металле. I. Случай «тонкой пленки» / Ф:Ф. Волькенштейн, В.В. Малахов //

109. Ж. физич. химии. 1975. - № 12. - С. 3157-3160.

110. Волькенштейн Ф.Ф. О фотоэлектрической поляризации окисной пленки на металле. II. Случай «толстой пленки» / Ф.Ф. Волькенштейн, В.В. Малахов // Ж. физич. химии. 1975. - № 12. - С. 3161-3164.

111. Оше Е.К. Метод фотоэлектрической поляризации для изучения отклонения от стехиометрии поверхностных окислов на металлических электродах /

112. Е.К. Оше, И.Л. Розенфельд // Защита металлов. 1969. - Т. 5, № 5. - С. 524-531.

113. Kapusta S. Photoelectrochemical studies of passivating films on tin in slightly alkaline solutions / S. Kapusta, N. Hackerman // Electrochimica Acta. 1980. - V.25, №8.-P. 1001-1006.

114. Исследование механизма катодного восстановления окислов серебра метоtдом фотоэлектрической поляризации / В.П. Галушко и др. // Украинский химический журнал. 1976. - Т. 6. - С. 594-597.

115. Memming R. Photoelectrochemical processes on silver-silver oxide electrodes / R. Memming, F. Mollers, G. Neumann // J. Electrochem. Soc. 1970. - V. 117, №4.-P. 451-457.

116. Ross D. Observations, by ellipsometry, of a photoeffect occurring during the galvanostatic oxidation of silver in M/10 KOH solutions / D. Ross, E.F.I. Roberts //Electrochim. Acta. 1976. - V. 21, № 6. - P. 371-375.

117. Хансен M. Структуры двойных сплавов: Справочник / М. Хансен, К. Андерко М.: Металлургиздат, 1962. - Т. 1. - 608 с.

118. Справочник. Металлографическое травление металлов и сплавов / Под ред. Баранова Л.В., Демина Э.Л. М.: Металлургия, 1986. 256 с.

119. Тарасевич М.Р. Вращающийся дисковый электрод с кольцом / М.Р. Та-расевич, Е.И. Хрущева, В.Ю. Филиновский. М.: Наука, 1987. - 248 с.

120. Оптоэлектроника. Физические основы, приборы и устройства / Под ред. Ю.М. Носова М.: Наука, 1978. - 493 с.

121. Bard A.J. Terminology in semiconductor electrochemistry and photoelectro-chemical energy conversion / A. J. Bard, R. Memming, B. Miller // Pure Appl, Chem. 1991. - V. 63, № 4. - P. 569-596.

122. Trasatti S. Systematic trends in the crystal face specificity of interfacial parameters: The cases of Ag and Au / S. Trasatti // J. Electroanal Chem. 1992. - V. 329, № 1-2. - P. 237-246.

123. Birss V.I. The kinetics of anodic formation and reduction of phase silver film on silver in aqueous sulphide solutions / V.I. Birss, G.A. Wright // Electrochim. Acta. -1981. V. 26, № 12. - P. 1809-1817.

124. Birss V.I. The kinetics of silver bromide film formation on the silver anode / V.I. Birss, G.A. Wright// Electrochim. Acta. 1982. - V. 27, № 10. - P: 1429-1438.

125. Birss V.I. The kinetics of silver iodide film formation on the silver anodb / V.I. Birss, G.A. Wright // Electrochim. Acta. 1982. - V. 27, № 10. - P. 1439-1443.

126. Kinetic peculiarities of anodic dissolution of silver and Ag-Au alloys under the conditions of oxide formation / A. Vvedenskii et al. // Corr. Sci. 2007. - V. 49, № 12.- P. 4523-4541.

127. Miller В. Rotating ring-disk study of the silver electrode in alkaline solution / B. Miller// J. Electrochem. Soc. 1970. - V. 117, № 4. - P. 491-499^

128. Краткий справочник химика. 7-е изд. / В:И. Перельман. Мг: Химия, 1964- 624 с.

129. Брайнина Х.З. Инверсионная вольтамперометрия твердых фаз / Х.З. Брай-нина М.: Химия, 1972. - 192 с.

130. Брайнина Х.З. Твердофазные реакции в электроаналитической химии / Х.З: Брайнина, Е.Я. Нейман // М.: Химия, 1982. 264 с.

131. Sheng J. Thickness dependence of photocatalytic activity of anatase film by magnetron sputtering / J. Sheng, J. Karasawa, T. Fukami // J. Mater. Sci. Lett. 1997. -V. 16.-P. 1709-1711.

132. Photoelectrochemical investigations of thin metal-oxide films: ТЮ2, AI2O3, and НЮ2 on the parent metals / Johanes P.H. et al. // Electrochim. Acta. 1993. -V. 38, № l.-P. 15-27.

133. Thickness effects on photoinduced current in ferroelectric (Pbo.97Lao.o3)(Zro.52Tio.48)03 thin Films / Meng Qinet. et al. // J. Appl. Phys. -V. 101, № 1. 2007. - P. 014104-1 - 014104-8.

134. Petterson L.A.A. Preparation and characterization of oxidized silver thin films / L.A.A. Petterson, P.G. Snyder // Thin Solid Films. 1995.'- V. 270, № 1-2. - P. 69-72.

135. Bozzolo G. Composition dependence of bulk alloy properties / G. Bozzolo, J. Ferrante // Phys. Rev. B. 1994. - V. 50, № 9. - P. 5971-5980.

136. Structure, conductivity, and optical absorption of Ag2-xO films / S.B. Rivers et al. // Thin Solid Films. 2007. - V. 515, № 24. - P. 8684-8688.

137. Котенев В.А. Лазерный эллипсометрический и фотоэлектрометрический (ЭФЭМ) видеомикрозонд / В.А. Котенев // Защита металлов. 2003. Т. 39, № 6. - С. 652-659.

138. Волькенштейн Ф.Ф. Хемосорбционные и каталитические свойства полупроводниковой пленки на металле /Ф.Ф. Волькенштейн, B.C. Кузнецов, В.Б. Сандомирский //Кинетика и катализ. 1962. - Т. 3, № 5. - С. 712.

139. Справочник по специальным функциям / Под ред. А. Абрамовича и И. Стигана. М.: Наука, 1979. - 830 с.